CN111398678B - 星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试方法及装置 - Google Patents

Abstract

本申请实施例公开了一种星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试方法及装置，所述方法包括：检测多个天线通道中每个天线通道的载波串扰抑制数据；根据所述每个天线通道的载波串扰抑制数据，确定通道与载波串扰抑制之间的曲线，其中，所述通道与载波串扰抑制之间的曲线用于表征天线载波串扰抑制指标。

Description

星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试方法及装置

技术领域

本申请涉及天线指标检测技术，尤其涉及一种星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试方法及装置。

背景技术

卫星发射入轨并在轨正常运行后将转入在轨测试阶段，在轨测试的目的是检验卫星各分系统的主要功能和性能，考核卫星战术技术指标，为卫星交付、作战应用以及改进研制提供依据。

星载相控阵天线作为卫星载荷测试项目中天线分系统的一部分，其天线载波串扰抑制指标是一项重要指标，目前，对于该指标的测试采用的方式是手动测试，手动测试存在测试效率低、测试误差大、计算复杂度较高等问题。

发明内容

为解决上述技术问题，本申请实施例提供了一种星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试方法及装置、计算机可读存储介质。

本申请实施例提供的星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试方法，包括：

检测多个天线通道中每个天线通道的载波串扰抑制数据；

根据所述每个天线通道的载波串扰抑制数据，确定通道与载波串扰抑制之间的曲线，其中，所述通道与载波串扰抑制之间的曲线用于表征天线载波串扰抑制指标。

在本申请一可选实施方式中，所述检测多个天线通道中每个天线通道的载波串扰抑制数据，包括：

在第一状态下，通过在轨测试系统自动控制频谱仪检测待测天线通道的增益；在第二状态下，通过在轨测试系统自动控制频谱仪检测待测天线通道的增益；其中，所述第一状态是指多个天线通道均处于开启状态，所述第二状态是指所述待测天线通道处于关闭状态且多个天线通道中除所述待测天线通道以外的其他天线通道处于开启状态；

计算所述第一状态下得到的增益和所述第二状态下得到的增益的差值，将所述差值作为所述待测天线通道的载波串扰抑制数据，其中，所述载波串扰抑制数据用于表征所述待测天线通道受其他通道的载波抑制；

将所述多个天线通道依次作为所述待测天线通道，得到所述多个天线通道中每个天线通道的载波串扰抑制数据。

在本申请一可选实施方式中，所述方法还包括：

建立天线载波串扰抑制指标的测试链路，所述测试链路是指频谱仪与星载相控阵天线之间的链路，其中，所述星载相控阵天线具有所述多个天线通道。

在本申请一可选实施方式中，所述通过在轨测试系统自动控制频谱仪检测待测天线通道的增益，包括：

加载测试脚本程序，以自动实现如下操作：

控制信号源发射单载波信号，所述单载波信号经星载相控阵天线转发给频谱仪；

控制所述频谱仪自动设置以下至少一种工作参数：接收频率、带宽，并控制所述频谱仪按照所设置的工作参数检测所述星载相控阵天线中每个天线通道的信号功率；

将所述星载相控阵天线中每个天线通道的信号功率保存为原始测试数据。

根据所述原始测试数据和校准数据计算所述多个天线通道中每个天线通道的增益。

在本申请一可选实施方式中，所述加载测试脚本程序之前，所述方法还包括：对上行发射链路和下行接收链路进行校准测试，将校准测试得到的校准数据存入数据库；

所述控制信号源发射单载波信号，包括：根据发射功率计的测试值闭环控制所述信号源对单载波信号的发射功率，使得在轨测试系统的天线口面的功率幅度差低于指定阈值。

本申请实施例提供的星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试装置，包括：

测试单元，用于检测多个天线通道中每个天线通道的载波串扰抑制数据；

处理单元，用于根据所述每个天线通道的载波串扰抑制数据，确定通道与载波串扰抑制之间的曲线，其中，所述通道与载波串扰抑制之间的曲线用于表征天线载波串扰抑制指标。

在本申请一可选实施方式中，所述测试单元，用于在第一状态下，通过在轨测试系统自动控制频谱仪检测待测天线通道的增益；在第二状态下，通过在轨测试系统自动控制频谱仪检测待测天线通道的增益；其中，所述第一状态是指多个天线通道均处于开启状态，所述第二状态是指所述待测天线通道处于关闭状态且多个天线通道中除所述待测天线通道以外的其他天线通道处于开启状态；

所述处理单元，用于计算所述第一状态下得到的增益和所述第二状态下得到的增益的差值，将所述差值作为所述待测天线通道的载波串扰抑制数据，其中，所述载波串扰抑制数据用于表征所述待测天线通道受其他通道的载波抑制；将所述多个天线通道依次作为所述待测天线通道，得到所述多个天线通道中每个天线通道的载波串扰抑制数据。

在本申请一可选实施方式中，所述装置还包括：

建立单元，用于建立天线载波串扰抑制指标的测试链路，所述测试链路是指频谱仪与星载相控阵天线之间的链路，其中，所述星载相控阵天线具有所述多个天线通道。

在本申请一可选实施方式中，所述测试单元，用于加载测试脚本程序，以自动实现如下操作：

控制信号源发射单载波信号，所述单载波信号经星载相控阵天线转发给频谱仪；

控制所述频谱仪自动设置以下至少一种工作参数：接收频率、带宽，并控制所述频谱仪按照所设置的工作参数检测所述星载相控阵天线中每个天线通道的信号功率；

将所述星载相控阵天线中每个天线通道的信号功率保存为原始测试数据。

根据所述原始测试数据和校准数据计算所述多个天线通道中每个天线通道的增益。

在本申请一可选实施方式中，所述装置还包括：

校准单元，用于对上行发射链路和下行接收链路进行校准测试，将校准测试得到的校准数据存入数据库；

所述控制信号源发射单载波信号，包括：根据发射功率计的测试值闭环控制所述信号源对单载波信号的发射功率，使得在轨测试系统的天线口面的功率幅度差低于指定阈值。

本申请实施例提供的计算机可读存储介质用于存储计算机程序，所述计算机程序使得计算机执行上述的星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试方法。

本申请实施例的技术方案中，通过在轨测试系统自动控制频谱仪测试每个天线通道的载波串扰抑制数据，并据此确定通道与载波串扰抑制之间的曲线(也可以简称为通道-载波串扰抑制曲线)，从而得到天线载波串扰抑制指标的测试结果。本申请实施例的技术方案提供的测量方法具有测试效率高、测试精度高、计算复杂度低等优点。

附图说明

图1为本申请实施例提供的星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试方法的流程示意图一；

图2为本申请实施例提供的星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试方法的流程示意图二；

图3为本申请实施例提供的星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试方法的流程示意图三；

图4为本申请实施例提供的星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试装置的结构组成示意图；

图5为本申请实施例提供的星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试系统的结构组成示意图。

具体实施方式

为了能够更加详尽地了解本申请实施例的特点与技术内容，下面结合附图对本申请实施例的实现进行详细阐述，所附附图仅供参考说明之用，并非用来限定本申请实施例。

为便于理解本申请实施例的技术方案，以下对本申请实施例的相关技术进行说明。

卫星发射入轨并在轨正常运行后将转入在轨测试阶段，在轨测试的目的是检验卫星各分系统(可选地，还有备份系统)的主要功能和性能，考核卫星战术技术指标，为卫星交付、作战应用以及改进研制提供依据。

卫星在轨测试项目主要分为卫星平台测试和卫星载荷测试两部分，其中卫星平台测试项目覆盖姿态和轨道控制分系统、推进分系统、电源分系统、测控分系统、热控分系统等分系统，并统计评估星载部件健康状况；卫星载荷测试项目覆盖天线分系统、转发器分系统和捕获跟踪分系统。

星载相控阵天线作为卫星载荷测试项目中天线分系统一部分，相控阵天线载波串扰抑制是指每个通道受其他通道载波串扰抑制。卫星相控阵天线载波串扰抑制是通过逐个关闭通道，其他通道不关闭的方法，测试通道在关闭前和关闭后的增益差。其中，信号源在转发器带内以与校准时同样的频率点发送单载波信号，发射电平使转发器工作于饱和点，频谱仪监视并测量卫星的下行信号，根据校准数据和测试数据计算相控阵转发器每个通道的增益。最后，根据增益差绘制通道-串扰抑制曲线。

卫星在轨测试趋向自动化测试发展，但在测试效率、测试误差、计算方法复杂度方面有着较大的差异。因此，需要有一种快速、高精度、自动化的在轨测试方法才能满足新的业务需求。为此，提出了本申请实施例的以下技术方案。本申请实施例的技术方案旨在解决星载相控阵天线在卫星发射定轨后每个天线通道受其他天线通道的载波串扰抑制的自动化测试问题，本申请实施例的技术方案具备脚本化测试流程，测试参数可按需配置，能够自动控制频谱仪，满足多种星载相控阵天线载波串扰抑制的自动化测试。以下对本申请实施例的技术方案进行详细说明。

图1为本申请实施例提供的星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试方法的流程示意图一，需要说明的是，本申请以下实施例中的“天线载波串扰抑制”尤指“星载相控阵天线载波串扰抑制”。如图1所示，所述方法包括以下步骤：

步骤101：检测多个天线通道中每个天线通道的载波串扰抑制数据。

这里，所述多个天线通道是指星载相控阵天线的多个天线通道。其中，星载相控阵天线承载在卫星上。卫星发射定轨后，可以通过本申请实施例的测试方法对天线载波串扰抑制指标进行测试。

本申请实施例中，定义第一状态和第二状态，其中，所述第一状态是指多个天线通道均处于开启状态，所述第二状态是指所述待测天线通道处于关闭状态且多个天线通道中除所述待测天线通道以外的其他天线通道处于开启状态。基于此，通过以下方式检测多个天线通道中每个天线通道的载波串扰抑制数据：

1)在第一状态下，通过在轨测试系统自动控制频谱仪检测待测天线通道的增益；在第二状态下，通过在轨测试系统自动控制频谱仪检测待测天线通道的增益；

2)计算所述第一状态下得到的增益和所述第二状态下得到的增益的差值，将所述差值作为所述待测天线通道的载波串扰抑制数据，其中，所述载波串扰抑制数据用于表征所述待测天线通道受其他通道的载波抑制；

3)将所述多个天线通道依次作为所述待测天线通道，得到所述多个天线通道中每个天线通道的载波串扰抑制数据。

上述方案中，通过在轨测试系统自动控制频谱仪检测待测天线通道的增益，可以通过以下步骤来实现：

A)建立天线载波串扰抑制指标的测试链路，所述测试链路是指频谱仪与星载相控阵天线之间的链路，其中，所述星载相控阵天线具有所述多个天线通道。

B)加载测试脚本程序，以自动实现如下操作：

控制信号源发射单载波信号，所述单载波信号经星载相控阵天线转发给频谱仪；

控制所述频谱仪自动设置以下至少一种工作参数：接收频率、带宽，并控制所述频谱仪按照所设置的工作参数检测所述星载相控阵天线中每个天线通道的信号功率；

将所述星载相控阵天线中每个天线通道的信号功率保存为原始测试数据。

根据所述原始测试数据和校准数据计算所述多个天线通道中每个天线通道的增益。

在一可选方式中，加载测试脚本程序之前，对上行发射链路和下行接收链路进行校准测试，将校准测试得到的校准数据存入数据库。

在一可选方式中，根据发射功率计的测试值闭环控制所述信号源对单载波信号的发射功率，使得在轨测试系统的天线口面的功率幅度差低于指定阈值(如0.1dB)。而后，单载波信号经所述星载相控阵天线转发给所述频谱仪，所述频谱仪按照所设置的工作参数检测所述星载相控阵天线中每个天线通道的信号功率；将所述星载相控阵天线中每个天线通道的信号功率保存为原始测试数据。基于此，根据所述原始测试数据和之前的所述校准数据计算所述多个天线通道中每个天线通道的增益。

步骤102：根据所述每个天线通道的载波串扰抑制数据，确定通道与载波串扰抑制之间的曲线，其中，所述通道与载波串扰抑制之间的曲线用于表征天线载波串扰抑制指标。

本申请实施例中，可以调用图形绘制程序加载所述多个天线通道中每个天线通道的载波串扰抑制数据，从而绘制出通道与载波串扰抑制之间的曲线(即通道-载波串扰抑制曲线)，通道与载波串扰抑制之间的曲线可以天线载波串扰抑制指标。需要说明的是，通道-载波串扰抑制曲线的横坐标可以是通道，纵坐标可以是通道对应的载波串扰抑制数据。

本申请实施例的技术方案，至少具有以下优点：

1、本申请实施例的技术方案采用采用逐天线通道关闭的方法，得到每个天线通道受其他天线通道的载波串扰抑制数据。在相控阵天线通道均未关闭时，通过在轨测试系统自动控制频谱仪测试待测天线通道的增益，关闭待测天线通道而其他通道未关闭的情况下，再次测试待测天线通道的增益，两次测试得到的待测天线通道的增益差即为该待测天线通道受其他通道的载波抑制。依次测试其他通道的载波串扰抑制，根据载波串扰抑制数据绘制通道-载波串扰抑制曲线。

2、本申请实施例的技术方案，基于地面在轨测试系统(简称在轨测试系统)实现快速自动化测试，具体地，建立星载相控阵天线载波串扰抑制的测试链路，通过加载测试脚本程序，自动控制频谱仪执行测试流程从而实现自动采集各天线通道在关闭前后的增益差，逐个得到每个天线通道的串扰抑制。根据每个天线通道的串扰抑制数据绘制通道-载波串扰抑制曲线。本申请实施例的测试速度相对传统手动测试速度有10倍左右的提升。

图2为本申请实施例提供的星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试方法的流程示意图二，如图2所示，所述方法包括以下步骤：

步骤201：配置测试参数。

具体地，配置星载相控阵天线的起始通道频率，通道间频率间隔，以及转发器的饱和输出功率。其中，通过起始通道频率和通道间频率间隔，可以确定出多个天线通道中每个天线通道的频率。例如：起始通道频率(即第一个天线通道的频率)为f0，通道间频率间隔为Delta，那么，第i个天线通道的频率为f0+(i-1)Delta，i为大于1且小于等于N的整数，N为天线通道的总数。

步骤202：校准测试。

具体地，对上行链路和下行测试链路进行校准测试，获取不同通道频率的校准增益。

步骤203：配置信号源的工作参数，根据信号源的工作参数和校准增益，自动控制信号源的工作频率和输出功率。

步骤204：配置频谱仪的工作参数，频谱仪根据工作参数自动循环检测每个天线通道在第一状态和第二状态下的增益。

这里，第一状态是指多个天线通道均处于未关闭状态(即开启状态)，第二状态是指待测天线通道处于关闭状态而其他天线通道均处于未关闭状态(即开启状态)。

这里，天线通道在第一状态和第二状态下的增益，可以通过以下方式实现：测试天线通道的输出功率作为原始测试数据，根据校准数据和原始测试数据计算该天线通道的增益。

步骤205：将每个天线通道在第一状态和第二状态下的增益差，作为该天线通道受其他天线通道的载波串扰抑制数据；根据每个天线通道的载波串扰抑制数据绘制通道-载波串扰抑制曲线。

本申请实施例的技术方案，采用逐通道关闭的方法，得到每个天线通道受其他天线通道的载波串扰抑制。在相控阵天线通道均未关闭时，通过在轨测试系统自动控制频谱仪测试待测天线通道的增益，关闭待测天线通道而其他天线通道未关闭，再次测试待测天线通道的增益，两次待测天线通道的增益差即为该天线通道受其他天线通道的载波抑制。依次测试其他天线通道的载波串扰抑制，绘制通道-载波串扰抑制曲线。

图3为本申请实施例提供的星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试方法的流程示意图三，如图3所示，所述方法包括以下步骤：

步骤301：连接测试设备。

具体地，连接测试设备包括建立测试链路。

步骤302：信号源发射单载波信号。

步骤303：接收站跟踪卫星。

步骤304：频谱仪检测待测天线通道的信号功率。

步骤305：关闭待测天线通道，谱仪检再次检测待测天线通道的信号功率。

步骤306：待测天线通道是否轮询完毕，否时，执行步骤304，是时，执行步骤307。

这里，轮询是指将多个天线通道依次作为待测天线通道。

步骤307：根据天线通道两次检测的信号功率确定天线通道的增益差，并根据天线通道的增益差绘制通道-载波串扰抑制曲线。

步骤308：保存通道-载波串扰抑制曲线。

本申请实施例的技术方案，采用新型的测试原理和控制计算方法，实现通信卫星星载相控阵天线载波串扰抑制指标的快速、自动、高精度测试。

图4为本申请实施例提供的星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试装置的结构组成示意图，如图4所示，所述天线载波串扰抑制指标的测试装置包括：

测试单元401，用于检测多个天线通道中每个天线通道的载波串扰抑制数据；

处理单元402，用于根据所述每个天线通道的载波串扰抑制数据，确定通道与载波串扰抑制之间的曲线，其中，所述通道与载波串扰抑制之间的曲线用于表征天线载波串扰抑制指标。

在本申请一可选实施方式中，所述测试单元401，用于在第一状态下，通过在轨测试系统自动控制频谱仪检测待测天线通道的增益；在第二状态下，通过在轨测试系统自动控制频谱仪检测待测天线通道的增益；其中，所述第一状态是指多个天线通道均处于开启状态，所述第二状态是指所述待测天线通道处于关闭状态且多个天线通道中除所述待测天线通道以外的其他天线通道处于开启状态；

所述处理单元402，用于计算所述第一状态下得到的增益和所述第二状态下得到的增益的差值，将所述差值作为所述待测天线通道的载波串扰抑制数据，其中，所述载波串扰抑制数据用于表征所述待测天线通道受其他通道的载波抑制；将所述多个天线通道依次作为所述待测天线通道，得到所述多个天线通道中每个天线通道的载波串扰抑制数据。

在本申请一可选实施方式中，所述装置还包括：

建立单元403，用于建立天线载波串扰抑制指标的测试链路，所述测试链路是指频谱仪与星载相控阵天线之间的链路，其中，所述星载相控阵天线具有所述多个天线通道。

在本申请一可选实施方式中，所述测试单元401，用于加载测试脚本程序，以自动实现如下操作：

控制信号源发射单载波信号，所述单载波信号经星载相控阵天线转发给频谱仪；

控制所述频谱仪自动设置以下至少一种工作参数：接收频率、带宽，并控制所述频谱仪按照所设置的工作参数检测所述星载相控阵天线中每个天线通道的信号功率；

将所述星载相控阵天线中每个天线通道的信号功率保存为原始测试数据。

根据所述原始测试数据和校准数据计算所述多个天线通道中每个天线通道的增益。

在本申请一可选实施方式中，所述装置还包括：

校准单元404，用于对上行发射链路和下行接收链路进行校准测试，将校准测试得到的校准数据存入数据库；

所述控制信号源发射单载波信号，包括：根据发射功率计的测试值闭环控制所述信号源对单载波信号的发射功率，使得在轨测试系统的天线口面的功率幅度差低于指定阈值。

本领域技术人员应当理解，图4所示的星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试装置中的各单元的实现功能可参照前述天线载波串扰抑制指标的测试方法的相关描述而理解。图4所示的星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试装置中的各单元的功能可通过运行于处理器上的程序而实现，也可通过具体的逻辑电路而实现。应理解，本申请实施例的处理器可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法实施例的各步骤可以通过处理器中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器可以是通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(FieldProgrammable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本申请实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本申请实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器，处理器读取存储器中的信息，结合其硬件完成上述方法的步骤。

图5为本申请实施例提供的星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试系统的结构组成示意图，如图5所示，所述星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试系统包括：第一信号源501，功率放大器502，第一功率计503，卫星504，第二信号源505，第二功率计506，频谱仪507以及低噪声放大器508。其中，本申请上述方案中的信号源是指第一信号源501，该第一信号源501发射的单载波经过功率放大器502放大后输入给卫星504(具体为星载相控阵天线)，卫星504转发单载波信号，单载波信号经低噪声放大器508处理后传输给频谱仪507进行检测。

需要说明的是，第一信号源501，第一功率计503，第二信号源505以及第二功率计506采用功率一致性计算方法，获取发射功率计测试数值，实时闭环控制信号源输出功率，使测试系统天线口面功率幅度差优于0.1dB。

本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，用于存储计算机程序，所述计算机程序使得计算机执行前述实施例的星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试方法。

可选地，该计算机可读存储介质可应用于本申请实施例中的网络设备，并且该计算机程序使得计算机执行本申请实施例的各个方法中由网络设备实现的相应流程，为了简洁，在此不再赘述。

可选地，该计算机可读存储介质可应用于本申请实施例中的移动终端/终端，并且该计算机程序使得计算机执行本申请实施例的各个方法中由移动终端/终端实现的相应流程，为了简洁，在此不再赘述。

本申请实施例所记载的技术方案之间，在不冲突的情况下，可以任意组合。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的方法和智能设备，可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，如：多个单元或组件可以结合，或可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直接耦合、或通信连接可以是通过一些接口，设备或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性的、机械的或其它形式的。

上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是、或也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，也可以分布到多个网络单元上；可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各实施例中的各功能单元可以全部集成在一个第二处理单元中，也可以是各单元分别单独作为一个单元，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中；上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

检测多个天线通道中每个天线通道的载波串扰抑制数据；

根据所述每个天线通道的载波串扰抑制数据，确定通道与载波串扰抑制之间的曲线，其中，所述通道与载波串扰抑制之间的曲线用于表征天线载波串扰抑制指标；

所述检测多个天线通道中每个天线通道的载波串扰抑制数据，包括：

在第一状态下，通过在轨测试系统自动控制频谱仪检测待测天线通道的增益；在第二状态下，通过在轨测试系统自动控制频谱仪检测待测天线通道的增益；其中，所述第一状态是指多个天线通道均处于开启状态，所述第二状态是指所述待测天线通道处于关闭状态且多个天线通道中除所述待测天线通道以外的其他天线通道处于开启状态；

计算所述第一状态下得到的增益和所述第二状态下得到的增益的差值，将所述差值作为所述待测天线通道的载波串扰抑制数据，其中，所述载波串扰抑制数据用于表征所述待测天线通道受其他通道的载波抑制；

将所述多个天线通道依次作为所述待测天线通道，得到所述多个天线通道中每个天线通道的载波串扰抑制数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

建立天线载波串扰抑制指标的测试链路，所述测试链路是指频谱仪与星载相控阵天线之间的链路，其中，所述星载相控阵天线具有所述多个天线通道。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述通过在轨测试系统自动控制频谱仪检测待测天线通道的增益，包括：

加载测试脚本程序，以自动实现如下操作：

控制信号源发射单载波信号，所述单载波信号经星载相控阵天线转发给频谱仪；

控制所述频谱仪自动设置以下至少一种工作参数：接收频率、带宽，并控制所述频谱仪按照所设置的工作参数检测所述星载相控阵天线中每个天线通道的信号功率；

将所述星载相控阵天线中每个天线通道的信号功率保存为原始测试数据，

根据所述原始测试数据和校准数据计算所述多个天线通道中每个天线通道的增益。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述加载测试脚本程序之前，所述方法还包括：对上行发射链路和下行接收链路进行校准测试，将校准测试得到的校准数据存入数据库；

所述控制信号源发射单载波信号，包括：根据发射功率计的测试值闭环控制所述信号源对单载波信号的发射功率，使得在轨测试系统的天线口面的功率幅度差低于指定阈值。

5.一种星载相控阵天线载波串扰抑制指标的测试装置，其特征在于，所述装置包括：

测试单元，用于检测多个天线通道中每个天线通道的载波串扰抑制数据；

处理单元，用于根据所述每个天线通道的载波串扰抑制数据，确定通道与载波串扰抑制之间的曲线，其中，所述通道与载波串扰抑制之间的曲线用于表征天线载波串扰抑制指标；

所述测试单元，用于在第一状态下，通过在轨测试系统自动控制频谱仪检测待测天线通道的增益；在第二状态下，通过在轨测试系统自动控制频谱仪检测待测天线通道的增益；其中，所述第一状态是指多个天线通道均处于开启状态，所述第二状态是指所述待测天线通道处于关闭状态且多个天线通道中除所述待测天线通道以外的其他天线通道处于开启状态；

所述处理单元，用于计算所述第一状态下得到的增益和所述第二状态下得到的增益的差值，将所述差值作为所述待测天线通道的载波串扰抑制数据，其中，所述载波串扰抑制数据用于表征所述待测天线通道受其他通道的载波抑制；将所述多个天线通道依次作为所述待测天线通道，得到所述多个天线通道中每个天线通道的载波串扰抑制数据。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

建立单元，用于建立天线载波串扰抑制指标的测试链路，所述测试链路是指频谱仪与星载相控阵天线之间的链路，其中，所述星载相控阵天线具有所述多个天线通道。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述测试单元，用于加载测试脚本程序，以自动实现如下操作：

控制信号源发射单载波信号，所述单载波信号经星载相控阵转发给频谱仪；

控制所述频谱仪自动设置以下至少一种工作参数：接收频率、带宽，并控制所述频谱仪按照所设置的工作参数检测所述星载相控阵天线中的每个天线通道的信号功率；

将所述星载相控阵天线中每个天线通道的信号功率保存为原始测试数据，

根据所述原始测试数据和校准数据计算所述多个天线通道中每个天线通道的增益。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

校准单元，用于对上行发射链路和下行接收链路进行校准测试，将校准测试得到的校准数据存入数据库；

所述控制信号源发射单载波信号，包括：根据发射功率计的测试值闭环控制所述信号源对单载波信号的发射功率，使得在轨测试系统的天线口面的功率幅度差低于指定阈值。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，用于存储计算机程序，所述计算机程序使得计算机执行如权利要求1至4中任一项所述的方法。

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