CN116984958A - 一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法及系统 - Google Patents

一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法及系统 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法及系统，应用于数据处理技术领域，该方法包括：通过获取光学瞄准镜的镜片结构，确定胶合镜片的胶合接触面。获取第一半成品镜片和第二半成品镜片。将第一半成品镜片固定后按照预设胶合面弧度生成精磨轨迹，以磨具对第一半成品镜片进行精磨，记录第一成品镜片的接触面坐标集。将接触面坐标集输入可编程控制模块中，连接仿真系统进行曲面仿真，并按照曲面仿真结果进行曲面对称化处理，输出处理后的接触面坐标集。以处理后的接触面坐标集通过可编程控制模块作为控制第二半成品镜片的精磨控制目标。解决了现有技术中光学瞄准镜的胶合镜片精磨误差较大，胶合镜片的胶合效果较差的技术问题。

Description

一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法及系统
技术领域
本发明涉及数据处理领域，尤其涉及一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法及系统。
背景技术
光学瞄准镜多为胶合镜片，通过对多个镜片进行镜片胶合，从而实现对光学瞄准镜内部光路的控制。然而，在现有技术中对于胶合镜片的生产多采用相同加工参数的方式进行生产，由于生产过程中机器振动参数误差等原因导致生产的胶合镜片误差较大，胶合镜片的胶合效果较差。
因此，在现有技术中光学瞄准镜的胶合镜片精磨误差较大，胶合镜片的胶合效果较差的技术问题。
发明内容
本申请通过提供一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法及系统，解决了在现有技术中光学瞄准镜的胶合镜片精磨误差较大，胶合镜片的胶合效果较差的技术问题。
本申请提供一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法，所述方法包括：获取光学瞄准镜的镜片结构，根据所述镜片结构对组成所述光学瞄准镜的镜片进行识别确定胶合镜片，其中，所述胶合镜片由第一镜片和第二镜片胶合成型，所述第一镜片为凹镜，所述第二镜片为凸镜；确定所述胶合镜片的胶合接触面，其中，所述胶合接触面为所述第一镜片和所述第二镜片在进行胶合时的接触面；获取第一半成品镜片和第二半成品镜片，并确定所述第一半成品镜片的接触面和所述第二半成品镜片的接触面；将所述第一半成品镜片固定后按照预设胶合面弧度生成精磨轨迹，以磨具对所述第一半成品镜片进行精磨，精磨完成后记录第一成品镜片的接触面坐标集；将所述接触面坐标集输入可编程控制模块中，连接仿真系统进行曲面仿真，并按照曲面仿真结果进行曲面对称化处理，输出处理后的接触面坐标集；以处理后的所述接触面坐标集通过所述可编程控制模块作为控制所述第二半成品镜片的精磨控制目标。
本申请还提供了一种光学瞄准镜精磨工艺控制系统，所述系统包括：镜片结构获取模块，用于获取光学瞄准镜的镜片结构，根据所述镜片结构对组成所述光学瞄准镜的镜片进行识别确定胶合镜片，其中，所述胶合镜片由第一镜片和第二镜片胶合成型，所述第一镜片为凹镜，所述第二镜片为凸镜；胶合面确定模块，用于确定所述胶合镜片的胶合接触面，其中，所述胶合接触面为所述第一镜片和所述第二镜片在进行胶合时的接触面；接触面确定模块，用于获取第一半成品镜片和第二半成品镜片，并确定所述第一半成品镜片的接触面和所述第二半成品镜片的接触面；精磨轨迹获取模块，用于将所述第一半成品镜片固定后按照预设胶合面弧度生成精磨轨迹，以磨具对所述第一半成品镜片进行精磨，精磨完成后记录第一成品镜片的接触面坐标集；接触面坐标获取模块，用于将所述接触面坐标集输入可编程控制模块中，连接仿真系统进行曲面仿真，并按照曲面仿真结果进行曲面对称化处理，输出处理后的接触面坐标集；精磨控制模块，用于以处理后的所述接触面坐标集通过所述可编程控制模块作为控制所述第二半成品镜片的精磨控制目标。
本申请还提供了一种电子设备，包括：
存储器，用于存储可执行指令；
处理器，用于执行所述存储器中存储的可执行指令时，实现本申请提供的一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法。
本申请提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，该程序被处理器执行时，实现本申请提供的一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法。
拟通过本申请提出的一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法及系统，通过获取光学瞄准镜的镜片结构，确定胶合镜片的胶合接触面。获取第一半成品镜片和第二半成品镜片。将第一半成品镜片固定后按照预设胶合面弧度生成精磨轨迹，以磨具对第一半成品镜片进行精磨，记录第一成品镜片的接触面坐标集。将接触面坐标集输入可编程控制模块中，连接仿真系统进行曲面仿真，并按照曲面仿真结果进行曲面对称化处理，输出处理后的接触面坐标集。以处理后的接触面坐标集通过可编程控制模块作为控制第二半成品镜片的精磨控制目标。提高了光学瞄准镜胶合镜片精磨过程中第一半成品镜片与第二半成品镜片精磨后的胶合精度，保证第一半成品镜片与第二半成品镜片胶合的效果。解决了现有技术中光学瞄准镜的胶合镜片精磨误差较大，胶合镜片的胶合效果较差的技术问题。
上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。
附图说明
为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对本公开实施例的附图作简单地介绍。明显地，下面描述中的附图仅仅涉及本公开的一些实施例，而非对本公开的限制。
图1为本申请实施例提供的一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法的流程示意图；
图2为本申请实施例提供的一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法获取镜片固定位置坐标的流程示意图；
图3为本申请实施例提供的一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法进行精磨优化控制的流程示意图；
图4为本申请实施例提供的一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法的系统的结构示意图；
图5为本发明实施例提供的一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法的系统电子设备的结构示意图。
附图标记说明：镜片结构获取模块11，胶合面确定模块12，接触面确定模块13，精磨轨迹获取模块14，接触面坐标获取模块15，精磨控制模块16，处理器31，存储器32，输入装置33，输出装置34。
具体实施方式
实施例一
为了使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请作进一步地详细描述，所描述的实施例不应视为对本申请的限制，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。
在以下的描述中，涉及到“一些实施例”，其描述了所有可能实施例的子集，但是可以理解，“一些实施例”可以是所有可能实施例的相同子集或不同子集，并且可以在不冲突的情况下相互结合。
在以下的描述中，所涉及的术语“第一\第二\第三”仅仅是区别类似的对象，不代表针对对象的特定排序，可以理解地，“第一\第二\第三”在允许的情况下可以互换特定的顺序或先后次序，以使这里描述的本申请实施例能够以除了在这里图示或描述的以外的顺序实施。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的术语只是为了描述本申请实施例的目的。
虽然本申请对根据本申请的实施例的系统中的某些模块做出了各种引用，然而，任何数量的不同模块可以被使用并运行在用户终端和/或服务器上，所述模块仅是说明性的，并且所述系统和方法的不同方面可以使用不同模块。
本申请中使用了流程图来说明根据本申请的实施例的系统所执行的操作。应当理解的是，前面或下面操作不一定按照顺序来精确地执行。相反，根据需要，可以按照倒序或同时处理各种步骤。同时，也可以将其他操作添加到这些过程中，或从这些过程移除某一步或数步操作。
如图1所示，本申请实施例提供了一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法，所述方法包括：
获取光学瞄准镜的镜片结构，根据所述镜片结构对组成所述光学瞄准镜的镜片进行识别确定胶合镜片，其中，所述胶合镜片由第一镜片和第二镜片胶合成型，所述第一镜片为凹镜，所述第二镜片为凸镜；
确定所述胶合镜片的胶合接触面，其中，所述胶合接触面为所述第一镜片和所述第二镜片在进行胶合时的接触面；
获取第一半成品镜片和第二半成品镜片，并确定所述第一半成品镜片的接触面和所述第二半成品镜片的接触面；
光学瞄准镜多为胶合镜片，通过对多个镜片进行镜片胶合，从而实现对光学瞄准镜内部光路的控制。然而，在现有技术中对于胶合镜片的生产多采用相同加工参数的方式进行生产，由于生产过程中机器振动参数误差等原因导致生产的胶合镜片误差较大，胶合镜片的胶合效果较差。为了解决上述问题，通过获取光学瞄准镜的镜片结构，其中镜片结构基于镜片的具体类别以及对应的需求参数进行获取，根据所述镜片结构对组成所述光学瞄准镜的镜片进行识别确定胶合镜片，其中，所述胶合镜片由第一镜片和第二镜片胶合成型，所述第一镜片为凹镜，所述第二镜片为凸镜。随后，根据光学瞄准镜的镜片结构，确定所述胶合镜片的胶合接触面，其中，所述胶合接触面为所述第一镜片和所述第二镜片在进行胶合时的接触面。获取第一半成品镜片和第二半成品镜片，并确定所述第一半成品镜片的接触面和所述第二半成品镜片的接触面，即获取第一半成品镜片和第二半成品镜片在制作成品镜片时的镜片接触面。
将所述第一半成品镜片固定后按照预设胶合面弧度生成精磨轨迹，以磨具对所述第一半成品镜片进行精磨，精磨完成后记录第一成品镜片的接触面坐标集；
将所述接触面坐标集输入可编程控制模块中，连接仿真系统进行曲面仿真，并按照曲面仿真结果进行曲面对称化处理，输出处理后的接触面坐标集；
以处理后的所述接触面坐标集通过所述可编程控制模块作为控制所述第二半成品镜片的精磨控制目标。
将所述第一半成品镜片固定后按照预设胶合面弧度生成精磨轨迹，其中，预设胶合面弧度为光学瞄准镜的镜片结构的预设弧度，以磨具按照精磨轨迹对所述第一半成品镜片进行精磨，精磨完成后记录第一成品镜片的接触面坐标集，即采集第一半成品镜片精磨完成后的接触面的坐标，并生成接触面坐标集，其中接触面的坐标采集采用现有技术中的点采集方式进行坐标采集。随后，将所述接触面坐标集输入可编程控制模块中，连接仿真系统进行曲面仿真，并按照曲面仿真结果进行曲面对称化处理，输出处理后的接触面坐标集。最后，以处理后的所述接触面坐标集通过所述可编程控制模块作为控制所述第二半成品镜片的精磨控制目标。提高了光学瞄准镜胶合镜片精磨过程中第一半成品镜片与第二半成品镜片精磨后的胶合精度，保证第一半成品镜片与第二半成品镜片胶合的效果。
如图2所示，本申请实施例提供的方法还包括：
获取精磨夹持件，通过所述精磨夹持件将所述第一半成品镜片固定，且所述第一半成品镜片的接触面靠近用于进行精磨的所述磨具；
记录所述精磨夹持件夹持所述第一半成品镜片时所处的位置坐标；
当所述第一半成品精磨完成后，基于所述位置坐标以使所述精磨夹持件将所述第二半成品镜片固定，且所述第二半成品镜片的接触面靠近用于进行精磨的所述磨具。
获取精磨夹持件，通过所述精磨夹持件将所述第一半成品镜片固定，且所述第一半成品镜片的接触面靠近用于进行精磨的所述磨具。记录所述精磨夹持件夹持所述第一半成品镜片时所处的位置坐标。随后，在当所述第一半成品精磨完成后，基于所述位置坐标以使所述精磨夹持件将所述第二半成品镜片固定，且所述第二半成品镜片的接触面靠近用于进行精磨的所述磨具，进行第二半成品的精磨。
本申请实施例提供的方法还包括：
根据所述光学瞄准镜的镜片结构，确定所述胶合镜片固定于所述光学瞄准镜对应镜筒的内壁直径参数；
将所述内壁直径参数输入所述可编程控制模块，所述可编程控制模块根据内壁嵌合度生成边线精磨参数，以所述边线精磨参数控制所述磨具对所述第一半成品镜片和所述第二半成品镜片进行精磨。
具体的，根据所述光学瞄准镜的镜片结构，确定所述胶合镜片固定于所述光学瞄准镜对应镜筒的内壁直径参数，其中，内壁直径参数为瞄准镜安装镜筒位置的内壁直径参数数据。随后，将所述内壁直径参数输入所述可编程控制模块，所述可编程控制模块根据内壁嵌合度生成边线精磨参数，以所述边线精磨参数控制所述磨具对所述第一半成品镜片和所述第二半成品镜片进行精磨，从而保证各镜片安装位置的嵌合度。
如图3所示，本申请实施例提供的方法还包括：
获取所述第一半成品镜片的边缘厚度和所述第二半成品镜片的边缘厚度；
当所述第一半成品镜片或所述第二半成品镜片任一镜片的边缘厚度大于等于预设边缘厚度，对该镜片进行精磨时生成第一边线精磨轨迹和第二边线精磨轨迹；其中，所述第一边线精磨轨迹为基于镜片厚度一侧的边线精磨轨迹，所述第二边线精磨轨迹为基于镜片厚度另一侧的边线精磨轨迹。
获取所述第一半成品镜片的边缘厚度和所述第二半成品镜片的边缘厚度。当所述第一半成品镜片或所述第二半成品镜片任一镜片的边缘厚度大于等于预设边缘厚度，对该镜片进行精磨时生成第一边线精磨轨迹和第二边线精磨轨迹。其中，预设边缘厚度为各成品镜片的需求厚度，该数据基于客户的实际需求参数进行获取。其中，所述第一边线精磨轨迹为基于镜片厚度一侧的边线精磨轨迹，所述第二边线精磨轨迹为基于镜片厚度另一侧的边线精磨轨迹。
本申请实施例提供的方法还包括：
连接所述仿真系统，基于所述接触面坐标集生成点云曲面，根据所述点云曲面确定第一对称面，以所述第一对称面作为基准对所述点云曲面进行对称化处理，得到对称化曲面仿真结果；
对所述曲面仿真结果和所述对称化曲面仿真结果进行拼接偏差比对，输出对称化校正仿真结果。
连接所述仿真系统，所述仿真系统用于根据坐标集生成镜片的坐标点云，基于所述接触面坐标集生成点云曲面，根据所述点云曲面确定第一对称面，其中第一对称面为与点云曲面相平行的平面，以所述第一对称面作为基准对所述点云曲面进行对称化处理，得到对称化曲面仿真结果。最后，对所述曲面仿真结果和所述对称化曲面仿真结果进行拼接偏差比对，即对曲面仿真结果以及对称化曲面仿真结果进行坐标偏差计算，获取坐标偏差计算结果完成拼接偏差比对，输出对称化校正仿真结果，在对称化校正仿真结果中包含坐标偏差数据。由于在进行拼接时，仿真的坐标重合度越高，则对应的拼接效果越高，当存在偏差数据时，此时仿真的坐标的重合度存在异常，因此需要在后续的打磨处理过程中对异常点进行对应处理，以保证胶合的效果。
本申请实施例提供的方法还包括：
基于所述精磨轨迹对所述磨具的精磨参数进行监测，获取精磨参数监测数据集，其中，所述精磨参数监测数据集中的参数至少包括精磨压力和精磨速度；
将所述精磨参数监测数据集存储至数据存储模块，其中，所述数据存储模块与所述可编程控制模块通信连接，所述数据存储模块中的数据可被所述可编程控制模块调用；
所述可编程控制模块调用所述精磨参数监测数据集进行精磨均匀性监测，当精磨均匀性不满足均匀条件时，生成第一控制反馈参数进行精磨优化控制。
基于精磨轨迹对所述磨具的精磨参数进行监测，获取精磨参数监测数据集，其中，所述精磨参数监测数据集中的参数至少包括精磨压力和精磨速度。将所述精磨参数监测数据集存储至数据存储模块，其中，所述数据存储模块与所述可编程控制模块通信连接，所述数据存储模块中的数据可被所述可编程控制模块调用。所述可编程控制模块调用所述精磨参数监测数据集进行精磨均匀性监测，在进行精磨均匀性监测时，通过获取精磨参数监测数据集的精磨压力和精磨速度数据，获取在相邻时刻的精磨压力和精磨速度数据的差值，获取多个差值数据，并设定预设精磨压力差值和精磨速度差值数据。随后，判断多个差值数据是否满足对应的预设精磨压力差值和精磨速度差值数据，当满足时即差值的绝对值小于等于对应的预设精磨压力差值和精磨速度差值数据的绝对值时，此时则精磨均匀性较高，精磨均匀性满足均匀条件。当不满足时即差值的绝对值大于对应的预设精磨压力差值和精磨速度差值数据的绝对值，此时则精磨均匀性较低，精磨均匀性不满足均匀条件。当精磨均匀性不满足均匀条件时，生成第一控制反馈参数进行精磨优化控制，即对当前的精磨参数监测数据进行调整，使其满足实际的均匀条件，从而保障精磨的均匀性，避免精磨后出现镜片偏差过大的情况。
本申请实施例提供的方法还包括：
对所述磨具进行振动信号传感，并输出振动传感信号，将所述振动传感信号输入所述数据存储模块，被所述可编程控制模块调用后，判断所述磨具是否存在振动异常，若存在振动异常，由所述可编程控制模块发送预警信号。
对所述磨具进行振动信号传感，获取磨具振动信号，并输出振动传感信号，将所述振动传感信号输入所述数据存储模块，被所述可编程控制模块调用后，判断磨具振动信号幅值的绝对值是否超出最大预设震动幅度值的绝对值，当超出即大于最大预设震动幅度值的绝对值时，此时磨具振动较为明显，可能导致精磨效果下降，当未超出即小于等于最大预设震动幅度值的绝对值时，此时磨具振动较小，磨具振动产生的影响较小，精磨质量较高，完成所述磨具是否存在振动异常的判断，若存在振动异常，由所述可编程控制模块发送预警信号。
本发明实施例所提供的技术方案，通过获取光学瞄准镜的镜片结构，根据所述镜片结构对组成所述光学瞄准镜的镜片进行识别确定胶合镜片，其中，所述胶合镜片由第一镜片和第二镜片胶合成型，所述第一镜片为凹镜，所述第二镜片为凸镜。确定所述胶合镜片的胶合接触面，其中，所述胶合接触面为所述第一镜片和所述第二镜片在进行胶合时的接触面。获取第一半成品镜片和第二半成品镜片，并确定所述第一半成品镜片的接触面和所述第二半成品镜片的接触面。将所述第一半成品镜片固定后按照预设胶合面弧度生成精磨轨迹，以磨具对所述第一半成品镜片进行精磨，精磨完成后记录第一成品镜片的接触面坐标集。将所述接触面坐标集输入可编程控制模块中，连接仿真系统进行曲面仿真，并按照曲面仿真结果进行曲面对称化处理，输出处理后的接触面坐标集。以处理后的所述接触面坐标集通过所述可编程控制模块作为控制所述第二半成品镜片的精磨控制目标。提高了光学瞄准镜胶合镜片精磨过程中第一半成品镜片与第二半成品镜片精磨后的胶合精度，保证第一半成品镜片与第二半成品镜片胶合的效果。解决了现有技术中光学瞄准镜的胶合镜片精磨误差较大，胶合镜片的胶合效果较差的技术问题。
实施例二
基于与前述实施例中一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法同样发明构思，本发明还提供了一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法的系统，系统可以由硬件和/或软件的方式来实现，一般可集成于电子设备中，用于执行本发明任意实施例所提供的方法。如图4所示，所述系统包括：
镜片结构获取模块11，用于获取光学瞄准镜的镜片结构，根据所述镜片结构对组成所述光学瞄准镜的镜片进行识别确定胶合镜片，其中，所述胶合镜片由第一镜片和第二镜片胶合成型，所述第一镜片为凹镜，所述第二镜片为凸镜；
胶合面确定模块12，用于确定所述胶合镜片的胶合接触面，其中，所述胶合接触面为所述第一镜片和所述第二镜片在进行胶合时的接触面；
接触面确定模块13，用于获取第一半成品镜片和第二半成品镜片，并确定所述第一半成品镜片的接触面和所述第二半成品镜片的接触面；
精磨轨迹获取模块14，用于将所述第一半成品镜片固定后按照预设胶合面弧度生成精磨轨迹，以磨具对所述第一半成品镜片进行精磨，精磨完成后记录第一成品镜片的接触面坐标集；
接触面坐标获取模块15，用于将所述接触面坐标集输入可编程控制模块中，连接仿真系统进行曲面仿真，并按照曲面仿真结果进行曲面对称化处理，输出处理后的接触面坐标集；
精磨控制模块16，用于以处理后的所述接触面坐标集通过所述可编程控制模块作为控制所述第二半成品镜片的精磨控制目标。
进一步地，所述精磨轨迹获取模块14还用于：
获取精磨夹持件，通过所述精磨夹持件将所述第一半成品镜片固定，且所述第一半成品镜片的接触面靠近用于进行精磨的所述磨具；
记录所述精磨夹持件夹持所述第一半成品镜片时所处的位置坐标；
当所述第一半成品精磨完成后，基于所述位置坐标以使所述精磨夹持件将所述第二半成品镜片固定，且所述第二半成品镜片的接触面靠近用于进行精磨的所述磨具。
进一步地，所述镜片结构获取模块11还用于：
根据所述光学瞄准镜的镜片结构，确定所述胶合镜片固定于所述光学瞄准镜对应镜筒的内壁直径参数；
将所述内壁直径参数输入所述可编程控制模块，所述可编程控制模块根据内壁嵌合度生成边线精磨参数，以所述边线精磨参数控制所述磨具对所述第一半成品镜片和所述第二半成品镜片进行精磨。
进一步地，所述镜片结构获取模块11还用于：
获取所述第一半成品镜片的边缘厚度和所述第二半成品镜片的边缘厚度；
当所述第一半成品镜片或所述第二半成品镜片任一镜片的边缘厚度大于等于预设边缘厚度，对该镜片进行精磨时生成第一边线精磨轨迹和第二边线精磨轨迹；
其中，所述第一边线精磨轨迹为基于镜片厚度一侧的边线精磨轨迹，所述第二边线精磨轨迹为基于镜片厚度另一侧的边线精磨轨迹。
进一步地，所述接触面坐标获取模块15还用于：
连接所述仿真系统，基于所述接触面坐标集生成点云曲面，根据所述点云曲面确定第一对称面，以所述第一对称面作为基准对所述点云曲面进行对称化处理，得到对称化曲面仿真结果；
对所述曲面仿真结果和所述对称化曲面仿真结果进行拼接偏差比对，输出对称化校正仿真结果。
进一步地，所述精磨轨迹获取模块14还用于：
基于所述精磨轨迹对所述磨具的精磨参数进行监测，获取精磨参数监测数据集，其中，所述精磨参数监测数据集中的参数至少包括精磨压力和精磨速度；
将所述精磨参数监测数据集存储至数据存储模块，其中，所述数据存储模块与所述可编程控制模块通信连接，所述数据存储模块中的数据可被所述可编程控制模块调用；
所述可编程控制模块调用所述精磨参数监测数据集进行精磨均匀性监测，当精磨均匀性不满足均匀条件时，生成第一控制反馈参数进行精磨优化控制。
进一步地，所述精磨轨迹获取模块14还用于：
对所述磨具进行振动信号传感，并输出振动传感信号，将所述振动传感信号输入所述数据存储模块，被所述可编程控制模块调用后，判断所述磨具是否存在振动异常，若存在振动异常，由所述可编程控制模块发送预警信号。
所包括的各个单元和模块只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可；另外，各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。
实施例三
图5为本发明实施例三提供的电子设备的结构示意图，示出了适于用来实现本发明实施方式的示例性电子设备的框图。图5显示的电子设备仅仅是一个示例，不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。如图5所示，该电子设备包括处理器31、存储器32、输入装置33及输出装置34；电子设备中处理器31的数量可以是一个或多个，图5中以一个处理器31为例，电子设备中的处理器31、存储器32、输入装置33及输出装置34可以通过总线或其他方式连接，图5中以通过总线连接为例。
存储器32作为一种计算机可读存储介质，可用于存储软件程序、计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中的一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法对应的程序指令/模块。处理器31通过运行存储在存储器32中的软件程序、指令以及模块，从而执行计算机设备的各种功能应用以及数据处理，即实现上述一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法，其特征在于，所述方法包括：
获取光学瞄准镜的镜片结构，根据所述镜片结构对组成所述光学瞄准镜的镜片进行识别确定胶合镜片，其中，所述胶合镜片由第一镜片和第二镜片胶合成型，所述第一镜片为凹镜，所述第二镜片为凸镜；
确定所述胶合镜片的胶合接触面，其中，所述胶合接触面为所述第一镜片和所述第二镜片在进行胶合时的接触面；
获取第一半成品镜片和第二半成品镜片，并确定所述第一半成品镜片的接触面和所述第二半成品镜片的接触面；
将所述第一半成品镜片固定后按照预设胶合面弧度生成精磨轨迹，以磨具对所述第一半成品镜片进行精磨，精磨完成后记录第一成品镜片的接触面坐标集；
将所述接触面坐标集输入可编程控制模块中，连接仿真系统进行曲面仿真，并按照曲面仿真结果进行曲面对称化处理，输出处理后的接触面坐标集；
以处理后的所述接触面坐标集通过所述可编程控制模块作为控制所述第二半成品镜片的精磨控制目标。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
获取精磨夹持件，通过所述精磨夹持件将所述第一半成品镜片固定，且所述第一半成品镜片的接触面靠近用于进行精磨的所述磨具；
记录所述精磨夹持件夹持所述第一半成品镜片时所处的位置坐标；
当所述第一半成品精磨完成后，基于所述位置坐标以使所述精磨夹持件将所述第二半成品镜片固定，且所述第二半成品镜片的接触面靠近用于进行精磨的所述磨具。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
根据所述光学瞄准镜的镜片结构，确定所述胶合镜片固定于所述光学瞄准镜对应镜筒的内壁直径参数；
将所述内壁直径参数输入所述可编程控制模块，所述可编程控制模块根据内壁嵌合度生成边线精磨参数，以所述边线精磨参数控制所述磨具对所述第一半成品镜片和所述第二半成品镜片进行精磨。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
获取所述第一半成品镜片的边缘厚度和所述第二半成品镜片的边缘厚度；
当所述第一半成品镜片或所述第二半成品镜片任一镜片的边缘厚度大于等于预设边缘厚度，对该镜片进行精磨时生成第一边线精磨轨迹和第二边线精磨轨迹；
其中，所述第一边线精磨轨迹为基于镜片厚度一侧的边线精磨轨迹，所述第二边线精磨轨迹为基于镜片厚度另一侧的边线精磨轨迹。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，连接仿真系统进行曲面仿真，并按照曲面仿真结果进行曲面对称化处理，方法包括：
连接所述仿真系统，基于所述接触面坐标集生成点云曲面，根据所述点云曲面确定第一对称面，以所述第一对称面作为基准对所述点云曲面进行对称化处理，得到对称化曲面仿真结果；
对所述曲面仿真结果和所述对称化曲面仿真结果进行拼接偏差比对，输出对称化校正仿真结果。
6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述第一半成品镜片固定后按照预设胶合面弧度生成精磨轨迹，方法还包括：
基于所述精磨轨迹对所述磨具的精磨参数进行监测，获取精磨参数监测数据集，其中，所述精磨参数监测数据集中的参数至少包括精磨压力和精磨速度；
将所述精磨参数监测数据集存储至数据存储模块，其中，所述数据存储模块与所述可编程控制模块通信连接，所述数据存储模块中的数据可被所述可编程控制模块调用；
所述可编程控制模块调用所述精磨参数监测数据集进行精磨均匀性监测，当精磨均匀性不满足均匀条件时，生成第一控制反馈参数进行精磨优化控制。
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
对所述磨具进行振动信号传感，并输出振动传感信号，将所述振动传感信号输入所述数据存储模块，被所述可编程控制模块调用后，判断所述磨具是否存在振动异常，若存在振动异常，由所述可编程控制模块发送预警信号。
8.一种光学瞄准镜精磨工艺控制系统，其特征在于，所述系统包括：
镜片结构获取模块，用于获取光学瞄准镜的镜片结构，根据所述镜片结构对组成所述光学瞄准镜的镜片进行识别确定胶合镜片，其中，所述胶合镜片由第一镜片和第二镜片胶合成型，所述第一镜片为凹镜，所述第二镜片为凸镜；
胶合面确定模块，用于确定所述胶合镜片的胶合接触面，其中，所述胶合接触面为所述第一镜片和所述第二镜片在进行胶合时的接触面；
接触面确定模块，用于获取第一半成品镜片和第二半成品镜片，并确定所述第一半成品镜片的接触面和所述第二半成品镜片的接触面；
精磨轨迹获取模块，用于将所述第一半成品镜片固定后按照预设胶合面弧度生成精磨轨迹，以磨具对所述第一半成品镜片进行精磨，精磨完成后记录第一成品镜片的接触面坐标集；
接触面坐标获取模块，用于将所述接触面坐标集输入可编程控制模块中，连接仿真系统进行曲面仿真，并按照曲面仿真结果进行曲面对称化处理，输出处理后的接触面坐标集；
精磨控制模块，用于以处理后的所述接触面坐标集通过所述可编程控制模块作为控制所述第二半成品镜片的精磨控制目标。
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
存储器，用于存储可执行指令；
处理器，用于执行所述存储器中存储的可执行指令时，实现权利要求1至7任一项所述的一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一所述的一种光学瞄准镜精磨工艺控制方法。
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