CN116538908B - 一种检测平面型物体不平度的系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种检测平面型物体不平度的系统，用于放置待检测平面型物体的平台、平行固定在平台两端的第一固定滑轨和第二固定滑轨、以预设连接方式分别垂直连接至所述第一固定滑轨和所述第二固定滑轨的滑动滑轨、以预设间隔设置在所述滑动轨道且距离所述平台高度相同的电容传感器、电容传感芯片、MCU和PC；当PC执行计算机程序时，实现如下步骤：获取每一电容传感器在不同位置采集到的与所述待检测平面型物体表面的距离信息，获取所述距离信息中的最大值作为最低点参数，获取所述距离信息中的最小值作为最高点参数，基于最低点参数和最高点参数，获取所述待检测平面型物体的不平度，从而更加精准地获取到不平度。

Description

一种检测平面型物体不平度的系统

技术领域

本发明涉及物体检测领域，特别是涉及一种检测平面型物体不平度的系统。

背景技术

在平面型材料检验中，需要对平面型材料进行不平度检测，不平度会直接影响到后续该平面型材料的使用，例如该材料的焊接及不同材料之间的间隙，甚至会影导致其它性能异常。现有技术中，测定不平度的方法一般为目测法，对难以把握的平面型材料，用直尺测量，然而采用这样的方法测量并不准确，现有技术中也有一些检测装置通过光学检测或激光检测的方法来对平面型材料进行检测，但是，光学检测、激光检测经常容易受到外界环境光的干扰，导致测量不准确。

发明内容

针对上述技术问题，本发明采用的技术方案为：

一种检测平面型物体不平度的系统，所述系统包括：用于放置待检测平面型物体的平台、平行固定在平台两端的第一固定滑轨和第二固定滑轨、以预设连接方式分别垂直连接至所述第一固定滑轨和所述第二固定滑轨的滑动滑轨、以预设间隔t设置在所述滑动轨道且距离所述平台高度相同的m个电容传感器、电容传感芯片、MCU和PC，所述PC包括存储有计算机程序的存储器，所述电容传感芯片用于将电容传感器采集的电容量转化为数字量，所述MCU接收数字量并转化为距离信息，且将所述距离信息传输到PC。

当PC执行计算机程序时，实现如下步骤：

S100，获取每一电容传感器在不同位置采集到的与所述待检测平面型物体表面的距离信息，所述不同位置通过所述滑动滑轨按照预设方式滑动得到。

S200，获取所述距离信息中的最大值作为最低点参数d₀₁，获取所述距离信息中的最小值作为最高点参数d₀₂。

S300，基于最低点参数d₀₁和最高点参数d₀₂，获取所述待检测平面型物体的不平度U。

本发明至少具有以下有益效果：综上，本发明通过在固定于两个固定滑轨上的滑动滑轨上设置按照一定间隔设置的电容传感器、通过滑动滑轨的滑动带动电容传感器来获取待检测平面型物体的不平度参数，一方面可以减少传感器的数量，降低检测成本，另一方面也降低了数据采集的数量，便于检测待检测平面型物体的不平度。进一步，本申请通过在首次获取最高点和最低点后，通过在最高点或最低点附近进行垂直检测策略，进一步增加了检测数据的准确度，提高了不平度检测的准确性，且不会占据过多的存储空间。经试验表明，本申请的不平度检测方法可以有效满足实际生产的需要，适用性强，不容易受到检测环境或被检测物体材质的影响。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种检测平面型物体不平度的系统执行计算机程序时的流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例提供了所述系统包括：用于放置待检测平面型物体的平台、平行固定在平台两端的第一固定滑轨和第二固定滑轨、以预设连接方式分别垂直连接至所述第一固定滑轨和所述第二固定滑轨的滑动滑轨、以预设间隔t设置在所述滑动轨道且距离所述平台高度相同的m个电容传感器、电容传感芯片、MCU和PC，所述PC包括存储有计算机程序的存储器，所述电容传感芯片用于将电容传感器采集的电容量转化为数字量，所述MCU接收数字量并转化为距离信息，且将距离信息传输到PC。

具体的，所述MCU和PC通过CAN总线通信连接，所述PC获取距离信息进行分析汇总。

由于电容传感器对检测环境中的光不敏感，因此，使用电容传感器来获取待检测平面型物体的不平度参数，可以有效避免检测环境中的光，或者被待检测平面型物体反射的光对检测精准度的影响。

具体的，如图1所示，当PC执行计算机程序时，实现如下步骤：

S100，获取每一电容传感器在不同位置采集到的与所述待检测平面型物体表面的距离信息，所述不同位置通过所述滑动滑轨按照预设方式滑动得到。本领域人员可知，电容传感器在检测的过程中，可以将被检测的距离信息转换为对应的电容数值，且电容数值和距离信息成反比，因此，本领域技术人员可以通过电容传感器的电容数值来获取相应的距离信息。

具体的，所述待检测平面型物体可以为除空气外具有电介质的导电物体，也可以为塑料等具有介电常数的非导电材料。

S200，获取所述距离信息中的最大值作为最低点参数d₀₁，获取所述距离信息中的最小值作为最高点参数d₀₂。

S300，基于最低点参数d₀₁和最高点参数d₀₂，获取所述待检测平面型物体的不平度U。

具体的，待检测平面型物体的不平度U=α*d₀₁-β*d₀₂，其中，α为第一预设因子且α＞1，β为第二预设因子且β＜1。在本发明的另一个实施例中，U=γ*（d₀₁-d₀₂），第三预设因子γ＞1，即通过调整第三预设因子，可以有效避免因为测量数据的不精确导致的不平度检测误差。

综上，本发明通过在固定于两个固定滑轨上的滑动滑轨上设置按照一定间隔设置的电容传感器、通过滑动滑轨的滑动带动电容传感器来获取待检测平面型物体的不平度参数，一方面可以减少传感器的数量，降低检测成本，另一方面也降低了数据采集的数量，便于检测待检测平面型物体的不平度。进一步，本申请通过在首次获取最高点和最低点后，通过在最高点或最低点附近进行垂直检测策略，进一步增加了检测数据的准确度，提高了不平度检测的准确性，且不会占据过多的存储空间。经试验表明，本申请的不平度检测方法可以有效满足实际生产的需要，适用性强，不容易受到检测环境或被检测物体材质的影响。

进一步的，S100包括：

获取第i个电容传感器A_i在B_j处采集的与所述待检测平面型物体表面的距离信息D_i,j，进而获取每一电容传感器在不同位置采集到的与所述待检测平面型物体表面的距离信息，其中，1≤i≤m，B_j是滑动滑轨沿预设方向移动j个预设步长s后的位置，j的取值范围是0到n，当j=0时，滑动滑轨位于所述第一固定滑轨和所述第二固定滑轨的起始端，当j=n时，滑动滑轨位于所述第一固定滑轨和所述第二固定滑轨的尾端，n是滑动滑轨在第一固定滑轨和第二固定滑轨上沿预设方向、以s为步长移动的最大步数。

进一步的，S100包括如下步骤：

S10，获取滑动滑轨滑动k次后的对应位置B_k处，第i个电容传感器采集的与所述待检测平面型物体表面的距离信息D_i,k，其中，1≤i≤m，且滑动滑轨的滑动初始位置为所述第一固定滑轨和所述第二固定滑轨的起始端，滑动初始方向为从第一固定滑轨和第二固定滑轨的起始端指向所述第一固定滑轨和所述第二固定滑轨的尾端。

具体的，通过滑动滑轨上的电容传感器采集电容信息，通过电容决定式C=εS/4πkd，其中，d=εS/C4πk，其中，ε为相对介电常数，S为电容传感器的表面面积，k为静电力常数，因此，在采集到电容信息的情况下，可以通过电容信息获取到待检测物体和电容传感器之间的距离信息。

S20，获取滑动滑轨滑动k+1次后的对应位置B_k+1处，第i个电容传感器采集的与所述待检测平面型物体表面的距离信息D_i,k+1，其中，以B_k滑动起点、按照所述滑动初始方向滑动一个预设步长s后对应的位置为B_k+1。

S30，当D_i,k+1不等于D_i,k时，控制滑动滑轨从B_k+1处滑动到B_k+2，并获取B_k+2处第i个电容传感器采集的与所述待检测平面型物体表面的距离信息D_i,k+2；且当D_i,k+1＞D_i,k时，执行S40，当D_i,k+1＜D_i,k时，执行S50，其中，B_k+2是所述滑动滑轨以B_k+1为滑动起点、按照所述滑动初始方向的反方向滑动s/2距离后A_i的位置。

具体的，当D_i,k+1不等于D_i,k时，认为待检测平面型物体出现了不平整，可能出现最低点或最高点，控制滑动滑轨以B_k+1为滑动起点、按照所述滑动初始方向的反方向滑动s/2距离，并采集滑动滑轨B_k+2的距离信息D_i,k+2，避免最低点或最高点出现在步长之间，没有被电容传感器采集到的情况。

S40，当D_i,k+2＞D_i,k+1时，控制滑动滑轨以B_k+2为滑动起点、按照预设步长s沿滑动初始方向移动；当D_i,k+2＜D_i,k+1且D_i,k+2≥D_i,k时，控制滑动滑轨从B_k+2移动到B_k+1处，再从B_k+1处以预设步长s沿滑动初始方向移动。

S50，当D_i,k+2＜D_i,k+1时，控制滑动滑轨以B_k+2为滑动起点、按照预设步长s沿滑动初始方向移动；当D_i,k+2＞D_i,k+1且D_i,k+2≤D_i,k时，控制滑动滑轨从B_k+2移动到B_k+1位置处，再从B_k+1处以预设步长s沿滑动初始方向移动。

综上，获取滑动滑轨滑动k次后的对应位置B_k处，第i个电容传感器采集的与所述待检测平面型物体表面的距离信息D_i,k，获取滑动滑轨滑动k+1次后的对应位置B_k+1处，第i个电容传感器采集的与所述待检测平面型物体表面的距离信息D_i,k+1，当D_i,k+1不等于D_i,k时，控制滑动滑轨从B_k+1处滑动到B_k+2，并获取B_k+2处第i个电容传感器采集的与所述待检测平面型物体表面的距离信息D_i,k+2，且当D_i,k+1＞D_i,k时，当D_i,k+2＞D_i,k+1时，控制滑动滑轨以B_k+2为滑动起点、按照预设步长s沿滑动初始方向移动；当D_i,k+2＜D_i,k+1且D_i,k+2≥D_i,k时，控制滑动滑轨从B_k+2移动到B_k+1处，再从B_k+1处以预设步长s沿滑动初始方向移动，当D_i,k+1＜D_i,k时，当D_i,k+2＜D_i,k+1时，控制滑动滑轨以B_k+2为滑动起点、按照预设步长s沿滑动初始方向移动；当D_i,k+2＞D_i,k+1且D_i,k+2≤D_i,k时，控制滑动滑轨从B_k+2移动到B_k+1位置处，再从B_k+1处以预设步长s沿滑动初始方向移动，本发明通过当检测到不平度趋势时，进行滑动滑轨的后退，从而更加精准的采集最高点和最低点，从而更加精准的获取到不平度。

进一步，本发明还可用于检测非金属光滑平面的不平度。

具体的，S200还包括如下步骤：

S001，获取d₀₁在所述待检测平面型物体对应的位置Y_d01，且将滑动滑轨移动到Y_d01。

S002，控制m个电容传感器以第二预设方向以t/k₁的步长移动k₁次，获取第二距离列表sd={sd_1,1，sd_1,2，…，sd_1,k1，sd_2,1，sd_2,2，…，sd_2,k1，…，sd_i,1，sd_i,2，…，sd_i,k1，…，sd_m,1，sd_m,2，…，sd_m,k1}，其中，sd_i,1，sd_i,2，…，sd_i,k1为电容传感器A_i在Y_d01处沿第二预设方向移动k₁次分别采集的与所述待检测平面型物体表面对应的距离，k₁是第一步长移动比例因子且k₁＞1，所述第二预设方向与所述滑动初始方向垂直。

具体的，k₁可根据实际需求设置。

S003，获取sd₀₁=max（sd_1,1，sd_1,2，…，sd_1,k1，sd_2,1，sd_2,2，…，sd_2,k1，…，sd_i,1，sd_i,2，…，sd_i,k1，…，sd_m,1，sd_m,2，…，sd_m,k1），其中，max为预设的取最大值函数。

其中，每一电容传感器以t/k₁的步长向第二预设方向移动k₁次，每次移动电容传感器的列表中每一电容传感器采集一次电容值，因此，sd₁={sd_1,1，sd_1,2，…，sd_1,k1}，sd₂={sd_2,1，sd_2,2，…，sd_2,k1}，…，sd_i={sd_i,1，sd_i,2，…，sd_i,k1}，…，sd_m={sd_m,1，sd_m,2，…，sd_m,k1}，sd₁是电容传感器A₁在Y_d02以第二方向上移动k₁次分别采集的电容值对应的距离列表，sd₂是电容传感器A₂在Y_d02以第二方向上移动k₁次分别采集的电容值对应的距离列表，sd_m是电容传感器A_m在Y_d02以第二方向上移动k₁次分别采集的电容值对应的距离列表。

S004，将sd₀₁赋值给d₀₁，并执行S300。

综上，通过获取d₀₁对应在预设方向上对应的位置Y_d01，且将滑动滑轨移动到Y_d01，控制m个电容传感器沿着与所述预设方向垂直的第二预设方向以t/k₁的步长移动k₁次，获取第二距离列表，获取第二距离列表中的最小值，从而获取不平度，从而更加精准的找到待检测物体的最低点，避免了最低点出现在两个电容传感器的预设间隔内的情况。

进一步的，S200还包括如下步骤：

S0011，获取d₀₁对应的电容传感器A₀₁，将电容传感器A₀₁从Y_d01以第二预设方向按照第三步长移动，其中，第三步长=t/k₂，k₂是第二步长比例因子且k₂＞1，其中，d₀₁在所述待检测平面型物体对应的位置为Y_d01。

S0012，获取A₀₁向第二预设方向以第三步长移动q次时的距离信息D_01,q。

S0013，当D_01,q＜D_01,q-1时，设置q=q+1，执行S0012，D_01,q-1是A₀₁从Y_d01以第二预设方向以第三步长移动q-1次的距离信息。

S0014，当D_01,q＞D_01,q-1时，将D_01,q赋值给d₀₁并执行S300，其中，q的取值范围是1到k₂-1。

S0015，当D_01,q=D_01,q-1时，将电容传感器A₀₁从移动q个第三步长处向第二预设方向的反方向移动第三步长的一半，并获取此处的距离信息DA_01,q，将DA_01,q赋值给d₀₁，并执行S300。

综上，获取d₀₁对应的电容传感器A₀₁，将电容传感器A₀₁以Y_d01为滑动起点、第三步长为滑动步长沿着与所述预设方向垂直的第二预设方向移动，获取A₀₁移动q个第三步长时的距离信息D_01,q，当D_01,q＜D_01,q-1时，将D_01,q赋值给d₀₁，当D_01,q=D_01,q-1时，将电容传感器A₀₁从移动q个第三步长处沿着与所述预设方向垂直的第二预设方向移动第三步长的一半，并获取此时的距离信息DA_01,q，从而求得不平度，通过上述步骤，使得电容传感器A₀₁预设间隔t内移动，采集多个电容值，从而更加准确的获取待检测物体的最低点，且只对单一电容传感器进行了移动，增加了效率。

更进一步的，S200还包括如下步骤：

S701，获取d₀₂在预设方向上对应的位置Y_d02，且将滑动滑轨移动到Y_d02；

S702，控制m个电容传感器沿着与所述滑动初始方向垂直的第二预设方向以t/k₁的步长移动k₁次，获取第三距离列表fd={fd_1,1，fd_1,2，…，fd_1,k1，fd_2,1，fd_2,2，…，fd_2,k1，…，fd_i,1，fd_i,2，…，fd_i,k1，…，fd_m,1，fd_m,2，…，fd_m,k1}，其中，fd_i,1，fd_i,2，…，fd_i,k1为电容传感器A_i在Y_d02处以第二预设方向上移动k₁次分别采集的与所述待检测平面型物体表面对应的距离，k₁是第一步长移动比例因子且k₁＞1；

S703，获取fd₀₂=min（sd_1,1，sd_1,2，…，sd_1,k1，sd_2,1，sd_2,2，…，sd_2,k1，…，sd_i,1，sd_i,2，…，sd_i,k1，…，sd_m,1，sd_m,2，…，sd_m,k1），min为预设的取最小值函数；

S704，将fd₀₂赋值给d₀₂，并执行S300。

综上，通过获取d₀₂对应在预设方向上对应的位置Y_d02，且将滑动滑轨移动到Y_d02，控制m个电容传感器沿着与所述预设方向垂直的第二预设方向以t/k₁的步长移动k₁次，获取第三距离列表fd，获取第二距离列表中的最大值，从而获取不平度，从而更加精准的找到待检测物体的最高点，避免了最低点出现在两个电容传感器的预设间隔内的情况。

此外，本发明还包括通过如下步骤获取电容传感器的半径r：

S610，获取待检测平面型物体的面积AR。

S620，获取电容传感器的极板半径r=（AR*AC/π）^1/2，其中AC为预设检测精度。

更进一步的，AC的取值范围为[0.5%，3%]，优选的AC=1%。且，当AC=1%时，采用本方法获取的不平度检测准确度可达到99%。

综上，通过预设精度确定电容传感器的极板半径，使得通过电容传感器获取的最高点和最低点更精确。

虽然已经通过示例对本发明的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上示例仅是为了进行说明，而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员还应理解，可以对实施例进行多种修改而不脱离本发明的范围和精神。本发明开的范围由所附权利要求来限定。

Claims (9)

1.一种检测平面型物体不平度的系统，其特征在于，所述系统包括：用于放置待检测平面型物体的平台、平行固定在平台两端的第一固定滑轨和第二固定滑轨、以预设连接方式分别垂直连接至所述第一固定滑轨和所述第二固定滑轨的滑动滑轨、以预设间隔t设置在所述滑动滑轨且距离所述平台高度相同的m个电容传感器、电容传感芯片、MCU和PC，所述PC包括存储有计算机程序的存储器，所述电容传感芯片用于将电容传感器采集的电容量转化为数字量，所述MCU接收数字量并转化为距离信息，且将所述距离信息传输到PC；

当PC执行计算机程序时，实现如下步骤：

S100，获取每一电容传感器在不同位置采集到的与所述待检测平面型物体表面的距离信息，所述不同位置通过所述滑动滑轨按照预设方式滑动得到；

S200，获取所述距离信息中的最大值作为最低点参数d₀₁，获取所述距离信息中的最小值作为最高点参数d₀₂；

S300，基于最低点参数d₀₁和最高点参数d₀₂，获取所述待检测平面型物体的不平度U；

其中，S100具体包括：

S10，获取滑动滑轨滑动k次后的对应位置B_k处，第i个电容传感器采集的与所述待检测平面型物体表面的距离信息D_i,k，其中，1≤i≤m，且滑动滑轨的滑动初始位置为所述第一固定滑轨和所述第二固定滑轨的起始端，滑动初始方向为从第一固定滑轨和第二固定滑轨的起始端指向所述第一固定滑轨和所述第二固定滑轨的尾端；

S20，获取滑动滑轨滑动k+1次后的对应位置B_k+1处，第i个电容传感器采集的与所述待检测平面型物体表面的距离信息D_i,k+1，其中，以B_k滑动起点、按照所述滑动初始方向滑动一个预设步长s后对应的位置为B_k+1；

S30，当D_i,k+1不等于D_i,k时，控制滑动滑轨从B_k+1处滑动到B_k+2，并获取B_k+2处第i个电容传感器采集的与所述待检测平面型物体表面的距离信息D_i,k+2；且当D_i,k+1＞D_i,k时，执行S40，当D_i,k+1＜D_i,k时，执行S50，其中，B_k+2是所述滑动滑轨以B_k+1为滑动起点、按照所述滑动初始方向的反方向滑动s/2距离后A_i的位置；

S40，当D_i,k+2＞D_i,k+1时，控制滑动滑轨以B_k+2为滑动起点、按照预设步长s沿滑动初始方向移动；当D_i,k+2＜D_i,k+1且D_i,k+2≥D_i,k时，控制滑动滑轨从B_k+2移动到B_k+1处，再从B_k+1处以预设步长s沿滑动初始方向移动；

S50，当D_i,k+2＜D_i,k+1时，控制滑动滑轨以B_k+2为滑动起点、按照预设步长s沿滑动初始方向移动；当D_i,k+2＞D_i,k+1且D_i,k+2≤D_i,k时，控制滑动滑轨从B_k+2移动到B_k+1位置处，再从B_k+1处以预设步长s沿滑动初始方向移动。

2.根据权利要求1所述的检测平面型物体不平度的系统，其特征在于，S100具体包括：

获取第i个电容传感器A_i在B_j处采集的与所述待检测平面型物体表面的距离信息D_i,j，进而获取每一电容传感器在不同位置采集到的与所述待检测平面型物体表面的距离信息，其中，1≤i≤m，B_j是滑动滑轨沿预设方向移动j个预设步长s后的位置，j的取值范围是0到n，当j=0时，滑动滑轨位于所述第一固定滑轨和所述第二固定滑轨的起始端，当j=n时，滑动滑轨位于所述第一固定滑轨和所述第二固定滑轨的尾端，n是滑动滑轨在第一固定滑轨和第二固定滑轨上沿预设方向、以s为步长移动的最大步数。

3.根据权利要求1所述的检测平面型物体不平度的系统，其特征在于，S200还包括有如下步骤：

S001，获取d₀₁在所述待检测平面型物体对应的位置Y_d01，且将滑动滑轨移动到Y_d01；

S002，控制m个电容传感器以第二预设方向以t/k₁的步长移动k₁次，获取第二距离列表sd={sd_1,1，sd_1,2，…，sd_1,k1，sd_2,1，sd_2,2，…，sd_2,k1，…，sd_i,1，sd_i,2，…，sd_i,k1，…，sd_m,1，sd_m,2，…，sd_m,k1}，其中，sd_i,1，sd_i,2，…，sd_i,k1为电容传感器A_i在Y_d01处沿第二预设方向移动k₁次分别采集的与所述待检测平面型物体表面对应的距离，k₁是第一步长移动比例因子且k₁＞1，所述第二预设方向与所述滑动初始方向垂直；

S003，获取sd₀₁=max（sd_1,1，sd_1,2，…，sd_1,k1，sd_2,1，sd_2,2，…，sd_2,k1，…，sd_i,1，sd_i,2，…，sd_i,k1，…，sd_m,1，sd_m,2，…，sd_m,k1），其中，max为预设的取最大值函数；

S004，将sd₀₁赋值给d₀₁，并执行S300。

4.根据权利要求1所述的检测平面型物体不平度的系统，其特征在于，S200还包括有如下步骤：

S0011，获取d₀₁对应的电容传感器A₀₁，将电容传感器A₀₁从Y_d01以第二预设方向按照第三步长移动，其中，第三步长=t/k₂，k₂是第二步长比例因子且k₂＞1，其中，d₀₁在所述待检测平面型物体对应的位置为Y_d01；

S0012，获取A₀₁向第二预设方向以第三步长移动q次时的距离信息D_01,q；

S0013，当D_01,q＜D_01,q-1时，设置q=q+1，执行S0012，D_01,q-1是A₀₁从Y_d01以第二预设方向以第三步长移动q-1次的距离信息；

S0014，当D_01,q＞D_01,q-1时，将D_01,q赋值给d₀₁并执行S300，其中，q的取值范围是1到k₂-1；

S0015，当D_01,q=D_01,q-1时，将电容传感器A₀₁从移动q个第三步长处向第二预设方向的反方向移动第三步长的一半，并获取此处的距离信息DA_01,q，将DA_01,q赋值给d₀₁，并执行S300。

5.根据权利要求1所述的检测平面型物体不平度的系统，其特征在于，所述电容传感器的形状为圆柱形。

6.根据权利要求5所述的检测平面型物体不平度的系统，其特征在于，通过如下步骤获取电容传感器的半径：

S610，获取待检测平面型物体的面积AR；

S620，获取电容传感器的极板半径r=（AR*AC/π）^1/2，其中AC为预设检测精度。

7.根据权利要求6所述的检测平面型物体不平度的系统，其特征在于，AC=1%。

8.根据权利要求1所述的检测平面型物体不平度的系统，其特征在于，S200还包括如下步骤：

S701，获取d₀₂在预设方向上对应的位置Y_d02，且将滑动滑轨移动到Y_d02；

S702，控制m个电容传感器沿着与所述滑动初始方向垂直的第二预设方向以t/k₁的步长移动k₁次，获取第三距离列表fd={fd_1,1，fd_1,2，…，fd_1,k1，fd_2,1，fd_2,2，…，fd_2,k1，…，fd_i,1，fd_i,2，…，fd_i,k1，…，fd_m,1，fd_m,2，…，fd_m,k1}，其中，fd_i,1，fd_i,2，…，fd_i,k1为电容传感器A_i在Y_d02处以第二预设方向上移动k₁次分别采集的与所述待检测平面型物体表面对应的距离，k₁是第一步长移动比例因子且k₁＞1；

S703，获取fd₀₂=min（sd_1,1，sd_1,2，…，sd_1,k1，sd_2,1，sd_2,2，…，sd_2,k1，…，sd_i,1，sd_i,2，…，sd_i,k1，…，sd_m,1，sd_m,2，…，sd_m,k1），min为预设的取最小值函数；

S704，将fd₀₂赋值给d₀₂，并执行S300。

9.根据权利要求1所述的检测平面型物体不平度的系统，其特征在于，待检测平面型物体的不平度U=α*d₀₁-β*d₀₂，其中，α为第一预设因子且α＞1，β为第二预设因子且β＜1。