CN117075018B - 一种bms控制板性能测试智能分析管理系统 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及BMS控制板性能测试技术领域,具体公开一种BMS控制板性能测试智能分析管理系统,该系统包括BMS控制板样本划分模块、BMS控制板电学性能测试模块、BMS控制板电学性能分析模块、BMS控制板工作性能测试模块、BMS控制板工作性能分析模块、BMS控制板性能分析模块和测试结果反馈终端;本发明通过对BMS控制板进行过流、过压和工作性能测试,从而分析BMS控制板对应的性能符合系数,并对测试结果进行反馈,实现了BMS控制板性能的多维度分析,提高了下一批次BMS控制板生产计划优化的及时性和优化效果,同时对各次放电测试的显示次数精准度、显示数值精准度和响应时长精准度进行深度分析,保障了BMS控制板的显示精准性和响应的及时性。
Description
技术领域
本发明涉及BMS控制板性能测试技术领域,具体而言,涉及一种BMS控制板性能测试智能分析管理系统。
背景技术
BMS控制板可以采集电池数据,并对电池进行安全性保护和控制,以避免电池受到潜在的危险和损害,为了保障BMS系统在采集电池参数时的准确度和精度以及运行时的稳定性和可靠性,需要对BMS控制板性能进行测试。
现有的BMS控制板通过电学层面和工作层面进行性能测试,很显然,在工作层面还存在以下几个方面的问题:1、仅测试BMS控制板在接入测试电压后的温度是否正常,未对温度的差异情况和波动情况进行深度分析,使得分析维度不够深入,降低了BMS控制板性能分析的精确性。
2、仅判断BMS控制板的显示数值是否正常,对其能否显示以及显示的及时性未考虑,无法保障BMS控制板的显示精准性和响应的及时性,从而提高了BMS控制板性能分析的误差。
发明内容
鉴于此,为解决上述背景技术中所提出的问题,现提出一种BMS控制板性能测试智能分析管理系统。
本发明的目的可以通过以下技术方案实现:本发明提供一种BMS控制板性能测试智能分析管理系统,包括:BMS控制板样本划分模块,用于对目标批次BMS控制板按照设定的抽检比例进行抽取,进而得到各样本控制板,将各样本控制板按照等比例划分方式划分为各过流测试控制板、各过压测试控制板、各温度测试控制板和各电量测试控制板。
BMS控制板电学性能测试模块,用于对各过流测试控制板和各过流测试控制板分别进行对应过流测试和过压测试,并记录测试的电学性能信息。
BMS控制板电学性能分析模块,用于计算目标批次BMS控制板对应的电流耐受度和电压耐受度/>进而分析目标批次BMS控制板对应的电学性能符合系数θ。
BMS控制板工作性能测试模块,用于对各温度测试控制板和各电量测试控制板在额定工作电压下进行工作性能测试,并记录测试的工作性能信息。
BMS控制板工作性能分析模块,用于计算目标批次BMS控制板对应的温度均匀度ω和工作精准度ξ′,进而分析目标批次BMS控制板对应的工作性能符合系数ψ。
BMS控制板性能分析模块,用于分析目标批次BMS控制板对应的性能符合系数ζ。
测试结果反馈终端,用于当目标批次BMS控制板对应的性能符合系数小于设定值时进行反馈。
具体地,所述电学性能信息包括各过流测试控制板达到预警时对应的时长和测试电流以及各过压测试控制板达到预警时对应的时长和测试电压。
具体地,所述计算目标批次BMS控制板对应的电流耐受度,具体计算过程为:A1、从电学性能信息中提取各过流测试控制板达到预警时对应的时长,记为其中,i表示为过流测试控制板的编号,i=1,2,...,n。
A2、计算各过流测试控制板的过流时长承载评估系数βi,其中,T′表示设定参照的承载过流时长,e表示自然常数。
A3、从各过流测试控制板达到预警时对应的时长中提取最大时长和最小时长,由此计算目标批次BMS控制板对应的过流时长偏差系数χ。
A4、从电学性能信息中提取各过流测试控制板达到预警时对应的测试电流,并记为Ii。
A5、计算各过流测试控制板的过流电流承载评估系数δi,其中,I′表示设定参照的过流电流。
A6、从各过流测试控制板达到预警时对应的测试电流中提取最大测试电流和最小测试电流,由此计算目标批次BMS控制板对应的过流电流偏差系数ε。
A7、计算目标批次BMS控制板对应的电流耐受度
其中,n表示为过流测试控制板的数量,β′、χ′、δ′和ε′分别表示设定参照的过流时长承载评估系数、过流时长偏差系数、过流电流承载评估系数和过流电流偏差系数,a1、a2、a3和a4分别表示为设定的过流时长承载评估、过流时长偏差、过流电流承载评估和过流电流偏差对应电流耐受评估占比权重,γ1表示设定的电流耐受评估修正因子。
具体地,所述计算目标批次BMS控制板对应的电压耐受度,具体计算过程为:B1、从电学性能信息中提取各过压测试控制板达到预警时对应的时长和测试电压,并分别记为和Uj,其中,j表示为过压测试控制板的编号,j=1,2,...,m。
B2、计算各过压测试控制板的电压耐受度其中,T压′和U′分别表示设定参照的时长和测试电压,a5和a6分别表示设定的时长和测试电压对应电压耐受评估占比权重。
B3、若某过压测试控制板的电压耐受度小于设定参照的电压耐受度,则将该过压测试控制板记为异常过压测试控制板,统计异常过压测试控制板的数目,记为M。
B4、从各过压测试控制板的电压耐受度中提取最小的电压耐受度,记为
B5、计算目标批次BMS控制板对应的电压耐受度
其中,K0和分别表示设定参照的异常过压测试控制板数目占比和电压耐受度,a7和a8分别表示设定的异常过压测试控制板数目占比和电压耐受度对应电压耐受评估占比权重,γ2表示设定的电压耐受评估修正因子。
具体地,所述目标批次BMS控制板对应的电学性能符合系数的计算公式为:其中,/>和/>分别表示设定参照的电流耐受度和电压耐受度,b1和b2分别表示设定的电流耐受和电压耐受对应电学性能符合评估占比权重。
具体地,所述工作性能信息包括各温度测试控制板的温度、各电量测试控制板的放电测试次数、放电测试电量显示次数、各次放电测试的测试放电量以及各电量测试控制板在各次放电测试时的显示电余量、显示响应时长和实际剩余电余量。
具体地,所述计算目标批次BMS控制板对应的温度均匀度,具体计算过程为:C1、从工作性能信息中提取各温度测试控制板的温度,并记为Wk,其中,k表示为温度测试控制板的编号,k=1,2,...,g。
C2、计算目标批次BMS控制板对应的温度差异系数ρ,其中,W′和ΔW分别表示设定许可的控制板温度和温度偏差,λ0表示温度差异评估修正因子。
C3、从各温度测试控制板的温度中提取最高温度和最低温度,并分别记为Wmax和Wmin。
C4、计算目标批次BMS控制板对应的温度波动系数 其中,ΔW′表示设定许可的温度极值差。
C5、计算目标批次BMS控制板对应的温度均匀度ω,其中,ρ′和/>分别表示设定参照的温度差异系数和温度波动系数,b1和b2分别表示设定的温度差异和温度波动对应温度均匀评估占比权重,γ3表示设定的温度均匀评估修正因子。
具体地,所述计算目标批次BMS控制板对应的工作精准度,具体计算过程为:D1、从工作性能信息中提取各电量测试控制板的放电测试次数、放电测试电量显示次数、各次放电测试的测试放电量以及各电量测试控制板在各次放电测试时的显示电余量、显示响应时长和实际剩余电余量。
D2、将各电量测试控制板的放电测试次数和放电测试电量显示次数分别记为和/>其中,f表示为电量测试控制板的编号,f=1,2,...,r。
D3、根据各电量测试控制板的各次放电测试的测试放电量,设定各电量测试控制板的显示次数影响因子λf。
D4、计算目标批次BMS控制板对应的显示次数精准度ξ次,其中,Δη表示设定参照的显示次数占比。
D5、若某电量测试控制板在某次放电测试时的显示响应时长小于设定参照的显示响应时长,则将该次放电测试记为精准响应测试,统计各电量测试控制板的精准响应测试次数,记为τf。
D6、计算目标批次BMS控制板对应的响应时长精准度ξ响,其中,τ′表示设定参照的精准响应测试次数。
D7、根据各电量测试控制板在各次放电测试时的显示电余量和实际剩余电余量,计算目标批次BMS控制板对应的显示数值精准度ξ数。
D8、计算目标批次BMS控制板对应的工作精准度ξ′,其中,b5、b6和b7分别表示设定的显示次数、响应时长和显示数值对应工作精准评估占比权重,γ4表示设定的工作精准评估修正因子。
具体地,所述目标批次BMS控制板对应的工作性能符合系数的计算公式为:其中,ω′和ξ″分别表示设定参照的温度均匀度和剩余电量精准度,c1和c2分别表示设定的温度均匀和剩余电量对应工作性能符合评估占比权重。
具体地,所述目标批次BMS控制板对应的性能符合系数的计算公式为:其中,c3和c4分别表示设定的电学性能符合评估和工作性能符合评估对应性能符合评估占比权重。
相较于现有技术,本发明的实施例至少具有如下优点或有益效果:(1)本发明通过对BMS控制板进行过流、过压和工作性能测试,从而分析BMS控制板对应的性能符合系数,并对测试结果进行反馈,实现了BMS控制板性能的多维度分析,提高了BMS控制板性能确认的可信度,同时提高了下一批次BMS控制板生产计划优化的及时性和优化效果。
(2)本发明通过计算BMS控制板对应的温度差异系数和温度波动系数,从而分析BMS控制板对应的温度均匀度,直观地展示了BMS控制板的温度均匀情况,提高了BMS控制板的温度层面分析的覆盖面,进而提高了BMS控制板性能分析的精确性,为后续BMS控制板对应的工作性能分析提供了可靠的数据支撑基础。
(3)本发明通过对各次放电测试的显示次数精准度、显示数值精准度和响应时长精准度进行深度分析,从而保障了BMS控制板的显示精准性和响应的及时性,降低了BMS控制板性能分析的误差,提高了BMS控制板性能确认的可靠性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明系统模块结构连接示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1所示,本发明提供了一种BMS控制板性能测试智能分析管理系统,包括:BMS控制板样本划分模块、BMS控制板电学性能测试模块、BMS控制板电学性能分析模块、BMS控制板工作性能测试模块、BMS控制板工作性能分析模块、BMS控制板性能分析模块和测试结果反馈终端。
所述BMS控制板电学性能测试模块和BMS控制板工作性能测试模块均与BMS控制板样本划分模块相连,BMS控制板电学性能测试模块与BMS控制板电学性能分析模块相连,BMS控制板工作性能测试模块与BMS控制板工作性能分析模块相连,BMS控制板电学性能分析模块和BMS控制板工作性能测试模块均与BMS控制板性能分析模块相连,BMS控制板性能分析模块相连与测试结果反馈终端相连。
所述BMS控制板样本划分模块,用于对目标批次BMS控制板按照设定的抽检比例进行抽取,进而得到各样本控制板,将各样本控制板按照等比例划分方式划分为各过流测试控制板、各过压测试控制板、各温度测试控制板和各电量测试控制板。
所述BMS控制板电学性能测试模块,用于对各过流测试控制板和各过流测试控制板分别进行对应过流测试和过压测试,并记录测试的电学性能信息。
在本发明具体实施例中,所述电学性能信息包括各过流测试控制板达到预警时对应的时长和测试电流以及各过压测试控制板达到预警时对应的时长和测试电压。
需要说明的是,对各过流测试控制板进行过流测试时,设定多个过流测试组,若各过流测试控制板在某过流测试组时达到预警,则将该过流测试组对应的过流测试电流记为达到预警时对应的测试电流。
对各过压测试控制板进行过压测试时,设定多个过压测试组,若各过压测试控制板在某过压测试组时达到预警,则将该过压测试组对应的过压测试电流记为达到预警时对应的测试电压。
所述时长通过所在测试环境内安置的摄像头监测得到。
所述BMS控制板电学性能分析模块,用于计算目标批次BMS控制板对应的电流耐受度和电压耐受度/>进而分析目标批次BMS控制板对应的电学性能符合系数θ。
在本发明具体实施例中,所述计算目标批次BMS控制板对应的电流耐受度,具体计算过程为:A1、从电学性能信息中提取各过流测试控制板达到预警时对应的时长,记为其中,i表示为过流测试控制板的编号,i=1,2,...,n。
A2、计算各过流测试控制板的过流时长承载评估系数βi,其中,T′表示设定参照的承载过流时长,e表示自然常数。
A3、从各过流测试控制板达到预警时对应的时长中提取最大时长和最小时长,由此计算目标批次BMS控制板对应的过流时长偏差系数χ。
需要说明的是,所述计算目标批次BMS控制板对应的过流时长偏差系数,具体计算过程为:E1、将各过流测试控制板达到预警时对应的最大时长和最小时长分别记为Tmax和Tmin。
E2、计算目标批次BMS控制板对应的过流时长偏差系数χ,其中,ΔT表示设定许可的过流时长极值差。
A4、从电学性能信息中提取各过流测试控制板达到预警时对应的测试电流,并记为Ii。
A5、计算各过流测试控制板的过流电流承载评估系数δi,其中,I′表示设定参照的过流电流。
A6、从各过流测试控制板达到预警时对应的测试电流中提取最大测试电流和最小测试电流,由此计算目标批次BMS控制板对应的过流电流偏差系数ε。
需要说明的是,所述计算目标批次BMS控制板对应的过流电流偏差系数,具体计算过程为:F1、将各过流测试控制板达到预警时对应的最大测试电流和最小测试电流分别记为Imax和Imin。
F2、计算目标批次BMS控制板对应的过流电流偏差系数ε,其中,ΔI表示设定许可的过流电流极值差。
A7、计算目标批次BMS控制板对应的电流耐受度
其中,n表示为过流测试控制板的数量,β′、χ′、δ′和ε′分别表示设定参照的过流时长承载评估系数、过流时长偏差系数、过流电流承载评估系数和过流电流偏差系数,a1、a2、a3和a4分别表示为设定的过流时长承载评估、过流时长偏差、过流电流承载评估和过流电流偏差对应电流耐受评估占比权重,γ1表示设定的电流耐受评估修正因子。
在本发明具体实施例中,所述计算目标批次BMS控制板对应的电压耐受度,具体计算过程为:B1、从电学性能信息中提取各过压测试控制板达到预警时对应的时长和测试电压,并分别记为和Uj,其中,j表示为过压测试控制板的编号,j=1,2,...,m。
B2、计算各过压测试控制板的电压耐受度其中,T压′和U′分别表示设定参照的时长和测试电压,a5和a6分别表示设定的时长和测试电压对应电压耐受评估占比权重。
B3、若某过压测试控制板的电压耐受度小于设定参照的电压耐受度,则将该过压测试控制板记为异常过压测试控制板,统计异常过压测试控制板的数目,记为M。
B4、从各过压测试控制板的电压耐受度中提取最小的电压耐受度,记为
B5、计算目标批次BMS控制板对应的电压耐受度
其中,K0和分别表示设定参照的异常过压测试控制板数目占比和电压耐受度,a7和a8分别表示设定的异常过压测试控制板数目占比和电压耐受度对应电压耐受评估占比权重,γ2表示设定的电压耐受评估修正因子。
在本发明具体实施例中,所述目标批次BMS控制板对应的电学性能符合系数的计算公式为:其中,/>和/>分别表示设定参照的电流耐受度和电压耐受度,b1和b2分别表示设定的电流耐受和电压耐受对应电学性能符合评估占比权重。
所述BMS控制板工作性能测试模块,用于对各温度测试控制板和各电量测试控制板在额定工作电压下进行工作性能测试,并记录测试的工作性能信息。
在本发明具体实施例中,所述工作性能信息包括各温度测试控制板的温度、各电量测试控制板的放电测试次数、放电测试电量显示次数、各次放电测试的测试放电量以及各电量测试控制板在各次放电测试时的显示电余量、显示响应时长和实际剩余电余量。
需要说明的是,所述温度通过温度传感器监测得到,所述显示响应时长是指放电测试完成时间点和显示时间点之间的间隔时长。
所述BMS控制板工作性能分析模块,用于计算目标批次BMS控制板对应的温度均匀度ω和工作精准度ξ′,进而分析目标批次BMS控制板对应的工作性能符合系数ψ。
在本发明具体实施例中,所述计算目标批次BMS控制板对应的温度均匀度,具体计算过程为:C1、从工作性能信息中提取各温度测试控制板的温度,并记为Wk,其中,k表示为温度测试控制板的编号,k=1,2,...,g。
C2、计算目标批次BMS控制板对应的温度差异系数ρ,其中,W′和ΔW分别表示设定许可的控制板温度和温度偏差,λ0表示温度差异评估修正因子。
C3、从各温度测试控制板的温度中提取最高温度和最低温度,并分别记为Wmax和Wmin。
C4、计算目标批次BMS控制板对应的温度波动系数 其中,ΔW′表示设定许可的温度极值差。
C5、计算目标批次BMS控制板对应的温度均匀度ω,其中,ρ′和/>分别表示设定参照的温度差异系数和温度波动系数,b1和b2分别表示设定的温度差异和温度波动对应温度均匀评估占比权重,γ3表示设定的温度均匀评估修正因子。
本发明实施例通过计算BMS控制板对应的温度差异系数和温度波动系数,从而分析BMS控制板对应的温度均匀度,直观地展示了BMS控制板的温度均匀情况,提高了BMS控制板的温度层面分析的覆盖面,进而提高了BMS控制板性能分析的精确性,为后续BMS控制板对应的工作性能分析提供了可靠的数据支撑基础。
在本发明具体实施例中,所述计算目标批次BMS控制板对应的工作精准度,具体计算过程为:D1、从工作性能信息中提取各电量测试控制板的放电测试次数、放电测试电量显示次数、各次放电测试的测试放电量以及各电量测试控制板在各次放电测试时的显示电余量、显示响应时长和实际剩余电余量。
D2、将各电量测试控制板的放电测试次数和放电测试电量显示次数分别记为和/>其中,f表示为电量测试控制板的编号,f=1,2,...,r。
D3、根据各电量测试控制板的各次放电测试的测试放电量,设定各电量测试控制板的显示次数影响因子λf。
需要说明的是,所述设定各电量测试控制板的显示次数影响因子,具体设定过程为:G1、将各电量测试控制板的各次放电测试的测试放电量与设定的各测试显示精度对应的参照测试放电量区间进行对比,若某电量测试控制板对应某次放电测试的测试放电量位于某测试显示精度对应的参照测试放电量区间内,则将该测试显示精度作为该电量测试控制板的参照显示精度,统计各电量测试控制板的参照显示精度,记为μf。
G2、从云数据库中提取BMS控制板的设定显示精度,记为μ2。
G3、若μf>μ2,则设定目标批次BMS控制板显示次数影响因子为λ1。
G4、若μf≤μ2,则设定目标批次BMS控制板显示次数影响因子为λ2,由此λf的取值为λ1或者λ2。
D4、计算目标批次BMS控制板对应的显示次数精准度ξ次,其中,Δη表示设定参照的显示次数占比。
D5、若某电量测试控制板在某次放电测试时的显示响应时长小于设定参照的显示响应时长,则将该次放电测试记为精准响应测试,统计各电量测试控制板的精准响应测试次数,记为τf。
D6、计算目标批次BMS控制板对应的响应时长精准度ξ响,其中,τ′表示设定参照的精准响应测试次数。
D7、根据各电量测试控制板在各次放电测试时的显示电余量和实际剩余电余量,计算目标批次BMS控制板对应的显示数值精准度ξ数。
需要说明的是,所述计算目标批次BMS控制板对应的显示数值精准度,具体计算过程为:H1、将各电量测试控制板在各次放电测试时的显示电余量与实际剩余电余量进行作差,得到各电量测试控制板在各次放电测试时的电量显示偏差,记为其中,q表示为放电测试的编号,q=1,2,...,p。
H2、计算各电量测试控制板的电量显示异常指数φf,其中,ΔQ′表示设定许可的电量显示偏差;
H3、从各电量测试控制板的电量显示异常指数中提取最大的电量显示异常指数和最小的电量显示异常指数,并分别记为φmax和φmin;
H4、计算目标批次BMS控制板对应的显示数值精准度ξ数,
其中,Δφ分别表示设定参照的电量显示异常极值差,γ6表示设定的显示数值精准评估修正因子。
D8、计算目标批次BMS控制板对应的工作精准度ξ′,其中,b5、b6和b7分别表示设定的显示次数、响应时长和显示数值对应工作精准评估占比权重,γ4表示设定的工作精准评估修正因子。
本发明实施例通过对各次放电测试的显示次数精准度、显示数值精准度和响应时长精准度进行深度分析,从而保障了BMS控制板的显示精准性和响应的及时性,降低了BMS控制板性能分析的误差,提高了BMS控制板性能确认的可靠性。
在本发明具体实施例中,所述目标批次BMS控制板对应的工作性能符合系数的计算公式为:其中,ω′和ξ″分别表示设定参照的温度均匀度和剩余电量精准度,c1和c2分别表示设定的温度均匀和剩余电量对应工作性能符合评估占比权重。
所述BMS控制板性能分析模块,用于分析目标批次BMS控制板对应的性能符合系数ζ。
在本发明具体实施例中,所述目标批次BMS控制板对应的性能符合系数的计算公式为:其中,c3和c4分别表示设定的电学性能符合评估和工作性能符合评估对应性能符合评估占比权重。
所述测试结果反馈终端,用于当目标批次BMS控制板对应的性能符合系数小于设定值时进行反馈。
本发明实施例通过对BMS控制板进行过流、过压和工作性能测试,从而分析BMS控制板对应的性能符合系数,并对测试结果进行反馈,实现了BMS控制板性能的多维度分析,提高了BMS控制板性能确认的可信度,同时提高了下一批次BMS控制板生产计划优化的及时性和优化效果。
以上内容仅仅是对本发明的构思所作的举例和说明,所属本技术领域的技术人员对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代,只要不偏离发明的构思或者超越本发明所定义的范围,均应属于本发明的保护范围。
Claims (1)
1.一种BMS控制板性能测试智能分析管理系统,其特征在于,包括:
BMS控制板样本划分模块,用于对目标批次BMS控制板按照设定的抽检比例进行抽取,进而得到各样本控制板,将各样本控制板按照等比例划分方式划分为各过流测试控制板、各过压测试控制板、各温度测试控制板和各电量测试控制板;
BMS控制板电学性能测试模块,用于对各过流测试控制板和各过流测试控制板分别进行对应过流测试和过压测试,并记录测试的电学性能信息;
BMS控制板电学性能分析模块,用于计算目标批次BMS控制板对应的电流耐受度和电压耐受度/>进而分析目标批次BMS控制板对应的电学性能符合系数/>
BMS控制板工作性能测试模块,用于对各温度测试控制板和各电量测试控制板在额定工作电压下进行工作性能测试,并记录测试的工作性能信息;
BMS控制板工作性能分析模块,用于计算目标批次BMS控制板对应的温度均匀度ω和工作精准度ξ′,进而分析目标批次BMS控制板对应的工作性能符合系数ψ;
BMS控制板性能分析模块,用于分析目标批次BMS控制板对应的性能符合系数ζ;
测试结果反馈终端,用于当目标批次BMS控制板对应的性能符合系数小于设定值时进行反馈;
所述电学性能信息包括各过流测试控制板达到预警时对应的时长和测试电流以及各过压测试控制板达到预警时对应的时长和测试电压;
所述计算目标批次BMS控制板对应的电流耐受度,具体计算过程为:
A1、从电学性能信息中提取各过流测试控制板达到预警时对应的时长,记为其中,i表示为过流测试控制板的编号,i=1,2,...,n;
A2、计算各过流测试控制板的过流时长承载评估系数βi,其中,T′表示设定参照的承载过流时长,e表示自然常数;
A3、从各过流测试控制板达到预警时对应的时长中提取最大时长和最小时长,由此计算目标批次BMS控制板对应的过流时长偏差系数χ;
A4、从电学性能信息中提取各过流测试控制板达到预警时对应的测试电流,并记为Ii;
A5、计算各过流测试控制板的过流电流承载评估系数δi,其中,I′表示设定参照的过流电流;
A6、从各过流测试控制板达到预警时对应的测试电流中提取最大测试电流和最小测试电流,由此计算目标批次BMS控制板对应的过流电流偏差系数ε;
A7、计算目标批次BMS控制板对应的电流耐受度
其中,n表示为过流测试控制板的数量,β′、χ′、δ′和ε′分别表示设定参照的过流时长承载评估系数、过流时长偏差系数、过流电流承载评估系数和过流电流偏差系数,a1、a2、a3和a4分别表示为设定的过流时长承载评估、过流时长偏差、过流电流承载评估和过流电流偏差对应电流耐受评估占比权重,γ1表示设定的电流耐受评估修正因子;
所述计算目标批次BMS控制板对应的电压耐受度,具体计算过程为:
B1、从电学性能信息中提取各过压测试控制板达到预警时对应的时长和测试电压,并分别记为和Uj,其中,j表示为过压测试控制板的编号,j=1,2,...,m;
B2、计算各过压测试控制板的电压耐受度其中,T′压和U′分别表示设定参照的时长和测试电压,a5和a6分别表示设定的时长和测试电压对应电压耐受评估占比权重;
B3、若某过压测试控制板的电压耐受度小于设定参照的电压耐受度,则将该过压测试控制板记为异常过压测试控制板,统计异常过压测试控制板的数目,记为M;
B4、从各过压测试控制板的电压耐受度中提取最小的电压耐受度,记为
B5、计算目标批次BMS控制板对应的电压耐受度
其中,K0和分别表示设定参照的异常过压测试控制板数目占比和电压耐受度,a7和a8分别表示设定的异常过压测试控制板数目占比和电压耐受度对应电压耐受评估占比权重,γ2表示设定的电压耐受评估修正因子;
所述目标批次BMS控制板对应的电学性能符合系数的计算公式为:其中,/>和/>分别表示设定参照的电流耐受度和电压耐受度,b1和b2分别表示设定的电流耐受和电压耐受对应电学性能符合评估占比权重;
所述工作性能信息包括各温度测试控制板的温度、各电量测试控制板的放电测试次数、放电测试电量显示次数、各次放电测试的测试放电量以及各电量测试控制板在各次放电测试时的显示电余量、显示响应时长和实际剩余电余量;
所述计算目标批次BMS控制板对应的温度均匀度,具体计算过程为:
C1、从工作性能信息中提取各温度测试控制板的温度,并记为Wk,其中,k表示为温度测试控制板的编号,k=1,2,...,g;
C2、计算目标批次BMS控制板对应的温度差异系数ρ,其中,W′和ΔW分别表示设定许可的控制板温度和温度偏差,λ0表示温度差异评估修正因子;
C3、从各温度测试控制板的温度中提取最高温度和最低温度,并分别记为Wmax和Wmin;
C4、计算目标批次BMS控制板对应的温度波动系数ζ,其中,ΔW′表示设定许可的温度极值差;
C5、计算目标批次BMS控制板对应的温度均匀度ω,其中,ρ′和ζ′分别表示设定参照的温度差异系数和温度波动系数,b3和b4分别表示设定的温度差异和温度波动对应温度均匀评估占比权重,γ3表示设定的温度均匀评估修正因子;
所述计算目标批次BMS控制板对应的工作精准度,具体计算过程为:
D1、从工作性能信息中提取各电量测试控制板的放电测试次数、放电测试电量显示次数、各次放电测试的测试放电量以及各电量测试控制板在各次放电测试时的显示电余量、显示响应时长和实际剩余电余量;
D2、将各电量测试控制板的放电测试次数和放电测试电量显示次数分别记为和/>其中,f表示为电量测试控制板的编号,f=1,2,...,r;
D3、根据各电量测试控制板的各次放电测试的测试放电量,设定各电量测试控制板的显示次数影响因子λf;
D4、计算目标批次BMS控制板对应的显示次数精准度ξ次,其中,Δη表示设定参照的显示次数占比;
D5、若某电量测试控制板在某次放电测试时的显示响应时长小于设定参照的显示响应时长,则将该次放电测试记为精准响应测试,统计各电量测试控制板的精准响应测试次数,记为τf;
D6、计算目标批次BMS控制板对应的响应时长精准度ξ响,其中,τ′表示设定参照的精准响应测试次数;
D7、根据各电量测试控制板在各次放电测试时的显示电余量和实际剩余电余量,计算目标批次BMS控制板对应的显示数值精准度ξ数;
D8、计算目标批次BMS控制板对应的工作精准度ξ′,其中,b5、b6和b7分别表示设定的显示次数、响应时长和显示数值对应工作精准评估占比权重,γ4表示设定的工作精准评估修正因子;
所述目标批次BMS控制板对应的工作性能符合系数的计算公式为:其中,ω′和ξ″分别表示设定参照的温度均匀度和剩余电量精准度,c1和c2分别表示设定的温度均匀和剩余电量对应工作性能符合评估占比权重;
所述目标批次BMS控制板对应的性能符合系数的计算公式为:其中,c3和c4分别表示设定的电学性能符合评估和工作性能符合评估对应性能符合评估占比权重。
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