CN117650859A - 一种混频组件的通道间相位差的测试方法及系统 - Google Patents

Abstract

本申请涉及相位测量技术领域，具体涉及一种混频组件的通道间相位差的测试方法及系统；该方法包括：校准阶段下信号源向第一与第二直通件发送校准信号；矢量信号接受机得到第一与第二接收信号；确定其对应的正弦波相位并进行比较，以获取两直通件之间的系统链路相位差；测试阶段下信号源向第一与第二通道发送测试信号；矢量信号接受机得到第三与第四接收信号；对其所形成的正弦波曲线进行去毛刺与曲线拟合处理，以获取两通道之间的被测件通道相位差；根据系统链路相位差以及被测件通道相位差，获取第一与第二通道之间的相位差指标。本申请既可以用于需要外部提供本振信号的组件，也可以用于只需要提供时钟参考的组件，得到精确的相位关系。

Description

一种混频组件的通道间相位差的测试方法及系统

技术领域

本申请涉及相位测量技术领域，具体涉及一种混频组件的通道间相位差的测试方法及系统。

背景技术

混频组件是通信系统中用于频谱搬移和频谱分析的电子组件。混频组件通常具有多个通道，通道间相位差是混频组件测试中重要的一项指标。

混频组件一般会包括中频输入信号、本振信号以及射频输出信号，或者包括射频输入信号、本振信号以及中频输出信号。有的混频组件需要外部提供本振信号，有的混频组件只需要外部提供时钟参考，不需要提供本振信号。根据需不需要外部提供本振信号，可将混频组件分为以下两种情况进行讨论：需要提供本振信号的混频组件，这类组件可以使用带双源的矢量网络分析仪进行相位测量，这种测量方法通常还需要外接一个参考混频器才能完成准确测量；而只需要提供参考时钟的混频组件，由于本振是被测系统自己提供的，其相位不可知也不可控，导致了即使我们对中频信号和射频信号完全可控也无法得到稳定的中频信号和射频信号之间的相位关系。

因此，亟需一种测试组件通道间的相位差指标的方法，使其既可以用于需要外部提供本振信号的组件，也可以用于只需要提供时钟参考的组件，得到精确的相位关系。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供一种混频组件的通道间相位差的测试方法及系统，既可以用于需要外部提供本振信号的组件，也可以用于只需要提供时钟参考的组件，得到精确的相位关系。

第一方面，本申请提供了一种混频组件的通道间相位差的测试方法，所述方法应用于一种混频组件的通道间相位差的测试系统中；所述系统包括信号源、矢量信号接受机以及多个直通件；所述直通件用于在校准阶段下对被测件的通道进行相应替换；

所述方法包括：

校准阶段下，所述信号源向第一通道对应的第一直通件以及第二通道对应的第二直通件依次发送校准信号；

所述矢量信号接受机依次接收所述第一直通件所传输的校准信号得到第一接收信号，接收第二直通件所传输的校准信号得到第二接收信号；

确定所述第一接收信号对应的正弦波相位以及所述第二接收信号对应的正弦波相位，并进行相位比较，以获取所述第一直通件与所述第二直通件之间的系统链路相位差；

测试阶段下，所述信号源向所述第一通道以及所述第二通道依次发送测试信号；

所述矢量信号接受机接收所述第一通道所传输的测试信号得到第三接收信号，接收所述第二通道所传输的测试信号得到第四接收信号；

对所述第三接收信号与所述第四接收信号所形成的正弦波曲线进行去毛刺处理与曲线拟合处理，以获取所述第一通道与所述第二通道之间的被测件通道相位差；

根据所述系统链路相位差以及所述被测件通道相位差的对应关系，获取所述被测件的第一通道与第二通道之间的相位差指标。

根据上述技术手段，本申请在校准阶段下，通过直通件对被测件的通道进行替换与测试，规避掉系统链路引起的相位差，从而得到只由被测件本身影响而带来的相位差；在测试阶段下，通过去毛刺处理与曲线拟合处理去除了通道切换时带来的温度变化影响以及毛刺区域的不平滑曲线，提高了相位差的测试精确度。

结合第一方面，在一种实施方式中，所述系统还包括第一开关以及第二开关；

校准阶段下，所述信号源与所述第一开关、所述直通件、所述第二开关以及所述矢量信号接受机依次连接，所述第一开关以及所述第二开关，用于对各个所述直通件对应的通道进行切换；

测试阶段下，所述信号源与所述第一开关、被测件、所述第二开关以及所述矢量信号接受机依次连接；所述第一开关以及所述第二开关，用于对各个所述被测件的通道进行切换；

所述方法还包括：

校准阶段下，所述信号源通过所述第一开关进行通道切换，以向所述第一通道对应的第一直通件以及所述第二通道对应的第二直通件依次发送校准信号；所述矢量信号接受机通过所述第二开关进行通道切换，以依次接收所述第一直通件所传输的校准信号得到第一接收信号，接收所述第二直通件所传输的校准信号得到第二接收信号；

测试阶段下，所述信号源通过所述第一开关进行通道切换，以向所述第一通道以及所述第二通道依次发送测试信号；所述矢量信号接受机通过所述第二开关进行通道切换，以依次接收所述第一通道所传输的测试信号得到第三接收信号，接收所述第二通道所传输的测试信号得到第四接收信号。

结合第一方面，在一种实施方式中，对所述第一接收信号所对应的正弦波相位与所述第二接收信号所对应的正弦波相位进行作差处理，以获取所述第一直通件与所述第二直通件之间的系统链路相位差。

根据上述技术手段，被测件的通道间相位差来源有两个，一个是系统链路引起的相位差，一个是被测件本身带来的影响，因此本申请在实际测试前先进行校准操作，校准操作的目的就是要把系统链路引起的相位差给规避掉，从而得到只由被测件本身影响而带来的相位差，以提高对被测件的相位差测量的精确度。

结合第一方面，在一种实施方式中，在开关切换功率为零时，获取所述第三接收信号与所述第四接收信号所形成的正弦波曲线上的第一功率零点c4的位置以及第二功率零点c6的位置；

根据所述第一功率零点c4的横坐标以及所述第二功率零点c6的横坐标，确定第一定位点c5的位置；所述第一定位点c5位于所述第一功率零点c4与所述第二功率零点c6之间；所述第一定位点c5用于确定所述第二功率零点c6位于所述第四接收信号的正弦波上升沿上；

根据所述第一功率零点c4的横坐标，获取第一待延长点c3的位置；

根据所述第二功率零点c6的横坐标，获取第二待延长点c7的位置；

根据所述第一待延长点c3的横坐标以及所述第二待延长点c7的横坐标，去除所述第三接收信号以及所述第四接收信号的正弦波连接处的毛刺曲线；

在去除毛刺曲线后，根据所述第一待延长点c3的横坐标以及所述第二待延长点c7的横坐标，作所述第一待延长点c3与所述第二待延长点c7的横坐标中间线；

根据所述第一待延长点c3的横坐标与所述横坐标中间线，对所述第一待延长点c3与所述横坐标中间线进行曲线拟合，以将所述第一待延长点c3延长至所述横坐标中间线的位置，并获取所述第一待延长点c3与所述横坐标中间线的第一连接点；

根据所述第二待延长点c7的横坐标与所述横坐标中间线，对所述第二待延长点c7与所述横坐标中间线进行曲线拟合，以将所述第二待延长点c7延长至所述横坐标中间线的位置，并获取所述第二待延长点c7与所述横坐标中间线的第二连接点；

对所述第一连接点的纵坐标以及所述第二连接点的纵坐标进行作差处理，获取所述第一通道与所述第二通道之间的被测件通道相位差。

根据上述技术手段，随着温度的变化，各个通道对应的每一段正弦波的相位都会时高时低，这样无法确定每一段具体选取哪个相位进行分析，并且在进行开关切换的时候，实际的功率变化曲线也不是平滑的曲线，开关切换瞬间是一段毛刺区域，温度变化的影响与毛刺区域都会影响被测件的相位差测量的精确度，因此，本申请通过去毛刺处理与曲线拟合处理去除了通道切换时带来的温度变化影响以及毛刺区域的不平滑曲线，提高了相位差的测试精确度。

结合第一方面，在一种实施方式中，根据直通件与所述被测件的通道之间的对应关系，对所述被测件通道相位差与所述系统链路相位差进行作差处理，以获取所述被测件的第一通道与第二通道之间的相位差指标。

根据上述技术手段，由于在实际测试过程中，被测件的通道间相位差来源包括系统链路引起的相位差与被测件本身带来的影响，因此，本申请对被测件通道相位差与系统链路相位差进行作差处理，可以得到被测件的第一通道与第二通道之间的相位差指标。

结合第一方面，在一种实施方式中，所述信号源所发送的信号达到各个直通件或所述被测件的各个通道的链路长度差异均在一个信号周期内。

第二方面，本申请提供了一种混频组件的通道间相位差的测试系统，所述系统用于实现如上所述的一种混频组件的通道间相位差的测试方法中；

所述系统包括信号源、第一开关、矢量信号接受机、第二开关以及多个直通件；

校准阶段下，所述信号源与所述第一开关、所述直通件、所述第二开关以及所述矢量信号接受机依次连接；

测试阶段下，所述信号源与所述第一开关、被测件、所述第二开关以及所述矢量信号接受机依次连接；所述直通件与所述被测件的通道一一对应。

第三方面，本申请提供了一种混频组件的通道间相位差的测试装置，所述装置包括：

校准信号发送模块，用于校准阶段下，所述信号源向第一通道对应的第一直通件以及第二通道对应的第二直通件依次发送校准信号；

第一及第二接收信号获取模块，用于所述矢量信号接受机依次接收所述第一直通件所传输的校准信号得到第一接收信号，接收第二直通件所传输的校准信号得到第二接收信号；

系统链路相位差获取模块，用于确定所述第一接收信号对应的正弦波相位以及所述第二接收信号对应的正弦波相位，并进行相位比较，以获取所述第一直通件与所述第二直通件之间的系统链路相位差；

测试信号发送模块，用于测试阶段下，所述信号源向所述第一通道以及所述第二通道依次发送测试信号；

第三及第四接收信号获取模块，用于所述矢量信号接受机接收所述第一通道所传输的测试信号得到第三接收信号，接收所述第二通道所传输的测试信号得到第四接收信号；

被测件通道相位差获取模块，用于对所述第三接收信号与所述第四接收信号所形成的正弦波曲线进行去毛刺处理与曲线拟合处理，以获取所述第一通道与所述第二通道之间的被测件通道相位差；

相位差指标获取模块，用于根据所述系统链路相位差以及所述被测件通道相位差的对应关系，获取所述被测件的第一通道与第二通道之间的相位差指标。

第四方面，本申请提供了一种计算机设备，所述计算机设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条指令，所述至少一条指令由所述处理器加载并执行以实现上述的一种混频组件的通道间相位差的测试方法。

第五方面，本申请提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质中存储有至少一条指令，所述至少一条指令由处理器加载并执行以实现上述的一种混频组件的通道间相位差的测试方法。

本申请提供的技术方案可以包括以下有益效果：

本申请在校准阶段下，通过直通件对被测件的通道进行替换与测试，规避掉系统链路引起的相位差，从而得到只由被测件本身影响而带来的相位差；在测试阶段下，通过去毛刺处理与曲线拟合处理去除了通道切换时带来的温度变化影响以及毛刺区域的不平滑曲线，提高了相位差的测试精确度；使其既可以用于需要外部提供本振信号的组件，也可以用于只需要提供时钟参考的组件，得到精确的相位关系。

附图说明

为了更清楚地说明本申请具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是根据一示例性实施例示出的校准阶段下的混频组件的通道间相位差的测试系统的结构示意图。

图2是根据一示例性实施例示出的测试阶段下的混频组件的通道间相位差的测试系统的结构示意图。

图3是根据一示例性实施例示出的一种混频组件的通道间相位差的测试方法的流程图。

图4是根据一示例性实施例示出的又一种混频组件的通道间相位差的测试方法的流程图。

图5是根据一示例性实施例示出的理想状态下矢量信号接受机接收的频谱图像示意图。

图6是根据一示例性实施例示出的实际状态下矢量信号接受机接收的频谱图像示意图。

图7是根据一示例性实施例示出的理想情况下的波形相位变化示意图。

图8是根据一示例性实施例示出的开关切换功率变化示意图。

图9是根据一示例性实施例示出的开关切换功率的局部放大示意图。

图10是根据一示例性实施例示出的开关切换相位变化示意图。

图11是根据一示例性实施例示出的开关切换相位变化的局部放大示意图。

图12是根据一示例性实施例示出的去毛刺处理与曲线拟合处理相位变化的局部放大示意图。

图13是根据一示例性实施例示出的去毛刺处理与曲线拟合处理后相位变化示意图。

图14是根据一示例性实施例示出的一种混频组件的通道间相位差的测试装置的结构方框图。

图15示出了本申请一示例性实施例示出的计算机设备的结构框图。

具体实施方式

下面将结合附图对本申请的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

请参照图1与图2，图1是根据一示例性实施例示出的校准阶段下的混频组件的通道间相位差的测试系统的结构示意图，图2是根据一示例性实施例示出的测试阶段下的混频组件的通道间相位差的测试系统的结构示意图，该系统包括信号源、第一开关、矢量信号接受机、第二开关以及多个直通件；

如图1所示，校准阶段下，信号源与第一开关（即图1中的开关1）、直通件、第二开关（即图1中的开关2）以及矢量信号接受机依次连接；

进一步的，由于信号达到被测件的每一个通道的链路长度不一样，使得同一被测件的不同通道原本就存在相位差，所以在实际测试过程中，被测件的通道间相位差来源有两个，一个是系统链路引起的相位差，一个是被测件本身带来的影响；因此在实际测试前需要先进行校准操作，校准操作的目的就是要把系统链路引起的相位差给规避掉，从而得到只由被测件本身影响而带来的相位差。

本实施例通过直通件来测量系统链路相位差，即校准操作时，第一开关与第二开关不接入被测件，若被测件的通道数量为n，即该被测件有n个接收通道，分别为A1，A2……An，有n个发射通道，分别为B1，B2……Bn，则校准操作时将被测件的n个通道换成n个直通件，此时，信号源发出一个单音信号，经过开关1进入到直通件1，然后信号通过直通件1进入到开关2，再被矢量信号接收机接收，可以得到一个完整的正弦波，同样地，信号源发出相同的信号，经过开关1的切换，信号进入到直通件2，然后信号通过直通件2进入到开关2，再被矢量信号接收机接收，也得到一个完整的正弦波，以此类推，这样可以得到n个正弦波，任意两直通件间的系统链路相位差也可以计算出来，例如，如果要计算被测件的通道A1和通道A2的相位差，先进行校准操作，计算直通件1与直通件2系统链路相位差，用直通件1对应的正弦波相位减去直通件2对应的正弦波相位，可以得到的直通件1与直通件2系统链路相位差为φA1A2(0)。

校准操作完成后开始进行测试操作，如图2所示，测试阶段下，该信号源与该第一开关、被测件、该第二开关以及该矢量信号接受机依次连接；该直通件与该被测件的通道一一对应。

进一步的，测试操作时，将第一开关以及第二开关与被测件连接，被测件有n个通道，包括n个接收通道（A1，A2……An）和n个发射通道（B1，B2……Bn），信号源连续不断发出信号，矢量信号接收机连续收到射频信号，当接收机采集到稳定的相位信息之后，开关1和开关2同时进行切换，即通道A1的相位信息采集完成后采集通道A2的信息，依次类推完成所有通道的相位采集，测试操作下的相位采集过程与校准操作下的相位采集过程一致，此处不再进行赘述。

综上所述，本申请的测试包括校准阶段以及测试阶段，在校准阶段下，通过直通件对被测件的通道进行替换与测试，规避掉系统链路引起的相位差，从而得到只由被测件本身影响而带来的相位差；在测试阶段下，将第一开关、与被测件的各个通道以及第二开关依次连接，进行相位测试，提高了相位差的测试精确度；使其既可以用于需要外部提供本振信号的组件，也可以用于只需要提供时钟参考的组件，得到精确的相位关系。

图3是根据一示例性实施例示出的一种混频组件的通道间相位差的测试方法的流程图。该方法应用于如图1以及图2示出的一种混频组件的通道间相位差的测试系统中；该系统包括信号源、矢量信号接受机以及多个直通件；该直通件用于在校准阶段下对被测件的通道进行相应替换；如图3所示，该方法可以包括如下步骤：

步骤S301、校准阶段下，该信号源向第一通道对应的第一直通件以及第二通道对应的第二直通件依次发送校准信号。

在一种可能的实施方式中，本申请包括校准阶段以及测试阶段，校准阶段是为了规避掉系统链路引起的相位差，从而得到只由被测件本身影响而带来的相位差，在校准阶段，直通件对被测件的通道进行相应替换，每个直通件对应被测件的一个接收通道以及一个发射通道，信号从接收通道进，从发射通道出。以第一通道以及第二通道为例，若要规避掉第一通道以及第二通道的之间的系统链路相位差，则信号源向第一通道对应的第一直通件以及第二通道对应的第二直通件依次发送校准信号。

进一步的，上述第一通道以及第二通道可以是被测件的任意不同的两个通道，如图2中的通道A1及通道A2，同样的，上述第一直通件以及第二直通件也是任意不同的两个直通件，如图1中的直通件1及直通件2，但需保证第一直通件与第一通道对应，第二直通件与第二通道对应。

步骤S302、该矢量信号接受机依次接收该第一直通件所传输的校准信号得到第一接收信号，接收第二直通件所传输的校准信号得到第二接收信号。

在一种可能的实施方式中，在信号源向第一通道对应的第一直通件以及第二通道对应的第二直通件依次发送校准信号后，矢量信号接受机依次接收该第一直通件所传输的校准信号以及第二直通件所传输的校准信号，从而得到第一直通件对应的第一接收信号，以及第二直通件对应的第二接收信号。该第一接收信号与该第二接收信号为矢量信号接受机接收到的正弦波。

步骤S303、确定该第一接收信号对应的正弦波相位以及该第二接收信号对应的正弦波相位，并进行相位比较，以获取该第一直通件与该第二直通件之间的系统链路相位差。

在一种可能的实施方式中，该第一直通件与该第二直通件之间的系统链路相位差为第一接收信号对应的正弦波相位与第二接收信号对应的正弦波相位之间的相位差。

步骤S304、测试阶段下，该信号源向该第一通道以及该第二通道依次发送测试信号。

在一种可能的实施方式中，在获取系统链路相位差后，即进入测试阶段，此时，信号源与第一开关、被测件、第二开关以及矢量信号接受机依次连接，信号源向被测件的第一通道以及第二通道依次发送测试信号。

步骤S305、该矢量信号接受机接收该第一通道所传输的测试信号得到第三接收信号，接收该第二通道所传输的测试信号得到第四接收信号。

在一种可能的实施方式中，在信号源向被测件的第一通道以及第二通道依次发送测试信号后，矢量信号接受机依次接收第一通道所传输的校准信号以及第二通道所传输的校准信号，从而得到第一通道对应的第三接收信号，以及第二通道对应的第四接收信号；同样的，该第三接收信号与该第四接收信号也为矢量信号接受机接收到的正弦波。

步骤S306、对该第三接收信号与该第四接收信号所形成的正弦波曲线进行去毛刺处理与曲线拟合处理，以获取该第一通道与该第二通道之间的被测件通道相位差。

在一种可能的实施方式中，随着温度的变化，各个通道对应的每一段正弦波的相位都会时高时低，这样无法确定每一段具体选取哪个相位进行分析，并且在进行开关切换的时候，实际的功率变化曲线也不是平滑的曲线，开关切换瞬间是一段毛刺区域，温度变化的影响与毛刺区域都会影响被测件的相位差测量的精确度，因此，本实施例通过去毛刺处理与曲线拟合处理去除了通道切换时带来的温度变化影响以及毛刺区域的不平滑曲线，得到第一通道与第二通道之间的被测件通道相位差，提高了相位差的测试精确度。

步骤S307、根据该系统链路相位差以及该被测件通道相位差的对应关系，获取该被测件的第一通道与第二通道之间的相位差指标。

在一种可能的实施方式中，该被测件的第一通道与第二通道之间的相位差指标即为系统链路相位差与被测件通道相位差之间的差。

综上所述，本申请在校准阶段下，通过直通件对被测件的通道进行替换与测试，规避掉系统链路引起的相位差，从而得到只由被测件本身影响而带来的相位差；在测试阶段下，通过去毛刺处理与曲线拟合处理去除了通道切换时带来的温度变化影响以及毛刺区域的不平滑曲线，提高了相位差的测试精确度；使其既可以用于需要外部提供本振信号的组件，也可以用于只需要提供时钟参考的组件，得到精确的相位关系。

图4是根据一示例性实施例示出的又一种混频组件的通道间相位差的测试方法的流程图。该方法应用于如图1以及图2示出的一种混频组件的通道间相位差的测试系统中；该系统包括信号源、矢量信号接受机以及多个直通件；该直通件用于在校准阶段下对被测件的通道进行相应替换；

该系统还包括第一开关以及第二开关；

校准阶段下，该信号源与该第一开关、该直通件、该第二开关以及该矢量信号接受机依次连接，该第一开关以及该第二开关，用于对各个该直通件对应的通道进行切换；

测试阶段下，该信号源与该第一开关、被测件、该第二开关以及该矢量信号接受机依次连接；该第一开关以及该第二开关，用于对各个该被测件的通道进行切换；

如图4所示，该方法可以包括如下步骤：

步骤S401、校准阶段下，该信号源通过该第一开关进行通道切换，以向该第一通道对应的第一直通件以及该第二通道对应的第二直通件依次发送校准信号。

在一种可能的实施方式中，信号源用于发射信号；开关1和开关2用于切换通道，以调节链路通路；被测件为混频组件，用于对输入信号进行放大、移相、衰减；被测件的输入信号和输出信号都是正弦波；矢量信号接收机用于接收信号，并进行频谱图象显示。

步骤S402、该矢量信号接受机通过该第二开关进行通道切换，以依次接收该第一直通件所传输的校准信号得到第一接收信号，接收该第二直通件所传输的校准信号得到第二接收信号。

步骤S403、对该第一接收信号所对应的正弦波相位与该第二接收信号所对应的正弦波相位进行作差处理，以获取该第一直通件与该第二直通件之间的系统链路相位差。

在一种可能的实施方式中，如果要计算第一通道和第二通道之间的系统链路相位差，那么用第一接收信号所对应的正弦波相位减去该第二接收信号所对应的正弦波相位得到第一直通件与该第二直通件之间的系统链路相位差，得到的相位差记为φA1A2(0)，即为第一通道和第二通道之间的系统链路相位差。

步骤S404、测试阶段下，该信号源通过该第一开关进行通道切换，以向该第一通道以及该第二通道依次发送测试信号；

在一种可能的实施方式中，请参见图5示出的理想状态下矢量信号接受机接收的频谱图像示意图；如果被测件的通道间完全没有相位差，那么正常情况下频谱图像应该可以连接成一条完整的正弦波（需要去除开关切换瞬间带来的不稳定信号的影响），但是由于有通道间的相位差存在，所以实际上得到的频谱图像是由不连续相位的几段正弦波组成，如图6所示，图6示出了实际状态下矢量信号接受机接收的频谱图像示意图。因此，在校准操作完成后还需进行测试操作，以获取通道间的相位差，即被测件通道相位差。

步骤S405、该矢量信号接受机通过该第二开关进行通道切换，以依次接收该第一通道所传输的测试信号得到第三接收信号，接收该第二通道所传输的测试信号得到第四接收信号。

步骤S406、对该第三接收信号与该第四接收信号所形成的正弦波曲线进行去毛刺处理与曲线拟合处理，以获取该第一通道与该第二通道之间的被测件通道相位差。

在一种可能的实施方式中，该步骤S406包括：

在开关切换功率为零时，获取该第三接收信号与该第四接收信号所形成的正弦波曲线上的第一功率零点c4的位置以及第二功率零点c6的位置；

根据该第一功率零点c4的横坐标以及该第二功率零点c6的横坐标，确定第一定位点c5的位置；该第一定位点c5位于该第一功率零点c4与该第二功率零点c6之间；该第一定位点c5用于确定该第二功率零点c6位于该第四接收信号的正弦波上升沿上；

根据该第一功率零点c4的横坐标，获取第一待延长点c3的位置；

根据该第二功率零点c6的横坐标，获取第二待延长点c7的位置；

根据该第一待延长点c3的横坐标以及该第二待延长点c7的横坐标，去除该第三接收信号以及该第四接收信号的正弦波连接处的毛刺曲线；

在去除毛刺曲线后，根据该第一待延长点c3的横坐标以及该第二待延长点c7的横坐标，作该第一待延长点c3与该第二待延长点c7的横坐标中间线；

根据该第一待延长点c3的横坐标与该横坐标中间线，对该第一待延长点c3与该横坐标中间线进行曲线拟合，以将该第一待延长点c3延长至该横坐标中间线的位置，并获取该第一待延长点c3与该横坐标中间线的第一连接点；

根据该第二待延长点c7的横坐标与该横坐标中间线，对该第二待延长点c7与该横坐标中间线进行曲线拟合，以将该第二待延长点c7延长至该横坐标中间线的位置，并获取该第二待延长点c7与该横坐标中间线的第二连接点；

对该第一连接点的纵坐标以及该第二连接点的纵坐标进行作差处理，获取该第一通道与该第二通道之间的被测件通道相位差。

进一步的，在实际测试中，通道间的相位差还会受温度影响，此外，毛刺区域的存在也会影响通道相位差的测试精确度，示例性的，设开关切换前后的每一段正弦波分别为P1，P2，P3和P4，P1，P2，P3和P4分别对应每一个通道传输每一段正弦波，由于温度的影响，在每一段波形内，其相位会受到温度的影响而改变，理想情况下，每一段的波形的相位不会发生变化，如图7示出的理想情况下的波形相位变化示意图；

而实际情况是P1，P2，P3和P4都不是一段平整的直线，随着温度的变化，每一段内的相位都会时高时低，这样无法确定每一段具体选取哪个相位进行分析；并且在进行开关切换（即通过开环进行通道切换）的时候，实际的功率变化曲线也不是平滑的曲线，开关切换瞬间是一段毛刺区域，此处请参照图8示出的开关切换功率变化示意图以及图9示出的开关切换功率的局部放大示意图，图9放大的是图8中的虚线方框部分。

此时参照图10示出的开关切换相位变化示意图，在图10中，每段平滑的曲线之间都有一段毛刺，处理这些毛刺需要用到去除毛刺与曲线拟合的方法，首先分析P1和P2中间这段，用图9的开关切换功率的局部放大示意图进行分析，令开关切换功率为0的时候，可以得到c1点和第一功率零点c4和第二功率零点c6，取第一功率零点c4和第二功率零点c6，第二功率零点c6一定要在第一定位点c5的右边，第一定位点c5的横坐标要比第一功率零点c4大0.1ms，这样能保证第二功率零点c6一定处在上升沿，然后将第二功率零点c6的横坐标的值加2ms，可以得到第二待延长点c7，将第一功率零点c4的横坐标的值减去2ms得到第一待延长点c3；此时执行毛刺处理，将图10中P1和P2中间段放大进行分析，得到如图11示出的开关切换相位变化的局部放大示意图。

在图11中找到第一待延长点c3和第二待延长点c7的位置并标记出来，针对图11，将第一待延长点c3和第二待延长点c7中间的这一段毛刺区域直接删掉，然后取第一待延长点c3的横坐标和第二待延长点c7的横坐标的中间值画一条直线，如图12所示的去毛刺处理与曲线拟合处理相位变化的局部放大示意图；将P1段的曲线通过曲线拟合工具进行延长（即上述的对该第一待延长点c3与该横坐标中间线进行曲线拟合，该横坐标中间线即为上述中间值画的一条直线，为图12中的竖线），将P2段的曲线（即上述的对该第二待延长点c7与该横坐标中间线进行曲线拟合，该横坐标中间线即为上述中间值画的一条直线，为图12中的竖线）也通过曲线拟合的工具进行延长（示例性的，该曲线拟合的工具可以为三次样条曲线拟合、非线性曲线拟合以及B样条曲线拟合），同样的，对图10中另外几段毛刺也做相同的处理，可以得到图13所示的去毛刺处理与曲线拟合处理后相位变化示意图，其中，r11即为上述第一连接点，r20即为上述第二连接点，r11与r20所形成的竖线即为上述横坐标中间线。

在图13中，点rx的纵坐标记为F(rx)。记通道A1和通道A2间的相位差指标为φA1A2，则φA1A2=F(r11)-F(r20)-φA1A2(0)；

依次类推，φA2A3=F(r21)-F(r30)-φA2A2(0)，

φA3A4=F(r31)-F(r40)-φA3A4(0)，

φA1A3=φA1A2-φA2A3=

F(r11)-F(r20)-φA1A2(0)-(F(r21)-F(r30))-φA2A3(0)；

φA1A4=φA1A3-φA3A4=

F(r11)-F(r20)-φA1A2(0)-(F(r21)-F(r30))-φA2A3(0)-(F(r31)-F(r40))-φA3A4(0)；

φA2A4=φA2A3-φA3A4=

F(r21)-F(r30)-φA2A3(0)-(F(r31)-F(r40))-φA3A4(0)。

步骤S407、根据直通件与该被测件的通道之间的对应关系，对该被测件通道相位差与该系统链路相位差进行作差处理，以获取该被测件的第一通道与第二通道之间的相位差指标。

在一种可能的实施方式中，该信号源所发送的信号达到各个直通件或该被测件的各个通道的链路长度差异均在一个信号周期内。

进一步的，如果一点到另一点存在多个通路，但是由于不同通路线缆长度不是完全一样的，所以存在链路长度差异。例如图2，信号源发出信号，从信号源到通道A1和通道A2的链路长度不是完全一样长的，所以测得的通道A1和A2的相位不一样；一个信号周期指的是一个正弦波信号；链路长度差异超过一个信号周期，会影响其他频点上相位差的判断。

综上所述，本申请在校准阶段下，通过直通件对被测件的通道进行替换与测试，规避掉系统链路引起的相位差，从而得到只由被测件本身影响而带来的相位差；在测试阶段下，通过去毛刺处理与曲线拟合处理去除了通道切换时带来的温度变化影响以及毛刺区域的不平滑曲线，提高了相位差的测试精确度；使其既可以用于需要外部提供本振信号的组件，也可以用于只需要提供时钟参考的组件，得到精确的相位关系。

图14是根据一示例性实施例示出的一种混频组件的通道间相位差的测试装置的结构方框图。该装置包括：

校准信号发送模块141，用于校准阶段下，该信号源向第一通道对应的第一直通件以及第二通道对应的第二直通件依次发送校准信号；

第一及第二接收信号获取模块142，用于该矢量信号接受机依次接收该第一直通件所传输的校准信号得到第一接收信号，接收第二直通件所传输的校准信号得到第二接收信号；

系统链路相位差获取模块143，用于确定该第一接收信号对应的正弦波相位以及该第二接收信号对应的正弦波相位，并进行相位比较，以获取该第一直通件与该第二直通件之间的系统链路相位差；

测试信号发送模块144，用于测试阶段下，该信号源向该第一通道以及该第二通道依次发送测试信号；

第三及第四接收信号获取模块145，用于该矢量信号接受机接收该第一通道所传输的测试信号得到第三接收信号，接收该第二通道所传输的测试信号得到第四接收信号；

被测件通道相位差获取模块146，用于对该第三接收信号与该第四接收信号所形成的正弦波曲线进行去毛刺处理与曲线拟合处理，以获取该第一通道与该第二通道之间的被测件通道相位差；

相位差指标获取模块147，用于根据该系统链路相位差以及该被测件通道相位差的对应关系，获取该被测件的第一通道与第二通道之间的相位差指标。

在一种可能的实施方式中，该装置还用于：

校准阶段下，该信号源通过该第一开关进行通道切换，以向该第一通道对应的第一直通件以及该第二通道对应的第二直通件依次发送校准信号；该矢量信号接受机通过该第二开关进行通道切换，以依次接收该第一直通件所传输的校准信号得到第一接收信号，接收该第二直通件所传输的校准信号得到第二接收信号；

测试阶段下，该信号源通过该第一开关进行通道切换，以向该第一通道以及该第二通道依次发送测试信号；该矢量信号接受机通过该第二开关进行通道切换，以依次接收该第一通道所传输的测试信号得到第三接收信号，接收该第二通道所传输的测试信号得到第四接收信号。

在一种可能的实施方式中，该系统链路相位差获取模块143，还用于：

对该第一接收信号所对应的正弦波相位与该第二接收信号所对应的正弦波相位进行作差处理，以获取该第一直通件与该第二直通件之间的系统链路相位差。

在一种可能的实施方式中，该被测件通道相位差获取模块146，还用于：

在开关切换功率为零时，获取该第三接收信号与该第四接收信号所形成的正弦波曲线上的第一功率零点c4的位置以及第二功率零点c6的位置；

根据该第一功率零点c4的横坐标以及该第二功率零点c6的横坐标，确定第一定位点c5的位置；该第一定位点c5位于该第一功率零点c4与该第二功率零点c6之间；该第一定位点c5用于确定该第二功率零点c6位于该第四接收信号的正弦波上升沿上；

根据该第一功率零点c4的横坐标，获取第一待延长点c3的位置；

根据该第二功率零点c6的横坐标，获取第二待延长点c7的位置；

根据该第一待延长点c3的横坐标以及该第二待延长点c7的横坐标，去除该第三接收信号以及该第四接收信号的正弦波连接处的毛刺曲线；

在去除毛刺曲线后，根据该第一待延长点c3的横坐标以及该第二待延长点c7的横坐标，作该第一待延长点c3与该第二待延长点c7的横坐标中间线；

根据该第一待延长点c3的横坐标与该横坐标中间线，对该第一待延长点c3与该横坐标中间线进行曲线拟合，以将该第一待延长点c3延长至该横坐标中间线的位置，并获取该第一待延长点c3与该横坐标中间线的第一连接点；

根据该第二待延长点c7的横坐标与该横坐标中间线，对该第二待延长点c7与该横坐标中间线进行曲线拟合，以将该第二待延长点c7延长至该横坐标中间线的位置，并获取该第二待延长点c7与该横坐标中间线的第二连接点；

对该第一连接点的纵坐标以及该第二连接点的纵坐标进行作差处理，获取该第一通道与该第二通道之间的被测件通道相位差。

在一种可能的实施方式中，该相位差指标获取模块147，还用于：

根据直通件与该被测件的通道之间的对应关系，对该被测件通道相位差与该系统链路相位差进行作差处理，以获取该被测件的第一通道与第二通道之间的相位差指标。

在一种可能的实施方式中，该装置还用于：

该信号源所发送的信号达到各个直通件或该被测件的各个通道的链路长度差异均在一个信号周期内。

综上所述，本申请在校准阶段下，通过直通件对被测件的通道进行替换与测试，规避掉系统链路引起的相位差，从而得到只由被测件本身影响而带来的相位差；在测试阶段下，通过去毛刺处理与曲线拟合处理去除了通道切换时带来的温度变化影响以及毛刺区域的不平滑曲线，提高了相位差的测试精确度；使其既可以用于需要外部提供本振信号的组件，也可以用于只需要提供时钟参考的组件，得到精确的相位关系。

请参阅图15，其是根据本申请一示例性实施例提供的一种计算机设备示意图，所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器用于存储计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，实现上述的一种混频组件的通道间相位差的测试方法。

其中，处理器可以为中央处理器（Central Processing Unit，CPU）。处理器还可以为其他通用处理器、数字信号处理器（Digital Signal Processor，DSP）、专用集成电路（Application Specific Integrated Circuit，ASIC）、现场可编程门阵列（Field-Programmable Gate Array，FPGA）或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片，或者上述各类芯片的组合。

存储器作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块，如本申请实施方式中的方法对应的程序指令/模块。处理器通过运行存储在存储器中的非暂态软件程序、指令以及模块，从而执行处理器的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施方式中的方法。

存储器可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储处理器所创建的数据等。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施方式中，存储器可选包括相对于处理器远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至处理器。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

在一示例性实施例中，还提供了一种计算机可读存储介质，用于存储有至少一条计算机程序，所述至少一条计算机程序由处理器加载并执行以实现上述方法中的全部或部分步骤。例如，该计算机可读存储介质可以是只读存储器（Read-Only Memory，ROM）、随机存取存储器（Random Access Memory，RAM）、只读光盘（Compact Disc Read-Only Memory，CD-ROM）、磁带、软盘和光数据存储设备等。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的申请后，将容易想到本申请的其它实施方案。本申请旨在涵盖本申请的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本申请的一般性原理并包括本申请未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本申请的真正范围和精神由上述方案指出。

应当理解的是，本申请并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本申请的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (10)

1.一种混频组件的通道间相位差的测试方法，其特征在于，所述方法应用于一种混频组件的通道间相位差的测试系统中；所述系统包括信号源、矢量信号接受机以及多个直通件；所述直通件用于在校准阶段下对被测件的通道进行相应替换；

所述方法包括：

校准阶段下，所述信号源向第一通道对应的第一直通件以及第二通道对应的第二直通件依次发送校准信号；

所述矢量信号接受机依次接收所述第一直通件所传输的校准信号得到第一接收信号，接收第二直通件所传输的校准信号得到第二接收信号；

确定所述第一接收信号对应的正弦波相位以及所述第二接收信号对应的正弦波相位，并进行相位比较，以获取所述第一直通件与所述第二直通件之间的系统链路相位差；

测试阶段下，所述信号源向所述第一通道以及所述第二通道依次发送测试信号；

所述矢量信号接受机接收所述第一通道所传输的测试信号得到第三接收信号，接收所述第二通道所传输的测试信号得到第四接收信号；

对所述第三接收信号与所述第四接收信号所形成的正弦波曲线进行去毛刺处理与曲线拟合处理，以获取所述第一通道与所述第二通道之间的被测件通道相位差；

根据所述系统链路相位差以及所述被测件通道相位差的对应关系，获取所述被测件的第一通道与第二通道之间的相位差指标。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述系统还包括第一开关以及第二开关；

校准阶段下，所述信号源与所述第一开关、所述直通件、所述第二开关以及所述矢量信号接受机依次连接，所述第一开关以及所述第二开关，用于对各个所述直通件对应的通道进行切换；

测试阶段下，所述信号源与所述第一开关、被测件、所述第二开关以及所述矢量信号接受机依次连接；所述第一开关以及所述第二开关，用于对各个所述被测件的通道进行切换；

所述方法还包括：

校准阶段下，所述信号源通过所述第一开关进行通道切换，以向所述第一通道对应的第一直通件以及所述第二通道对应的第二直通件依次发送校准信号；所述矢量信号接受机通过所述第二开关进行通道切换，以依次接收所述第一直通件所传输的校准信号得到第一接收信号，接收所述第二直通件所传输的校准信号得到第二接收信号；

测试阶段下，所述信号源通过所述第一开关进行通道切换，以向所述第一通道以及所述第二通道依次发送测试信号；所述矢量信号接受机通过所述第二开关进行通道切换，以依次接收所述第一通道所传输的测试信号得到第三接收信号，接收所述第二通道所传输的测试信号得到第四接收信号。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述第一接收信号对应的正弦波相位以及所述第二接收信号对应的正弦波相位，并进行相位比较，以获取所述第一直通件与所述第二直通件之间的系统链路相位差，包括：

对所述第一接收信号所对应的正弦波相位与所述第二接收信号所对应的正弦波相位进行作差处理，以获取所述第一直通件与所述第二直通件之间的系统链路相位差。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述第三接收信号与所述第四接收信号所形成的正弦波曲线进行去毛刺处理与曲线拟合处理，以获取所述第一通道与所述第二通道之间的被测件通道相位差，包括：

在开关切换功率为零时，获取所述第三接收信号与所述第四接收信号所形成的正弦波曲线上的第一功率零点c4的位置以及第二功率零点c6的位置；

根据所述第一功率零点c4的横坐标以及所述第二功率零点c6的横坐标，确定第一定位点c5的位置；所述第一定位点c5位于所述第一功率零点c4与所述第二功率零点c6之间；所述第一定位点c5用于确定所述第二功率零点c6位于所述第四接收信号的正弦波上升沿上；

根据所述第一功率零点c4的横坐标，获取第一待延长点c3的位置；

根据所述第二功率零点c6的横坐标，获取第二待延长点c7的位置；

根据所述第一待延长点c3的横坐标以及所述第二待延长点c7的横坐标，去除所述第三接收信号以及所述第四接收信号的正弦波连接处的毛刺曲线；

在去除毛刺曲线后，根据所述第一待延长点c3的横坐标以及所述第二待延长点c7的横坐标，作所述第一待延长点c3与所述第二待延长点c7的横坐标中间线；

根据所述第一待延长点c3的横坐标与所述横坐标中间线，对所述第一待延长点c3与所述横坐标中间线进行曲线拟合，以将所述第一待延长点c3延长至所述横坐标中间线的位置，并获取所述第一待延长点c3与所述横坐标中间线的第一连接点；

根据所述第二待延长点c7的横坐标与所述横坐标中间线，对所述第二待延长点c7与所述横坐标中间线进行曲线拟合，以将所述第二待延长点c7延长至所述横坐标中间线的位置，并获取所述第二待延长点c7与所述横坐标中间线的第二连接点；

对所述第一连接点的纵坐标以及所述第二连接点的纵坐标进行作差处理，获取所述第一通道与所述第二通道之间的被测件通道相位差。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述系统链路相位差以及所述被测件通道相位差的对应关系，获取所述被测件的第一通道与第二通道之间的相位差指标，包括：

根据直通件与所述被测件的通道之间的对应关系，对所述被测件通道相位差与所述系统链路相位差进行作差处理，以获取所述被测件的第一通道与第二通道之间的相位差指标。

6.根据权利要求1至5任一所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

所述信号源所发送的信号达到各个直通件或所述被测件的各个通道的链路长度差异均在一个信号周期内。

7.一种混频组件的通道间相位差的测试系统，其特征在于，所述系统用于实现如权利要求1至6任一所述的一种混频组件的通道间相位差的测试方法中；

所述系统包括信号源、第一开关、矢量信号接受机、第二开关以及多个直通件；

校准阶段下，所述信号源与所述第一开关、所述直通件、所述第二开关以及所述矢量信号接受机依次连接；

测试阶段下，所述信号源与所述第一开关、被测件、所述第二开关以及所述矢量信号接受机依次连接；所述直通件与所述被测件的通道一一对应。

8.一种混频组件的通道间相位差的测试装置，其特征在于，所述装置包括：

校准信号发送模块，用于校准阶段下，信号源向第一通道对应的第一直通件以及第二通道对应的第二直通件依次发送校准信号；

第一及第二接收信号获取模块，用于矢量信号接受机依次接收所述第一直通件所传输的校准信号得到第一接收信号，接收第二直通件所传输的校准信号得到第二接收信号；

系统链路相位差获取模块，用于确定所述第一接收信号对应的正弦波相位以及所述第二接收信号对应的正弦波相位，并进行相位比较，以获取所述第一直通件与所述第二直通件之间的系统链路相位差；

测试信号发送模块，用于测试阶段下，所述信号源向所述第一通道以及所述第二通道依次发送测试信号；

第三及第四接收信号获取模块，用于所述矢量信号接受机接收所述第一通道所传输的测试信号得到第三接收信号，接收所述第二通道所传输的测试信号得到第四接收信号；

被测件通道相位差获取模块，用于对所述第三接收信号与所述第四接收信号所形成的正弦波曲线进行去毛刺处理与曲线拟合处理，以获取所述第一通道与所述第二通道之间的被测件通道相位差；

相位差指标获取模块，用于根据所述系统链路相位差以及所述被测件通道相位差的对应关系，获取所述被测件的第一通道与第二通道之间的相位差指标。

9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条指令，所述至少一条指令由所述处理器加载并执行以实现如权利要求1至6任一所述的一种混频组件的通道间相位差的测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有至少一条指令，所述至少一条指令由处理器加载并执行以实现如权利要求1至6任一所述的一种混频组件的通道间相位差的测试方法。