CN116859134A - 一种缝隙天线的缝隙测试探头、测试装置及其使用方法 - Google Patents

Abstract

本公开实施例是关于一种缝隙天线的缝隙测试探头、测试装置及其使用方法。该装置包括：测试探头、底座和校准件；测试探头包括端盖、同轴连接器、U形件、盖板和两个第一定位销；底座上设有供待测缝隙天线安装的安装槽和多个定位孔，定位孔沿安装槽两边均匀排布，定位孔与第一定位销相匹配；校准件底部设有两个第二定位销和一个第三定位销，第三定位销设置在两个第二定位销之间，第二定位销与定位孔相匹配，校准件通过第二定位销固定在底座上，第三定位销用于设置在待测缝隙天线的缝隙的中心。本公开实施例可以快速测试单根缝隙天线或缝隙天线阵面单个缝隙的幅度和相位而不受其他缝隙耦合的影响，可实现后期机械加工数据修正及快速配幅配相。

Description

一种缝隙天线的缝隙测试探头、测试装置及其使用方法

技术领域

本公开实施例涉及微波天线测试技术领域，尤其涉及一种缝隙天线的缝隙测试探头、测试装置及其使用方法。

背景技术

缝隙天线是一种在波导窄边按一定间距加工阵列缝隙的波导天线，是行波阵频扫阵列天线；由于频扫缝隙天线中缝隙间距、缝隙倾角及缝隙深度对天线精度影响大。相关技术中，对于加工完成的缝隙天线，由于不能在测试中快速、准确的采集单根缝隙天线或缝隙天线阵面单个缝隙的幅度和相位值，从而会受其他缝隙耦合的影响。

因此，有必要改善上述相关技术方案中存在的一个或者多个问题。

需要注意的是，本部分旨在为权利要求书中陈述的本公开的技术方案提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。

发明内容

本公开实施例的目的在于提供一种缝隙天线的缝隙测试装置及其使用方法，进而至少在一定程度上克服由于相关技术的限制和缺陷而导致的一个或者多个问题。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种缝隙天线的缝隙测试用的测试探头，包括：

端盖、同轴连接器、U形件、盖板和两个第一定位销；

所述同轴连接器设置在所述端盖的上部，所述U形件和所述盖板设置在所述端盖的底部，所述U形件和所述盖板之间形成波导腔体，所述第一定位销设置在所述U形件或所述盖板的底部。

本公开的一实施例中，所述盖板的侧部设有台阶状脊，用于波导和同轴传输信号的阻抗匹配，所述台阶状脊设置在波导腔体内。

本公开的一实施例中，所述U形件的底部设有第一支腿组件，所述盖板的底部设有第二支腿组件，所述第一支腿组件和所述第二支腿组件能够卡设在待测缝隙天线上。

本公开的一实施例中，所述U形件和所述盖板的侧壁上均设有第一手持部，便于测试时手持操作。

根据本公开实施例的第二方面，提供一种缝隙天线的缝隙测试装置，包括：

上述任一所述的缝隙天线的缝隙测试用的测试探头；

底座，所述底座上设有供待测缝隙天线安装的安装槽和多个定位孔，所述定位孔沿所述安装槽两边均匀排布，所述定位孔与所述第一定位销相匹配；其中，所述测试探头通过所述第一定位销固定在所述底座上，所述测试探头设置在所述待测缝隙天线上，用于对所述待测缝隙天线进行测试；

校准件，底部设有两个第二定位销和一个第三定位销，所述第三定位销设置在两个所述第二定位销之间，所述第二定位销与所述定位孔相匹配，所述校准件通过所述第二定位销固定在所述底座上，所述第三定位销用于设置在所述待测缝隙天线的缝隙中。

本公开的一实施例中，所述底座上还设有若干个固定槽和压板，所述固定槽沿所述安装槽两边均匀排布，所述压板设置在所述固定槽内，用于固定所述待测缝隙天线。

本公开的一实施例中，所述固定槽内设有安装孔，以使用所述安装孔和固定件配合将所述压板设置在所述固定槽内。

本公开的一实施例中，两个所述第二定位销的中心和所述第三定位销的中心三点共线。

根据本公开实施例的第三方面，提供一种缝隙天线的缝隙测试装置的使用方法，应用于上述任一项所述的缝隙天线的缝隙测试装置，该方法包括：

将待测缝隙天线放入到底座上的安装槽中；

调整所述待测缝隙天线，以使校准件的第二定位销在插入底座上的定位孔的同时，第三定位销插入到所述待测缝隙天线的缝隙的中心；

固定所述待测缝隙天线，并拔出所述校准件；

将测试探头固定到所述底座上，使所述测试探头的波导腔体的底部的中心与所述待测缝隙天线的缝隙的中心重合。

本公开的一实施例中，所述固定所述待测缝隙天线，并拔出所述校准件的步骤包括：

利用压板将所述待测缝隙天线固定在所述底座上。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

本公开的实施例中，通过上述缝隙天线的缝隙测试装置及其使用方法，可以快速测试单根缝隙天线或缝隙天线阵面单个缝隙的幅度和相位而不受其他缝隙耦合的影响，可实现后期机械加工数据修正及快速配幅配相。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出本公开示例性实施例中测试探头的结构示意图；

图2示出本公开示例性实施例中测试探头的分解图；

图3示出本公开示例性实施例中测试探头的主视图；

图4示出本公开示例性实施例中测试探头的侧视图；

图5示出本公开示例性实施例中测试探头的仰视图；

图6示出本公开示例性实施例中待测缝隙天线设置在缝隙天线的缝隙测试装置上的结构示意图；

图7示出本公开示例性实施例中待测缝隙天线设置在缝隙天线的缝隙测试装置上的俯视图；

图8示出本公开示例性实施例中底座的结构示意图；

图9示出本公开示例性实施例中校准件的结构示意图；

图10示出本公开示例性实施例中底座的主视图；

图11示出本公开示例性实施例中底座的侧视图；

图12示出本公开示例性实施例中底座的俯视图；

图13示出本公开示例性实施例中校准件的主视图；

图14示出本公开示例性实施例中校准件的侧视图；

图15示出本公开示例性实施例中待测缝隙天线的主视图；

图16示出本公开示例性实施例中待测缝隙天线的侧视图；

图17示出本公开示例性实施例中缝隙天线阵面的结构示意图；

图18示出本公开示例性实施例中缝隙天线阵面的俯视图；

图19示出本公开示例性实施例中缝隙天线的缝隙测试装置的使用方法的步骤图。

图中：100、测试探头；101、端盖；102、同轴连接器；103、U形件；104、盖板；105、第一定位销；106、波导腔体；107、第一支腿组件；108、第二支腿组件；109、台阶状脊；110、第一手持部；200、底座；201、安装槽；202、定位孔；203、固定槽；204、压板；300、校准件；301、第二定位销；302、第三定位销；303、第二手持部；400、待测缝隙天线；401、待测缝隙天线的缝隙；402、待测缝隙天线的侧翼；403、法兰；404、待测缝隙天线扼流槽；500、缝隙天线阵面；501、缝隙天线阵面的缝隙；502、缝隙天线阵面扼流槽。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施方式使得本公开将更加全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。

此外，附图仅为本公开实施例的示意性图解，并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。附图中所示的一些方框图是功能实体，不一定必须与物理或逻辑上独立的实体相对应。

本示例实施方式中首先提供了一种缝隙天线的缝隙测试用的测试探头100。参考图1中所示，该缝隙天线的缝隙测试用的测试探头100可以包括：

端盖101、同轴连接器102、U形件103、盖板104和两个第一定位销105；其中，所述同轴连接器102设置在所述端盖101的上部，所述U形件103和所述盖板104设置在所述端盖101的底部，所述U形件103和所述盖板104之间形成波导腔体106，所述第一定位销105设置在所述U形件103或所述盖板104的底部。

通过上述缝隙天线的缝隙测试装置，可以快速测试单根缝隙天线或缝隙天线阵面500单个缝隙的幅度和相位而不受其他缝隙耦合的影响，可实现后期机械加工数据修正及快速配幅配相。

下面，将参考图1至图5对本示例实施方式中的上述缝隙天线的缝隙测试用的测试探头100的各个部分进行更详细的说明。

在一个实施例中，如图2所示，所述盖板104的侧部设有台阶状脊109，用于波导和同轴传输信号的阻抗匹配，所述台阶状脊109设置在波导腔体106内。具体的，测试探头100主要由端盖101、同轴连接器102、U形件103、盖板104及第一定位销105组成；U形件103和盖板104装配后形成的空腔为波导腔体106；盖板104上设计台阶状脊109，用于波导和同轴传输信号的阻抗匹配。

在一个实施例中，如图2所示，所述U形件103的底部设有第一支腿组件107，所述盖板104的底部设有第二支腿组件108，所述第一支腿组件107和所述第二支腿组件108能够卡设在待测缝隙天线400上。

具体的，U形件103和盖板104上分别加工第一支腿组件107和第二支腿组件108，用于测试时卡紧待测缝隙天线400的外壁，同时保证测试探头100的端面与待测缝隙天线400表面紧密贴合，以保证待测缝隙不受其他缝隙耦合的影响。第一支腿组件107和第二支腿组件108的厚度尺寸小于1mm，以保证支腿卡入缝隙天线的外壁时具有一定的弹性形变，不损伤待测缝隙天线400；第一支腿组件107和第二支腿组件108的尺寸与待测缝隙天线400的尺寸相匹配。

在一个实施例中，如图2所示，所述U形件103和所述盖板104的侧壁上均设有第一手持部110，便于测试时手持操作。具体的，测试探头100宽边所在的两个表面设计第一手持部110，第一手持部110可以为U形凹槽，便于测试时手持操作；定位销关于端面的中心位置对称安装。

可以理解的是，如图3、图4和图5所示，第一定位销105之间的距离为T0；第一支腿组件107和第二支腿组件108的两个支腿的内侧的距离均为T1；第一支腿组件107和第二支腿组件108的两个支腿的端头宽度均为T2；第一支腿组件107和第二支腿组件108的两个支腿的根部宽度均为T3；测试探头100的宽度为T4；第一支腿组件107和第二支腿组件108内侧的距离均为T5；第一支腿组件107和第二支腿组件108的两个支腿的长度均为T6；第一支腿组件107和第二支腿组件108外侧的距离均为T7；第一支腿组件107和第二支腿组件108内侧的距离均为T8。

本示例实施方式中还提供了一种缝隙天线的缝隙测试装置，参考图6至图18所示，该缝隙天线的缝隙测试装置可以包括：

如图6、图7、图8和图9所示，上述任一所述的缝隙天线的缝隙测试用的测试探头100、底座200和校准件300；其中，所述底座200上设有供待测缝隙天线400安装的安装槽201和多个定位孔202，所述定位孔202沿所述安装槽201两边均匀排布，所述定位孔202与所述第一定位销105相匹配；其中，所述测试探头100通过所述第一定位销105固定在所述底座200上，所述测试探头100设置在所述待测缝隙天线400上，用于对所述待测缝隙天线400进行测试；校准件300底部设有两个第二定位销301和一个第三定位销302，所述第三定位销302设置在两个所述第二定位销301之间，所述第二定位销301与所述定位孔202相匹配，所述校准件300通过所述第二定位销301固定在所述底座200上，所述第三定位销302用于设置在所述待测缝隙天线的缝隙401的中心。

具体的，底座200是一个带凹槽(即安装槽201)的长方体结构，且安装槽201的上部的宽度大于安装槽201下部的宽度，底座200的上表面设计多个沿安装槽201的两侧设置的定位孔202，定位孔202与测试探头100的第一定位销105相匹配，定位孔202沿底座200的长度方向的间距与待测缝隙天线的缝隙401间距相匹配；待测缝隙天线400与安装槽201形成的待测缝隙天线扼流槽404。

校准件300是一个长方体结构，校准件300的底部设有两个第二定位销301和一个第三定位销302，两个第二定位销301的间距与第一定位销105的间距相匹配，即两个第二定位销301的间距与安装槽201两侧的定位孔202的间距相匹配。

在一个实施例中，所述底座200上还设有若干个固定槽203和压板204，所述固定槽203沿所述安装槽201两边均匀排布，所述压板204设置在所述固定槽203内，用于固定所述待测缝隙天线400。具体的，安装槽201上表面设计多个固定槽203，固定槽203的底面设计安装孔，用于安装压板204及固定待测缝隙天线400。

在一个实施例中，所述固定槽203内设有安装孔，以使用所述安装孔和固定件配合将所述压板204设置在所述固定槽203内。具体的，待测缝隙天线400的两侧设有侧翼，待测缝隙天线400安装在安装槽201并校准好位置后，将压板204放置在固定件固定槽203内并压住待测缝隙天线400的侧翼，再将固定件安装在安装孔内，以使固定件将压板204固定，从而使压板204将待测缝隙天线400的侧翼压紧，保证待测缝隙天线400的侧翼与底座200的安装槽201的底面紧密贴合。

在一个实施例中，两个所述第二定位销301的中心和所述第三定位销302的中心三点共线。具体的，校准件300用于校准待测缝隙天线的缝隙401中心到底座200的定位孔202的距离，保证待测缝隙天线的缝隙401的中心与底座200的定位孔202的中心三点共线。

在一个实施例中，校准件300的两个侧面设计贯通长方体长度方向的第二手持部303，便于手持操作。

可以理解的是，如图10、图11和图12所示，底座200上的安装槽201的两侧的每组定位孔202的间距为J0；底座200上的安装槽201的上端的宽度为J1；底座200上的安装槽201的下端的宽度为J2；底座200的长度为J3；底座200上的安装槽201的依次相邻的两个定位孔202的间距为J4；底座200上的安装槽201的上端的深度为J5；底座200上的安装槽201的下端的深度为J6；固定槽203的深度为J7。

如图13和图14所示，校准件300上两个第二定位销301之间的距离为X0。

如图15和图16所示，待测缝隙天线400外壁的宽度为B1；待测缝隙天线400两侧翼之间的距离为B2；待测缝隙天线400的长度为B3；待测缝隙天线400两侧翼下表面到外壁的距离为B4；待测缝隙天线的缝隙401的表面到外壁的距离为B5；相邻两个待测缝隙天线400之间的间距为Z0。

在一个具体的实施例中，如图17和图18所示，缝隙天线阵面500是由多个待测缝隙天线400按固定间距Z0(相邻两个待测缝隙天线400形成的待测缝隙天线扼流槽404的宽度为Z1)粘接成，单根待测缝隙天线400上任意一个缝隙的中心与其余缝隙天线同等位置缝隙的中心共线。在测试缝隙天线阵面500时，只需用到测试探头100。测试时，将测试探头100的第一定位销105插入待测缝隙天线400的相邻的两个缝隙中心，第一支腿组件107和第二支腿组件108卡入缝隙天线阵面500的两个缝隙天线阵面扼流槽502中，保证测试探头100的端面与缝隙天线阵面的缝隙501上表面紧密贴合。当测试缝隙天线阵面500的第一根缝隙天线或最后一根缝隙天线的缝隙时，将测试探头100的其中一个第一定位销105插入被测缝隙相邻的一个缝隙中心，第一支腿组件107和第二支腿组件108卡入缝隙天线阵面500的一个缝隙天线阵面扼流槽502中，保证测试探头100的端面与缝隙天线阵面的缝隙501上表面紧密贴合。

另外，在设计参数时，各个参数之间的关系为：T0＝J0＝X0；T1＝J1＝B1；T1+2T2＝J2＝B2；T≤J7＜J5-J6；0.5＜T3＜0.8；T7≤J4；T7＜T4；T6≤B5-B4-2mm；B5≤J5；B4≤J6；T8≤T5；J3＜B3；Z0＝T0/2；Z1＝T2。

在一个具体的实施例中，另T0＝J0＝X0＝20.4mm；T1＝J1＝B1＝7.6mm；Z1＝T2＝2.4mm；T3＝0.6mm；T4＝18.4mm；T5＝5.6mm；T6＝4.3mm；T7＝11mm；T8＝5.6mm；Z0＝10.2mm；B2＝12.6mm；B3＝277mm；B4＝6.7mm；B5＝13.2mm；J2＝12.6mm；J3＝260mm；J4＝12.5mm；J5＝13.2mm；J6＝6.7mm；J7＝4.5mm。采用该缝隙天线的缝隙测试装置及其使用方法，可以快速测试单个单根缝隙天线或缝隙天线阵面500缝隙的幅度和相位而不受其他缝隙耦合的影响，可实现后期机械加工数据修正及快速配幅配相。

本示例实施方式中还提供了一种缝隙天线的缝隙测试装置的使用方法，参考图19所示，该缝隙天线的缝隙测试装置的使用方法可以包括：步骤S101～步骤S104。

步骤S101：将待测缝隙天线400放入到底座200上的安装槽201中；

步骤S102：调整所述待测缝隙天线400，以使校准件300的第二定位销301在插入底座200上的定位孔202的同时，第三定位销302插入到所述待测缝隙天线400的缝隙的中心；

步骤S103：固定所述待测缝隙天线400，并拔出所述校准件300；

步骤S104：将测试探头100固定到所述底座200上，使所述测试探头100的波导腔体106的底部的中心与所述待测缝隙天线的缝隙401的中心重合。

具体的，在步骤S101中，将待测缝隙天线400放入底座200的安装槽201中，待测缝隙天线的缝隙401的表面与安装槽201的上表面齐平。

在步骤S102中，调整待测缝隙天线400在底座200中的位置，沿底座200的长度方向移动待测缝隙天线400，保证校准件300上的第二定位销301同时插入底座200的其中一组定位孔202中，且第三定位销302插入待测缝隙天线的缝隙401的中心。

在步骤S103中，用压板204及紧固件固定待测缝隙天线的侧翼402，保证待测缝隙天线的侧翼402与底座200的安装槽201的底面紧密贴合，固定压板204后再拔出校准件300。

在步骤S104中，使用测试探头100插入底座200的任意一组定位孔202中，保证测试探头100的端面与待测缝隙天线的缝隙401表面紧密贴合，此时测试探头100的第一支腿组件107和第二支腿组件108卡入底座200与待测缝隙天线400形成的待测缝隙天线扼流槽404内，测试探头100的波导腔体106的底部的中心与待测缝隙天线的缝隙401的中心重合。

另外，在测试探头100的同轴连接器102上连接射频电缆，从待测缝隙天线400的其中一个法兰403盘端面输入射频信号，移动测试探头100的位置测试不同缝隙的微波性能。

采用该缝隙天线的缝隙测试装置及其使用方法，可以快速测试单个单根缝隙天线或缝隙天线阵面500缝隙的幅度和相位而不受其他缝隙耦合的影响，可实现后期机械加工数据修正及快速配幅配相。

需要理解的是，上述描述中的术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本公开实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本公开实施例的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本公开实施例的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本公开实施例中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本公开中的具体含义。

在本公开实施例中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本公开的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例进行结合和组合。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由所附的权利要求指出。

Claims (10)

1.一种缝隙天线的缝隙测试用的测试探头，其特征在于，包括：

端盖、同轴连接器、U形件、盖板和两个第一定位销；

所述同轴连接器设置在所述端盖的上部，所述U形件和所述盖板设置在所述端盖的底部，所述U形件和所述盖板之间形成波导腔体，所述第一定位销设置在所述U形件或所述盖板的底部。

2.根据权利要求1所述缝隙天线的缝隙测试用的测试探头，其特征在于，所述盖板的侧部设有台阶状脊，用于波导和同轴传输信号的阻抗匹配，所述台阶状脊设置在波导腔体内。

3.根据权利要求1所述缝隙天线的缝隙测试用的测试探头，其特征在于，所述U形件的底部设有第一支腿组件，所述盖板的底部设有第二支腿组件，所述第一支腿组件和所述第二支腿组件能够卡设在待测缝隙天线上。

4.根据权利要求1所述缝隙天线的缝隙测试用的测试探头，其特征在于，所述U形件和所述盖板的侧壁上均设有第一手持部，便于测试时手持操作。

5.一种缝隙天线的缝隙测试装置，其特征在于，该装置包括：

权利要求1～4任一项所述的缝隙天线的缝隙测试用的测试探头；

底座，所述底座上设有供待测缝隙天线安装的安装槽和多个定位孔，所述定位孔沿所述安装槽两边均匀排布，所述定位孔与所述第一定位销相匹配；其中，所述测试探头通过所述第一定位销固定在所述底座上，所述测试探头设置在所述待测缝隙天线上，用于对所述待测缝隙天线进行测试；

校准件，底部设有两个第二定位销和一个第三定位销，所述第三定位销设置在两个所述第二定位销之间，所述第二定位销与所述定位孔相匹配，所述校准件通过所述第二定位销固定在所述底座上，所述第三定位销用于设置在所述待测缝隙天线的缝隙中。

6.根据权利要求5所述缝隙天线的缝隙测试装置，其特征在于，所述底座上还设有若干个固定槽和压板，所述固定槽沿所述安装槽两边均匀排布，所述压板设置在所述固定槽内，用于固定所述待测缝隙天线。

7.根据权利要求6所述缝隙天线的缝隙测试装置，其特征在于，所述固定槽内设有安装孔，以使用所述安装孔和固定件配合将所述压板设置在所述固定槽内。

8.根据权利要求5所述缝隙天线的缝隙测试装置，其特征在于，两个所述第二定位销的中心和所述第三定位销的中心三点共线。

9.一种缝隙天线的缝隙测试装置的使用方法，其特征在于，应用于权利要求5～8任一项所述的缝隙天线的缝隙测试装置，该方法包括：

将待测缝隙天线放入到底座上的安装槽中；

调整所述待测缝隙天线，以使校准件的第二定位销在插入底座上的定位孔的同时，第三定位销插入到所述待测缝隙天线的缝隙的中心；

固定所述待测缝隙天线，并拔出所述校准件；

将测试探头固定到所述底座上，使所述测试探头的波导腔体的底部的中心与所述待测缝隙天线的缝隙的中心重合。

10.根据权利要求9所述缝隙天线的缝隙测试装置的使用方法，其特征在于，所述固定所述待测缝隙天线，并拔出所述校准件的步骤包括：

利用压板将所述待测缝隙天线固定在所述底座上。