CN117116171A - 显示基板及显示装置 - Google Patents

Abstract

本公开提供一种显示基板及显示装置。所述显示基板包括：多条数据线，沿第一方向延伸，包括多条第一子数据线和多条第二子数据线，所述第一子数据线和所述第二子数据线之间包括断开点；第一检测电路，与所述多条第一子数据线远离所述断开点的一端连接，用于向所述多条第一子数据线提供第一检测信号；第二检测电路，与所述多条第二子数据线远离所述断开点的一端连接，用于向所述多条第二子数据线提供第二检测信号。本公开通过第一检测电路和第二检测电路分别对多条第一子数据线和多条第二子数据线进行检测，可以快速检测出显示基板中的短路不良，从而可以减少后端模组资材如纸膜、驱动芯片和柔性电路板的浪费，减少制作成本，提高产能。

Description

显示基板及显示装置

技术领域

本公开涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示基板及显示装置。

背景技术

近年来，电子纸显示器(EPD)以其低功耗，护眼等特性在商超价签和阅读器市场被广泛的应用。

电子纸显示器中的基板在出货时，通常进行阵列检测(array test，简称AT)，并以AT检测结果作为出货的基准。当检测结果不符合要求时，会对基板进行厂内拦截。当检测结果符合要求时，会将基板出货到客户端，进行模组制作形成最终的电泳显示器。因此AT的检测准确性关系着整个成品的成本，一旦AT检测错误流入后端模组，则会造成后端模组资材(如纸膜，驱动芯片和柔性电路板)的浪费，这样不仅影响产能，还会增加制作成本。

发明内容

有鉴于此，本公开的目的在于提出一种显示基板及显示装置。

基于上述目的，本公开的第一方面提供了一种显示基板，包括：

多条数据线，沿第一方向延伸，包括多条第一子数据线和多条第二子数据线，所述第一子数据线和所述第二子数据线之间包括断开点；

第一检测电路，与所述多条第一子数据线远离所述断开点的一端连接，用于向所述多条第一子数据线提供第一检测信号；

第二检测电路，与所述多条第二子数据线远离所述断开点的一端连接，用于向所述多条第二子数据线提供第二检测信号。

在一些实施例中，所述第一检测电路包括：

第一检测线，设置于所述多条数据线的一侧且沿所述第一方向延伸，用于接收所述第一检测信号；

第一数据引线，至少部分沿第二方向延伸，一端与所述第一检测线连接，另一端与所述第一子数据线连接，用于将所述第一检测信号提供给所述第一子数据线；

所述第二检测电路包括：

第二检测线，设置于所述多条数据线的一侧且沿所述第一方向延伸，用于接收所述第二检测信号；

第二数据引线，至少部分沿第二方向延伸，一端与所述第二检测线连接，另一端与所述第二子数据线连接，用于将所述第二检测信号提供给所述第二子数据线。

在一些实施例中，所述第一检测电路和所述第二检测电路同层设置，所述第二检测线设置于所述第一检测线和所述多条数据线之间；

所述第一数据引线在衬底基板的正投影与所述第二检测线在所述衬底基板的正投影存在重叠区域，且在所述重叠区域所述第一数据引线通过第一导电层跳孔搭接。

在一些实施例中，所述第二检测电路设置于所述第一检测电路远离衬底基板的一侧，所述第一检测线在所述衬底基板的正投影与所述第二检测线在所述衬底基板的正投影至少部分重叠；

所述第一检测线与所述第一数据引线同层设置，所述第二检测线与所述第二数据引线同层设置。

在一些实施例中，所述第一检测线、所述第二检测线中的至少一个包括镂空区域，至少部分所述第一检测线的非镂空区域在所述衬底基板的正投影与至少部分所述第二检测线的非镂空区域在所述衬底基板的正投影不重叠。

在一些实施例中，所述第二检测线设置于所述第一检测线和所述多条数据线之间；所述第二检测电路还包括：

第三检测线，设置于所述第二检测线远离衬底基板的一侧，所述第三检测线与所述第二检测线连接，所述第三检测线在所述衬底基板的正投影与所述第二检测线在所述衬底基板的正投影至少部分重叠。

在一些实施例中，所述第一检测线、所述第二检测线和所述第三检测线设置于不同层。

在一些实施例中，所述第二检测电路还包括：

第三数据引线，设置于所述第二数据引线远离所述衬底基板的一侧，与所述第三检测线连接且与所述第三检测线同层设置，所述第三数据引线在所述衬底基板的正投影与所述第二数据引线在所述衬底基板的正投影至少部分重叠。

在一些实施例中，所述第一检测电路还包括：

第四检测线，设置于所述第一检测线远离所述衬底基板的一侧，所述第四检测线与所述第一检测线连接，所述第四检测线在所述衬底基板的正投影与所述第一检测线在所述衬底基板的正投影至少部分重叠。

在一些实施例中，所述第四检测线、所述第二检测线、所述第二数据引线同层设置。

在一些实施例中，所述第一检测线、所述第一数据引线、所述第二检测线同层设置，所述第四检测线、所述第三检测线、所述第二数据引线同层设置；

所述第二检测线、所述第三检测线在与所述第一数据引线之间的交叉处断开，所述第二检测线、所述第三检测线在所述交叉处通过第二导电层跳孔搭接。

在一些实施例中，所述第一检测电路还包括：

第五检测线，设置于所述第一检测线与所述衬底基板之间，所述第五检测线与所述第一检测线连接，所述第五检测线在所述衬底基板的正投影与所述第一检测线在所述衬底基板的正投影至少部分重叠。

在一些实施例中，所述第五检测线、所述第二检测线、所述第二数据引线同层设置，所述第一检测线、所述第一数据引线、所述第三检测线同层设置；

所述第三检测线在与所述第一数据引线的交叉处断开，且所述第三检测线在所述交叉处通过第三导电层跳孔搭接。

在一些实施例中，所述第一检测电路、所述第二检测电路设置于所述显示基板的栅极层、源漏极层、透明导电层中的至少一层。

本公开的第二方面提供了一种显示装置，包括如第一方面所述的显示基板。

从上面所述可以看出，本公开提供的显示基板及显示装置，通过第一检测电路和第二检测电路分别对多条第一子数据线和多条第二子数据线进行检测，通过第一检测电路和第二检测电路提供不同时间的检测信号或者不同大小的信号检测，可以快速检测出显示基板中的短路不良，从而可以减少后端模组资材如纸膜、驱动芯片和柔性电路板的浪费，减少制作成本，提高产能。

附图说明

为了更清楚地说明本公开或相关技术中的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1A示出了相关技术中一个示例性结构的示意图。

图1B示出了相关技术中一个示例性结构的示意图。

图2示出了根据本公开实施例的一个示例性结构的示意图。

图3示出了根据本公开实施例的一个示例性结构的示意图。

图4示出了根据本公开实施例的一个示例性结构的示意图。

图5示出了根据本公开实施例的一个示例性结构的示意图。

图6示出了根据本公开实施例的一个示例性结构的示意图。

图7示出了根据本公开实施例的一个示例性结构的示意图。

图8示出了根据本公开实施例的一个示例性结构的示意图。

图9示出了根据本公开实施例的一个示例性结构的示意图。

图10示出了根据本公开实施例的一个示例性结构的示意图。

图11示出了根据本公开实施例的一个示例性结构的示意图。

图12示出了根据本公开实施例的一个示例性结构的示意图。

图13示出了根据本公开实施例的一个示例性结构的示意图。

具体实施方式

为使本公开的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本公开进一步详细说明。

需要说明的是，除非另外定义，本公开实施例使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开实施例中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

电子纸显示器(Electrophoretic Displays，EPD)是一种新型的显示屏技术，电子纸显示器在显示时其自身不发光，维持显示效果无需用电并且轻松用年为单位的续航，即刷新一次，可以使用超过一年，大大节省了能源，具有低功耗、低碳、可循环、数字化的特点，在大型价签、公交站牌等领域得到广泛应用。

目前，电子纸显示器通常采用多个芯片(integrated circuit，IC)的集体供电，避免单个芯片由于功能多、负载大等因素缩减寿命。凭借多个芯片的集体供电，电子纸显示器的基板可以进行分屏设计，并通过一组芯片控制一半的栅线(Gate)和数据线(Data)。

如图1A所示，电子纸显示器包括上半屏和下半屏。其中，栅极(Gate)线为平行设计，出现Short不良的几率极小。Data线在Y方向中间位置(即上半屏和下半屏的分屏位置)断开(Open)设计，为了避免Open位置不影响显示，往往Open点很小，这就极大增加了短路(Short)类不良的风险。

电子纸显示器在显示彩色画面时，上下分屏数据线上信号幅值，正负性不同。若存在短路类不良，上下分屏数据线信号相互影响，产生贯穿性线不良，无法使用。

如图1A所示，相关技术中在进行阵列检测时，检测电路100的走线为单层设计，并通过一个检测信号同时给上半屏和下半屏两个分屏提供检测信号，上半屏和下半屏分别基于各自的检测信号点亮，以进行检测。无论Open点是否存在短路(Short)类不良时，上半屏和下半屏在检测信号的作用下均会点亮，因此无法检测出短路(Short)类不良。若检测错误流入后端模组，则会造成后端模组资材如纸膜、驱动芯片和柔性电路板的浪费，这样不仅影响产能，还会增加制作成本。

有鉴于此，本公开实施例提供一种显示基板，以解决上述问题。

其中，显示基板可包括衬底基板，衬底基板包括显示区和检测区，检测区位于显示区的边缘。

如图1B所示，显示区设置有沿第一方向延伸的多条数据线以及沿第二方向延伸的多条栅极线，且多条数据线和多条栅极线在显示区交错围绕形成多个子像素单元。在一些实施例中，第一方向与第二方向垂直。

每条栅极线与沿第二方向设置的一行子像素单元分别连接，用于向该行子像素单元输入栅极驱动信号。每条数据线与沿第一方向设置的一列子像素单元分别连接，用于向该列子像素单元输入数据信号。通过栅极线提供的栅极驱动信号以及数据线提供的数据信号控制子像素单元，以实现显示基板的发光显示。

其中，多条数据线包括多条第一子数据线和多条第二子数据线，且所述第一子数据线和所述第二子数据线之间包括断开(open)点。即通过对同一显示基板的多条数据线进行断开设计，从而获得多条第一子数据线和多条第二子数据线，通过第一芯片(IC)为多条第一子数据线提供数据信号，通过第二芯片为多条第二子数据线提供数据信号，实现对该显示基板的分屏控制。其中，多条第一子数据线设置于显示基板的第一分屏，多条第二子数据线设置于显示基板的第二分屏，第一分屏和第二分屏的分屏位置即为第一子数据线和第二子数据线之间的断开点。

在一些实施例中，第一芯片、第二芯片可以包括一个芯片，也可以包括多个芯片，本实施例对此不做限制。

检测区设置有阵列检测(Array Test，简称AT)电路，用于实现对显示基板的阵列检测。

阵列检测电路包括第一检测电路和第二检测电路。其中，第一检测电路与所述多条第一子数据线远离所述断开点的一端连接，用于向所述多条第一子数据线提供第一检测信号；第二检测电路与所述多条第二子数据线远离所述断开点的一端连接，用于向所述多条第二子数据线提供第二检测信号。

在检测时第一检测电路提供第一检测信号的时间与第二检测电路提供第二检测信号的时间不同。当第一子数据线和第二子数据线之间的断开点存在短路不良时，若此时通过第一检测电路对第一子数据线进行检测，则短路不良处的第二子数据线也会在第一检测信号的作用下通电，导致与第二子数据线连接的子像素单元被点亮，从而检测出该处的短路不良；相应的，当通过第二检测电路对第二子数据线进行检测，若第一子数据线和第二子数据线之间的断开点存在短路不良，则短路不良处的第一子数据线也会在第二检测信号的作用下通电，导致与第一子数据线连接的子像素单元被点亮，从而检测出该处的短路不良。

或者，在检测时第一检测电路提供第一检测信号与第二检测电路提供第二检测信号的幅值电压不同，这样当第一子数据线和第二子数据线之间的断开点存在短路不良时，施加至短路不良处的数据线上的电压不同，相应的子像素单元的亮度与其他子像素的亮度不同，即可检测出该处的短路不良。

这样，即可迅速找到显示基板中的短路不良的位置，并通过熔断等方式进行维修，从而可以减少后端模组资材如纸膜、驱动芯片和柔性电路板的浪费，减少制作成本，提高产能。

本实施例中，通过第一检测电路和第二检测电路分别对多条第一子数据线和多条第二子数据线进行检测，通过第一检测电路和第二检测电路提供不同时间的检测信号或者不同大小的信号检测，可以快速检测出显示基板中的短路不良，从而可以减少后端模组资材如纸膜、驱动芯片和柔性电路板的浪费，减少制作成本，提高产能。

在一些实施例中，所述第一检测电路、所述第二检测电路设置于所述显示基板的栅极层(Gate)、源漏极层(SD)、透明导电层中的至少一层。其中，透明导电层可以是氧化铟锡导电层(ITO)。而栅极层、源漏极层、透明导电层是显示基板中已有膜层，将第一检测电路、第二检测电路设置于显示基板中已有的导电膜层中，无需增加显示基板制作时的阵列掩膜(Array Mask)数量，不会提高显示基板制作时的工艺复杂性。

在一些实施例中，如图2所示，所述第一检测电路包括第一检测线21和第一数据引线22。其中，第一检测线21设置于所述多条数据线的一侧且沿所述第一方向延伸，用于接收所述第一检测信号；第一数据引线22的至少部分沿第二方向延伸，第一数据引线22的一端与所述第一检测线21连接，第一数据引线22的另一端与设置于第一分屏中的所述第一子数据线连接，通过第一数据引线22将所述第一检测信号提供给所述第一子数据线。

在一些实施例中，第一数据引线22还包括沿第一方向延伸的部分，该部分第一数据引线22设置于第一数据引线22远离第一检测线21的一端，其用于与第一子数据线连接，通过该部分第一数据引线22可以使得第一数据引线22方便的与第一子数据线连接。

本实施例中，通过第一检测电路21接收第一检测信号，通过第一数据引线22将第一检测电路21接收的第一检测信号传递给第一子数据线，以实现对第一分屏中的第一子数据线的阵列检测。

在一些实施例中，如图2所示，所述第二检测电路包括第二检测线31和第二数据引线32。其中，第二检测线31设置于所述多条数据线的一侧且沿所述第一方向延伸，第二检测线31用于接收所述第二检测信号；第二数据引线32的至少部分沿第二方向延伸，第二数据引线32的一端与所述第二检测线31连接，第二数据引线32的另一端与所述第二子数据线连接，第二数据引线32用于将所述第二检测信号提供给所述第二子数据线。

在一些实施例中，第二数据引线32还包括沿第一方向延伸的部分，该部分第二数据引线32设置于第二数据引线32远离第二检测线31的一端，其用于与第二子数据线连接，通过该部分第二数据引线32可以使得第二数据引线方便的与第二子数据线连接。

本实施例中，通过第二检测电路接收第二检测信号，通过第二数据引线将第二检测电路接收的第二检测信号传递给第二子数据线，以实现对第二分屏中的第二子数据线的阵列检测。

其中，第一数据引线22和第二数据引线32分别设置于显示基板的两端，其中，第一数据引线22设置于第一分屏所在的一端，第二数据引线32设置于第二分屏所在的一端，从而能够方便的将检测信号输入数据线以进行检测。

在一些实施例中，如图2所示，所述第一检测电路和所述第二检测电路同层设置，即第一检测线21、第一数据引线22、第二检测线31和第二数据引线32均同层设置，且所述第二检测线31设置于所述第一检测线31和所述多条数据线之间。

由于第一检测线21、第一数据引线22、第二检测线31和第二数据引线32均同层设置，因此第一数据引线22在设置时会与第二检测线31重叠，即所述第一数据引线22在衬底基板的正投影与所述第二检测线31在所述衬底基板的正投影存在重叠区域，因此在所述重叠区域设置与第一检测线21、第一数据引线22、第二检测线31和第二数据引线32均不同层的第一导电层23，使得所述第一数据引线22通过第一导电层23跳孔搭接，从而避免第一数据引线22与第二检测线31接触。

其中，第一检测线21、第一数据引线22、第二检测线31和第二数据引线32可设置于显示基板的栅极层或源漏极层，第一导电层23可以设置于显示基板的栅极层、源漏极层、透明导电层中的一层，并使得第一导电层23与第一检测电路、第二检测电路不同层即可。

即本实施例中，当第一检测线21、第一数据引线22、第二检测线31和第二数据引线32基于栅极层形成时，第一导电层23可基于源漏极层或者透明导电层形成；当第一检测线21、第一数据引线22、第二检测线31和第二数据引线32基于源漏极层形成时，第一导电层23可基于栅极层或者透明导电层形成。在一些情况下，第一检测线21、第一数据引线22、第二检测线31和第二数据引线32也可形成于透明导电层上，第一导电层23形成于栅极层或者源漏极层上。

其中，由于栅极层和源漏极层通常由金属层形成，其能够导电且电阻较低；而ITO导电层为透明导电性材料形成，其电阻相对于金属较大。因此，一般情况下，可以利用栅极层和源漏极层形成第一检测线21、第一数据引线22、第二检测线31和第二数据引线32，可以利用ITO导电层进行过孔连接以连通非直线连接的引线，例如利用ITO导电层形成第一导电层23等结构。

在一些实施例中，所述第二检测电路设置于所述第一检测电路远离所述衬底基板的一侧，所述第一检测线在衬底基板的正投影与所述第二检测线在所述衬底基板的正投影至少部分重叠；所述第一检测线与所述第一数据引线同层设置，所述第二检测线与所述第二数据引线同层设置。

如图3所示，所述第一检测电路和所述第二检测电路可以设置于不同层。其中，所述第一检测线21与所述第一数据引线22设置于同一层，而所述第二检测线31与所述第二数据引线32设置于同一层，由于不同层之间均设置有绝缘层结构，从而可以保证所述第一检测电路和所述第二检测电路不会连通，保证检测结果的准确。

其中，所述第一检测线21在衬底基板的正投影与所述第二检测线31在所述衬底基板的正投影至少部分重叠，即第一检测线21和第二检测线31设置于检测区的同一位置，从而可以节省检测区中的位置。

在一些实施例中，所述第二检测线31在衬底基板的正投影可以位于所述第一检测线21在所述衬底基板的正投影的内部，或者，所述第二检测线31在衬底基板的正投影与所述第一检测线21在所述衬底基板的正投影重叠，或者，所述第一检测线21在衬底基板的正投影位于所述第二检测线31在所述衬底基板的正投影的内部，本实施例对此不做限制。

在一些实施例中，第一检测线21、第一数据引线22可设置于显示基板的栅极层或源漏极层，第二检测线31和第二数据引线32可设置于显示基板的源漏极层或透明导电层。即当第一检测线21、第一数据引线22设置于显示基板的栅极层时，第二检测线31和第二数据引线32可设置于显示基板的源漏极层或透明导电层；当第一检测线21、第一数据引线22设置于显示基板的源漏极层时，第二检测线31和第二数据引线32设置于显示基板的透明导电层。

本实施例中，当第一检测线21基于栅极层或源漏极层形成、第二检测线31基于透明导电层形成时，其平行板电容小于当第一检测线21基于栅极层形成、第二检测线31基于源漏极层形成。

在一些实施例中，如图4、图5所示，所述第一检测线21、所述第二检测线31中的至少一个包括镂空区域，至少部分所述第一检测线21的非镂空区域在所述衬底基板的正投影与至少部分所述第二检测线31的非镂空区域在所述衬底基板的正投影不重叠。

其中，所述第一检测线21、所述第二检测线31中可以仅有一个包括镂空区域，即可以是第一检测线21包括空区域，或者是第二检测线31包括镂空区域，如图4所示。

或者，所述第一检测线21、所述第二检测线31可以均包括镂空区域，如图5所示。

当所述第一检测线21和/或所述第二检测线31包括镂空区域时，至少部分所述第一检测线21的非镂空区域在所述衬底基板的正投影与至少部分所述第二检测线31的非镂空区域在所述衬底基板的正投影不重叠，即第一检测线21和第二检测线31具有一定程度的错开，从而可以减小第一检测线21和第二检测线31之间的平行板电容。

如图4、图5所示，镂空区域可以是沿第一方向延伸的条形；或者，也可以是阵列设置的矩形；或者，也可以是圆形、椭圆形、三角形等任意形状，本实施例对此不做限制。

如图4所示，第一检测线21不包括镂空区域，且第一检测线21和第一数据引线22设置于显示基板的栅极层；第二检测线31包括镂空区域，且第二检测线31和第二数据引线32设置于显示基板的源漏极层。

或者，第一检测线21不包括镂空区域，且第一检测线21和第一数据引线22设置于显示基板的源漏极层；第二检测线31包括镂空区域，且第二检测线31和第二数据引线32设置于显示基板的透明导电层。

或者，第一检测线21包括镂空区域，且第一检测线21和第一数据引线22设置于显示基板的栅极层；第二检测线31不包括镂空区域，且第二检测线31和第二数据引线32设置于显示基板的源漏极层或者透明导电层。

或者，第一检测线21包括镂空区域，且第一检测线21和第一数据引线22设置于显示基板的源漏极层；第二检测线31不包括镂空区域，且第二检测线31和第二数据引线32设置于显示基板的透明导电层。

如图5所示，第一检测线21和第二检测线31均包括镂空区域，第一检测线21和第一数据引线22设置于显示基板的栅极层，第二检测线31和第二数据引线32设置于显示基板的源漏极层或透明导电层。

或者，第一检测线21和第二检测线31均包括镂空区域，第一检测线21和第一数据引线22设置于显示基板的源漏极层，第二检测线31和第二数据引线32设置于显示基板的透明导电层。

在一些实施例中，所述第二检测电路还包括第三检测线。如图6、图7所示，所述第二检测线31设置于所述第一检测线21和所述多条数据线之间，第三检测线41设置于所述第二检测线31远离衬底基板的一侧，所述第三检测线41与所述第二检测线3通过过孔连接，所述第三检测线41在所述衬底基板的正投影与所述第二检测线21在所述衬底基板的正投影至少部分重叠。

本实施例中，第三检测线41和所述第二检测线31之间通过过孔连接，例如在端口位置或者其他任意位置通过过孔连接，从而使得第三检测线41和第二检测线31并联，进而可以减小第二检测电路的电阻。

在一些实施例中，如图6所示，可设置所述第一检测线21、所述第二检测线31的宽度相同，并保证所述第一检测线21、所述第二检测线31的大小相同。

或者，如图7所示，可增大所述第一检测线21的宽度以减小第一检测电路的电阻值。此时，为了减小第二检测电路的电阻值，可通过设置第三检测线41与第二检测线31并联，来减小第二检测电路的电阻值。

在一些实施例中，所述第一检测线21、所述第二检测线31和所述第三检测线41设置于不同层。

例如，第一检测线21设置于显示基板的栅极层，第二检测线31设置于显示基板的源漏极层，第三检测线41设置于显示基板的透明导电层；或者，第一检测线21设置于显示基板的源漏极层，第二检测线31设置于显示基板的栅极层，第三检测线41设置于显示基板的透明导电层。

由于栅极层与源漏极层之间存在栅极绝缘层(GI)，源漏极层与透明导电层之间存在钝化层(PVX)，且栅极绝缘层(GI)和钝化层(PVX)均为绝缘层，因此第一检测电路、第二检测电路之间不连通，二者之间的检测信号互不影响，能够实现对显示基板的短路不良的检测。

在一些实施例中，所述第二检测电路还包括第三数据引线42。如图6、图7所示，第三数据引线42设置于所述第二数据引线32远离所述衬底基板的一侧，第三数据引线42与所述第三检测线41连接且与所述第三检测线41同层设置，所述第三数据引线41在所述衬底基板的正投影与所述第二数据引线32在所述衬底基板的正投影至少部分重叠。

本实施例中，通过第三数据引线42的设置，可以增加与第二检测线31、第二数据引线32并联的导电层的面积，从而可以进一步减小第二检测电路的电阻值。

在一些实施例中，所述第一检测电路还包括第四检测线51。如图8所示，第四检测线51设置于所述第一检测线21远离所述衬底基板的一侧，所述第四检测线51与所述第一检测线21通过过孔连接，所述第四检测线51在所述衬底基板的正投影与所述第一检测线21在所述衬底基板的正投影至少部分重叠。

本实施例中，第四检测线51和所述第一检测线21之间通过过孔连接，例如在端口位置或者其他任意位置通过过孔连接，从而使得第四检测线51和第一检测线21并联，进而可以减小第一检测电路的电阻。

在一些实施例中，所述第四检测线51、所述第二检测线31、所述第二数据引线22同层设置。其中，第一检测线21、第一数据引线22设置于显示基板的栅极层上，所述第四检测线51、所述第二检测线31、所述第二数据引线22可以设置于显示基板的源漏极层上，第三检测线41和第三数据引线41设置于显示基板的透明导电层上，从而在减小第一检测电路、第二检测电路的电阻的基础上，保证第一检测电路、第二检测电路不连通，二者之间的检测信号互不影响，能够实现对显示基板的短路不良的检测。

在一些实施例中，如图11所示，所述第一检测线21、所述第一数据引线22、所述第二检测线31同层设置，所述第四检测线51、所述第三检测线41、所述第二数据引线32同层设置；所述第二检测线31、所述第三检测线41在与所述第一数据引线22之间的交叉处断开，所述第二检测线31、所述第三检测线41在所述交叉处通过第二导电层42跳孔搭接。

如图11所示，第一检测电路包括第一检测线21、第一数据引线22以及第四检测线51，第二检测电路包括第二检测线31、第三检测线41以及第二数据引线32。其中，所述第一检测线21、所述第一数据引线22、所述第二检测线31同层设置，所述第四检测线51、所述第三检测线41、所述第二数据引线32同层设置。由于第一数据引线22穿过第二检测线31，因此第二检测线31在与第一数据引线22的交叉处断开，且在该断开处第三检测线41也断开，同时所述第二检测线31、所述第三检测线42在所述交叉处通过第二导电层43跳孔搭接。

在一些实施例中，所述第一检测线21、所述第一数据引线22、所述第二检测线31设置于显示基板的栅极层，所述第四检测线51、所述第三检测线41、所述第二数据引线32设置于显示基板的源漏极层，第三导电层43设置于显示基板的透明导电层，如图12所示。

在一些实施例中，所述第一检测电路还包括第五检测线61。如图9所示，第五检测线61设置于所述第一检测线21与所述衬底基板之间，所述第五检测线61与所述第一检测线21通过过孔连接连接，所述第五检测线61在所述衬底基板的正投影与所述第一检测线21在所述衬底基板的正投影至少部分重叠。

本实施例中，第五检测线61和所述第一检测线21之间通过过孔连接，例如在端口位置或者其他任意位置通过过孔连接，从而使得第五检测线61和第一检测线21并联，进而可以减小第一检测电路的电阻。

在一些实施例中，如图10所示，第一检测电路包括第一检测线21、第一数据引线22以及第五检测线61，第二检测电路包括第二检测线31、第三检测线41以及第二数据引线32。其中，所述第五检测线61、所述第二检测线31、所述第二数据引线32同层设置，所述第一检测线21、所述第一数据引线22、所述第三检测线41同层设置。

由于所述第三检测线41与第一数据引线22同层设置，故第三检测线41与第一数据引线22会存在交叉，因此第三检测线41在与所述第一数据引线22的交叉处断开，且所述第三检测线41在所述交叉处通过第三导电层44跳孔搭接。

在一些实施例中，所述第五检测线61、所述第二检测线31、所述第二数据引线32设置于显示基板的栅极层，所述第一检测线21、所述第一数据引线22、所述第三检测线41设置于显示基板的源漏极层，第三导电层44设置于显示基板的透明导电层，如图13所示。

基于同一构思，与上述任一实施例相应，本公开还提供一种显示装置，包括如上述任一项所述的显示基板。

其中，显示装置可以为显示基板、显示面板、电子纸、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件，本公开的实施例对此不作限制。

需要说明的是，上述对本公开的一些实施例进行了描述。其它实施例在所附权利要求书的范围内。在一些情况下，在权利要求书中记载的动作或步骤可以按照不同于上述实施例中的顺序来执行并且仍然可以实现期望的结果。另外，在附图中描绘的过程不一定要求示出的特定顺序或者连续顺序才能实现期望的结果。在某些实施方式中，多任务处理和并行处理也是可以的或者可能是有利的。

所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本公开的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上所述的本公开实施例的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。

另外，为简化说明和讨论，并且为了不会使本公开实施例难以理解，在所提供的附图中可以示出或可以不示出与集成电路(IC)芯片和其它部件的公知的电源/接地连接。此外，可以以框图的形式示出装置，以便避免使本公开实施例难以理解，并且这也考虑了以下事实，即关于这些框图装置的实施方式的细节是高度取决于将要实施本公开实施例的平台的(即，这些细节应当完全处于本领域技术人员的理解范围内)。在阐述了具体细节(例如，电路)以描述本公开的示例性实施例的情况下，对本领域技术人员来说显而易见的是，可以在没有这些具体细节的情况下或者这些具体细节有变化的情况下实施本公开实施例。因此，这些描述应被认为是说明性的而不是限制性的。

尽管已经结合了本公开的具体实施例对本公开进行了描述，但是根据前面的描述，这些实施例的很多替换、修改和变型对本领域普通技术人员来说将是显而易见的。例如，其它存储器架构(例如，动态RAM(DRAM))可以使用所讨论的实施例。

本公开实施例旨在涵盖落入所附权利要求的宽泛范围之内的所有这样的替换、修改和变型。因此，凡在本公开实施例的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本公开的保护范围之内。

Claims (15)

1.一种显示基板，其特征在于，包括：

多条数据线，沿第一方向延伸，包括多条第一子数据线和多条第二子数据线，所述第一子数据线和所述第二子数据线之间包括断开点；

第一检测电路，与所述多条第一子数据线远离所述断开点的一端连接，用于向所述多条第一子数据线提供第一检测信号；

第二检测电路，与所述多条第二子数据线远离所述断开点的一端连接，用于向所述多条第二子数据线提供第二检测信号。

2.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述第一检测电路包括：

第一检测线，设置于所述多条数据线的一侧且沿所述第一方向延伸，用于接收所述第一检测信号；

第一数据引线，至少部分沿第二方向延伸，一端与所述第一检测线连接，另一端与所述第一子数据线连接，用于将所述第一检测信号提供给所述第一子数据线；

所述第二检测电路包括：

第二检测线，设置于所述多条数据线的一侧且沿所述第一方向延伸，用于接收所述第二检测信号；

第二数据引线，至少部分沿第二方向延伸，一端与所述第二检测线连接，另一端与所述第二子数据线连接，用于将所述第二检测信号提供给所述第二子数据线。

3.根据权利要求2所述的显示基板，其特征在于，所述第一检测电路和所述第二检测电路同层设置，所述第二检测线设置于所述第一检测线和所述多条数据线之间；

所述第一数据引线在衬底基板的正投影与所述第二检测线在所述衬底基板的正投影存在重叠区域，且在所述重叠区域所述第一数据引线通过第一导电层跳孔搭接。

4.根据权利要求2所述的显示基板，其特征在于，所述第二检测电路设置于所述第一检测电路远离衬底基板的一侧，所述第一检测线在所述衬底基板的正投影与所述第二检测线在所述衬底基板的正投影至少部分重叠；

所述第一检测线与所述第一数据引线同层设置，所述第二检测线与所述第二数据引线同层设置。

5.根据权利要求4所述的显示基板，其特征在于，所述第一检测线、所述第二检测线中的至少一个包括镂空区域，至少部分所述第一检测线的非镂空区域在所述衬底基板的正投影与至少部分所述第二检测线的非镂空区域在所述衬底基板的正投影不重叠。

6.根据权利要求2所述的显示基板，其特征在于，所述第二检测线设置于所述第一检测线和所述多条数据线之间；所述第二检测电路还包括：

第三检测线，设置于所述第二检测线远离衬底基板的一侧，所述第三检测线与所述第二检测线连接，所述第三检测线在所述衬底基板的正投影与所述第二检测线在所述衬底基板的正投影至少部分重叠。

7.根据权利要求6所述的显示基板，其特征在于，所述第一检测线、所述第二检测线和所述第三检测线设置于不同层。

8.根据权利要求6所述的显示基板，其特征在于，所述第二检测电路还包括：

第三数据引线，设置于所述第二数据引线远离所述衬底基板的一侧，与所述第三检测线连接且与所述第三检测线同层设置，所述第三数据引线在所述衬底基板的正投影与所述第二数据引线在所述衬底基板的正投影至少部分重叠。

9.根据权利要求6所述的显示基板，其特征在于，所述第一检测电路还包括：

第四检测线，设置于所述第一检测线远离所述衬底基板的一侧，所述第四检测线与所述第一检测线连接，所述第四检测线在所述衬底基板的正投影与所述第一检测线在所述衬底基板的正投影至少部分重叠。

10.根据权利要求9所述的显示基板，其特征在于，所述第四检测线、所述第二检测线、所述第二数据引线同层设置。

11.根据权利要求9所述的显示基板，其特征在于，所述第一检测线、所述第一数据引线、所述第二检测线同层设置，所述第四检测线、所述第三检测线、所述第二数据引线同层设置；

所述第二检测线、所述第三检测线在与所述第一数据引线之间的交叉处断开，所述第二检测线、所述第三检测线在所述交叉处通过第二导电层跳孔搭接。

12.根据权利要求6所述的显示基板，其特征在于，所述第一检测电路还包括：

第五检测线，设置于所述第一检测线与所述衬底基板之间，所述第五检测线与所述第一检测线连接，所述第五检测线在所述衬底基板的正投影与所述第一检测线在所述衬底基板的正投影至少部分重叠。

13.根据权利要求12所述的显示基板，其特征在于，所述第五检测线、所述第二检测线、所述第二数据引线同层设置，所述第一检测线、所述第一数据引线、所述第三检测线同层设置；

所述第三检测线在与所述第一数据引线的交叉处断开，且所述第三检测线在所述交叉处通过第三导电层跳孔搭接。

14.根据权利要求1-13任一项所述的显示基板，其特征在于，所述第一检测电路、所述第二检测电路设置于所述显示基板的栅极层、源漏极层、透明导电层中的至少一层。

15.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1-14任一项所述的显示基板。