CN116704941A - 显示面板和显示装置 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种显示面板和显示装置；该显示面板通过使重复单元包括三个开关器件，重复单元内各开关器件在显示面板的一侧的投影存在间距，则可以使重复单元占用的空间减小，增大相邻测试线之间的间距，避免相邻测试线短路，同时，通过设置转接端子，使输入电极连接数据线和转接端子，则可以通过转接端子转接的方式连接数据线和输入电极，相应的可以减小输入电极连接处的数据线的宽度，使数据线的各个部分的宽度相等，从而避免相邻数据线之间短路，实现了兼顾走线的线宽和避免相邻走线之间短路的效果。

Description

显示面板和显示装置

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其是涉及一种显示面板和显示装置。

背景技术

随着电子纸的发展，现有电子纸的设计过程中，为了降低电子纸的设计成本，提高电子纸的制备效率，会采用4mask（掩膜板）制备工艺替代原有的5mask制备工艺。在电子纸的生产过程中，为了检查面内不良，会在大板切割前对显示面板进行点灯测试，具体会通过使像素电极层的走线通过过孔转换至源漏极层，从而将信号输入至显示面板内，对显示面板进行测试。在电子纸的制备过程中，发现5mask制备工艺的尺寸偏差是2.0，4mask制备工艺的尺寸偏差为4.2，在5mask制备工艺中，由于尺寸偏差较小，可以直接在源漏极层上打孔将像素电极层的走线通过过孔连接至源漏极层的走线，但在4mask制备工艺中，由于尺寸偏差较差，直接在源漏极层上打孔容易导致相邻走线之间短路，且由于4mask制备工艺的尺寸偏差较大，相邻走线之间的间距会较小，进一步增加了相邻走线之间短路的可能性。而通过减小走线的线宽以增大走线的线距方式会导致走线断线的问题。

所以，现有显示器件存在无法兼顾走线的线宽和避免相邻走线之间短路的技术问题。

发明内容

本申请实施例提供一种显示面板和显示装置，用以解决现有显示器件存在无法兼顾走线的线宽和避免相邻走线之间短路的技术问题。

本申请实施例提供一种显示面板，该显示面板包括显示区和非显示区，所述非显示区包括绑定区和测试区，所述测试区设置于所述绑定区远离所述显示区的一侧，所述显示面板包括：

衬底；

第一金属层，设置于所述衬底一侧；

第二金属层，设置于所述第一金属层远离所述衬底的一侧，所述第二金属层包括数据线；

像素电极层，设置于所述第二金属层远离所述第一金属层的一侧，所述像素电极层包括测试电极和输入电极；

其中，所述显示面板还包括多个重复单元、转接端子和测试线，所述转接端子与所述数据线位于不同膜层，所述转接端子设置于所述绑定区，所述测试线设置于所述测试区，所述测试电极与所述测试线电连接，所述重复单元设置于所述测试区，所述重复单元包括至少三个开关器件，所述重复单元内的各所述开关器件在所述显示面板的一侧的投影存在间距，所述开关器件包括至少一个薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的第一电极与所述测试线连接，所述薄膜晶体管的第二电极与所述数据线连接，所述输入电极连接所述数据线和所述转接端子，在所述绑定区，所述数据线的各个部分的宽度相等。

在一些实施例中，所述转接端子设置于所述第一金属层；或者所述显示面板还包括遮光层，所述转接端子设置于所述遮光层；或者所述显示面板还包括转接层，所述转接端子设置于所述转接层。

在一些实施例中，所述输入电极的宽度大于所述数据线的宽度，所述转接端子的宽度大于所述输入电极的宽度，所述输入电极穿过过孔连接所述转接端子和所述数据线。

在一些实施例中，所述过孔在所述输入电极与所述转接端子的连接处的深度，大于所述过孔在所述输入电极与所述数据线的连接处的深度。

在一些实施例中，所述过孔包括第一过孔和第二过孔，所述输入电极穿过所述第一过孔连接所述数据线，所述输入电极穿过所述第二过孔连接所述转接端子。

在一些实施例中，一所述重复单元与多条数据线连接，相邻所述数据线连接的所述输入电极在所述显示面板的一侧的投影不重合，且间隔设置的所述数据线连接的所述输入电极在所述显示面板的一侧的投影存在重合。

在一些实施例中，在所述重复单元内，三个所述开关器件连接的三条数据线中，各所述数据线连接的输入电极在所述显示面板的一侧的投影不重合。

在一些实施例中，所述显示面板包括多条测试线，所述测试线包括第一部分和第二部分，所述第一部分和第二部分垂直设置，各所述测试线的第一部分分别与各所述薄膜晶体管的第一电极连接，奇数列的所述测试线的第二部分相互连接，偶数列的所述测试线的第二部分相互连接。

在一些实施例中，所述第二部分设置于所述第一金属层，所述第一部分设置于所述第二金属层。

同时，本申请实施例提供一种显示装置，该显示装置包括如上述实施例任一所述的显示面板。

有益效果：本申请提供一种显示面板和显示装置；该显示面板包括显示区和非显示区，非显示区包括绑定区和测试区，测试区设置于绑定区远离显示区的一侧，显示面板包括衬底、第一金属层、第二金属层和像素电极层，第一金属层设置于衬底一侧，第二金属层设置于第一金属层远离衬底的一侧，第二金属层包括数据线，像素电极层设置于第二金属层远离第一金属层的一侧，像素电极层包括测试电极和输入电极，其中，显示面板还包括多个重复单元、转接端子和测试线，转接端子与数据线位于不同膜层，转接端子设置于绑定区，测试线设置于测试区，测试电极与测试线电连接，重复单元设置于测试区，重复单元包括至少三个开关器件，重复单元内的各开关器件在显示面板的一侧的投影存在间距，开关器件包括至少一个薄膜晶体管，薄膜晶体管的第一电极与测试线连接，薄膜晶体管的第二电极与数据线连接，输入电极连接数据线和转接端子，在绑定区，数据线的各个部分的宽度相等。本申请通过使重复单元包括三个开关器件，重复单元内各开关器件在显示面板的一侧的投影存在间距，则可以使重复单元占用的空间减小，增大相邻测试线之间的间距，避免相邻测试线短路，同时，通过设置转接端子，使输入电极连接数据线和转接端子，则可以通过转接端子转接的方式连接数据线和输入电极，相应的可以减小输入电极连接处的数据线的宽度，使数据线的各个部分的宽度相等，从而避免相邻数据线之间短路，实现了兼顾走线的线宽和避免相邻走线之间短路的效果。

附图说明

下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。

图1为当前显示器件的示意图。

图2为当前显示器件的数据线的连接部的示意图。

图3为本申请实施例提供的显示面板的示意图。

图4为图3中的显示面板的第一金属层和有源层的分解图。

图5为图3中的显示面板的第二金属层和像素电极层的分解图。

图6为本申请实施例提供的显示面板的显示区的示意图。

图7为本申请实施例提供的显示面板的绑定区的示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本申请的不同结构。为了简化本申请的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本申请。此外，本申请可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本申请提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。

当前显示器件为了检查面内不良，会在大板切割前对显示面板进行点灯测试，具体会通过使像素电极层的走线通过过孔转换至源漏极层，从而将信号输入至显示面板内，对显示面板进行测试，且为了避免测试完成后影响显示器件的正常显示，会设置开关器件控制测试走线的开启和关闭。

具体的，如图1、图2所示，当前显示器件包括栅极层11、半导体层12、源漏极层13和像素电极层，栅极层11包括信号传输走线111和栅极112，源漏极层13包括测试走线131和数据走线132，像素电极包括测试信号输入电极（图1中未示出）和显示信号输入电极15。具体的，测试信号输入电极会通过过孔14分别与信号传输走线111和测试走线131连接，显示信号输入电极15会通过过孔14与数据走线132的连接部132a连接，在需要对显示面板进行测试时，通过测试信号输入电极输入信号，并控制栅极112上的信号从而开启开关器件，使测试信号能够传输至数据走线132，对显示面板进行点灯测试；在测试完成后，通过控制栅极112上的信号从而关闭开关器件，使得显示面板根据显示信号输入电极15上输入的信号进行显示。

同时，当前显示器件为了提高制备效率，会采用4mask（掩膜板）制备工艺替代原有的5mask制备工艺，但在实际生产验证过程中，发现5mask制备工艺的尺寸偏差为2.0微米，4mask制备工艺的尺寸偏差为4.2微米，在需要将测试信号输入电极穿过过孔连接至测试走线，将显示信号输入电极穿过过孔连接至数据线时，由于5mask制备工艺的尺寸偏差较小，可以直接在数据线和测试走线上打孔连接至像素电极层，但在4mask制备工艺中，由于尺寸偏差较大，直接在数据线和测试走线上打孔可能会导致相邻数据线和测试走线短路，从而导致显示不良。

举例来说，如图2所示，数据走线132的连接部132a的宽度较大，导致数据走线132的连接部132a与相邻数据走线132之间的间距较小，例如数据走线132的连接部132a与相邻数据走线132之间的间距为7微米，那么在5mask制备工艺中，即使由于尺寸偏差导致数据走线132的连接部132a与相邻数据走线132之间的间距缩小了4微米，数据走线132的连接部132a与相邻数据走线132仍然不会短路，而在4mask制备工艺中，由于尺寸偏差为4.2微米，会导致数据走线132的连接部132a与相邻数据走线132之间的间距可能缩小8.4微米，从而导致数据走线132的连接部132a与相邻数据走线132之间短路，影响显示，而通过减小走线的线宽以增大走线的线距方式会导致走线断线的问题。所以，现有显示器件存在无法兼顾走线的线宽和避免相邻走线之间短路的技术问题。

本申请实施例针对上述技术问题，提供一种显示面板和显示装置，用以解决上述技术问题。

图3为本申请实施例提供的显示面板的示意图。图4为图3中的显示面板的第一金属层和有源层的分解图，图4中的（a）为图3中的显示面板的第一金属层的分解图，图4中的（b）为图3中的显示面板的有源层的分解图。图5为图3中的显示面板的第二金属层和像素电极层的分解图，图5中的（a）为图3中的显示面板的第二金属层的分解图，图5中的（b）为图3中的显示面板的像素电极层的分解图。图6为本申请实施例提供的显示面板的显示区的示意图。图7为本申请实施例提供的显示面板的绑定区的示意图。

如图3至图7所示，本申请实施例提供一种显示面板，该显示面板2包括显示区21和非显示区22，所述非显示区22包括绑定区221和测试区222，所述测试区222设置于所述绑定区221远离所述显示区21的一侧，所述显示面板2包括：

衬底31；

第一金属层32，设置于所述衬底31一侧；

第二金属层35，设置于所述第一金属层32远离所述衬底31的一侧，所述第二金属层35包括数据线351；

像素电极层37，设置于所述第二金属层35远离所述第一金属层32的一侧，所述像素电极层37包括测试电极371和输入电极372；

其中，所述显示面板2还包括多个重复单元41、转接端子321和测试线39，所述转接端子321与所述数据线351位于不同膜层，所述转接端子321设置于所述绑定区221，所述测试线39设置于所述测试区，所述测试电极与所述测试线电连接，所述重复单元设置于所述测试区222，所述重复单元41包括至少三个开关器件42，所述重复单元41内的各所述开关器件42在所述显示面板2的一侧的投影存在间距（例如图3中的三个开关器件42在显示面板2的左侧的投影存在间距），所述开关器件42包括至少一个薄膜晶体管421，所述薄膜晶体管421的第一电极与所述测试线39连接，所述薄膜晶体管421的第二电极与所述数据线351连接，所述输入电极372连接所述数据线351和所述转接端子321，在所述绑定区221，所述数据线351的各个部分的宽度相等。

本申请实施例提供一种显示面板，该显示面板通过使重复单元包括三个开关器件，重复单元内各开关器件在显示面板的一侧的投影存在间距，则可以使重复单元占用的空间减小，增大相邻测试线之间的间距，避免相邻测试线短路，同时，通过设置转接端子，使输入电极连接数据线和转接端子，则可以通过转接端子转接的方式连接数据线和输入电极，相应的可以减小输入电极连接处的数据线的宽度，使数据线的各个部分的宽度相等，从而避免相邻数据线之间短路，实现了兼顾走线的线宽和避免相邻走线之间短路的效果。

具体的，如图3所示，可以看到本申请实施例中的重复单元41中的三个开关器件42在显示面板的一侧的投影存在间距，相较于当前显示器件中重复单元内两个开关器件在显示面板的一侧的投影存在间距，可以使重复单元占用更少的空间，相应的可以增大相邻测试线和数据线之间的间距，从而避免相邻测试线短路，避免相邻数据线短路。

具体的，如图3、图5所示，可以看到本申请实施例中的数据线351位于绑定区221的各个部分的宽度一致，在数据线351与输入电极372的连接处，无需增大数据线351的宽度，使得相邻数据线之间的宽度可以增大，降低4mask制备工艺的尺寸偏差的影响，避免相邻数据线之间短路，且无需减小其他区域的数据线的宽度，避免数据线断路，兼顾了走线的线宽和避免相邻走线之间短路的效果。

具体的，对于输入端子连接转接端子和数据线的区域进行说明。在4mask制备工艺中，由于尺寸偏差的影响，过孔的设置位置可能会发生偏移，这会导致输入端子无法设置在过孔内，且输入端子可能会在过孔内断裂，输入端子无法连接数据线。本申请实施例通过设置转接端子，由于转接端子的面积较大，过孔能够对应转接端子设置，输入端子通过连接转接端子，从而可以设置在过孔内，且转接端子对输入端子进行垫设，避免输入端子断裂，从而使得输入端子能够与数据线连接，另外，即使数据线在与输入端子的连接处断开，输入端子可以通过转接端子替代数据线传输信号，使得数据线的信号仍然能够正常传输，从而使显示面板能够正常工作，且可以减小数据线在与输入端子的连接处的宽度，兼顾走线的线宽和显示面板的良率。

具体的，本申请实施例中以重复单元包括三个开关器件，每一开关器件包括一个薄膜晶体管为例进行说明，但本申请实施例不限于此，例如重复单元可以包括四个开关器件、五个开关器件，例如开关器件还可以包括多个薄膜晶体管，多个薄膜晶体管串联。

具体的，本申请实施例通过使重复单元内的多个开关器件在显示面板的一侧的投影存在间距，使得相邻开关器件在显示面板的显示区一侧的投影可以存在重叠，从而可以减小重复单元占用的横向空间，相应的可以增加相邻数据线之间的间距和相邻测试线之间的间距，而无需减小数据线和测试线的线宽，避免相邻测试线短路，避免相邻数据线短路，从而兼顾走线的线宽和避免相邻走线之间短路的效果。

在一些实施例中，如图3、图4所示，所述转接端子321设置于所述第一金属层32。通过将转接端子设置在第一金属层，无需增加显示面板的膜层，无需增加显示面板的厚度，且第一金属层对应数据线的位置未设置其他走线，可以避免第一金属层上的走线出现断路，且可以增大转接端子的面积，从而提高输入端子与数据线的连接效果。

在一些实施例中，所述显示面板还包括遮光层，所述转接端子设置于所述遮光层。对于设有遮光层的显示面板，可以将转接端子设置于遮光层，无需增加显示面板的膜层，无需增加显示面板的厚度，且遮光层对应数据线的位置未设置其他走线，可以避免遮光层上的走线出现断路，且可以增大转接端子的面积，从而提高输入端子与数据线的连接效果。

上述实施例以转接端子设置于第一金属层或者遮光层为例进行了说明，但本申请实施例不限于此，例如多个转接端子可以分别位于第一金属层和遮光层，或者在显示面板中设置转接层，使转接端子设置于转接层，从而避免转接端子影响其他膜层的设计。

在一些实施例中，如图3所示，所述输入电极372的宽度L2大于所述数据线351的宽度L3，所述转接端子321的宽度L1大于所述输入电极372的宽度L2，所述输入电极372穿过过孔381连接所述转接端子321和所述数据线351。通过使输入电极的宽度大于数据线的宽度，转接端子的宽度大于输入电极的宽度，使得在通过转接端子连接输入电极和数据线时，即使数据线的位置由于尺寸偏差的影响发生偏移，输入电极仍然可以连接至数据线，且输入电极超出数据线的部分可以连接转接端子，使转接端子的宽度大于输入电极的宽度，则输入电极与转接端子的连接的可靠性较高，从而提高显示面板的良率。

具体的，考虑到4mask制备工艺中的尺寸偏差较大，本申请实施例使数据线的各个部分的宽度一致，则在不减小数据线的最小宽度时，相邻数据线之间的间距可以增大，则即使过孔的位置发生偏移，由于相邻数据线之间的间距变大，输入电极也不会连接相邻两条数据线，避免了相邻数据线之间短路，且使得转接端子的宽度大于输入电极的宽度，输入电极的宽度大于数据线的宽度，则可以通过增加转接端子的面积，即使数据线发生偏移，输入电极可以通过转接端子连接至数据线，使信号正常输入。

在一些实施例中，如图7所示，所述过孔在所述输入电极372与所述转接端子321的连接处的深度，大于所述过孔在所述输入电极372与所述数据线351的连接处的深度。使过孔为一个整体，且通过调整过孔的各个部分的深度，使得输入电极可以与转接端子和数据线连接，在过孔的位置发生偏移时，由于转接端子的设置，输入电极可以设置在过孔内，输入端子与转接端子连接，并搭接在数据线上，从而实现输入端子与数据线的连接。

在一些实施例中，所述过孔包括第一过孔和第二过孔，所述输入电极穿过第一过孔连接所述数据线，所述输入电极穿过所述第二过孔连接所述转接端子。在设置过孔时，还可以设置两个过孔，使输入电极分别通过第一过孔和第二过孔连接至数据线和转接端子，从而使转接端子可以对输入电极进行垫设，且可以使输入电极通过第二过孔搭接至第一过孔，从而使输入电极与数据线连接。

具体的，第一过孔和第二过孔可以存在接触部分，也可以使第一过孔和第二过孔分离设置。

在一些实施例中，一所述重复单元与多条数据线连接，相邻所述数据线连接的所述输入电极在所述显示面板的一侧的投影重合。通过使相邻数据线连接的输入电极在显示面板的一侧的投影重合，使得数据线位于绑定区的部分的长度较小，从而可以减小绑定区的宽度，减小显示面板的边框。

针对相邻数据线之间的间距小于或者等于两个转接端子超出数据线的部分的宽度之和，相邻转接端子位于同一行时可能会导致数据线短路的问题。在一些实施例中，一所述重复单元与多条数据线连接，相邻所述数据线连接的所述输入电极在所述显示面板的一侧的投影不重合，且间隔设置的所述数据线连接的所述输入电极在所述显示面板的一侧的投影存在重合。通过使一重复单元连接的多条数据线中，相邻数据线连接的输入电极在显示面板的一侧的投影不重合，使得相邻数据线连接的输入电极位于不同行，相应的使相邻输入电极连接的转接端子位于不同行，避免相邻数据线之间短路。

在一些实施例中，如图3所示，在所述重复单元41内，三个所述开关器件42连接的三条数据线351中，各所述数据线351连接的输入电极372在所述显示面板的一侧的投影不重合。通过使重复单元内各开关器件连接的各数据线中，各数据线连接的输入电极在显示面板的一侧的投影不重合，可以使相邻数据线连接的输入电极位于不同行，相应的使相邻输入电极连接的转接端子位于不同行，避免相邻数据线之间短路。

具体的，在相邻数据线之间的间距小于或者等于相邻转接端子超出数据线的部分的宽度之和时，以转接端子关于数据线对称设置为例，相邻两个转接端子的部分会位于相邻数据线之间，在相邻转接端子位于同一行时，相邻转接端子会接触，导致数据线短路，则可以使得相邻转接端子位于不同行，从而避免相邻转接端子接触，且在相邻转接端子位于不同行时，可以进一步增大转接端子的宽度，使输入电极与转接端子连接。而在相邻数据线之间的间距大于相邻转接端子超出数据线的部分的宽度之和，可以使相邻转接端子位于同一行，减小数据线的长度，减小显示面板的边框。

上述实施例以转接端子和输入电极关于数据线对称，且转接端子的宽度大于输入电极的宽度为例进行说明，但本申请实施例不限于此，例如转接端子和输入电极不关于数据线对称，转接端子的宽度小于或者等于输入电极的宽度。同样可以对转接端子和输入电极进行相应的设计，在此不再赘述。

在一些实施例中，如图3至图5所示，所述显示面板2包括多条测试线39，所述测试线39包括第一部分352和第二部分322，所述第一部分352和第二部分322垂直设置，各所述测试线39的第一部分352分别与各所述薄膜晶体管421的第一电极连接，奇数列的所述测试线39的第二部分322相互连接，偶数列的所述测试线39的第二部分322相互连接。通过使测试线包括第一部分和第二部分，使得第一部分与第二部分垂直设置，则第一部分可以与薄膜晶体管连接，第二部分可以将各第一部分连接，使得在输入信号时，对显示面板进行测试，且通过使奇数列的测试线的第二部分相互连接，偶数列的测试线的第二部分相互连接，则可以分奇数列和偶数列对显示面板进行测试，提高测试准确性。

具体的，如图3至图5所示，测试电极371通过转接孔382连接测试线39的第一部分352和测试线39的第二部分322，使得在测试电极371输入信号时，测试电极371输入的信号可以通过第二部分322传递至各个第一部分352，对显示面板中各子像素进行测试，且通过使奇数列的测试线的第二部分相互连接，偶数列的测试线的第二部分相互连接，则可以分奇数列和偶数列对显示面板进行测试，提高测试准确性。

在一些实施例中，所述第二部分设置于所述第一金属层，所述第一部分设置于所述第二金属层。通过使第二部分设置在第一金属层，第一部分设置在第二金属层，使得在第一部分和第二部分的交界处，不会出现奇数列和偶数列的测试线短路的问题，可以实现分奇数列和偶数列对显示面板进行测试，提高测试准确性。

在一些实施例中，奇数行的测试线的第二部分设置于所述第一金属层，奇数行的测试线的所述第一部分设置于所述第二金属层，偶数行的测试线的第一部分和第二部分均设置在第二金属层，考虑到偶数行的测试线的第二部分不会与其他测试线交叉，则可以使偶数行的测试线的第二部分设置在第二金属层，无需过孔连接第一部分和第二部分，减少显示面板的制备步骤，提高显示面板的制备效率。

具体的，如图3所示，各所述薄膜晶体管421的栅极323连接。

具体的，如图3至图7所示，所述显示面板2还包括栅极绝缘层33、有源层34和平坦层36。

具体的，过孔381和转接孔382穿过的膜层根据显示面板的具体设计确定，例如，过孔381在数据线351与输入电极372连接处穿过平坦层36，过孔381在输入电极372与转接端子321的连接处穿过平坦层36。转接孔382也可以仅穿过平坦层，或者在不同区域穿过平坦层和/或栅极绝缘层。

具体的，平坦层可以包括平坦化层和钝化层。

具体的，上述实施例分别从不同膜层、不同结构对显示面板的具体设计进行了说明，但本申请实施例不限于此，在各实施例不存在冲突时，可以结合各实施例以达到更好的技术效果，例如，所述输入电极的宽度大于所述数据线的宽度，所述转接端子的宽度大于所述输入电极的宽度，所述输入电极穿过过孔连接所述转接端子和所述数据线，一所述重复单元与多条数据线连接，相邻所述数据线连接的所述输入电极在所述显示面板的一侧的投影不重合，且间隔设置的所述数据线连接的所述输入电极在所述显示面板的一侧的投影存在重合。

同时，本申请实施例提供一种显示装置，该显示装置包括如上述实施例任一所述的显示面板。

根据上述实施例可知：

本申请提供一种显示面板和显示装置；该显示面板包括显示区和非显示区，非显示区包括绑定区和测试区，测试区设置于绑定区远离显示区的一侧，显示面板包括衬底、第一金属层、第二金属层和像素电极层，第一金属层设置于衬底一侧，第二金属层设置于第一金属层远离衬底的一侧，第二金属层包括数据线，像素电极层设置于第二金属层远离第一金属层的一侧，像素电极层包括测试电极和输入电极，其中，显示面板还包括多个重复单元、转接端子和测试线，转接端子与数据线位于不同膜层，转接端子设置于绑定区，测试线设置于测试区，测试电极与测试线电连接，重复单元设置于测试区，重复单元包括至少三个开关器件，重复单元内的各开关器件在显示面板的一侧的投影存在间距，开关器件包括至少一个薄膜晶体管，薄膜晶体管的第一电极与测试线连接，薄膜晶体管的第二电极与数据线连接，输入电极连接数据线和转接端子，在绑定区，数据线的各个部分的宽度相等。本申请通过使重复单元包括三个开关器件，重复单元内各开关器件在显示面板的一侧的投影存在间距，则可以使重复单元占用的空间减小，增大相邻测试线之间的间距，避免相邻测试线短路，同时，通过设置转接端子，使输入电极连接数据线和转接端子，则可以通过转接端子转接的方式连接数据线和输入电极，相应的可以减小输入电极连接处的数据线的宽度，使数据线的各个部分的宽度相等，从而避免相邻数据线之间短路，实现了兼顾走线的线宽和避免相邻走线之间短路的效果。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

以上对本申请实施例所提供的一种显示面板和显示装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，包括显示区和非显示区，所述非显示区包括绑定区和测试区，所述测试区设置于所述绑定区远离所述显示区的一侧，所述显示面板包括：

衬底；

第一金属层，设置于所述衬底一侧；

第二金属层，设置于所述第一金属层远离所述衬底的一侧，所述第二金属层包括数据线；

像素电极层，设置于所述第二金属层远离所述第一金属层的一侧，所述像素电极层包括测试电极和输入电极；

其中，所述显示面板还包括多个重复单元、转接端子和测试线，所述转接端子与所述数据线位于不同膜层，所述转接端子设置于所述绑定区，所述测试线设置于所述测试区，所述测试电极与所述测试线电连接，所述重复单元设置于所述测试区，所述重复单元包括至少三个开关器件，所述重复单元内的各所述开关器件在所述显示面板的一侧的投影存在间距，所述开关器件包括至少一个薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的第一电极与所述测试线连接，所述薄膜晶体管的第二电极与所述数据线连接，所述输入电极连接所述数据线和所述转接端子，在所述绑定区，所述数据线的各个部分的宽度相等。

2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述转接端子设置于所述第一金属层；或者所述显示面板还包括遮光层，所述转接端子设置于所述遮光层；或者所述显示面板还包括转接层，所述转接端子设置于所述转接层。

3.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述输入电极的宽度大于所述数据线的宽度，所述转接端子的宽度大于所述输入电极的宽度，所述输入电极穿过过孔连接所述转接端子和所述数据线。

4.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述过孔在所述输入电极与所述转接端子的连接处的深度，大于所述过孔在所述输入电极与所述数据线的连接处的深度。

5.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述过孔包括第一过孔和第二过孔，所述输入电极穿过所述第一过孔连接所述数据线，所述输入电极穿过所述第二过孔连接所述转接端子。

6.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，一所述重复单元与多条数据线连接，相邻所述数据线连接的所述输入电极在所述显示面板的一侧的投影不重合，且间隔设置的所述数据线连接的所述输入电极在所述显示面板的一侧的投影存在重合。

7.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，在所述重复单元内，三个所述开关器件连接的三条数据线中，各所述数据线连接的输入电极在所述显示面板的一侧的投影不重合。

8.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板包括多条测试线，所述测试线包括第一部分和第二部分，所述第一部分和第二部分垂直设置，各所述测试线的第一部分分别与各所述薄膜晶体管的第一电极连接，奇数列的所述测试线的第二部分相互连接，偶数列的所述测试线的第二部分相互连接。

9.如权利要求8所述的显示面板，其特征在于，所述第二部分设置于所述第一金属层，所述第一部分设置于所述第二金属层。

10.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1至9任一所述的显示面板。