CN117110304A - 一种主板aio检测设备及其检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及主板检测领域,其公开了一种主板AIO检测设备,包括机架、输送构件以及检测机构,机架上安装有框架,框架的上端设置有镜面,镜面设置有四组且相邻两组镜面相互接触,构成一个呈矩形形状的检测区,检测机构包括上检测构件与下检测构件,上检测构件用于对镜面的镜像、主板的上端面进行视觉检测以及从上方对主板进行吸附固定,下检测构件用于对主板的下端面进行视觉检测以及从下方对主板进行吸附固定,机架上安装有驱动机构,驱动机构包括用于驱使上检测构件中的上扫描元件在水平面内移动的驱动构件、用于驱动构件与下检测构件之间连接的连接构件,连接构件设置成在连接状态与断开状态之间进行切换。

Description

一种主板AIO检测设备及其检测方法
技术领域
本发明涉及主板检测领域,具体涉及主板的AOI领域。
背景技术
AIO指的是电脑一体机,其是指将传统分体台式机中的主板、CPU、内存条等集成到显示器中,从而形成一体台式机,主板AIO或者AIO主板指的就是AIO中的主板。
主板生产出来后,需要对其进行检测,检测方式有飞针检测、光学检测等,后者是通过AOI实现,利用现有AOI设备对主板进行视觉检测的过程中,一般只能对主板的一面进行检测,故而一般是统一对主板的一面进行检测后,再对另一面进行检测,较为繁琐,基于此,经过检索发现了一篇授权公告号为CN116511070B的中国发明专利,其公开了一种手机主板视觉检测设备,其是通过挡条、放置板、加固板、弧形齿板、辅助齿轮、第一齿轮、第二齿轮和齿牙等等配合下,驱使限位板和橡胶柱在放置板翻转移动的角度后同步右移,在放置板左侧形成一个遮挡结构,对手机主板的翻转方向进行控制,然后随着放置板继续翻转,利用弹簧的弹性回弹,使限位板和橡胶柱复位,使手机主板快速向左倾倒,完成手机主板的快速翻面,然后对手机主板的另一面进行检测,其存在着一些弊端:其需要驱使手机主板进行翻转,虽然通过遮挡结构对手机主板的翻转方向进行控制,但是方向得到控制并不意味着翻转后的手机主板与预设位置之间不发生偏移,众所周知,倾倒式的快速翻转动作,在手机主板与下方的承托物发生接触时会产生碰撞,一方面,碰撞容易对主板产生损坏,另一方面,碰撞容易导致主板位置发生偏移且偏移不可控,导致翻面后的主板与预设位置之间存在误差,影响后续的视觉检测,除此之外,其只能对主板的上下两端面进行检测,而不能对主板的四个侧面进行检测,主板AIO的侧面因一体机的原因,侧面设置有接口等电子元器件,因此也是需要进行视觉检测的。
除此之外,现有技术中,常见的是通过对主板进行夹持,一面检测完后,再180度翻转主板,对另一面进行检测,或者驱使摄像相机移动加上旋转,对主板的另一面进行检测,不论是哪种方式,都需要进行翻转动作,而翻转动作最常见的就是电机驱使转轴进行180度旋转,一旦转轴旋转角度存在误差,也会对主板的视觉检测结果造成影响。
基于上述,本发明提出了一种主板AIO检测设备及其检测方法。
发明内容
为解决上述背景中提到的问题,本发明提供了一种主板AIO检测设备及其检测方法。
为实现上述技术目的,本发明所采用的技术方案如下。
一种主板AIO检测设备,包括机架,机架上安装有输送构件与检测机构,机架上安装有框架,框架的上端设置有镜面,镜面设置有四组且相邻两组镜面相互接触,构成一个呈矩形形状的检测区,每组镜面均呈倾斜布置且最低点位于最高点朝向检测区的一侧;
检测机构包括上检测构件与下检测构件,上检测构件用于对镜面的镜像、主板的上端面进行视觉检测以及从上方对主板进行吸附固定,下检测构件用于对主板的下端面进行视觉检测以及从下方对主板进行吸附固定;
机架上安装有驱动机构,驱动机构包括用于驱使上检测构件中的上扫描元件在水平面内移动的驱动构件、用于驱动构件与下检测构件之间连接的连接构件,连接构件设置成在连接状态与断开状态之间进行切换。
进一步的,输送构件包括设置在框架底部的输送组件,输送组件沿水平方向设置有两组,输送组件包括沿水平方向滑动安装在框架上的输送支架、用于驱使输送支架发生移动的伸缩件一、设置在输送支架上的输送带,输送带的输送方向水平并和输送支架的移动方向垂直,两组输送组件之间的距离方向平行于输送支架的移动方向。
进一步的,上检测构件位于检测区的上方,上检测构件包括上吸附头、用于驱使上吸附头发生移动的伸缩件二、沿输送构件输送方向滑动安装在框架顶部的滑动支架,滑动支架上沿水平方向滑动安装有滑座,滑座的滑动方向与滑动支架的滑动方向垂直,滑座的底部设置有上扫描元件。
进一步的,下检测构件位于检测区的下方,下检测构件包括呈水平布置的导向支架、位于导向支架上方的顶座,导向支架上平行设置有丝杆,丝杆沿轴向分为螺纹旋向相反的两组螺纹段,螺纹段的外部安装有底座,底座和导向支架构成滑动导向配合,顶座与底座之间铰接设置有连接杆,顶座的上端面设置有下吸附头与下扫描元件。
进一步的,驱动构件用于驱使滑座在线轨一与线轨二构成的平面坐标系内发生移动;
滑座的上端面竖直朝上设置有销杆,顶座的底部竖直朝下设置有底杆;
连接构件包括分别位于导向支架两端的两组连接组件以及设置在两组连接组件之间的横杆,横杆上开设有销孔,初始时,销孔同轴位于销杆的上方。
进一步的,连接组件包括呈竖直布置且与导向支架连接的连接臂、与机架连接并位于连接臂上方的固定座,横杆设置在两组连接组件的连接臂之间;
固定座上设置有卡孔,连接臂内沿水平方向滑动安装有卡块,卡块沿自身滑动方向设置有两组且两组卡块之间手指头有弹簧三,卡块的一端穿过设置在连接臂上的避让孔,两组卡块相背的侧面有上斜面与下平面组成,两组卡块的上斜面之间的距离由下至上递减,初始时,卡块局部卡在卡孔内。
进一步的,连接臂内滑动安装有滑杆,滑杆的上端设置有下斜面,下斜面设置有两组且两组下斜面之间的距离由下至上递增,两组下斜面分别和两组卡块的底部接触;
导向支架上沿丝杆轴向滑动安装有活动支架一与活动支架二且两者之间通过固定杆实现连接,活动支架一位于活动支架二背离连接臂的一侧,活动支架二与连接臂之间设置有弹簧二,活动支架二朝向连接臂的一侧设置有底斜面,两组连接组件中的底斜面之间的距离由下至上递减,并且底斜面伸入连接臂内和滑杆的底部接触;
活动支架一上沿导向支架的宽度方向滑动安装有滑块,滑块设置有两组并分别位于丝杆的两侧,两组滑块相背的一侧设置有弹簧一,滑块朝向活动支架二的一侧设置有侧斜面一,两组滑块的侧斜面一之间的距离沿丝杆的轴向并由活动支架二指向活动支架一的方向递减;
导向支架沿宽度方向的两侧均设置有凸起,凸起位于活动支架二与活动支架一之间,凸起朝向活动支架一的一侧设置有侧斜面二,位于丝杆同一侧的侧斜面一与侧斜面二相互平行。
一种主板AIO检测设备的检测方法:
步骤一:主板被输送构件牵引至检测区的正下方;
步骤二:丝杆旋转使两组底座相互靠近,顶座升起,下吸附头对主板进行承托以及吸附固定,并顶着主板靠近上扫描元件,通过驱动构件驱使上扫描元件移动,并通过上扫描元件完成对主板上端面、四个侧面的视觉检测;
步骤三:下吸附头顶着主板上移,伸缩件二驱使上吸附头移动,两者配合使主板上端面和上吸附头接触,上吸附头对主板进行吸附固定;
下吸附头撤销对主板的吸附固定且顶座下移使下扫描元件与主板之间的高度差处于预设值,同时伸缩件一驱使两组输送支架相互远离,同时两组底座相互远离的移动动作使连接构件切换为连接状态;
步骤四:通过驱动构件驱使上扫描元件移动,进而带着下扫描元件移动,通过下扫描元件完成对主板下端面的视觉检测;
步骤五:上吸附头撤销吸附,主板掉落至输送带被其牵引输出,同时两组底座继续相互远离,使连接构件处于断开状态,驱动机构与检测机构复位。
本发明与现有技术相比,有益效果在于:
一、本方案的核心之一在于,无需扫描元件与主板发生翻转动作,即可实现对主板的视觉检测,解决了背景技术中提到的需要主板或扫描元件翻转所带来的问题,并且整个检测过程中,是无遮挡、无死角式检测,检测效果更佳;
进一步的,本方案中,是通过对镜面中的主板侧边镜像的检测,而实现对主板侧面的视觉检测,好处在于,除了不需要对扫描元件以及主板进行翻转动作、提高检测效率之外,镜像还能够将主板侧面的接口内部情况展示出来,也就是说,对主板的侧面检测,还包括了对主板侧面上的接口内部情况的检测,检测效果更佳。
二、本方案的另一核心在于,本方案是通过驱动构件与连接构件的配合,实现一个驱动构件即可驱使上扫描元件与下扫描元件一起移动,其意义在于:
1、连接构件由断开状态切换为连接状态,是发生在“在上吸附头从上方对主板进行吸附固定,而下吸附头撤销吸附并下移的过程中”,连接构件由连接状态切换为断开状态,是发生在“主板完成检测后,在主板掉落至输送带被牵引输出的过程中”,也就是说,通过连接构件实现驱动构件和下检测构件之间的连接或断开连接,是不会对主板的检测效率造成影响;
连接构件的状态切换是由底座移动而实现的,即动力来源于电机三,也就是说,无需额外动力;
综上所述,减少了驱动构件的数量,进而减少了电机的数量,成本更低,本领域技术人员容易想到的是,参照驱动构件,在设置一个驱动结构驱使下检测构件移动,但是这样一来,需要额外再设置两个电机,相比本方案的连接构件的机械零部件结构而言,成本要高;
2、驱动构件在长时间驱使上检测构件中的上扫描元件移动后,自身不可避免的会产生损耗,导致移动精度出现误差;
本方案中,由于需要连接构件作为滑座与下检测构件之间的连接桥梁,故而若驱动构件出现问题,那么反馈给连接构件与滑座,是不能使两者完成连接的,也就是说,若驱动构件出现问题,那么必然会导致连接构件与滑座无法实现连接,主板的下端面检测无法正常进行,而这一情况很明显能够被工作人员观察到,也就是说,本方案中,驱动构件与连接构件的配合,还能够起到自检作用。
附图说明
图1为本发明的结构示意图;
图2为输送构件与检测机构的示意图;
图3为输送构件、框架、镜面以及上检测构件的示意图;
图4为上检测构件与驱动构件的示意图;
图5为连接构件与下检测构件的示意图;
图6为连接组件的局部示意图一;
图7为连接组件的局部示意图二。
附图中的标号为:
100、机架;101、框架;102、镜面;200、输送构件;201、输送支架;202、伸缩件一;203、输送带;300、上检测构件;301、伸缩件二;302、上吸附头;303、滑动支架;304、滑座;305、上扫描元件;306、销杆;307、同步带组;308、电机一;309、电机二;400、下检测构件;401、导向支架;402、丝杆;403、底座;404、电机三;405、顶座;406、连接杆;407、下扫描元件;408、下吸附头;409、底杆;500、连接构件;501、横杆;502、销孔;503、连接臂;504、固定座;505、活动支架一;506、滑块;507、弹簧一;508、活动支架二;509、弹簧二;510、固定杆;511、凸起;512、滑杆;513、卡块;514、弹簧三;515、卡孔。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明为实现预定发明目的所采取的技术手段及功效,以下结合附图及较佳实施例,对依据本发明的具体实施方式、结构、特征及其功效,详细说明如后。
实施例一
参照图1-图7,一种主板AIO检测设备,包括机架100,机架100上安装有输送构件200与检测机构,前者用于牵引主板朝向检测机构移动,或者牵引完成检测后的主板离开,后者用于对主板进行视觉检测。
参照图3,机架100上安装有框架101,框架101的上端设置有镜面102,镜面102设置有四组且相邻两组镜面102相互接触,构成一个呈矩形形状的检测区,每组镜面102均呈倾斜布置且最低点位于最高点朝向检测区的一侧;当主板以水平状态位于检测区时,主板的四个侧面会在镜面102留下清楚的镜像,通过对镜面102上的镜像进行视觉检测,即可完成对主板侧面的视觉检测。
参照图3,输送构件200包括设置在框架101底部的输送组件,输送组件沿水平方向设置有两组,输送组件包括沿水平方向滑动安装在框架101上的输送支架201以及用于驱使输送支架201发生移动的伸缩件一202、设置在输送支架201上的输送带203,其中,输送带203的输送方向水平并和输送支架201的移动方向垂直,两组输送组件之间的距离方向平行于输送支架201的移动方向;伸缩件一202可以为现有电动伸缩杆技术,通过人工或现有机械臂技术将主板放在输送带203的进料端,主板被牵引移动至检测区的正下方,在通过检测机构对主板进行检测,检测完毕后,主板回到输送带203上并从出料端离开。
参照图2,检测机构包括上检测构件300与下检测构件400,前者用于对镜面102上的镜像以及主板的上端面进行视觉检测,后者用于对主板的下端面进行视觉检测。
参照图3与图4,上检测构件300位于检测区的上方。
上检测构件300包括上吸附组件与上检测组件,其中,上吸附组件包括上吸附头302以及用于驱使上吸附头302发生移动的伸缩件二301,检测区的每个对角线的两端均设置有一组上吸附组件,即上吸附组件一共设置有四组,上吸附组件的上吸附头302的移动方向平行于检测区的对应对角线,上吸附头302是通过负压吸附的方式对主板进行固定,为现有技术可实现,伸缩件二301可以为现有电动伸缩杆技术,不作赘述。
上检测组件包括沿输送带203输送方向设置在框架101顶部的线轨一,线轨一上滑动安装有滑动支架303,滑动支架303上安装有呈水平布置的线轨二,线轨二和线轨一垂直,线轨二上滑动安装有滑座304,滑座304的底部设置有上扫描元件305,例如工业相机等,为现有技术可实现,不作赘述。
参照图5,下检测构件400位于检测区的下方。
下检测构件400包括呈水平布置的导向支架401,导向支架401上平行设置有丝杆402,丝杆402被设置在导向支架401上的电机三404驱使发生旋转,丝杆402沿轴向分为螺纹旋向相反的两组螺纹段,每组螺纹段的外部安装有一组底座403,底座403同时和导向支架401构成滑动导向配合,故而当丝杆402旋转时,两组底座403相互靠近或相互远离。
下检测构件400还包括位于导向支架401上方的顶座405,顶座405与底座403之间铰接设置有连接杆406,连接杆406对应设置有两组,两组连接杆406与顶座405之间铰接处形成的铰接轴之间设置有传动比为一的直齿轮组,当两组底座403相互靠近或相互远离时,顶座405上移或下移。
顶座405的上端面设置有下吸附头408与下扫描元件407,下吸附头408如上吸附头302一样,是通过负压吸附方式对主板进行固定,下扫描元件407如上扫描元件305一样,用于对主板进行图像采集,即视觉检测。
实施例一的工作过程:
首先,主板经输送构件200牵引,位于检测区的正下方;
然后,电机三404运行驱使丝杆402旋转,最终使两组底座403相互靠近,顶座405升起,下吸附头408对主板进行承托以及吸附固定,并顶着主板,使主板靠近上扫描元件305,然后,通过驱动机构驱使上扫描元件305移动,通过上扫描元件305完成对主板上端面、四个侧面的视觉检测,检测过程中,主板的上方无遮挡;
然后,电机三404再次运行,顶着主板上移,与此同时,伸缩件二301驱使上吸附头302移动,两者配合,使主板上端面和上吸附头302接触,上吸附头302对主板进行吸附固定,下吸附头408撤销对主板的吸附固定且顶座405下移,使下扫描元件407与主板之间的高度差处于预设值,与此同时,伸缩件一202驱使两组输送支架201相互远离;
然后,通过驱动机构驱使下扫描元件407移动,通过下扫描元件407完成对主板下端面的视觉检测,检测过程中,主板的下方无遮挡;
如此,实现对主板的无遮挡、无死角式视觉检测,检测结束后,伸缩件一202驱使两组输送支架201相互靠近,上吸附头302撤销对主板的吸附,主板掉落至输送带203上被牵引输送离开。
上述过程中,需要注意的是,初始时,下扫描元件407的上端与下吸附头408的上端平齐或者略低,其意义在于,以免下吸附头408的上端高于下扫描元件407的上端,影响下扫描元件407的图像采集。
上述过程中:
1、视觉检测过程中,扫描元件以及主板均不需要进行翻转动作,不存在“转轴旋转精度”问题,并且整个检测过程中,是无遮挡、无死角式检测,检测效果更佳;
2、通过对镜面中的主板侧边镜像进行检测,实现对主板侧面的视觉检测的好处在于,除了不需要对扫描元件以及主板进行翻转动作、提高检测效率之外,镜像还能够将主板侧面的接口内部情况展示出来,也就是说,对主板的侧面检测,还包括了对主板侧面上的接口内部情况的检测,检测效果更佳。
实施例二
驱动机构包括用于驱使上扫描元件305在水平面内发生移动的驱动构件以及用于驱动构件与导向支架401之间连接的连接构件500,连接构件500设置成在连接状态与断开状态之间进行切换,处于连接状态时,驱动构件与导向支架401之间完成连接,处于断开状态,驱动构件与导向支架401之间的连接断开,具体的:
参照图4,驱动构件包括同步带组307,同步带组307包括竖直安装在框架101上的带轮一以及竖直安装在滑动支架303上的带轮二,其中,每组线轨一的两端均设置有带轮一,即带轮一设置有四组,滑动支架303的四个直角处均设置有带轮二,即带轮二设置有四组,四组带轮一与四组带轮二之间设置有同步带,同步带与滑座304连接。
另外,框架101上还设置有和带轮一同轴连接的电机一308与电机二309且两者位于滑动支架303沿线轨二延伸方向的同一侧。
当电机一308与电机二309同向同速旋转时,滑座304在线轨二上发生移动,当电机一308与电机二309异向同速旋转时,滑动支架303在线轨一上发生移动,如此驱使上扫描元件305在水平面内发生移动。
参照图4,滑座304的上端面竖直朝上设置有销杆306。
参照图5,顶座405的底部竖直朝下设置有底杆409。
参照图5,连接构件500包括分别位于导向支架401两端的两组连接组件以及设置在两组连接组件之间的横杆501,横杆501上开设有销孔502,初始时,销孔502同轴位于销杆306的上方。
参照图5,连接组件包括呈竖直布置且与导向支架401连接的连接臂503、与机架100连接并位于连接臂503上方的固定座504。
参照图7,固定座504上设置有卡孔515。
连接臂503内沿水平方向滑动安装有卡块513,卡块513沿自身滑动方向设置有两组且两组卡块513之间手指头有弹簧三514,卡块513的一端穿过设置在连接臂503上的避让孔,两组卡块513相背的侧面有上斜面与下平面组成,两组卡块513的上斜面之间的距离由下至上递减,初始时,卡块513局部卡在卡孔515内,通过卡块513与卡孔515的配合,实现连接臂503与固定座504之间的连接。
参照图6与图7,连接臂503内滑动安装有滑杆512,滑杆512的上端设置有下斜面,下斜面设置有两组且两组下斜面之间的距离由下至上递增,两组下斜面分别和两组卡块513的底部接触,当滑杆512上移时,会通过下斜面驱使两组卡块513相互靠近,使连接臂503与固定座504之间的连接断开。
导向支架401上沿丝杆402轴向滑动安装有活动支架一505与活动支架二508且两者之间通过固定杆510实现连接,活动支架一505位于活动支架二508背离连接臂503的一侧。
活动支架二508与连接臂503之间设置有弹簧二509,活动支架二508朝向连接臂503的一侧设置有底斜面,两组连接组件中的底斜面之间的距离由下至上递减,并且底斜面伸入连接臂503内和滑杆512的底部接触;活动支架二508靠近连接臂503,即可通过底斜面驱使滑杆512上移。
活动支架一505上沿导向支架401的宽度方向滑动安装有滑块506,滑块506设置有两组并分别位于丝杆402的两侧,两组滑块506相背的一侧设置有弹簧一507,滑块506朝向活动支架二508的一侧设置有侧斜面一,两组滑块506的侧斜面一之间的距离沿丝杆402的轴向并由活动支架二508指向活动支架一505的方向递减。
导向支架401沿宽度方向的两侧均设置有凸起511,凸起511位于活动支架二508与活动支架一505之间,凸起511朝向活动支架一505的一侧设置有侧斜面二,两组凸起511的侧斜面二之间的距离沿丝杆402的轴向并由活动支架二508指向活动支架一505的方向递减,即位于丝杆402同一侧的侧斜面一与侧斜面二相互平行。
参照图5,横杆501设置在两组连接组件的连接臂503之间。
实施例二的工作过程:
初始时,销杆306未插入销孔502内,连接构件500处于断开状态,驱动构件运行只驱使滑座304移动,即只驱使上扫描元件305移动;
当主板的四个侧面以及上端面完成检测后,驱动构件驱使滑座304回到初始位置处,销杆306同轴位于销孔502内;
然后,在上吸附头302从上方对主板进行吸附固定,而下吸附头408撤销吸附并下移的过程中,两组底座403做相互远离的移动,底座403会与滑块506接触并抵推滑块506一起移动,滑块506带着活动支架一505与活动支架二508一起移动,活动支架二508移动使滑杆512上移,固定座504与连接臂503断开连接,在重力作用下,下检测构件400与横杆501下移,销杆306插入销孔502内,连接构件500切换为连接状态;
此后,驱动构件运行通过驱使滑座304移动,进而驱使下检测构件400移动,对主板的下端面进行检测;
主板完成检测后,在主板掉落至输送带203被牵引输出的过程中,两组底座403继续相互远离:
首先,滑块506会与凸起511的侧斜面二接触,使两组滑块506相互远离,底座403越过滑块506,在弹簧一507、弹簧二509、弹簧三514的配合下,除了固定座504外,连接组件中的其余零部件的相对位置关系已恢复;
然后,两组底座403继续相互远离,顶座405下移,底杆409与机架100接触,在反作用力下,导向支架401上移,使连接组件中除固定座504之外的零部件上移,进而在上斜面的引导下,使卡块513重新插入卡孔515内,连接组件复位,同时销杆306脱离销孔502,连接构件500处于断开状态;
然后,两组底座403相互靠近,驱使顶座405上移,开始对下一个主板进行检测,此过程中,由于滑块506上的侧斜面一的存在,故而底座403能够平稳越过滑块506。
上述过程中:
1、连接构件500由断开状态切换为连接状态,是发生在“在上吸附头302从上方对主板进行吸附固定,而下吸附头408撤销吸附并下移的过程中”,连接构件500由连接状态切换为断开状态,是发生在“主板完成检测后,在主板掉落至输送带203被牵引输出的过程中”,也就是说,通过连接构件500实现驱动构件和下检测构件400之间的连接或断开连接,是不会对主板的检测效率造成影响;
连接构件500的状态切换是由底座403移动而实现的,即动力来源于电机三404,也就是说,无需额外动力;
综上所述,减少了驱动构件的数量,进而减少了电机的数量,成本更低,本领域技术人员容易想到的是,参照驱动构件,在设置一个驱动结构驱使下检测构件400移动,但是这样一来,需要额外再设置两个电机,相比本方案的连接构件500的机械零部件结构而言,成本要高;
2、驱动构件在长时间驱使上检测构件300中的上扫描元件305移动后,自身不可避免的会产生损耗,导致移动精度出现误差;
本方案中,由于需要连接构件500作为滑座304与下检测构件400之间的连接桥梁,故而若驱动构件出现问题,那么反馈给连接构件500与滑座304,是不能使两者完成连接的,也就是说,若驱动构件出现问题,那么必然会导致连接构件500与滑座304无法实现连接,主板的下端面检测无法正常进行,而这一情况很明显能够被工作人员观察到,也就是说,本方案中,驱动构件与连接构件500的配合,还能够起到自检作用。
以上所述,仅是本发明的较佳实施例而已,并非对本发明作任何形式上的限制,虽然本发明已以较佳实施例揭示如上,然而并非用以限定本发明,任何本领域技术人员,在不脱离本发明技术方案范围内,当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例,但凡是未脱离本发明技术方案内容,依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简介修改、等同变化与修饰,均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (8)

1.一种主板AIO检测设备,包括机架(100),机架(100)上安装有输送构件(200)与检测机构,其特征在于:机架(100)上安装有框架(101),框架(101)的上端设置有镜面(102),镜面(102)设置有四组且相邻两组镜面(102)相互接触,构成一个呈矩形形状的检测区,每组镜面(102)均呈倾斜布置且最低点位于最高点朝向检测区的一侧;
检测机构包括上检测构件(300)与下检测构件(400),上检测构件(300)用于对镜面(102)的镜像、主板的上端面进行视觉检测以及从上方对主板进行吸附固定,下检测构件(400)用于对主板的下端面进行视觉检测以及从下方对主板进行吸附固定;
机架(100)上安装有驱动机构,驱动机构包括用于驱使上检测构件(300)中的上扫描元件(305)在水平面内移动的驱动构件、用于驱动构件与下检测构件(400)之间连接的连接构件(500),连接构件(500)设置成在连接状态与断开状态之间进行切换。
2.根据权利要求1所述的一种主板AIO检测设备,其特征在于:输送构件(200)包括设置在框架(101)底部的输送组件,输送组件沿水平方向设置有两组,输送组件包括沿水平方向滑动安装在框架(101)上的输送支架(201)、用于驱使输送支架(201)发生移动的伸缩件一(202)、设置在输送支架(201)上的输送带(203),输送带(203)的输送方向水平并和输送支架(201)的移动方向垂直,两组输送组件之间的距离方向平行于输送支架(201)的移动方向。
3.根据权利要求2所述的一种主板AIO检测设备,其特征在于:上检测构件(300)位于检测区的上方,上检测构件(300)包括上吸附头(302)、用于驱使上吸附头(302)发生移动的伸缩件二(301)、沿输送构件(200)输送方向滑动安装在框架(101)顶部的滑动支架(303),滑动支架(303)上沿水平方向滑动安装有滑座(304),滑座(304)的滑动方向与滑动支架(303)的滑动方向垂直,滑座(304)的底部设置有上扫描元件(305)。
4.根据权利要求3所述的一种主板AIO检测设备,其特征在于:下检测构件(400)位于检测区的下方,下检测构件(400)包括呈水平布置的导向支架(401)、位于导向支架(401)上方的顶座(405),导向支架(401)上平行设置有丝杆(402),丝杆(402)沿轴向分为螺纹旋向相反的两组螺纹段,螺纹段的外部安装有底座(403),底座(403)和导向支架(401)构成滑动导向配合,顶座(405)与底座(403)之间铰接设置有连接杆(406),顶座(405)的上端面设置有下吸附头(408)与下扫描元件(407)。
5.根据权利要求4所述的一种主板AIO检测设备,其特征在于:驱动构件用于驱使滑座(304)在线轨一与线轨二构成的平面坐标系内发生移动;
滑座(304)的上端面竖直朝上设置有销杆(306),顶座(405)的底部竖直朝下设置有底杆(409);
连接构件(500)包括分别位于导向支架(401)两端的两组连接组件以及设置在两组连接组件之间的横杆(501),横杆(501)上开设有销孔(502),初始时,销孔(502)同轴位于销杆(306)的上方。
6.根据权利要求5所述的一种主板AIO检测设备,其特征在于:连接组件包括呈竖直布置且与导向支架(401)连接的连接臂(503)、与机架(100)连接并位于连接臂(503)上方的固定座(504),横杆(501)设置在两组连接组件的连接臂(503)之间;
固定座(504)上设置有卡孔(515),连接臂(503)内沿水平方向滑动安装有卡块(513),卡块(513)沿自身滑动方向设置有两组且两组卡块(513)之间手指头有弹簧三(514),卡块(513)的一端穿过设置在连接臂(503)上的避让孔,两组卡块(513)相背的侧面有上斜面与下平面组成,两组卡块(513)的上斜面之间的距离由下至上递减,初始时,卡块(513)局部卡在卡孔(515)内。
7.根据权利要求6所述的一种主板AIO检测设备,其特征在于:连接臂(503)内滑动安装有滑杆(512),滑杆(512)的上端设置有下斜面,下斜面设置有两组且两组下斜面之间的距离由下至上递增,两组下斜面分别和两组卡块(513)的底部接触;
导向支架(401)上沿丝杆(402)轴向滑动安装有活动支架一(505)与活动支架二(508)且两者之间通过固定杆(510)实现连接,活动支架一(505)位于活动支架二(508)背离连接臂(503)的一侧,活动支架二(508)与连接臂(503)之间设置有弹簧二(509),活动支架二(508)朝向连接臂(503)的一侧设置有底斜面,两组连接组件中的底斜面之间的距离由下至上递减,并且底斜面伸入连接臂(503)内和滑杆(512)的底部接触;
活动支架一(505)上沿导向支架(401)的宽度方向滑动安装有滑块(506),滑块(506)设置有两组并分别位于丝杆(402)的两侧,两组滑块(506)相背的一侧设置有弹簧一(507),滑块(506)朝向活动支架二(508)的一侧设置有侧斜面一,两组滑块(506)的侧斜面一之间的距离沿丝杆(402)的轴向并由活动支架二(508)指向活动支架一(505)的方向递减;
导向支架(401)沿宽度方向的两侧均设置有凸起(511),凸起(511)位于活动支架二(508)与活动支架一(505)之间,凸起(511)朝向活动支架一(505)的一侧设置有侧斜面二,位于丝杆(402)同一侧的侧斜面一与侧斜面二相互平行。
8.一种如权利要求7所述的一种主板AIO检测设备的检测方法,其特征在于:其包括如下步骤:
步骤一:主板被输送构件(200)牵引至检测区的正下方;
步骤二:丝杆(402)旋转使两组底座(403)相互靠近,顶座(405)升起,下吸附头(408)对主板进行承托以及吸附固定,并顶着主板靠近上扫描元件(305),通过驱动构件驱使上扫描元件(305)移动,并通过上扫描元件(305)完成对主板上端面、四个侧面的视觉检测;
步骤三:下吸附头(408)顶着主板上移,伸缩件二(301)驱使上吸附头(302)移动,两者配合使主板上端面和上吸附头(302)接触,上吸附头(302)对主板进行吸附固定;
下吸附头(408)撤销对主板的吸附固定且顶座(405)下移使下扫描元件(407)与主板之间的高度差处于预设值,同时伸缩件一(202)驱使两组输送支架(201)相互远离,同时两组底座(403)相互远离的移动动作使连接构件(500)切换为连接状态;
步骤四:通过驱动构件驱使上扫描元件(305)移动,进而带着下扫描元件(407)移动,通过下扫描元件(407)完成对主板下端面的视觉检测;
步骤五:上吸附头(302)撤销吸附,主板掉落至输送带(203)被其牵引输出,同时两组底座(403)继续相互远离,使连接构件(500)处于断开状态,驱动机构与检测机构复位。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117783121A (zh) * 2024-02-23 2024-03-29 深圳市高微科电子有限公司 一种基于贴片电感的检测装置及检测方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005057196A1 (fr) * 2003-12-10 2005-06-23 Nuctech Company Limited Un systeme d'examen de conteneur mobile combine avec cible basse
CN114755185A (zh) * 2022-04-18 2022-07-15 汇美智能装备(深圳)有限公司 一种电脑主板自动光学测试装置
CN116511070A (zh) * 2023-06-27 2023-08-01 深圳市英迈通信技术有限公司 一种手机主板视觉检测设备和检测方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005057196A1 (fr) * 2003-12-10 2005-06-23 Nuctech Company Limited Un systeme d'examen de conteneur mobile combine avec cible basse
CN114755185A (zh) * 2022-04-18 2022-07-15 汇美智能装备(深圳)有限公司 一种电脑主板自动光学测试装置
CN116511070A (zh) * 2023-06-27 2023-08-01 深圳市英迈通信技术有限公司 一种手机主板视觉检测设备和检测方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117783121A (zh) * 2024-02-23 2024-03-29 深圳市高微科电子有限公司 一种基于贴片电感的检测装置及检测方法
CN117783121B (zh) * 2024-02-23 2024-05-31 深圳市高微科电子有限公司 一种基于贴片电感的检测装置及检测方法

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