CN116539975A - 一种电容高温测试装置 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 36
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title abstract description 13
- 230000032683 aging Effects 0.000 claims abstract description 45
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims abstract description 22
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 8
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 238000005485 electric heating Methods 0.000 description 2
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000004321 preservation Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
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- Y02E40/30—Reactive power compensation
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Abstract
本发明公开了一种电容高温测试装置,包括机架、烘箱、驱动组件和控制组件,所述机架包括相互连通的第一框架、第二框架和第三框架,所述控制组件设置在所述第一框架内,所述驱动组件设置在所述第二框架内,所述烘箱设置在所述第三框架内,所述控制组件与所述驱动组件电性连接,烘箱包括腔体、散热组件和设置在腔体内的老化组件,老化组件与所述驱动组件电性连接,散热组件包括风扇、出气管和与外部连通的排气管,所述风扇设置在所述腔体内,风扇与老化组件相对设置,排气管设置在所述腔体上,排气管通过出气管与腔体连通,控制组件包括工控机,工控机分别与驱动组件、风扇电性连接。其能减小电容高温测试装置的体积。
Description
技术领域
本发明涉及半导体测试,尤其涉及一种电容高温测试装置。
背景技术
几乎每个电路里都设置有电容,电容的质量关系到电路的质量,对电容的质量进行测试很重要,尤其是对电容的耐热性(老化)测试。
现在出现了一些对电容的耐热性进行测试的测试箱,但这些测试箱为了保护驱动板或者控制电路,都会把控制电路、驱动板与老化板均分隔在不同的柜体内,这样就会导致测试箱的体积过大。
发明内容
为了克服现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种电容高温测试装置,其能减小电容高温测试装置的体积。
本发明的目的采用以下技术方案实现:
一种电容高温测试装置,包括机架、烘箱、驱动组件和控制组件,所述机架包括相互连通的第一框架、第二框架和第三框架,所述控制组件设置在所述第一框架内,所述驱动组件设置在所述第二框架内,所述烘箱设置在所述第三框架内,所述控制组件与所述驱动组件电性连接,所述烘箱包括腔体、散热组件和设置在所述腔体内的老化组件,所述老化组件与所述驱动组件电性连接,所述散热组件包括风扇、出气管和与外部连通的排气管,所述风扇设置在所述腔体内,所述风扇与所述老化组件相对设置,所述排气管设置在所述腔体上,所述排气管通过所述出气管与所述腔体连通,所述控制组件包括工控机,所述工控机分别与所述驱动组件、所述风扇电性连接。
优选的,所述机架还包括底板、顶板和多个U型板,所述底板通过所述U型板与所述顶板固定连接,所述顶板上设置有抽风机、出气孔和与外部连通的排风罩,所述出气孔与所述出气管连通,所述出气孔和所述抽风机均与所述排风罩连通。
优选的,所述控制组件还包括LRS电源和多个2U电源,所述工控机、所述抽风机、所述风扇均与所述LRS电源电性连接,所述2U电源与所述驱动组件电性连接。
优选的,所述驱动组件包括驱动架、多个冷风机和多个驱动板,所述驱动板与所述驱动架滑动连接,所述冷风机设置在所述驱动架的两侧,所述驱动板与所述2U电源一一电性连接。
优选的,所述驱动架包括两个第一侧框、两个横板和多个第一接口框,两个第一侧框之间通过两个横板固定连接,所述第一接口框固定在两个横板之间。
优选的,所述老化组件包括老化架和与所述老化架滑动连接的多个老化板,所述老化板与所述驱动板一一电性连接。
优选的,所述老化架包括两个第二侧框、多个支撑条和多个第二接口框,两个第二侧框之间通过所述支撑条固定连接,多个第二接口框均设置在所述第二侧框上。
优选的,所述烘箱还包括两个侧板、背板、玻璃门和两个固定板,两个侧板、两个固定板和所述背板形成所述的腔体,所述玻璃门设置在所述腔体的前端,所述出气管设置在所述背板上。
优选的,所述烘箱还包括对角件,所述对角件穿过所述背板,所述对角件上设置有电性连接的接线端和插槽,所述接线端与所述驱动组件电性连接,所述插槽与所述老化组件电性连接。
优选的,所述散热组件还包括散热板和紧固环,所述散热板固定在所述烘箱上,所述出气管依次穿过所述散热板和所述烘箱,所述出气管通过所述紧固环与所述驱动架固定连接。
相比现有技术,本发明的有益效果在于:
本申请设置有烘箱和散热组件,且所述老化组件设置在所述烘箱内,该烘箱可以防止老化组件内的热量对驱动组件和控制组件的损坏,所述散热组件可以把所述烘箱内的热量及时扩散到外部,而不需要把所述烘箱、所述驱动组件和所述控制组件均分隔在不同的柜体内,从而缩小了测试装置的体积。
附图说明
图1为本发明的电容高温测试装置的立体结构示意图;
图2为本发明的机架的立体结构示意图;
图3为本发明的电容高温测试装置的平面结构示意图;
图4为本发明的驱动组件的立体结构示意图;
图5为本发明的老化组件的立体结构示意图;
图6为本发明的烘箱的立体结构示意图;
图7为本发明的控制组件的立体结构示意图;
图8为本发明的对角件的立体结构示意图;
图9为本发明的出气管的立体结构示意图;
图10为本发明的排气管的立体结构示意图;
图11为本发明的驱动板的立体结构示意图。
图中:100、电容高温测试装置;10、机架;11、第一框架;111、U型板;12、第二框架;121、底板;13、第三框架;14、顶板;141、排风罩;142、报警器;15、侧门;16、箱门;17、后门;171、插座;18、万向轮;20、烘箱;21、腔体;22、玻璃门;23、侧板;24、背板;25、固定板;26、出气管;261、管壁;262、紧固环;27、散热板;30、控制组件;31、工控机;32、2U电源;33、操作板;34、键盘盒;35、显示屏;40、驱动组件;41、驱动架;42、第一侧框;43、驱动板;431、边框;432、连接口;44、第一接口框;45、横板;46、冷风机;47、支撑板;50、老化组件;51、老化架;52、第二侧框;53、第二接口框;54、支撑条;55、对角件;551、接线端;552、插槽;60、排气管;61、缺口。
具体实施方式
为了能够更清楚地理解本发明的具体技术方案、特征和优点,下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。
在本发明的描述中,需要说明的是,术语“上”、“下”、“左”、“右”、“横向”、“纵向”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
如图1-图3所示,本申请公开的一种电容高温测试装置100,包括机架10、烘箱20、控制组件30和驱动组件40,所述机架10包括相互连通的第一框架11、第二框架12和第三框架13,所述控制组件30设置在所述第一框架11内,所述驱动组件40设置在所述第二框架12内,所述烘箱20设置在所述第三框架13内,所述控制组件30与所述驱动组件40电性连接,所述烘箱20包括腔体21、散热组件和设置在所述腔体21内的老化组件50,所述老化组件50与所述驱动组件40电性连接,所述散热组件包括风扇(未示出)、出气管26和与外部连通的排气管60,所述风扇设置在所述腔体21内,所述风扇与所述老化组件50相对设置,所述排气管60设置在所述腔体21上,所述排气管60通过所述出气管26与所述腔体21连通,所述控制组件30包括工控机31,所述工控机31分别与所述驱动组件40、所述风扇电性连接。
在上述实施方式中,本申请设置有烘箱20和散热组件,且所述老化组件50设置在所述烘箱20内,该烘箱20可以防止老化组件内的热量对驱动组件40和控制组件30的热损坏,所述散热组件可以把所述烘箱20内的热量及时扩散到外部,而不需要把所述烘箱20、所述驱动组件40和所述控制组件30均分隔在不同的柜体内,从而缩小了测试装置的体积。
其中,所述控制组件30包括工控机31和与所述工控机31电性连接的操作板33,所述操作板33设置在所述第二框架12上,所述操作板33上设置有开关按钮和指示灯,所述工控机31可发送测试指令给所述驱动组件40,所述驱动组件40根据测试指令生成测试信号(波形)给老化组件50,所述老化组件50根据测试信号对被测电容进行测试,所述老化组件50可设置加热丝进行老化测试。
在一种优选的实施方式中,如图1-图3所示,所述机架10还包括底板121、顶板14和多个U型板111,所述底板121通过所述U型板111与所述顶板14固定连接,所述顶板14上设置有抽风机、出气孔和与外部连通的排风罩141,所述出气孔与所述出气管26连通,所述出气孔和所述抽风机均与所述排风罩141连通。
在上述实施方式中,所述排风罩141罩住所述抽风机和所述出气孔,所述控制组件30和所述驱动组件40可通过所述U型板111安装在所述机架10内,所述U型板利于安装线路。所述机架10还包括报警器142、插座171、万向轮18、箱门16、侧门15和后门17,所述箱门16设置在所述机柜10的前端,所述侧门15设置在所述机柜10的侧端,所述后门17设置在所述机柜10的后端,所述报警器142设置在所述顶板14上,所述报警器142与所述工控机31电性连接,所述插座171设置在所述后门17的下端,所述插座171与所述控制组件30电性连接。
如图4所示,所述驱动组件40包括驱动架41、多个冷风机46和多个驱动板43,所述驱动板43与所述驱动架41滑动连接,所述冷风机46设置在所述驱动架41的两侧,所述驱动板43与所述2U电源32一一电性连接。所述驱动架41包括两个第一侧框11、两个横板45和多个第一接口框44,两个第一侧框11之间通过两个横板45固定连接,所述第一接口框44固定在两个横板45之间。
其中,两个第一侧框11上均设置有多个给所述驱动板43散热的冷风机46,所述驱动板43上的线路可穿过所述第一接口框44与所述老化组件50电性连接。如图11所示,所述驱动板包括四条边框431和利于插接的连接口432。所述横板45上设置有支撑板47,所述横板45通过所述支撑板47与所述底板121连接。
如图5所示,所述老化组件50包括老化架51和与所述老化架51滑动连接的多个老化板(未示出),所述老化板与所述驱动板43一一电性连接。所述老化架51包括两个第二侧框52、多个支撑条54和多个第二接口框53,两个第二侧框52之间通过所述支撑条54固定连接,多个第二接口框53均设置在所述第二侧框52上。其中,所述老化板包括老化基板、电热丝和用于装载待测电容的接线板,所述接线板和所述电热丝均固定在所述老化基板上,所述第二接口框53利于安装线路和使所述第二侧框52更稳固。
如图6所示,所述烘箱20还包括两个侧板23、背板24、玻璃门22、对角件55和两个固定板25,两个侧板23、两个固定板25和所述背板24形成所述的腔体21,所述玻璃门22设置在所述腔体21的前端,所述出气管设置在所述背板24上。其中,所述侧板23、所述背板24和所述固定板25均为利于保温的空心板,所述玻璃门22利于观察所述老化组件50。
如图7所示,所述控制组件30还包括LRS电源和多个2U电源32,所述工控机31、所述抽风机、所述风扇均与所述LRS电源电性连接,所述2U电源32与所述驱动组件40电性连接。其中,所述LRS电源为开关电源,能实现高频化电能转换,所述2U电源32为直流电源。所述控制组件30还包括显示屏35和键盘盒34,所述键盘盒34内设置有键盘,所述键盘和所述显示屏35均与所述工控机31电性连接。
如图8所示,所述对角件55穿过所述背板24,所述对角件55上设置有电性连接的接线端551和插槽552,所述接线端551与所述驱动组件40电性连接,所述插槽552与所述老化组件50电性连接。其中,所述接线端551与所述插槽552的两端通过支杆固定连接,形成中间具有大孔的对角件55,而利于散热,所述对角件55也利于所述老化组件50与所述驱动组件40的信号传输。
如图9所示,所述散热组件还包括散热板27和紧固环262,所述散热板27固定在所述烘箱20上,所述出气管26依次穿过所述散热板27和所述烘箱20,所述出气管26通过所述紧固环262与所述驱动架41固定连接。其中,所述紧固环262使所述出气管26更稳固,所述烘箱20内的热气经所述出气管26流出再经过所述排气管60从所述排风罩141排到外部。如图10所示,为了使所述出气管26与所述排气管60更好地连通,所述排气管60的首端设置有缺口61。
综述,本申请通过设置烘箱20和散热组件,所述烘箱20可以防止老化组件50内的热量对驱动组件40和控制组件30的损坏,所述散热组件可以把所述烘箱20内的热量及时扩散到外部,而可以把所述烘箱20(包括老化组件50)、所述驱动组件40和所述控制组件30设置在同一机架10内,从而缩小了测试装置的体积。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中的描述的只是说明本发明的原理,在不脱离本发明精神和范围的前提下,本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
Claims (10)
1.一种电容高温测试装置,其特征在于:包括机架、烘箱、驱动组件和控制组件,所述机架包括相互连通的第一框架、第二框架和第三框架,所述控制组件设置在所述第一框架内,所述驱动组件设置在所述第二框架内,所述烘箱设置在所述第三框架内,所述控制组件与所述驱动组件电性连接,所述烘箱包括腔体、散热组件和设置在所述腔体内的老化组件,所述老化组件与所述驱动组件电性连接,所述散热组件包括风扇、出气管和与外部连通的排气管,所述风扇设置在所述腔体内,所述风扇与所述老化组件相对设置,所述排气管设置在所述腔体上,所述排气管通过所述出气管与所述腔体连通,所述控制组件包括工控机,所述工控机分别与所述驱动组件、所述风扇电性连接。
2.根据权利要求1所述的电容高温测试装置,其特征在于:所述机架还包括底板、顶板和多个U型板,所述底板通过所述U型板与所述顶板固定连接,所述顶板上设置有抽风机、出气孔和与外部连通的排风罩,所述出气孔与所述出气管连通,所述出气孔和所述抽风机均与所述排风罩连通。
3.根据权利要求2所述的电容高温测试装置,其特征在于:所述控制组件还包括LRS电源和多个2U电源,所述工控机、所述抽风机、所述风扇均与所述LRS电源电性连接,所述2U电源与所述驱动组件电性连接。
4.根据权利要求3所述的电容高温测试装置,其特征在于:所述驱动组件包括驱动架、多个冷风机和多个驱动板,所述驱动板与所述驱动架滑动连接,所述冷风机设置在所述驱动架的两侧,所述驱动板与所述2U电源一一电性连接。
5.根据权利要求4所述的电容高温测试装置,其特征在于:所述驱动架包括两个第一侧框、两个横板和多个第一接口框,两个第一侧框之间通过两个横板固定连接,所述第一接口框固定在两个横板之间。
6.根据权利要求5所述的电容高温测试装置,其特征在于:所述老化组件包括老化架和与所述老化架滑动连接的多个老化板,所述老化板与所述驱动板一一电性连接。
7.根据权利要求6所述的电容高温测试装置,其特征在于:所述老化架包括两个第二侧框、多个支撑条和多个第二接口框,两个第二侧框之间通过所述支撑条固定连接,多个第二接口框均设置在所述第二侧框上。
8.根据权利要求1所述的电容高温测试装置,其特征在于:所述烘箱还包括两个侧板、背板、玻璃门和两个固定板,两个侧板、两个固定板和所述背板形成所述的腔体,所述玻璃门设置在所述腔体的前端,所述出气管设置在所述背板上。
9.根据权利要求8所述的电容高温测试装置,其特征在于:所述烘箱还包括对角件,所述对角件穿过所述背板,所述对角件上设置有电性连接的接线端和插槽,所述接线端与所述驱动组件电性连接,所述插槽与所述老化组件电性连接。
10.根据权利要求4所述的电容高温测试装置,其特征在于:所述散热组件还包括散热板和紧固环,所述散热板固定在所述烘箱上,所述出气管依次穿过所述散热板和所述烘箱,所述出气管通过所述紧固环与所述驱动架固定连接。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202210091706.8A CN116539975A (zh) | 2022-01-26 | 2022-01-26 | 一种电容高温测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202210091706.8A CN116539975A (zh) | 2022-01-26 | 2022-01-26 | 一种电容高温测试装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN116539975A true CN116539975A (zh) | 2023-08-04 |
Family
ID=87444091
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202210091706.8A Pending CN116539975A (zh) | 2022-01-26 | 2022-01-26 | 一种电容高温测试装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN116539975A (zh) |
-
2022
- 2022-01-26 CN CN202210091706.8A patent/CN116539975A/zh active Pending
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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