CN117092494A - 一种摄像头主板测试系统及测试方法 - Google Patents
一种摄像头主板测试系统及测试方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN117092494A CN117092494A CN202311354460.XA CN202311354460A CN117092494A CN 117092494 A CN117092494 A CN 117092494A CN 202311354460 A CN202311354460 A CN 202311354460A CN 117092494 A CN117092494 A CN 117092494A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- rod
- driving
- limiting
- long
- rectangular groove
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 149
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 9
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims abstract description 4
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 30
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 27
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims description 20
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims description 20
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 16
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
- 230000009471 action Effects 0.000 claims description 12
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 12
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 10
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 7
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 claims description 5
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 4
- XBWAZCLHZCFCGK-UHFFFAOYSA-N 7-chloro-1-methyl-5-phenyl-3,4-dihydro-2h-1,4-benzodiazepin-1-ium;chloride Chemical compound [Cl-].C12=CC(Cl)=CC=C2[NH+](C)CCN=C1C1=CC=CC=C1 XBWAZCLHZCFCGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 6
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 13
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 4
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 4
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 3
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 3
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000008094 contradictory effect Effects 0.000 description 1
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012797 qualification Methods 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
- G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
- G01R31/2817—Environmental-, stress-, or burn-in tests
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
- G01R31/2825—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
- G01R31/2863—Contacting devices, e.g. sockets, burn-in boards or mounting fixtures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
- G01R31/2865—Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
- G01R31/2867—Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/2872—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
- G01R31/2874—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to temperature
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/2872—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
- G01R31/2874—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to temperature
- G01R31/2875—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to temperature related to heating
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
本发明涉及一种摄像头主板测试系统及测试方法，涉及数码主板测试的技术领域，其包括测试箱以及安装在测试箱内侧壁上的多个加热管，测试箱内底面等距设置有若干检测器，测试箱外侧壁上等距设置有与若干检测器连接的若干警示灯，测试箱上设置有用于对多个待测试品进行快速自动定位的定位固定装置；本发明具有可以高效快速对多个需要测试的主板依次进行自动定位固定，并模拟高温环境同时对多个主板进行耐高温测试，且在测试完成后可以快速解除对多个主板的定位固定，便于操作人员将测试完成后的主板取出的效果。
Description
技术领域
本申请涉及数码主板测试的技术领域，特别是涉及一种摄像头主板测试系统及测试方法。
背景技术
摄像头主板是摄像头的核心控制部件之一，也是摄像功能的主要实现部分。主板包含了一些重要的硬件和芯片，如图像传感器、信号处理器、存储芯片、网口芯片等。它是通过控制CPU和内存等来实现对监控设备的控制。因此，监控主板被广泛应用于各种监控系统中，这些硬件和芯片通过复杂的电路连接，充分发挥着其作用，协同工作，最终将图像、声音等信号通过编码传输到显示屏或存储设备上。新主板被生产出来之后，需要对其进行一系列的测试，以确定主板是否达到合格标准。
如在现有的公开号为CN206557249U的中国专利中，其公开了一种镜头主板测试机，其包括电木架、设置在电木架的一侧的测试板模块、设置在电木架的另一侧的上电转接板和设置在上电转接板的上端的测试合页座，测试合页座上设置有与产品相适配的安装槽，上电转接板与测试板模块相电性连接，测试合页座的底部均匀设置有若干探针，上电转接板的上端的中部设置有与若干探针一一对应的若干电触点，测试合页座通过探针与电触点的接触配合而与上电转接板相电性连接。通过上述现有技术，做测试时，旋转翻盖下压底座，使得卡扣结构扣到卡槽中，令翻盖压紧底座并固定，翻盖中的压块下压产品使产品紧贴着载具，而由于导电柱塞穿过通槽并可以与产品的底部相接触，故而产品再被下压时，产品会下压导电柱塞而使导电柱塞下移，从而使上电针板下移，然后探针跟着上电针板下移并穿过定位针孔而与电触点接触，完成产品与电触点即上电转接板的电性连接，上电转接板和测试板模块同时又是相导通的，故而产品最终与测试板模块电性连接，从而使得测试板模块可以对产品进行功能测试。
然而上述现有技术存在以下技术缺陷：
首先，上述装置在进行测试前将需要测试的产品通过载具定位固定到底座上开设的安装槽中，操作人员利用载具和安装槽以便于对产品进行准确定位，每次只能够对单个产品进行定位固定后测试，以至于测试效率较低；新的主板也即是上述现有技术中的产品通常是在生产线上被生产出来，数量众多且都需要进行合格测试，显然上述装置无法满足适用于高效率产出下对数量众多的新产品进行测试的需求。
其次，摄像头的使用场景多变，新主板在生产出来之后其中最重要的一项测试就是耐受性测试，测试在极端环境温度下主板是否依旧可以正常运行，而上述现有技术中并没有相应的可以改变环境温度的设备，进而无法进行耐受性测试。
基于此，在现有的一种镜头主板测试机的基础之上，为了克服上述的技术缺陷，依然还有可提高的空间。
发明内容
为了可以高效快速对多个需要测试的主板依次进行自动定位固定，并模拟高温环境同时对多个主板进行耐高温测试，且在测试完成后可以快速解除对多个主板的定位固定，便于操作人员将测试完成后的主板取出，本申请提供一种摄像头主板测试系统及测试方法。
第一方面，本申请提供的一种摄像头主板测试系统，采用如下的技术方案：
一种摄像头主板测试系统，包括测试箱以及安装在测试箱内侧壁上的多个加热管，所述测试箱内底面等距设置有若干检测器，所述测试箱外侧壁上等距设置有与若干检测器连接的若干警示灯，所述测试箱上设置有用于对多个待测试品进行快速自动定位的定位固定装置；
所述定位固定装置包括限位滑动设于测试箱侧壁上的凸形侧板，所述测试箱侧壁上开设有与内腔连通供凸形侧板安装的凸形滑槽，所述凸形侧板朝向测试箱内腔的一侧固定设置有圆形托杆，所述圆形托杆上转动套设有拱形托柱，所述圆形托杆上位于拱形托柱两端固定套设有两限位环，所述凸形侧板远离圆形托杆的一侧一体安装有矩形钮块，所述测试箱上与凸形滑槽相邻一侧的外侧壁上开设有与内腔连通的出料口，所述测试箱外侧壁上位于出料口下方固定卡设有引导滑板。
优选的，所述定位固定装置还包括长形盖板、L形把块、限位机构以及放置机构，所述长形盖板通过连接隔块固定安装在拱形托柱上，所述L形把块固定设于长形盖板上侧，所述限位机构设于凸形滑槽和凸形侧板上，所述放置机构设于拱形托柱下侧。
优选的，所述限位机构包括防脱抵块、限位方杆以及驱动拨杆，所述防脱抵块固定卡设在凸形滑槽上，且防脱抵块下端与凸形侧板上端间歇抵触，所述限位方杆插设滑动设于凸形侧板内，所述凸形侧板上开设有供限位方杆插设安装的插设滑孔，所述测试箱位于凸形滑槽处开设有与限位方杆适配的插设限位槽，所述驱动拨杆滑动设于矩形钮块上，并穿透凸形侧板与限位方杆固定连接，所述矩形钮块和凸形侧板上均开设有与插设滑孔连通供驱动拨杆滑动安装的矩形滑口。
优选的，所述放置机构包括外矩形凹槽杆、内矩形凹槽杆、摄像主板、长形侧板、定位组件以及固定组件，所述外矩形凹槽杆和内矩形凹槽杆对称固定安装在拱形托柱下侧，若干所述摄像主板放置在外矩形凹槽杆和内矩形凹槽杆之间，所述长形侧板固定设置在内矩形凹槽杆远离外矩形凹槽杆的一侧，所述定位组件设于长形侧板上，所述固定组件设于外矩形凹槽杆上。
优选的，所述定位组件包括首位柱、首位侧杆、中连杆、半柱杆、正柱杆、限位侧杆、正柱侧杆、联动器以及释放器，所述首位柱通过半位固环转动设于长形侧板上，所述首位侧杆固定安装在首位柱外侧壁上，所述内矩形凹槽杆上开设有供首位侧杆放置安装的首位凹口，若干所述中连杆通过限位固环等距转动安装在长形侧板上；
若干所述半柱杆和正柱杆分别固定设置在中连杆两端，若干所述限位侧杆和正柱侧杆分别固定设于半柱杆和正柱杆外侧壁上，所述内矩形凹槽杆上等距开设有若干供限位侧杆和正柱侧杆放置安装的限位凹口和推抵凹口，若干所述联动器等距设于长形侧板上，所述释放器设于长形侧板下侧。
优选的，所述联动器包括驱动扭簧、方形联杆、限制环、复位弹簧、抵推框杆、吸附吸铁块一、相斥吸铁块一、吸附吸铁块二以及相斥吸铁块二，所述驱动扭簧套设在中连杆上，若干所述方形联杆通过中渡方块等距滑动设于长形侧板上，所述限制环固定套设在方形联杆上，所述复位弹簧套设在方形联杆上，一端与限制环固定连接，另一端与中渡方块固定连接；
若干所述抵推框杆限位滑动设于首位柱和首位侧杆以及正柱杆和正柱侧杆中，且一端限位套设在方形联杆的一端，所述首位柱和首位侧杆以及正柱杆和正柱侧杆上均开设有供抵推框杆滑动安装的限位滑槽，所述方形联杆上开设有供抵推框杆限位套设的套设凹槽，所述吸附吸铁块一和相斥吸铁块一均固定安装在方形联杆远离抵推框杆的一端，所述吸附吸铁块二和相斥吸铁块二均固定设于半柱杆内侧壁中。
优选的，所述释放器包括驱动圆杆、传动圆柱、传动凹槽轮、驱动凹槽轮以及传动带，所述驱动圆杆通过两弧形托块转动安装在长形侧板下侧，所述传动圆柱固定设于首位柱的一端，所述传动凹槽轮和驱动凹槽轮分别固定套设在传动圆柱和驱动圆杆上，所述传动带套设在传动凹槽轮和驱动凹槽轮上。
优选的，所述固定组件包括长形杆、同步圆杆、U形连杆、橡胶抵杆、上拉弹簧以及推抵器，所述长形杆通过两L侧块固定安装在外矩形凹槽杆上侧，所述同步圆杆通过弧形长座转动设置于长形杆下侧，所述U形连杆贯穿对称滑动插设于长形杆上，所述长形杆上对称开设有供U形连杆插设安装的连杆插孔，所述橡胶抵杆固定安装在两U形连杆下端，所述外矩形凹槽杆上开设有与橡胶抵杆适配的长形抵触口，所述上拉弹簧设于长形杆和U形连杆之间，一端与长形杆固定连接，另一端与U形连杆固定连接，所述推抵器设于外矩形凹槽杆和同步圆杆上。
优选的，所述推抵器包括推抵驱动块、驱动螺杆、传动圆杆、弧形齿条以及传动齿轮，所述推抵驱动块对称限位滑动设于长形杆和橡胶抵杆之间，所述长形杆下侧对称开设有供推抵驱动块滑动安装的长形滑槽，所述橡胶抵杆上侧对称开设有供推抵驱动块滑动安装的倾斜滑槽，两所述驱动螺杆的一端分别固定安装在同步圆杆的两端，另一端分别贯穿两推抵驱动块向外伸出，所述推抵驱动块上贯穿螺纹开设有与驱动螺杆适配的螺纹穿孔，所述传动圆杆通过稳固底座转动设于外矩形凹槽杆上侧，并与远离拱形托柱一侧的驱动螺杆伸出端固定连接，所述弧形齿条固定设于测试箱内侧壁上，所述传动齿轮固定套设在传动圆杆上，并与弧形齿条间歇啮合。
第二方面，本申请还公开了一种摄像头主板测试方法，该测试方法包括以下步骤：
第一步，测品放入：将多个摄像主板依次放入处于倾斜状态下的外矩形凹槽杆和内矩形凹槽杆之间，在若干个等距设置在长形侧板上联动器的作用下，依次自动对放入的摄像主板进行位置限定；
第二步，测品固定：随后向测试箱内腔方向按压长形盖板直至外矩形凹槽杆和内矩形凹槽杆进入测试箱内腔并处于水平状态，在转动进入测试箱内腔的过程中，推抵器运作驱动橡胶抵杆进入长形抵触口抵触在摄像主板上侧，以自动对多个摄像主板进行固定；
第三步，连接测试：拨动驱动拨杆驱使限位方杆脱离插设限位槽，同时向下按压矩形钮块和长形盖板，使得摄像主板与检测器连接，启动加热管对测试箱内部进行加热，模拟摄像头在高温环境中使用，通过观察警示灯情况以便于操作人员直观快速的了解到各个摄像主板的运作情况；
第四步，快速下料：测试完成后驱动定位固定装置上升复位，并转动长形盖板驱使放置机构呈先前的倾斜状态，固定组件在复位的过程中解除对摄像主板的固定，最后通过释放器解除对摄像主板的限位，摄像主板便依次通过出料口滑出，操作人员根据滑出的顺序将不合格的摄像主板拿走即可。
综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：
首位侧杆在初始状态下是处于首位凹口中的，当将第一块摄像主板放入到外矩形凹槽杆和内矩形凹槽杆之间的卡槽内时，由于外矩形凹槽杆和内矩形凹槽杆此时为倾斜状态，故而摄像主板向下滑动至首位凹口处时，会抵触安装在首位侧杆中的抵推框杆，以驱动方形联杆向半柱杆外滑动，吸附吸铁块一、相斥吸铁块一、吸附吸铁块二以及相斥吸铁块二不再相互作用，限位侧杆和正柱侧杆在驱动扭簧的作用下向限位凹口和推抵凹口中转动，限位侧杆对摄像主板进行限位，正柱侧杆中的抵推框杆则会与下一块滑入的摄像主板进行抵触反应，以对下一位置处的限位侧杆和正柱侧杆进行驱动，以此类推便可以实现对多个摄像主板进行自动定位的效果。
待所有摄像主板放置好后，按压长形盖板向测试箱内腔方向转动外矩形凹槽杆和内矩形凹槽杆进入测试箱内腔中，直至外矩形凹槽杆和内矩形凹槽杆的一端与限位环抵触处于平行状态，在此过程中传动齿轮会与弧形齿条接触啮合，从而通过传动圆杆驱使两驱动螺杆转动，促使推抵驱动块向长形杆中部方向滑动，推抵驱动块会滑出倾斜滑槽，进而驱动橡胶抵杆向下滑动进入长形抵触口抵触盖压在摄像主板上，达到同步对多个摄像主板进行固定的效果。
测试完成后，外矩形凹槽杆和内矩形凹槽杆在向测试箱外转动复位的过程中，传动齿轮又会与弧形齿条接触啮合，以驱使两驱动螺杆反向复位转动以驱动两推抵驱动块复位，橡胶抵杆在上拉弹簧的作用下上升复位，进而解除对摄像主板的固定；最后转动驱动圆杆通过传动圆柱驱使首位柱转动，也就是驱动首位侧杆向首位凹口外转动脱离首位凹口，使得安装在首位柱和首位侧杆中的抵推框杆不再与摄像主板抵触，从而在复位弹簧的作用下方形联杆复位，吸附吸铁块一、相斥吸铁块一、吸附吸铁块二以及相斥吸铁块二再次相互作用，以驱使半柱杆和正柱杆转动，限位侧杆和正柱侧杆脱离限位凹口和推抵凹口，以此逐步解除对各个摄像主板的限位，摄像主板在倾斜作用下通过出料口便可滑出测试箱，以便于操作人员快速将测试完成的摄像主板取出。
附图说明
图1是本申请整体示意图。
图2是定位固定装置部分部件剖视图。
图3是定位固定装置部分部件示意图。
图4是限位机构剖视图一。
图5是限位机构剖视图二。
图6是放置机构示意图。
图7是放置机构部分部件示意图。
图8是定位组件示意图。
图9是联动器剖视爆炸图一。
图10是联动器部分部件示意图。
图11是联动器剖视爆炸图二。
图12是释放器示意图。
图13是固定组件示意图。
图14是固定组件爆炸图。
图15是推抵器爆炸图。
图16是弧形齿条示意图。
图17是本申请测试方法流程图。
附图标记说明：1、测试箱；11、加热管；12、检测器；13、警示灯；2、定位固定装置；21、凸形侧板；101、凸形滑槽；22、圆形托杆；23、拱形托柱；24、限位环；25、矩形钮块；102、出料口；26、引导滑板；27、长形盖板；28、L形把块；3、限位机构；4、放置机构；29、连接隔块；31、防脱抵块；32、限位方杆；33、驱动拨杆；211、插设滑孔；103、插设限位槽；251、矩形滑口；41、外矩形凹槽杆；42、内矩形凹槽杆；43、摄像主板；44、长形侧板；5、定位组件；6、固定组件；51、首位柱；52、首位侧杆；53、中连杆；54、半柱杆；55、正柱杆；56、限位侧杆；57、正柱侧杆；7、联动器；8、释放器；58、半位固环；421、首位凹口；59、限位固环；422、限位凹口；423、推抵凹口；70、驱动扭簧；71、方形联杆；72、限制环；73、复位弹簧；74、抵推框杆；75、吸附吸铁块一；76、相斥吸铁块一；77、吸附吸铁块二；78、相斥吸铁块二；79、中渡方块；521、限位滑槽；711、套设凹槽；81、驱动圆杆；82、传动圆柱；83、传动凹槽轮；84、驱动凹槽轮；85、传动带；86、弧形托块；61、长形杆；62、同步圆杆；63、U形连杆；64、橡胶抵杆；65、上拉弹簧；9、推抵器；66、L侧块；67、弧形长座；611、连杆插孔；411、长形抵触口；91、推抵驱动块；92、驱动螺杆；93、传动圆杆；94、弧形齿条；95、传动齿轮；612、长形滑槽；641、倾斜滑槽；911、螺纹穿孔；96、稳固底座。
具体实施方式
以下结合附图1-图17对本申请作进一步详细说明。
本申请实施例公开一种摄像头主板测试系统及测试方法，可以高效快速对多个需要测试的主板依次进行自动定位固定，并模拟高温环境同时对多个主板进行耐高温测试，且在测试完成后可以快速解除对多个主板的定位固定，便于操作人员将测试完成后的主板取出；第一方面，本申请提供一种摄像头主板测试系统，包括测试箱1以及安装在测试箱1内侧壁上的多个加热管11，本实施例优选为测试箱1内底面等距设置有四个检测器12，测试箱1外侧壁上等距设置有与四个检测器12连接的四个警示灯13，待测品与检测器12连接后可以通过检测器12测试待测品实时的运作情况，并通过警示灯13反应，在测试的过程中，操作人员通过观察警示灯13的闪烁情况便可以直观快速的了解到对应此位置处的待测品运行是否正常，是否达到合格标准；测试箱1上设置有用于对多个待测试品进行快速自动定位的定位固定装置2。操作人员可以一次向定位固定装置2放入多个待测品，定位固定装置2可以依次自动对各个待测品进行定位，且同时能够对定位后的多个待测品进一步固定，以确保待测品在进入测试箱1内可以与检测器12准确顺利的快速连接。
参照图1至图3所示，定位固定装置2包括限位滑动设于测试箱1侧壁上的凸形侧板21，测试箱1侧壁上开设有与内腔连通供凸形侧板21安装的凸形滑槽101，凸形侧板21朝向测试箱1内腔的一侧固定设置有圆形托杆22，圆形托杆22上转动套设有拱形托柱23，需要说明的是圆形托杆22与拱形托柱23之间具有阻尼，驱动拱形托柱23转动时及时拱形托柱23上安装有其他部件，拱形托柱23也可以停留在任意位置；圆形托杆22上位于拱形托柱23两端固定套设有两限位环24，两限位环24对拱形托柱23的位置进行限制，使得拱形托柱23只能够在两限位环24之间转动；凸形侧板21远离圆形托杆22的一侧一体安装有矩形钮块25，推动矩形钮块25可以驱动拱形托柱23在测试箱1内腔中垂直向上或向下滑动；测试箱1上与凸形滑槽101相邻一侧的外侧壁上开设有与内腔连通的出料口102，测试箱1外侧壁上位于出料口102下方固定卡设有引导滑板26。
回看图1所示，具体的，定位固定装置2还包括长形盖板27、L形把块28、限位机构3以及放置机构4；长形盖板27通过连接隔块29固定安装在拱形托柱23上，L形把块28固定设于长形盖板27上侧，驱动L形把块28即通过长形盖板27可以驱动拱形托柱23转动；限位机构3设于凸形滑槽101和凸形侧板21上，用于对凸形侧板21进行限位以及位置锁定；放置机构4设于拱形托柱23下侧，用于放置待测品并自动对放入的待测品进行定位限制。
参照图4和图5所示，为了可以驱动拱形托柱23上下滑动的同时可以对拱形托柱23的位置进行锁定，限位机构3包括防脱抵块31、限位方杆32以及驱动拨杆33；防脱抵块31固定卡设在凸形滑槽101上，且防脱抵块31下端与凸形侧板21上端间歇抵触，防脱抵块31可以防止凸形侧板21脱离凸形滑槽101；限位方杆32插设滑动设于凸形侧板21内，凸形侧板21上开设有供限位方杆32插设安装的插设滑孔211，测试箱1位于凸形滑槽101处开设有与限位方杆32适配的插设限位槽103，当凸形侧板21滑动至一定位置处，限位方杆32可以插入到插设限位槽103中时，凸形侧板21便无法在滑动，也即对凸形侧板21起到锁定的目的。
驱动拨杆33滑动设于矩形钮块25上，并穿透凸形侧板21与限位方杆32固定连接，矩形钮块25和凸形侧板21上均开设有与插设滑孔211连通供驱动拨杆33滑动安装的矩形滑口251。左右拨动驱动拨杆33可以驱使限位方杆32插入或脱离插设限位槽103，上下推动矩形钮块25便可以对凸形侧板21进行驱动，也就是可以驱动拱形托柱23在测试箱1内腔中上下滑动。
参照图6和图7所示，由于需要对多个待测试产品进行放置，放置机构4包括外矩形凹槽杆41、内矩形凹槽杆42、摄像主板43、长形侧板44、定位组件5以及固定组件6；外矩形凹槽杆41和内矩形凹槽杆42对称固定安装在拱形托柱23下侧，准确的说是外矩形凹槽杆41和内矩形凹槽杆42的一端对称固定安装在拱形托柱23下侧，且外矩形凹槽杆41和内矩形凹槽杆42与长形盖板27相互平行；本实施例优选为三个摄像主板43(也就是上面所说的待测品)放置在外矩形凹槽杆41和内矩形凹槽杆42之间，长形侧板44固定设置在内矩形凹槽杆42远离外矩形凹槽杆41的一侧，定位组件5设于长形侧板44上，用于自动对放置在外矩形凹槽杆41和内矩形凹槽杆42之间的摄像主板43进行分隔定位；固定组件6设于外矩形凹槽杆41上，对放入的各个摄像主板43定位完成后，再进一步同时对多个摄像主板43进行固定，确保每个摄像主板43可以顺利与检测器12连接。
首先将需要测试的摄像主板43依次放入到外矩形凹槽杆41和内矩形凹槽杆42之间，处于状态下外矩形凹槽杆41和内矩形凹槽杆42处于测试箱1外呈倾斜状态，从而摄像主板43会依次向下滑动，需要说明的是外矩形凹槽杆41和内矩形凹槽杆42之间最多可以放入四个需要测试的摄像主板43，也即是本装置一次可以对四个摄像主板43进行自动定位固定后测试；每放入一个摄像主板43定位组件5都会自动进行反应并使得此块摄像主板43与后续放入的摄像主板43之间分隔有一定距离，依次对每个摄像主板43进行分隔定位；自动定位完成后向测试箱1内腔方向按动长形盖板27驱使外矩形凹槽杆41和内矩形凹槽杆42向测试箱1内腔转动以驱动固定组件6运作使得每个摄像主板43都会被进一步固定，确保各个摄像主板43可以顺利的与对应的检测器12连接。
当长形盖板27完全盖合在测试箱1开口处时，说明此时摄像主板43已经与检测器12连接完成，启动加热管11运作使得测试箱1内腔升温，模拟摄像头在户外高温环境中作业，而检测器12则实时对摄像主板43进行监控，检测高温环境下摄像主板43是否可以正常运作，当有摄像主板43运作异常时便会通过警示灯13显示出来，操作人员便可以直观快速的了解到是哪个摄像主板43异常，在测试完成出料时将异常的摄像主板43剔除即可。
参照图8所示，考虑到需要对操作人员放入的待测品也即是各个摄像主板43进行自动定位，定位组件5包括首位柱51、首位侧杆52、中连杆53、半柱杆54、正柱杆55、限位侧杆56、正柱侧杆57、联动器7以及释放器8；首位柱51通过半位固环58转动设于长形侧板44上，首位侧杆52固定安装在首位柱51外侧壁上，内矩形凹槽杆42上开设有供首位侧杆52放置安装的首位凹口421，首位柱51与半位固环58之间具有阻尼，初始状态下首位侧杆52处于首位凹口421中；本实施例中优选为四个中连杆53通过限位固环59等距转动安装在长形侧板44上。
本实施例中优选为四个半柱杆54和三个正柱杆55分别固定设置在中连杆53两端，其中有一个中连杆53的一端没有安装正柱杆55，也即是距离首位柱51最远的中连杆53的一端没有安装正柱杆55，只安装了一个半柱杆54；同样的四个限位侧杆56和三个正柱侧杆57分别固定设于四个半柱杆54和三个正柱杆55外侧壁上，内矩形凹槽杆42上等距开设有供限位侧杆56和正柱侧杆57放置安装的限位凹口422和推抵凹口423，由于限位侧杆56的数量为四个，而正柱侧杆57的数量为三个，故而有四个限位凹口422和三个推抵凹口423；优选为四个联动器7等距设于长形侧板44上，需要说明的是第一个联动器7设置在首位柱51和与其相近的半柱杆54之间，而后续三个联动器7则依次设置在不同的正柱杆55和半柱杆54之间；释放器8设于长形侧板44下侧，用于快速解除对摄像主板43的定位限制，便于操作人员快速将测试完成后的摄像主板43从测试箱1中取出。
第一个放入的摄像主板43会下滑动到首位柱51处，此处的联动器7可以对摄像主板43自动进行定位限制，后续依次放入的摄像主板43滑动到对应位置后，此位置处的联动器7便同样的可以自动对摄像主板43进行定位限制，由于联动器7的数量为四个，进而单次最多可以向外矩形凹槽杆41和内矩形凹槽杆42之间放入四块需要测试的摄像主板43。当进入测试箱1内完成测试后，通过释放器8可以快速解除对摄像主板43的定位限制，从而便于操作人员将测试完成的摄像主板43从测试箱1中取出。
参照图9至图11所示，为本实施例中联动器7的结构示意，联动器7包括驱动扭簧70、方形联杆71、限制环72、复位弹簧73、抵推框杆74、吸附吸铁块一75、相斥吸铁块一76、吸附吸铁块二77以及相斥吸铁块二78；驱动扭簧70套设在中连杆53上，驱动扭簧70始终具有驱动中连杆53向内矩形凹槽杆42方向转动的驱动力，也即在没有其他外力作用下，限位侧杆56和正柱侧杆57始终处于限位凹口422和推抵凹口423中；本实施例优选为四个方形联杆71通过中渡方块79等距滑动设于长形侧板44上，限制环72固定套设在方形联杆71上，复位弹簧73套设在方形联杆71上，一端与限制环72固定连接，另一端与中渡方块79固定连接；复位弹簧73始终具有驱动方形联杆71向半柱杆54方向推动的驱动力。
本实施例优选为四个抵推框杆74限位滑动设于首位柱51和首位侧杆52以及正柱杆55和正柱侧杆57中，且一端限位套设在方形联杆71的一端，首位柱51和首位侧杆52以及正柱杆55和正柱侧杆57上均开设有供抵推框杆74滑动安装的限位滑槽521，方形联杆71上开设有供抵推框杆74限位套设的套设凹槽711，正柱杆55和正柱侧杆57有三对，且正柱杆55和正柱侧杆57之间为固定连接，每个正柱杆55和正柱侧杆57为一组，即有三组，而首位柱51和首位侧杆52为一组，共四组，四个抵推框杆74分别限位滑动安装在这四组中；方形联杆71是无法转动的，但抵推框杆74是限位套设在方形联杆71的一端，故而当首位柱51和首位侧杆52或者是正柱杆55和正柱侧杆57需要转动时，抵推框杆74可以跟随同步转动的同时影响抵推框杆74受力时可以驱动方形联杆71滑动。
吸附吸铁块一75和相斥吸铁块一76均固定安装在方形联杆71远离抵推框杆74的一端，吸附吸铁块二77和相斥吸铁块二78均固定设于半柱杆54内侧壁中，需要说明的是，吸附吸铁块一75和吸附吸铁块二77之间为相吸设置，而相斥吸铁块一76和相斥吸铁块二78之间为相斥设置，且相吸力和相斥力在同步运作时大于驱动扭簧70的力，也即当吸附吸铁块一75和吸附吸铁块二77相互吸附贴合时，此时限位侧杆56、正柱侧杆57竖直和内矩形凹槽杆42呈直角状态，也就是限位侧杆56、正柱侧杆57此时脱离限位凹口422和推抵凹口423。
当抵推框杆74没有与其他部件受力抵触时，在复位弹簧73的作用下安装有吸附吸铁块一75和相斥吸铁块一76一端的方形联杆71是进入到半柱杆54内的，且由于吸附吸铁块一75和相斥吸铁块一76以及吸附吸铁块二77和相斥吸铁块二78之间的安装位置关系，方形联杆71在进入时，相斥吸铁块一76和相斥吸铁块二78相排斥，而吸附吸铁块一75和吸附吸铁块二77相互吸引，导致会驱动半柱杆54向远离限位凹口422和推抵凹口423方向转动，由于半柱杆54、中连杆53和正柱杆55之间为固定连接，进而中连杆53带动正柱杆55同步转动，限位侧杆56和正柱侧杆57脱离限位凹口422和推抵凹口423向外转动，而一旦当抵推框杆74受力时，也即摄像主板43滑动至与抵推框杆74抵触时，摄像主板43自身的重力推动抵推框杆74滑动，进而会驱动方形联杆71滑动，也即是方形联杆71安装有吸附吸铁块一75和相斥吸铁块一76的一端向半柱杆54外滑动，使得吸附吸铁块一75和相斥吸铁块一76和吸附吸铁块二77和相斥吸铁块二78不再相互作用，此刻在驱动扭簧70的作用下半柱杆54、中连杆53和正柱杆55向内矩形凹槽杆42方向转动，限位侧杆56和正柱侧杆57转动至限位凹口422和推抵凹口423中，以对下一块放入的摄像主板43进行定位限制，每放入一块摄像主板43都会自动触发上述操作，进而实现自动对多个摄像主板43进行定位限制的效果。
参照图12所示，为了可以快速解除对各个摄像主板43的定位限制，便于操作人员可以快速的将测试完成的摄像主板43取出，释放器8包括驱动圆杆81、传动圆柱82、传动凹槽轮83、驱动凹槽轮84以及传动带85；驱动圆杆81通过两弧形托块86转动安装在长形侧板44下侧，传动圆柱82固定设于首位柱51的一端，传动凹槽轮83和驱动凹槽轮84分别固定套设在传动圆柱82和驱动圆杆81上，传动带85套设在传动凹槽轮83和驱动凹槽轮84上。当摄像主板43进入测试箱1内与检测器12连接完成测试将外矩形凹槽杆41和内矩形凹槽杆42向测试箱1外转动至初始倾斜状态后，通过转动驱动圆杆81驱使首位柱51向远离内矩形凹槽杆42方向转动，也即是驱使首位侧杆52脱离首位凹口421中，使得安装在首位柱51和首位侧杆52中的抵推框杆74不再与摄像主板43抵触，在复位弹簧73的作用下方形联杆71复位向半柱杆54方向滑动，进而产生连锁反应使得后面的限位侧杆56和正柱侧杆57依次向限位凹口422和推抵凹口423外转动，使得摄像主板43不再受到抵触限制通过出料口102滑出，以便于操作人员将测试完成后的摄像主板43取出。
参照图13和图14所示，由于需要在摄像主板43进入测试箱1内腔与检测器12连接前同步自动对摄像主板43进行固定，确保摄像主板43与检测器12能够顺利连接测试，固定组件6包括长形杆61、同步圆杆62、U形连杆63、橡胶抵杆64、上拉弹簧65以及推抵器9；长形杆61通过两L侧块66固定安装在外矩形凹槽杆41上侧，同步圆杆62通过弧形长座67转动设置于长形杆61下侧，U形连杆63贯穿对称滑动插设于长形杆61上，长形杆61上对称开设有供U形连杆63插设安装的连杆插孔611，橡胶抵杆64固定安装在两U形连杆63下端，外矩形凹槽杆41上开设有与橡胶抵杆64适配的长形抵触口411，当橡胶抵杆64受力向下滑动进入长形抵触口411中时，可以盖压在摄像主板43上侧。
上拉弹簧65设于长形杆61和U形连杆63之间，一端与长形杆61固定连接，另一端与U形连杆63固定连接，上拉弹簧65始终具有驱动橡胶抵杆64向上也即向长形杆61方向滑动的驱动力；推抵器9设于外矩形凹槽杆41和同步圆杆62上，用于与转动的外矩形凹槽杆41配合对橡胶抵杆64进行驱动。
参照图15和图16所示，为了可以在驱动外矩形凹槽杆41和内矩形凹槽杆42进行转动时，对橡胶抵杆64进行驱动，推抵器9包括推抵驱动块91、驱动螺杆92、传动圆杆93、弧形齿条94以及传动齿轮95；推抵驱动块91对称限位滑动设于长形杆61和橡胶抵杆64之间，需要说明的是推抵驱动块91的上端为平面设置，下端为倾斜导面设置；长形杆61下侧对称开设有供推抵驱动块91滑动安装的长形滑槽612，橡胶抵杆64上侧对称开设有供推抵驱动块91滑动安装的倾斜滑槽641，当推抵驱动块91受力向长形杆61中心方向滑动时，在倾斜滑槽641的作用下推抵驱动块91会滑出倾斜滑槽641，而由于推抵驱动块91下侧为倾斜导面设置，从而可以与橡胶抵杆64上倾斜滑槽641配合以驱动橡胶抵杆64向下滑动。
两驱动螺杆92的一端分别固定安装在同步圆杆62的两端，另一端分别贯穿两推抵驱动块91向外伸出，推抵驱动块91上贯穿螺纹开设有与驱动螺杆92适配的螺纹穿孔911，传动圆杆93通过稳固底座96转动设于外矩形凹槽杆41上侧，并与远离拱形托柱23一侧的驱动螺杆92伸出端固定连接，弧形齿条94固定设于测试箱1内侧壁上，传动齿轮95固定套设在传动圆杆93上，并与弧形齿条94间歇啮合。当外矩形凹槽杆41受力向测试箱1内腔转动时，传动齿轮95会与弧形齿条94啮合从而驱动两驱动螺杆92同步转动，在与推抵驱动块91上开设的螺纹穿孔911配合下可以驱动推抵驱动块91向长形杆61中心方向滑动，进而驱使橡胶抵杆64向下滑动进入长形抵触口411抵触盖合在摄像主板43上侧以摄像主板43进一步固定。直到外矩形凹槽杆41和内矩形凹槽杆42与限位环24抵触，此时外矩形凹槽杆41和内矩形凹槽杆42处于平行状态。
随后拨动驱动拨杆33解除对凸形侧板21的锁定，同时向下按压矩形钮块25和长形盖板27，促使各个摄像主板43与对应的检测器12连接进行高温环境下测试，测试的过程中如遇运行异常的摄像主板43，对应的警示灯13会闪烁，操作人员便会了解到是处于哪个位置处的摄像主板43异常不合格，待测试完成后向上推动矩形钮块25并向测试箱1外转动外矩形凹槽杆41和内矩形凹槽杆42复位，外矩形凹槽杆41和内矩形凹槽杆42回到最初倾斜状态，外矩形凹槽杆41受力复位转动至倾斜时传动齿轮95再次与弧形齿条94啮合，以驱动两推抵驱动块91复位，橡胶抵杆64在上拉弹簧65的作用下向上滑动复位以解除对摄像主板43的固定；最后转动驱动圆杆81驱使首位柱51转动，使得摄像主板43不再受到抵触限制，摄像主板43便可以依次通过出料口102滑出，从而便于操作人员将测试完成的摄像主板43取出，同时根据观察到的警示灯13闪烁情况对应的将异常的摄像主板43剔除即可。
参照图17所示，另一方面，本申请还公开了一种摄像头主板测试方法，该测试方法如下：
第一步，测品放入：将多个摄像主板43依次放入处于倾斜状态下的外矩形凹槽杆41和内矩形凹槽杆42之间，在若干个等距设置在长形侧板44上联动器7的作用下，依次自动对放入的摄像主板43进行位置限定；
第二步，测品固定：随后向测试箱1内腔方向按压长形盖板27直至外矩形凹槽杆41和内矩形凹槽杆42进入测试箱1内腔并处于水平状态，在转动进入测试箱1内腔的过程中，推抵器9运作驱动橡胶抵杆64进入长形抵触口411抵触在摄像主板43上侧，以自动对多个摄像主板43进行固定；
第三步，连接测试：拨动驱动拨杆33驱使限位方杆32脱离插设限位槽103，同时向下按压矩形钮块25和长形盖板27，使得摄像主板43与检测器12连接，启动加热管11对测试箱1内部进行加热，模拟摄像头在高温环境中使用，通过观察警示灯13情况以便于操作人员直观快速的了解到各个摄像主板43的运作情况；
第四步，快速下料：测试完成后驱动定位固定装置2上升复位，并转动长形盖板27驱使放置机构4呈先前的倾斜状态，固定组件6在复位的过程中解除对摄像主板43的固定，最后通过释放器8解除对摄像主板43的限位，摄像主板43便依次通过出料口102滑出，操作人员根据滑出的顺序将不合格的摄像主板43拿走即可。
本具体实施方式的实施例均为本发明的较佳实施例，并非依此限制本发明的保护范围，故：凡依本发明的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种摄像头主板测试系统，包括测试箱(1)以及安装在测试箱(1)内侧壁上的多个加热管(11)，所述测试箱(1)内底面等距设置有若干检测器(12)，所述测试箱(1)外侧壁上等距设置有与若干检测器(12)连接的若干警示灯(13)，其特征在于：所述测试箱(1)上设置有用于对多个待测试品进行快速自动定位的定位固定装置(2)；所述定位固定装置(2)包括限位滑动设于测试箱(1)侧壁上的凸形侧板(21)，所述测试箱(1)侧壁上开设有与内腔连通供凸形侧板(21)安装的凸形滑槽(101)，所述凸形侧板(21)朝向测试箱(1)内腔的一侧固定设置有圆形托杆(22)，所述圆形托杆(22)上转动套设有拱形托柱(23)，所述圆形托杆(22)上位于拱形托柱(23)两端固定套设有两限位环(24)，所述凸形侧板(21)远离圆形托杆(22)的一侧一体安装有矩形钮块(25)，所述测试箱(1)上与凸形滑槽(101)相邻一侧的外侧壁上开设有与内腔连通的出料口(102)，所述测试箱(1)外侧壁上位于出料口(102)下方固定卡设有引导滑板(26)。
2.根据权利要求1所述的一种摄像头主板测试系统，其特征在于：所述定位固定装置(2)还包括长形盖板(27)、L形把块(28)、限位机构(3)以及放置机构(4)，所述长形盖板(27)通过连接隔块(29)固定安装在拱形托柱(23)上，所述L形把块(28)固定设于长形盖板(27)上侧，所述限位机构(3)设于凸形滑槽(101)和凸形侧板(21)上，所述放置机构(4)设于拱形托柱(23)下侧。
3.根据权利要求2所述的一种摄像头主板测试系统，其特征在于：所述限位机构(3)包括防脱抵块(31)、限位方杆(32)以及驱动拨杆(33)，所述防脱抵块(31)固定卡设在凸形滑槽(101)上，且防脱抵块(31)下端与凸形侧板(21)上端间歇抵触，所述限位方杆(32)插设滑动设于凸形侧板(21)内，所述凸形侧板(21)上开设有供限位方杆(32)插设安装的插设滑孔(211)，所述测试箱(1)位于凸形滑槽(101)处开设有与限位方杆(32)适配的插设限位槽(103)，所述驱动拨杆(33)滑动设于矩形钮块(25)上，并穿透凸形侧板(21)与限位方杆(32)固定连接，所述矩形钮块(25)和凸形侧板(21)上均开设有与插设滑孔(211)连通供驱动拨杆(33)滑动安装的矩形滑口(251)。
4.根据权利要求2所述的一种摄像头主板测试系统，其特征在于：所述放置机构(4)包括外矩形凹槽杆(41)、内矩形凹槽杆(42)、摄像主板(43)、长形侧板(44)、定位组件(5)以及固定组件(6)，所述外矩形凹槽杆(41)和内矩形凹槽杆(42)对称固定安装在拱形托柱(23)下侧，若干所述摄像主板(43)放置在外矩形凹槽杆(41)和内矩形凹槽杆(42)之间，所述长形侧板(44)固定设置在内矩形凹槽杆(42)远离外矩形凹槽杆(41)的一侧，所述定位组件(5)设于长形侧板(44)上，所述固定组件(6)设于外矩形凹槽杆(41)上。
5.根据权利要求4所述的一种摄像头主板测试系统，其特征在于：所述定位组件(5)包括首位柱(51)、首位侧杆(52)、中连杆(53)、半柱杆(54)、正柱杆(55)、限位侧杆(56)、正柱侧杆(57)、联动器(7)以及释放器(8)，所述首位柱(51)通过半位固环(58)转动设于长形侧板(44)上，所述首位侧杆(52)固定安装在首位柱(51)外侧壁上，所述内矩形凹槽杆(42)上开设有供首位侧杆(52)放置安装的首位凹口(421)，若干所述中连杆(53)通过限位固环(59)等距转动安装在长形侧板(44)上；若干所述半柱杆(54)和正柱杆(55)分别固定设置在中连杆(53)两端，若干所述限位侧杆(56)和正柱侧杆(57)分别固定设于半柱杆(54)和正柱杆(55)外侧壁上，所述内矩形凹槽杆(42)上等距开设有若干供限位侧杆(56)和正柱侧杆(57)放置安装的限位凹口(422)和推抵凹口(423)，若干所述联动器(7)等距设于长形侧板(44)上，所述释放器(8)设于长形侧板(44)下侧。
6.根据权利要求5所述的一种摄像头主板测试系统，其特征在于：所述联动器(7)包括驱动扭簧(70)、方形联杆(71)、限制环(72)、复位弹簧(73)、抵推框杆(74)、吸附吸铁块一(75)、相斥吸铁块一(76)、吸附吸铁块二(77)以及相斥吸铁块二(78)，所述驱动扭簧(70)套设在中连杆(53)上，若干所述方形联杆(71)通过中渡方块(79)等距滑动设于长形侧板(44)上，所述限制环(72)固定套设在方形联杆(71)上，所述复位弹簧(73)套设在方形联杆(71)上，一端与限制环(72)固定连接，另一端与中渡方块(79)固定连接；若干所述抵推框杆(74)限位滑动设于首位柱(51)和首位侧杆(52)以及正柱杆(55)和正柱侧杆(57)中，且一端限位套设在方形联杆(71)的一端，所述首位柱(51)和首位侧杆(52)以及正柱杆(55)和正柱侧杆(57)上均开设有供抵推框杆(74)滑动安装的限位滑槽(521)，所述方形联杆(71)上开设有供抵推框杆(74)限位套设的套设凹槽(711)，所述吸附吸铁块一(75)和相斥吸铁块一(76)均固定安装在方形联杆(71)远离抵推框杆(74)的一端，所述吸附吸铁块二(77)和相斥吸铁块二(78)均固定设于半柱杆(54)内侧壁中。
7.根据权利要求5所述的一种摄像头主板测试系统，其特征在于：所述释放器(8)包括驱动圆杆(81)、传动圆柱(82)、传动凹槽轮(83)、驱动凹槽轮(84)以及传动带(85)，所述驱动圆杆(81)通过两弧形托块(86)转动安装在长形侧板(44)下侧，所述传动圆柱(82)固定设于首位柱(51)的一端，所述传动凹槽轮(83)和驱动凹槽轮(84)分别固定套设在传动圆柱(82)和驱动圆杆(81)上，所述传动带(85)套设在传动凹槽轮(83)和驱动凹槽轮(84)上。
8.根据权利要求4所述的一种摄像头主板测试系统，其特征在于：所述固定组件(6)包括长形杆(61)、同步圆杆(62)、U形连杆(63)、橡胶抵杆(64)、上拉弹簧(65)以及推抵器(9)，所述长形杆(61)通过两L侧块(66)固定安装在外矩形凹槽杆(41)上侧，所述同步圆杆(62)通过弧形长座(67)转动设置于长形杆(61)下侧，所述U形连杆(63)贯穿对称滑动插设于长形杆(61)上，所述长形杆(61)上对称开设有供U形连杆(63)插设安装的连杆插孔(611)，所述橡胶抵杆(64)固定安装在两U形连杆(63)下端，所述外矩形凹槽杆(41)上开设有与橡胶抵杆(64)适配的长形抵触口(411)，所述上拉弹簧(65)设于长形杆(61)和U形连杆(63)之间，一端与长形杆(61)固定连接，另一端与U形连杆(63)固定连接，所述推抵器(9)设于外矩形凹槽杆(41)和同步圆杆(62)上。
9.根据权利要求8所述的一种摄像头主板测试系统，其特征在于：所述推抵器(9)包括推抵驱动块(91)、驱动螺杆(92)、传动圆杆(93)、弧形齿条(94)以及传动齿轮(95)，所述推抵驱动块(91)对称限位滑动设于长形杆(61)和橡胶抵杆(64)之间，所述长形杆(61)下侧对称开设有供推抵驱动块(91)滑动安装的长形滑槽(612)，所述橡胶抵杆(64)上侧对称开设有供推抵驱动块(91)滑动安装的倾斜滑槽(641)，两所述驱动螺杆(92)的一端分别固定安装在同步圆杆(62)的两端，另一端分别贯穿两推抵驱动块(91)向外伸出，所述推抵驱动块(91)上贯穿螺纹开设有与驱动螺杆(92)适配的螺纹穿孔(911)，所述传动圆杆(93)通过稳固底座(96)转动设于外矩形凹槽杆(41)上侧，并与远离拱形托柱(23)一侧的驱动螺杆(92)伸出端固定连接，所述弧形齿条(94)固定设于测试箱(1)内侧壁上，所述传动齿轮(95)固定套设在传动圆杆(93)上，并与弧形齿条(94)间歇啮合。
10.一种摄像头主板测试方法，其特征在于：包括权利要求1-9任意一项所述的一种摄像头主板测试系统，测试方法如下：第一步，测品放入：将多个摄像主板(43)依次放入处于倾斜状态下的外矩形凹槽杆(41)和内矩形凹槽杆(42)之间，在若干个等距设置在长形侧板(44)上联动器(7)的作用下，依次自动对放入的摄像主板(43)进行位置限定；第二步，测品固定：随后向测试箱(1)内腔方向按压长形盖板(27)直至外矩形凹槽杆(41)和内矩形凹槽杆(42)进入测试箱(1)内腔并处于水平状态，在转动进入测试箱(1)内腔的过程中，推抵器(9)运作驱动橡胶抵杆(64)进入长形抵触口(411)抵触在摄像主板(43)上侧，以自动对多个摄像主板(43)进行固定；第三步，连接测试：拨动驱动拨杆(33)驱使限位方杆(32)脱离插设限位槽(103)，同时向下按压矩形钮块(25)和长形盖板(27)，使得摄像主板(43)与检测器(12)连接，启动加热管(11)对测试箱(1)内部进行加热，模拟摄像头在高温环境中使用，通过观察警示灯(13)情况以便于操作人员直观快速的了解到各个摄像主板(43)的运作情况；第四步，快速下料：测试完成后驱动定位固定装置(2)上升复位，并转动长形盖板(27)驱使放置机构(4)呈先前的倾斜状态，固定组件(6)在复位的过程中解除对摄像主板(43)的固定，最后通过释放器(8)解除对摄像主板(43)的限位，摄像主板(43)便依次通过出料口(102)滑出，操作人员根据滑出的顺序将不合格的摄像主板(43)拿走即可。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202311354460.XA CN117092494B (zh) | 2023-10-19 | 2023-10-19 | 一种摄像头主板测试系统及测试方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202311354460.XA CN117092494B (zh) | 2023-10-19 | 2023-10-19 | 一种摄像头主板测试系统及测试方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN117092494A true CN117092494A (zh) | 2023-11-21 |
| CN117092494B CN117092494B (zh) | 2024-01-19 |
Family
ID=88780151
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202311354460.XA Active CN117092494B (zh) | 2023-10-19 | 2023-10-19 | 一种摄像头主板测试系统及测试方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN117092494B (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117319641A (zh) * | 2023-11-30 | 2023-12-29 | 深圳市德盟科技股份有限公司 | 一种摄像头模组测试平台及测试方法 |
| CN117741371A (zh) * | 2024-02-19 | 2024-03-22 | 山东华驰变压器股份有限公司 | 一种变压器测试装置及测试方法 |
Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004062818A2 (en) * | 2003-01-10 | 2004-07-29 | Chang-Sik Choi | Automatic board eraser cleaning machine |
| CN204256119U (zh) * | 2014-11-25 | 2015-04-08 | 北京华环电子设备有限公司 | 印刷线路板多功能测试工装 |
| CN206557249U (zh) * | 2017-03-18 | 2017-10-13 | 珠海市科迪电子科技有限公司 | 一种镜头主板测试机 |
| CN110038793A (zh) * | 2019-04-29 | 2019-07-23 | 广州鹭源电子有限公司 | 一种自动检测筛选装置 |
| CN211826352U (zh) * | 2019-12-30 | 2020-10-30 | 深圳佰维存储科技股份有限公司 | Ddr测试装置 |
| CN113200329A (zh) * | 2021-04-28 | 2021-08-03 | 胡炜 | 一种电能线路板加测用工装 |
| CN216449614U (zh) * | 2021-10-12 | 2022-05-06 | 上海蕊恺电子有限公司 | 一种电路板测试盒 |
| CN115575586A (zh) * | 2022-09-19 | 2023-01-06 | 渭南市农产品质量安全检验检测中心 | 一种农产品检测设备 |
| CN115866503A (zh) * | 2022-11-22 | 2023-03-28 | 江西台德智慧科技有限公司 | 一种ai智能产品的音频测试设备 |
-
2023
- 2023-10-19 CN CN202311354460.XA patent/CN117092494B/zh active Active
Patent Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004062818A2 (en) * | 2003-01-10 | 2004-07-29 | Chang-Sik Choi | Automatic board eraser cleaning machine |
| CN204256119U (zh) * | 2014-11-25 | 2015-04-08 | 北京华环电子设备有限公司 | 印刷线路板多功能测试工装 |
| CN206557249U (zh) * | 2017-03-18 | 2017-10-13 | 珠海市科迪电子科技有限公司 | 一种镜头主板测试机 |
| CN110038793A (zh) * | 2019-04-29 | 2019-07-23 | 广州鹭源电子有限公司 | 一种自动检测筛选装置 |
| CN211826352U (zh) * | 2019-12-30 | 2020-10-30 | 深圳佰维存储科技股份有限公司 | Ddr测试装置 |
| CN113200329A (zh) * | 2021-04-28 | 2021-08-03 | 胡炜 | 一种电能线路板加测用工装 |
| CN216449614U (zh) * | 2021-10-12 | 2022-05-06 | 上海蕊恺电子有限公司 | 一种电路板测试盒 |
| CN115575586A (zh) * | 2022-09-19 | 2023-01-06 | 渭南市农产品质量安全检验检测中心 | 一种农产品检测设备 |
| CN115866503A (zh) * | 2022-11-22 | 2023-03-28 | 江西台德智慧科技有限公司 | 一种ai智能产品的音频测试设备 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117319641A (zh) * | 2023-11-30 | 2023-12-29 | 深圳市德盟科技股份有限公司 | 一种摄像头模组测试平台及测试方法 |
| CN117319641B (zh) * | 2023-11-30 | 2024-03-12 | 深圳市德盟科技股份有限公司 | 一种摄像头模组测试平台及测试方法 |
| CN117741371A (zh) * | 2024-02-19 | 2024-03-22 | 山东华驰变压器股份有限公司 | 一种变压器测试装置及测试方法 |
| CN117741371B (zh) * | 2024-02-19 | 2024-04-30 | 山东华驰变压器股份有限公司 | 一种变压器测试装置及测试方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN117092494B (zh) | 2024-01-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN117092494B (zh) | 一种摄像头主板测试系统及测试方法 | |
| CN109807630B (zh) | 一种医疗器械用微动开关自动装配工艺 | |
| CN116007881B (zh) | 一种用于计算机硬件的抗摔检测装置 | |
| CN216411338U (zh) | 高兼容的电路板治具 | |
| CN116539452B (zh) | 一种pcb板分板循环检测装置及检测方法 | |
| CN116242828A (zh) | 一种视频成像辅助装置及成像方法 | |
| CN117405333A (zh) | 一种面向智能网联汽车的终端测试台 | |
| CN216645264U (zh) | 一种大面积可旋转ccd测试机 | |
| CN202533464U (zh) | 一种led显示屏裸板测试工装夹具 | |
| CN105717119B (zh) | 双排线束颜色检测装置 | |
| CN114089728A (zh) | 一种用于控制器电路板的外观检测装置 | |
| WO2019041548A1 (zh) | 一种邮票孔pcb板的检测工具 | |
| CN209264243U (zh) | 一种检测设备 | |
| CN113600511A (zh) | 一种usb线测试机 | |
| CN108742478B (zh) | 一种胶囊内窥镜镜头调焦装置 | |
| KR101936003B1 (ko) | 자동 소켓을 구비한 카메라모듈 검사장치 및 이의 소켓 개폐방법 | |
| CN213302477U (zh) | 光源检测设备 | |
| CN214954494U (zh) | 一种方便拆装的影像投影仪 | |
| CN215073401U (zh) | 一种便捷式拆装的车载lvds通讯模拟器测试平台 | |
| CN220982632U (zh) | 光机的搬运及点亮装置 | |
| CN210112032U (zh) | 一种整机柜测试装置 | |
| CN220289675U (zh) | 一种测试机架 | |
| CN218782397U (zh) | 一种连接器端子检测分析设备 | |
| CN218941185U (zh) | 一种测试平台 | |
| CN212850662U (zh) | 侧键自动检测设备 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |