CN116678908A - 一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本申请提出的pXRF对岩心元素测试的质量控制方法、装置及存储介质中，包括：利用质量控制物质对pXRF进行准确性测试，得到质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据；若质量控制物质对应的第一相对误差小于第一误差阈值，则利用质量控制物质对pXRF进行稳定性测试，得到pXRF对应的预热时间；响应于pXRF开机启动预热时间之后，设置pXRF为测试模式，并设置pXRF每次测试的节点；当pXRF处于测试节点时，对质量控制物质进行测试得到测试数据，并基于测试数据与基准数据进行比较，若测试数据满足测试条件，则pXRF继续正常运行。本申请提出了一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法，使得测量结果更加准确。
Description
技术领域
本申请涉及质量控制技术领域，尤其涉及一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法、装置及存储介质。
背景技术
便携式X射线荧光分析仪（pXRF分析仪），具有操作便捷、分析速度快、适用范围的特点，在大批量岩心XRF测试中得到广泛应用。
但是，pXRF分析仪的数据质量相对于大型台式分析仪器的数据质量差一些，也即是，pXRF分析仪在使用过程中可能会出现精度不准，从而使得测量结果不准确。因此，亟需一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法。
发明内容
本申请提供一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法、装置及存储介质，以解决上述相关技术中出现的技术问题。
本申请第一方面实施例提出一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法，应用于便携式X射线荧光分析仪pXRF，所述方法包括：
利用质量控制物质对所述pXRF进行准确性测试，得到所述质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据，其中，所述质量控制物质为岩心样品和所述质量控制物质包括所述pXRF可测量元素；
若所述质量控制物质对应的第一相对误差小于第一误差阈值，则利用所述质量控制物质对所述pXRF进行稳定性测试，得到所述pXRF对应的预热时间；
响应于所述pXRF开机启动所述预热时间之后，设置所述pXRF为测试模式，并设置所述pXRF每次测试的节点；
当所述pXRF处于测试节点时，对所述质量控制物质进行测试得到测试数据，并基于所述测试数据与所述基准数据进行比较，若所述测试数据满足测试条件，则所述pXRF继续正常运行。
本申请第二方面实施例提出一种pXRF对岩心元素测试的质量控制装置，应用于便携式X射线荧光分析仪pXRF，所述装置包括：
第一测试模块，用于利用质量控制物质对所述pXRF进行准确性测试，得到所述质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据，其中，所述质量控制物质为岩心样品和所述质量控制物质包括所述pXRF可测量元素；
第二测试模块，用于若所述质量控制物质对应的第一相对误差小于第一误差阈值，则利用所述质量控制物质对所述pXRF进行稳定性测试，得到所述pXRF对应的预热时间；
设置模块，用于响应于所述pXRF开机启动所述预热时间之后，设置所述pXRF为测试模式，并设置所述pXRF每次测试的节点；
第三测试模块，用于当所述pXRF处于测试节点时，对所述质量控制物质进行测试得到测试数据，并基于所述测试数据与所述基准数据进行比较，若所述测试数据满足测试条件，则所述pXRF继续正常运行。
本申请第三方面实施例提出的计算机存储介质，其中，所述计算机存储介质存储有计算机可执行指令；所述计算机可执行指令被处理器执行后，能够实现如上第一方面所述的方法。
本申请第四方面实施例提出的计算机设备，其中，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行所述程序时，能够实现如上第一方面所述的方法。
本申请的实施例提供的技术方案至少带来以下有益效果：
本申请提出的pXRF对岩心元素测试的质量控制方法、装置及存储介质中，应用于pXRF，该方法包括：利用质量控制物质对pXRF进行准确性测试，得到质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据，其中，质量控制物质为岩心样品和质量控制物质包括pXRF可测量元素；若质量控制物质对应的第一相对误差小于第一误差阈值，则利用质量控制物质对pXRF进行稳定性测试，得到pXRF对应的预热时间；响应于pXRF开机启动预热时间之后，设置pXRF为测试模式，并设置pXRF每次测试的节点；当pXRF处于测试节点时，对质量控制物质进行测试得到测试数据，并基于测试数据与基准数据进行比较，若测试数据满足测试条件，则所述pXRF继续正常运行。由此，本申请提出了一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法，利用pXRF的测试数据进行质量控制，从而提升了数据质量，使得测量结果更加准确。
本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
附图说明
本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1为根据本申请一个实施例提供的pXRF对岩心元素测试的质量控制方法的流程示意图；
图2为根据本申请一个实施例提供的pXRF对岩心元素测试的质量控制装置的结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。
下面参考附图描述本申请实施例的pXRF对岩心元素测试的质量控制方法及装置。
实施例一
图1 为根据本申请一个实施例提供的一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法的流程示意图，如图1所示，可以包括：
步骤101、利用质量控制物质对pXRF进行准确性测试，得到质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据。
其中，在本公开实施例中，上述质量控制物质可以为岩心样品，且上述质量控制物质可以包括pXRF可测量元素。
以及，在本公开实施例中，上述质量控制物质为一套具有已知元素类型及含量信息的国家一级标准物质。其中，利用质量控制物质对pXRF进行准确性测试之前，可以对质量控制物质进行选择。具体地，在本公开实施例中，可以根据pXRF的模式或量程或滤波片中可测试元素种类进行质量控制物质的选择，基于此，最终选择的质量控制物质可以含有各模式或量程或滤波片中任意一种可测量元素。
示例的，假设pXRF分析仪有两个工作模式，其中工作模式1中可测量元素为Pb（铅），W（钨），Zn（锌），Cu（铜），Ni（镍），Co（钴），Fe（铁），Mn（锰）；工作模式2中可测量元素为K（钾），S（硫），Mg（镁），Al（铝），Si（硅）。其中，对于该pXRF分析仪，在选择质量控制物质时，应确保质量控制物质包含至少一种工作模式1的可测量元素（如Pb）及至少一种工作模式2的可测量元素（如Si）。
进一步地，在本公开实施例中，在选择质量控制物质之后，可以利用选择的质量控制物质对pXRF进行准确性测试，得到质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据。其中，在本公开实施例中，pXRF分析仪准确性测试主要用于衡量pXRF分析仪测量质量控制物质所得元素的含量与质量控制物质中各元素的真实含量之间的误差水平。
具体地，在本公开实施例中，上述质量控制物质包括至少一种元素。
以及，在本公开实施例中，上述利用质量控制物质对pXRF进行准确性测试，得到质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据的方法可以包括以下步骤：
步骤1011、利用质量控制物质对pXRF进行准确性测试，得到质量控制物质中各元素的第一测量值。
示例的，在本公开实施例中，利用质量控制物质GBW07162对pXRF进行准确性测试，其中，GBW07162中包括Pb、Zn、Cu、Fe、Mn、Ca六种元素。也即是，利用pXRF对GBW07162进行第一预设次数（如50次）的测量，得到GBW07162中各元素每次测量的第一测量值。
步骤1012、基于质量控制物质中各元素的第一测量值与真实值，通过第一公式得到质量控制物质中各元素的第一相对误差，其中第一公式为：
；
其中，上述为准确性测试对应的测试次数，/>为对/>元素的第/>次第一测量值，为/>元素的真实值，/>为/>元素的第一相对误差。
步骤1013、基于质量控制物质中各元素的第一测量值，得到质量控制物质中各元素的基准数据。
其中，在本公开实施例中，上述基准数据可以包括平均值和标准差。
具体地，在本公开实施例中，可以通过第二公式计算质量控制物质中各元素的标准差，其中，第二公式为：
其中，为/>元素的标准差，/>，/>为各元素的平均值。
以及，在本公开实施例中，通过步骤1013得到质量控制物质中各元素的基准数据后，以便后续可以利用基准数据与对质量控制物质进行测试的测试数据进行比较，以便后续pXRF对岩心元素测试的质量控制。
步骤102、若质量控制物质对应的第一相对误差小于第一误差阈值，则利用质量控制物质对pXRF进行稳定性测试，得到pXRF对应的预热时间。
其中，在本公开实施例中，通过上述步骤得到第一相对误差，可以根据得到的第一相对误差，确定是否利用质量控制物质对pXRF进行稳定性测试。
具体地，在本公开实施例中，若质量控制物质各元素的第一相对误差均小于第一误差阈值，说明该pXRF测量具有准确性，则可以进行稳定性测试；若质量控制物质任一元素对应的第一相对误差大于或等于第一误差阈值，说明该pXRF测量不具有准确性，此时需要重启pXRF并对该pXRF进行校准后再进行测试；若连续多次（5次）重启和校准后，质量控制物质任一元素对应的第一相对误差存在大于或等于第一误差阈值，则需输出测量结果并将测量结果发送至运维人员，以便运维人员对该pXRF进行维修。
以及，在本公开实施例中，若质量控制物质对应的第一相对误差小于第一误差阈值后，则可以利用质量控制物质对pXRF进行稳定性测试，得到pXRF对应的预热时间，以便后续pXRF在预热时间后正常运行。
具体地，在本公开实施例中，上述利用质量控制物质对pXRF进行稳定性测试，得到pXRF对应的预热时间的方法可以包括以下步骤：
步骤1021、将pXRF预热第一预热时间后，对质量控制物质进行测试，得到质量控制物质中各元素的第二测量值；
其中，在本公开实施例中，将pXRF预热第一预热时间后，对质量控制物质进行进行第二预设次数（如10次）的测量，得到质量控制物质中各元素每次测量的第二测量值。
以及，在本公开实施例中，上述第一预热时间可以根据需要进行设定，例如上述第一预热时间可以为5分钟。
步骤1022、将pXRF保持运行状态第一预设时间后，对质量控制物质进行重复测试，得到质量控制物质中各元素的第三测量值；
其中，在本公开实施例中，上述预设时间可以根据需要进行设定，例如上述第一预设时间可以为30分钟。
以及，在本公开实施例中，上述对质量控制物质进行重复测试时，测试的工作模式和次数需要与步骤1021中测试时的工作模式和次数一致。
步骤1023、基于各元素的第二测量值与第三测量值，确定各元素对应的第二相对误差；
其中，在本公开实施例中，基于各元素的第二测量值与第三测量值，确定各元素对应的第二相对误差的方法可以包括：基于各元素的第二测量值与第三测量值，通过第三公式确定各元素对应的第二相对误差，其中，第三公式为：
其中，在本公开实施例中，为测试对应的测试次数，/>为pXRF预热第一预热时间后对j元素的第i次测试结果，/>为pXRF保持运行状态第二预热时间后对j元素的第i次测试结果，/>为/>元素的第二相对误差。
步骤1024、基于第二相对误差，得到pXRF对应的预热时间。
其中，在本公开实施例中，上述基于第二相对误差，得到pXRF对应的预热时间的方法可以包括：若第二相对误差小于或等于第二误差阈值，则将第一预热时间确定为pXRF对应的预热时间；若第二相对误差大于第二误差阈值，则将pXRF静置冷却至室温，将pXRF预热第二预热时间后，重复上述步骤，直至第二相对误差小于或等于第二误差阈值，将对应第N预热时间确定为pXRF对应的预热时间，其中，第二预热时间长于第一预热时间。
以及，在本公开实施例中，上述第二相对误差可以根据需要进行设定，示例的，第二相对误差可以为10%。
需要说明的是，在本公开实施例中，上述第一预热时间可以根据需要提前设定，例如第一预热时间可以为5分钟，并且之后的每次预热时间均比上一次的预热时间长相同时间。示例的，假设第一预热时间为5分钟，则之后每次预热时间均比上一次预热时间长5分钟，也即是，第二预热时间为10分钟。
步骤103、响应于pXRF开机启动预热时间之后，设置pXRF为测试模式，并设置pXRF每次测试的节点。
其中，在本公开实施例中，每次测试的节点包括预热时间后、时间间隔为第二预设时间和每次完成测量钻孔后。
具体地，在本公开实施例中，在每次预设时间后pXRF会进行测试，之后，每次间隔第二预设时间后pXRF会进行测试，同时，pXRF会在每次完成测量钻孔后进行测试。
步骤104、当pXRF处于测试节点时，对质量控制物质进行测试得到测试数据，并基于测试数据与基准数据进行比较，若测试数据满足测试条件，则pXRF继续正常运行。
其中，在本公开实施例中，上述当pXRF处于测试节点时，对质量控制物质进行测试得到测试数据后，可以基于测试数据与基准数据进行比较，确定该测试数据是否满足测试条件，以便确定是否该pXRF是否继续正常运行。
以及，在本公开实施例中，上述基于测试数据与基准数据进行比较，若测试数据满足测试条件，则pXRF继续正常运行的方法可以包括以下步骤：
步骤1041、基于基准数据确定质量控制物质中各元素对应的目标可含量范围；
其中，在本公开实施例中，上述基准数据包括质量控制物质中各元素第一测量值对应的平均值和标准差。基于此，基于基准数据确定质量控制物质中各元素对应的目标可含量范围的方法可以包括：基于基准数据中的平均值和标准差，通过第四公式确定质量控制物质中各元素对应的目标可含量范围，其中，第四公式为：
其中，为/>元素的平均值，/>为/>元素的标准差，/>为/>元素的目标可含量范围。
步骤1042、基于测试数据与各元素对应的目标可含量范围，确定测试数据是否满足测试条件；
其中，在本公开实施例中，上述基于测试数据与所述各元素对应的目标可含量范围，确定测试数据是否满足测试条件的方法可以包括步骤：
步骤1、若测试数据中各元素对应的第三测量值均在各元素对应的目标可含范围内，则确定测试数据满足测试条件；
步骤2、若测试数据中任一元素对应的第三测量值不在对应的目标可含范围内，则确定测试数据不满足测试条件。
步骤1043、若测试数据满足测试条件，则pXRF继续正常运行。
其中，在本公开实施例中，若测试数据不满足测试条件，则需要对pXRF进行重新调整，以便继续正常运行。以及，不同的测试节点在不满足测试条件时，对应的调整方法不同。
具体地，在本公开实施例中，当测试节点为预热时间后，此时若测试数据不满足测试条件，则重启pXRF分析仪重复进行测试，若重复测试得到的测试数据还不满足测试条件，则需输出测量结果并将测量结果发送至运维人员，以便运维人员对该pXRF进行维修。
在本公开另一个实施例中，当测试节点为时间间隔为第二预设时间后，此时若测试数据不满足测试条件，则重启pXRF分析仪重复进行测试，若重复测试得到的测试数据满足测试条件，则重新对之前第二预设时间内的所有测量点进行重新测试，以确保测量结果的准确性；若重复测试得到的测试数据还不满足测试条件，则需输出测量结果并将测量结果发送至运维人员，以便运维人员对该pXRF进行维修。
在本公开又一个实施例中，当测试节点为测量钻孔后后，此时若测试数据不满足测试条件，则重启pXRF分析仪重复进行测试，若重复测试得到的测试数据满足测试条件，则重新对位于当前质量控制测试点和上一次通过测试的质量控制测试点之间的所有测量点进行测试，以确保测量结果的准确性；若重复测试得到的测试数据还不满足测试条件，则需输出测量结果并将测量结果发送至运维人员，以便运维人员对该pXRF进行维修。
其中，本公开实施例中，上述质量控制测试点均有对应的名称。具体地，质量控制测试点的命名规则为“项目编号-钻孔编号-QC+顺序号”，例如项目000100中钻孔ZK001的第3个质量控制测试点应命名为：000100-ZK001-QC3。以及，当前通过测试的质量控制测试点与上一个通过测试的质量控制测试点之间的所有岩心测点数据被称为被当前质量控制测试点控制的数据。
示例的，假设000100-ZK001-QC3和000100-ZK001-QC4均通过了质量控制测试，则位于这两个质量控制测试点之间的所有岩心测点数据应被称为被000100-ZK001-QC4质量控制点控制的数据。
综上所述，本申请提出的PXRF对岩心元素测试的质量控制方法中，应用于pXRF，该方法包括：利用质量控制物质对pXRF进行准确性测试，得到质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据，其中，质量控制物质为岩心样品和质量控制物质包括pXRF可测量元素；若质量控制物质对应的第一相对误差小于第一误差阈值，则利用质量控制物质对pXRF进行稳定性测试，得到pXRF对应的预热时间；响应于pXRF开机启动预热时间之后，设置pXRF为测试模式，并设置pXRF每次测试的节点；当pXRF处于测试节点时，对质量控制物质进行测试得到测试数据，并基于测试数据与基准数据进行比较，若测试数据满足测试条件，则所述pXRF继续正常运行。由此，本申请提出了一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法，利用pXRF的测试数据进行质量控制，从而提升了数据质量，使得测量结果更加准确。
实施例二
图2为根据本申请一个实施例提供的pXRF对岩心元素测试的质量控制装置的结构示意图，应用于pXRF，如图2所示，所述装置可以包括：
第一测试模块201，用于利用质量控制物质对pXRF进行准确性测试，得到质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据，其中，质量控制物质为岩心样品和质量控制物质包括pXRF可测量元素；
第二测试模块202，用于若质量控制物质对应的第一相对误差小于第一误差阈值，则利用质量控制物质对pXRF进行稳定性测试，得到pXRF对应的预热时间；
设置模块203，用于响应于pXRF开机启动预热时间之后，设置pXRF为测试模式，并设置pXRF每次测试的节点；
第三测试模块204，用于当pXRF处于测试节点时，对质量控制物质进行测试得到测试数据，并基于测试数据与基准数据进行比较，若测试数据满足测试条件，则pXRF继续正常运行。
综上所述，本申请提出的PXRF对岩心元素测试的质量控制装置中，应用于pXRF，该方法包括：利用质量控制物质对pXRF进行准确性测试，得到质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据，其中，质量控制物质为岩心样品和质量控制物质包括pXRF可测量元素；若质量控制物质对应的第一相对误差小于第一误差阈值，则利用质量控制物质对pXRF进行稳定性测试，得到pXRF对应的预热时间；响应于pXRF开机启动预热时间之后，设置pXRF为测试模式，并设置pXRF每次测试的节点；当pXRF处于测试节点时，对质量控制物质进行测试得到测试数据，并基于测试数据与基准数据进行比较，若测试数据满足测试条件，则所述pXRF继续正常运行。由此，本申请提出了一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法，利用pXRF的测试数据进行质量控制，从而提升了数据质量，使得测量结果更加准确。
为了实现上述实施例，本公开还提出一种计算机存储介质。
本公开实施例提供的计算机存储介质，存储有可执行程序；所述可执行程序被处理器执行后，能够实现如图1所示的方法。
为了实现上述实施例，本公开还提出一种计算机设备。
本公开实施例提供的计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序；所述处理器执行所述程序时，能够实现如图1任一所示的方法。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、 “示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现定制逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本申请的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本申请的实施例所属技术领域的技术人员所理解。
尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本申请的限制，本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
Claims (10)
1.一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法，其特征在于，应用于便携式X射线荧光分析仪pXRF，所述方法包括：
利用质量控制物质对所述pXRF进行准确性测试，得到所述质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据，其中，所述质量控制物质为岩心样品和所述质量控制物质包括所述pXRF可测量元素；
若所述质量控制物质对应的第一相对误差小于第一误差阈值，则利用所述质量控制物质对所述pXRF进行稳定性测试，得到所述pXRF对应的预热时间；
响应于所述pXRF开机启动所述预热时间之后，设置所述pXRF为测试模式，并设置所述pXRF每次测试的节点；
当所述pXRF处于测试节点时，对所述质量控制物质进行测试得到测试数据，并基于所述测试数据与所述基准数据进行比较，若所述测试数据满足测试条件，则所述pXRF继续正常运行。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述质量控制物质包括至少一种元素；所述利用质量控制物质对所述pXRF进行准确性测试，得到所述质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据，包括：
利用所述质量控制物质对所述pXRF进行准确性测试，得到所述质量控制物质中各元素的第一测量值；
基于所述质量控制物质中各元素的第一测量值与真实值，通过第一公式得到所述质量控制物质中各元素的第一相对误差，其中第一公式为：
；
其中，所述为所述准确性测试对应的测试次数，所述/>为对/>元素的第/>次第一测量值，所述/>为/>元素的真实值，所述/>为/>元素的第一相对误差；
基于所述质量控制物质中各元素的第一测量值，得到所述质量控制物质中各元素的基准数据。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述若所述质量控制物质对应的第一相对误差小于第一误差阈值，则利用所述质量控制物质对所述pXRF进行稳定性测试，得到所述pXRF对应的预热时间，包括：
若所述质量控制物质中各元素对应的第一相对误差均小于第一误差阈值，则将所述pXRF预热第一预热时间后，对所述质量控制物质进行测试，得到所述质量控制物质中各元素的第二测量值；
将所述pXRF保持运行状态第一预设时间后，对所述质量控制物质进行重复测试，得到所述质量控制物质中各元素的第三测量值；
基于所述各元素的所述第二测量值与所述第三测量值，确定所述各元素对应的第二相对误差；
基于所述第二相对误差，得到所述pXRF对应的预热时间。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述第二相对误差，得到所述pXRF对应的预热时间，包括：
若所述第二相对误差小于或等于第二误差阈值，则将所述第一预热时间确定为所述pXRF对应的预热时间；
若所述第二相对误差大于所述第二误差阈值，则将所述pXRF静置冷却至室温，将所述pXRF预热第二预热时间后，重复上述步骤，直至所述第二相对误差小于或等于所述第二误差阈值，将对应第N预热时间确定为所述pXRF对应的预热时间，其中，所述第二预热时间长于所述第一预热时间。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述每次测试的节点包括预热时间后、时间间隔为第二预设时间和每次完成测量钻孔后。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述测试数据与所述基准数据进行比较，若所述测试数据满足测试条件，则所述pXRF继续正常运行，包括：
基于所述基准数据确定所述质量控制物质中各元素对应的目标可含量范围；
基于所述测试数据与所述各元素对应的目标可含量范围，确定所述测试数据是否满足测试条件；
若所述测试数据满足测试条件，则所述pXRF继续正常运行。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于所述测试数据与所述各元素对应的目标可含量范围，确定所述测试数据是否满足测试条件，包括：
若所述测试数据中各元素对应的第三测量值均在所述各元素对应的目标可含范围内，则确定所述测试数据满足测试条件；
若所述测试数据中任一元素对应的第三测量值不在对应的目标可含范围内，则确定所述测试数据不满足测试条件。
8.一种pXRF对岩心元素测试的质量控制装置，其特征在于，应用于便携式X射线荧光分析仪pXRF，所述装置包括：
第一测试模块，用于利用质量控制物质对所述pXRF进行准确性测试，得到所述质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据，其中，所述质量控制物质为岩心样品和所述质量控制物质包括所述pXRF可测量元素；
第二测试模块，用于若所述质量控制物质对应的第一相对误差小于第一误差阈值，则利用所述质量控制物质对所述pXRF进行稳定性测试，得到所述pXRF对应的预热时间；
设置模块，用于响应于所述pXRF开机启动所述预热时间之后，设置所述pXRF为测试模式，并设置所述pXRF每次测试的节点；
第三测试模块，用于当所述pXRF处于测试节点时，对所述质量控制物质进行测试得到测试数据，并基于所述测试数据与所述基准数据进行比较，若所述测试数据满足测试条件，则所述pXRF继续正常运行。
9.一种计算机设备，其特征在于，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时，能够实现如权利要求1-7中任一所述的方法。
10.一种计算机存储介质，其中，所述计算机存储介质存储有计算机可执行指令；所述计算机可执行指令被处理器执行后，能够实现权利要求1-7中任一所述的方法。
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