CN108759678A - 散热片尺寸及平整度线上自动测量设备及其测量方法 - Google Patents

Abstract

本发明属于电子测量设备技术领域，具体涉及散热片尺寸及平整度线上自动测量设备及其测量方法，所述设备包括机箱，所述机箱上设置有同步传送带，所述同步传送带上方两侧均平行设置有位移传感器和辅助光源，所述机箱顶部对应同步传送带设置有检测成像系统，所述同步传送带、位移传感器、辅助光源和检测成像系统均电性连接有处理系统；所述方法包括利用位移传感器进行平整度检测和利用检测成像系统进行尺寸检测。本发明可实现生产线上的散热片尺寸和平整度的自动检测，速度快，准确度高且不会漏检，有助于提升产品质量。

Description

散热片尺寸及平整度线上自动测量设备及其测量方法

技术领域

本发明涉及电子测量设备技术领域，具体而言，涉及散热片尺寸及平整度线上自动测量设备及其测量方法。

背景技术

散热片是很多电子设备的必备零件。目前散热片主要测量其表面的平整度及尺寸，尺寸包括外轮廓尺寸，内孔到边的距离，及各个台阶到边的距离等。平整度现有的测量方法为产品放在水平平台上，然后用塞规测量。从0.05mm厚的塞规一直到0.3mm厚的塞规进行塞缝，假如刚好0.15mm塞规塞不进去，明其平整度为0.15mm。而尺寸测量的方法则为传统的游标卡尺进行一个个尺寸测量，并记录。

以上两个测量方法均耗时，耗人工，一个产品的平整度及尺寸测量完成并记录数据大约需要1～2分钟。由于效率成本问题，采用人工检测的散热片生产线只能做到抽检，无法实现全检，无法全面地保证产品质量。因此，为了提高产品质量，提高企业竞争力，研发一种可以自动检测散热片的设备具有必要性。

发明内容

为了解决人工检测散热片耗时耗力，成本较高，无法进行全检，不利于产品质量的提高的问题，提供散热片尺寸及平整度线上自动测量设备及其测量方法。

散热片尺寸及平整度线上自动测量设备，包括机箱，所述机箱上设置有同步传送带，所述同步传送带上方两侧均平行设置有位移传感器和辅助光源，所述机箱顶部对应同步传送带设置有检测成像系统，所述同步传送带、位移传感器、辅助光源和检测成像系统均电性连接有处理系统。

进一步地，所述检测成像系统包括线阵相机，所述辅助光源为线扫光源。

进一步地，所述机箱前端设置有触控显示屏，所述触控显示屏电性连接处理系统。

进一步地，所述机箱底部设置有移动滑轮。

一种应用于上述测量设备的测量方法，其特征在于，具体包括以下步骤：

同步传送带将产品输送进入机箱中；

产品在机箱中移动时，位移传感器同步测量产品的高度，检测成像系统同步对产品进行扫描拍照；

处理系统汇总位移传感器测得的同一个产品的高度数据，并用最大值减去最小值，得出最大变化值，从而得出产品的平整度；

处理系统对检测成像系统拍摄的图片进行灰度处理并高斯变换和中值滤波，生成一张预处理图片；

用原图与预处理图片进行差值运算，并利用Sobel算子和灰度大小阈值准确找出产品的轮廓并转化为矢量图；

根据预设检测要求，测量出产品轮廓像素值，将该像素值按比例转换为mm为单位的尺寸值，并通过弧度查找，找到产品上所有的圆孔，并计算器坐标，然后计算出圆孔的直径及到边的距离；

将平整度信息和尺寸信息与预设定的标准做比对，给出不合格或合格显示。

进一步地，所述同步传送带的前进速度为30cm/s。

本发明的优点在于：

1、可以在生产线上自动对散热片的尺寸及平整度进行质检，有效节约了人力资源，提高生产效率。

2、实现了散热片的全面检测，替代了人工抽检，有助于提升产品质量。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为散热片尺寸及平整度线上自动测量设备的结构示意图；

图2为散热片尺寸及平整度线上自动测量方法的流程图。

附图标识：

1-机箱，2-同步传送带，3-位移传感器，4-线扫光源，5-线阵相机，6-处理系统，7-触控显示屏，8-移动滑轮。

具体实施方式

为了解决人工检测散热片耗时耗力，成本较高，无法进行全检，不利于产品质量的提高的问题，提供散热片尺寸及平整度线上自动测量设备及其测量方法。

使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1所示，本实施例提供散热片尺寸及平整度线上自动测量设备，包括机箱1，所述机箱1上设置有同步传送带2，所述同步传送带2上方两侧均平行设置有位移传感器3和线扫光源4，所述机箱1顶部对应同步传送带2设置有线阵相机5，所述同步传送带2、位移传感器3、线扫光源4和线阵相机5均电性连接有处理系统6。本实施例工作时，同步传送带2可不断地传送多个散热片，而检测时同步输送带2无需停顿，效率较高。线阵相机5适用于检测连续的材料，例如金属、塑料、纸和纤维等，可以准确测量到微米级别。被检测的物体作匀速运动,利用一台或多台相机对其逐行连续扫描,可达到对其整个表面均匀检测。由于线阵相机5的传感器是一条线，传感器感受到的光非常有限。因此需要配套专门的线扫光源4进行补光。而处理系统6可以采用一般的PC，其配置为CPU i3以上，内存2G以上，硬盘500G以上，操作系统XP以上即可，便于获取，成本较低。

所述机箱1前端设置有触控显示屏7，所述触控显示屏7电性连接处理系统6。触控显示屏7方便了工作人员监视设备运行情况和控制设备参数，可提高生产效率。

述机箱底1部设置有移动滑轮8。自动滑轮8方便了本实施例的移动步骤，便于安装与维护。

如图2所示本实施例还提供一种应用于上述测量设备的测量方法，其特征在于，具体包括以下步骤：

步骤S01，同步传送带2以30cm/s的速度将产品输送进入机箱1中；

步骤S02，产品在机箱1中移动时，位移传感器3同步测量产品的高度，检线阵相机5同步对产品进行扫描拍照；

步骤S03，处理系统6汇总位移传感器3测得的同一个产品的高度数据，并用最大值减去最小值，得出最大变化值，从而得出产品的平整度；

步骤S04，处理系统对线阵相机5拍摄的图片进行灰度处理并高斯变换和中值滤波，生成一张预处理图片；

步骤S05，用原图与预处理图片进行差值运算，并利用Sobel算子和灰度大小阈值准确找出产品的轮廓并转化为矢量图；

步骤S06，根据预设检测要求，测量出产品轮廓像素值，将该像素值按比例转换为mm为单位的尺寸值，并通过弧度查找，找到产品上所有的圆孔，并计算器坐标，然后计算出圆孔的直径及到边的距离；

步骤S07，将平整度信息和尺寸信息与预设定的标准做比对，给出不合格或合格显示。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明，即凡依本申请范围所作均等变化与修饰，皆应仍属本发明涵盖范围内。

Claims (6)

1.散热片尺寸及平整度线上自动测量设备，包括机箱，其特征在于，所述机箱上设置有同步传送带，所述同步传送带上方两侧均平行设置有位移传感器和辅助光源，所述机箱顶部对应同步传送带设置有检测成像系统，所述同步传送带、位移传感器、辅助光源和检测成像系统均电性连接有处理系统。

2.根据权利要求1所述的散热片尺寸及平整度线上自动测量设备，其特征在于，所述检测成像系统包括线阵相机，所述辅助光源为线扫光源。

3.根据权利要求1所述的散热片尺寸及平整度线上自动测量设备，其特征在于，所述机箱前端设置有触控显示屏，所述触控显示屏电性连接处理系统。

4.根据权利要求1所述的散热片尺寸及平整度线上自动测量设备，其特征在于，所述机箱底部设置有移动滑轮。

5.一种应用于如权利要求1-4任一所述的测量设备的测量方法，其特征在于，具体包括以下步骤：

同步传送带将产品输送进入机箱中；

产品在机箱中移动时，位移传感器同步测量产品的高度，检测成像系统同步对产品进行扫描拍照；

处理系统汇总位移传感器测得的同一个产品的高度数据，并用最大值减去最小值，得出最大变化值，从而得出产品的平整度；

处理系统对检测成像系统拍摄的图片进行灰度处理并高斯变换和中值滤波，生成一张预处理图片；

用原图与预处理图片进行差值运算，并利用Sobel算子和灰度大小阈值准确找出产品的轮廓并转化为矢量图；

根据预设检测要求，测量出产品轮廓像素值，将该像素值按比例转换为mm为单位的尺寸值，并通过弧度查找，找到产品上所有的圆孔，并计算器坐标，然后计算出圆孔的直径及到边的距离；

将平整度信息和尺寸信息与预设定的标准做比对，给出不合格或合格显示。

6.如权利要求5所述的测量方法，其特征在于，所述同步传送带的前进速度为30cm/s。