CN117433453A - 一种高精度锥柄表面的检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及莫氏锥度检测技术领域，特别是一种高精度锥柄表面的检测方法，S1、将检查装置放置在光源盒上；S2、调节支承销和调整板的位置，并锁定；S3、将被测件放置于检测装置上，并使得被测件的大径位置处与刻度线对齐，开启光源盒亮灯开关，目测光源盒所发出的光线经透光孔照射在被测件上，被测件分别与固定板和调整板所形成的光缝，并记录漏光长度；S4、转动被测件，继续观察光缝，并记录漏光长度，重复3～5次；S5、判断是否合格：若漏光长度均小于被测件锥柄长度的1/3，则判定被测件锥度合格；若漏光长度均大于等于被测件锥柄长度的1/3，则判定被测件锥度不合格。本发明通过锥柄与检具之间的光缝来判定其锥度是否合格，极大的降低了人为误差。

Description

一种高精度锥柄表面的检测方法
技术领域
本发明涉及莫氏锥度检测技术领域，特别是一种高精度锥柄表面的检测方法。
背景技术
中国专利申请201921771851 .0公开了一种用于莫氏锥柄刀具检测的工装，工作时，本套工装内孔为0至6号莫氏锥度孔共七种，外圆为直圆，外圆与锥孔同轴。检测刀具时将刀具锥柄装入对应的锥孔套内，将套外圆架在专用的滚动架上，检测刀具刃部与工装外圆的同轴度即可。该工装能够检测刀刃与锥柄的同轴度，其前提是默认锥柄的锥度为合格，但如果锥柄的锥度并不合格，则无法确保以此为基础的同轴度检测结果的准确性。
锥度配合被机械加工中广泛运用，但实际锥度接触面检测验证缺少有效方法。现常用的锥度检测方法为接触检查法，接触检查法采用在外锥轴外圆锥面涂红丹粉线，再将其与内套锥相互套接，然后相互旋转120度，最后将两者分开，查看内套锥内圆锥面红丹粉被擦印迹，从而进行判定。这种方式缺陷在于：红丹涂抹的厚度及操作者检测手法会造成客观存在检测结果较大的差异。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的缺点，提供一种高精度锥柄表面的检测装置及方法，通过锥柄分别与固定板和调整板所形成的光缝，可直观地判定其锥度是否合格，极大地降低了人为误差。
本发明的目的通过以下技术方案来实现：
一种高精度锥柄表面的检测方法，使用高精度锥柄表面的检测装置进行检测，所述高精度锥柄表面的检测装置包括底座、固定板、调整板和支承销，所述底座包括固定板安装座、调整板安装座和连接板，所述固定板安装座与所述调整板安装座对称设置，所述固定板安装座与所述调整板安装座通过连接板固定连接，所述连接板沿其长度方向安装有两根支承销，所述连接板上开设有透光孔；所述固定板固定安装于固定板安装座的顶部；所述调整板可调节地安装于调整板安装座的顶部；所述固定板的侧壁为第一边沿，所述调整板的侧壁为第二边沿，所述第一边沿上与所述第二边沿上分别设置有对应的刻度线。
所述检测方法包括以下步骤：
S1、将检查装置放置在光源盒上；
S2、调节支承销和调整板的位置，并锁定；
S3、将被测件放置于检测装置上，并使得被测件的大径位置处与刻度线对齐，开启光源盒亮灯开关，目测光源盒所发出的光线经透光孔照射在被测件上，被测件分别与固定板和调整板所形成的光缝，并记录漏光长度；
S4、转动被测件，继续观察光缝，并记录漏光长度，重复3～5次；
S5、判断是否合格：若漏光长度均小于被测件锥柄长度的1/3，则判定被测件锥度合格；若漏光长度均大于等于被测件锥柄长度的1/3，则判定被测件锥度不合格。
进一步的，步骤S2中，用不带扁尾的莫氏锥度量规进行调节。
进一步的，调节的具体步骤包括：
S21、根据莫氏锥度量规的规格，调节支承销的高度，使得莫氏锥度量规的中心线呈水平状态；
S22、将莫氏锥度量规置于支承销上，通过转动调节螺钉，调节调整板的位置，使得调整板与固定板的刻度线之间的距离D与莫氏锥度量规的外锥大径基本尺寸相等，同时第一边沿和第二边沿紧贴莫氏锥度量规的外壁；
S23、开启光源盒的亮灯开关，光源盒所发出的光线经透光孔照射在莫氏锥度量规上，观察莫氏锥度量规分别与固定板和调整板所形成的光缝，若有光缝，则重复S21～S23，直至无光缝。
进一步的，所述固定板安装座的内侧设置有便于光线通过的第一斜面，所述调整板安装座的内侧设置有便于光线通过的第二斜面。
进一步的，所述调整板安装座的上方设置有调节座，所述调节座上通过螺孔配合安装有两颗调节螺钉，两颗所述调节螺钉的前端分别抵接在调整板的同一侧壁上。
进一步的，所述调整板安装座上方一侧还固定有定位销，所述定位销的侧壁抵接在调整板的另一侧壁上。
进一步的，两根所述支承销位于连接板在宽度方向的中垂面上，且所述透光孔为两个，位于支承销的两侧。
进一步的，所述固定板通过螺钉固定在固定板安装座上；所述调整板上开设有光孔，调整板通过锁紧螺钉穿过光孔并锁紧在调整板安装座上，所述光孔直径大于锁紧螺钉的直径。
进一步的，所述调节座与调整板安装座为一体成型结构。
本发明具有以下优点：
1、本方法操作简单，通过锥柄分别与固定板和调整板所形成的光缝，可直观地判定其锥度是否合格，极大地降低了人为误差。
2、检测效率高，使用熟练后，可在5秒内判定被检物品锥度是否合格。
3、所需装置结构简单，制作成本低。
附图说明
图1为本发明的俯视结构示意图；
图2为图1中A处发的结构示意图；
图3为图1的仰视图；
图4为图1的左视图；
图5为本发明的底座的俯视结构示意图；
图6为图5中沿B-B的剖视结构示意图；
图中：1-底座，1a-固定板安装座，1a1-第一斜面，1b-调整板安装座，1b1-第二斜面，1b2-调节座，1c-连接板，1c1-透光孔，2-固定板，2a-第一边沿，3-调整板，3a-第二边沿，4-支承销，5-调节螺钉，6-定位销，7-被测件。
具体实施方式
下面结合附图对本发明做进一步的描述，但本发明的保护范围不局限于以下所述。
如图1至图6所示，一种高精度锥柄表面的检测方法，使用高精度锥柄表面的检测装置进行检测，高精度锥柄表面的检测装置包括底座1、固定板2、调整板3和支承销4，所述底座1包括固定板安装座1a、调整板安装座1b和连接板1c，底座1采用刚性较好的不锈钢或铸铁制成，其中，固定板安装座1a、调整板安装座1b和连接板1c可以为一体成型结构，通过数控加工中心铣削制成，所述固定板安装座1a与所述调整板安装座1b对称设置，所述固定板安装座1a与所述调整板安装座1b通过连接板1c固定连接，所述连接板1c沿其长度方向安装有两根支承销4，所述连接板1c上开设有透光孔1c1；所述固定板2固定安装于固定板安装座1a的顶部；所述调整板3可调节地安装于调整板安装座1b的顶部；所述固定板2的侧壁为第一边沿2a，所述调整板3的侧壁为第二边沿3a，所述第一边沿2a上与所述第二边沿3a上分别设置有对应的刻度线，两根刻度线之间的距离为D（如图2所示），与锥柄的大径相对应。需要知道的是，调整板3只能进行微调，一个检测装置仅对应一个莫氏锥度。
所述检测方法包括以下步骤：
S1、将检查装置放置在光源盒上；
S2、调节支承销4和调整板3的位置，并锁定；
S3、将被测件7放置于检测装置上，并使得被测件7的大径位置处与刻度线对齐，开启光源盒亮灯开关，目测光源盒所发出的光线经透光孔1c1照射在被测件7上，被测件7分别与固定板2和调整板3所形成的光缝，并记录漏光长度；
S4、转动被测件7，继续观察光缝，并记录漏光长度，重复3～5次；
S5、判断是否合格：若漏光长度均小于被测件7锥柄长度的1/3，则判定被测件7锥度合格；若漏光长度均大于等于被测件7锥柄长度的1/3，则判定被测件7锥度不合格。
进一步的，步骤S2中，用不带扁尾的莫氏锥度量规进行调节。
在本实施例中，调节支承销4和调整板3的位置具体步骤包括：
S21、根据莫氏锥度量规的规格，调节支承销4的高度，使得莫氏锥度量规的中心线呈水平状态，两颗支承销4中，一根支承销4的高度（支承销4上端距离连接板1c上表面的高度差）为H1，另一根支承销4的高度为H；由于需要确保被测件7（锥柄）的轴线呈水平状态，因此，H1大于H。
S22、将莫氏锥度量规置于支承销4上，通过转动调节螺钉5，调节调整板3的位置，使得调整板3与固定板2的刻度线之间的距离D与莫氏锥度量规的外锥大径基本尺寸相等，同时第一边沿2a和第二边沿3a紧贴莫氏锥度量规的外壁；
S23、开启光源盒的亮灯开关，光源盒所发出的光线经透光孔1c1照射在莫氏锥度量规上，观察莫氏锥度量规分别与固定板2和调整板3所形成的光缝，若有光缝，则重复S21～S23，直至无光缝。
进一步的，如图6所示，所述固定板安装座1a的内侧设置有便于光线通过的第一斜面1a1，所述调整板安装座1b的内侧设置有便于光线通过的第二斜面1b1。当检测装置置于光源盒上，开启亮灯开关，光线从透光孔1c1穿过，顺沿第一斜面1a1和第二斜面1b1，照射在被测件7与固定板2的下侧、被测件7与调整板3的下侧，若被测件7与固定板2之间或被测件7与调整板3之间有缝隙，光线就透过该缝隙，能够被检测人员从上方观察到。
进一步的，如图1、图3至图6所示，所述调整板安装座1b的上方设置有调节座1b2，所述调节座1b2上通过螺孔配合安装有两颗调节螺钉5，两颗所述调节螺钉5的前端分别抵接在调整板3的同一侧壁上。通过控制两颗调节螺钉5伸出长度，可实现第一边沿2a与第二边沿3a之间的距离调节和角度调节。
进一步的，如图1和图4所示，所述调整板安装座1b上方一侧还固定有定位销6，所述定位销6的侧壁抵接在调整板3的另一侧壁上。调整板3始终抵接在定位销6上，防止调节调整板3时，调整板3在长度方向上发生位移。
进一步的，如图1和图4所示，两根所述支承销4位于连接板1c在宽度方向的中垂面上，且所述透光孔1c1为两个，位于支承销4的两侧，确保光线能够分别照射在被测件7与固定板2的下侧、被测件7与调整板3的下侧。
进一步的，如图1所示，所述固定板2通过螺钉固定在固定板安装座1a上；所述调整板3上开设有光孔，调整板3通过锁紧螺钉穿过光孔并锁紧在调整板安装座1b上，所述光孔直径大于锁紧螺钉的直径。调整板3可进行微调，以确保固定板2和调整板3之间的相对位置。
进一步的，所述调节座1b2与调整板安装座1b为一体成型结构，一方面便于一次加工成型，另一方面可提高底座1的整体结构稳定性。
需要指出的是，对于不同莫氏锥度的锥柄表面检测需要用不同型号的检测装置，对应的D、H1、H也不同，具体如下表所示：
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (9)

1.一种高精度锥柄表面的检测方法，使用高精度锥柄表面的检测装置进行检测，其特征在于：
所述高精度锥柄表面的检测装置包括底座（1）、固定板（2）、调整板（3）和支承销（4），
所述底座（1）包括固定板安装座（1a）、调整板安装座（1b）和连接板（1c），所述固定板安装座（1a）与所述调整板安装座（1b）对称设置，所述固定板安装座（1a）与所述调整板安装座（1b）通过连接板（1c）固定连接，所述连接板（1c）沿其长度方向安装有两根支承销（4），所述连接板（1c）上开设有透光孔（1c1）；
所述固定板（2）固定安装于固定板安装座（1a）的顶部；
所述调整板（3）可调节地安装于调整板安装座（1b）的顶部；
所述固定板（2）的侧壁为第一边沿（2a），所述调整板（3）的侧壁为第二边沿（3a），所述第一边沿（2a）上与所述第二边沿（3a）上分别设置有对应的刻度线；
所述检测方法包括以下步骤：
S1、将检查装置放置在光源盒上；
S2、调节支承销（4）和调整板（3）的位置，并锁定；
S3、将被测件（7）放置于检测装置上，并使得被测件（7）的大径位置处与刻度线对齐，开启光源盒亮灯开关，目测光源盒所发出的光线经透光孔（1c1）照射在被测件（7）上，被测件（7）分别与固定板（2）和调整板（3）所形成的光缝，并记录漏光长度；
S4、转动被测件（7），继续观察光缝，并记录漏光长度，重复3～5次；
S5、判断是否合格：若漏光长度均小于被测件（7）锥柄长度的1/3，则判定被测件（7）锥度合格；若漏光长度均大于等于被测件（7）锥柄长度的1/3，则判定被测件（7）锥度不合格。
2.根据权利要求1所述的一种高精度锥柄表面的检测方法，其特征在于：步骤S2中，用不带扁尾的莫氏锥度量规进行调节。
3.根据权利要求2所述的一种高精度锥柄表面的检测方法，其特征在于：调节的具体步骤包括：
S21、根据莫氏锥度量规的规格，调节支承销（4）的高度，使得莫氏锥度量规的中心线呈水平状态；
S22、将莫氏锥度量规置于支承销（4）上，通过转动调节螺钉（5），调节调整板（3）的位置，使得调整板（3）与固定板（2）的刻度线之间的距离D与莫氏锥度量规的外锥大径基本尺寸相等，同时第一边沿（2a）和第二边沿（3a）紧贴莫氏锥度量规的外壁；
S23、开启光源盒的亮灯开关，光源盒所发出的光线经透光孔（1c1）照射在莫氏锥度量规上，观察莫氏锥度量规分别与固定板（2）和调整板（3）所形成的光缝，若有光缝，则重复S21～S23，直至无光缝。
4.根据权利要求1所述的一种高精度锥柄表面的检测方法，其特征在于：所述固定板安装座（1a）的内侧设置有便于光线通过的第一斜面（1a1），所述调整板安装座（1b）的内侧设置有便于光线通过的第二斜面（1b1）。
5.根据权利要求1所述的一种高精度锥柄表面的检测方法，其特征在于：所述调整板安装座（1b）的上方设置有调节座（1b2），所述调节座（1b2）上通过螺孔配合安装有两颗调节螺钉（5），两颗所述调节螺钉（5）的前端分别抵接在调整板（3）的同一侧壁上。
6.根据权利要求5所述的一种高精度锥柄表面的检测方法，其特征在于：所述调整板安装座（1b）上方一侧还固定有定位销（6），所述定位销（6）的侧壁抵接在调整板（3）的另一侧壁上。
7.根据权利要求1所述的一种高精度锥柄表面的检测方法，其特征在于：两根所述支承销（4）位于连接板（1c）在宽度方向的中垂面上，且所述透光孔（1c1）为两个，位于支承销（4）的两侧。
8.根据权利要求1所述的一种高精度锥柄表面的检测方法，其特征在于：所述固定板（2）通过螺钉固定在固定板安装座（1a）上；所述调整板（3）上开设有光孔，调整板（3）通过锁紧螺钉穿过光孔并锁紧在调整板安装座（1b）上，所述光孔直径大于锁紧螺钉的直径。
9.根据权利要求5所述的一种高精度锥柄表面的检测方法，其特征在于：所述调节座（1b2）与调整板安装座（1b）为一体成型结构。
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