CN117450928A - 表面尺寸检测系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种表面尺寸检测系统，包括基座、两个送料装置、多个转移装置和至少两个检测装置，基座包括两个送料基座和至少两个检测基座，送料基座设有储放工位和定位工位；各送料装置包括送料机构和定位机构，送料机构连接储放工位和定位工位，以将托盘往返运送在储放工位和定位工位之间，定位机构设于定位工位且对托盘上的物料进行定位检测；转移装置用以对物料进行转移；各检测装置包括可旋转设置的转盘、设在转盘的周缘的多个第一载具以及至少两个检测机构，第一载具拾取对应的转移装置所转移的物料，各检测机构分别对所在位置处的物料的目标表面的尺寸进行检测。本发明使得表面尺寸检测系统的通用性提高且检测成本降低。

Description

表面尺寸检测系统

技术领域

本发明涉及产品的表面尺寸检测技术领域，具体涉及一种表面尺寸检测系统。

背景技术

现有的产品或者其零配件在完成或者阶段性完成加工或者装配操作后，需要对其目标外表面的尺寸进行检测，以明确该产品的尺寸是否满足所需。现有的表面尺寸检测装置一般更适用于对相同的或者相关联的产品进行尺寸检测，但针对不同物料的更多数量的目标表面、或者更多朝向的目标表面的尺寸记性检测时，需要对表面尺寸检测装置进行重新配置或者大幅度调整，增加检测成本，且降低表面尺寸检测装置的通用性。

发明内容

本发明的主要目的是提出一种表面尺寸检测系统，旨在解决传统表面尺寸检测装置通用性较低而导致检测成本增加的问题。

为实现上述目的，本发明提出的一种表面尺寸检测系统，包括：

基座，包括沿第一水平方向顺次布设的两个送料基座和至少两个检测基座，两个所述送料基座分设在各所述检测基座的相对两侧，其中，所述送料基座设有沿第二水平方向顺次设置的储放工位和定位工位；

两个送料装置，一一对应设置在两个所述送料基座处，各所述送料装置包括送料机构和定位机构，所述送料机构连接所述储放工位和所述定位工位，以将托盘往返运送在所述储放工位和所述定位工位之间，所述定位机构设于所述定位工位，且用以对托盘上的物料进行定位检测；

多个转移装置，设于相邻的所述送料基座和所述检测基座之间、或者相邻的两个所述检测基座之间，且用以对物料进行转移；以及，

至少两个检测装置，一一对应设置在各所述检测基座处，各所述检测装置包括绕着竖直方向延伸的轴线可旋转设置的转盘、沿着所述转盘的周向依次间隔布设在所述转盘的周缘的多个第一载具、以及间隔设于所述转盘的外周侧的至少两个检测机构，所述第一载具用以拾取对应的所述转移装置所转移的物料，各所述检测机构用以分别对所在位置处的物料的目标表面的尺寸进行检测。

可选地，所述检测装置还包括调整机构，所述调整机构设于所述转盘的外周侧，所述调整机构包括绕着竖直方向延伸的轴线可旋转设置的旋转台，所述旋转台设有载物位，在旋转过程中，所述旋转台带动所述载物位旋转靠近和远离对应的所述第一载具。

可选地，所述检测装置还包括翻转机构，所述翻转机构设于所述转盘的外周侧，所述翻转机构包括绕着水平方向延伸的轴线可旋转设置的翻转件，所述翻转件带动所在位置处的物料进行水平翻转。

可选地，所述检测机构包括第一检测机构，所述第一检测机构包括：

第一成像组件，设于所述第一载具的上方，且具有朝下设置的第一成像面，所述第一成像组件用以摄取物料的二维图像和/或三维图像；以及，

第一光源组件，与所述第一成像组件连接，且邻近所述第一成像面设置。

可选地，所述检测机构包括第二检测机构，所述第二检测机构包括：

第二成像组件，设于所述第一载具的径向一侧，且具有朝向所述第一载具的径向一侧设置的第二成像面，所述第二成像组件用以摄取物料的二维图像和/或三维图像；以及，

第二光源组件，与所述第二成像组件连接，且邻近所述第二成像面设置。

可选地，所述转移装置包括：

第二载具，沿所述转盘的径向可活动设置，所述第二载具的载运面朝上设置；

直线传送机构，对应至少一所述转盘设置，且位于至少一所述第一载具的径向外侧，所述直线传送机构沿所述转盘的径向延伸布设，且与所述第二载具驱动连接；以及，

拾取机构，设于相邻的所述送料基座和所述直线传送机构之间、或者相邻的两个所述转盘的所述直线传送机构之间，所述拾取机构的拾取面以及所述第一载具的载运面均朝下设置。

可选地，所述检测机构和/或所述定位机构还可选择性地设置在至少一所述直线传送机构处，且用以对活动经过的所述第二载具上的物料进行检测。

可选地，所述送料装置还包括升降机构，所述升降机构包括沿竖直方向可活动设置的两个插接件，两个所述插接件沿所述第一水平方向间隔排布在所述储放工位处，且具有抬升状态和降落状态；

所述送料机构包括沿所述第二水平方向可活动设置的载板，所述载板设于两个所述插接件的间隔处，在各所述插接件处于所述降落状态时，所述载板承载位于最底部的托盘；以及在各所述插接件带动余下的托盘活动至所述降落状态时，所述载板自所述储放工位处活动移出。

可选地，所述定位机构包括：

第三成像组件，设于所述定位工位的上方，且具有朝下设置的第三成像面，所述第三成像组件用以摄取物料的二维图像；以及，

第三光源组件，与所述第三成像组件连接，且邻近所述第三成像面设置。

可选地，各所述送料基座及各所述检测基座分别独立设置；

其中，相邻的所述送料基座和所述检测基座之间、和/或相邻的两个所述检测基座之间可拆卸连接。

本发明提供的技术方案中，送料基座和检测基座的设置，能够对送料区域和检测区域进行划分，且更适用于送料基座和检测基座的灵活组合；送料基座和检测基座分别沿第一水平方向布设，而送料装置上送料机构的送料方向为第二水平方向、检测装置上设置转盘旋转送料，都可以在增加送料装置和检测装置的数量的基础上，尽可能地使得送料装置和检测装置的结构紧凑，减少送料装置和检测装置整体的空间占用；送料装置中的送料机构完成物料的上料或者下料，定位机构能够对物料的位置进行准确检测和定位，避免转移装置的转移过程中出现物料的位置和朝向偏差；检测装置的设置数量在一定程度上增加，从而使得每一检测装置中转盘能够搭载的第一载具的总数量增加，能够预留出更多的检测工位供更多数量的以及不同检测规格的检测机构进行安装检测，可满足不同物料的不同数量的目标表面、不同朝向的目标表面的检测需求，从而使得表面尺寸检测系统的通用性提高，且相较而言，还有助于降低因人工改造设备而带来的拆装不便、设备不良和检测失准等弊端的出现概率，整体上有助于减少检测成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明提供的表面尺寸检测系统的一实施例的立体示意图；

图2为图1中表面尺寸检测系统去除罩壳后的俯视示意图；

图3为图2第一送料基座和第一送料装置的装配示意图；

图4为图3中送料机构和升降机构的装配示意图；

图5为图3中定位机构的立体示意图；

图6为图2检测基座和检测装置的装配示意图；

图7为图6中第一检测机构和调整机构的装配示意图；

图8为图6中第二检测机构和调整机构的装配示意图；

图9为图6中翻转机构和调整机构的装配示意图；

图10为图2中转移装置的第一实施例的立体示意图；

图11为图2中转移装置的第二实施例的立体示意图。

附图标号说明：

110a第一送料基座；110b第二送料基座；111储放工位；112定位工位；113过渡工位；114不良工位；120检测基座；200a第一送料装置；200b第二送料装置；210送料机构；211载板；220定位机构；221第三成像组件；222第三光源组件；230升降机构；231插接件；300转移装置；310第二载具；320直线传送机构；330拾取机构；400检测装置；410转盘；420第一载具；430第一检测机构；431第一成像组件；432第一光源组件；440第二检测机构；441第二成像组件；442第二光源组件；450调整机构；451旋转台；460翻转机构；461翻转件；500识别机构。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，若本发明实施例中有涉及方向性指示（诸如上、下、左、右、前、后……），则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态（如附图所示）下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，全文中出现的“和/或”的含义，包括三个并列的方案，以“A和/或B”为例，包括A方案、或B方案、或A和B同时满足的方案。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

请参阅图1至图11，本发明提供了一种表面尺寸检测系统，表面尺寸检测系统具有基本垂直的参考水平面和竖直方向。其中，参考水平面具有任意的第一水平方向和第二水平方向。第一水平方向和第二水平方向呈交叉设置，且具体地，可限定为第一水平方向和第二水平方向大致垂直。

鉴于此，在本实施例中，所述表面尺寸检测系统包括基座、两个送料装置、多个转移装置300以及至少两个检测装置400。其中，所述基座包括沿第一水平方向顺次布设的两个送料基座和至少两个检测基座120，两个所述送料基座分设在各所述检测基座120的相对两侧，其中，所述送料基座设有沿第二水平方向顺次设置的储放工位111和定位工位112；两个所述送料装置一一对应设置在两个所述送料基座处，各所述送料装置包括送料机构210和定位机构220，所述送料机构210连接所述储放工位111和所述定位工位112，以将托盘往返运送在所述储放工位111和所述定位工位112之间，所述定位机构220设于所述定位工位112，且用以对托盘上的物料进行定位检测；多个所述转移装置300设于相邻的所述送料基座和所述检测基座120之间、或者相邻的两个所述检测基座120之间，且用以对物料进行转移；至少两个所述检测装置400一一对应设置在各所述检测基座120处，各所述检测装置400包括绕着竖直方向延伸的轴线可旋转设置的转盘410、沿着所述转盘410的周向依次间隔布设在所述转盘410的周缘的多个第一载具420、以及间隔设于所述转盘410的外周侧的至少两个检测机构，所述第一载具420用以拾取对应的所述转移装置300所转移的物料，各所述检测机构用以分别对所在位置处的物料的目标表面的尺寸进行检测。

本发明提供的技术方案中，送料基座和检测基座120的设置，能够对送料区域和检测区域进行划分，且更适用于送料基座和检测基座120的灵活组合；送料基座和检测基座120分别沿第一水平方向布设，而送料装置上送料机构210的送料方向为第二水平方向、检测装置400上设置转盘410旋转送料，都可以在增加送料装置和检测装置400的数量的基础上，尽可能地使得送料装置和检测装置400的结构紧凑，减少送料装置和检测装置400整体的空间占用；送料装置中的送料机构210完成物料的上料或者下料，定位机构220能够对物料的位置进行准确检测和定位，避免转移装置300的转移过程中出现物料的位置和朝向偏差；检测装置400的设置数量在一定程度上增加，从而使得每一检测装置400中转盘410能够搭载的第一载具420的总数量增加，能够预留出更多的检测工位供更多数量的以及不同检测规格的检测机构进行安装检测，可满足不同物料的不同数量的目标表面、不同朝向的目标表面的检测需求，从而使得表面尺寸检测系统的通用性提高，且相较而言，还有助于降低因人工改造设备而带来的拆装不便、设备不良和检测失准等弊端的出现概率，整体上有助于减少检测成本。

在本设计中，基座可以根据实际需要设置为任意适宜的形式，例如独立地设置呈箱体状、块状、板状、架体状等结构中的一种或者几种。例如本实施例中，基座大致呈箱体状，具有大致垂直的参考水平面和竖直方向。基座的竖直上端面为大致沿参考水平面延伸的操作平台，送料装置、转移装置300和检测装置400均设置在操作平台上。

各个送料基座和各个检测基座120沿第一水平方向顺次呈线形排布。其中，两个送料基座分设在各个检测基座120位于第一水平方向上的相对两侧，也即位于基座的边沿处，便利于接入外部载有待测物料的待测托盘、或者向外接出载物已测物料的已测托盘。

可以理解，两个送料基座可均用以接入外部的待测托盘，或者均用以向外接出已测托盘，或者如图1至图2所示的实施例，两个送料基座中的一个送料基座用以接入外部的待测托盘（为便于区分，以下将该送料基座定义为第一送料基座110a），另一个送料基座用以向外接出已测托盘（为便于区分，以下将该送料基座定义为第二送料基座110b）。

为便于理解，以下将均以附图所示的两个送料基座的设置为例进行说明。

需要说明的是，基座在第二水平方向上间隔布设的储放工位111和定位工位112的具体表现形式不做限制。根据实际需要，储放工位111和定位工位112可以由可视化的标识标记出。可视化的标识例如是图案、字符、色块、差异化结构等。当然，储放工位111和定位工位112也可以被设置为无法用肉眼直接观察出，但可通过对例如送料装置、转移装置300及检测装置400等设备的自身固有的坐标系进行统一而被共同限定出。

而第一送料基座110a和/或第二送料基座110b除了限定出储放工位111和定位工位112以外，还可进一步限定出用以储放空置托盘的过渡工位113，过渡工位113例如具体可在储放工位111远离定位工位112的一侧。此外，用以向外接出已测托盘的送料基座处，还可进一步设置有不良工位114。所述不良工位114用以回收经检测被认定为不良的物料。

进一步地，与第一送料基座110a对应的送料装置为第一送料装置200a，与第二送料基座110b对应的送料装置为第二送料装置200b。第一送料装置200a的送料机构210能够将储放工位111处的待测托盘运送至定位工位112处，并将空置托盘返送至过渡工位113处；第二送料装置200b的送料机构210首先将空置托盘移送至定位工位112处，当转移装置300将已测物料自检测基座120转移至第二送料基座110b的定位工位112处后，第二送料装置200b再将载有已测物料的已测托盘返送至储放工位111处。而当检测基座120处检测出不良物料时，不良物料可由转移装置300直接地移送至不良工位114处，或者由转移装置300和第二送料装置200b共同地移送至不良工位114处。

具体而言，请结合图3至图5，在一实施例中，所述送料装置还包括升降机构230，所述升降机构230包括沿竖直方向可活动设置的两个插接件231，两个所述插接件231沿所述第一水平方向间隔排布在所述储放工位111处，且具有抬升状态和降落状态；此外，两个插接件231中的至少一个相对另一个沿二者的间隔方向可活动设置，以具有相互远离的分离状态、以及相互靠近和插接状态。

所述送料机构210包括沿所述第二水平方向可活动设置的载板211，所述载板211设于两个所述插接件231的间隔处。在各所述插接件231处于所述降落状态时，所述载板211承载位于最底部的托盘；以及在各所述插接件231带动余下的托盘活动至所述降落状态时，所述载板211自所述储放工位111处活动移出。

具体在一应用中，载板211处于储放工位111，其上沿竖直方向依次堆放有多个托盘，各插接件231可以处于任意状态。当需要转移一托盘至定位工位112时，各插接件231活动至降落状态，且至少自分离状态切换至插接状态，以使得插接件231的至少局部插接至位于自下而上第二个托盘的底部。而后各插接件231活动至抬升状态，使得自下而上第一个托盘置放于载板211上，且可被载板211带动而活动至定位工位112。余下的托盘被插接件231向上托起，直至载板211返回至储放工位111后，重复上述操作。

或者在另一应用中，无论载板211是否处于储放工位111，各插接件231首先位于自下而上第一个托盘的底部，且处于降落状态和插接状态，以能够承托所有的托盘。而后当载板211需要转移一托盘至定位工位112时，载板211活动至储放工位111，各插接件231活动至分离状态，供所有的托盘均承托在载板211上后，向上活动至位于自下而上第二个托盘的底部后活动至插接状态，而后继续活动至抬升状态，使得自下而上第一个托盘置放于载板211上，且可被载板211带动而活动至定位工位112。余下的托盘被插接件231向上托起，直至载板211返回至储放工位111后，重复上述操作。

其中，当如上设置有过渡工位113时，载板211会首先自定位工位112将空置托盘带回至过渡工位113处。过渡工位113处也可参考上述设置额外一升降机构230，由该升降机构230中的插接件231依次承托各个空置托盘。

基于上述任意实施例，请结合图3至图4，在一实施例中，所述定位机构220包括第三成像组件221和第三光源组件222。其中，所述第三成像组件221设于所述定位工位112的上方，且具有朝下设置的第三成像面，所述第三成像组件221用以摄取物料的二维图像；所述第三光源组件222与所述第三成像组件221连接，且邻近所述第三成像面设置。

第三成像组件221可以是相机或者摄像机，当第三成像面朝下设置时，能够对位于第三成像面下方一定区域（至少包含定位工位112所在区域）内的场景进行摄像，获取第三图像，第三图像中包含处于定位工位112处的待测物料/已测物料的图像。第三成像组件221与表面尺寸检测系统中专设的控制装置电性连接，或者与表面尺寸检测系统的外部设置的控制装置电性连接。当控制装置接收到第三图像后，能够对第三图像中的待测物料/已测物料进行比对分析，从而能够根据比对分析结果，确定待测物料/已测物料是否出现表面不良、是否以预设姿态置于定位工位112内，且可计算出各待测物料/已测物料在定位工位112处的位置信息。而后，当待测物料/已测物料无异常时，控制装置可对各待测物料/已测物料的位置信息进行分析，规划出待测物料出料顺序、或者已测物料的入库顺序，从而按序控制转移装置300工作。

第三光源组件222例如为设置在第三成像组件221的周侧的灯条。第三光源组件222可以环绕第三成像面的整周布设，也可以设置在第三成像面的局部周侧。第三光源组件222能够为第三成像组件221所需的光源，从而使得获得的第三图像更加清晰准确。

此外，所述定位机构220还可选择性地设置有定位基准件，所述定位基准件例如为图3至图4中所示的方框件，方框件沿定位工位112的周向环绕，且相对定位工位112的位置固定。一方面，方框件可作为送料机构210的定位件，使得送料机构210能够准确地将物料自储放工位111移送至定位工位112；另一方面，方框件可作为第三图像的参考基准件，从而有助于控制装置基于参考基准件确定出托盘上的物料更加准确的位置信息。

在实际应用时，表面尺寸检测系统可以启用所有的检测基座120，也可以根据实际情况启用其中的部分检测基座120，从而使得物料在各个检测基座120上的流转形式更加多样化，更能适配于不同的生产需求。而通过将各检测基座120设置在两个送料基座之间，使得每个检测基座120都能顺利承接两侧的送料基座，还有助于相邻的每两个检测基座120之间的距离相对紧凑。

针对检测基座120上设置的检测装置400，可以理解，每一检测基座120至少设有一检测装置400。各检测基座120上的检测装置400的数量、方位、类型等参数可以设置为相同，也可以设置为不同。待测物料一般为立体结构，其具有位于竖直方向上的至少两个端表面、以及位于水平方向上的至少一个侧表面。

具体而言，检测装置400中的转盘410在靠近自身周缘处设置有多个搭载位。各个搭载位沿转盘410的周向间隔布设，具体可以是等间距排布，也可以是非等间距排布。每一搭载位上可以设置一第一载具420，或者第一载具420可以选择性地设置在任意所需的搭载位上。

第一载具420的具体形式不做限制。第一载具420具有用以载运物料的第一载运面。其中根据实际需要，第一载运面可以设置为朝上、朝下或者朝向转盘410的径向外侧。如图6至图9所示，第一载运面可以具体设置为朝下。此时，第一载具420可以基于真空负压、粘胶粘性或者磁性作用等，实现将待测物料固定在第一载运面上的目的。因此，第一载具420的具体结构可根据其固定机理而做具体调整。而为了便利于检测机构的检测，第一载具420的第一载运面可以悬设在转盘410的正上方、正下方或者外置于转盘410的径向外侧。

鉴于上述，请结合图6至图7，在一实施例中，所述检测机构包括第一检测机构430，所述第一检测机构430包括第一成像组件431和第一光源组件432。其中，所述第一成像组件431设于所述第一载具420的上方，且具有朝下设置的第一成像面，所述第一成像组件431用以摄取物料的二维图像和/或三维图像；所述第一光源组件432与所述第一成像组件431连接，且邻近所述第一成像面设置。

第一成像组件431可以是相机或者摄像机，当第一成像面朝下设置时，能够对位于第一成像面下方一定区域内的场景进行摄像，获取第一图像，第一图像中包含待测物料的端表面的图像。第一成像组件431与表面尺寸检测系统中专设的控制装置电性连接，或者与表面尺寸检测系统的外部设置的控制装置电性连接。当控制装置接收到第一图像后，能够对第一图像中的待测物料的目标表面进行识别，从而能够根据识别果，确定待测物料的目标表面是否出现表面不良。此外，当第一成像组件431为二维成像器件时，第一图像为二维图像，控制装置可确定出待测物料的目标表面（也即待测物料的上端表面）的平面尺寸。当第一成像组件431为三维成像器件时，第一图像为三维图像，具有深度信息，控制装置可确定出待测物料的目标表面（也即待测物料的上端表面）和与之相对的另一目标表面（也即待测物料的下端表面）之间的距离信息。

第一光源组件432例如为设置在第一成像组件431的周侧的灯条。第一光源组件432可以环绕第一成像面的整周布设，也可以设置在第一成像面的局部周侧。第一光源组件432能够为第一成像组件431所需的光源，从而使得获得的第一图像更加清晰准确。

和/或请结合图6和图8，在一实施例中，所述检测机构包括第二检测机构440，所述第二检测机构440包括第二成像组件441和第二光源组件442，其中，所述第二成像组件441设于所述第一载具420的径向一侧，且具有朝向所述第一载具420的径向一侧设置的第二成像面，所述第二成像组件441用以摄取物料的二维图像和/或三维图像；所述第二光源组件442与所述第二成像组件441连接，且邻近所述第二成像面设置。

第二成像组件441可以是相机或者摄像机，当第二成像面朝向转盘410的径向外侧或者朝向转盘410的径向内侧设置时，能够对位于第二成像面的侧向一定区域内的场景进行摄像，获取第二图像，第二图像中包含待测物料的侧表面的图像。第二成像组件441与表面尺寸检测系统中专设的控制装置电性连接，或者与表面尺寸检测系统的外部设置的控制装置电性连接。当控制装置接收到第二图像后，能够对第二图像中的待测物料的目标表面进行识别，从而能够根据识别果，确定待测物料的目标表面是否出现表面不良。此外，当第二成像组件441为二维成像器件时，第二图像为二维图像，控制装置可确定出待测物料的目标表面（也即待测物料的一侧表面）的平面尺寸。当第二成像组件441为三维成像器件时，第二图像为三维图像，具有深度信息，控制装置可确定出待测物料的目标表面（也即待测物料的一侧表面）和与之相对的另一目标表面（也即待测物料的另一侧表面）之间的距离信息。

第二光源组件442例如为设置在第二成像组件441的周侧的灯条。第二光源组件442可以环绕第二成像面的整周布设，也可以设置在第二成像面的局部周侧。第二光源组件442能够为第二成像组件441所需的光源，从而使得获得的第二图像更加清晰准确。

检测机构可以根据实际需要单独地任意组合地设置在转盘410的任意周侧处，从而能够在第一载具420活动经过时，对待测物料进行目标表面的尺寸检测。

基于上述任意实施例，请结合图6至图9，在一实施例中，所述检测装置400还包括调整机构450，所述调整机构450设于所述转盘410的外周侧，所述调整机构450包括绕着竖直方向延伸的轴线可旋转设置的旋转台451，所述旋转台451设有载物位，在旋转过程中，所述旋转台451带动所述载物位旋转靠近和远离对应的所述第一载具420。旋转台451上的载物位在旋转靠近转盘410时，可具体活动至对应位置处的第一载具420的第一载运面的朝向侧，例如当第一载运面朝下设置时，旋转台451上的该载物位可旋转至第一载运面的正下方，以能够顺利承接经由第一载运面上所载运的待测物料。

旋转台451的设置，能够在旋转过程中，将载物位活动至自身周向上的任意位置处，从而使得待测物料的侧表面可被旋转调整。此时，检测机构可以根据实际需要设置在旋转台451的任意周侧，例如设置在旋转台451远离转盘410的一侧。当旋转台451旋转带动各个载物位上的待测物料依次经过该检测机构，或者带动各个待测物料的目标表面朝向检测机构的成像面。如此地，可使得同一第一载具420处的检测机构的设置数量和设置方位更具多样性。

此外，请结合图9，在一实施例中，所述检测装置400还包括翻转机构460，所述翻转机构460设于所述转盘410的外周侧，所述翻转机构460包括绕着水平方向延伸的轴线可旋转设置的翻转件461，所述翻转件461带动所在位置处的物料进行水平翻转。翻转件461能够在旋转过程中，将待测物料的任意端表面翻转至朝上。此时，检测机构（尤其是第一检测机构430）可以根据实际需要设置在翻转件461所处的同一第一载具420处，或者设置在翻转件461的下游的第一载具420处，便利于对待测物料的另一目标表面进行尺寸检测。

需要说明的是，在同一第一载具420处，调整机构450和翻转机构460可结合设置。此时，调整机构450可将第一载具420处的待测物料朝转盘410的径向外侧移出，便利于调整机构450顺利承接并进行所需的朝向调整。

鉴于上述任意实施例，请结合图10至图11，在一实施例中，所述转移装置300包括第二载具310、直线传送机构320和拾取机构330。其中，所述第二载具310沿所述转盘410的径向可活动设置，所述第二载具310的载运面朝上设置；所述直线传送机构320对应至少一所述转盘410设置，且位于至少一所述第一载具420的径向外侧，所述直线传送机构320沿所述转盘410的径向延伸布设，且与所述第二载具310驱动连接；所述拾取机构330设于相邻的所述送料基座和所述直线传送机构320之间、或者相邻的两个所述转盘410的所述直线传送机构320之间，所述拾取机构330的拾取面以及所述第一载具420的载运面均朝下设置。

具体而言，同一转盘410处的直线传送机构320可以设置有一个或者至少两个。其中，当直线传送机构320设置为两个时，两个直线传送机构320中的一个可用于将待测物料自第一上料设备移入转盘410的对应第一载具420处；另一个看额用于将待测物料自转盘410的对应第一载具420处向外移出。

同一直线传送机构320上的第二载具310可以设置为一个或者至少两个。其中，当第二载具310设置为至少两个时，相邻的每两个第二载具310之间沿可邻接设置，或者间隔有一定距离。第二载具310的具体形式可参考第一载具420，或者第二载具310具有朝上设置的第二载运面。第二载运面直接地开设出一定位槽，或者有多个定位件围合限定出一限位槽，限位槽可对物料进行限位安装。多个定位件中的至少一个可活动调节设置，以使得限位槽的槽内尺寸可调节，适配于不同规格的物料。此外，限位槽内还可进一步开设有吸附孔，吸附孔处形成有负压，可将物料吸附固定在限位槽内，避免在直线传送机构320的传送过程中，物料产生脱落。

直线传送机构320的具体设置不做限制，可以是例如直线模组，也可以是例如电机和旋转-直线传动组件的组合。其中，旋转-直线传动组件可以是但不限于齿轮齿条机构、丝杠螺母机构等。

拾取机构330的具体形式不做限制，可以设置为如图10所示的机械臂的形式，也可以如图11所示设置为直线模组和悬空设置的吸附件的组合。

进一步地，表面尺寸检测系统还可包括识别机构500，识别机构500设置在至少一个拾取机构330的拾取路径上。识别机构500可以根据物料上的特征信息的类型而设置为不同，例如当物料上的特征信息为二维码或者序列码时，识别机构500可以是扫码器；当物料上的特征信息为图案时，识别机构500可以是相机。识别机构500至少可以设置在第一送料装置200a和邻接的检测基座120之间。

此外，进一步地，在一实施例中，所述检测机构和/或所述定位机构220还可选择性地设置在至少一所述直线传送机构320处，且用以对活动经过的所述第二载具310上的物料进行检测。如此地，可在直线传送机构320传送第二载具310的过程中，被如上所述的检测机构进行尺寸检测、和/或被如上所述的定位机构220进行定位检测，充分利用物料的该段流转过程，且有助于进一步对物料是否不良进行论证检测。

需要说明的是，上述中可活动设置的例如转盘410、旋转台451、翻转件461等均可根据实际需要设置为人工手动操作实现，也可以通过专门配置的驱动机构或者通过联动其他活动器件的运动来实现自动活动。上述驱动机构的具体方案不做限制。当驱动机构需要直线输出时，可以具体由直线气缸构成，或者由直线模组构成，或者由电机和旋转-直线传动组件的组合构成。当驱动机构需要旋转输出时，可以具体由电机构成，或者由电机与旋转传动组件的组合构成，或者由直线气缸和直线-旋转传动组件的组合构成。其中，旋转-直线传动组件/直线-旋转传动组件可以是但不限于齿轮齿条机构、丝杠螺母机构等。旋转传动组件可以是但不限于齿轮组、涡轮蜗杆机构等。

此外，上述中的定位机构220和/或检测机构中的各个成像组件和光源组件之间的间距可设置为活动调节；和/或各个成像组件相对待测物料之间的距离可活动调节设置。活动调节的方案可以是借助螺杆和螺纹孔等结构进行手动调节，也可以是借助上述的具有直线输出的驱动机构进行自动调节。

鉴于上述，基座在操作平台的下方形成有收纳腔，收纳腔局部地与操作平台上方的空间连通，能够形成有足够的空间供电控装置、气控装置、相关配件等收纳安装。收纳腔的侧壁设有开口，为此，表面尺寸检测系统还设有与基座活动连接的门体，门体能够活动打开和关闭开口。

表面尺寸检测系统还设有罩设在操作平台上方的罩壳，罩壳与基座可拆卸连接。当罩壳罩设在操作平台上方时，能够与基座共同围合限定出一个相对封闭的，且足够安全的操作空间，有助于减少该操作空间与外界环境相互污染，从而更有助于提高物料在表面尺寸检测系统上的检测品质。

此外，在一实施例中，各所述送料基座及各所述检测基座120分别独立设置；其中，相邻的所述送料基座和所述检测基座120之间、和/或相邻的两个所述检测基座120之间可拆卸连接。此时，送料基座和/或检测基座120可形成有独立的操作平台、收纳腔和罩壳。通过将送料基座和检测基座120进行分体设置，且预置有便于进行可拆卸连接的连接结构，便利于用户根据实际需要对各个送料基座和各个检测基座120进行任意组合，从而使得表面尺寸检测系统的结构形式更加丰富多样，且更具通用性。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种表面尺寸检测系统，其特征在于，包括：

基座，包括沿第一水平方向顺次布设的两个送料基座和至少两个检测基座，两个所述送料基座分设在各所述检测基座的相对两侧，其中，所述送料基座设有沿第二水平方向顺次设置的储放工位和定位工位；

两个送料装置，一一对应设置在两个所述送料基座处，各所述送料装置包括送料机构和定位机构，所述送料机构连接所述储放工位和所述定位工位，以将托盘往返运送在所述储放工位和所述定位工位之间，所述定位机构设于所述定位工位，且用以对托盘上的物料进行定位检测；

多个转移装置，设于相邻的所述送料基座和所述检测基座之间、或者相邻的两个所述检测基座之间，且用以对物料进行转移；以及，

至少两个检测装置，一一对应设置在各所述检测基座处，各所述检测装置包括绕着竖直方向延伸的轴线可旋转设置的转盘、沿着所述转盘的周向依次间隔布设在所述转盘的周缘的多个第一载具、以及间隔设于所述转盘的外周侧的至少两个检测机构，所述第一载具用以拾取对应的所述转移装置所转移的物料，各所述检测机构用以分别对所在位置处的物料的目标表面的尺寸进行检测。

2.如权利要求1所述的表面尺寸检测系统，其特征在于，所述检测装置还包括调整机构，所述调整机构设于所述转盘的外周侧，所述调整机构包括绕着竖直方向延伸的轴线可旋转设置的旋转台，所述旋转台设有载物位，在旋转过程中，所述旋转台带动所述载物位旋转靠近和远离对应的所述第一载具。

3.如权利要求1或者2所述的表面尺寸检测系统，其特征在于，所述检测装置还包括翻转机构，所述翻转机构设于所述转盘的外周侧，所述翻转机构包括绕着水平方向延伸的轴线可旋转设置的翻转件，所述翻转件带动所在位置处的物料进行水平翻转。

4.如权利要求1所述的表面尺寸检测系统，其特征在于，所述检测机构包括第一检测机构，所述第一检测机构包括：

第一成像组件，设于所述第一载具的上方，且具有朝下设置的第一成像面，所述第一成像组件用以摄取物料的二维图像和/或三维图像；以及，

第一光源组件，与所述第一成像组件连接，且邻近所述第一成像面设置。

5.如权利要求1所述的表面尺寸检测系统，其特征在于，所述检测机构包括第二检测机构，所述第二检测机构包括：

第二成像组件，设于所述第一载具的径向一侧，且具有朝向所述第一载具的径向一侧设置的第二成像面，所述第二成像组件用以摄取物料的二维图像和/或三维图像；以及，

第二光源组件，与所述第二成像组件连接，且邻近所述第二成像面设置。

6.如权利要求1所述的表面尺寸检测系统，其特征在于，所述转移装置包括：

第二载具，沿所述转盘的径向可活动设置，所述第二载具的载运面朝上设置；

直线传送机构，对应至少一所述转盘设置，且位于至少一所述第一载具的径向外侧，所述直线传送机构沿所述转盘的径向延伸布设，且与所述第二载具驱动连接；以及，

拾取机构，设于相邻的所述送料基座和所述直线传送机构之间、或者相邻的两个所述转盘的所述直线传送机构之间，所述拾取机构的拾取面以及所述第一载具的载运面均朝下设置。

7.如权利要求6所述的表面尺寸检测系统，其特征在于，所述检测机构和/或所述定位机构还可选择性地设置在至少一所述直线传送机构处，且用以对活动经过的所述第二载具上的物料进行检测。

8.如权利要求1所述的表面尺寸检测系统，其特征在于，所述送料装置还包括升降机构，所述升降机构包括沿竖直方向可活动设置的两个插接件，两个所述插接件沿所述第一水平方向间隔排布在所述储放工位处，且具有抬升状态和降落状态；

所述送料机构包括沿所述第二水平方向可活动设置的载板，所述载板设于两个所述插接件的间隔处，在各所述插接件处于所述降落状态时，所述载板承载位于最底部的托盘；以及在各所述插接件带动余下的托盘活动至所述降落状态时，所述载板自所述储放工位处活动移出。

9.如权利要求1所述的表面尺寸检测系统，其特征在于，所述定位机构包括：

第三成像组件，设于所述定位工位的上方，且具有朝下设置的第三成像面，所述第三成像组件用以摄取物料的二维图像；以及，

第三光源组件，与所述第三成像组件连接，且邻近所述第三成像面设置。

10.如权利要求1所述的表面尺寸检测系统，其特征在于，各所述送料基座及各所述检测基座分别独立设置；

其中，相邻的所述送料基座和所述检测基座之间、和/或相邻的两个所述检测基座之间可拆卸连接。