JPH0969705A - 非放射性誘電体線路部品の特性測定用治具および非放射性誘電体線路部品の特性測定方法 - Google Patents
非放射性誘電体線路部品の特性測定用治具および非放射性誘電体線路部品の特性測定方法Info
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- JPH0969705A JPH0969705A JP7223381A JP22338195A JPH0969705A JP H0969705 A JPH0969705 A JP H0969705A JP 7223381 A JP7223381 A JP 7223381A JP 22338195 A JP22338195 A JP 22338195A JP H0969705 A JPH0969705 A JP H0969705A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ネットワークアナライザなどの測定器にコン
ポーネントを接続する際、非放射性誘電体線路と導波管
との間で伝搬モードの変換を行う変換部の特性による影
響を受けずに、コンポーネントの入出力面の当接する面
が測定基準面となるようにする。 【解決手段】 非放射性誘電体線路部品の入出力面に対
向する２つのヘッド１，２の入出力面の間にライン基板
２４などの校正用部品を挿入した状態で測定を行い、Ｔ
ＲＬ２ポート校正法などにより測定系の校正を行い、ヘ
ッド１，２の入出力面を測定基準面としてコンポーネン
ト単体の特性を測定する。
ポーネントを接続する際、非放射性誘電体線路と導波管
との間で伝搬モードの変換を行う変換部の特性による影
響を受けずに、コンポーネントの入出力面の当接する面
が測定基準面となるようにする。 【解決手段】 非放射性誘電体線路部品の入出力面に対
向する２つのヘッド１，２の入出力面の間にライン基板
２４などの校正用部品を挿入した状態で測定を行い、Ｔ
ＲＬ２ポート校正法などにより測定系の校正を行い、ヘ
ッド１，２の入出力面を測定基準面としてコンポーネン
ト単体の特性を測定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、非放射性誘電体
線路部品の特性測定用治具および非放射性誘電体線路部
品の特性を測定する方法に関し、特には非放射性誘電体
線路（ＮＲＤガイド）を利用したマイクロ波帯またはミ
リ波帯で使用する非放射性誘電体線路部品の特性を測定
する治具および、その治具を用いた特性測定方法に関す
る。
線路部品の特性測定用治具および非放射性誘電体線路部
品の特性を測定する方法に関し、特には非放射性誘電体
線路（ＮＲＤガイド）を利用したマイクロ波帯またはミ
リ波帯で使用する非放射性誘電体線路部品の特性を測定
する治具および、その治具を用いた特性測定方法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】近年、マイクロ波帯やミリ波帯で使用す
るオシレータ、ミキサ、サーキュレータなどの非放射性
誘電体線路部品が開発されていて、これらの非放射性誘
電体線路部品の特性を測定するために、各種の治具が従
来より考案されている。特に、非放射性誘電体線路と導
波管との変換部におけるホーンと誘電体ストリップとの
位置ずれによる問題を解消した非放射性誘電体線路部品
の評価治具に関する発明を本願出願人は特願平６−２０
５４２６号で出願している。
るオシレータ、ミキサ、サーキュレータなどの非放射性
誘電体線路部品が開発されていて、これらの非放射性誘
電体線路部品の特性を測定するために、各種の治具が従
来より考案されている。特に、非放射性誘電体線路と導
波管との変換部におけるホーンと誘電体ストリップとの
位置ずれによる問題を解消した非放射性誘電体線路部品
の評価治具に関する発明を本願出願人は特願平６−２０
５４２６号で出願している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】前記治具の構成は図２
０に示すようになる。ここで４０は測定対象である非放
射性誘電体線路部品（以下これを「コンポーネント」と
言う。）であり、コンポーネント４０の入出力面には誘
電体ストリップが露出している。変換部６１と実装部６
０とは一体化されていて、コンポーネント４０は実装部
６０に載置される。コンポーネント４０の入出力面に対
向する実装部６０の面には誘電体ストリップが露出して
いて、これがコンポーネント４０の誘電体ストリップに
当接する。変換部６１では非放射性誘電体線路と導波管
との変換を行い、この変換部６１は導波管を介して測定
器に接続される。
０に示すようになる。ここで４０は測定対象である非放
射性誘電体線路部品（以下これを「コンポーネント」と
言う。）であり、コンポーネント４０の入出力面には誘
電体ストリップが露出している。変換部６１と実装部６
０とは一体化されていて、コンポーネント４０は実装部
６０に載置される。コンポーネント４０の入出力面に対
向する実装部６０の面には誘電体ストリップが露出して
いて、これがコンポーネント４０の誘電体ストリップに
当接する。変換部６１では非放射性誘電体線路と導波管
との変換を行い、この変換部６１は導波管を介して測定
器に接続される。
【０００４】ところが、このように端面に誘電体ストリ
ップを露出させた非放射性誘電体線路部品を測定治具に
当接させて測定対象である非放射性誘電体線路部品の特
性を測定する場合、変換部６１と導波管との接続部が測
定基準面となって、コンポーネントの入出力面と測定基
準面とが一致せず、測定結果には変換部の特性が含まれ
ることになる。そのため、コンポーネントを正確に評価
できない場合も生じる。
ップを露出させた非放射性誘電体線路部品を測定治具に
当接させて測定対象である非放射性誘電体線路部品の特
性を測定する場合、変換部６１と導波管との接続部が測
定基準面となって、コンポーネントの入出力面と測定基
準面とが一致せず、測定結果には変換部の特性が含まれ
ることになる。そのため、コンポーネントを正確に評価
できない場合も生じる。
【０００５】この発明の目的は、ネットワークアナライ
ザなどの測定器でコンポーネントを評価する際、非放射
性誘電体線路と導波管などの導波路との間で伝搬モード
の変換を行う変換部の特性による影響を受けずに、コン
ポーネントの入出力面の当接する面が測定基準面となる
ように、予め測定系の校正を行えるようにした非放射性
誘電体線路部品の特性測定用治具およびそれを用いた非
放射性誘電体線路部品の特性測定方法を提供することに
ある。
ザなどの測定器でコンポーネントを評価する際、非放射
性誘電体線路と導波管などの導波路との間で伝搬モード
の変換を行う変換部の特性による影響を受けずに、コン
ポーネントの入出力面の当接する面が測定基準面となる
ように、予め測定系の校正を行えるようにした非放射性
誘電体線路部品の特性測定用治具およびそれを用いた非
放射性誘電体線路部品の特性測定方法を提供することに
ある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明の非放射性誘電
体線路部品の特性測定用治具は、測定対象である高周波
機器に対して信号を入出力して各種特性の測定を行う測
定器にそれぞれ導波路を介して接続される２つのヘッド
と、該２つのヘッドの間に挿入される複数種の校正用部
品とからなる非放射性誘電体線路部品の特性測定用治具
であって、スルー状態、反射状態およびライン接続状態
の各状態で測定を行って、誤差補正係数算出のアルゴリ
ズムに必要なパラメータを求めて測定系の校正を行う、
いわゆるＴＲＬ（Thru-Reflect-Line ）２ポート校正
（この校正方法のアルゴリズムはヒューレットパッカー
ド社のネットワークアナライザＨＰ８７２０やＨＰ８５
１０において採用されているものを用いることができ
る。）を可能とするために、請求項１に記載のとおり、
前記各ヘッドは、非放射性誘電体線路部品の入出力面に
対向する入出力面と、前記非放射性誘電体線路と前記導
波路との間で伝搬モードの変換を行う変換部とを有し、
前記複数種の校正用部品は、前記２つのヘッドの入出力
面にそれぞれ対向する２つの入出力面を有し、この２つ
の入出力面間に一定長の非放射性誘電体線路を設けた、
ラインとして作用する校正用部品と、前記ヘッドの入出
力面に対向する入出力面を有し、この入出力面で伝搬信
号を反射する、反射器として作用する校正用部品とを含
む。
体線路部品の特性測定用治具は、測定対象である高周波
機器に対して信号を入出力して各種特性の測定を行う測
定器にそれぞれ導波路を介して接続される２つのヘッド
と、該２つのヘッドの間に挿入される複数種の校正用部
品とからなる非放射性誘電体線路部品の特性測定用治具
であって、スルー状態、反射状態およびライン接続状態
の各状態で測定を行って、誤差補正係数算出のアルゴリ
ズムに必要なパラメータを求めて測定系の校正を行う、
いわゆるＴＲＬ（Thru-Reflect-Line ）２ポート校正
（この校正方法のアルゴリズムはヒューレットパッカー
ド社のネットワークアナライザＨＰ８７２０やＨＰ８５
１０において採用されているものを用いることができ
る。）を可能とするために、請求項１に記載のとおり、
前記各ヘッドは、非放射性誘電体線路部品の入出力面に
対向する入出力面と、前記非放射性誘電体線路と前記導
波路との間で伝搬モードの変換を行う変換部とを有し、
前記複数種の校正用部品は、前記２つのヘッドの入出力
面にそれぞれ対向する２つの入出力面を有し、この２つ
の入出力面間に一定長の非放射性誘電体線路を設けた、
ラインとして作用する校正用部品と、前記ヘッドの入出
力面に対向する入出力面を有し、この入出力面で伝搬信
号を反射する、反射器として作用する校正用部品とを含
む。
【０００７】この構成によって、前記２つのヘッドの入
出力面同士を対向させてスルー状態で測定を行い、また
ラインとして作用する校正用部品を２つのヘッドの入出
力面間に挟み込んで測定を行い、さらに反射器として作
用する校正用部品を２つのヘッドの入出力面に対向させ
て測定を行うことができ、それらの測定結果からＴＲＬ
２ポート校正法によって測定系の校正を行い、前記２つ
のヘッドの入出力面を測定基準面として、その２つのヘ
ッドの入出力面にコンポーネントの入出力面を対向させ
て測定を行うことができる。
出力面同士を対向させてスルー状態で測定を行い、また
ラインとして作用する校正用部品を２つのヘッドの入出
力面間に挟み込んで測定を行い、さらに反射器として作
用する校正用部品を２つのヘッドの入出力面に対向させ
て測定を行うことができ、それらの測定結果からＴＲＬ
２ポート校正法によって測定系の校正を行い、前記２つ
のヘッドの入出力面を測定基準面として、その２つのヘ
ッドの入出力面にコンポーネントの入出力面を対向させ
て測定を行うことができる。
【０００８】また、この発明の非放射性誘電体線路部品
の特性測定用治具は、測定対象である高周波機器に対し
て信号を入出力して各種特性の測定を行う測定器にそれ
ぞれ導波路を介して接続される２つのヘッドと、該２つ
のヘッドの間に挿入される複数種の校正用部品とからな
る非放射性誘電体線路部品の特性測定用治具であって、
ショート、オープン、ロードおよびスルーの各状態で測
定を行って、誤差補正係数算出のアルゴリズムに必要な
パラメータを求めて測定系の校正を行う、ＳＯＬＴ（Sh
ort-Open-Load-Thru）フル２ポート校正を可能とするた
めに、請求項２に記載の通り、前記各ヘッドは、非放射
性誘電体線路部品の入出力面に対向する入出力面と、前
記非放射性誘電体線路と前記導波路との間で伝搬モード
の変換を行う変換部とを有し、前記複数種の校正用部品
は、前記ヘッドの入出力面に対向する入出力面を有し、
伝搬信号をショートするショート部と、このショート部
と前記入出力面間に一定長の非放射性誘電体線路を設け
た、オープン器として作用する校正用部品と、前記ヘッ
ドの入出力面に対向する入出力面を有し、この入出力面
で伝搬信号を反射する、反射器として作用する校正用部
品と、前記ヘッドの入出力面に対向する入出力面を有
し、無反射終端器として作用する校正用部品とを含む。
の特性測定用治具は、測定対象である高周波機器に対し
て信号を入出力して各種特性の測定を行う測定器にそれ
ぞれ導波路を介して接続される２つのヘッドと、該２つ
のヘッドの間に挿入される複数種の校正用部品とからな
る非放射性誘電体線路部品の特性測定用治具であって、
ショート、オープン、ロードおよびスルーの各状態で測
定を行って、誤差補正係数算出のアルゴリズムに必要な
パラメータを求めて測定系の校正を行う、ＳＯＬＴ（Sh
ort-Open-Load-Thru）フル２ポート校正を可能とするた
めに、請求項２に記載の通り、前記各ヘッドは、非放射
性誘電体線路部品の入出力面に対向する入出力面と、前
記非放射性誘電体線路と前記導波路との間で伝搬モード
の変換を行う変換部とを有し、前記複数種の校正用部品
は、前記ヘッドの入出力面に対向する入出力面を有し、
伝搬信号をショートするショート部と、このショート部
と前記入出力面間に一定長の非放射性誘電体線路を設け
た、オープン器として作用する校正用部品と、前記ヘッ
ドの入出力面に対向する入出力面を有し、この入出力面
で伝搬信号を反射する、反射器として作用する校正用部
品と、前記ヘッドの入出力面に対向する入出力面を有
し、無反射終端器として作用する校正用部品とを含む。
【０００９】この構成により、前記２つのヘッドの入出
力面同士を対向させてスルー状態で測定を行い、また反
射器すなわちショート板として作用する校正用部品を２
つのヘッドの入出力面に対向させて測定を行い、オープ
ン器として作用する校正用部品を２つのヘッドの入出力
面に対向させて測定を行い、無反射終端器すなわちロー
ドとして作用する校正用部品を２つのヘッドの入出力面
に対向させて測定を行うことができ、それらの測定結果
からＳＯＬＴフル２ポート校正法によって測定系の校正
を行い、前記２つのヘッドの入出力面を測定基準面とし
て、その２つのヘッドの入出力面にコンポーネントの入
出力面を対向させて測定を行うことができる。
力面同士を対向させてスルー状態で測定を行い、また反
射器すなわちショート板として作用する校正用部品を２
つのヘッドの入出力面に対向させて測定を行い、オープ
ン器として作用する校正用部品を２つのヘッドの入出力
面に対向させて測定を行い、無反射終端器すなわちロー
ドとして作用する校正用部品を２つのヘッドの入出力面
に対向させて測定を行うことができ、それらの測定結果
からＳＯＬＴフル２ポート校正法によって測定系の校正
を行い、前記２つのヘッドの入出力面を測定基準面とし
て、その２つのヘッドの入出力面にコンポーネントの入
出力面を対向させて測定を行うことができる。
【００１０】また、この発明の非放射性誘電体線路部品
の特性測定用治具は、測定系の校正の際に、ヘッド同士
の位置関係およびヘッドと校正用部品との位置関係を一
定にするために、請求項３に記載の通り、前記２つのヘ
ッドの入出力面と前記各校正用部品の入出力面とが予め
規定した位置関係に対向するように、または前記２つの
ヘッドの入出力面同士が予め規定した位置関係に対向す
るように、前記ヘッドと前記各校正用部品とに位置決め
部をそれぞれ設ける。
の特性測定用治具は、測定系の校正の際に、ヘッド同士
の位置関係およびヘッドと校正用部品との位置関係を一
定にするために、請求項３に記載の通り、前記２つのヘ
ッドの入出力面と前記各校正用部品の入出力面とが予め
規定した位置関係に対向するように、または前記２つの
ヘッドの入出力面同士が予め規定した位置関係に対向す
るように、前記ヘッドと前記各校正用部品とに位置決め
部をそれぞれ設ける。
【００１１】これにより、スルー状態でのヘッド同士の
位置関係が一定となり、また各種校正用部品をヘッドの
入出力面に対向させた際にも、その位置関係が一定とな
り、常に安定した校正が行われることになる。
位置関係が一定となり、また各種校正用部品をヘッドの
入出力面に対向させた際にも、その位置関係が一定とな
り、常に安定した校正が行われることになる。
【００１２】また、この発明の非放射性誘電体線路部品
の特性測定用治具は、測定系の校正の際に、ヘッド同士
の位置関係およびヘッドと校正用部品との位置関係を安
定させるため、請求項４に記載の通り、前記ヘッドの入
出力面と前記校正用部品の入出力面とが予め規定した位
置関係に対向する状態で、または前記２つのヘッドの入
出力面同士が予め規定した位置関係に対向する状態で、
前記２つのヘッドと前記校正用部品とを固定する固定部
材および前記２つのヘッド同士を固定する固定部材を設
ける。
の特性測定用治具は、測定系の校正の際に、ヘッド同士
の位置関係およびヘッドと校正用部品との位置関係を安
定させるため、請求項４に記載の通り、前記ヘッドの入
出力面と前記校正用部品の入出力面とが予め規定した位
置関係に対向する状態で、または前記２つのヘッドの入
出力面同士が予め規定した位置関係に対向する状態で、
前記２つのヘッドと前記校正用部品とを固定する固定部
材および前記２つのヘッド同士を固定する固定部材を設
ける。
【００１３】これによりヘッドの入出力面と校正用部品
の入出力面とが予め規定した位置関係に対向する状態で
固定され、また２つのヘッドの入出力面同士が予め規定
した位置関係で対向する状態で固定されることになり、
これらの固定状態で測定系の校正を行うことにより、安
定した校正を行うことができる。
の入出力面とが予め規定した位置関係に対向する状態で
固定され、また２つのヘッドの入出力面同士が予め規定
した位置関係で対向する状態で固定されることになり、
これらの固定状態で測定系の校正を行うことにより、安
定した校正を行うことができる。
【００１４】この発明の非放射性誘電体線路部品の特性
測定方法は、測定対象である高周波機器に対して信号を
入出力して各種特性の測定を行う測定器にそれぞれ導波
路を介して２つのヘッドを接続し、該２つのヘッドの間
に複数種の校正用部品を挿入して非放射性誘電体線路部
品の特性を測定する方法であって、上述したＴＲＬ校正
法により測定系の校正を行った後に、コンポーネントの
特性測定を行うために、請求項５に記載の通り、前記各
ヘッドは、非放射性誘電体線路部品の入出力面に対向す
る入出力面と、前記非放射性誘電体線路と前記導波路と
の間で伝搬モードの変換を行う変換部とを有し、前記複
数種の校正用部品は、前記２つのヘッドの入出力面にそ
れぞれ対向する２つの入出力面を有し、この２つの入出
力面間に一定長の非放射性誘電体線路を設けた、ライン
として作用する校正用部品と、前記ヘッドの入出力面に
対向する入出力面を有し、この入出力面で伝搬信号を反
射する、反射器として作用する校正用部品とを含み、前
記２つのヘッドの入出力面同士を対向させたスルー状態
と、前記２つのヘッドの入出力面の間に前記ラインとし
て作用する校正用部品を挿入したライン接続状態と、前
記２つのヘッドの入出力面に前記反射器として作用する
校正用部品を対向させた反射状態との各状態で特性の測
定を行い、その測定結果から測定系の校正を行い、その
後、前記２つのヘッドの入出力面に非放射性誘電体線路
部品の入出力面を対向させて該非放射性誘電体線路部品
の各種特性を測定する。
測定方法は、測定対象である高周波機器に対して信号を
入出力して各種特性の測定を行う測定器にそれぞれ導波
路を介して２つのヘッドを接続し、該２つのヘッドの間
に複数種の校正用部品を挿入して非放射性誘電体線路部
品の特性を測定する方法であって、上述したＴＲＬ校正
法により測定系の校正を行った後に、コンポーネントの
特性測定を行うために、請求項５に記載の通り、前記各
ヘッドは、非放射性誘電体線路部品の入出力面に対向す
る入出力面と、前記非放射性誘電体線路と前記導波路と
の間で伝搬モードの変換を行う変換部とを有し、前記複
数種の校正用部品は、前記２つのヘッドの入出力面にそ
れぞれ対向する２つの入出力面を有し、この２つの入出
力面間に一定長の非放射性誘電体線路を設けた、ライン
として作用する校正用部品と、前記ヘッドの入出力面に
対向する入出力面を有し、この入出力面で伝搬信号を反
射する、反射器として作用する校正用部品とを含み、前
記２つのヘッドの入出力面同士を対向させたスルー状態
と、前記２つのヘッドの入出力面の間に前記ラインとし
て作用する校正用部品を挿入したライン接続状態と、前
記２つのヘッドの入出力面に前記反射器として作用する
校正用部品を対向させた反射状態との各状態で特性の測
定を行い、その測定結果から測定系の校正を行い、その
後、前記２つのヘッドの入出力面に非放射性誘電体線路
部品の入出力面を対向させて該非放射性誘電体線路部品
の各種特性を測定する。
【００１５】また、この発明の非放射性誘電体線路部品
の特性測定方法は、測定対象である高周波機器に対して
信号を入出力して各種特性の測定を行う測定器にそれぞ
れ導波路を介して２つのヘッドを接続し、該２つのヘッ
ドの間に複数種の校正用部品を挿入して非放射性誘電体
線路部品の特性を測定する方法であって、上述したフル
２ポート校正法により測定系の校正を行った後に、コン
ポーネントの特性測定を行うために、請求項６に記載の
通り、前記各ヘッドは、非放射性誘電体線路部品の入出
力面に対向する入出力面と、前記非放射性誘電体線路と
前記導波路との間で伝搬モードの変換を行う変換部とを
有し、前記複数種の校正用部品は、前記ヘッドの入出力
面に対向する入出力面を有し、伝搬信号をショートする
ショート部と、このショート部と前記入出力面間に一定
長の非放射性誘電体線路を設けた、オープン器として作
用する校正用部品と、前記ヘッドの入出力面に対向する
入出力面を有し、この入出力面で伝搬信号を反射する、
反射器として作用する校正用部品と、前記ヘッドの入出
力面に対向する入出力面を有し、無反射終端器として作
用する校正用部品とを含み、前記２つのヘッドの入出力
面同士を対向させたスルー状態と、前記２つのヘッドの
入出力面の間に前記ラインとして作用する校正用部品を
挿入したライン接続状態と、前記２つのヘッドの入出力
面に前記反射器として作用する校正用部品を対向させた
反射状態と、前記２つのヘッドの入出力面に前記オープ
ン器を対向させたオープン状態と、前記２つのヘッドの
入出力面に前記無反射終端器を対向させたロード状態と
の各状態で特性の測定を行い、その測定結果から測定系
の校正を行い、その後、前記２つのヘッドの入出力面に
非放射性誘電体線路部品の入出力面を対向させて該非放
射性誘電体線路部品の各種特性を測定する。
の特性測定方法は、測定対象である高周波機器に対して
信号を入出力して各種特性の測定を行う測定器にそれぞ
れ導波路を介して２つのヘッドを接続し、該２つのヘッ
ドの間に複数種の校正用部品を挿入して非放射性誘電体
線路部品の特性を測定する方法であって、上述したフル
２ポート校正法により測定系の校正を行った後に、コン
ポーネントの特性測定を行うために、請求項６に記載の
通り、前記各ヘッドは、非放射性誘電体線路部品の入出
力面に対向する入出力面と、前記非放射性誘電体線路と
前記導波路との間で伝搬モードの変換を行う変換部とを
有し、前記複数種の校正用部品は、前記ヘッドの入出力
面に対向する入出力面を有し、伝搬信号をショートする
ショート部と、このショート部と前記入出力面間に一定
長の非放射性誘電体線路を設けた、オープン器として作
用する校正用部品と、前記ヘッドの入出力面に対向する
入出力面を有し、この入出力面で伝搬信号を反射する、
反射器として作用する校正用部品と、前記ヘッドの入出
力面に対向する入出力面を有し、無反射終端器として作
用する校正用部品とを含み、前記２つのヘッドの入出力
面同士を対向させたスルー状態と、前記２つのヘッドの
入出力面の間に前記ラインとして作用する校正用部品を
挿入したライン接続状態と、前記２つのヘッドの入出力
面に前記反射器として作用する校正用部品を対向させた
反射状態と、前記２つのヘッドの入出力面に前記オープ
ン器を対向させたオープン状態と、前記２つのヘッドの
入出力面に前記無反射終端器を対向させたロード状態と
の各状態で特性の測定を行い、その測定結果から測定系
の校正を行い、その後、前記２つのヘッドの入出力面に
非放射性誘電体線路部品の入出力面を対向させて該非放
射性誘電体線路部品の各種特性を測定する。
【００１６】
【発明の実施の形態】先ず、この発明の実施形態に係る
ヘッドの構成を図１および図２に示す。
ヘッドの構成を図１および図２に示す。
【００１７】図１は２つのヘッドの構成を示す外観斜視
図である。同図において１，２はそれぞれ内部に非放射
性誘電体線路と導波管との間で伝搬モードの変換を行う
変換部を有するヘッドであり、導波管３，４をそれぞれ
接続している。この導波管３，４の他方の端部はネット
ワークアナライザの入出力ポートに接続されている。ま
た、同図に示すようにヘッド１，２の上面には７，８で
示す溝を形成している。このヘッド１，２の下面にも同
様の溝を形成していて、これらの溝の内壁面と入出力面
との間に貫通する固定用孔９，１０を形成している。ヘ
ッド２の入出力面には位置決め用のピン穴１２を設けて
いて、このピン穴１２に挿入するピン状突出部をヘッド
１の入出力面に設けている。また、ヘッド２の入出力面
には誘電体ストリップ６の端面が露出していて、同様に
誘電体ストリップの端面がヘッド１の入出力面にも設け
ていて、この２つのヘッド１，２の入出力面同士を対向
させることによって、それぞれの誘電体ストリップが対
向することになる。
図である。同図において１，２はそれぞれ内部に非放射
性誘電体線路と導波管との間で伝搬モードの変換を行う
変換部を有するヘッドであり、導波管３，４をそれぞれ
接続している。この導波管３，４の他方の端部はネット
ワークアナライザの入出力ポートに接続されている。ま
た、同図に示すようにヘッド１，２の上面には７，８で
示す溝を形成している。このヘッド１，２の下面にも同
様の溝を形成していて、これらの溝の内壁面と入出力面
との間に貫通する固定用孔９，１０を形成している。ヘ
ッド２の入出力面には位置決め用のピン穴１２を設けて
いて、このピン穴１２に挿入するピン状突出部をヘッド
１の入出力面に設けている。また、ヘッド２の入出力面
には誘電体ストリップ６の端面が露出していて、同様に
誘電体ストリップの端面がヘッド１の入出力面にも設け
ていて、この２つのヘッド１，２の入出力面同士を対向
させることによって、それぞれの誘電体ストリップが対
向することになる。
【００１８】図２はヘッドの内部構造を示す図であり、
同図はヘッド１についてその内部構造を透視斜視図とし
て示している。ヘッド１は上下２つの金属板の間に誘電
体ストリップを設けて成り、上部の金属板と誘電体スト
リップ５に上下方向の直線的テーパをそれぞれ形成して
おり、高さａのホーン部１３と高さＨ１の導波管部１４
を形成している。図に示すようにＴＥ10モードの変換部
αと、ＴＥ10モードとＬＳＭ01モードとが混在するバッ
ファ部βと、ＬＳＭ01モードの変換部γとが形成され
る。この変換部α、バッファ部β、変換部γとでＴＥ10
モードおよびＬＳＭ01モード間のモード変換が緩やかに
行われるため、モード変換による特性劣化が少ない。こ
のようにしてヘッドの入出力面と導波管との間で、非放
射性誘電体線路と導波管との伝搬モードの変換を行う。
同図はヘッド１についてその内部構造を透視斜視図とし
て示している。ヘッド１は上下２つの金属板の間に誘電
体ストリップを設けて成り、上部の金属板と誘電体スト
リップ５に上下方向の直線的テーパをそれぞれ形成して
おり、高さａのホーン部１３と高さＨ１の導波管部１４
を形成している。図に示すようにＴＥ10モードの変換部
αと、ＴＥ10モードとＬＳＭ01モードとが混在するバッ
ファ部βと、ＬＳＭ01モードの変換部γとが形成され
る。この変換部α、バッファ部β、変換部γとでＴＥ10
モードおよびＬＳＭ01モード間のモード変換が緩やかに
行われるため、モード変換による特性劣化が少ない。こ
のようにしてヘッドの入出力面と導波管との間で、非放
射性誘電体線路と導波管との伝搬モードの変換を行う。
【００１９】次に、各種校正用部品の構成について示
す。
す。
【００２０】図３は反射器として作用する校正用部品の
構成を示す図である。同図において（Ａ）は斜視図、
（Ｂ）は等価回路図である。この反射器は直方体状の金
属板から成り、その表裏面にねじ孔２２を設け、図にお
ける手前の面にピン穴２３を設け、反対面にピン状突出
部を設けている。後述するように、図１に示したヘッド
１，２の間にこの反射器２１を挟み込ませて、ヘッド１
の入出力面およびヘッド２の入出力面のそれぞれにおい
て誘電体ストリップを伝搬する電磁波を反射させる。
構成を示す図である。同図において（Ａ）は斜視図、
（Ｂ）は等価回路図である。この反射器は直方体状の金
属板から成り、その表裏面にねじ孔２２を設け、図にお
ける手前の面にピン穴２３を設け、反対面にピン状突出
部を設けている。後述するように、図１に示したヘッド
１，２の間にこの反射器２１を挟み込ませて、ヘッド１
の入出力面およびヘッド２の入出力面のそれぞれにおい
て誘電体ストリップを伝搬する電磁波を反射させる。
【００２１】図４はラインとして作用するライン基板の
構成を示す図であり、（Ａ）は斜視図、（Ｂ）は等価回
路図である。このライン基板２４はその長手方向と厚み
方向に延びるスリット２６を設けた金属ブロック２５
と、スリット２６の中央部を金属ブロック２５の厚み方
向に延びる誘電体ストリップ２７とから構成している。
すなわち、この構成によって一定長の非放射性誘電体線
路を構成している。金属ブロック２５の表裏面にねじ孔
２２を設け、図における手前の面にピン穴２３を設け、
反対面にピン状突出部を設けている。後述するようにヘ
ッド１，２の入出力面にこのライン基板２４を挟み込ま
せる。
構成を示す図であり、（Ａ）は斜視図、（Ｂ）は等価回
路図である。このライン基板２４はその長手方向と厚み
方向に延びるスリット２６を設けた金属ブロック２５
と、スリット２６の中央部を金属ブロック２５の厚み方
向に延びる誘電体ストリップ２７とから構成している。
すなわち、この構成によって一定長の非放射性誘電体線
路を構成している。金属ブロック２５の表裏面にねじ孔
２２を設け、図における手前の面にピン穴２３を設け、
反対面にピン状突出部を設けている。後述するようにヘ
ッド１，２の入出力面にこのライン基板２４を挟み込ま
せる。
【００２２】図４に示したライン基板のライン長は次の
条件を満足するように定める。
条件を満足するように定める。
【００２３】図１に示したヘッド１，２の入出力面同士
を対向させたスルー状態と、その間に図４に示したライ
ン基板を挿入した状態との間の位相差θは ２０°＋１８０°×ｎ≦θ≦１６０°＋１８０°×ｎ
（ｎ＝０，１，２・・） とする。ここで、各ライン長に対する校正可能な（ライ
ンとスルーの位相差が２０°≦θ≦１６０°の範囲内と
なる）周波数帯の関係を図１１に示す。ここで、誘電体
ストリップの幅を２．５ｍｍ、高さを２．２５ｍｍと
し、比誘電率εｒを２．０４としたとき、６０ＧＨｚ付
近の周波数帯を校正する場合、約３ｍｍ以下のライン長
を要することになる。
を対向させたスルー状態と、その間に図４に示したライ
ン基板を挿入した状態との間の位相差θは ２０°＋１８０°×ｎ≦θ≦１６０°＋１８０°×ｎ
（ｎ＝０，１，２・・） とする。ここで、各ライン長に対する校正可能な（ライ
ンとスルーの位相差が２０°≦θ≦１６０°の範囲内と
なる）周波数帯の関係を図１１に示す。ここで、誘電体
ストリップの幅を２．５ｍｍ、高さを２．２５ｍｍと
し、比誘電率εｒを２．０４としたとき、６０ＧＨｚ付
近の周波数帯を校正する場合、約３ｍｍ以下のライン長
を要することになる。
【００２４】図５は無反射終端器として用いる校正用部
品の構成を示す図である。（Ａ）はその外観斜視図、
（Ｂ）は（Ａ）に示した状態から上部金属ブロック３２
を取り除いた状態での斜視図、（Ｃ）は等価回路図であ
る。このように下部金属ブロック３１と上部金属ブロッ
ク３２との間に空隙を設けるとともに、ＰＴＦＥからな
る誘電体ストリップ３３とカーボン，グラファイト等の
高周波電磁波吸収性粉末を充填させたフッ素樹脂からな
る誘電体ストリップ３４を図に示すように設ける。な
お、同図（Ａ）に示すように図における手前の入出力面
にネジ孔２２およびピン穴２３を設けている。このよう
な校正用部品を図１に示したヘッド１またはヘッド２に
取り付けることによって、この無反射終端器の入出力面
から入射した電磁波は高周波電磁波吸収性粉末を充填さ
せた誘電体ストリップ３４部分でそのエネルギーが消費
されて、入力側へ反射せずに終端する。
品の構成を示す図である。（Ａ）はその外観斜視図、
（Ｂ）は（Ａ）に示した状態から上部金属ブロック３２
を取り除いた状態での斜視図、（Ｃ）は等価回路図であ
る。このように下部金属ブロック３１と上部金属ブロッ
ク３２との間に空隙を設けるとともに、ＰＴＦＥからな
る誘電体ストリップ３３とカーボン，グラファイト等の
高周波電磁波吸収性粉末を充填させたフッ素樹脂からな
る誘電体ストリップ３４を図に示すように設ける。な
お、同図（Ａ）に示すように図における手前の入出力面
にネジ孔２２およびピン穴２３を設けている。このよう
な校正用部品を図１に示したヘッド１またはヘッド２に
取り付けることによって、この無反射終端器の入出力面
から入射した電磁波は高周波電磁波吸収性粉末を充填さ
せた誘電体ストリップ３４部分でそのエネルギーが消費
されて、入力側へ反射せずに終端する。
【００２５】図６はオープン器として作用する校正用部
品の構成を示す図であり、（Ａ）は外観斜視図、（Ｂ）
は中央断面図、（Ｃ）は等価回路図である。この校正用
部品は、図３に示した反射器２１と図４に示したライン
基板２４とを組み合わせた構造からなる。すなわち、
（Ｂ）に示すように、誘電体ストリップ２７は内部で反
射板２１によりショートされる構造となる。ここでライ
ン基板２４部分のライン長は位相差θが誘電体ストリッ
プ２７を伝搬する波長λｇの４分の１となるように定め
ている。これにより、このオープン器３５の入出力面は
等価的にオープン状態となる。なお、このオープン器は
反射器部とライン基板部とを別々に作成して組み合わせ
てもよく、また両者を一体に作成してもよい。
品の構成を示す図であり、（Ａ）は外観斜視図、（Ｂ）
は中央断面図、（Ｃ）は等価回路図である。この校正用
部品は、図３に示した反射器２１と図４に示したライン
基板２４とを組み合わせた構造からなる。すなわち、
（Ｂ）に示すように、誘電体ストリップ２７は内部で反
射板２１によりショートされる構造となる。ここでライ
ン基板２４部分のライン長は位相差θが誘電体ストリッ
プ２７を伝搬する波長λｇの４分の１となるように定め
ている。これにより、このオープン器３５の入出力面は
等価的にオープン状態となる。なお、このオープン器は
反射器部とライン基板部とを別々に作成して組み合わせ
てもよく、また両者を一体に作成してもよい。
【００２６】次に、測定系の校正方法について述べる。
【００２７】図７はヘッド１，２の入出力面同士を対向
させたスルー状態を示す図であり、（Ａ）は外観斜視
図、（Ｂ）は一部破断正面図である。（Ａ）に示すよう
にヘッド１，２の入出力面同士を対向させて、溝７，８
を利用して、（Ｂ）に示すように、ネジ３６およびナッ
ト３７によって、ヘッド１，２を固定する。このとき、
ヘッド１の入出力面より突出するピン状突出部がヘッド
２の入出力面のピン穴（１２）に嵌め合わされ、ヘッド
１とヘッド２との位置決めが正確になされる。この状態
で、ヘッド１，２の誘電体ストリップ５，６は入出力面
部分で対向し、非放射性誘電体線路はスルー状態とな
る。
させたスルー状態を示す図であり、（Ａ）は外観斜視
図、（Ｂ）は一部破断正面図である。（Ａ）に示すよう
にヘッド１，２の入出力面同士を対向させて、溝７，８
を利用して、（Ｂ）に示すように、ネジ３６およびナッ
ト３７によって、ヘッド１，２を固定する。このとき、
ヘッド１の入出力面より突出するピン状突出部がヘッド
２の入出力面のピン穴（１２）に嵌め合わされ、ヘッド
１とヘッド２との位置決めが正確になされる。この状態
で、ヘッド１，２の誘電体ストリップ５，６は入出力面
部分で対向し、非放射性誘電体線路はスルー状態とな
る。
【００２８】図８は反射（ショート）状態を示す図であ
り、（Ａ）は外観斜視図、（Ｂ）は一部破断正面図であ
る。このように反射器２１に設けたネジ孔に溝７，８か
らネジ３６をネジ締めすることによって、ヘッド１，２
の入出力面に同時に反射面を対向させる。このとき、ヘ
ッド１の入出力面より突出するピン状突出部が反射器２
１の入出力面のピン穴（２３）に嵌め合わされ、また、
反射器２１の入出力面より突出するピン状突出部がヘッ
ド２の入出力面のピン穴（１２）に嵌め合わされ、ヘッ
ド１と反射器２１との間および反射器２１とヘッド２と
の間の位置決めがそれぞれ正確になされる。なお、反射
器は、ヘッド１に取り付けるための反射器とヘッド２に
取り付けるための反射器とを別々に設けて、ヘッド１，
２に別々に取り付けてもよい。
り、（Ａ）は外観斜視図、（Ｂ）は一部破断正面図であ
る。このように反射器２１に設けたネジ孔に溝７，８か
らネジ３６をネジ締めすることによって、ヘッド１，２
の入出力面に同時に反射面を対向させる。このとき、ヘ
ッド１の入出力面より突出するピン状突出部が反射器２
１の入出力面のピン穴（２３）に嵌め合わされ、また、
反射器２１の入出力面より突出するピン状突出部がヘッ
ド２の入出力面のピン穴（１２）に嵌め合わされ、ヘッ
ド１と反射器２１との間および反射器２１とヘッド２と
の間の位置決めがそれぞれ正確になされる。なお、反射
器は、ヘッド１に取り付けるための反射器とヘッド２に
取り付けるための反射器とを別々に設けて、ヘッド１，
２に別々に取り付けてもよい。
【００２９】図９はライン接続状態を示す図であり、
（Ａ）は外観斜視図、（Ｂ）は一部破断正面図、（Ｃ）
は水平断面図である。このように２つのヘッド１，２の
入出力面間にライン基板２４を挟み込んで、溝７，８か
らネジ３６をネジ締めすることによって、この３者を固
定する。これにより、ヘッド１，２の誘電体ストリップ
５，６の間に一定長の誘電体ストリップ２７からなるラ
インが挿入されることになる。この場合も反射器の場合
と同様に、ピン状突出部とピン穴との嵌め合わせによっ
て、ヘッド１とライン基板２１間および反射器２１とヘ
ッド２間の位置決めがそれぞれ正確になされる。
（Ａ）は外観斜視図、（Ｂ）は一部破断正面図、（Ｃ）
は水平断面図である。このように２つのヘッド１，２の
入出力面間にライン基板２４を挟み込んで、溝７，８か
らネジ３６をネジ締めすることによって、この３者を固
定する。これにより、ヘッド１，２の誘電体ストリップ
５，６の間に一定長の誘電体ストリップ２７からなるラ
インが挿入されることになる。この場合も反射器の場合
と同様に、ピン状突出部とピン穴との嵌め合わせによっ
て、ヘッド１とライン基板２１間および反射器２１とヘ
ッド２間の位置決めがそれぞれ正確になされる。
【００３０】図１０はロード状態を示す外観斜視図であ
る。同図に示すように、ヘッド１の入出力面に図５に示
した無反射終端器３０を取り付けることによって、ロー
ド接続状態とする。これによりヘッド１の入出力面が無
反射状態で終端されることになる。このとき、ヘッド１
の入出力面より突出するピン状突出部が無反射終端器３
０の入出力面のピン穴（２３）に嵌め合わされ、ヘッド
１と無反射終端器３０との位置決めが正確になされる。
ヘッド２についても同様にして無反射終端器を取り付け
ればよい。但し、その場合には、入出力面からピン状突
出部が突出した無反射終端器を用いる。また、図６に示
したオープン器３５を取り付ける場合にも同様にしてヘ
ッド１または２の入出力面にオープン器３５の入出力面
を合わせて、ネジ留めすることによって取り付ける。
る。同図に示すように、ヘッド１の入出力面に図５に示
した無反射終端器３０を取り付けることによって、ロー
ド接続状態とする。これによりヘッド１の入出力面が無
反射状態で終端されることになる。このとき、ヘッド１
の入出力面より突出するピン状突出部が無反射終端器３
０の入出力面のピン穴（２３）に嵌め合わされ、ヘッド
１と無反射終端器３０との位置決めが正確になされる。
ヘッド２についても同様にして無反射終端器を取り付け
ればよい。但し、その場合には、入出力面からピン状突
出部が突出した無反射終端器を用いる。また、図６に示
したオープン器３５を取り付ける場合にも同様にしてヘ
ッド１または２の入出力面にオープン器３５の入出力面
を合わせて、ネジ留めすることによって取り付ける。
【００３１】これらのようにして、図７に示したスルー
状態、図８に示した反射状態および図９に示したライン
接続状態の各状態で各誤差補正に必要なパラメータを測
定し、前もって決定した値を測定器に入力することによ
って、その条件下でのＴＲＬ２ポート校正を行う。その
際の誤差補正係数算出のためのアルゴリズムは例えばヒ
ューレットパッカード社製のネットワークアナライザＨ
Ｐ−８５１０またはＨＰ−８７２０等の測定器自体が内
蔵するものを利用する。また、ＳＯＬＴフル２ポート校
正を行う場合には、図８に示したように反射（ショー
ト）状態で測定し、図６に示したオープン器をヘッド
１，２の入出力面に取り付けて測定を行い、図１０に示
したようにロード状態で測定を行い、さらに図７に示し
たスルー状態で測定を行い、ＳＯＬＴフル２ポート校正
に要するパラメータを求め、ＳＯＬＴフル２ポート校正
を行う。この場合も、誤差補正係数算出のためのアルゴ
リズムは測定器内蔵のものを利用する。
状態、図８に示した反射状態および図９に示したライン
接続状態の各状態で各誤差補正に必要なパラメータを測
定し、前もって決定した値を測定器に入力することによ
って、その条件下でのＴＲＬ２ポート校正を行う。その
際の誤差補正係数算出のためのアルゴリズムは例えばヒ
ューレットパッカード社製のネットワークアナライザＨ
Ｐ−８５１０またはＨＰ−８７２０等の測定器自体が内
蔵するものを利用する。また、ＳＯＬＴフル２ポート校
正を行う場合には、図８に示したように反射（ショー
ト）状態で測定し、図６に示したオープン器をヘッド
１，２の入出力面に取り付けて測定を行い、図１０に示
したようにロード状態で測定を行い、さらに図７に示し
たスルー状態で測定を行い、ＳＯＬＴフル２ポート校正
に要するパラメータを求め、ＳＯＬＴフル２ポート校正
を行う。この場合も、誤差補正係数算出のためのアルゴ
リズムは測定器内蔵のものを利用する。
【００３２】ここで、ＴＲＬ２ポート校正の後に、スル
ー状態でＳパラメータを測定した結果を図１２に示す。
この結果から明らかなように、Ｓ１１が−５０ｄＢ以上
であって、反射がほとんどなく、Ｓ２１が０．０２ｄＢ
程度で、損失がほとんど０であるので、十分な校正がで
きていると言える。このように測定系を校正することに
よって、ヘッド１，２の入出力面を測定基準面として扱
うことができ、ヘッド１，２の入出力面にコンポーネン
トを取り付けて測定したＳパラメータはコンポーネント
単体での特性として評価することができる。
ー状態でＳパラメータを測定した結果を図１２に示す。
この結果から明らかなように、Ｓ１１が−５０ｄＢ以上
であって、反射がほとんどなく、Ｓ２１が０．０２ｄＢ
程度で、損失がほとんど０であるので、十分な校正がで
きていると言える。このように測定系を校正することに
よって、ヘッド１，２の入出力面を測定基準面として扱
うことができ、ヘッド１，２の入出力面にコンポーネン
トを取り付けて測定したＳパラメータはコンポーネント
単体での特性として評価することができる。
【００３３】図１３はＴＲＬ２ポート校正後にスルー状
態での位相特性を示す。（Ａ），（Ｂ）はＴＲＬ２ポー
ト校正を２回にわたって行った結果を示す。このように
すべての周波数でほとんど０°であり、位相についての
校正も十分に行われていることが確認できる。
態での位相特性を示す。（Ａ），（Ｂ）はＴＲＬ２ポー
ト校正を２回にわたって行った結果を示す。このように
すべての周波数でほとんど０°であり、位相についての
校正も十分に行われていることが確認できる。
【００３４】図１４はヘッド１，２の間に図４に示した
ライン基板２４を挿入したときの位相量を示す。上記ラ
イン基板２４の挿入による位相変化は、理論値の１４．
８°〜１６２．９°にほぼ等しい値となった。このこと
からも位相についての校正が十分成されたことを確認す
ることができる。
ライン基板２４を挿入したときの位相量を示す。上記ラ
イン基板２４の挿入による位相変化は、理論値の１４．
８°〜１６２．９°にほぼ等しい値となった。このこと
からも位相についての校正が十分成されたことを確認す
ることができる。
【００３５】次に、コンポーネントの構成例を図１５に
示す。同図に示すように、コンポーネント４０の入出力
面の構成は図４に示したライン基板や図５に示した無反
射終端器の場合と同様であり、基本的に下部金属ブロッ
ク４１と上部金属ブロック４２との間に誘電体ストリッ
プ４３などを配置した構成からなり、誘電体ストリップ
４３の端部を入出力面に露出させている。また、図にお
ける手前の入出力面にはネジ孔２２およびピン穴２３を
設け、図における後方の入出力面にはネジ孔およびピン
状突出部を設けている。
示す。同図に示すように、コンポーネント４０の入出力
面の構成は図４に示したライン基板や図５に示した無反
射終端器の場合と同様であり、基本的に下部金属ブロッ
ク４１と上部金属ブロック４２との間に誘電体ストリッ
プ４３などを配置した構成からなり、誘電体ストリップ
４３の端部を入出力面に露出させている。また、図にお
ける手前の入出力面にはネジ孔２２およびピン穴２３を
設け、図における後方の入出力面にはネジ孔およびピン
状突出部を設けている。
【００３６】図１６はコンポーネントの特性測定状態を
示す図であり、（Ａ）は斜視図、（Ｂ）は一部破断正面
図である。このようにヘッド１，２の入出力面をコンポ
ーネント４０の入出力面に対向させてネジ３６をネジ留
め固定する。このとき、ヘッド１の入出力面より突出す
るピン状突出部がコンポーネント４０の入出力面のピン
穴（２３）に嵌め合わされ、また、コンポーネント４０
の入出力面より突出するピン状突出部がヘッド２の入出
力面のピン穴（１２）に嵌め合わされ、ヘッド１とコン
ポーネント４０との間およびコンポーネント４０とヘッ
ド２との間の位置決めがそれぞれ正確になされる。上述
した校正を行った状態では、（Ｂ）に示すようにヘッド
１，２の入出力面が測定基準面となるため、校正を行っ
た後にコンポーネントの測定を行えば、コンポーネント
単体の特性を求めることができる。
示す図であり、（Ａ）は斜視図、（Ｂ）は一部破断正面
図である。このようにヘッド１，２の入出力面をコンポ
ーネント４０の入出力面に対向させてネジ３６をネジ留
め固定する。このとき、ヘッド１の入出力面より突出す
るピン状突出部がコンポーネント４０の入出力面のピン
穴（２３）に嵌め合わされ、また、コンポーネント４０
の入出力面より突出するピン状突出部がヘッド２の入出
力面のピン穴（１２）に嵌め合わされ、ヘッド１とコン
ポーネント４０との間およびコンポーネント４０とヘッ
ド２との間の位置決めがそれぞれ正確になされる。上述
した校正を行った状態では、（Ｂ）に示すようにヘッド
１，２の入出力面が測定基準面となるため、校正を行っ
た後にコンポーネントの測定を行えば、コンポーネント
単体の特性を求めることができる。
【００３７】次に、第２の実施形態に係る測定状態を図
１７に示す。上述した第１の実施形態では、ヘッドの入
出力面同士またはヘッドの入出力面と校正用部品または
コンポーネントの入出力面とを直接ネジ留めするため
に、入出力面にネジ孔またはネジを通す孔を設けたが、
この第２の実施形態では、２つのヘッドおよび校正用部
品またはコンポーネントを所定位置に取り付けるために
基板４５を用いる。すなわち、基板４５には予め所定位
置にネジ孔を設けていて、基板４５の上部にヘッド１，
２およびコンポーネント４０をネジ３６でそれぞれネジ
留め固定する。図１７に示す例では、コンポーネント４
０と基板４５との間にスペーサ４７を挟み込んで、コン
ポーネント４０の入出力面における誘電体ストリップの
高さとヘッド１，２の入出力面における誘電体ストリッ
プの高さとを一致させている。このようなスペーサの厚
み寸法は測定すべきコンポーネントに応じて適宜選択す
る。勿論、各種校正用部品をヘッド１，２間に配置する
場合には、スペーサは不要である。このようにして、ヘ
ッドの入出力面（測定基準面）をコンポーネント４０の
入出力面に一致させる。
１７に示す。上述した第１の実施形態では、ヘッドの入
出力面同士またはヘッドの入出力面と校正用部品または
コンポーネントの入出力面とを直接ネジ留めするため
に、入出力面にネジ孔またはネジを通す孔を設けたが、
この第２の実施形態では、２つのヘッドおよび校正用部
品またはコンポーネントを所定位置に取り付けるために
基板４５を用いる。すなわち、基板４５には予め所定位
置にネジ孔を設けていて、基板４５の上部にヘッド１，
２およびコンポーネント４０をネジ３６でそれぞれネジ
留め固定する。図１７に示す例では、コンポーネント４
０と基板４５との間にスペーサ４７を挟み込んで、コン
ポーネント４０の入出力面における誘電体ストリップの
高さとヘッド１，２の入出力面における誘電体ストリッ
プの高さとを一致させている。このようなスペーサの厚
み寸法は測定すべきコンポーネントに応じて適宜選択す
る。勿論、各種校正用部品をヘッド１，２間に配置する
場合には、スペーサは不要である。このようにして、ヘ
ッドの入出力面（測定基準面）をコンポーネント４０の
入出力面に一致させる。
【００３８】なお、ヘッド１，２とコンポーネント４０
との位置決め固定形態は図１７に示した通りとし、校正
用部品については第１の実施形態で示した構造を採って
もよい。これにより、コンポーネントの入出力面に特別
なネジ孔を設ける必要がなくなる。また、図１７に示し
たようにネジによってヘッドと校正用部品またはコンポ
ーネントを基板に固定する代わりに、これらを軸方向
（電磁波伝搬方向）または軸に垂直な方向に押圧固定す
るクランプ（クランパ）を用いて固定するようにしても
よい。
との位置決め固定形態は図１７に示した通りとし、校正
用部品については第１の実施形態で示した構造を採って
もよい。これにより、コンポーネントの入出力面に特別
なネジ孔を設ける必要がなくなる。また、図１７に示し
たようにネジによってヘッドと校正用部品またはコンポ
ーネントを基板に固定する代わりに、これらを軸方向
（電磁波伝搬方向）または軸に垂直な方向に押圧固定す
るクランプ（クランパ）を用いて固定するようにしても
よい。
【００３９】次に、第３の実施形態に係る測定状態の構
成を図１８に示す。この例では、一方のヘッド１に底板
部４６を設け、この部分にコンポーネント４０および他
のヘッド２を図１７に示した場合と同様にネジ留め固定
する。ここで、底板部４６の所定位置には複数のネジ孔
を設けていて、コンポーネント４０の軸方向の寸法に応
じて、または校正用部品の軸方向の寸法（厚み寸法）に
応じてヘッド２の取り付け位置を適宜定める。
成を図１８に示す。この例では、一方のヘッド１に底板
部４６を設け、この部分にコンポーネント４０および他
のヘッド２を図１７に示した場合と同様にネジ留め固定
する。ここで、底板部４６の所定位置には複数のネジ孔
を設けていて、コンポーネント４０の軸方向の寸法に応
じて、または校正用部品の軸方向の寸法（厚み寸法）に
応じてヘッド２の取り付け位置を適宜定める。
【００４０】次に、第４の実施形態に係る特性測定用治
具の構成を図１９に示す。同図は各構成部を分解斜視図
として示したものであり、３端子コンポーネントの特性
測定用治具を示す。同図においてヘッド１，２の構成
は、これらを上下方向にネジ留め固定するための固定用
孔５５を設けた点以外は第１の実施形態で示したヘッド
１，２と同一である。同図において５１は３端子コンポ
ーネント用終端器であり、ヘッド載置台５２，５３およ
び３端子コンポーネント用載置台５４とともに一体化し
ている。５０は測定対象であるサーキュレータなどの３
端子コンポーネントであり、これを３端子コンポーネン
ト用載置台５４に嵌め込んで、ヘッド載置台５２，５３
に対しヘッド１，２を載置し、ネジ留め固定する。これ
により、ヘッド１，２の入出力面を測定基準面とし、且
つサーキュレータの１端子を無反射終端させた状態で特
性測定を行うことができる。
具の構成を図１９に示す。同図は各構成部を分解斜視図
として示したものであり、３端子コンポーネントの特性
測定用治具を示す。同図においてヘッド１，２の構成
は、これらを上下方向にネジ留め固定するための固定用
孔５５を設けた点以外は第１の実施形態で示したヘッド
１，２と同一である。同図において５１は３端子コンポ
ーネント用終端器であり、ヘッド載置台５２，５３およ
び３端子コンポーネント用載置台５４とともに一体化し
ている。５０は測定対象であるサーキュレータなどの３
端子コンポーネントであり、これを３端子コンポーネン
ト用載置台５４に嵌め込んで、ヘッド載置台５２，５３
に対しヘッド１，２を載置し、ネジ留め固定する。これ
により、ヘッド１，２の入出力面を測定基準面とし、且
つサーキュレータの１端子を無反射終端させた状態で特
性測定を行うことができる。
【００４１】
【発明の効果】この発明の請求項１に係る非放射性誘電
体線路部品の特性測定用治具によれば、２つのヘッドの
入出力面同士を対向させてスルー状態で測定を行い、ま
たラインとして作用する校正用部品を２つのヘッドの入
出力面間に挟み込んで測定を行い、さらに反射器として
作用する校正用部品を２つのヘッドの入出力面に対向さ
せて測定を行うことができ、それらの測定結果からＴＲ
Ｌ２ポート校正法によって測定系の校正を行うことによ
って、前記２つのヘッドの入出力面を測定基準面とし
て、その２つのヘッドの入出力面にコンポーネントの入
出力面を対向させて測定を行うことができる。従って、
非放射性誘電体線路と導波管との変換器の特性に影響さ
れずに、測定対象である非放射性誘電体線路部品単体の
特性を高精度に求めることができる。
体線路部品の特性測定用治具によれば、２つのヘッドの
入出力面同士を対向させてスルー状態で測定を行い、ま
たラインとして作用する校正用部品を２つのヘッドの入
出力面間に挟み込んで測定を行い、さらに反射器として
作用する校正用部品を２つのヘッドの入出力面に対向さ
せて測定を行うことができ、それらの測定結果からＴＲ
Ｌ２ポート校正法によって測定系の校正を行うことによ
って、前記２つのヘッドの入出力面を測定基準面とし
て、その２つのヘッドの入出力面にコンポーネントの入
出力面を対向させて測定を行うことができる。従って、
非放射性誘電体線路と導波管との変換器の特性に影響さ
れずに、測定対象である非放射性誘電体線路部品単体の
特性を高精度に求めることができる。
【００４２】また、この発明の請求項２に係る非放射性
誘電体線路部品の特性測定用治具によれば、２つのヘッ
ドの入出力面同士を対向させてスルー状態で測定を行
い、また反射器すなわちショート板として作用する校正
用部品を２つのヘッドの入出力面に対向させて測定を行
い、オープン器として作用する校正用部品を２つのヘッ
ドの入出力面に対向させて測定を行い、無反射終端器す
なわちロードとして作用する校正用部品を２つのヘッド
の入出力面に対向させて測定を行うことができ、それら
の測定結果からＳＯＬＴフル２ポート校正法によって測
定系の校正を行うことによって、前記２つのヘッドの入
出力面を測定基準面として、その２つのヘッドの入出力
面にコンポーネントの入出力面を対向させて測定を行う
ことができる。従って、非放射性誘電体線路と導波管と
の変換器の特性に影響されずに、測定対象である非放射
性誘電体線路部品単体の特性を高精度に求めることがで
きる。
誘電体線路部品の特性測定用治具によれば、２つのヘッ
ドの入出力面同士を対向させてスルー状態で測定を行
い、また反射器すなわちショート板として作用する校正
用部品を２つのヘッドの入出力面に対向させて測定を行
い、オープン器として作用する校正用部品を２つのヘッ
ドの入出力面に対向させて測定を行い、無反射終端器す
なわちロードとして作用する校正用部品を２つのヘッド
の入出力面に対向させて測定を行うことができ、それら
の測定結果からＳＯＬＴフル２ポート校正法によって測
定系の校正を行うことによって、前記２つのヘッドの入
出力面を測定基準面として、その２つのヘッドの入出力
面にコンポーネントの入出力面を対向させて測定を行う
ことができる。従って、非放射性誘電体線路と導波管と
の変換器の特性に影響されずに、測定対象である非放射
性誘電体線路部品単体の特性を高精度に求めることがで
きる。
【００４３】この発明の請求項３に係る非放射性誘電体
線路部品の特性測定用治具によれば、スルー状態でのヘ
ッド同士の位置関係が一定となり、また各種校正用部品
をヘッドの入出力面に対向させた際にも、その位置関係
が一定となり、常に安定した校正が行われることにな
る。
線路部品の特性測定用治具によれば、スルー状態でのヘ
ッド同士の位置関係が一定となり、また各種校正用部品
をヘッドの入出力面に対向させた際にも、その位置関係
が一定となり、常に安定した校正が行われることにな
る。
【００４４】また、この発明の請求項４に係る非放射性
誘電体線路部品の特性測定用治具によれば、スルー状態
でのヘッド同士の位置関係が予め規定した状態で固定さ
れ、また各種校正用部品をヘッドの入出力面に対向させ
た際にも、その位置関係が予め規定した状態で固定さ
れ、常に安定した校正が行われることになる。
誘電体線路部品の特性測定用治具によれば、スルー状態
でのヘッド同士の位置関係が予め規定した状態で固定さ
れ、また各種校正用部品をヘッドの入出力面に対向させ
た際にも、その位置関係が予め規定した状態で固定さ
れ、常に安定した校正が行われることになる。
【００４５】この発明の請求項５に係る非放射性誘電体
線路部品の特性測定方法によれば、２つのヘッドの入出
力面同士を対向させてスルー状態で測定を行い、またラ
インとして作用する校正用部品を２つのヘッドの入出力
面間に挟み込んで測定を行い、さらに反射器として作用
する校正用部品を２つのヘッドの入出力面に対向させて
測定を行い、それらの測定結果からＴＲＬ２ポート校正
法によって測定系の校正を行うことによって、前記２つ
のヘッドの入出力面を測定基準面として、その２つのヘ
ッドの入出力面にコンポーネントの入出力面を対向させ
て測定を行うことができる。従って、非放射性誘電体線
路と導波管との変換器の特性に影響されずに、測定対象
である非放射性誘電体線路部品単体の特性を高精度に求
めることができる。
線路部品の特性測定方法によれば、２つのヘッドの入出
力面同士を対向させてスルー状態で測定を行い、またラ
インとして作用する校正用部品を２つのヘッドの入出力
面間に挟み込んで測定を行い、さらに反射器として作用
する校正用部品を２つのヘッドの入出力面に対向させて
測定を行い、それらの測定結果からＴＲＬ２ポート校正
法によって測定系の校正を行うことによって、前記２つ
のヘッドの入出力面を測定基準面として、その２つのヘ
ッドの入出力面にコンポーネントの入出力面を対向させ
て測定を行うことができる。従って、非放射性誘電体線
路と導波管との変換器の特性に影響されずに、測定対象
である非放射性誘電体線路部品単体の特性を高精度に求
めることができる。
【００４６】さらに、この発明の請求項６に係る非放射
性誘電体線路部品の特性測定方法によれば、２つのヘッ
ドの入出力面同士を対向させてスルー状態で測定を行
い、また反射器すなわちショート板として作用する校正
用部品を２つのヘッドの入出力面に対向させて測定を行
い、オープン器として作用する校正用部品を２つのヘッ
ドの入出力面に対向させて測定を行い、無反射終端器す
なわちロードとして作用する校正用部品を２つのヘッド
の入出力面に対向させて測定を行い、それらの測定結果
からＳＯＬＴフル２ポート校正法によって測定系の校正
を行うことによって、前記２つのヘッドの入出力面を測
定基準面として、その２つのヘッドの入出力面にコンポ
ーネントの入出力面を対向させて測定を行うことができ
る。従って、非放射性誘電体線路と導波管との変換器の
特性に影響されずに、測定対象である非放射性誘電体線
路部品単体の特性を高精度に求めることができる。
性誘電体線路部品の特性測定方法によれば、２つのヘッ
ドの入出力面同士を対向させてスルー状態で測定を行
い、また反射器すなわちショート板として作用する校正
用部品を２つのヘッドの入出力面に対向させて測定を行
い、オープン器として作用する校正用部品を２つのヘッ
ドの入出力面に対向させて測定を行い、無反射終端器す
なわちロードとして作用する校正用部品を２つのヘッド
の入出力面に対向させて測定を行い、それらの測定結果
からＳＯＬＴフル２ポート校正法によって測定系の校正
を行うことによって、前記２つのヘッドの入出力面を測
定基準面として、その２つのヘッドの入出力面にコンポ
ーネントの入出力面を対向させて測定を行うことができ
る。従って、非放射性誘電体線路と導波管との変換器の
特性に影響されずに、測定対象である非放射性誘電体線
路部品単体の特性を高精度に求めることができる。
【図１】第１の実施形態に係るヘッドの構成を示す斜視
図である。
図である。
【図２】ヘッドの内部構造を示す透視斜視図である。
【図３】反射器の構成を示す図である。
【図４】ライン基板の構成を示す図である。
【図５】無反射終端器の構成を示す図である。
【図６】オープン器の構成を示す図である。
【図７】スルー状態での測定状態を示す図である。
【図８】反射状態での測定形態を示す図である。
【図９】ライン接続状態での測定形態を示す図である。
【図１０】ロード状態での測定形態を示す斜視図であ
る。
る。
【図１１】ライン基板の各ライン長における校正可能な
周波数帯を示す図である。
周波数帯を示す図である。
【図１２】ＴＲＬ校正後のスルー状態におけるＳパラメ
ータの測定結果を示す図である。
ータの測定結果を示す図である。
【図１３】ＴＲＬ校正後のスルー状態での位相特性を示
す図である。
す図である。
【図１４】ＴＲＬ校正後のライン基板挿入状態での位相
特性を示す図である。
特性を示す図である。
【図１５】コンポーネントの構成例を示す斜視図であ
る。
る。
【図１６】コンポーネントの測定形態を示す図である。
【図１７】第２の実施形態に係る測定形態を示す図であ
る。
る。
【図１８】第３の実施形態に係る測定形態を示す図であ
る。
る。
【図１９】第４の実施形態に係る測定形態を示す分解斜
視図である。
視図である。
【図２０】従来の非放射性誘電体線路部品特性評価治具
における測定基準面を示す図である。
における測定基準面を示す図である。
１，２−ヘッド ３，４−導波管（導波路） ５，６−誘電体ストリップ ７，８−溝 ９、１０−固定用孔 １２−ピン穴 １３−ホーン部 １４−導波管部 ２１−反射器 ２２−ネジ孔 ２３−ピン穴 ２４−ライン基板 ２５−金属ブロック ２６−スリット ２７−誘電体ストリップ ３０−無反射終端器 ３１−下部金属ブロック ３２−上部金属ブロック ３３−誘電体ストリップ ３４−充填材入り誘電体ストリップ ３５−オープン器 ３６−ネジ ３７−ナット ４０−コンポーネント（非放射性誘電体線路部品） ４１−下部金属ブロック ４２−上部金属ブロック ４３−誘電体ストリップ ４５−基板 ４６−底板部 ５０−３端子コンポーネント（サーキュレータ） ５１−３端子コンポーネント用終端器 ５２，５３−ヘッド載置台 ５４−３端子コンポーネント用載置台 ５５−固定用孔 ５６−ネジ孔 ６０−実装部 ６１−変換部
Claims (6)
- 【請求項１】 測定対象である高周波機器に対して信号
を入出力して各種特性の測定を行う測定器にそれぞれ導
波路を介して接続される２つのヘッドと、該２つのヘッ
ドの間に挿入される複数種の校正用部品とからなる非放
射性誘電体線路部品の特性測定用治具であって、 前記各ヘッドは、 非放射性誘電体線路部品の入出力面に対向する入出力面
と、前記非放射性誘電体線路と前記導波路との間で伝搬
モードの変換を行う変換部とを有し、 前記複数種の校正用部品は、 前記２つのヘッドの入出力面にそれぞれ対向する２つの
入出力面を有し、この２つの入出力面間に一定長の非放
射性誘電体線路を設けた、ラインとして作用する校正用
部品と、前記ヘッドの入出力面に対向する入出力面を有
し、この入出力面で伝搬信号を反射する、反射器として
作用する校正用部品とを含むものである非放射性誘電体
線路部品の特性測定用治具。 - 【請求項２】 測定対象である高周波機器に対して信号
を入出力して各種特性の測定を行う測定器にそれぞれ導
波路を介して接続される２つのヘッドと、該２つのヘッ
ドの間に挿入される複数種の校正用部品とからなる非放
射性誘電体線路部品の特性測定用治具であって、 前記各ヘッドは、 非放射性誘電体線路部品の入出力面に対向する入出力面
と、前記非放射性誘電体線路と前記導波路との間で伝搬
モードの変換を行う変換部とを有し、 前記複数種の校正用部品は、 前記ヘッドの入出力面に対向する入出力面を有し、伝搬
信号をショートするショート部と、このショート部と前
記入出力面間に一定長の非放射性誘電体線路を設けた、
オープン器として作用する校正用部品と、前記ヘッドの
入出力面に対向する入出力面を有し、この入出力面で伝
搬信号を反射する、反射器として作用する校正用部品
と、前記ヘッドの入出力面に対向する入出力面を有し、
無反射終端器として作用する校正用部品とを含むもので
ある非放射性誘電体線路部品の特性測定用治具。 - 【請求項３】 前記２つのヘッドの入出力面と前記各校
正用部品の入出力面とが予め規定した位置関係に対向す
るように、または前記２つのヘッドの入出力面同士が予
め規定した位置関係に対向するように、前記ヘッドと前
記各校正用部品とに位置決め部をそれぞれ設けた請求項
１または２に記載の非放射性誘電体線路部品の特性測定
用治具。 - 【請求項４】 前記ヘッドの入出力面と前記校正用部品
の入出力面とが予め規定した位置関係に対向する状態
で、または前記２つのヘッドの入出力面同士が予め規定
した位置関係に対向する状態で、前記２つのヘッドと前
記校正用部品とを固定する固定部材および前記２つのヘ
ッド同士を固定する固定部材を設けた請求項１〜３のい
ずれかに記載の非放射性誘電体線路部品の特性測定用治
具。 - 【請求項５】 測定対象である高周波機器に対して信号
を入出力して各種特性の測定を行う測定器にそれぞれ導
波路を介して２つのヘッドを接続し、該２つのヘッドの
間に複数種の校正用部品を挿入して非放射性誘電体線路
部品の特性を測定する方法であって、 前記各ヘッドは、 非放射性誘電体線路部品の入出力面に対向する入出力面
と、前記非放射性誘電体線路と前記導波路との間で伝搬
モードの変換を行う変換部とを有し、 前記複数種の校正用部品は、 前記２つのヘッドの入出力面にそれぞれ対向する２つの
入出力面を有し、この２つの入出力面間に一定長の非放
射性誘電体線路を設けた、ラインとして作用する校正用
部品と、前記ヘッドの入出力面に対向する入出力面を有
し、この入出力面で伝搬信号を反射する、反射器として
作用する校正用部品とを含み、 前記２つのヘッドの入出力面同士を対向させたスルー状
態と、前記２つのヘッドの入出力面の間に前記ラインと
して作用する校正用部品を挿入したライン接続状態と、
前記２つのヘッドの入出力面に前記反射器として作用す
る校正用部品を対向させた反射状態との各状態で特性の
測定を行い、その測定結果から測定系の校正を行い、そ
の後、前記２つのヘッドの入出力面に非放射性誘電体線
路部品の入出力面を対向させて該非放射性誘電体線路部
品の各種特性を測定する、非放射性誘電体線路部品の特
性測定方法。 - 【請求項６】 測定対象である高周波機器に対して信号
を入出力して各種特性の測定を行う測定器にそれぞれ導
波路を介して２つのヘッドを接続し、該２つのヘッドの
間に複数種の校正用部品を挿入して非放射性誘電体線路
部品の特性を測定する方法であって、 前記各ヘッドは、 非放射性誘電体線路部品の入出力面に対向する入出力面
と、前記非放射性誘電体線路と前記導波路との間で伝搬
モードの変換を行う変換部とを有し、 前記複数種の校正用部品は、 前記ヘッドの入出力面に対向する入出力面を有し、伝搬
信号をショートするショート部と、このショート部と前
記入出力面間に一定長の非放射性誘電体線路を設けた、
オープン器として作用する校正用部品と、前記ヘッドの
入出力面に対向する入出力面を有し、この入出力面で伝
搬信号を反射する、反射器として作用する校正用部品
と、前記ヘッドの入出力面に対向する入出力面を有し、
無反射終端器として作用する校正用部品とを含み、 前記２つのヘッドの入出力面同士を対向させたスルー状
態と、前記２つのヘッドの入出力面の間に前記ラインと
して作用する校正用部品を挿入したライン接続状態と、
前記２つのヘッドの入出力面に前記反射器として作用す
る校正用部品を対向させた反射状態と、前記２つのヘッ
ドの入出力面に前記オープン器を対向させたオープン状
態と、前記２つのヘッドの入出力面に前記無反射終端器
を対向させたロード状態との各状態で特性の測定を行
い、その測定結果から測定系の校正を行い、その後、前
記２つのヘッドの入出力面に非放射性誘電体線路部品の
入出力面を対向させて該非放射性誘電体線路部品の各種
特性を測定する、非放射性誘電体線路部品の特性測定方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22338195A JP3412353B2 (ja) | 1995-08-31 | 1995-08-31 | 非放射性誘電体線路部品の特性測定用治具および非放射性誘電体線路部品の特性測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22338195A JP3412353B2 (ja) | 1995-08-31 | 1995-08-31 | 非放射性誘電体線路部品の特性測定用治具および非放射性誘電体線路部品の特性測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0969705A true JPH0969705A (ja) | 1997-03-11 |
| JP3412353B2 JP3412353B2 (ja) | 2003-06-03 |
Family
ID=16797260
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22338195A Expired - Lifetime JP3412353B2 (ja) | 1995-08-31 | 1995-08-31 | 非放射性誘電体線路部品の特性測定用治具および非放射性誘電体線路部品の特性測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3412353B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10197577A (ja) * | 1997-01-10 | 1998-07-31 | Kyocera Corp | 高周波測定の校正標準器および校正法ならびに高周波用伝送線路の伝送損失の測定方法 |
| JP2000244210A (ja) * | 1998-12-25 | 2000-09-08 | Murata Mfg Co Ltd | 誘電体線路導波管変換器、誘電体線路接続構造、１次放射器、発振器および送信装置 |
| US6867660B2 (en) | 1998-12-25 | 2005-03-15 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Line transition device between dielectric waveguide and waveguide, and oscillator, and transmitter using the same |
| CN105826639A (zh) * | 2016-05-13 | 2016-08-03 | 电子科技大学 | 一种矩形波导te10模到te20模宽带模式变换器 |
| JP2018511058A (ja) * | 2015-04-08 | 2018-04-19 | ギャップウェーブス アーベー | マイクロ波解析機器またはマイクロ波測定機器用の較正装置 |
-
1995
- 1995-08-31 JP JP22338195A patent/JP3412353B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10197577A (ja) * | 1997-01-10 | 1998-07-31 | Kyocera Corp | 高周波測定の校正標準器および校正法ならびに高周波用伝送線路の伝送損失の測定方法 |
| JP2000244210A (ja) * | 1998-12-25 | 2000-09-08 | Murata Mfg Co Ltd | 誘電体線路導波管変換器、誘電体線路接続構造、１次放射器、発振器および送信装置 |
| US6867660B2 (en) | 1998-12-25 | 2005-03-15 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Line transition device between dielectric waveguide and waveguide, and oscillator, and transmitter using the same |
| JP2018511058A (ja) * | 2015-04-08 | 2018-04-19 | ギャップウェーブス アーベー | マイクロ波解析機器またはマイクロ波測定機器用の較正装置 |
| CN105826639A (zh) * | 2016-05-13 | 2016-08-03 | 电子科技大学 | 一种矩形波导te10模到te20模宽带模式变换器 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3412353B2 (ja) | 2003-06-03 |
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