CN116699184A - 用于电气部件测试的插座 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座，包括：插座本体，所述插座本体的内部设置有探针收纳孔；接触探针，所述接触探针收纳于所述探针收纳孔，所述接触探针的一端设置有柱塞，所述柱塞的一端设置有凸起部；柔性板，所述柔性板设置在所述插座本体的用于与第二电气部件接触的一侧，所述柔性板包括绝缘层以及安装在所述绝缘层上的贯穿电极，所述贯穿电极的一端用于与第二电气部件接触，所述贯穿电极的另一端用于与所述柱塞的一端接触；其中，在所述贯穿电极与所述柱塞的一端接触的情况下，所述贯穿电极至少不接触所述凸起部的顶点。

Description

用于电气部件测试的插座

技术领域

本申请涉及电气部件测试技术领域，特别涉及一种用于电气部件测试的插座。

背景技术

在例如IC(Integrated Circuit，集成电路)封装体等电气部件的生产过程中，需要使用相关测试设备对其进行性能测试。该测试设备一般包括与另一电气部件(例如布线基板)电性连接的插座。

相关技术中的一种插座，包括插座主体和接触探针，其中，插座主体上形成有可容纳第一电气部件的容纳部，接触探针设置在插座主体的内部。接触探针的一端用于与第一电气部件进行连接，另一端设置有柱塞，柱塞的一端设置有凸起部，凸起部的顶点用于与第二电气部件接触。在进行电气测试的过程中，第一电气部件被安置于容纳部，接触探针的一端与第一电气部件的端子接触，另一端与第二电气部件接触，从而建立第一电气部件与第二电气部件之间的电性连接。

其中，接触探针与第二电气部件之间电性连接的建立过程如下：接触探针在位于其上方的第一电气部件的压力作用下，相对于插座主体向下移动，从而使柱塞与位于插座底部的第二电气部件接触，并且，在此过程中，接触探针内部的弹簧产生压缩，最终在弹簧的作用下，柱塞与第二电气部件紧密相抵。柱塞从接触到第二电气部件到与第二电气部件紧密相抵的过程中，难以避免地会产生绕自身轴线方向的转动，加之柱塞受到弹簧的压力作用，随着测试次数的增多，柱塞凸起部的顶点处就会产生磨损，从而导致接触探针的电阻值发生变化，对电气测试结果造成不利影响，使电气测试的可靠性变差。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种用于电气部件测试的插座，以改善柱塞表面的磨损情况，从而提高电气测试的可靠性。具体技术方案如下：

本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座，包括：插座本体，所述插座本体的内部设置有探针收纳孔；接触探针，所述接触探针收纳于所述探针收纳孔，所述接触探针的一端设置有柱塞，所述柱塞的一端设置有凸起部；柔性板，所述柔性板设置在所述插座本体的用于与第二电气部件接触的一侧，所述柔性板包括绝缘层以及安装在所述绝缘层上的贯穿电极，所述贯穿电极的一端用于与第二电气部件接触，所述贯穿电极的另一端用于与所述柱塞的一端接触；其中，在所述贯穿电极与所述柱塞的一端接触的情况下，所述贯穿电极至少不接触所述凸起部的顶点。

本申请实施例的用于电气部件测试的插座包括柔性板，柔性板上设置有贯穿电极，贯穿电极的一端与第二电气部件接触、另一端与柱塞接触，利用贯穿电极的导电性能，实现接触探针与第二电气部件的电性连接。与现有技术相比，本申请实施例的插座通过将贯穿电极的另一端与柱塞的一端接触，且贯穿电极至少不接触凸起部的顶点，使贯穿电极与柱塞的接触面积增大，从而在受到相同的压力时，柱塞与贯穿电极的接触面的压强减小，进而降低柱塞表面发生磨损的可能性，使柱塞的电阻值保持稳定。对于表面设置有镀层的柱塞，通过降低柱塞表面发生磨损的可能性，可以大大提高柱塞的电阻值的稳定性，进而提高电气测试的可靠性。在贯穿电极与柱塞的一端接触的情况下，贯穿电极至少不接触凸起部的顶点，这就意味着，凸起部的顶点在电气测试过程中不会与其他部件发生接触，由此，可以避免凸起部的顶点的磨损。另外，由于贯穿电极固定在绝缘层上，贯穿电极不会相对于第二电气部件发生移动或转动，因此贯穿电极与第二电气部件之间，不存在因产生相对运动而发生磨损的情况，进一步保证了电气测试的可靠性。

另外，根据本申请实施例的用于电气部件测试的插座，还可具有如下附加的技术特征：

在本申请的一些实施例中，所述柱塞的一端的端面为平面，所述端面设置有凸起，所述凸起构成所述凸起部，所述贯穿电极的另一端用于与所述柱塞的一端的端面接触；其中，在所述贯穿电极与所述柱塞的一端的端面接触的情况下，所述贯穿电极不接触所述凸起部。

在本申请的一些实施例中，所述柱塞的一端为椎体，所述椎体构成所述凸起部，所述贯穿电极的另一端用于与所述柱塞的凸起部接触；其中，在所述贯穿电极与所述柱塞的凸起部接触的情况下，所述贯穿电极不接触所述凸起部的顶点。

在本申请的一些实施例中，所述贯穿电极包括支撑部、第一接触部和第二接触部，所述支撑部固定安装于所述绝缘层，所述第一接触部设置在所述支撑部的远离所述接触探针的一端，所述第二接触部设置在所述支撑部的靠近所述接触探针的一端。

在本申请的一些实施例中，所述支撑部包括第一平板、第二平板和导电连接体，所述第一平板设置在所述绝缘层的远离所述接触探针的一侧，所述第二平板设置在所述绝缘层的靠近所述接触探针的一侧，所述导电连接体穿设所述绝缘层且连接所述第一平板和所述第二平板。

在本申请的一些实施例中，所述第一平板、所述第二平板和所述导电连接体为一体式结构。

在本申请的一些实施例中，所述第一接触部包括多个均匀分布的第一接触块，所述第一接触块用于与第二电气部件接触。

在本申请的一些实施例中，所述第二接触部包括多个均匀分布的第二接触块；在所述贯穿电极与所述柱塞的一端接触的情况下，多个所述第二接触块围绕所述凸起且至少不接触所述凸起部的顶点。

在本申请的一些实施例中，所述第二接触块为柱体、椎体、球体或者台体。

在本申请的一些实施例中，在所述贯穿电极与所述柱塞的一端接触的情况下，各所述第二接触块到所述凸起部的顶点的距离相等。

在本申请的一些实施例中，所述支撑部的靠近所述接触探针的一端设置有容纳槽，在所述第二接触块与所述柱塞的一端接触的情况下，至少所述凸起部的顶点位于所述容纳槽内。

在本申请的一些实施例中，所述贯穿电极包括第一平板部、第二平板部和导电连接结构，所述第一平板部设置在所述绝缘层的远离所述接触探针的一侧，所述第二平板部设置在所述绝缘层的靠近所述接触探针的一侧，所述导电连接结构穿设所述绝缘层且连接所述第一平板部和所述第二平板部，所述第二平板部上设置有凹槽；在所述贯穿电极与所述柱塞的一端接触的情况下，所述第二平板部与所述柱塞的一端相抵，且至少所述凸起部的顶点位于所述凹槽内。

在本申请的一些实施例中，所述柔性板上设置有连接孔，所述柔性板通过穿设于所述连接孔的连接件与所述插座本体连接。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的实施例。

图1为本申请实施例的插座的结构示意图；

图2为本申请实施例的插座的仰视图；

图3为本申请第一种实施例的插座的局部剖视图；

图4为本申请第一种实施例的柔性板的局部示意图一；

图5为本申请第一种实施例的柔性板的局部示意图二；

图6为本申请第二种实施例的插座的局部剖视图(未显示绝缘层)；

图7为图6的A部分的放大示意图(未显示绝缘层)；

图8为本申请第三种实施例的插座的局部剖视图(未显示绝缘层)；

图9为本申请第四种实施例的插座的局部剖视图(未显示绝缘层)；

图10为图9的B部分的放大示意图(未显示绝缘层)；

图11为本申请第四种实施例的柔性板的局部示意图一；

图12为本申请第四种实施例的柔性板的局部示意图二。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员基于本申请所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

如背景技术中描述，在相关技术中，用于电气部件测试的插座包括插座主体和接触探针，接触探针的一端设置有柱塞，柱塞的一端设置有凸起部，凸起部的顶点用于与第二电气部件接触。在接触探针与第二电气部件之间电性连接的过程中，柱塞难以避免地会产生绕自身轴线方向的转动，加之柱塞受到弹簧的压力作用，随着测试次数的增多，柱塞凸起部的顶点处就会产生磨损，从而导致接触探针的电阻值发生变化，对电气测试结果造成不利影响，使电气测试的可靠性变差。

针对该技术问题，本申请实施例提出了一种用于电气部件测试的插座，以改善柱塞表面的磨损情况，从而提高电气测试的可靠性。

在本申请实施例中，电气部件包括但不限于IC封装体或半导体封装体，电气测试的内容包括但不限于电气性能测试(如电压、电流、频率等方面的测试)及电气可靠性测试(如抗磁、高低温耐久性、早期失效等级等方面的测试)等。

如图1至图3、图6、图8以及图9所示，本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座10，插座10包括插座本体100、接触探针200以及柔性板300。具体地，插座本体100的内部设置有探针收纳孔110，接触探针200收纳于探针收纳孔110。接触探针200的一端设置有柱塞210，柱塞210的一端设置有凸起部211。柔性板300设置在插座本体100的用于与第二电气部件接触的一侧，柔性板300包括绝缘层320以及安装在绝缘层320上的贯穿电极310，贯穿电极310的一端用于与第二电气部件接触，贯穿电极310的另一端用于与柱塞210的一端接触。其中，在贯穿电极310与柱塞210的一端接触的情况下，贯穿电极310至少不接触凸起部211的顶点。

本申请实施例的用于电气部件测试的插座10包括柔性板300，柔性板300上设置有贯穿电极310，贯穿电极310的一端与第二电气部件接触、另一端与柱塞210接触，利用贯穿电极310的导电性能，实现接触探针200与第二电气部件的电性连接。与现有技术相比，本申请实施例的插座10通过将贯穿电极310的另一端与柱塞210的一端接触，且贯穿电极310至少不接触凸起部211的顶点，使贯穿电极310与柱塞210的接触面积增大，从而在受到相同的压力时，柱塞210与贯穿电极310的接触面的压强减小，进而降低柱塞210表面镀层发生磨损的可能性，使柱塞210的电阻值保持稳定。对于表面设置有镀层的柱塞210，通过降低柱塞210表面发生磨损的可能性，可以大大提高柱塞210的电阻值的稳定性，进而提高电气测试的可靠性。在贯穿电极310与柱塞210的一端接触的情况下，贯穿电极310至少不接触凸起部211的顶点，这就意味着，凸起部211的顶点在电气测试过程中不会与其他部件发生接触，由此，可以避免凸起部211的顶点的磨损。

另外，由于贯穿电极310固定在绝缘层320上，贯穿电极310不会相对于第二电气部件发生移动或转动，因此贯穿电极310与第二电气部件之间，不存在因产生相对运动而发生磨损的情况，进一步保证了电气测试的可靠性。

在本申请的一些实施例中，如图3、图6以及图9所示，柱塞210的一端的端面为平面，端面设置有凸起，凸起构成凸起部211，贯穿电极310的另一端用于与柱塞210的一端的端面接触；其中，在贯穿电极310与柱塞210的一端的端面接触的情况下，贯穿电极310不接触凸起部211。在本申请实施例中，柱塞210的一端的端面为平面，通过将贯穿电极310的另一端与柱塞210的一端的端面接触，可以进一步增大柱塞210与贯穿电极310的接触面积，使柱塞210与贯穿电极310的接触面的压强减小，从而大大降低柱塞210表面发生磨损的可能性，使柱塞210的电阻值保持稳定，进而提高电气测试的可靠性。

在本申请的另外一些实施例中，如图8所示，柱塞210的一端为椎体，椎体构成凸起部211，贯穿电极310的另一端用于与柱塞210的凸起部211接触；其中，在贯穿电极310与柱塞210的凸起部211接触的情况下，贯穿电极310不接触凸起部211的顶点。在本申请实施例中，通过将贯穿电极310与柱塞210的凸起部211接触且贯穿电极310不接触凸起部211的顶点，使柱塞210与贯穿电极310的接触面积增大，柱塞210与贯穿电极310的接触面的压强减小，从而降低柱塞210表面发生磨损的可能性，使柱塞210的电阻值保持稳定，进而提高电气测试的可靠性。另外，贯穿电极310不接触凸起部211的顶点，由此可以避免凸起部211的顶点发生磨损，进一步提高柱塞210的电阻值的稳定性。

在本申请的一些实施例中，如图3至图7所示，贯穿电极310包括支撑部311、第一接触部312和第二接触部313，支撑部311固定安装于绝缘层320，第一接触部312设置在支撑部311的远离接触探针200的一端，第二接触部313设置在支撑部311的靠近接触探针200的一端。在本申请实施例中，通过设置支撑部311，方便贯穿电极310与绝缘层320的安装，通过在支撑部311的远离接触探针200的一端设置第一接触部312，使第一接触部312与第二电气部件接触；通过在支撑部311的靠近接触探针200的一端设置第二接触部313，使第二接触部313与柱塞210的一端接触，从而实现柱塞210与第二电气部件的电性连接。可以理解的是，贯穿电极310的支撑部311、第一接触部312以及第二接触部313均由导电材料制成。优选地，贯穿电极310的支撑部311、第一接触部312以及第二接触部313均由铜制成，且第一接触部312以及第二接触部313的表面设置有镀金层或者镀镍层。

在本申请的一些实施例中，如图3所示，支撑部311包括第一平板3111、第二平板3112和导电连接体3113，第一平板3111设置在绝缘层320的远离接触探针200的一侧，第二平板3112设置在绝缘层320的靠近接触探针200的一侧，导电连接体3113穿设绝缘层320且连接第一平板3111和第二平板3112。由此，通过第一平板3111和第二平板3112对绝缘层320的夹持作用，使支撑部311可以牢固地安装在绝缘层320上。

具体地，如图4所示，第一平板3111可以为圆板，第一平板3111用于与第一接触部312连接。如图5所示，第二平板3112可以为圆板，第二平板3112用于与第二接触部313连接。导电连接体3113为圆柱体，如图3所示，导电连接体3113的两端分别与第一平板3111和第二平板3112连接，且导电连接体3113、第一平板3111以及第二平板3112同轴，导电连接体3113的外圆周面与绝缘层320固定连接。由此，支撑部311的结构简单，方便加工制造。另外，通过将第一平板3111和第二平板3112设置为圆板，使第一平板3111和第二平板3112的体积较小，进而使柔性板300上可以设置较多的贯穿电极310，以满足电气测试的需求。

在本申请的一些实施例中，第一平板3111、第二平板3112和导电连接体3113为一体式结构。由此，既可以减少装配零件的数量，方便贯穿电极310的装配，又使支撑部311的结构稳定，保证柱塞210与第二电气部件的电性连接效果。

在本申请的一些实施例中，如图4所示，第一接触部312包括多个均匀分布的第一接触块3121，第一接触块3121用于与第二电气部件接触。将第一接触部312设置为第一接触块3121，从而利用第一接触块3121与第二电气部件接触，这样，使贯穿电极310与第二电气部件的接触面积较小，由此，适当地增大贯穿电极310和第二电气部件之间的摩擦力，以便于保证贯穿电极310和第二电气部件之间稳固接触而不产生相对位移。另外，由于贯穿电极310和第二电气部件在安装过程中不会产生相对转动，故而也不存在磨损问题。

优选地，第一接触块3121为圆柱体，第一接触块3121与第一平板3111固定连接，第一接触块3121的数量可以是三个、四个或五个等，多个第一接触块3121到第一平板3111的中心处的距离相等。

在本申请的一些实施例中，如图3所示，第二接触部313包括多个均匀分布的第二接触块3131。在贯穿电极310与柱塞210的一端接触的情况下，多个第二接触块3131围绕凸起部211且至少不接触凸起部211的顶点。在本申请实施例中，通过设置第二接触块3131，使第二接触块3131与柱塞210的一端接触。在第二接触块3131与柱塞210的一端接触的情况下，第二接触块3131不接触凸起部211的顶点，进而避免凸起部211的顶点出现磨损。另外，通过设置多个第二接触块3131，使第二接触块3131与柱塞210的一端的接触面积增大，进而减小第二接触块3131与柱塞210之间的压强，使第二接触块3131以及柱塞210的磨损较小，从而使贯穿电极310以及柱塞210的电阻值稳定，进一步保证了电气测试的可靠性。再者，多个第二接触块3131均匀分布，也使得贯穿电极310提供给柱塞210的支撑力分布均匀，进而有利于防止接触探针200损坏，以提高接触探针200的使用寿命。

在本申请的一些实施例中，如图3和图7所示，第二接触块3131为柱体、椎体、球体或者台体。由此，方便根据现有的工具对第二接触块3131进行加工，从而降低贯穿电极310的加工成本。

在本申请的一些实施例中，如图5所示，第二接触块3131为圆柱体，第二接触块3131固定在第二平板3112上，第二接触块3131的数量可以是三个、四个或五个等，多个第二接触块3131围绕凸起部211设置，由此，第二接触部313的结构简单，方便加工制造。

在本申请的另外一些实施例中，如图7所示，第二接触块3131为半球体，第二接触块3131固定在第二平板3112上，第二接触块3131的数量可以是三个、四个或五个等，多个第二接触块3131围绕凸起部211设置。

在本申请的一些实施例中，在贯穿电极310与柱塞210的一端接触的情况下，如图3所示，各第二接触块3131到凸起部211的顶点的距离相等。由此，可以进一步提高柱塞210和贯穿电极310之间的受力均匀性。

在本申请的一些实施例中，如图3所示，在柱塞210的一端的端面为平面，贯穿电极310与柱塞210的一端的端面接触的情况下，第二接触块3131在接触探针200的轴线方向上的尺寸大于凸起部211在轴线方向上的尺寸。由此，当第二接触块3131与柱塞210的一端接触时，凸起部211不会与贯穿电极310发生接触，从而避免凸起部211的表面发生磨损，保证柱塞210的电阻值稳定，提高电气测试的可靠性。

在本申请的另外一些实施例中，如图6和图7所示，支撑部311的靠近接触探针200的一端设置有容纳槽3114，在第二接触块3131与柱塞210的一端接触的情况下，至少凸起部211的顶点位于容纳槽3114内。在本申请实施例中，通过设置容纳槽3114，并将凸起部211的顶点位于容纳槽3114内，避免凸起部211的顶点与贯穿电极310接触，由此，第二接触块3131在接触探针200的轴线方向上的尺寸可以较小，进而使贯穿电极310与柱塞210的连接更加紧凑，插座10更加小型化，方便插座10的使用。具体地，容纳槽3114贯穿第二平板3112且延伸至导电连接体3113。由此，在保证凸起部211的顶点不与贯穿电极310接触的情况下，可以进一步减小第二接触块3131在接触探针200的轴线方向上的尺寸。

在本申请的另外一些实施例中，如图9至图12所示，贯穿电极310包括第一平板部314、第二平板部315和导电连接结构316，第一平板部314设置在绝缘层320的远离接触探针200的一侧，第二平板部315设置在绝缘层320的靠近接触探针200的一侧，导电连接结构316穿设绝缘层320且连接第一平板部314和第二平板部315，第二平板部315上设置有凹槽3151；在贯穿电极310与柱塞210的一端接触的情况下，第二平板部315与柱塞210的一端相抵，且至少凸起部211的顶点位于凹槽3151内。在本申请实施例中，第二平板部315的中心处设置有凹槽3151，当第二平板部315与柱塞210的一端相抵时，至少凸起部211的顶点位于凹槽3151内，由此使凸起部211的顶点不与第二平板部315接触。通过将第二平板部315与柱塞210的一端相抵，增大柱塞210与贯穿电极310的接触面积，进而减小柱塞210与贯穿电极310的接触面的压强，从而减小柱塞210以及贯穿电极310的磨损，使柱塞210以及贯穿电极310的电阻值稳定，提高电气测试的可靠性。具体地，如图11所示，第一平板部314上设置有接触柱3141，接触柱3141用于与第二电气部件接触，接触柱3141的数量可以是多个，且多个接触柱3141分布均匀。

进一步地，在柱塞210的一端的端面为平面，贯穿电极310与柱塞210的一端的端面接触的情况下，凸起部211位于凹槽3151内，凹槽3151在接触探针200的轴线方向的尺寸大于凸起部211在接触探针200的轴线方向的尺寸，由此可以避免凸起部211与第二平板部315接触。

在本申请的一些实施例中，导电连接结构316为圆柱体，导电连接结构316的一端与第一平板部314连接、另一端与第二平板部315连接，导电连接结构316的外圆周面用于与绝缘层320固定连接，从而实现贯穿电极310与绝缘层320的固定。导电连接结构316的结构简单，方便加工制造。

在本申请的一些实施例中，如图10所示，第二平板部315的凹槽3151贯穿第二平板部315且延伸至导电连接结构316。由此，在第二平板部315的厚度较薄时，保证凸起部211的顶点不与第二平板部315接触，避免凸起部211的顶点与第二平板部315接触导致的表面磨损，保证柱塞210的电阻值稳定。另外，第二平板部315的厚度较薄，使贯穿电极310与柱塞210的连接更加紧凑，进而使插座10更加小型化，方便插座10的使用。

在本申请的一些实施例中，如图1和图2所示，柔性板300上设置有连接孔，柔性板300通过穿设于连接孔的连接件400与插座本体100连接。具体地，绝缘层320的边缘处设置有四个连接耳321，连接孔位于连接耳321上。在本申请实施例中，连接件400为螺栓，通过穿设于连接孔的螺栓将柔性板300固定在插座本体100的与第二电气部件接触的一侧，由此，柔性板300与插座本体100的连接方式简单，装配方便。

在本申请的一些实施例中，如图1和图2所示，贯穿电极310设置有多个，贯穿电极310与接触探针200一一对应设置，多个贯穿电极310呈矩阵排列。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

本说明书中的各个实施例均采用相关的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于系统实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

以上仅为本申请的较佳实施例，并非用于限定本申请的保护范围。凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本申请的保护范围内。

Claims (13)

1.一种用于电气部件测试的插座，其特征在于，包括：

插座本体，所述插座本体的内部设置有探针收纳孔；

接触探针，所述接触探针收纳于所述探针收纳孔，所述接触探针的一端设置有柱塞，所述柱塞的一端设置有凸起部；

柔性板，所述柔性板设置在所述插座本体的用于与第二电气部件接触的一侧，所述柔性板包括绝缘层以及安装在所述绝缘层上的贯穿电极，所述贯穿电极的一端用于与第二电气部件接触，所述贯穿电极的另一端用于与所述柱塞的一端接触；其中，在所述贯穿电极与所述柱塞的一端接触的情况下，所述贯穿电极至少不接触所述凸起部的顶点。

2.根据权利要求1所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述柱塞的一端的端面为平面，所述端面设置有凸起，所述凸起构成所述凸起部，所述贯穿电极的另一端用于与所述柱塞的一端的端面接触；其中，在所述贯穿电极与所述柱塞的一端的端面接触的情况下，所述贯穿电极不接触所述凸起部。

3.根据权利要求1所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述柱塞的一端为椎体，所述椎体构成所述凸起部，所述贯穿电极的另一端用于与所述柱塞的凸起部接触；其中，在所述贯穿电极与所述柱塞的凸起部接触的情况下，所述贯穿电极不接触所述凸起部的顶点。

4.根据权利要求1或2或3所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述贯穿电极包括支撑部、第一接触部和第二接触部，所述支撑部固定安装于所述绝缘层，所述第一接触部设置在所述支撑部的远离所述接触探针的一端，所述第二接触部设置在所述支撑部的靠近所述接触探针的一端。

5.根据权利要求4所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述支撑部包括第一平板、第二平板和导电连接体，所述第一平板设置在所述绝缘层的远离所述接触探针的一侧，所述第二平板设置在所述绝缘层的靠近所述接触探针的一侧，所述导电连接体穿设所述绝缘层且连接所述第一平板和所述第二平板。

6.根据权利要求5所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述第一平板、所述第二平板和所述导电连接体为一体式结构。

7.根据权利要求4所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述第一接触部包括多个均匀分布的第一接触块，所述第一接触块用于与第二电气部件接触。

8.根据权利要求4所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述第二接触部包括多个均匀分布的第二接触块；

在所述贯穿电极与所述柱塞的一端接触的情况下，多个所述第二接触块围绕所述凸起部且至少不接触所述凸起部的顶点。

9.根据权利要求8所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述第二接触块为柱体、椎体、球体或者台体。

10.根据权利要求8所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，在所述贯穿电极与所述柱塞的一端接触的情况下，各所述第二接触块到所述凸起部的顶点的距离相等。

11.根据权利要求8所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述支撑部的靠近所述接触探针的一端设置有容纳槽，在所述第二接触块与所述柱塞的一端接触的情况下，至少所述凸起部的顶点位于所述容纳槽内。

12.根据权利要求1或2或3所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述贯穿电极包括第一平板部、第二平板部和导电连接结构，所述第一平板部设置在所述绝缘层的远离所述接触探针的一侧，所述第二平板部设置在所述绝缘层的靠近所述接触探针的一侧，所述导电连接结构穿设所述绝缘层且连接所述第一平板部和所述第二平板部，所述第二平板部上设置有凹槽；

在所述贯穿电极与所述柱塞的一端接触的情况下，所述第二平板部与所述柱塞的一端相抵，且至少所述凸起部的顶点位于所述凹槽内。

13.根据权利要求1至12中任一项所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述柔性板上设置有连接孔，所述柔性板通过穿设于所述连接孔的连接件与所述插座本体连接。