CN213149200U - 一种电脑电源老化测试柜 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及电脑电源技术领域，具体是一种电脑电源老化测试柜，包括柜体、若干个测试箱、电脑电源、冷热机，冷热机设于柜体外部，冷热机连接设置有送风机位于柜体内部，若干个测试箱设置于柜体内，测试箱上部设有供电插座，测试箱下部设有半导体制冷器和加热管，柜体下部设置有逆变器，电脑电源输出线连接至逆变器，逆变器输出线连接半导体制冷器和加热管，本实用新型利用电脑电源输出电流用于测试箱供电，通过测试箱模拟电脑电源在机箱内的环境，并通过冷热机、半导体制冷器和加热管实现各种温度调节，达到多种测试要求。
Description
技术领域
本实用新型属于电脑电源加工设备技术领域，尤其涉及一种电脑电源老化测试柜。
背景技术
现有生产电脑电源的厂家，电源组装完毕要进行老化测试，都是将电脑电源输入AC220V经过电源内部降压整流后输出DC12V、然后将输出电流通过电阻丝消耗掉，这种做法没有将电源输出的电流回收再利用，浪费了电力资源，增加了生产成本，并且进行老化测试的环境设定不够接近模拟环境。
因此，需要一种可以利用输出电流并且接近模拟环境的老化柜。
实用新型内容
为了解决上述问题，本实用新型提供一种电脑电源老化测试柜，利用电脑电源输出电流用于测试箱供电，通过测试箱模拟电脑电源在机箱内的环境，并通过冷热机、半导体制冷器和加热管实现各种温度调节，达到多种测试要求。
为了达到上述目的，本实用新型采用以下技术方案：
一种电脑电源老化测试柜，包括柜体、若干个测试箱、电脑电源、冷热机，冷热机设于柜体外部，冷热机连接设置有送风机位于柜体内部，若干个测试箱设置于柜体内，柜体内为多层结构，每层设有多个测试箱，测试箱上部设有插座，测试箱下部设有半导体制冷器和加热管，柜体下部设置有逆变器，电脑电源输出线连接至逆变器，逆变器输出线连接至半导体制冷器和加热管。
进一步的，所述测试箱前端铰接有箱门，箱门可以快速打开或闭合，用于模拟电脑机箱的环境。
进一步的，所述测试箱内设有托架，托架呈L型架构，后部固定与插座下方，前边缘向上翘起。
进一步的，所述插座包括AC插座和DC插座，AC插座连接市电系统，DC插座连接至逆变器，AC插座为电脑电源供电连接插座，DC插座与电脑电源的输出线连接。
进一步的，所述柜体两侧设置有半导体制冷器和加热管的供电端，老化柜内每层单独设置供电段供电每层的测试箱内的半导体制冷器和加热管。
进一步的，所述柜体的顶部设置有排气风扇，将室内高温或低温空气快速排出，方便进行下一阶段的测试。
进一步的，所述柜体内设有第一温度传感器，第一温度传感器用于测定柜体内温度，并反馈给控制器。
进一步的，所述测试箱内设有第二温度传感器，第二温度传感器用于测定测试箱内的温度，并反馈给控制器，每个测试箱内均设置有一个第二温度传感器。
进一步的，所述柜体一侧设置有控制器，控制器设置有显示器，输入键盘，控制器内部设置有主板用于处理数据和控制老化柜的各个电气部件。
本实用新型有益效果
本实用新型提供一种电脑电源老化测试柜，利用电脑电源输出电流用于测试箱供电，通过测试箱模拟电脑电源在机箱内的环境，并通过冷热机、半导体制冷器和加热管实现各种温度调节，达到多种测试要求。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1本实用新型结构示意图；
图2本实用新型测试箱示意图；
附图标记说明：柜体1、加热管供电端11、半导体制冷器供电端12、测试箱2、AC插座21、DC插座22、电脑电源A、托架23、加热管24、半导体制冷器25、逆变器3、托板4、控制器5、排气风扇6、送风机7、冷热机8。
具体实施方式
下面详细描述本实用新型的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件，下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制，因此，说明书的阐述仅仅是为了说明的目的，因此，本文中实用新型构思的实践并不唯一限于本文描述的示例实施例和附图中的举例说明，此外附图并不是限制。
如图1-2所示：
实施例1
一种电脑电源老化测试柜，包括柜体、若干个测试箱、电脑电源、冷热机，冷热机设于柜体外部，冷热机连接设置有送风机位于柜体内部，若干个测试箱设置于柜体内，柜体内为多层结构，每层设有多个测试箱，测试箱上部设有插座，测试箱下部设有半导体制冷器和加热管，柜体下部设置有逆变器，电脑电源输出线连接至逆变器，逆变器输出线连接至半导体制冷器和加热管。
所述测试箱前端铰接有箱门，箱门可以快速打开或闭合，用于模拟电脑机箱的环境。
所述测试箱内设有托架，托架呈L型架构，后部固定与插座下方，前边缘向上翘起。
所述插座包括AC插座和DC插座，AC插座连接市电系统，DC插座连接至逆变器，AC插座为电脑电源供电连接插座，DC插座与电脑电源的输出线连接。
所述柜体两侧设置有半导体制冷器和加热管的供电端，老化柜内每层单独设置供电段供电每层的测试箱内的半导体制冷器和加热管。
所述柜体的顶部设置有排气风扇，将室内高温或低温空气快速排出，方便进行下一阶段的测试。
所述柜体内设有第一温度传感器，第一温度传感器用于测定柜体内温度，并反馈给控制器。
所述测试箱内设有第二温度传感器，第二温度传感器用于测定测试箱内的温度，并反馈给控制器，每个测试箱内均设置有一个第二温度传感器。
所述柜体一侧设置有控制器，控制器设置有显示器，输入键盘，控制器内部设置有主板用于处理数据和控制老化柜的各个电气部件。
实施例2
一种电脑电源老化测试柜，包括柜体、若干个测试箱、电脑电源、冷热机，冷热机设于柜体外部，冷热机连接设置有送风机位于柜体内部，若干个测试箱设置于柜体内，柜体内为多层结构，每层设有多个测试箱，测试箱上部设有插座，测试箱下部设有半导体制冷器和加热管，柜体下部设置有逆变器，电脑电源输出线连接至逆变器，逆变器输出线连接至半导体制冷器和加热管。
所述测试箱前端铰接有箱门，箱门可以快速打开或闭合，用于模拟电脑机箱的环境。
所述测试箱内设有托架，托架呈L型架构，后部固定与插座下方，前边缘向上翘起。
所述插座包括AC插座和DC插座，AC插座连接市电系统，DC插座连接至逆变器，AC插座为电脑电源供电连接插座，DC插座与电脑电源的输出线连接。
所述柜体两侧设置有半导体制冷器和加热管的供电端，老化柜内每层单独设置供电段供电每层的测试箱内的半导体制冷器和加热管。
所述柜体的顶部设置有排气风扇，将室内高温或低温空气快速排出，方便进行下一阶段的测试。
所述柜体内设有第一温度传感器，第一温度传感器用于测定柜体内温度，并反馈给控制器。
所述测试箱内设有第二温度传感器，第二温度传感器用于测定测试箱内的温度，并反馈给控制器，每个测试箱内均设置有一个第二温度传感器。
所述柜体一侧设置有控制器，控制器设置有显示器，输入键盘，控制器内部设置有主板用于处理数据和控制老化柜的各个电气部件。
实施例3
一种电脑电源老化测试柜，包括柜体、若干个测试箱、电脑电源、冷热机，冷热机设于柜体外部，冷热机连接设置有送风机位于柜体内部，若干个测试箱设置于柜体内，柜体内为多层结构，每层设有多个测试箱，测试箱上部设有插座，测试箱下部设有半导体制冷器和加热管，柜体下部设置有逆变器，电脑电源输出线连接至逆变器，逆变器输出线连接至半导体制冷器和加热管。
所述测试箱前端铰接有箱门，箱门可以快速打开或闭合，用于模拟电脑机箱的环境。
所述测试箱内设有托架，托架呈L型架构，后部固定与插座下方，前边缘向上翘起。
所述插座包括AC插座和DC插座，AC插座连接市电系统，DC插座连接至逆变器，AC插座为电脑电源供电连接插座，DC插座与电脑电源的输出线连接。
所述柜体两侧设置有半导体制冷器和加热管的供电端，老化柜内每层单独设置供电段供电每层的测试箱内的半导体制冷器和加热管。
所述柜体的顶部设置有排气风扇，将室内高温或低温空气快速排出，方便进行下一阶段的测试。
所述柜体内设有第一温度传感器，第一温度传感器用于测定柜体内温度，并反馈给控制器。
所述测试箱内设有第二温度传感器，第二温度传感器用于测定测试箱内的温度，并反馈给控制器，每个测试箱内均设置有一个第二温度传感器。
所述柜体一侧设置有控制器，控制器设置有显示器，输入键盘，控制器内部设置有主板用于处理数据和控制老化柜的各个电气部件。
对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。需注意的是，本实用新型中所未详细描述的技术特征，均可以通过任一现有技术实现。
Claims (9)
1.一种电脑电源老化测试柜，其特征在于，包括柜体、若干个测试箱、电脑电源、冷热机，冷热机设于柜体外部，冷热机连接设置有送风机位于柜体内部，若干个测试箱设置于柜体内，柜体内为多层结构，每层设有多个测试箱，测试箱上部设有插座，测试箱下部设有半导体制冷器和加热管，柜体下部设置有逆变器，电脑电源输出线连接至逆变器，逆变器输出线连接至半导体制冷器和加热管。
2.根据权利要求1所述的一种电脑电源老化测试柜，其特征在于，所述测试箱前端铰接有箱门。
3.根据权利要求1所述的一种电脑电源老化测试柜，其特征在于，所述测试箱内设有托架。
4.根据权利要求1所述的一种电脑电源老化测试柜，其特征在于，所述插座包括AC插座和DC插座，AC插座连接市电系统，DC插座连接至逆变器。
5.根据权利要求1所述的一种电脑电源老化测试柜，其特征在于，所述柜体两侧设置有半导体制冷器和加热管的供电端。
6.根据权利要求1所述的一种电脑电源老化测试柜，其特征在于，所述柜体的顶部设置有排气风扇。
7.根据权利要求1所述的一种电脑电源老化测试柜，其特征在于，所述柜体内设有第一温度传感器。
8.根据权利要求1所述的一种电脑电源老化测试柜，其特征在于，所述测试箱内设有第二温度传感器。
9.根据权利要求1所述的一种电脑电源老化测试柜，其特征在于，所述柜体一侧设置有控制器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202021271527.5U CN213149200U (zh) | 2020-07-03 | 2020-07-03 | 一种电脑电源老化测试柜 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202021271527.5U CN213149200U (zh) | 2020-07-03 | 2020-07-03 | 一种电脑电源老化测试柜 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN213149200U true CN213149200U (zh) | 2021-05-07 |
Family
ID=75730862
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202021271527.5U Active CN213149200U (zh) | 2020-07-03 | 2020-07-03 | 一种电脑电源老化测试柜 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN213149200U (zh) |
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2020
- 2020-07-03 CN CN202021271527.5U patent/CN213149200U/zh active Active
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