CN116670521A - 具有至远程服务器的光纤连接的自动测试设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种示例性测试系统，其包括测试头和装置接口板(DIB)，该装置接口板被配置以连接至该测试头。该DIB用于固持受测装置(DUT)。该DIB包括用于在该DUT与该测试头之间传输电信号的电导体。服务器经编程以作为测试仪器。该服务器是在该测试头外部且远离该测试头，并被配置以通过光纤缆线与该测试头传递信号。该信号包括串行信号。
Description
技术领域
本说明书描述具有至远程服务器的光纤连接的自动测试设备(automatic testequipment,ATE)的示例。
背景技术
自动测试设备(ATE)包括被配置以在装置(称为受测装置(device under test,DUT))上执行测试的系统。示例性ATE包括用于将测试信号路由至DUT的测试头和用于实施至DUT的电和机械连接的装置接口板(DIB)。
发明内容
一种示例性测试系统包括测试头和装置接口板(DIB)，该装置接口板被配置以连接至该测试头。该DIB用于固持受测装置(DUT)。该DIB包括用于在该DUT与该测试头之间传输电信号的电导体。服务器经编程以作为测试仪器。该服务器是在该测试头外部且远离该测试头，并被配置以通过光纤缆线与该测试头传递信号。该信号包括串行信号。该测试系统可单独或组合地包括下列特征中的一者或多者。
该测试头可包括信号接口板。该信号接口板可包括缆线接口以连接至该光纤缆线，并包括电接口以连接至该电导体。该光纤缆线可被配置以在光学信号与电信号之间进行转换。该信号接口板可被配置以调节用于输出至该DIB的电信号。在一些示例中，该信号接口板(而非该光纤缆线)可被配置以在光学信号与电信号之间进行转换。该信号接口板还可被配置以增加用于输出至该DIB的该电信号的信号功率。该串行信号可包括实时串行扫描测试向量。该实时串行扫描测试向量可被提供到连接至该DIB的DUT的引脚。
该测试系统可包括在该测试头外部的隔离电力供应器。该隔离电力供应器可被配置以将电力从该服务器的位置提供至该测试头，以用于在解码通过该光纤缆线发送至该测试头的光学信号时使用。该测试头中的电信号可以仪器接地为参考。该测试头的该仪器接地还可充当该隔离电力供应器的接地参考。
该光纤缆线可为两米(2m)长或更长。该串行信号可以每秒五千兆位(5Gbps)或更大的速率传输。该串行信号可为或可包括脉冲数字信号。该测试头可不含测试电子器件或包括测试电子器件。该服务器可包括经编程以作为测试仪器的通用计算装置。该串行信号可包括例如USB协议或PCIe协议数字信号。
一种示例性测试系统包括测试头，该测试头具有第一电路系统以调节是光学信号的表示的电信号。该光学信号来自光纤缆线，并且该电信号用于受测装置。服务器经编程以作为测试仪器。该服务器在该测试头外部且远离该测试头。该服务器被配置以通过该光纤缆线通信。该电信号和该光学信号包括串行信号。该测试系统可单独或组合地包括下列特征中的一者或多者。
该电信号可包括待传输至该DUT的测试向量。该服务器可被配置以接收响应于发送至该DUT的该测试向量而得自该DUT的测试结果。该光纤缆线可为两米(2m)长或更长。该串行信号可以每秒五千兆位(5Gbps)或更大的速率传输。该串行信号可为或可包括脉冲数字信号。该测试头可不含测试电子器件或包括测试电子器件。该服务器可包括经编程以作为一个或多个测试仪器的一个或多个通用计算装置。该串行信号可包括USB协议数字信号、PCIe协议数字信号、或遵循任何适当的产业标准信令协议的数字信号。
该测试系统可包括在该测试头外部的隔离电力供应器。该隔离电力供应器被配置以将电力从该服务器的位置提供至该测试头，以用于在解码光学信号时使用。该测试头中的电信号可以仪器接地为参考。该测试头的该仪器接地可充当该隔离电力供应器的接地参考。该测试头中的电信号可以第一接地为参考。该隔离电力供应器可包括隔离变压器，以将该第一接地与不同于该第一接地的第二接地隔离。
另一示例性测试系统包括用于电连接至和机械地连接至受测装置(DUT)的构件；用于调节通过从光学信号转换而获得的电信号的构件；和用于产生经转换成光学信号以用于通过光纤缆线传输的测试向量的构件。该用于产生的构件包括远离至该DUT的连接点的一个或多个通用服务器。
可组合包括发明内容段落在内的本说明书中所描述的任何两个或多个特征，以形成在本说明书中未具体描述的实施方案。
在本说明书中描述的系统和技术的至少部分可通过在一个或多个处理装置上执行指令而配置或控制，该指令存储于一个或多个非暂时性机器可读存储介质上。非暂时性机器可读存储介质的示例包括只读存储器、光盘驱动器、内存磁盘驱动器、和随机存取存储器。在本说明书中描述的系统和技术的至少部分可使用包括一个或多个处理装置和存储器的计算系统配置或控制，该存储器存储可由该一个或多个处理装置执行以执行各种控制操作的指令。本文描述的系统和技术、和其组件和/或变化可例如通过设计、构造、布置、放置、编程、操作、激活、停用、和/或控制而配置。
在附图与下文描述中提出一个或多个实施方案的细节。经由描述和附图，并且经由权利要求书，可明白其它特征和优点。
附图说明
图1至图3是显示具有至远程服务器的光纤连接的示例性自动测试设备(ATE)的组件的框图。
图4是显示可在图1至图3的ATE中发生的示例性信号流的框图。
图5是显示具有至远程服务器的光纤连接的示例性ATE的图示。
图6是示例性隔离电力供应器的框图。
不同附图中类似的参考数字指示类似的元件。
具体实施方式
本文描述测试系统或ATE的示例性实施方案，该测试系统或ATE包括具有缆线接口以连接至光纤缆线并具有电接口以连接至电导体的测试头。装置接口板(DIB)被配置以经由电接口连接至测试头。DIB用于固持受测装置(DUT)，并包括用于在DUT与测试头的电接口之间传输电信号的电导体。服务器经编程以作为测试仪器。服务器可为通用服务器或其它类型的通用计算装置，例如本文描述的计算系统。服务器是在测试头外部且远离该测试头，并被配置以通过光纤缆线通信，光学信号通过该光纤缆线朝向该测试头发送和发送离开该测试头。因此，常规的仪器数据处理功能可位于测试头的外部。在一些实施方案中，远程服务器取代原本会以其它方式驻留在测试头内的测试仪器。光纤缆线可促成此类远程配置，因为通过光纤缆线的数据移转速率大到足以弥补远程服务器与测试头之间的距离。在一些情形中，一个或多个通用服务器的使用可降低ATE的成本和复杂性，并促成ATE的更大的可配置性。
图1至图3显示包括于先前段落中描述的ATE的特征的示例性ATE 10。ATE 10包括测试头100。测试头100包括在测试仪器与固持DUT 5的装置接口板(DIB)50之间的机械和电接口。测试头100包括一个或多个电源(未显示)，以将电力提供至DUT和ATE的其它组件。在一些实施方案中，测试头100包括测试仪器和/或测试电子器件(例如引脚电子器件或类似者)，以用于在测试连接至DIB的DUT时使用。在一些实施方案中，测试头100不含此类测试仪器和/或测试电子器件。例如，所有或一些测试仪器和/或测试电子器件可位于离测试头一段距离的远程站台。此类远程测试仪器和/或测试电子器件可经由光学介质(例如光纤缆线114)连接至测试头，该光学介质具有促成约例如数米、数十米、或数百米的远程连接的数据移转速率。
DIB 150包括在DUT与测试头之间的电和机械连接。例如，DIB 150可包括连接至测试头100且包括至正由ATE测试或待由ATE测试的一个或多个DUT的机械和电接口的印刷电路板(PCB)。电力(包括电压)可经由DIB中的一个或多个导管输送到连接至DIB的DUT。DIB包括位点，该位点可包括引脚、球栅阵列(BGA)焊垫、或DUT可连接至其的其它电和机械连接点。测试信号和响应信号(例如数字信号)和其它信号通过DUT与测试仪器之间的站台经由测试通道传送。DIB 15还可尤其包括连接器、导电迹线、和电路系统，以用于在测试电子器件、连接至位点的DUT与其它电路系统之间路由信号。DIB 150还包括用于在DUT与测试头至DIB的电接口115之间传输电信号的电导体。
DIB 150电连接至和机械地连接至信号接口(“DXO”)板110，该信号接口板是连接至测试头的测试头的组件(但不是测试头的整体)。在此方面，信号接口板110(且因此测试头100)包括DIB 150被配置以连接至其的电和机械接口。信号接口板110可包括在测试头10内或上的PCB。信号接口板110包括缆线接口116以连接至光纤缆线114，并包括电接口115以连接至往返于DIB的电导体112。光纤缆线114在缆线的服务器侧和缆线的测试头侧包括转换电子器件，该转换电子器件可通过例如由远程测试仪器服务器内的通用串行总线(USB)卡提供的电力而在两端供电。因此，在一些实施方案中，缆线接口116是电接口，因为其连接至光纤缆线上的转换电子器件。光纤缆线两端的转换电子器件被配置以将电信号转换成是该电信号的表示的光学信号以用于通过光纤缆线传输，以及将来自光纤缆线的光学信号转换成是该光学信号的电表示的电信号以用于通过电导体112传输至DIB测试头侧或至服务器侧的远程服务器。例如，在附接至光纤缆线的电子器件中，可将电串行数据流转换成该电串行数据流的光学表示以用于通过光纤缆线传输，并且该电串行数据的光学表示可转换回为电串行数据以用于传输至DIB。
在一些实施方案中，信号接口板110上的电接口115可被配置以在电域中调节输出至DIB 150的电信号，并增加输出至DIB 150的电信号的信号功率。例如，信号接口板110可包括电路系统以调节信号，以确保电信号具有与正使用在DIB上的数据流协议一致的时序并尽可能地强。信号接口板110还可包括电路系统以放大信号或增加信号的功率。信号接口板110还可包括电路系统以放大和调节来自DIB 150的回传电信号。
一个或多个光纤缆线114(或其它适当的光学介质)延伸在信号接口板110与一个或多个远程服务器200之间。在此方面，ATE 10的示例性实施方案促成测试头100与一个或多个远程服务器200之间的高速数据连接，其促成远程信号产生和处理能力。光纤缆线114可用以将在远程服务器产生的测试信号(例如串行扫描测试向量)传输至ATE测试头。在此方面，在示例性串行扫描期间，测试向量负载是通过光纤高速串行链路从充当测试仪器的服务器传输至DUT。DUT基于使用测试向量负载的内容执行一个或多个操作。记录DUT对测试向量负载的响应，并通过光纤高速串行链路传回至充当测试仪器的服务器。此服务器继而评估响应，并确定DUT是否符合预定的功能需求，如由测试工程师确定的。如果DUT是完全符合的，则将该DUT标示为“良好”。如果DUT是不符合的，则DUT将分类成“不良”并表征成DUT的哪个部分出故障，或表征成具有较差的性能并因此分类。
在图1至图3的示例中，光纤缆线114是用以将测试信号(例如测试向量)作为光学信号传输至信号接口板110。光纤缆线114被配置以在测试头侧将光学信号转换成电信号，其接着由信号接口板调节并经由DIB传输至DUT。在回传方向上，电测试结果信号是经由DIB从DUT传输通过信号接口板110。该信号可由信号接口板调节。在调节之后，附接至光纤缆线114的电子器件将该电信号转换成光学信号，并通过光纤缆线114将所得电信号传输至远程服务器200以用于分析。在一些实施方案中，从光学信号至其的电信号表示的转换和从电信号至其的光学信号表示的转换可由信号接口板执行而非由光纤缆线中或附接至该光纤缆线的电子器件执行。
如上文所指明的，信号接口板包括电路系统以调节接收自光纤缆线以用于输出至DIB 150的电信号，并增加输出至DIB 150的电信号的信号功率。信号接口板110还可包括电路系统以放大和调节来自DIB 150的回传电信号以用于输出至光纤缆线。例如，信号接口板110可被配置以调节电信号，以确保信号流就时序来说与正由DIB和/或充当测试仪器的服务器使用的数据流协议一致、遵循该协议的其它要求、并具有经增加或经最大化的信号功率。
在一些实施方案中，光纤促成高速数据移转速率，例如但不限于每秒五千兆位(5Gbps)或更大的数据移转速率、并支持远程服务器与测试头之间的可靠传输。光纤因此使远程服务器能位于离测试头的显著距离处(例如，2m、5m、12m、15m、100m等)，在一些示例中，不会不利地影响性能。此方法可促成有弹性的(例如，通用)测试头，其中测试控制、处理、和分析的全部或一些是由远程服务器200执行。
通过光纤缆线传输的数据可为串行数据。因此，光纤缆线作用如同测试头与远程服务器之间的高速串行连接。任何适当的产业标准信令数据流协议皆可用于数据传输，其示例是通用串行总线(USB)协议和快速外围组件互联网(PCIe)协议。
如所指明的，测试系统10包括一个更远程服务器200。在图5的示例中，有六个远程服务器；然而，可使用任意数目。远程服务器200包括通用计算装置，该通用计算装置可编程以并经编程以操作为测试仪器。服务器包括硬件装置并可包括一个或多个处理装置和其它计算机存储器。例如，各服务器可被配置(例如，经编程)以输出数字测试信号(例如测试向量)，或在一些实施方案中，以输出模拟测试信号或射频(RF)测试信号的数字化版本以例如基于由控制系统提供的数据测试DUT。各服务器可被配置(例如，经编程)以响应于最初测试信号而接收来自DUT的数字响应信号或模拟响应信号或RF响应信号的数字化版本。服务器200中的不同者可被配置以执行不同类型的测试、以实施不同类型的测试功能性、和/或被配置以测试不同的DUT或不同类型的DUT。服务器200中的两者或多者可被配置以执行相同类型的测试、以实施相同类型的测试功能性、和/或被配置以测试相同的DUT或相同类型的DUT。
测试信号和响应信号可通过一个或多个串行测试通道行进，该一个或多个串行测试通道使用光纤缆线114和电介质配置在服务器200与测试头100之间。在一些示例中，测试通道可包括(多个)物理传输介质，通过该(多个)物理介质将信号从测试仪器发送至DUT并通过该(多个)物理介质接收来自DUT的信号。
在一些实施方案中，由于远程服务器200被配置以作为测试仪器，故测试头100可不含电子器件，然而在其它实施方案中，测试头100可包括测试电子器件以提供板上和远程测试能力两者。在示例性实施方案中，远程服务器200可包括接口电路系统210以用于调节和强化服务器侧上的电信号，以用于以本文描述的方式传输至服务器。在服务器侧，光纤缆线中的电子器件被配置以将测试数据(包括但不限于串行测试向量20)转换成光学信号以发送至测试头100。光纤缆线中的电子器件还被配置以接收来自测试头100的光学信号(例如，表示串行测试结果30)并转换回为电信号。该信号可如本文所描述地调节和强化，并发送以用于由服务器200中的处理器220进行分析。
在一些实施方案中，此接口电路系统的不同示例可驻留在服务器200的个别者内或耦合至该服务器的个别者。在一些实施方案中，接口电路系统可包括USB光纤接口。在一些实施方案中，接口电路系统包括串行输出端口，该串行输出端口用以将与远程服务器相关联的通用处理器连接至光纤缆线。
一些DUT包括专用于测试的特定引脚。如所指明的，一些DUT具有内置的测试能力。因此，该DUT仅需要接收测试向量，该测试向量接着可由内部编程或电路系统使用以执行测试并提供测试结果。该测试结果可发送回至测试仪器(在此示例中，服务器200)以用于分析。在一些实施方案中，服务器200被配置以产生此类测试向量并通过光纤缆线传输该测试向量。接着如所描述地接收响应信号。在此方面，测试向量信号流可在服务器中产生并递送至服务器中的USB卡。接着将信号递送至USB缆线，并通过光纤缆线中的电子器件转换为光学信号。信号接着行进光学缆线的长度到达信号接口板，该信号在缆线组合件内侧处转换回为电信号。相反地，将来自DUT的信号递送至信号接口板，并由重计时器芯片放大和重计时，该重计时器芯片接着将信号递送至USB缆线的电接口。该接口(由在光纤缆线的远程的服务器供电)将信号转换成光学信号，该光学信号继而通过光纤缆线递送至服务器中的USB卡。
因此，在示例性实施方案中，通过光纤缆线发送的串行信号(其示例是或包括串行数据流)可包括可由处理器220产生的实时串行扫描测试向量20。例如，ATE 100可经由测试头、信号接口板、和DIB将实时串行扫描测试向量20提供至DUT的一个或多个连接器引脚，如本文所描述的。串行测试结果30接着可再次经由DIB和测试头中的信号接口板从DUT传输回至远程服务器，该信号在光学转换以用于通过光学介质输送之前在该信号接口板处被调节。在一些实施方案中，串行信号可为遵循USB或PCIe协议的脉冲数字信号。在一些示例中，脉冲数字信号表示从基线值(例如“0”)至较高或较低值，之后快速返回至基线值的在振幅上的快速暂时性变化。
图4示出ATE 10的示例性信号流程，其中串行测试向量20是由处理器220产生为电信号并作为光学信号从远程服务器200传输至测试头100，具体地说，至测试头内的信号接口板。串行测试向量是从光学信号转换回为电信号，并接着被调节以用于经由DIB 150传输至DUT 5。在回传路径上，经由DIB 150在信号接口板接收来自DUT 5的作为电信号的串行测试结果30。光纤缆线将串行结果30转换成光学信号以用于传输至远程服务器200。在服务器侧，将它们转换回为电信号以用于处理处理器220。在一些示例中，在传输至服务器之前，接口电路系统210可以本文描述的方式调节电信号。
图5显示ATE 10的另一示例性实施方案。在图5所示的实施方案中，显示六个远程服务器200。在此示例中，各服务器200包括两个USB光纤接口(接口电路系统210的示例)以连接至光纤缆线114。如本文所描述的，光纤缆线114经由测试头100中的信号接口板110介接至DIB。将此配置描绘为12条USB有源光纤缆线(AOC)，其中六者与信号接口板110的各侧介接。可使用绝缘软管118保护光纤缆线114。信号接口板110以本文的方式调节从光纤缆线114中的转换电子器件接收的电信号。如先前解释的，经调节电信号接着经由DIB 150传输至DUT。在一些实施方案中，信号接口板功能性是DIB的部分。在一些实施方案中，信号接口板可为连接至DIB且不位于测试头内的组件。
作为总结，本文描述的ATE的示例包括用于电连接至和机械地连接至DUT、用于将电信号转换成光学信号以通过光纤缆线传输、用于将光学信号转换成电信号以用于传输至DUT、和用于产生经转换成光学信号以用于通过光纤缆线传输的测试向量的组件。
在图5的示例中，ATE 10包括隔离电力供应器300。隔离电力供应器300远离测试头100，并可定位成接近服务器200，可包括与该服务器在相同或不相同的室或机柜中。例如，隔离电力供应器可定位成与测试头100相距2m、5m、12m、15m、100m等。示例性隔离电力供应器包括例如与其正供电的电路的其余部分电隔离的电力供应器，在此示例中，连接至其的测试头和组件。在一些实施方案中，电力供应部分可使用隔离变压器隔离。因此，电力可从隔离电力供应器的输入移转至输出，在两个区段之间不存在直接电连接。
在此方面，测试头100的组件可用来自隔离电力供应器300的电力供应。它们的传回路径全部通过测试头结构内的称为“仪器星形接地(instrument star ground)”的单个点。“接地(ground)”或“电接地(electrical ground)”包括使用为其它电压的参考的电压。当将另一仪器引入至此环境中时，仪器接收的电力也以仪器星形接地为参考。如果不参考，则产生通过接地路径会有接地回路或电流从一条路径流动至另一路径的风险。此继而可在测试头内部和外部两者的电子器件上产生噪声。例如，DIB包括连接至所有正由ATE测试的客户的DUT的共享接地/传回路径。如果关于接地/传回路径是在哪个电压电平上有物理分岐，则将形成电流将从较高电平接地流至较低电平接地的接地回路。为解决此潜在问题，可使用隔离变压器。在隔离变压器中，将负载侧上的电力和接地与来源侧上的电力和接地完全隔离。将接地缆线连接至测试头上的仪器星形接地并连接至隔离变压器的负载侧，以提供是在测试头内的相同接地参考。隔离变压器还可包括用于安全的警报电路。如果该负载侧未经适当接地，则警报电路被配置以响起警报。隔离变压器上还可有可连接至灯以进一步指示危险的电路。使用这些相同接触件，计时电路断路器可被配置以在某个预定时间周期(例如10秒)后关闭隔离变压器。
参照图5和图6，隔离电力供应器300可用以通过相邻于且连同光纤缆线114延伸的铜导线将电力供应至测试头100。该电力可用以促成解码和编码信号接口板上的光学信号。如图6所示，隔离电力供应器300的示例性实施方案包括隔离变压器310。隔离变压器310包括连接至电源接地或“PWR GND”321的来源侧312。隔离变压器310还包括连接至仪器星形接地或“STAR GND”322的负载侧314。电源接地和仪器星形接地可在不同的电压；然而，它们的电隔离预防或降低接地回路的变化。因此，测试头侧上的电信号(包括通过DIB的电信号)可以仪器星形接地为参考。服务器也以仪器星形接地为参考，并且在一些实施方案中与电源接地隔离。
一些实施方案可包括允许各端分别供电的光纤缆线。光纤通过本身在缆线的末端之间提供电隔离。由于光纤的两端皆使用服务器供应电力以驱动光至电(且反之亦然)转换，故使用隔离变压器。在转换过程的测试头端是使用测试头/仪器-接地-参考电力供电的情形中，可能不需要隔离变压器。
描述于本说明书中的测试系统的全部或部分和它们的各种修改可至少部分由一个或多个计算机(例如远程服务器200)使用有形地体现在一个或多个信息载体(例如一个或多个非暂时性机器可读介质)中的一个或多个计算机程序配置或控制。计算机程序可用包括编译或解释语言的任何形式的程序设计语言编写，并且其可以任何形式部署，包括作为单独程序或作为模块、部件、子例程、或其它合适用于计算环境中使用的单元。可将计算机程序部署成在一台计算机或多台计算机上执行，多台计算机可位于同一现场或分散在多个现场并以网络互连。
与配置或控制本文描述的测试系统相关联的动作可由一个或多个可编程处理器执行，该一个或多个可编程处理器执行一个或多个计算机程序，以控制或执行全部或一些本文描述的操作。测试系统和过程的全部或部分可由专用逻辑电路系统配置或控制，例如FPGA(现场可编程门阵列)和/或ASIC(专用集成电路)或对仪器硬件局部化的(多个)嵌入式微处理器。
举例来说，适于执行计算机程序的处理器包括通用和专用微处理器两者、和任何种类的数字计算机的任何一个或多个处理器。一般来说，处理器将接收来自只读存储区或随机存取存储区或两者的指令与数据。计算机的元件包括用于执行指令的一个或多个处理器和用于存储指令与数据的一个或多个存储区装置。一般来说，计算机还将包括一个或多个机器可读存储介质，或以操作方式与之耦合以从其接收数据或向其传送数据，或接收与传送数据两者，例如用于存储数据的大容量存储装置(例如磁盘、磁光盘或光盘)。适用于体现计算机程序指令和数据的非暂时性机器可读存储介质包括所有形式的非易失性存储区，举例来说，包括：半导体存储区装置，例如EPROM(可擦除可编程只读存储器)、EEPROM(电可擦除可编程只读存储器)和快闪存储区装置；磁盘，例如内部硬盘或可移除式磁盘；磁光盘；和CD-ROM(光盘只读存储器)和DVD-ROM(数字多功能光盘只读存储器)。
可使用在本文描述的实施方案中的光纤缆线的示例是由科森美科技公司(CosemiTechnologies,Inc.)生产的“USB 3.2GEN 2x1 A-A 10GHYBRID ACTIVE OPTICAL CABLES”。
所描述的不同实施方案的元件可组合以形成在前文未具体提出的其它实施方案。元件可不列入前文所描述的系统中，而不会不利地影响其大致操作或系统操作。此外，各种分开的元件可组合成一个或多个个别元件，以执行本说明书中所描述的功能。
未在本说明书中具体描述的其它实施方案也在所附权利要求书内。
Claims (31)
1.一种测试系统，所述测试系统包括：
测试头；
装置接口板(DIB)，所述DIB被配置以连接至所述测试头，所述DIB用于固持受测装置(DUT)，并且所述DIB包括用于在所述DUT与所述测试头之间传输电信号的电导体；和
服务器，所述服务器经编程以作为测试仪器，所述服务器是在所述测试头外部且远离所述测试头，并且所述服务器被配置以通过光纤缆线与所述测试头传递信号，所述信号包括串行信号。
2.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述测试头包括信号接口板，所述信号接口板包括缆线接口以连接至所述光纤缆线并包括电接口以连接至所述电导体；
其中所述光纤缆线被配置以在光学信号与所述电信号之间进行转换；
其中所述信号接口板被配置以调节用于输出至所述DIB的电信号。
3.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述测试头包括信号接口板，所述信号接口板被配置以在光学信号与电信号之间进行转换。
4.根据权利要求2所述的测试系统，其中所述信号接口板被配置以增加用于输出至所述DIB的所述电信号的信号功率。
5.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述串行信号包括实时串行扫描测试向量。
6.根据权利要求5所述的测试系统，其中所述实时串行扫描测试向量被提供到连接至所述DIB的DUT的引脚。
7.根据权利要求1所述的测试系统，所述测试系统进一步包括：
隔离电力供应器，所述隔离电力供应器在所述测试头外部，所述隔离电力供应器将电力从所述服务器的位置提供至所述测试头，以用于在解码通过所述光纤缆线发送至所述测试头的信号时使用。
8.根据权利要求7所述的测试系统，其中所述测试头中的电信号是以仪器接地为参考；并且
其中所述测试头的所述仪器接地充当所述隔离电力供应器的接地参考。
9.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述光纤缆线为两米(2m)长或大于2m长。
10.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述串行信号以每秒五千兆位(5Gbps)或以大于5Gbps的速率传输。
11.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述串行信号包括脉冲数字信号。
12.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述测试头不含测试电子器件。
13.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述测试头包括测试电子器件。
14.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述服务器包括经编程以作为测试仪器的通用计算装置。
15.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述串行信号包括USB协议数字信号。
16.一种测试系统，所述测试系统包括：
测试头，所述测试头包括用以调节电信号的第一电路系统，所述电信号是光学信号的表示，所述光学信号是来自光纤缆线且所述电信号是用于受测装置；
光纤缆线，所述光学信号是通过所述光纤缆线传送；和
服务器，所述服务器经编程以作为测试仪器，所述服务器是在所述测试头外部且远离所述测试头，所述服务器被配置以通过所述光纤缆线通信；
其中所述电信号和所述光学信号包括串行信号。
17.根据权利要求16所述的测试系统，其中所述电信号包括待传输至所述DUT的测试向量。
18.根据权利要求17所述的测试系统，其中所述服务器包括一个或多个服务器并被配置以接收响应于发送至所述DUT的所述测试向量而得自所述DUT的测试结果。
19.根据权利要求16所述的测试系统，其中所述光纤缆线为两米(2m)长或大于2m长。
20.根据权利要求16所述的测试系统，其中所述串行信号以每秒五千兆位(5Gbps)或大于5Gbps的速率传输。
21.根据权利要求16所述的测试系统，其中所述串行信号包括脉冲数字信号。
22.根据权利要求16所述的测试系统，其中所述测试头不含测试电子器件。
23.根据权利要求16所述的测试系统，其中所述测试头包括测试电子器件。
24.根据权利要求16所述的测试系统，其中所述服务器包括经编程以作为测试仪器的通用计算装置。
25.根据权利要求16所述的测试系统，其中所述串行信号包括USB协议数字信号。
26.根据权利要求16所述的测试系统，所述测试系统进一步包括：
隔离电力供应器，所述隔离电力供应器在所述测试头外部，所述隔离电力供应器将电力从所述服务器的位置提供至所述测试头以用于在解码信号时使用。
27.根据权利要求26所述的测试系统，其中所述测试头中的电信号是以仪器接地为参考；并且
其中所述测试头的所述仪器接地充当所述隔离电力供应器的接地参考。
28.根据权利要求26所述的测试系统，其中所述测试头中的电信号是以第一接地为参考；并且
其中所述隔离电力供应器包括隔离变压器，以将所述第一接地与不同于所述第一接地的第二接地隔离。
29.根据权利要求16所述的测试系统，其中所述串行信号包括PCIe协议数字信号。
30.根据权利要求16所述的测试系统，其中所述串行信号遵循产业标准信令协议。
31.一种测试系统，所述测试系统包括：
用于电连接至和机械地连接至受测装置(DUT)的构件；
用于调节通过从光学信号转换而获得的电信号的构件；和
用于产生经转换成光学信号以用于通过光纤缆线传输的测试向量的构件，所述用于产生的构件包括远离至所述DUT的连接点的一个或多个通用服务器。
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