CN116746281A - 发光元件驱动装置 - Google Patents

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CN116746281A CN202180090674.3A CN202180090674A CN116746281A CN 116746281 A CN116746281 A CN 116746281A CN 202180090674 A CN202180090674 A CN 202180090674A CN 116746281 A CN116746281 A CN 116746281A
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山田健司
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Abstract

与多个通道相对应的连接端子被配置为能够连接到发光单元，使得可以针对每个通道单独地经由所述连接端子向所述发光单元供应驱动电流。在所述驱动电流到所述发光单元的非供应时段期间，执行感测过程以感测特定故障。所述感测过程包括第一比较过程和第二比较过程，通过所述第一比较过程，在朝向所述两个连接端子中的一个供给上拉电流的情况下，将另一个连接端子处的电压与判断电压进行比较，通过所述第二比较过程，在朝向所述两个连接端子中的所述另一个连接端子供给上拉电流的情况下，将所述一个连接端子处的电压与所述判断电压进行比较。

Description

发光元件驱动装置
技术领域
本公开涉及发光元件驱动装置。
背景技术
LED驱动器对包括发光二极管(LED)的发光单元进行驱动。通常，LED驱动器是通过将半导体集成电路密封在由树脂形成的封装(壳体)中而构建的电子部件，并且具有暴露在封装外的多个外部端子。多个外部端子包括多个连接端子(LED连接端子)，使得这些连接端子分别连接到不同的发光单元。通过单独控制发光单元的发光亮度，可以实现局部调光(局部亮度调整)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2010-182883号公报
发明内容
发明要解决的课题
当LED驱动器安装在电路板上时，两个相互邻近的连接端子可能由于焊料等而无意地短路在一起。两个这样的连接端子可以跨相当低的电阻元件连接在一起。这样的故障使得不可能向发光单元供应期望的驱动电流。高度期望允许适当地感测故障的存在的技术。尽管到目前为止的讨论处理了围绕将LED作为构成发光单元的发光元件并将LED驱动器作为发光元件驱动装置的发光元件驱动装置的情况，针对除LED之外的发光元件的任何发光元件驱动装置发现它们自己处于类似的情况。
本公开旨在提供一种有助于感测邻近端子之间的故障的发光元件驱动装置。
用于解决课题的手段
根据本发明的一个方面，一种发光元件驱动装置包括对应于多个通道的连接端子，并且这些连接端子被配置为能够连接到具有一个或多个发光元件的发光单元。所述发光元件驱动装置被配置为能够针对所述通道中的每一个单独地经由所述连接端子向所述发光单元供应驱动电流。所述发光元件驱动装置包括特定故障传感器，所述特定故障传感器被配置为能够在所述驱动电流到所述发光单元的非供应时段期间执行用于感测特定故障的感测过程。所述特定故障是所述多个连接端子中彼此近邻的两个连接端子之间的电阻值的异常。所述特定故障传感器包括：上拉电路，所述上拉电路被配置为能够针对所述通道中的每一个单独地朝向所述连接端子供给上拉电流；以及比较器，所述比较器被配置为将所述连接端子处的电压与预定的判断电压进行比较。所述感测过程包括：第一比较过程，通过所述第一比较过程，在朝向所述两个连接端子中的一个连接端子供给所述上拉电流的情况下，将所述两个连接端子中的另一个连接端子处的电压与所述判断电压进行比较；以及第二比较过程，通过所述第二比较过程，在朝向所述两个连接端子中的另一个连接端子供给所述上拉电流的情况下，将所述两个连接端子中的所述一个连接端子处的电压与所述判断电压进行比较。基于所述第一和第二比较过程的结果，所述特定故障传感器感测两个连接端子处的特定故障的存在或不存在。
发明的效果
根据本公开，可以提供一种有助于感测近邻端子之间的故障的发光元件驱动装置。
附图说明
图1是根据本公开的实施方式的发光系统的总体配置图。
图2是示出根据本公开的实施方式的发光系统中的多个通道的示意图。
图3是示出根据本公开的实施方式的发光系统中的多个组的示意图。
图4是可以在根据本公开的实施方式的发光系统中执行的八部分时分照明操作的时序图。
图5是根据本公开的实施方式的LED驱动器的外部透视图。
图6是根据本公开的实施方式的LED驱动器的平面图。
图7是示出根据本公开的实施方式的两个近邻连接端子之间的关系的示意图。
图8是示出根据本公开的实施方式的特定故障传感器的配置的示意图。
图9是示出根据本公开的实施方式的在特定故障感测过程中设置的第一检查时段和第二检查时段的示意图。
图10是示出根据属于本公开的实施方式(情况CS1)的实施例1的第一检查时段和第二检查时段期间的信号波形等的示意图。
图11是示出根据属于本公开的实施方式(情况CS2)的实施例1的第一检查时段和第二检查时段期间的信号波形等的示意图。
图12A是示出根据属于本公开的实施方式的实施例1的两个连接端子处的端子电压和端子电流的关系的示意图。
图12B是示出根据属于本公开的实施方式的实施例1的两个连接端子处的端子电压和端子电流的关系的示意图。
图13是示出根据属于本公开的实施方式的实施例2的连续排列的四个连接端子的示意图。
图14是示出根据属于本公开的实施方式的实施例2的在四个连接端子连续排列的情况下对开关的控制的示意图。
具体实施方式
下面将参考附图具体描述实现本公开的示例。在过程中所参考的示意图中，相同的部件由相同的附图标记标识，并且原则上将不重复相同部件的重叠描述。在本描述中，为了简单起见，有时在省略或缩写与那些符号和附图标记相对应的信息、信号、物理量、元件、部件等的名称的情况下使用指代信息、信号、物理量、元件、部件等的符号和附图标记。例如，稍后描述并由附图标记“CH[1]”(参见图1)标识的连接端子有时被称为连接端子CH[1]，并且在其他时间缩写为端子CH[1]，两者都是指相同的实体。
首先，将定义用于描述本公开的实施方式的术语中的一些术语。“接地”表示0V(零伏)的基准电位的基准导体，或表示0V的电位本身。基准导体由诸如金属的导电材料形成。0V的电位有时被称为接地电位。在本公开的实施方式中，在没有提及特定基准的情况下提及的任何电压是相对于接地的电位。
“电平”表示电位的电平，并且对于任何感兴趣信号或电压，“高电平”具有比“低电平”更高的电位。对于任何感兴趣信号或电压，其处于高电平意味着更精确地其电平等于高电平，并且其处于低电平意味着更精确地其电平等于低电平。信号的电平有时被称为信号电平，并且电压的电平有时被称为电压电平。
对于被配置为FET(场效应晶体管)的任何晶体管(其可以是MOSFET)，“导通状态”是指晶体管的漏极-源极沟道导通的状态，而“截止状态”是指晶体管的漏极-源极沟道不导通(切断)的状态。类似的定义适用于未被分类为FET的任何晶体管。除非另有说明，否则任何MOSFET可以被理解为增强MOSFET。“MOSFET”是“金属氧化物半导体场效应晶体管”的缩写。
任何开关可以被配置有一个或多个FET(场效应晶体管)。当给定开关处于导通状态时，开关端子两端导通；当给定开关处于截止状态时，开关端子两端不导通。在以下描述中，对于任何晶体管，其处于导通或截止状态有时分别简单地表示为其导通或截止。对于任何晶体管或开关，其处于导通状态的时段通常称为导通时段，而其处于截止状态的时段通常称为截止时段。除非另有说明，否则无论在何处讨论构成电路的多个部分之间(如在给定的电路元件、布线(导体)、节点等之间)的“连接”，该术语应被理解为表示“电连接”。
图1是根据本公开的实施方式的发光系统SYS的总体配置图。发光系统SYS包括LED驱动器1(作为发光元件驱动装置的示例)、用于控制LED驱动器1的MPU(微处理器单元)2、由LED驱动器1驱动的多个发光单元和输出电源电压VIN的电源电路3。电源电压VIN是正直流电压。LED驱动器1具有在其处接收电源电压VIN的端子VINSW，并且基于电源电压VIN进行操作。发光系统SYS还包括布线6、7和8[1]至8[24]、上拉电阻器RPU以及电流设置电阻器RISET作为其部件。电源电路3可以作为其部件包括在LED驱动器1中。在这种情况下，端子FB(稍后描述)用作LED驱动器1的内部端子。
在发光系统SYS中的多个发光单元之间不需要区别的情况下，发光单元将被称为发光单元LL。每个发光单元LL包括一个或多个LED(发光二极管)。例如，每个发光单元LL被配置为多个LED的串联电路。替代地，每个发光单元LL可以被配置有多个LED的并联电路，或多个LED的串联电路和多个LED的并联电路两者可以一起构成一个发光单元LL。甚至单个LED也可以构成一个发光单元LL。每个发光单元LL具有高电位端子和低电位端子，并且发光单元LL中的每个LED具有从高电位端子指向低电位端子的正向方向。
这里假设发光系统SYS包括总共24×8个发光单元LL作为多个发光单元LL，并且这些24×8个发光单元LL将由符号LL[1，1]至LL[24，8]标识。发光单元LL[1，1]至LL[24，8]中的给定发光单元LL将被称为发光单元LL[i，j]，其中i是满足1≤i≤24的任何整数，并且j是满足1≤j≤8的任何整数。发光系统SYS和LED驱动器1具有第1至第24通道，使得如图2所示，发光单元LL[i，1]至LL[i，8]属于第i通道(换句话说，对应于第i通道)。另一方面，发光单元LL[1，1]至LL[24，8]可以被分类为第一至第八组，使得如图3所示，发光单元LL[1，j]至LL[24，j]属于第j组(换句话说，对应于第j组)。
LED驱动器1具有与通道的总数量一样多的连接端子CH[1]至CH[24]。连接端子CH[i]属于第i通道(换句话说，对应于第i通道)。连接端子CH[i]是将属于第i通道的发光单元LL[i，1]至LL[i，8]连接到其上的发光单元连接端子。在连接端子CH[1]至CH[24]之间不需要区别的情况下，连接端子有时将被称为连接端子CH。
发光系统SYS具有与组的总数量一样多的SW[1]至SW[8]。SW[j]是对应于第j组的开关。所有开关SW[1]至SW[8]的一个端子连接到电源电路3的输出端子，以接收电源电路3的输出电压(即，电源电压VIN)。开关SW[j]的另一个端子连接到第j组的所有发光单元LL[1，j]至LL[24，j]的高电位端子。属于第i通道的所有发光单元LL[i，1]至LL[i，8]的低电位端子连接到布线8[i]。布线8[i]连接到连接端子CH[i]。
LED驱动器1包括驱动器块10和控制块20。驱动器块10包括电流驱动器DRV[1]至DRV[24]。电流驱动器DRV[i]属于第i通道(换句话说，对应于第i通道)。因此，驱动器块10包括电流驱动器，每个通道一个。在为每个通道提供的总共24个电流驱动器之间不需要区分的情况下，电流驱动器有时将被称为电流驱动器DRV。电流驱动器DRV[1]至DRV[24]在配置和功能上是相同的。在每个通道中，电流驱动器DRV[1]包括恒定电流电路；在正常照明操作中，在控制块20的控制下，电流驱动器DRV[i]操作为使得驱动电流ILED[i]在从连接端子CH[i]到接地的方向上流动。由于驱动电流ILED[1]经由连接端子CH[1]流动到发光单元LL[1，j]，发光单元LL[1，j]发光，并且由于驱动电流ILED[2]经由连接端子CH[2]流动到发光单元LL[2，j]，发光单元LL[2，j]发光。类似的描述适用于任何其他驱动电流和任何其他发光单元。
控制块20全面地控制LED驱动器1内的部件的操作。LED驱动器1具有连接到开关SW[1]至SW[8]的控制端子的端子GC[1]至GC[8]。控制块20可以经由端子GC[1]至GC[8]单独地接通和关断开关SW[1]至SW[8]。开关SW[1]至SW[8]均可以利用例如p沟道MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)来实施。在这种情况下，作为开关SW[1]至SW[8]的所有MOSFET的源极可以被供给电源电压VIN，作为开关SW[j]的MOSFET的漏极可以连接到所有发光单元LL[1，j]至LL[24，j]的高电位端子，并且控制块20可以经由端子GC[1]至GC[8]控制作为开关SW[1]至SW[8]的MOSFET的栅极电位。控制块20具有在正常照明操作中基于连接端子CH[1]至CH[24]的电压经由端子FB调整电源电路3的电源电压VIN的功能。
LED驱动器1具有经由布线6连接到MPU2的端子FAILB。MPU2基于作为预定正直流电压的电源电压VCC进行操作。连接在端子FAILB和MPU2之间的布线6经由上拉电阻器RPU连接到用于电源电压VCC的施加端子(电源电压VCC施加到的端子)。MPU2还经由通信布线7连接到端子COM，端子COM是LED驱动器1的通信端子。LED驱动器1和MPU2可以经由通信布线4彼此双向通信。通过这种双向通信，MPU2可以向LED驱动器1发送期望的命令，并且LED驱动器1可以向MPU2发送响应于接收到的命令的信号。虽然图1仅示出了一个端子COM，但是实际上端子COM包括多个外部端子，并且与它们相对应，通信布线7包括多个布线。可以在LED驱动器1和MPU2之间采用任何通信方法，并且它可以是符合SPI(串行外围接口)的通信方法。
LED驱动器1还具有端子GND和IISET。端子GND连接到接地。电流设置电阻器RISET被提供在LED驱动器1的外部。电流设置电阻器RISET的一个端子连接到端子IISET，并且电流设置电阻器RISET的另一个端子连接到接地。基于电流设置电阻器RISET的值和来自MPU2的命令，控制块20可以单独地设置驱动电流ILED[1]至ILED[24]的量值。
LED驱动器1包括特定故障传感器30作为其独特部件。稍后将描述特定故障传感器30的配置和功能。
参考图4，将给出作为一种类型的正常照明操作的八部分时分照明操作的描述。在八部分时分照明操作中，设置具有预定时间长度的单位时段。单位时段以预定周期重复设置。每个单位时段被划分成八个部分，并且因此设置第一至第八划分时段。在第一至第八划分时段中，控制块20逐个接通开关SW[1]至SW[8]。具体地，在第j划分时段中，在开关SW[1]至SW[8]中，只有开关SW[j]保持接通，而其他七个开关保持关断。因此，在第j划分时段中，电源电压VIN经由开关[j]仅供应给第一至第八组中的第j组的发光单元LL[1，j]至Ll[24，j]的高电位端子，使得只有发光单元LL[1，j]至Ll[24，j]可以发光。
在第一至第八划分时段的每一个中，控制块20针对每个通道通过PWM对电流驱动器DRV进行驱动。PWM是脉宽调制的简称。在每个划分时段中的PWM驱动中，针对每个通道控制供应驱动电流ILED[i]的时间跨度(即，时间长度)。具体地，通过PWM单独控制供应驱动电流ILED[1]至ILED[24]的时间跨度。以这种方式，在每个划分时段中，对应的发光单元LL被脉冲点亮，并且通过时间跨度的这种控制，单独控制总共24×8个发光单元LL的平均亮度。
例如，在包括发光单元LL[1，1]至11[24，8]的发光块用作诸如液晶显示面板的显示面板(显示屏)的光源的情况下，可以与从外部供给LED驱动器1的垂直同步信号同步地设置单位时段。在这种情况下，以垂直同步信号的周期重复地设置单位时段。显示面板的整个显示区域被划分成多个划分区域(例如，24×8个划分区域)，其中每个划分区域被分配一个或多个发光单元LL。然后，根据要在每个显示区域中显示的图像的亮度等，可以调整对应发光单元LL的发光亮度，并且因此可以实现与划分区域的总数量相对应的局部调光(局部亮度调整)。
虽然以上描述涉及八部分时分照明操作作为正常照明操作的示例，但是正常照明操作可以是其中驱动电流ILED[i]被供应给任何一个或多个发光单元LL[i，j]以使它们发光的任何操作。例如，驱动电流ILED[1]至ILED[24]可以在开关SW[j]的导通时段期间被恒定地供应以执行DC驱动，或开关SW[1]至SW[8]中的两个或多个可以同时保持接通。
图5是LED驱动器1的外部透视图。构成LED驱动器1的功能块(包括10、20和30)被配置为半导体集成电路。LED驱动器1是通过将半导体集成电路密封在由树脂形成的封装(壳体)中而构建的电子部件。LED驱动器1的封装具有暴露在封装外的多个外部端子。LED驱动器1的多个端子包括上述端子CH[1]至CH[24]、GC[1]至CH[8]、FB、VINSW、FAILB、COM、ISET和GND。LED驱动器1还具有将不具体描述的其他外部端子。
图6是在LED驱动器1的布置有外部端子的面上看到的LED驱动器1的示意性平面图。在这里采用的示例中，LED驱动器1具有称为QFN(四方扁平无引线)的封装(壳体)。在这种情况下，LED驱动器1具有基本上为矩形平行六面体形状的封装，并且沿着构成封装的底面的面的四个边SD1至SD4中的每一个具有多个外部端子(图6是在底面上看到的平面图)。LED驱动器1可以具有除QFN之外的任何封装，示例包括DFN(双扁平无引线)和SOP(小轮廓封装)。
LED驱动器1的封装的底面具有矩形形状(其可以是正方形)。矩形形状的四个边包括彼此相对的边SD1和SD2以及彼此相对的边SD3和SD4。LED驱动器1的外部端子均被布置在边SD1至SD4中的一个处。注意连接端子CH[1]至CH[24]，这些连接端子CH[1]至CH[24]被布置在边SD1至SD4中的一个或多个处，以便分布在边SD1至SD4中的一个或多个中。例如，连接端子CH[1]至CH[12]可以沿着边SD1布置，并且连接端子CH[13]至CH[24]可以沿着边SD2布置。
如果两个连接端子CH沿着同一边(例如，SD1)布置以便彼此相邻，则两个连接端子CH可能被焊料、凝结的湿气等短路。或，如果短路，则两个这样的连接端子可能跨相当低的电阻部件连接在一起。这里，这样的状态将被称为特定故障。如图7所示，沿着同一边布置以便彼此相邻的两个连接端子CH将被称为连接端子CHA和CHB。没有其他外部端子布置在连接端子CHA和CHB之间。在图7中，由符号“REXT”标识的电阻不是被有目的地提供在发光系统SYS中的电阻器，而是在LED驱动器1外部的连接端子CHA和CHB之间意外存在的电阻性部件。电阻REXT例如由当LED驱动器1安装在电路板(未示出)上时可能无意地留在电路板上的连接端子CHA和CHB之间、或可能由于冷凝而形成在连接端子CHA和CHB之间的水分、或可能由于土壤等而沉积在连接端子CHA和CHB之间的异物产生。
连接端子CHA和CHB处的特定故障是连接端子CHA和CHB之间的电阻值(即，电阻REXT的值)的异常，并且更具体地是其中连接端子CHA和CHB之间的电阻值(即，电阻REXT的值)变为预定值或更低的故障。换句话说，连接端子CHA和CHB之间的特定故障是其中连接端子CHA和CHB之间的电位差引起显著电流在连接端子CHA和CHB之间流动的故障。其中连接端子CHA和CHB短路在一起的状态对应于其中电阻REXT的值相当低的状态，并且因此视为特定故障。
特定故障传感器30(参见图1)执行特定故障感测过程，该特定故障感测过程是用于感测特定故障的处理。特定故障传感器30基于连接端子CHA和CHB处的电压来感测连接端子CHA和CHB处的特定故障的存在或不存在。当驱动电流流过连接端子CHA和CHB时(例如，当驱动电流ILED[1]和ILED[2]流过连接端子CH[1]和CH[2]时)，连接端子CHA和CHB处的电压取决于电源电压VIN和对应发光单元LL两端的电压降。在多个发光单元LL中，它们两端的电压降通常是相等的；因此，当驱动电流流过连接端子CHA和CHB时，无论是否存在特定故障，连接端子CHA和CHB处的电压通常都是相等的。这使得当供应驱动电流时难以确定特定故障的存在或不存在。在这被考虑的情况下，特定故障传感器30在驱动电流到发光单元LL的非供应时段期间执行特定故障感测过程。驱动电流到发光单元LL的非供应时段是不向包括发光单元LL[1，8]至LL[24，8]的发光块供应驱动电流ILED[1]至ILED[24]的时段(换句话说，驱动器块10不向包括发光单元LL[1，8]至LL[24，8]的发光块供应驱动电流ILED[1]至ILED[24]的时段)，并且可以是除了执行上述正常照明操作的时段之外的任何时段。在驱动电流到发光单元LL的非供应时段中，开关SW[1]至SW[8]都关断，并且发光单元LL的高电位端子关断。
例如，当LED驱动器1开始被供应可以使其启动的电源电压VIN并且因此LED驱动器1启动时，控制块20首先执行预定的启动初始过程，并且在完成其执行时，实现到正常模式的转变，在该正常模式中，控制块20可以执行正常照明操作。在启动初始过程的执行时段期间，不执行正常照明操作。在启动初始过程的执行时段期间，控制块20从MPU2接收预定的测试指令命令，并且在接收到它时，使特定故障传感器30执行特定故障感测过程。当执行特定故障感测过程时，直到其执行完成才允许到正常模式的转变；在完成特定故障感测过程的执行之后，允许到正常模式的转变。
图8示出了特定故障传感器30的内部配置。特定故障传感器30包括用于每个通道的感测电路。在与多个通道相对应的多个感测电路之间不需要区分的情况下，感测电路将被称为感测电路31。与第i通道相对应的感测电路将具体地由符号“31[i]”标识。特定故障传感器30包括感测电路31[1]至31[24]。特定故障传感器30还包括确定器32。每个感测电路31包括控制开关、上拉恒定电流电路、下拉恒定电流电路和比较器。感测电路31[i]中的控制开关、上拉恒定电流电路、下拉恒定电流电路和比较器将分别由符号“SWPU[i]”、“CCPU[i]”、“CCPD[i]”和“CMP[i]”标识。连接端子CH处的电压将被称为端子电压，并且连接端子CH[i]处的端子电压将具体地由符号“VCH[i]”标识。比较器的输出信号将被称为比较结果信号，并且比较器CMP[i]的输出信号将具体地由符号“CMPOUT[i]”标识。
感测电路31[1]至31[24]在配置上是相同的。感测电路31与对应的连接端子CH之间的互连在第1至第24个通道中是相同的。因此，注意第i通道(1≤i≤24)，将给出感测电路31[i]的配置和操作以及感测电路31[i]与连接端子CH[i]之间的互连的描述。
在感测电路31[i]中，控制开关SWPU[i]的一个端子连接到用于预定内部电压VREG的施加端子(即，内部电压VREG施加到的端子)，并且控制开关SWPU[i]的另一个端子经由上拉恒定电流电路CCPU[i]连接到连接端子CH[i]。连接端子CH[i]经由下拉恒定电流电路CCPD[i]连接到接地，并且还连接到比较器CMP[i]的非反相端子。比较器CMP[i]的反相输入端子被供给预定的判断电压VTH。内部电压VREG和判断电压VTH是基于LED驱动器1内的内部电源电路(未示出)中的电源电压VIN产生的正直流电压。内部电压VREG(例如3.3V)高于判断电压VTH(例如0.15V)。
控制开关SWPU[i]和恒定电流电路CCPU[i]构成上拉电路，该上拉电路可以朝向连接端子CH[i]供给上拉电流IPU。具体地，在感测电路31[i]中，只有当控制开关SWPU[i]接通时，上拉恒定电流电路CCPU[i]才接收内部电压VREG，并且基于内部电压VREG产生上拉电流IPU，以从用于内部电压VREG的施加端子向连接端子CH[i]供给上拉电流IPU(即由上拉电流产生的正电荷)。在控制开关SWPU[i]的导通期间，恒定电流电路CCPU[i]操作为使得朝向连接端子CH[i]供给具有预定电流值IPU_VAL的上拉电流IPU，但不具有将端子电压VCH[i]升高到高于内部电压VREG的能力。因此，在控制开关SWPU[i]的导通时段期间，直到端子电压VCH[i]达到内部电压VREG，上拉电流IPU的值等于电流值IPU_VAL，但是，在端子电压VCH[i]已经基本上达到内部电压VREG的情况下，上拉电流IPU的值小于电流值IPU_VAL。在控制开关SWPU[i]的截止时段期间，恒定电流电路CCPU[i]不产生上拉电流IPU，并且没有电流在恒定电流电路CCPU[i]和连接端子CH[i]之间流过。
在感测电路31[i]中，下拉恒定电流电路CCPD[i]不断地从连接端子CH[i](即，从上拉恒定电流电路CCPU[i]与连接端子CH[i]之间的连接节点)向接地汲取下拉电流IPD(由下拉电流IPD产生的正电荷)。恒定电流电路CCPD[i]操作为使得从连接端子CH[i]朝向接地汲取具有预定电流值IPD_VAL的下拉电流IPD，但是不具有使得端子电压VCH[i]降至低于0V的能力。因此，如果端子电压VCH[i]高于0V，则下拉电流IPD的值等于电流值IPD_VAL，但是在端子电压VCH[i]已经基本上下降到0V的情况下，下拉电流IPD的值小于电流值IPD_VAL(并且可以为零)。
作为下拉电流IPD的量值的设定值的电流值IPD_VAL小于作为上拉电流IPU的量值的设定值的电流值IPU_VAL。例如，电流值IPU_VAL为3mA(毫安)，并且电流值IPD_VAL为20μA(微安)。下拉电流IPD具有通过供给上拉电流IPU来使存储在连接端子CH[i]处的正电荷放电的功能。因此，下拉电流IPD可以被称为放电电流，并且下拉恒定电流电路CCPD[i]可以被称为放电恒定电流电路CCPD[i]。
在感测电路31[i]中，比较器CMP[i]将端子电压VCH[i]与预定的判断电压VTH进行比较，以输出指示比较结果的比较结果信号CMPOUT[i]。比较结果信号CMPOUT[i]是将其信号电平视为高电平或低电平的二值信号。如果端子电压VCH[i]高于判断电压VTH，则比较器CMP[i]将比较结果信号CMPOUT[i]保持在高电平，并且如果端子电压VCH[i]低于判断电压VTH，则比较器CMP[i]将比较结果信号CMPOUT[i]保持在低电平。如果端子电压VCH[i]刚好等于判断电压VTH，则比较结果信号CMPOUT[i]处于高电平或低电平。
确定器32被供给比较结果信号CMPOUT[1]至CMPOUT[24]。基于比较结果信号CMPOUT[1]至CMPOUT[24]，确定器32检查在连接端子CH[1]至CH[24]中的处于与连接端子CHA和CHB(参见图7)的类似关系的两个给定连接端子CH之间的特定故障的存在或不存在。
现在，通过多个实施例，将呈现特定故障传感器30、LED驱动器1或发光系统SYS的配置和操作的一些具体示例以及与其相关联的所应用和修改的技术。除非另有说明或除非不一致，否则上面结合实施例给出的任何描述都适用于下面呈现的实施例。对于与上面描述的内容相矛盾的实施例的任何描述，可以以结合实施例给出的描述为准。除非不一致，否则结合下面呈现的任何一个实施例给出的任何描述都适用于任何其他实施例(即，任何两个或更多个实施例可以被组合地实施)。
<<实施例1>>
将描述实施例1。实施例1假设图7中的连接端子CHA和CHB对应于连接端子CH[1]和CH[2]，并且涉及感测连接端子CH[1]和CH[2]处的特定故障的存在或不存在的方法。因此，结合实施例1提及的电阻REXT表示连接端子CH[1]和CH[2]之间的电阻性部件，并且结合实施例1提及的特定故障表示连接端子CH[1]和CH[2]处的特定故障。
在特定故障感测过程中，特定故障传感器30设置第一检查时段和第二检查时段。第一和第二检查时段是彼此不重叠的两个时段。虽然第一和第二检查时段可以以任何顺序发生，但是这里假设它们被设置为使得第一检查时段之后是第二检查时段(这同样适用于稍后描述的任何其他实施例)。
如上所述，在驱动电流到发光单元LL的非供应时段期间，执行特定故障感测过程，并且因此，在第一和第二检查时段期间都不向发光单元LL供应驱动电流(即，发光单元LL处于不发光状态)。如图9所示，在第一检查时段期间，特定故障传感器30保持控制开关SWPU[1]接通并且保持控制开关SWPU[2]关断。因此，第一检查时段期间，第一通道的上拉电路(即，SWPU[1]，CCPU[1])朝向连接端子CH[1]供给上拉电流IPU，并且第二通道的上拉电路(即，SWPU[2]，CCPU[2])暂停朝向连接端子CH[2]供给上拉电流IPU。相比之下，在第二检查时段中，特定故障传感器30保持控制开关SWPU[2]接通并且保持控制开关SWPU[1]关断。因此，第二检查时段期间，第二通道的上拉电路(即，SWPU[2]，CCPU[2])朝向连接端子CH[2]供给上拉电流IPU，并且第一通道的上拉电路(即，SWPU[1]，CCPU[1])暂停朝向连接端子CH[1]供给上拉电流IPU。顺便提及，在第一检查时段之前和在第二检查时段之后，控制开关SWPU[1]和SWPU[2]保持关断。
第一检查时段在时间点t1处开始并在时间点t3处结束。第二检查时段在时间点t3处开始并在时间点t5处结束。虽然在这里第一检查时段的结束时间点和第二检查时段的开始时间点在时间点t3处重合，但是在第一检查时段的结束时间点和第二检查时段的开始时间点之间可能存在时间滞后。在第一检查时段内，从时间点t1经过预定时间ΔtA的时间点将被称为检查时间点t2。检查时间点t2比时间点t3更早地出现。在第二检查时段内，从时间点t3经过预定时间ΔtB的时间点将被称为检查时间点t4。检查时间点t4比时间点t5更早地出现。预定时间ΔtA和ΔtB相等，但是可以不同。
图10示出了在情况CS1下的控制开关的状态和端子电压的波形等。在情况CS1下，连接端子CH[1]和CH[2]没有短路在一起，并且连接端子CH[1]和CH[2]之间的电阻REXT足够高。
在情况CS1下，当第一检查时段开始时，随着来自恒定电流电路CCPU[1]的上拉电流IPU，端子电压VCH[1]基本上从其初始电压(例如，0V)急剧上升到内部电压VREG。在此之后，在检查时间点t2之后直到时间点t3的时段期间，端子电压VCH[1]基本上保持在内部电压VREG，并且因此比较结果信号CMPOUT[1]保持在高电平。另一方面，在情况CS1下，在第一检查时段期间，通过恒定电流电路CCPD[2]的功能，端子电压VCH[2]始终保持在0V，并且因此比较结果信号CMPOUT[2]始终保持在低电平。
在情况CS1下，当第二检查时段开始时，随着来自恒定电流电路CCPU[2]的上拉电流IPU，端子电压VCH[2]基本上从其初始电压(例如，0V)急剧上升到内部电压VREG。在此之后，在检查时间点t4之后直到时间点t5的时段期间，端子电压VCH[2]基本上保持在内部电压VREG，并且因此比较结果信号CMPOUT[2]保持在高电平。另一方面，在情况CS1下，在第二检查时段期间，通过恒定电流电路CCPD[1]的功能，端子电压VCH[1]始终保持在0V，并且因此比较结果信号CMPOUT[1]始终保持在低电平。
图11示出了在情况CS2下的控制开关的状态和端子电压的波形等。在情况CS2下，连接端子CH[1]和CH[2]短路在一起，并且连接端子CH[1]和CH[2]之间的电阻REXT足够低。
在情况CS2下，当第一检查时段开始时，利用来自恒定电流电路CCPU[1]的上拉电流IPU，端子电压VCH[1]从其初始电压(例如，0V)急剧地大致上升到内部电压VREG。在此之后，在检查时间点t2之后直到时间点t3的时段期间，端子电压VCH[1]大致保持在内部电压VREG，并且因此比较结果信号CMPOUT[1]保持在高电平。此外，在情况CS2下，在第一检查时段期间，来自恒定电流电路CCPU[1]的上拉电流IPU经由连接端子CH[1]和电阻REXT流动到连接端子CH[2]，并且因此端子电压VCH[2]是比端子电压VCH[1]低电阻REXT两端的电压降的电压。在图11中，电阻REXT被假设为足够低，并且因此在第一检查时段期间，端子电压VCH[2]大致等于内部电压VREG。因此，在情况CS2下，在检查时间点t2之后直到时间点t3的时段期间，与端子电压VCH[1]一样，端子电压VCH[2]大致保持在内部电压VREG，并且因此比较结果信号CMPOUT[2]保持在高电平。
在情况CS2下，已经在第二检查时段的开始时间点t3处，端子电压VCH[2]大致等于内部电压VREG，并且此外，在此之后，利用来自恒定电流电路CCPU[2]的上拉电流IPU，端子电压VCH[2]保持在内部电压VREG。因此，在整个第二检查时段期间，比较结果信号CMPOUT[2]保持在高电平。此外，在情况CS2下，在第二检查时段期间，来自恒定电流电路CCPU[2]的上拉电流IPU经由连接端子CH[2]和电阻REXT流动到连接端子CH[1]，并且因此端子电压VCH[1]是比端子电压VCH[2]低电阻REXT两端的电压降的电压。在图11中，电阻REXT被假设为足够低，并且因此在第二检查时段期间，端子电压VCH[1]大致等于内部电压VREG。因此，在情况CS2下，在整个第二检查时段期间，与端子电压VCH[2]一样，端子电压VCH[1]大致保持在内部电压VREG，并且因此比较结果信号CMPOUT[1]保持在高电平。
确定器32接收检查时间点t2处的比较结果信号CMPOUT[2]和检查时间点t4处的比较结果信号CMPOUT[1]作为第一和第二评估信号。如果第一和第二评估信号都处于高电平，则确定器32确定在连接端子CH[1]和CH[2]处存在特定故障；否则，确定器32确定端子CH[1]和CH[2]处不存在特定故障(换句话说，它不确定特定故障的存在)。因此，在图10中的情况CS1下，确定在连接端子CH[1]和CH[2]处不存在特定故障，并且在图11中的情况CS2下，确定在连接端子CH[1]和CH[2]处存在特定故障。
特定故障感测过程可以理解为包括第一比较过程和第二比较过程。注意两个相互近邻的连接端子CH[1]和CH[2]，第一比较过程是通过使用比较器CMP[2]将检查时间点t2处的端子电压VCH[2]与判断电压VTH进行比较的过程，并且第一检查时段包括第一比较过程的执行时段(即，在第一检查时段中执行第一比较过程)。另一方面，第二比较过程是通过使用比较器CMP[1]将检查时间点t4处的端子电压VCH[1]与判断电压VTH进行比较的过程，并且第二检查时段包括第二比较过程的执行时段(即，在第二检查时段中执行第二比较过程)。基于第一和第二比较过程的结果(即，基于第一和第二评估信号)，特定故障传感器30(确定器32)感测连接端子CH[1]和CH[2]处的特定故障的存在或不存在。
具体地，如果在第一比较过程中，在朝向一个连接端子(这里，CH[1])供给上拉电流IPU的情况下，另一个连接端子(这里，CH[2])处的电压高于判断电压VTH，并且另外，在第二比较过程中，在朝向另一个连接端子(这里，CH[2])供给上拉电流IPU的情况下，一个连接端子(这里，CH[1])处的电压高于判断电压，则特定故障传感器30(确定器32)感测这两个连接端子(这里，CH[1]和CH[2])处的特定故障的存在。
基于电阻REXT的值的量值来确定特定故障的存在或不存在。图12A示出了在第一检查时段中端子电压VCH[1]与端子电流ICH[1]之间以及端子电压VCH[2]与端子电流ICH[2]之间的关系。图12B示出了在第二检查时段中端子电压VCH[2]与端子电流ICH[2]之间以及端子电压VCH[1]与端子电流ICH[1]之间的关系。端子电流ICH[i]是流过连接端子CH[i]的电流。这里，在第一检查时段中，端子电流ICH[1]被假设为在从LED驱动器1内部经由连接端子CH[1]流动到LED驱动器1外部时是正的，并且端子电流ICH[2]被假设为在从LED驱动器1外部经由连接端子CH[2]流动到LED驱动器1内部时是正的。相比之下，在第二检查时段中，端子电流ICH[2]被假设为在从LED驱动器1内部经由连接端子CH[2]流动到LED驱动器1外部时是正的，并且端子电流ICH[1]被假设为在从LED驱动器1外部经由连接端子CH[1]流动到LED驱动器1内部时是正的。
在第一检查时段(参见图12A)中，端子电流ICH[1]和ICH[2]刚好相等的点是操作点。操作点处的端子电压VCH[2]随着电阻REXT的值增加而减小，并且随着电阻REXT的值减小而增加。如果电阻REXT的值如此低以至于操作点处的端子电压VCH[2]高于判断电压VTH，则第一检查时段中的比较结果信号CMPOUT[2]处于高电平。类似的理解适用于第二检查时段。如果电阻REXT的值高于预定值，则确定特定故障的不存在；如果电阻REXT的值低于预定值，则确定特定故障的存在。这里，预定值取决于判断电压VTH。
根据实施例1，可以正确地感测在两个连接端子CH处的特定故障的存在或不存在。
<<实施例2>>
将描述实施例2。虽然在实施例1中只关注两个连接端子CH，但是连续排列的任何数量的连接端子CH可以经受特定故障的存在或不存在的感测。连续排列的三个或更多个连接端子CH包括两个相互近邻的连接端子CH的多个组合；对于每个组合，两个连接端子CH可以被视为连接端子CHA和CHB，并且对于每个组合，可以通过结合实施例1描述的方法来感测特定故障的存在或不存在。
例如，如图13所示，假设在边SD1至SD4(参见图6)中的一个边处，连续排列的连接端子CH[1]至CH[4]。连接端子CH[1]、CH[2]、CH[3]和CH[4]沿着该一个边依次排列。没有其他端子布置在连接端子CH[1]与CH[2]之间、在连接端子CH[2]与CH[3]之间或在连接端子CH[3]与CH[4]之间。即，连接端子CH[1]与CH[2]彼此相邻，连接端子CH[2]与CH[3]彼此相邻，并且连接端子CH[3]和CH[4]彼此相邻。
如结合实施例1所描述的，在特定故障感测过程中，特定故障传感器30设置第一和第二检查时段。第一和第二检查时段以及时间点t1至t5处于与结合实施例1(参见图9)所描述的相同的关系。
如图14所示，在第一检查时段中，特定故障传感器30保持控制开关SWPU[1]和SWPU[3]接通以及控制开关SWPU[2]和SWPU[4]关断。因此，在第一检查时段中，第一通道的上拉电路(SWPU[1]，CCPU[1])和第三通道的上拉电路(SWPU[3]，CCPU[3])分别朝向连接端子CH[1]和CH[3]供给上拉电流IPU，并且第二通道的上拉电路(SWPU[2]，CCPU[2])和第四通道的上拉电路(SWPU[4]，CCPU[4])分别暂停朝向连接端子CH[2]和CH[4]供给上拉电流IPU。相比之下，在第二检查时段中，特定故障传感器30保持控制开关SWPU[2]和SWPU[4]接通以及控制开关SWPU[1]和SWPU[3]关断。因此，在第二检查时段中，第二通道的上拉电路(SWPU[2]，CCPU[2])和第四通道的上拉电路(SWPU[4]，CCPU[4])分别朝向连接端子CH[2]和CH[4]供给上拉电流IPU，并且第一通道的上拉电路(SWPU[1]，CCPU[1])和第三通道的上拉电路(SWPU[3]，CCPU[3])分别暂停朝向连接端子CH[1]和CH[3]供给上拉电流IPU。顺便提及，在第一检查时段之前和在第二检查时段之后，控制开关SWPU[1]至SWPU[4]保持关断。
确定器32针对两个近邻连接端子CH的每个组合感测特定故障的存在或不存在。具体地，确定器32将检查时间点t2处的比较结果信号CMPOUT[2]和检查时间点t4处的比较结果信号CMPOUT[1]作为两个评估信号，并且如果两个评估信号都处于高电平，则确定在连接端子CH[1]和CH[2]处存在特定故障；否则，确定器32确定在连接端子CH[1]和CH[2]处不存在特定故障(换句话说，它不确定特定故障的存在)。同样地，确定器32将检查时间点t2处的比较结果信号CMPOUT[2]和检查时间点t4处的比较结果信号CMPOUT[3]作为两个评估信号，并且如果两个评估信号都处于高电平，则确定在连接端子CH[2]和CH[3]处存在特定故障；否则，确定器32确定在连接端子CH[2]和CH[3]处不存在特定故障(换句话说，它不确定特定故障的存在)。此外，确定器32将检查时间点t2处的比较结果信号CMPOUT[4]和检查时间点t4处的比较结果信号CMPOUT[3]作为两个评估信号，并且如果两个评估信号都处于高电平，则确定在连接端子CH[3]和CH[4]处存在特定故障；否则，确定器32确定在连接端子CH[3]和CH[4]处不存在特定故障(换句话说，它不确定特定故障的存在)。
特定故障感测过程可以理解为包括第一比较过程和第二比较过程。注意连接端子CH[1]至CH[4]，第一比较过程对应于通过使用比较器CMP[2]和CMP[4]将检查时间点t2处的端子电压VCH[2]和VCH[4]均与判断电压VTH进行比较的过程，并且第一检查时段包括第一比较过程的执行时段(即，在第一检查时段中执行第一比较过程)。相比之下，第二比较过程对应于通过使用比较器CMP[1]和CMP[3]将检查时间点t4处的端子电压VCH[1]和VCH[3]均与判断电压VTH进行比较的过程，并且第二检查时段包括第二比较过程的执行时段(即，在第二检查时段中执行第二比较过程)。基于第一和第二比较过程的结果，特定故障传感器30(确定器32)单独感测连接端子CH[1]和CH[2]处的特定故障的存在或不存在、连接端子CH[2]和CH[3]处的特定故障的存在或不存在和连接端子CH[3]和CH[4]处的特定故障的存在或不存在。
具体地，假设i是取值1、2或3的变量，如果在朝向连接端子CH[i]供给上拉电流IPU的情况下，连接端子CH[i+1]处的电压高于判断电压VTH，并且另外，在朝向连接端子CH[i+1]供给上拉电流IPU的情况下，连接端子CH[i]处的电压高于判断电压VTH，则特定故障传感器30(确定器32)感测连接端子CH[i]和CH[i+1]处的特定故障的存在。
虽然在这里，为了具体起见，注意四个连接端子CH[1]至CH[4]，但是类似的描述适用于五个或更多个连接端子CH沿着边SD1至SD4(参见图6)中的任何一个连续排列的情况。例如，考虑连接端子CH[1]、CH[2]、CH[3]、…和CH[2×k]沿着该一个边以该顺序排列的情况(其中k是三或更大的整数)，使得对于任何自然数p，连接端子CH[p]和CH[p+1]都彼此相邻。在这种情况下，将第一、第三、…和第(2×k-1)通道分类为奇数通道，并且将第二、第四、…和第(2×k)通道分类为偶数通道。
在第一检查时段中，特定故障传感器30保持奇数通道的控制开关SWPU[1]、SWPU[3]、...和SWPU[2×k-1]接通以及偶数通道的控制开关SWPU[2]、SWPU[4]、...和SWPU[2×k]关断。因此，在第一检查时段中，奇数通道的上拉电路朝向奇数通道的连接端子(CH[1]，CH[3]，...和CH[2×k-1])供给上拉电流IPU，并且偶数通道的上拉电路暂停朝向偶数通道的连接端子(CH[2]，CH[4]，...和CH[2×k])供给上拉电流IPU。相比之下，在第二检查时段中，特定故障传感器30保持偶数通道的控制开关SWPU[2]、SWPU[4]、...和SWPU[2×k]接通以及奇数通道的控制开关SWPU[1]、SWPU[3]、...和SWPU[2×k-1]关断。因此，在第二检查时段中，偶数通道的上拉电路朝向偶数通道的连接端子(CH[2]，CH[4]，...和CH[2×k])供给上拉电流IPU，并且奇数通道的上拉电路暂停朝向奇数通道的连接端子(CH[1]，CH[3]，...和CH[2×k-1])供给上拉电流IPU。顺便提及，在第一检查时段之前和在第二检查时段之后，控制开关SWPU[1]至SWPU[24]都保持关断。
确定器32针对两个近邻连接端子CH的每个组合感测特定故障的存在或不存在。即，单独地针对满足1≤q≤k的每个整数q，确定器32将检查时间点t2处的比较结果信号CMPOUT[2×q]和检查时间点t4处的比较结果信号CMPOUT[2×q-1]作为两个评估信号，并且如果两个评估信号都处于高电平，则确定在连接端子CH[2×q-1]和CH[2×q]处存在特定故障；否则，确定器32确定在连接端子CH[2×q-1]和CH[2×q]处不存在特定故障(换句话说，它不确定特定故障的存在)。同样地，单独地针对满足1≤q≤k-1的每个整数q，确定器32将检查时间点t2处的比较结果信号CMPOUT[2×q]和检查时间点t4处的比较结果信号CMPOUT[2×q+1]作为两个评估信号，并且如果两个评估信号都处于高电平，则确定在连接端子CH[2×q]和CH[2×q+1]处存在特定故障；否则，确定器32确定在连接端子CH[2×q]和CH[2×q+1]处不存在特定故障(换句话说，它不确定特定故障的存在)。
根据实施例2，可以在包括许多连接端子CH的多个连接端子CH中的任何相互近邻的连接端子之间单独地感测特定故障的存在或不存在。
<<实施例3>>
将描述实施例3。如果关于两个连接端子CH的给定组合感测到特定故障的存在，则控制块20将指示故障的存在的故障存在数据和指示何处存在故障的连接端子CH的组合的故障位置数据存储在被提供在其中的寄存器(未示出)中。此外，如果在LED驱动器1中感测到任何故障(包括特定故障)的存在，则控制块20将布线6上的通常处于高电平的信号电平变为低电平，并且由此通知MPU2故障的存在。在识别到布线6上的信号电平变为低电平时，MPU2可以根据需要向LED驱动器1发送请求发送存储在上述寄存器中的数据的错误读取命令。在接收到错误读取命令时，LED驱动器1向MPU 2发送包括故障存在数据和故障位置数据的数据，然后MPU 2可以基于接收到的数据识别故障存在数据和故障位置数据指示什么。
基于接收到的包括故障存在数据和故障位置数据的数据，MPU2可以执行预定的故障处理过程。例如，在包括发光单元LL[1，1]至LL[24，8]的发光块用作诸如液晶显示面板的显示面板中的光源的情况下，其中显示面板的整个显示区域被划分成多个划分区域(例如，24×8个划分区域)，并且其中每个划分区域被分配一个或多个发光单元LL，如果在连接端子CH[1]和CH[2]处感测到特定故障的存在，则在正常显示区域中显示要在显示面板上显示的图像。这里，正常显示区域是不包括分配给第一和第二通道的发光单元LL[1，1]至LL[1，8]和LL[2，1]至LL[2，8]的划分区域的显示区域。
<<实施例4>>
将描述实施例4。实施例4涉及与上面已经描述的内容相关的应用技术和修改技术。
包括发光单元LL[1，1]至LL[24，8]的发光块可以用作各种装置中的光源，例如用作如上所述的显示面板中的光源。发光系统SYS可以特别地包含在例如诸如汽车的车辆中。在这种情况下，如上所述的发光块可以用作在用于汽车导航的显示面板中的用于显示车辆速度、发动机转速、剩余燃料等的群集面板中、平视显示器中或中心信息显示器中的光源。
虽然在上述配置中存在24个通道和8个组(参见图1至图3)，但是可以存在任何数量(两个或更多个)通道和任何数量(两个或更多个)组。
可以仅有一个组。具体地，虽然在上述配置中，每个连接端子CH已经并联连接到与组的数量一样多的发光单元LL，但是其中每个连接端子CH具有连接到它的单个发光单元LL的配置也是可能的。例如，发光单元LL[1，1]至LL[24，8]中的仅总共24个发光单元LL[1，1]、LL[2，2]、LL[3，3]、…和LL[24，24]可以被提供在发光系统SYS中。在这种情况下，可以实现最多对应于24个划分区域的局部调光(局部亮度调整)。
根据本公开，发光单元LL可包括一个或多个通过被供应有电流而发光的发光元件。作为发光元件的发光二极管可以是任何种类的发光二极管，并且可以是产生有机电致发光的有机LED。发光元件可以是不分类为LED的发光元件，并且可以是例如激光二极管。
LED驱动器1是用于对发光单元LL进行驱动的发光元件驱动装置的示例，并且上述实施方式涉及其中将根据本公开的技术(包括用于感测特定故障的技术)应用于发光元件驱动装置的示例。然而，这并不意味着排除将根据本公开的技术应用于任何其他装置。具体地，例如，可以采用根据本公开的用于感测特定故障的技术来感测在被提供在任何装置中的任何两个相互近邻的端子之间的特定故障的存在或不存在。
对于任何信号或电压，其高电平和低电平的关系可以颠倒，除非与本文所公开的不一致。
在不脱离所附权利要求中限定的技术概念的范围的情况下，可以根据需要以多种方式修改本公开的实施方式。本文描述的实施方式仅仅是如何实施本发明的示例，并且用于描述本发明及其组成元件的任何术语的含义不限于结合实施方式提及的含义。以上描述中提及的具体值仅仅是说明性的，并且不必说可以修改为不同的值。
<<注释>>
以下是对在上述实施方式中实施的技术构思的研究。
根据本公开的一个方面，一种发光元件驱动装置包括对应于多个通道的连接端子，并且这些连接端子被配置为能够连接到具有一个或多个发光元件的发光单元。所述发光元件驱动装置被配置为能够针对所述通道中的每一个单独地经由所述连接端子向所述发光单元供应驱动电流。所述发光元件驱动装置包括特定故障传感器，所述特定故障传感器被配置为能够在所述驱动电流到所述发光单元的非供应时段期间执行用于感测特定故障的感测过程。所述特定故障是所述多个连接端子中彼此相邻的两个连接端子之间的电阻值的异常。所述特定故障传感器包括：上拉电路，所述上拉电路被配置为能够针对所述通道中的每一个单独地朝向所述连接端子供给上拉电流；以及比较器，所述比较器被配置为将所述连接端子处的电压与预定的判断电压进行比较。所述感测过程包括：第一比较过程，通过所述第一比较过程，在朝向所述两个连接端子中的一个连接端子供给所述上拉电流的情况下，将所述两个连接端子中的另一个连接端子处的电压与所述判断电压进行比较；以及第二比较过程，通过所述第二比较过程，在朝向所述两个连接端子中的另一个连接端子供给所述上拉电流的情况下，将所述两个连接端子中的所述一个连接端子处的电压与所述判断电压进行比较。基于所述第一和第二比较过程的结果，所述特定故障传感器感测两个连接端子处的特定故障的存在或不存在。(第一配置)
在上述第一配置的发光元件驱动装置中，优选地，如果在所述第一比较过程中，在朝向所述两个连接端子中的所述一个连接端子供给所述上拉电流的情况下，所述两个连接端子中的所述另一个连接端子处的电压高于所述判断电压，并且另外，在所述第二比较过程中，在朝向所述两个连接端子中的所述另一个连接端子供给所述上拉电流的情况下，所述两个连接端子中的所述一个连接端子处的电压高于所述判断电压，则所述特定故障传感器感测到所述两个连接端子处的特定故障的存在。(第二配置)
在上述第一或第二配置的发光元件驱动装置中，优选地，所述两个连接端子中的所述一个连接端子和所述另一个连接端子分别是第一通道和第二通道的连接端子。优选地，在所述第一比较过程的执行时段期间，所述第一通道的上拉电路朝向所述两个连接端子中的所述一个连接端子供给所述上拉电流，并且所述第二通道的上拉电路暂停朝向所述两个连接端子中的所述另一个连接端子供给所述上拉电流；在所述第二比较过程的执行时段期间，所述第二通道的所述上拉电路朝向所述两个连接端子中的所述另一个连接端子供给所述上拉电流，并且所述第一通道的所述上拉电路暂停朝向所述两个连接端子中的所述一个连接端子供给所述上拉电流。(第三配置)
在上述第一配置的发光元件驱动装置中，优选地，所述多个连接端子包括第一至第四连接端子。优选地，所述第一至第四连接端子以该顺序连续排列。优选地，在所述第一比较过程中，所述特定故障传感器在朝向所述第一和第三连接端子中的每一个供给所述上拉电流的情况下将所述第二和第四连接端子处的电压均与所述判断电压进行比较，并且在所述第二比较过程中，所述特定故障传感器在朝向所述第二和第四连接端子中的每一个供给所述上拉电流的情况下将所述第一和第三连接端子处的电压均与所述判断电压进行比较。优选地，基于所述第一和第二比较过程的结果，所述特定故障传感器单独地感测所述第一和第二连接端子处的特定故障的存在或不存在、所述第二和第三连接端子处的特定故障的存在或不存在、以及所述第三和第四连接端子处的特定故障的存在或不存在。(第四配置)
在上述第四配置的发光元件驱动装置中，优选地，如果在朝向第i连接端子供给所述上拉电流的情况下，第(i+1)连接端子处的电压高于所述判断电压，并且另外，在朝向所述第(i+1)连接端子供给所述上拉电流的情况下，所述第i连接端子处的电压高于所述判断电压，则所述特定故障传感器感测到所述第i和第(i+1)连接端子处的特定故障的存在，其中i是1、2或3。(第五配置)
在上述第四或第五配置的发光元件驱动装置中，优选地，所述第一至第四连接端子分别是第一至第四通道的连接端子。优选地，在所述第一比较过程的执行时段期间，所述第一和第三通道的上拉电路朝向所述第一和第三连接端子供给所述上拉电流，并且所述第二和第四通道的上拉电路暂停朝向所述第二和第四连接端子供给所述上拉电流；在所述第二比较过程的执行时段期间，所述第二和第四通道的所述上拉电路朝向所述第二和第四连接端子供给所述上拉电流，并且所述第一和第三通道的所述上拉电路暂停朝向所述第一和第三连接端子供给所述上拉电流。(第六配置)
在上述第一至第六配置中的任一配置的发光元件驱动装置中，优选地，对于所述通道中的每一个，所述特定故障传感器包括下拉电路，所述下拉电路被配置为从所述连接端子中的对应一个汲取下拉电流，并且所述下拉电流被设置为在量值上低于所述上拉电流的量值。(第七配置)
附图标记列表
SYS发光系统
1LED驱动器
2MPU
3电源电路
10 驱动器块
20 控制块
30 特定故障传感器
LL[1，1]至LL[24，8]发光单元
CH[1]至CH[24]连接端子
ILED[1]至ILED[24]驱动电流
31[1]至31[24]感测电路
32 确定器
IPU 上拉电流
IPD下拉电流(放电电流)

Claims (7)

1.一种发光元件驱动装置，包括对应于多个通道的连接端子，所述连接端子被配置为能够连接到具有一个或多个发光元件的发光单元，所述发光元件驱动装置被配置为能够针对所述通道中的每一个单独地经由所述连接端子向所述发光单元供应驱动电流，
其中
所述发光元件驱动装置包括特定故障传感器，所述特定故障传感器被配置为能够在所述驱动电流到所述发光单元的非供应时段期间执行用于感测特定故障的感测过程，所述特定故障是所述多个连接端子中彼此相邻的两个连接端子之间的电阻值的异常，
所述特定故障传感器包括：
上拉电路，所述上拉电路被配置为能够针对所述通道中的每一个单独地朝向所述连接端子供给上拉电流；以及
比较器，所述比较器被配置为将所述连接端子处的电压与预定的判断电压进行比较，
所述感测过程包括：
第一比较过程，通过所述第一比较过程，在朝向所述两个连接端子中的一个连接端子供给所述上拉电流的情况下，将所述两个连接端子中的另一个连接端子处的电压与所述判断电压进行比较；以及
第二比较过程，通过所述第二比较过程，在朝向所述两个连接端子中的所述另一个连接端子供给所述上拉电流的情况下，将所述两个连接端子中的所述一个连接端子处的电压与所述判断电压进行比较，以及
基于所述第一和第二比较过程的结果，所述特定故障传感器感测两个连接端子处的特定故障的存在或不存在。
2.根据权利要求1所述的发光元件驱动装置，其中
如果在所述第一比较过程中，在朝向所述两个连接端子中的所述一个连接端子供给所述上拉电流的情况下，所述两个连接端子中的所述另一个连接端子处的电压高于所述判断电压，并且另外，在所述第二比较过程中，在朝向所述两个连接端子中的所述另一个连接端子供给所述上拉电流的情况下，所述两个连接端子中的所述一个连接端子处的电压高于所述判断电压，则所述特定故障传感器感测到所述两个连接端子处的特定故障的存在。
3.根据权利要求1或2所述的发光元件驱动装置，其中
所述两个连接端子中的所述一个连接端子和所述另一个连接端子分别是第一通道和第二通道的连接端子，
在所述第一比较过程的执行时段期间，所述第一通道的上拉电路朝向所述两个连接端子中的所述一个连接端子供给所述上拉电流，并且所述第二通道的上拉电路暂停朝向所述两个连接端子中的所述另一个连接端子供给所述上拉电流，并且
在所述第二比较过程的执行时段期间，所述第二通道的所述上拉电路朝向所述两个连接端子中的所述另一个连接端子供给所述上拉电流，并且所述第一通道的所述上拉电路暂停朝向所述两个连接端子中的所述一个连接端子供给所述上拉电流。
4.根据权利要求1所述的发光元件驱动装置，其中
所述多个连接端子包括第一至第四连接端子，
所述第一至第四连接端子以该顺序连续排列，
在所述第一比较过程中，所述特定故障传感器在朝向所述第一和第三连接端子中的每一个供给所述上拉电流的情况下将所述第二和第四连接端子处的电压均与所述判断电压进行比较，并且在所述第二比较过程中，所述特定故障传感器在朝向所述第二和第四连接端子中的每一个供给所述上拉电流的情况下将所述第一和第三连接端子处的电压均与所述判断电压进行比较，并且
基于所述第一和第二比较过程的结果，所述特定故障传感器单独地感测所述第一和第二连接端子处的特定故障的存在或不存在、所述第二和第三连接端子处的特定故障的存在或不存在、以及所述第三和第四连接端子处的特定故障的存在或不存在。
5.根据权利要求4所述的发光元件驱动装置，其中
如果在朝向第i连接端子供给所述上拉电流的情况下，第(i+1)连接端子处的电压高于所述判断电压，并且另外，在朝向所述第(i+1)连接端子供给所述上拉电流的情况下，所述第i连接端子处的电压高于所述判断电压，则所述特定故障传感器感测到所述第i和第(i+1)连接端子处的特定故障的存在，其中i是1、2或3。
6.根据权利要求4或5所述的发光元件驱动装置，其中
所述第一至第四连接端子分别是第一至第四通道的连接端子，
在所述第一比较过程的执行时段期间，所述第一和第三通道的上拉电路朝向所述第一和第三连接端子供给所述上拉电流，并且所述第二和第四通道的上拉电路暂停朝向所述第二和第四连接端子供给所述上拉电流，并且
在所述第二比较过程的执行时段期间，所述第二和第四通道的所述上拉电路朝向所述第二和第四连接端子供给所述上拉电流，并且所述第一和第三通道的所述上拉电路暂停朝向所述第一和第三连接端子供给所述上拉电流。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的发光元件驱动装置，其中
对于所述通道中的每一个，所述特定故障传感器包括下拉电路，所述下拉电路被配置为从所述连接端子中的对应一个汲取下拉电流，所述下拉电流被设置为在量值上低于所述上拉电流的量值。
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