CN116670800A - 用于控制通过开放端口接口的流量的系统和方法 - Google Patents

用于控制通过开放端口接口的流量的系统和方法 Download PDF

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CN116670800A CN202180085754.XA CN202180085754A CN116670800A CN 116670800 A CN116670800 A CN 116670800A CN 202180085754 A CN202180085754 A CN 202180085754A CN 116670800 A CN116670800 A CN 116670800A
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刘畅
T·科维
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Abstract

一种调整质谱设备的雾化器探针内电极的位置的方法,该质谱设备具有用于接收样本的开放端口接口,该方法包括在包括电极的第一位置和第一流速的第一分析条件下执行样本的第一分析。在执行第一分析之后,在包括电极的第一位置和高于第一流速的第二流速的第二分析条件下执行样本的第二分析。此后,在包括电极的第二位置和第二流速的第三分析条件下执行样本的第三分析。

Description

用于控制通过开放端口接口的流量的系统和方法
相关申请的交叉引用
本申请于2021年12月21日作为PCT国际专利申请提交,并要求于2020年12月21日提交的美国临时申请No.63/128,572和于2021年5月11日提交的美国临时申请No.63/186,929的权益和优先权,这两份申请都通过引用整体并入本文。
背景技术
高通量样本分析对药物发现过程至关重要。基于质谱法(MS)的方法可以实现对各种分析物的无标记、通用质量检测,具有出色的灵敏度、选择性和特异性。因此,人们对提高基于MS的药物发现分析的通量产生了浓厚的兴趣。特别地,许多用于基于MS的分析的样本引入系统已经得到改进,以提供更高的通量。
声滴喷射(ADE)已与开放端口接口(OPI)相结合,以提供用于高通量质谱法的样本引入系统。当ADE设备和OPI耦合到质谱仪时,该系统可以被称为声喷射质谱法(AEMS)系统。
AEMS系统的分析性能(灵敏度、再现性、通量等)取决于ADE设备和OPI的性能。ADE设备和OPI的性能取决于为这些设备选择的操作条件或参数。
发明内容
本文描述的技术平衡OPI处传输液体的流速与由质谱设备的电喷雾电离(ESI)源处的高流量雾化器气体生成的Venturi抽吸力。生成的Venturi抽吸力将传输流体和样本从OPI吸入ESI。电极相对于雾化器探针的位置(例如,超出探针尖端的突出)影响在ESI处生成的负压,该负压从OPI吸取传输液体。平衡的系统在ESI处产生足够的抽吸力,以便从OPI正确吸取传输液体。由于ESI电极的正确定位,本文描述的技术允许最大流速的传输液体被输送到OPI,同时仍然在检测器处产生可测量、可重现的结果。
在一个方面,该技术涉及一种调整电极在具有用于接收样本的开放端口接口的质谱设备的雾化器探针内的位置的方法,该方法包括:在包括电极在雾化器探针中的第一位置和第一流速的第一分析条件下对样本执行第一分析,其中执行第一分析包括:以第一流速将传输液体输送到开放端口接口,同时在第一位置从电极喷射样本;以及用质谱设备在第一分析条件下对样本进行分析,以获得第一分析条件离子强度信号;在执行第一分析之后,在包括电极在雾化器探针中的第一位置和高于第一流速的第二流速的第二分析条件下对样本执行第二分析,其中执行第二分析包括:以第二流速将传输液体输送到开放端口接口,同时从处于第一位置的电极喷射样本;以及用质谱设备在第二分析条件下对样本进行分析,以获得第二分析条件离子强度信号;以及在执行第二分析之后,在包括电极在雾化器探针中的第二位置和第二流速的第三分析条件下对样本执行第三分析,其中执行第三分析包括:以第二流速将传输液体输送到开口端口接口,同时从处于第二位置的电极喷射样本。在示例中,执行第一分析还包括显示第一分析条件离子强度信号,并且其中执行第二分析还包括显示第二分析条件离子强度信号。在另一个示例中,执行第三分析还包括用质谱设备在第三分析条件下对样本进行分析,以获得第三分析条件离子强度信号。在又一个示例中,执行第三分析还包括显示第三分析条件离子强度信号。在又一个示例中,第一分析条件离子强度信号的特征在于峰高、峰宽、至少两个相邻峰之间的基线、峰间变化和峰形中的至少一个。
在上述方面的另一个示例中,该方法还包括:通过第一预定阈值来第一分析条件离子强度信号与第二分析条件离子强度信号之间的检测偏差;以及至少部分地基于该偏差发送电极调整信号。在示例中,发送电极调整信号包括:发起电极在雾化器探针内的位置的调整;检测第一分析条件离子强度信号与第二分析条件离子强度信号之间的小于第一预定阈值的减小的偏差;以及至少部分地基于检测到减小的偏差来终止电极在雾化器探针内的位置的调整,其中在电极的位置的调整终止时电极在雾化器探针内的位置是第二位置。在另一个示例中,发送电极调整信号包括发出视觉信号和听觉信号中的至少一个。
另一方面,该技术涉及一种调整电极在具有用于接收传输液体的开放端口接口的质谱设备的雾化器探针内的位置的方法,该方法包括:以第一流速将传输液体输送到开放端口接口,同时从相对于雾化器探针处于第一位置的电极喷射传输液体;用质谱设备分析喷射的传输液体以生成包括测试化合物强度信号和关联噪声的分析信号;在生成测试化合物强度信号之后,以第一流速将传输液体输送到开放端口接口,同时从相对于雾化器探针处于第二位置的电极喷射传输液体,其中以第一流速将传输液体输送到开放端口接口基本上消除了来自测试化合物强度信号的噪声。在示例中,该方法还包括:在从分析信号中基本消除噪声之后,以更高的第二流速将传输液体输送到开放端口接口,同时从相对于雾化器探针处于第二位置的电极喷射传输液体,其中以第二流速将传输液体输送到开放端口接口将噪声引入分析信号;以及在生成测试化合物强度信号之后,以第二流速将传输液体输送到开放端口接口,同时从相对于雾化器探针处于第三位置的电极喷射传输液体,其中以第二流速将传输液体输送到开放端口接口基本上消除了来自测试化合物强度信号的噪声。在另一个实例中,测试化合物强度信号的特征在于强度、噪声、信号事件周期性和信号事件持续时间中的至少一个。在又一个示例中,该方法包括通过第一预定阈值来检测测试化合物强度信号与噪声之间的偏差。在又一个示例中,该方法包括至少部分地基于检测来发送电极调整信号。
在上述方面的另一个示例中,发送电极调整信号发起电极在雾化器探针内的位置的调整。在另一个示例中,发送电极调整信号包括发出视觉信号和听觉信号中的至少一个。在另一个示例中,当处于第一位置时,雾化器探针上的标定(indexing)特征处于第一定位配置,而当处于第二位置时,雾化器探针上的标定特征处于第二定位配置。
另一方面,该技术涉及一种质量分析仪器,包括:开放端口接口(OPI),被配置为接收样本;液体泵,被配置为将传输液体泵入OPI;电喷雾电离(ESI)源,与OPI液体连通,ESI源包括雾化器探针内的电极,其中该电极可移动地定位在探针内;检测器,被配置为检测从ESI源发射的离子;处理器;以及存储指令的存储器,指令在由处理器执行时使质量分析仪器执行操作的集合,包括:以第一流速将传输液体泵入OPI;在以第一流速泵送期间,将传输液体和样本中的至少一个喷射通过ESI源以供检测器分析,电极定位在第一位置;分析喷射出的传输液体和样本中的至少一个以获得离子强度信号;显示离子强度信号;接收来自用户的输入;以及至少部分地基于该输入,执行以下当中的至少一项:以第二流速将传输液体泵入OPI,同时通过ESI源喷射传输液体和样本中的至少一个,电极处于第一位置;以及以第一流速将传输液体泵入OPI,同时将传输液体和样本中的至少一个喷射通过ESI源,电极处于第二位置。在示例中,离子强度信号与样本相关联。在另一个示例中,离子强度信号与传输液体相关联。在又一个示例中,质量分析仪器还包括传输液体源和通信地耦合到传输液体源的测试液体接口。在又一个示例中,操作集合还包括将样本引入到传输液体中。
附图说明
图1是将声滴喷射(ADE)与开放端口接口(OPI)采样接口和电喷雾电离(ESI)源相结合的示例系统的示意图。
图2是ESI的局部透视图。
图3描绘了质谱设备中样本在不同流速下的离子强度信号的图。
图4A和图4B描绘了一种调整电极在ESI的雾化器探针内的位置的方法。
图5A和图5B描绘了如通过示例方法所实践的在质谱设备中从不同位置的电极喷射的样本的离子强度信号,并且传输液体以不同的流速引入。
图6描绘了在ESI的雾化器探针内调整电极的位置的另一种方法。
图7A至7C描绘了如通过另一个示例方法所实践的质谱设备中样本在各种流速下的离子强度信号。
图7D描绘了跨越整个OPI流量范围的测试化合物信号的示例。
图8描绘了控制质谱设备中液体的喷射的方法。
图8A描绘了控制质谱设备中液体的喷射的另一种方法。
图9描绘了合适的操作环境的示例,在该环境中可以实现本示例中的一个或多个。
具体实施方式
图1是将ADE 102与OPI采样接口104和ESI源114相结合的示例系统100的示意图。系统100可以是质量分析仪器,诸如用于电离和质量分析在采样OPI的开口端口内接收的分析物的质谱设备。这种系统100例如在美国专利No.10,770,277中进行了描述,其公开内容通过引用整体并入本文。ADE 102包括声学喷射器106,其被配置为将液滴108从贮存器112喷射到采样OPI 104的开口端中。如图1中所示,示例系统100一般包括与ESI源114液体连通的采样OPI 104,用于将含有一种或多种样本分析物的液体(例如,经由电喷雾电极116)排放到电离室118中,以及与电离室118通信的质量分析器检测器(总体以120描绘)用于下游处理和/或检测由ESI源114生成的离子。由于ESI源114的雾化器探针138和电喷雾电极116的配置,从中喷射的样本被转化为气相。液体处置系统122(例如,包括一个或多个泵124和一个或多个导管125)提供从溶剂贮存器126到采样OPI 104以及从采样OPI 104到ESI源114的液体流动。溶剂贮存器126(例如,包含液体、解吸溶剂)可以经由供应导管127液体耦合到采样OPI 104,液体可以通过泵124(例如,往复泵、容积泵(例如旋转泵、齿轮泵、柱塞泵、活塞泵、蠕动泵、隔膜泵),或其它泵(诸如重力泵、脉冲泵、气动泵、电动泵和离心泵))以选择的容积速率被输送,所有这些泵都是非限制性示例。与本文描述的某些方法相关的测试液体接口129也被描绘为耦合到供应导管127。如下文详细讨论的,液体流入和流出采样OPI104发生在开口端可接近的样本空间内,使得一个或多个液滴108可以被引入样本尖端处的液体边界128并随后被输送到ESI源114。
系统100包括ADE 102,该ADE 102被配置为生成声能,该声能被施加到包含在贮存器110内的液体,这使得一个或多个液滴108从贮存器110喷射到采样OPI 104的开口端。控制器130可以可操作地耦合到ADE 102并且可以被配置为操作ADE 102的任何方面(例如,聚焦结构、声学喷射器106、用于移动可移动台134以便将贮存器110定位成与声学喷射器106对准的自动化元件132,等等)。这使得ADE 106能够将液滴108注射到采样OPI 104中,如本文另外讨论的那样,基本上连续地或作为非限制性示例用于实验方案的选择的部分。控制器130可以是但不限于微控制器、计算机、微处理器或能够发送和接收控制信号和数据的任何设备。控制器130与系统100的其余元件之间的有线或无线连接未描绘,但对于本领域技术人员而言将是显而易见的。
如图1中所示,ESI源114可以包括加压气体(例如,氮气、空气或惰性气体)的源136,其将高速雾化气流供应到包围电喷雾电极116的出口端的雾化器探针138。如所描绘的,电喷雾电极116从雾化器探针138的远端突出。加压气体与从电喷雾电极116排出的液体相互作用,以增强样本羽流的形成和羽流内的离子释放,以供质量分析器检测器120采样,例如,经由高速雾化流和液体样本(例如,分析物溶剂稀释)的射流的相互作用。排出的液体可以包括从孔板112的每个贮存器110接收的离散容积的液体样本LS。液体样本LS的离散容积通常通过溶剂S的容积彼此分开(因此,当溶剂流将液体样本LS从OPI 104移动到ESI源114时,溶剂在本文中也可以被称为传输液体)。雾化器气体可以以各种流速供应,例如,在大约0.1L/min至大约20L/min的范围内,这也可以在控制器130的影响下被控制(例如,经由打开和/或关闭阀140)。
应该认识到的是,可以调整雾化器气体的流速(例如,在控制器130的影响下),使得可以调整采样OPI 104内的液体流速,例如基于当雾化器气体从电喷雾电极116排出时(例如,由于Venturi效应)由雾化器气体与分析物-溶剂稀释的相互作用产生的吸力/抽吸力。电离室118可以维持在大气压,但在一些示例中,电离室118可以被抽空至低于大气压的压力。
本领域技术人员根据本文的教导还将认识到的是,质量分析器检测器120可以具有多种配置。一般而言,质量分析器检测器120被配置为处理(例如,过滤、分类、离解、检测等)由ESI源114生成的样本离子。作为非限制性示例,质量分析器检测器120可以是三重四极质谱仪,或本领域已知的并根据本文的教导修改后的任何其它质量分析器。可以根据本文公开的系统、设备和方法的各个方面进行修改的其它非限制性示例性质谱仪系统可以在例如由James W.Hager和JC Yves Le Blanc撰写并发表于Rapid Communications in MassSpectrometry(2003;17:1056-1064)的标题为“Product ion scanning using a linearion trap(Q TRAP)mass spectrometer”;以及标题为“Collision Cell for MassSpectrometer”的美国专利No.7,923,681中找到,所述文献通过引用整体并入本文。
其它配置(包括但不限于本文描述的那些和本领域技术人员已知的其它配置)也可以与本文公开的系统、设备和方法结合使用。例如,其它合适的质谱仪包括单四极杆、三重四极杆、ToF、阱和混合分析仪。还应该认识到的是,系统100中可以包括任何数量的附加元件,包括例如部署在电离室118和质量分析器检测器120之间的离子迁移率谱仪(例如,微分迁移率谱仪)并被配置为基于离子在高场与低场中的迁移率差异来分离离子。此外,应该认识到的是,质量分析器检测器120可以包括检测器,该检测器可以检测通过分析器检测器120的离子并且可以例如供应指示每秒检测到的离子的数量的信号。
图2是ESI源200即雾化器探针202和内部电喷雾电极204的局部透视图。雾化器探针202包括外导管206,外导管206包括远端208,液体可以从远端208排放到电离室中,如上所述。壳体210可以被用于将雾化器探针202固定在质谱设备内。壳体210限定中央通道212,电喷雾电极204穿过该中央通道212。电喷雾电极204可以连接到螺纹基座214,该螺纹基座214可以被接纳在中心通道212的配合螺纹部分中。在螺纹基座214内,电喷雾电极204可以流体耦合到质谱设备的液体处置系统的导管216。套圈218可以包围螺纹基座214的一部分并可以旋转,以便将雾化器探针202的外导管206内的电喷雾电极204的尖端(未示出)朝着远端或尖端208推进。可压缩的O形环或垫圈215可以部署在套圈218和壳体210之间,以便无论中央通道212内的螺纹基座214的深度如何都保持气体密封。在相反方向上旋转套圈218可以使电喷雾电极204的尖端远离远端208缩回。
套圈218的旋转可以是或者机械化的或手动的。在前一种实施方式中,电机220可以被用于推进或缩回电喷雾电极204。在后者中,在套圈218和/或壳体210上或之中包括某种类型的标定特征可以是有利的。在图2中,可见指示器222部署在壳体210上。多个参考标记224部署在套圈218上。参考标记224可以是滚花的有色部分、凸起特征、有色或无色的线,或可以选择性地与指示器222对准的其它标记。因此,套圈218从一个参考标记224旋转到另一个可以改变电喷雾电极204相对于雾化器探针202的位置。在示例中,ESI源200可以与参考标记224a一起运送,参考标记224a与指示器222对准,从而将电喷雾电极204定位在初始位置。然后用户可以根据需要或期望旋转套圈218以设置优化生成的信号的电喷雾电极204的位置,如下文更详细描述的。由各种参考标记224与指示器222的对准指示的各种位置中的每个位置可以被认为是标定特征的不同定位配置。
除了(或代替)可见指示器222,标定特征还可以向用户提供触觉反馈(以止动器的形式可以与多个配合特征配合),或者当套圈在多个位置之间旋转时可以生成“咔哒”声的听觉反馈。与图2中描绘的示例一样,由止动器与选择性配合特征的对准指示的各个位置中的每个位置可以被认为是标定特征的不同定位配置。在其它示例中,套圈218的旋转可以通过机动和手动调整来进行。另外,每个参考标记224可以包括可见的识别特征,诸如数字或字母。在图2中,识别特征“0”和“4”被示为分别与第一参考标记224a和最后一个参考标记224e相关联。特征“1”、“2”和“3”也可以包括在其它参考标记224附近,但为了清楚没有描绘。
电喷雾电极204相对于喷嘴探针202的位置(例如,部署在其中或从其突出的位置)与确定分析灵敏度和再现性、吞吐量和基质容限的Venturi抽吸力的强度直接相关。此外,位置直接影响数据的可重现性。当突出偏差近似40微米时,数据变化系数显著增加,尤其是在同时监视多个组件时。通常,在制造过程期间正确设置电喷雾电极204相对于喷嘴探针202的位置具有挑战性,这导致性能下降。在示例中,可能在不同客户地点变化的雾化器气体的流速可以决定电喷雾电极204的正确位置。另外,无法用存在的非常小的容限来控制探针到探针的差异。因此,针对用户地点处存在的条件来定位电喷雾电极204是有利的。在已知示例中,这个定位过程是通过监视OPI处的流速并记录液体边界(图1中的128)何时从涡流条件(通常在图1中向上)或平坦条件(通常平坦)过渡到溢出条件(通常向下)来执行的。另外,在一些AEMS设备中,OPI在固定位置面朝下并且在液体边界128从OPI 104向下突出的溢出情况下滴落传感器自动结束整个系统的操作。因此,可能不期望使用溢出条件作为过渡点以更快地将电喷雾电极204定位在用户的地点。
图3描绘了质谱设备中样本在各种流速下的离子强度信号的图(例如,以计数/秒测量);为了比较的目的,这些图被描绘成彼此相邻。描绘了离子强度信号峰形与流速之间的关系,其中电喷雾电极相对于雾化器探针的位置是固定的。在470微升/分钟的操作传输液体流速下,离子强度信号(由信号峰、峰宽和信号基线中的一个或多个表征)相当一致。当流速增加到超出操作流速范围(例如,增加到500微升/分钟)时,峰开始变得不稳定并变宽。另一个示例以530微升/分钟的流速描绘,其中OPI处的表面半月板在涡流与平面之间摇晃,导致信号不一致(或未解析)。在更高的流速(例如,描绘的560微升/分钟)下,OPI处的表面弯月面开始圆顶并可能滴落。OPI的这种圆顶形状可以触发滴落传感器,这会关闭现有设备中的质谱设备。鉴于图3中呈现的条件,发明人已经确定良好解析的峰(例如,以470微升/分钟流速描绘的)与起伏/较宽的峰形(例如,在图3中的/500-530微升/分钟之间)之间的过渡状态会受到雾化器探针中电喷雾电极位置的影响。通过改变电喷雾电极的位置,可以在OPI处实现更高的流速,同时仍维持解析的信号。
因此,本文所述的技术利用新方法进行快速电喷雾电极定位(以获得最强的抽吸力),同时维持流向OPI。这些方法允许在雾化器喷嘴(位于雾化器探针202的远端208处)处实现压降,这对于以一致的方式通过液体处理系统的导管216输送液体样本是最佳的。电喷射电极204相对于雾化器探针202的远端208的位置决定了它处于气体膨胀的哪一部分以及因此它经历了什么减压。雾化器气体用于分散液体样本并从图1中描绘的OPI中吸出液体。更具体而言,电喷雾电极204的尖端突出超过远端208的距离决定了管道内与OPI的负压力差,从而从中抽取传输液体和液体样本。在特定流速下电喷雾电极的理期望位置维持OPI处液体边界的涡流或平坦状态,从而防止触发可能存在的任何溢流传感器。
图4A和图4B描绘了调整电极在ESI的雾化器探针内的位置的方法400,例如,如在质谱设备中。在开始方法400之前,雾化器探针内的电喷雾电极的位置(例如,如图2中所描绘的)被设置为初始位置。这可以在制造地点或在用户地点执行(例如,在维修质谱设备时由技术人员执行)。初始位置可以通过电喷雾电极204的尖端的突出长度来测量并且可以长于典型的操作范围。作为示例,在操作期间使用的典型突出可以是大约300微米,而初始突出位置可以设置在大约400-450微米。这允许在执行图4中描绘的方法400期间减少突出。如上文关于图2所述,可以通过旋转套圈218处的螺纹基座214(或操作电机220)来减少突出的长度(以及因此为特定用户设置的位置)。
一旦电极设置在初始位置,传输流体流就被输送到OPI,并且传输流体和样本的混合物(例如,从孔板喷射到OPI中)从雾化器探针喷射。这种混合物是样本在传输流体中的稀释液。传输流体的流速可以增加或减小(例如,基于OPI的溢流流速,如对本领域技术人员来说显而易见的),直到所得的离子强度信号被解析,例如,如由技术人员在查看信号时确定的。离子强度信号为技术人员或操作者提供足够的信息来评估所显示的信号。如果技术人员或操作者确定信号在初始电极位置和特定流速下被充分定义(例如,解析),那么第一分析条件是已知的。一旦第一分析条件已知,就可以进一步调整电极的位置,例如与下面的方法400一致。
方法400开始于在第一分析条件下对混合物执行第一分析,如图4A中的虚线方框401所描绘的。如上所述,第一分析条件的特征在于电极在雾化器探针中的初始位置和进入OPI的传输液体的第一流速。第一分析包括操作402,以第一流速将传输液体输送到OPI。此后,执行在探针的初始或第一位置从ESI的电极喷射混合物,操作404。然后可以用质谱设备分析在第一分析条件期间从ESI喷射的混合物,操作406。这个分析生成第一分析条件离子强度信号,例如,如下面图5A的左侧所描绘的。所执行的分析在质谱设备的领域中是众所周知的。在可选操作408中,显示这个第一分析条件离子强度信号。其显示可能足以由设备的熟练技术人员或操作者对信号进行视觉评估,他们可以正在执行设备的初始设置、维护设备等。第一分析条件离子强度信号的特征在于峰高、峰宽、至少两个相邻峰之间的基线、峰间变化和峰形中的至少一项。实际上,操作402至408在第一分析条件(由电极的初始位置和传输流体流速定义以实现解析的信号)变得已知时执行。在全自动或部分自动化系统中,第一分析条件离子强度信号的显示是可选的,在图4B的上下文中有更详细的描述。
在执行第一分析之后,方法400继续在第二分析条件下执行第二分析,如图4A中的虚线方框411所示。第二分析条件可以特征在于电极在雾化器探针中的第一位置和传输液体的第二流速。第二分析包括以第二个更高的流速将传输液体输送到OPI,操作412。样本从探针中处于初始或第一位置的ESI的电极喷射,操作414。可以迭代地确定第二流速。即,电极可以保持在第一位置,同时传输液体以相继更高的流速被输送到OPI。在第二分析条件期间从ESI喷射的混合物可以在这些迭代更高喷射期间用质谱设备分析,操作416。这种分析生成第二分析条件离子强度信号。在全自动或部分自动化系统中,可以将这个第二分析条件离子强度信号与第一分析条件离子强度信号进行比较,从而将方法400的流程转移到图4B中描绘的调整循环400a。但是,在非自动化方法中,执行可选操作418,显示第二分析条件离子强度信号。与第一分析条件一样,技术人员或操作者可以再次视觉评估离子强度信号。从第二分析的执行中生成的离子强度信号与第一分析的信号有足够的偏差(例如,关于降级或未解析的信号,如上文识别出的(一个或多个)信号特征定义的)将指示在OPI处这个升高的第二流速下ESI的电喷雾电极的不期望的位置。例如,这被描绘为图5A右侧和图5B左侧的信号。此后,必须通过改变电极的位置来解析这个第二流速下的离子强度信号。
为了解析第二分析的离子强度信号,在第三分析条件下执行第三分析,如图4A中的虚线方框421所描绘的。第三分析条件可以特征在于电极在雾化器探针中的第二位置和传输液体的第二流速。第三分析包括以第二流速将传输液体输送到OPI,操作422。混合物从探针中处于第二位置的ESI的电极喷射,操作424。第二位置可以迭代地确定。即,电极可以放置在第二位置,同时以第二流速的传输液体被输送到OPI。此后,可以喷射样本,并且可以分析第三分析条件,操作426,如本文所述。如果期望,可以显示第三分析条件离子强度信号,操作428,因此技术人员或操作者可以视觉评估该信号以确定离子强度信号是否已经被解析。如果是这样,那么可以将这个第二位置存储为用于那个特定流速的适当位置。如果不是,那么可以调整第二位置并且将样本从ESI中排出,同时将传输液体以第二流速输送到OPI。可以再次视觉评估信号。随着电极位置的增量改变,这可以迭代地执行,直到离子强度信号被解析。
在示例中,可以在电极的进一步定位不能解析离子强度信号的情况下实现最大流速。因此,技术人员或操作者然后可以将电极返回到最后保存的位置和相关联的流速以供质谱设备的后续使用。在另一个示例中,由于结构限制,电极相对于探针的进一步定位可能是不可能的。在那种情况下,技术人员或操作者然后可以将电极返回到最后保存的位置和相关联的流速。
上述方法400预期质谱设备执行某些操作并且技术人员或操作者目视评估离子强度信号并对电极的位置进行调整的配置。但是,方法400还考预期完全或部分自动化的方面,其可以去除包括一些人机交互的方法中固有的主观性。这种替代方法在图4B中被描绘为调整循环400a。这个完全或部分自动化的方面预期设备或技术人员分别设置传输液体的第二流速配置,操作414。从图4A中的操作416开始,流程开始于通过第一预定阈值检测到第一分析条件离子强度信号与第二分析条件离子强度信号之间的偏差,操作450。第一阈值可以由制造商、最终用户或技术人员或操作者设置。可以比较第一分析条件与第二分析条件下的离子强度信号的一个或多个特点,诸如信号峰、峰宽和信号基线。这些中的一个或多个与第一阈值的偏差(例如,大约1%、大约5%、大约10%等)可以足以使方法400a自动确定信号在这个较高流速下未解析。因此,方法400a包括至少部分地基于偏差发送电极调整信号,操作452。在方法400a的部分自动化版本中,操作452包括发出视觉信号和听觉信号中的至少一个,操作454,从而向技术人员或操作者发信号通知以调整电极相对于探针的位置。这与在第三分析条件下执行样本的第三分析对应,操作421。电极调整可以由技术人员或操作者迭代地执行,如上所述在每个后续电极位置处以第二流速喷射传输液体(例如,关于操作422和424),直到第一分析条件离子强度信号与第二分析条件离子强度信号之间的偏差减小到小于第一预定阈值,操作456,这可以由系统确定为与解析的信号对应。一旦低于第一阈值,就可以发出结束调整信号,操作458,因为电极已经到达适当的第二位置。分析这个第三分析条件的样本(例如,如在操作426中)。例如,这被描绘为图5B右侧的信号。
在全自动系统中,操作452包括发起调整电极在探针内的位置,操作460。此后,执行操作421。可以迭代地执行电极调整,在每个后续电极位置以第二流速喷射传输液体,直到第一分析条件离子强度信号与第二分析条件离子强度信号之间的偏差减小到小于第一预定阈值偏差,操作462。一旦低于第一阈值,随着电极到达第二位置,就可以终止进一步调整,操作464。
图5A和图5B描绘了在质谱设备中从不同位置的电极喷射出的样本的离子强度信号,传输液体以不同流速引入,如通过示例方法(诸如图4A和图4B的方法)所实践的。在各种流速和电极位置,离子强度信号可以类似于作为上述方法的一部分显示的那些。注意的是,在图5A和图5B中,未测量电喷雾电极从雾化器探针突出的具体距离;而是为了说明目的,这些图描绘了第一和第二突出(分别是位置1和位置2)。在图5A的左侧,描绘了与450微升/分钟的传输液体流速和电极位置1对应的离子强度信号。以信号峰、峰宽和/或信号基线为特征的离子强度信号指示初始电极位置,该初始电极位置结合第一流速产生解析的信号。在将流速增加到480微升/分钟的更高速率,同时将电极保持在位置1后,技术人员或操作者容易看出离子强度信号不再被解析,这将需要调整电喷雾电极在雾化器探针内的位置。信号峰的偏差例如也可以在全自动或部分自动化方法中检测为与450微升/分钟的第一流速下的离子强度信号偏差特定阈值。在示例中,该阈值可以是大约5%、大约10%、大约20%或大约25%,但是其它偏差也是预期的。图5B描绘了在480微升/分钟的相同较高流速下离子强度信号的变化,而电极位于第一位置。当位置改变为位置2(在图5B的右侧)时,离子强度信号解析。这个解析的信号指示电喷雾电极在雾化器探针内的位置2,该位置在特定流速下可获得期望结果。虽然经过训练的技术人员或操作者可以容易地看到解析的信号,但图5B中左侧与右侧信号之间的差异也可用全自动或部分自动化方法检测到。
图6描绘了调整电极在OPI的雾化器探针内的位置的另一种方法600。这种方法600基于监视从传输液体流中生成的信号,该信号以稳定的速率被引入OPI,给出以其强度和噪声为特征的稳定信号。取决于通过OPI的流速,由于存在给定周期性的噪声事件以及给定频率和占空比的信号脉冲,信号会偏差稳定状态。信号可以是仅由传输流体中存在的(一种或多种)化合物引起的,或来自添加到传输流体中的测试化合物。由离子生成的信号的稳定性指示通过OPI的流模式。通过OPI的不同流模式包括:平衡的流动,其中传输液体完全充满导管,没有任何气泡,并且信号噪声是雾化器ESI过程固有的;以及过度泵送状态,其中ESI的抽吸力超过提供给OPI的传输流体流量。流量波动会导致并在结果信号中显现为特定类型的噪声。
在可选的第一操作601中,当喷射到质谱设备中时生成可检测离子的测试流体可以被引入到传输液体中,例如在图1中描绘的贮存器处,或沿着流动路径从那里(例如,在港口)。这种会产生易于检测的离子的流体的示例可以包括传输流体本身,或包含可检测污染物或其它化合物的另一种流体。
在开始方法600之前,将电喷雾电极在雾化器探针内的位置(例如,如图2中所示)设置为初始位置,例如上文关于图4的方法400所描述的。一旦电极被设置在初始位置,传输流体流就被输送到OPI,并且传输流体从雾化器探针中喷射出来。可以增加或减少输送流体的流速(例如,基于OPI的溢流流速,这对本领域技术人员来说是显而易见的),直到解析出所得的分析信号,例如,如由技术人员在查看信号时确定的那样。图7A的左侧描绘了这种解析的信号,其中描绘了指示测试信号强度的信号尖峰(信号减少),并且可与信号中存在的一般噪声区分开来。该过程从高噪声电极位置开始,如图7A左侧、图7B右侧和图7C中所示,以及图7D的0.7分钟和1.6分钟之间。最初,这种电极位置由技术人员设置。
方法600开始于操作602,以第一流速将传输液体输送到OPI。此后,在探针的初始或第一位置从ESI的电极喷射传输液体,操作604。鉴于OPI与ESI之间的流体连接,操作602和604可以有效地同时执行,如图6中的虚线所指示的。然后可以用质谱设备分析从ESI喷射的传输液体,操作606,并且可以生成指示测试化合物信号强度和稳定性(噪声)的分析信号。
在生成分析信号之后,流程继续到操作608和610,如图6中的虚线所指示的基本上同时执行。操作608包括以第一流速将传输液体输送到开放端口接口。操作610包括从相对于雾化器探针处于第二位置的电极喷射传输液体。部分地由于这些同时和连续操作,从相对于雾化器探针处于第二位置的电极喷射传输液体,操作608,消除了由周期性漏失(降低尖峰,可以是或可以不是周期性的)造成的噪声测试化合物信号噪声降低是ESI尖端处较高压降的结果,消除了OPI内造成漏失的液体表面振荡。在图7A的右侧和图7B的左侧描绘了以不存在测试信号强度丢失为特征的所得分析信号。
图7A至7C描绘了以各种流速引入质谱仪的测试化合物的分析信号,如示例方法600中所实践的。图7A-7B描绘了两种流模式之间的过渡。从物理上讲,这种过渡的特征在于OPI端口内液体表面振荡的开始或消除。随着流量从端口内振荡模式减少,达到最优样本传送流动状态,漏失变得不存在,因为OPI内部液体表面的永久变形取代了液体表面振荡。图7D示出了整个OPI流量范围内的测试化合物信号的示例。在图7D中,流速随着时间的增加而逐步降低,不同的时间片段表示在操作OPI时遇到的不同流模式,其中电极位于雾化器探针的固定突出部分,同时雾化器气流保持恒定。第一时间片段(0.0到0.6分钟)示出“溢出”模式下的测试信号。在这种模式下,更多的传输液体被输送到OPI端口,而不是压力差可以撤回到ESI尖端。因此,进一步增加流速不会改变测试信号的强度或噪声,因为传输流正在以闭合流模式移动,这表示那个电极突出处的最大可输送流速。流速增加超过最大值导致过量液体溢出OPI边缘。由于测试信号与输送到ESI尖端的流速成正比,因此信号不会随着流速超过最大值而改变。将流速降低到刚好低于最大值,在端口内引入液体表面振荡,如时间片段0.7至1.6分钟内的测试信号噪声所示。图7A的左侧、图7B的右侧和图7C也示出了相同的状态。噪声的具体性质,诸如漏失的频率和“深度”,指示实际流量低于最大(关闭)流量的程度。虽然图7D中所示的任何信号质量过渡都可以被用于电极突出优化,但最容易用于该目的的是高信号噪声状态的开始。降低流速进一步消除了OPI端口内的液体表面振荡,因为端口内的液体表面会发生永久变形,并且由于消除了与端口内振荡相关的噪声分量(例如,消除了图7A、图7B和图7C中看到的测试信号中的向下尖峰)。随着流速在这个流模式下降低,如时间片段1.8至3.9分钟所示,测试化合物强度下降,因为随着每次流速降低,较少的测试化合物被输送到ESI。
图7D的最后一段(4至4.9分钟)表示一种流模式,其中液体以远低于最大(关闭)流速的速率输送到OPI并导致分段的流,其中传输液体离开ESI仅检测时间的一部分。脉动信号的占空比指示在这种极端流模式下的过度泵送程度。
图7D中所示的信号模式将根据OPI与ESI尖端之间的压力差移至更高或更低的流速。压力差设置了将液体输送到ESI尖端的动力。调整雾化器喷嘴的电极突出部分,将ESI尖端置于不断膨胀的雾化器气体的不同压力范围内,从而在OPI与ESI尖端之间设置不同的压力差。然后使用图7D曲线图的移位以及电极突出部分的改变来优化其相对于雾化器喷嘴的位置。目标是实现最高的理想OPI传输流速。改变雾化器气流也会使曲线图移位,并且可以使用类似的过程来优化气流膨胀。更具体而言,两种不同流模式之间的每次过渡发生的流量取决于雾化器在ESI尖端处生成的压降。压降还决定了可输送到ESI尖端的平衡的最大流量。对于给定的压降,将存在单个平衡的流量,并且压降的改变将改变平衡的流速,从而将信号中的过渡移位到不同的流速。由于ESI尖端与OPI之间的压力差随着电极从雾化器喷嘴的伸出而改变,因此平衡的流量将随之改变,不同流模式(状态)之间的过渡也会随之变化。每个过渡都可以用在类似于方法600的过程中,以通过检测测试化合物信号的适当属性来实现最优电极突出。可以调谐检测以减少或增加信号标准偏差,或者可替代地检测特定频率下的特定量值漏失。
返回到图6,可以显示分析信号,例如,如上文关于图4A和图4B的方法400所描述的。手动或自动调整电极,使得两种模式(流模式和信号模式)之间的过渡发生在最高传输液体流量设置下。因此,操作612包括以第二流速将传输流体输送到OPI。基本上同时(如虚线所描绘的),可以执行操作614,从处于第二位置的ESI的电极喷射传输液体。这可以要求技术人员或操作者迭代地调整流量,同时观察显示器以识别信号改变。取决于系统开始时距离最优值的距离,最大平衡流的搜索可以采用统一步或二分算法的形式,以更快地定位最大流量。
虽然图6的方法600在上文被描述为要求某种类型的技术人员交互,但是循环615描述了可以检测测试化合物信号、其漏失和/或与其相关联的噪声的全自动或部分自动化的方法。方法600的这一部分开始于操作616,其中执行通过第一预定阈值检测测试化合物信号强度和相关噪声之间的偏差。阈值可以基于分析信号的特点、信号强度、其最小值、其周期性(频率)、持续时间(占空比)和关联噪声(%CV)或其它特点中的任何一个或多个的比较来确定如本文别处所述的特性。这些中的一个或多个与第一阈值的偏差(例如,大约1%、大约5%、大约10%等)可以是足够的。方法600包括至少部分地基于偏差发送电极调整信号,操作618。在方法600的部分自动化版本中,操作618包括发出视觉信号和听觉信号中的至少一个,操作620,从而向技术人员或操作者发信号通知以调整流速。这种调整可以由技术人员或操作者迭代地执行,如操作614(电极位置已经设置,作为操作612),直到识别出期望的流速。在全自动系统中,操作618包括发起调整电极在探针内的位置,操作622。如操作612和614中所描绘的,这个调整可以由系统本身迭代地执行,直到识别出以最大流速消除噪声的电极位置。
无论初始电极位置如何,都可以利用在图6的上下文中描述的技术。例如,操作者可以从流量/电极突出组合开始,这会使得测试信号以低占空比脉动,如图7D中所示,从4.0至4.9分钟。如果操作者在不改变电极突出量的情况下增加流速,那么新信号的噪声将更小并且没有周期性脉动(例如,可以与信号强度、信号噪声(%CV)、噪声的周期性(信号漏失的频率和深度)和/或信号脉冲的频率进行比较)。如果操作者不断增加流速,那么操作者将看到稳态强度增加,而噪声不会显著增加。操作者可以最终增加流速,直到观察到信号噪声显著增加。此后,然后调整电极,直到信号噪声降低到低信号噪声状态,诸如图7D中所示,在1.8至2.4分钟。然后重复该过程,从增加流速开始。
在另一个示例中,操作者可以从低噪声状态开始,诸如图7D中所示,从2.6至3.9分钟。增加流量直到噪声增加,然后调整电极位置以将信号噪声降低到低状态。在新突出处的电极再次增加流速。可以重复该过程,直到识别出用于低噪声状态与高噪声状态之间的过渡的最大流速,从而标记最终电极突出。
如果操作者在高噪声状态下开始,诸如图7D中所示,从0.7至1.6分钟。根据前面段落中概述的操作,调整电极突出以降低信号噪声,从而还可以增加流速。高噪声状态可以通过参考历史水平或相邻流模式来识别,作为绝对水平、差异和/或设定的阈值。
如果操作者以溢出模式开始,诸如图7D中所示,从0.0至0.6分钟,那么信号不会随着流速增加而改变,因此流速降低以引入高信号噪声状态。如前所述,执行(一个或多个)后续电极调整以实现期望的电极突出。
当标志着高噪声状态开始的流速不能通过电极突出调整进一步增加时,电极突出调整方法完成。换句话说,如果电极突出调整仅降低信号噪声使得随后的流速增加不增加信号和/或噪声状态,那么先前的电极突出标记最优位置。
图8描绘了控制质谱设备中液体喷射的另一种方法800。在开始方法800之前,将雾化器探针内的电喷雾电极的位置(例如,如图2中所描绘的)设置为初始位置,例如如本文别处所述。在可选的开始操作801中,可以将测试液体引入到传输液体中,例如在图1中描绘的贮存器处,或沿着从其流出的流动路径。方法800开始于以第一流速将传输流体泵送到OPI,操作802。基本上同时(由图8中的虚线指示),还执行操作804,从处于探针的初始或第一位置的ESI的电极喷射流体。从ESI喷出的液体,可以仅仅是传输流体,或者是与另一种流体(诸如液体样本)混合的传输流体,然后可以用质谱设备进行分析,操作806,以获得离子强度信号,该信号为技术人员或操作者提供视觉信息,以便对质谱仪进行调整,以调整OPI和ESI之间的流量。分析的结果,例如,以离子强度信号的形式,可以由技术人员或操作者显示和评估。此后,该方法接收来自技术人员或操作者(用户)的输入,操作808。输入可以是物理输入,诸如电极位置的改变(例如,通过旋转外壳的套圈),或可以改变位置的键控输入。在其它示例中,可以通过物理或键控输入来改变流速。
取决于输入,方法800继续以第二流速将传输液体泵送到OPI,操作810,同时,从探针中处于第一位置的ESI的电极喷射传输液体,操作812。在替代方案中,方法800继续以第一流速将传输液体泵送到OPI,操作814,同时,从探针中处于第二位置的ESI的电极喷射传输液体,操作816。可以如上所述进一步评估通过评估喷射液体生成的信号,可以对OPI处的流量或ESI处的电极位置进行进一步调整,等等,直到存在最大流量或达到最佳流量的条件。
图8A描绘了在质谱设备中控制液体的喷射的另一种方法850,该方法考虑了处理的不同起点。方法850中讨论的不同信号状态是基于图7D的(或由图7D示出)。在可选的开始操作851中,可以将测试液体引入到传输液体中,例如在图1中描绘的贮存器处,或沿着从其流出的流路径。方法850开始于将雾化器探针内的电喷雾电极的位置(例如,如图2中所描绘)设置到位置1并且以第一流速将传输流体泵送到OPI,这表示操作852的上半部分。基本上同时,还执行在探针的初始或第一位置从ESI的电极喷射流体。从ESI喷出的液体,可以仅仅是传输流体,或者是与另一种流体(诸如液体样本)混合的传输流体,然后可以用质谱设备进行分析以获得离子信号#l,操作852的第二部分。分析的结果,例如,以离子强度信号及其噪声的形式,可以由技术人员或操作者显示和评估。然后以增加的流速重复该过程,操作854,生成离子信号#2。此后,评估离子信号#2与离子信号#1在强度和噪声水平方面的差异是否满足给定阈值,操作856。
操作856有四种可能的结果。如果噪声差高于给定阈值,那么将电极移动到新位置,突出设置#3,其中噪声差再次低于阈值,如操作858中所示。由于这是迭代方法,因此方法850经由操作860返回到操作852,其中突出设置#3和流量设置#2现在分别称为突出设置#1和流量设置#1。返回到操作856,现在考虑它的其它可能结果。如果噪声差低于阈值而强度差高于其阈值,那么在操作862中将流量增加到流量设置#3,其中噪声差已增加到其阈值以上。在噪声差高于阈值的情况下,方法850进行到操作858及其后续迭代步骤。再次返回到操作856,考虑第三种可能的结果,当强度和噪声差阈值均未达到时,OPI系统已达到溢出状态,并且在操作864中,流速降低到噪声差已增加到超过其阈值的流速设置#3。在噪声差高于阈值的情况下,方法850进行到操作858及其后续迭代操作。操作856的第四种可能结果是在增加的流速设置#2下的噪声降低,如图8A中操作866所示。这与流量设置#2处于平衡/溢出状态对应。不满足阈值标准,因为差异现在为负并且触发返回到流量设置#1并且方法850移动到操作858。然后将电极突出调整到设置#2,其中噪声差的绝对值低于阈值。当进一步重复不产生流速增加时,方法850完成,操作868。这指示电极突出与雾化器喷嘴的距离最优。
来自操作856的四种不同结果与方法850的以下起点对应,如图7D中所示。操作858与初始电极突出输送信号对应,如图7D中所示,1.8至2.4分钟。操作862与初始电极突出输送信号对应,如图7D中所示,2.6至3.9分钟。操作864与初始电极突出输送信号对应,如图7D中所示,0.0至0.6分钟,平衡/溢出模式。操作866与初始电极突出输送信号对应,如图7D中所示,0.7至1.6分钟,端口内振荡液体表面。方法850也可以开始于初始电极突出输送信号,如图7D中所示,4.0至4.9分钟。在这种情况下,流速将增加,直到达到稳态信号强度。
方法850可以通过为信号强度差和相关联的噪声差设置阈值来发起。也可以使用其它信号属性,诸如信号下降的周期性或信号脉冲持续时间。另外,方法850也可以使用绝对信号强度或噪声来执行,可替代地或结合监视信号的一般变化及其相关噪声(与设定的阈值相反)。图9描绘了其中可以实现本示例中的一个或多个的合适操作环境900的一个示例。这个操作环境可以直接结合到质谱系统的控制器中,例如诸如图1中描绘的控制器。这仅是合适的操作环境的一个示例,并且不旨在对使用或功能的范围暗示任何限制。其它众所周知的可以适合使用的计算系统、环境和/或配置包括但不限于个人计算机、服务器计算机、手持式或膝上型设备、多处理器系统、基于微处理器的系统、可编程消费电子产品,诸如智能电话、网络PC、小型计算机、大型计算机、平板电脑、包括上述任何系统或设备的分布式计算环境等。鉴于本文描述的处理系统的便携性,膝上型或平板电脑可以理想地经由有线或无线连接被连接到诸如图1中描绘的控制器,并且可以在电极位置设置事件之前、期间和之后发送适当的控制信号,以便控制电极的各个组件的操作系统。
在最基本的配置中,操作环境900通常包括至少一个处理单元902和存储器904。取决于计算设备的确切配置和类型,存储器904(除其它外,还存储控制传输液体泵、传感器、阀、气体源等或执行本文公开的其它方法的指令)可以是易失性的(诸如RAM)、非易失性的(诸如ROM、闪存等)或两者的某种组合。在图9中用虚线906图示了这种最基本的配置。此外,环境900还可以包括存储设备(可移除设备908和/或不可移除设备910),该存储设备包括但不限于磁或光盘或带。类似地,环境700也可以具有(一个或多个)输入设备914,诸如触摸屏、键盘、鼠标、笔、语音输入等,和/或(一个或多个)输出设备716,诸如显示器、扬声器、打印机等。环境中还可以包括一个或多个通信连接912,诸如LAN、WAN、点对点、蓝牙、RF等。
操作环境900通常包括至少某种形式的计算机可读介质。计算机可读介质可以是可由处理单元902或具有操作环境的其它设备访问的任何可用介质。作为示例而非限制,计算机可读介质可以包括计算机存储介质和通信介质。计算机存储介质包括以用于存储诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其它数据之类的信息的任何方法或技术实现的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括RAM、ROM、EEPROM、闪存或其它存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其它光学存储装置、磁盒、磁带、磁盘存储装置或其它磁性存储设备、固态存储装置或任何其它可以用于存储期望信息的有形介质。通信介质在诸如载波或其它传输机制的调制数据信号中实施计算机可读指令、数据结构、程序模块或其它数据,并且包括任何信息传递介质。术语“调制数据信号”是指具有以将信息编码在信号中的方式来设置或改变其一个或多个特性的信号。作为示例而非限制,通信介质包括诸如有线网络或直接有线连接之类的有线介质,以及诸如声学、RF、红外和其它无线介质之类的无线介质。以上任何的组合也应包括在计算机可读介质的范围内。计算机可读设备是结合计算机存储介质的硬件设备。
操作环境900可以是使用到一台或多台远程计算机的逻辑连接在联网环境中操作的单个计算机。远程计算机可以是个人计算机、服务器、路由器、网络PC、对等设备或其它公共网络节点,并且通常包括上述许多或所有元件以及未提及的其它元件。逻辑连接可以包括可由通信介质支持的任何方法。这样的联网环境在办公室、企业范围的计算机网络、内联网和互联网中是常见的。
在一些示例中,本文描述的部件包括可由计算机系统900执行的此类模块或指令,其可以被存储在计算机存储介质和其它有形介质上并在通信介质中传输。计算机存储介质包括以用于存储诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其它数据之类的信息的任何方法或技术实现的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。以上任何的组合也应包括在可读介质的范围内。在一些示例中,计算机系统900是将数据存储在远程存储介质中以供计算机系统900使用的网络的一部分。
本公开参考附图描述了本技术的一些示例,其中仅示出了一些可能的示例。但是,其它方面可以以许多不同的形式实施,并且不应被解释为限于本文阐述的示例。相反,提供这些示例是为了使本公开透彻和完整,并将可能示例的范围充分传达给本领域技术人员。
虽然本文描述了具体示例,但是本技术的范围不限于那些具体示例。本领域技术人员将认识到在本技术范围内的其它示例或改进。因此,仅作为说明性示例公开了具体的结构、动作或介质。除非本文另有说明,否则根据本技术的示例还可以组合一般公开但没有明确组合例示的元件或部件。本技术的范围由所附权利要求及其中的任何等同形式限定。

Claims (21)

1.一种调整电极在具有用于接收样本的开放端口接口的质谱设备的雾化器探针内的位置的方法,所述方法包括:
在包括电极在雾化器探针中的第一位置和第一流速的第一分析条件下执行第一分析,其中执行第一分析包括:
以第一流速将传输液体输送到开放端口接口,同时从处于第一位置的电极喷射包括样本和传输流体的混合物;以及
用质谱设备在第一分析条件下对所述混合物进行分析,以获得第一分析条件离子强度信号;
在执行第一分析之后,在包括电极在雾化器探针中的第一位置和高于第一流速的第二流速的第二分析条件下执行第二分析,其中执行第二分析包括:
以第二流速将传输液体输送到开放端口接口,同时从处于第一位置的电极喷射所述混合物;以及
用质谱设备在第二分析条件下对所述混合物进行分析,以获得第二分析条件离子强度信号;以及
在执行第二分析之后,在包括电极在雾化器探针中的第二位置和第二流速的第三分析条件下执行第三分析,其中执行第三分析包括:
以第二流速将传输液体输送到开口端口接口,同时从处于第二位置的电极喷射所述混合物。
2.如权利要求1所述的方法,其中执行第一分析还包括显示第一分析条件离子强度信号,并且其中执行第二分析还包括显示第二分析条件离子强度信号。
3.如权利要求1或2中的任一项所述的方法,其中执行第三分析还包括用质谱设备在第三分析条件下对所述混合物进行分析,以获得第三分析条件离子强度信号。
4.如权利要求3所述的方法,其中执行第三分析还包括显示第三分析条件离子强度信号。
5.如权利要求1至4中的任一项所述的方法,其中第一分析条件离子强度信号的特征在于峰高、峰宽、至少两个相邻峰之间的基线、峰间变化和峰形中的至少一个。
6.如权利要求1所述的方法,还包括:
通过第一预定阈值来检测第一分析条件离子强度信号与第二分析条件离子强度信号之间的偏差;以及
至少部分地基于所述偏差发送电极调整信号。
7.如权利要求6所述的方法,其中发送电极调整信号包括:
发起电极在雾化器探针内的位置的调整;
检测第一分析条件离子强度信号与第二分析条件离子强度信号之间小于第一预定阈值的减小的偏差;以及
至少部分地基于检测到减小的偏差的来终止电极在雾化器探针内的位置的调整,其中在电极的位置的调整终止时电极在雾化器探针内的位置是第二位置。
8.如权利要求6所述的方法,其中发送电极调整信号包括发出视觉信号和听觉信号中的至少一个。
9.一种调整电极在具有用于接收传输液体的开放端口接口的质谱设备的雾化器探针内的位置的方法,所述方法包括:
以第一流速将传输液体输送到开放端口接口,同时从相对于雾化器探针处于第一位置的电极喷射传输液体;
用质谱设备分析喷射的传输液体以生成包括测试化合物强度信号和关联噪声的分析信号;
在生成测试化合物强度信号之后,以第一流速将传输液体输送到开放端口接口,同时从相对于雾化器探针处于第二位置的电极喷射传输液体,其中以第一流速将传输液体输送到开放端口接口基本上消除了来自测试化合物强度信号的噪声。
10.如权利要求9所述的方法,还包括:
在从分析信号中基本消除噪声之后,以更高的第二流速将传输液体输送到开放端口接口,同时从相对于雾化器探针处于第二位置的电极喷射传输液体,其中以第二流速将传输液体输送到开放端口接口将噪声引入分析信号;以及
在生成测试化合物强度信号之后,以第二流速将传输液体输送到开放端口接口,同时从相对于雾化器探针处于第三位置的电极喷射传输液体,其中以第二流速将传输液体输送到开放端口接口基本上消除了来自测试化合物强度信号的噪声。
11.如权利要求9所述的方法,其中测试化合物强度信号的特征在于强度、噪声、信号事件周期性和信号事件持续时间中的至少一个。
12.如权利要求9至11中的任一项所述的方法,还包括通过第一预定阈值来检测测试化合物强度信号与噪声之间的偏差。
13.如权利要求12所述的方法,还包括至少部分地基于所述检测来发送电极调整信号。
14.如权利要求13所述的方法,其中发送电极调整信号发起电极在雾化器探针内的位置的调整。
15.如权利要求13所述的方法,其中发送电极调整信号包括发出视觉信号和听觉信号中的至少一个。
16.如权利要求9至15中的任一项所述的方法,其中当处于第一位置时,雾化器探针上的标定特征处于第一定位配置,以及其中当处于第二位置时,雾化器探针上的标定特征处于第二定位配置。
17.一种质量分析仪器,包括:
开放端口接口OPI,被配置为接收样本;
液体泵,被配置为将传输液体泵入OPI;
电喷雾电离ESI源,与OPI液体连通,ESI源包括雾化器探针内的电极,其中电极被可移动地定位在探针内;
检测器,被配置为检测从ESI源发射的离子;
处理器;以及
存储指令的存储器,指令在由处理器执行时使质量分析仪器执行操作的集合,所述操作的集合包括:
以第一流速将传输液体泵入OPI;
在以第一流速泵送期间,在电极定位在第一位置处的情况下,将传输液体和样本中的至少一个喷射通过ESI源以供检测器分析;
分析喷射出的传输液体和样本中的至少一个以获得离子强度信号;
显示离子强度信号;
接收来自用户的输入;以及
至少部分地基于所述输入来执行以下当中的至少一项:
以第二流速将传输液体泵入OPI,同时在电极处于第一位置的情况下将传输液体和样本中的至少一个喷射通过ESI源;以及
以第一流速将传输液体泵入OPI,同时在电极处于第二位置的情况下将传输液体和样本中的至少一个喷射通过ESI源。
18.如权利要求17所述的质量分析仪器,其中离子强度信号与样本相关联。
19.如权利要求17所述的质量分析仪器,其中离子强度信号与传输液体相关联。
20.如权利要求17至19中的任一项所述的质量分析仪器,还包括传输液体源和通信地耦合到传输液体源的测试液体接口。
21.如权利要求17至20中的任一项所述的质量分析仪器,其中所述操作的集合还包括将样本引入到传输液体中。
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