CN211826352U - Ddr测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种DDR测试装置，该DDR测试装置包括底座、测试面板、测试主板和多组测试组件，测试面板设置于底座的上端面，测试主板位于测试面板与底座之间，多组测试组件并列设置于测试面板中，且分别与测试主板电连接，测试组件包括芯片插座、若干指示灯和若干测试按钮。本实用新型通过在同一测试面板上布置多个测试组件，使得一个操作人员可以同时兼顾多个DDR芯片的测试过程，从而可节约人力和测试时间。除此以外，操作员可直接于测试面板上操作测试按钮，并通过指示灯直观获得测试结果，使得操作过程更为便捷，因此进一步提高了测试效率。

Description

DDR测试装置

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，具体涉及一种DDR测试装置。

背景技术

DDR(Low Power Double Data Rate SDRAM)，是DDR SDRAM的一种，以低功耗和小体积著称，专门用于移动式电子产品。

目前，DDR测试设备一般包括底座、测试组件和屏幕，其中，测试组件设置于底座上，屏幕固定于底座一侧，测试组件包括手机主板、测试按钮和芯片插座，手机主板分别与芯片插座、屏幕和测试按钮电连接，检测时，通过按下不同测试按钮测试芯片的各项功能，并通过屏幕观察测试结果。该DDR测试设备单次只能对一个DDR芯片进行功能测试，因此效率较为低下。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提出一种DDR测试装置，旨在解决现有技术中DDR测试设备单次只能对一个DDR芯片进行功能测试造成的效率低下的问题。

为实现上述目的，本实用新型提出一种DDR测试装置，该DDR测试装置包括底座、测试面板、测试主板和多组测试组件，所述测试面板设置于所述底座的上端面，所述测试主板位于所述测试面板与所述底座之间，多组所述测试组件并列设置于所述测试面板中，且分别与所述测试主板电连接，所述测试组件包括芯片插座、若干指示灯和若干测试按钮。

优选地，所述底座呈阶梯状，具有高低间隔的两个上端面，每个所述上端面上分别设有所述测试面板。

优选地，所述芯片插座、指示灯和测试按钮沿所述底座的两上端面高度渐低的方向依次布置。

优选地，所述测试主板包括与多组所述测试组件一一对应电连接的多个测试区，所述测试组件还包括开关，所述开关用于将所述测试主板上对应的测试区与电源连接。

优选地，每个所述测试组件中所述指示灯的数量为两个，其中一个指示灯在DDR芯片正常上电时点亮，另一指示灯在所述DDR芯片测试完成时点亮。

优选地，每个所述测试组件中所述测试按钮的数量为三个，三个所述测试按钮分别对应连接所述测试区的开机模块、音量增加模块和音量减小模块。

优选地，所述芯片插座包括设置于所述测试面板中的安装座和可开合地设置于所述安装座一侧的压盖，所述安装座设有用于放置DDR芯片的测试槽，所述测试槽的底部设置有多个探针，所述探针与所述测试主板电连接。

优选地，所述压盖的第一端与所述测试面板枢接，与所述第一端相对的第二端与所述测试面板卡接。

优选地，所述压盖的第二端设置有第一凹槽，所述第一凹槽内设有固定轴，所述固定轴上可转动地套设有卡扣件，所述测试面板上对应于所述卡扣件的位置设有第二凹槽，所述第二凹槽内设置有杆体，所述卡扣件可与所述杆体形成卡扣配合以固定所述压盖。

优选地，所述测试面板上还设有与所述测试主板电连接的电源接线端。

本实用新型实施例与现有技术相比，其有益效果在于：通过在同一测试面板上布置多个测试组件，使得一个操作人员可以同时兼顾多个DDR芯片的测试过程，从而可节约人力和测试时间。除此以外，操作员可直接于测试面板上操作测试按钮，并通过指示灯直观获得测试结果，使得操作过程更为便捷，因此进一步提高了测试效率。

附图说明

图1为本实用新型的DDR测试装置在一实施例中的结构示意图；

图2为图1中A区的局部放大图；

图3为本实用新型的DDR测试装置中压盖的结构示意图。

具体实施方式

下面将详细描述本实用新型的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同标号表示相同的元件或具有相同功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制，基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图1所示，本实用新型提出一种DDR测试装置，在一实施方式中，该DDR测试装置包括底座1、测试面板2、测试主板和多组测试组件3，测试面板2设置于底座1的上端面，测试主板位于测试面板2与底座1之间，多组测试组件3并列设置于测试面板2中，且分别与测试主板电连接，测试组件3包括芯片插座31、若干指示灯32和若干测试按钮33。

本实施例中，底座1用于支撑位于其上方的测试面板2，测试面板2与底座1之间可固定连接或可拆卸连接。测试面板2的上端面作为操作面，多组测试组件3并列布置在该测试面板2上，芯片插座31、指示灯32和测试按钮33一一穿设在测试面板2中并从测试面板2的上端面显露。芯片插座31用于安装DDR芯片，芯片插座31、指示灯32和测试按钮33均与测试主板电连接，以实现对DDR芯片的功能测试，具体为：不同的测试按钮33对应与测试主板上不同的功能模块电连接，比如要测试DDR芯片的开关机性能，则测试按钮33对应与测试主板上的开关机模块电连接，以模拟测试DDR芯片安装到手机中时手机的开关机键功能是否正常。当然若干测试按钮33也可以以一个旋钮替代，一个旋钮可对应连接多个功能模块，一个档位对应触发一个功能测试项。指示灯32可用于显示测试进度，比如DDR芯片是否正常上电、是否测试合格。比如当测试组件3上电，其中一个指示灯32亮起；或者，当测试主板判断测试完成，其中一个指示灯32亮起，等等，通过指示灯32的亮灭可提示操作人员测试进程或测试结果，以作出相应的后续反应。

采用本DDR测试装置测试DDR芯片时，首先，将DDR芯片安装到对应的芯片插座31中，给测试面板2(或测试面板2中已安装DDR芯片的测试组件3)上电。若电源给测试主板和芯片插座31上电成功，则其中一个指示灯32点亮。然后按测试要求依次、同时或随机按下一个或多个测试按钮33，以测试DDR芯片的反应，若测试主板判定测试合格，则对应点亮另一指示灯32，或以区别于第一次点亮的颜色点亮同一指示灯32，或以区别于第一次点亮的闪烁频率点亮同一指示灯32；若判定测试不合格，则同理，以另一颜色或闪烁频率点亮同一指示灯32或另一指示灯32。操作人员获得指示灯32显示的测试结果后，后续可对不同芯片进行区分和筛选。

本实施例通过在同一测试面板2上布置多个测试组件3，使得一个操作人员可以同时兼顾多个DDR芯片的测试过程，从而可节约人力和测试时间。除此以外，操作员可直接于测试面板2上操作测试按钮33，并通过指示灯32直观获得测试结果，使得操作过程更为便捷，因此进一步提高了测试效率。

在一较佳实施例中，底座1呈阶梯状，具有高低间隔的两个上端面，每个上端面上分别设有测试面板2。

本实施例中，底座1包括安装板11、支撑板12和设置于支撑板12下方的两支腿13，支撑板12与支腿13之间可拆卸连接，安装板11位于支撑板12上方且与支撑板12通过螺钉连接。测试面板2通过螺钉安装到安装板11上，测试面板2与安装板11之间留设安装测试主板的间隙，测试主板也通过螺钉固定在安装板11上。

本实施例中，底座1包括两安装板11和两支撑板12，两支腿13均为阶梯状结构，并形成高低不同的两个安装面，每个安装面上方从下至上依次为支撑板12、安装板11、主板和测试面板2，其中安装板11的上端面即底座1的上端面。

进行测试时，高度较低的测试面板2靠近操作人员放置，高度较高的测试面板2远离操作人员放置，从人体工程学角度来看，位于远处的测试面板2高度提高更便于操作和观察测试结果，提高操作舒适度。

作为优选，每个测试面板2上并列布置有四组测试组件3，也就是说，本实施例的DDR测试装置可同时检测八个DDR芯片。操作时，操作人员可用左右手同时对两个测试组件3中的DDR芯片进行测试，或交替对两个测试组件3中的DDR芯片进行测试，本实施例旨在充分利用测试时间间隙。此外，操作员可对多个DDR芯片的测试结果进行比对，当多个芯片同时出现测试失败的测试结果时，很大概率是DDR测试装置出现故障，出现这种异常时，操作员可及时发现问题，及时解决。

在一较佳实施例中，芯片插座31、指示灯32和测试按钮33沿底座1的两上端面高度渐低的方向依次布置。

如前所述，进行测试时，高度较低的测试面板2靠近操作人员放置，高度较高的测试面板2远离操作人员放置使得测试操作更为舒适。在此基础上，沿底座1的两上端面高度渐低的方向指的是，沿朝向操作人员的方向。沿该方向依次布置芯片插座31、指示灯32和测试按钮33，即测试按钮33最靠近操作人员，芯片插座31最为远离操作人员，指示灯32位于二者之间。由于芯片插座31在完成DDR芯片安装后，在测试过程中都处于不需要额外动作的状态，测试按钮33则与之相反，处于需要反复动作的状态，指示灯32需要显露于视线范围内，结合此实际情况，本实施例对这三者的位置摆放，既方便就近操作，又避免了手部操作遮挡指示灯32。此外，指示灯32和测试按钮33均呈阵列均匀排列，以呈现简洁整齐的外观。

在一较佳实施例中，每个测试面板2上还设有与测试主板电连接的电源接线端4，用以连接电源和地。

在一较佳实施例中，测试主板包括与多组所述测试组件3一一对应电连接的多个测试区，测试组件3还包括开关34，开关34用于将测试主板上对应的测试区与电源连接。

一个测试区相当于一个手机主板，多个测试区共同构成一个测试主板，每个测试区与一开关34和一测试组件3电连接，每个开关34与电源接线端4电连接，以控制电源与对应的测试区之间的电路通断，从而实现对每个测试区的上下电控制。同一测试面板2上的多个测试组件3，可两两同时完成测试(左右手同时操作)或交替完成测试，以充分利用时间，提高效率。

在一较佳实施例中，每个测试组件3中指示灯32的数量为两个，其中一个指示灯32在DDR芯片正常上电时点亮，另一指示灯32在DDR芯片测试完成时点亮。

同一指示灯32或不同指示灯32可通过显示不同的颜色或不同的闪烁频率以表达不同的指示信号。本实施例中，DDR芯片测试完成包括两种测试结果，测试正常或测试异常，两种测试结果可通过同一指示灯32的不同颜色或不同的闪烁频率进行区分，或者通过两不同的指示灯32以不同颜色或不同的闪烁频率进行区分，本实施例优选不同指示灯32分别表示DDR测试的不同过程(上电和测试完成)，并以同一指示灯32的不同颜色指示DDR芯片测试的测试结果。具体如下：当芯片插座31中的DDR芯片上电成功时，该芯片插座31下方的第一个指示灯32亮起蓝光；当该DDR芯片测试正常通过，第二个指示灯32亮起绿光，当该DDR芯片测试不通过时，第二个指示灯32亮起红光。

除此以外，如图1所示，测试面板2上还设有多个电源指示灯5，电源指示灯5与测试主板电连接，且每个测试区对应连接有一个电源指示灯5，当该测试区接通电源时，则电源指示灯5亮起，比如亮起黄光。

在一较佳实施例中，每个测试组件3中测试按钮33的数量为三个，三个测试按钮33分别对应连接测试区的开机模块、音量增加模块和音量减小模块。

现市场上大部分手机，都设计开机键、音量增加键和音量减小键，还有些手机，设计有home键、拍照键、或者灯光键。本实施例针对其中使用概率最高的三种按键：开机键、音量增加键和音量减小键，测试主板的每个测试区对应有三个不同的测试模块：开机模块、音量增加模块和音量减小模块，每个测试按钮33对应与一模块电连接。当测试按钮33按下，则触发测试区的对应模块，若DDR芯片功能正常，则测试主板能够获得预设的信号反馈，反之，则判定DDR芯片测试不合格。

在一较佳实施例中，如图2所示，芯片插座31包括设置于测试面板2中的安装座311和可开合地设置于安装座311一侧的压盖312，安装座311设有用于放置DDR芯片的测试槽3111，测试槽3111的底部设置有多个探针，探针与测试主板电连接。

本实施例中，测试面板2设有用于容置安装座311的通槽21，压盖312可开合地使之与该通槽21一侧，作为优选，压盖312的开合方向朝向操作人员。安装座311内的测试槽3111用于安装DDR芯片，压盖312可闭合覆盖于测试槽3111上方，进一步地，压盖312的下端面设有与测试槽3111相配合的凸起3121，当压盖312闭合时，该凸起3121可对位于测试槽3111中的DDR芯片产生压力，使DDR芯片接触和挤压位于测试槽3111底部的探针，从而实现与测试主板的电连接。

在一较佳实施例中，如图2所示，压盖312的第一端与测试面板2枢接，与第一端相对的第二端与测试面板2卡接。

本实施例中，测试面板2上通槽21的一侧设有用于穿设枢接轴的安装件，压盖312的第一端套装在枢接轴上，作为优选，该枢接轴上还套设有扭簧313，为压盖312与测试面板2提供相对张开的弹力。

在一较佳实施例中，如图3所示，压盖312的第二端设置有第一凹槽3122，第一凹槽3122内设有固定轴3123，固定轴3123上可转动地套设有卡扣件3124，测试面板2上对应于卡扣件3124的位置设有第二凹槽22，第二凹槽22内设置有杆体23，卡扣件3124可与杆体23形成卡扣配合以固定压盖312。

具体地，卡扣件3124包括呈L形的弯折结构3124a、弹簧3124b和呈T形的施力结构3124c。该弯折结构3124a的弯折处套设于固定轴3123上，其朝向压盖312第一端的端部位于第一凹槽3122内，且与第一凹槽3122的底部之间设置保持压缩状态的弹簧3124b，即弯折结构3124a朝向压盖312第一端的端部与第一凹槽3122的底部保持相斥的弹力。弯折结构3124a的另一端部呈向压盖312的第一端方向弯折的卡勾状，该卡勾可伸入测试面板2的第二凹槽22中，并勾住杆体23。施力结构3124c朝下的端部套装在固定轴3123上，上端部呈板状，部分覆盖在弯折结构3124a朝向压盖312第一端的端部上方，另一部分凸出于第一凹槽3122之外。需要闭合压盖312时，直接下压，使卡勾伸入第二凹槽22中，弯折结构3124a在弹簧3124b的上推力作用下会使得卡勾向内勾住杆体23。当需要打开压盖312时，用手勾住施力结构3124c凸出于第一凹槽3122外的部分并上提，施力结构3124c沿固定轴3123转动，位于弯折结构3124a朝向压盖312第一端方向的端部上方的部分施力结构3124c对弯折结构3124a的该端部产生向下的压力，则弯折结构3124a的另一端部上的卡勾外翘，脱离杆体23，在扭簧313的作用下，压盖312弹开呈打开状态。

以上的仅为本实用新型的部分或优选实施例，无论是文字还是附图都不能因此限制本实用新型保护的范围，凡是在与本实用新型一个整体的构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型保护的范围内。

Claims (10)

1.一种DDR测试装置，其特征在于，包括底座、测试面板、测试主板和多组测试组件，所述测试面板设置于所述底座的上端面，所述测试主板位于所述测试面板与所述底座之间，多组所述测试组件并列设置于所述测试面板中，且分别与所述测试主板电连接，所述测试组件包括芯片插座、若干指示灯和若干测试按钮。

2.根据权利要求1所述的DDR测试装置，其特征在于，所述底座呈阶梯状，具有高低间隔的两个上端面，每个所述上端面上分别设有所述测试面板。

3.根据权利要求2所述的DDR测试装置，其特征在于，所述芯片插座、指示灯和测试按钮沿所述底座的两上端面高度渐低的方向依次布置。

4.根据权利要求1所述的DDR测试装置，其特征在于，所述测试主板包括与多组所述测试组件一一对应电连接的多个测试区，所述测试组件还包括开关，所述开关用于将所述测试主板上对应的测试区与电源连接。

5.根据权利要求4所述的DDR测试装置，其特征在于，每个所述测试组件中所述指示灯的数量为两个，其中一个指示灯在DDR芯片正常上电时点亮，另一指示灯在所述DDR芯片测试完成时点亮。

6.根据权利要求4所述的DDR测试装置，其特征在于，每个所述测试组件中所述测试按钮的数量为三个，三个所述测试按钮分别对应连接所述测试区的开机模块、音量增加模块和音量减小模块。

7.根据权利要求1所述的DDR测试装置，其特征在于，所述芯片插座包括设置于所述测试面板中的安装座和可开合地设置于所述安装座一侧的压盖，所述安装座设有用于放置DDR芯片的测试槽，所述测试槽的底部设置有多个探针，所述探针与所述测试主板电连接。

8.根据权利要求7所述的DDR测试装置，其特征在于，所述压盖的第一端与所述测试面板枢接，与所述第一端相对的第二端与所述测试面板卡接。

9.根据权利要求8所述的DDR测试装置，其特征在于，所述压盖的第二端设置有第一凹槽，所述第一凹槽内设有固定轴，所述固定轴上可转动地套设有卡扣件，所述测试面板上对应于所述卡扣件的位置设有第二凹槽，所述第二凹槽内设置有杆体，所述卡扣件可与所述杆体形成卡扣配合以固定所述压盖。

10.根据权利要求1-9中任一项所述的DDR测试装置，其特征在于，所述测试面板上还设有与所述测试主板电连接的电源接线端。

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