CN116359717B - 一种oled面板驱动ic的连续测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种OLED面板驱动IC的连续测试装置，包括安装架，所述安装架的底部还固定连接有多个平衡滑架，还包括：承载构件，连接于所述平衡滑架的内壁，用于搭载测试部件并且使所述测试部件转动至测试位置；其中，所述承载构件包括滑动连接于多个平衡滑架底端的承载基座，所述承载基座包括卡嵌部，通过卡扣卡接于所述卡嵌部底部的密封部。本申请通过磁控开关、电路层测试板、接触单元以及导电环的设置，磁性弹片通电磁化即可实现相应电路层测试板的电路连通，再配合针座内的测试探针实现对驱动IC的检测，同时测试探针还可反向插接在针座内，人员可以根据测试需要组装相应的探针数量，且翻转后的探针能够实现对针座的相对密封。

Description

一种OLED面板驱动IC的连续测试装置

技术领域

本发明涉及测试装置领域，具体而言，涉及一种OLED面板驱动IC的连续测试装置。

背景技术

LED数码显示屏的点亮需要通过驱动IC（即驱动芯片）运行驱动程序来进行驱动，不同型号的LED数码显示屏其对应的驱动程序是不同的，因此，每一型号的LED数码显示屏都需要配备对应的驱动程序电路，在对驱动IC测试中，需要通过探针进行接触检测，并通过探针将所测电信号回传至测试机台以供分析。

经检索，在中国专利申请CN108445378A中，公开了一种LED驱动板测试装置，包括装置本体和LED测试灯，所述装置本体上设有第一电流表、测试电机、测试风机、探针组、显示屏、选择键、电源接口、开关、测试灯连接线和存储了测试程序的控制板，通过将驱动板与测试电机、测试风机和LED测试灯与驱动板相连，并设置第一电流表，使驱动板驱动测试电机、测试风机和LED测试灯工作，可直接肉眼、直观进行观察，并且还能观测电流，一次性检测线路板的好坏和性能，快速测试且准确，装置操作简单方便，有利于流水线作业，驱动板放在探针上，可避免多次接拆线，不易出错。

但是在实际使用过程中，其虽然能够对驱动IC进行检测，但是不方便对检测探针组进行更换和调节，不能适用连续检测需要，导致检测效率降低；

因此我们对此做出改进，提出一种OLED面板驱动IC的连续测试装置。

发明内容

本发明的目的在于：针对目前存在的不方便对检测探针组进行更换和调节，难以适用连续检测需要的问题。

为了实现上述发明目的，本发明提供了以下技术方案：

OLED面板驱动IC的连续测试装置，以改善上述问题。

本申请具体是这样的：

包括安装架，所述安装架的底部还固定连接有多个平衡滑架，还包括：

承载构件，连接于所述平衡滑架的内壁，用于搭载测试部件并且使所述测试部件转动至测试位置，从而方便及时更换相应的测试部件以实现连续测试的目的；

其中，所述承载构件包括滑动连接于多个平衡滑架底端的承载基座，所述承载基座包括卡嵌部，通过卡扣卡接于所述卡嵌部底部的密封部，可拆卸连接的方式方便人员拆装，为后期的维修提供便利；

所述测试部件包括：

六个磁控开关，环形阵列于所述卡嵌部的内壁，且每个所述磁控开关均通过导线电连接有电路层测试板，电路层测试板实现电连接后，可以将检测数据发送至检测设备进行检测分析；

电路层测试板，嵌设于所述卡嵌部的内底壁，该电路层测试板上设有若干测试接点，用于测试被测驱动IC引脚的电信状态；

接触单元，所述接触单元用于接触待测驱动IC，使所述驱动IC引脚与对应的电路层测试板电连接，从而方便快速对接驱动IC；

导电环，嵌设于所述卡嵌部的中部，该导电环包括支撑座，连接于支撑座外壁的六个支撑杆，连接于六个支撑杆端部的环体，以及固定连接于环体外壁的六个供电端子，从而方便通过六个供电端子进行电连接；

其中，所述支撑座的中部设置有母信号线，该母信号线的内部嵌设有六条子信号线，六个所述供电端子分别与六条子信号线电性连接，从而方便将数据信号输送至检测设备。

作为本申请优选的技术方案，所述承载构件还包括安装于其中一个平衡滑架内壁的驱动电机，安装于驱动电机输出端的驱动齿轮，啮合于驱动齿轮外壁的从动齿轮，所述从动齿轮固定连接于所述卡嵌部的顶部，驱动齿轮带动从动齿轮实现对承载基座的调节。

作为本申请优选的技术方案，所述密封部的上表面固定连接有与卡扣相适配的插扣，所述密封部通过卡扣和插扣与卡嵌部可拆卸连接，所述密封部的表面开设有多个供接触单元伸出的扇形通槽，扇形通道为接触单元提供活动空间。

作为本申请优选的技术方案，所述电路层测试板的一端分别设置有第一触角和第二触角，所述第一触角和第二触角的上表面分别开设有连接孔，所述连接孔的内侧壁螺纹连接有接电螺栓，接电螺栓与连接孔连接，实现电力连接。

作为本申请优选的技术方案，所述磁控开关包括卡接于所述卡嵌部内壁的密封管，所述密封管的内壁分别固定连接有两个磁性弹片，两个所述磁性弹片之间具有重叠部分，且重叠部分之间具有间隙；两个所述磁性弹片的一端分别连接有导电线，两个所述导电线的一端缠绕形成打结扣分别套接于接电螺栓的外壁，重叠部分相互吸附即可实现电力连接，控制方便，同时断电后相互远离，使用方便。

作为本申请优选的技术方案，所述接触单元包括针座和多个测试探针，多个测试探针可拆卸插接于所述针座的内壁，测试探针即可实现对驱动IC的电力检测连接。

作为本申请优选的技术方案，所述测试探针具有一支撑部、一探针部和接电部，所述支撑部位于所述探针部的顶部，位于所述接电部的顶部。

作为本申请优选的技术方案，所述接电部能够与所述测试接点电连接，且所述测试接点的中部以及卡嵌部的内底壁均开设有供探针部贯穿的收纳孔，探针部反向插接后即可收纳在收纳孔内部，一方面避免探针部的损坏，另一方面能够有效进行密封，降低灰尘对电力层测试板的损坏。

作为本申请优选的技术方案，所述支撑部的侧面对称连接有两个涨紧扣，所述涨紧扣的中部开设有张力孔，所述针座的内壁开设有若干个与涨紧扣相适配的卡槽，卡槽实现对涨紧扣的卡接固定。

作为本申请优选的技术方案，所述涨紧扣的材质为软钢和弹性塑料中的任意一种，所述涨紧孔的形状为圆形、菱形和椭圆形中的任意一种，从而方便涨紧扣压缩涨紧孔实现压缩变形，从而方便涨紧扣插接固定。

与现有技术相比，本发明的有益效果：

在本申请的方案中：

1.通过承载构件和测试部件的设置，承载构件能够驱动测试部件进行位置的调节，实现对测试部件内不同接触单元的调换，以满足不同驱动IC的检测，解决了现有技术中不方便针对不同驱动IC连续测试的问题；

2.通过磁控开关、电路层测试板、接触单元以及导电环的设置，导电环通过磁控开关分别与电路层测试板连接，实现多个电路层测试板并联的效果，磁性弹片通电磁化即可实现相应电路层测试板的电路连通，再配合针座内的测试探针实现对驱动IC的检测，同时测试探针还可反向插接在针座内，人员可以根据测试需要组装相应的探针数量，且翻转后的探针能够实现对针座的相对密封，解决了灰尘进入针座内影响电路层测试板导电性能的问题。

附图说明

图1为本申请提供的OLED面板驱动IC的连续测试装置内测试部件的拆分结构示意图；

图2为本申请提供的OLED面板驱动IC的连续测试装置的仰视结构示意图；

图3为本申请提供的OLED面板驱动IC的连续测试装置的立体结构示意图；

图4为本申请提供的OLED面板驱动IC的连续测试装置的测试部件的立体结构示意图；

图5为本申请提供的OLED面板驱动IC的连续测试装置内承载基座、磁控开关以及电路层测试板的结构示意图；

图6为本申请提供的OLED面板驱动IC的连续测试装置内接触单元的结构示意图；

图7为本申请提供的OLED面板驱动IC的连续测试装置内接触单元的结构示意图；

图8为本申请提供的OLED面板驱动IC的连续测试装置承载基座的剖面结构示意图。

图9为本申请提供的OLED面板驱动IC的连续测试装置图8中A处放大图结构示意图。

图中标示：

图中：10、安装架；11、平衡滑架；20、承载构件；21、承载基座；211、卡嵌部；212、卡扣；213、密封部；22、驱动电机；23、驱动齿轮；24、从动齿轮；30、测试部件；31、磁控开关；311、密封管；312、磁性弹片；313、导电线；32、电路层测试板；321、测试接点；3211、收纳孔；322、第二触角；323、连接孔；324、接电螺栓；325、第一触角；33、接触单元；331、针座；332、测试探针；3321、支撑部；3322、探针部；3323、接电部；34、导电环；341、支撑座；342、支撑杆；343、环体；344、供电端子；40、母信号线；50、涨紧扣；51、张力孔；60、卡槽。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。

因此，以下对本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的部分实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征和技术方案可以相互组合。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，这类术语仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

如图1、图2、图3、图4、图5、图6、图7、图8和图9，本实施方式提出一种OLED面板驱动IC的连续测试装置，包括安装架10，所述安装架10的底部还固定连接有多个平衡滑架11，还包括：

承载构件20，连接于所述平衡滑架11的内壁，用于搭载测试部件30并且使所述测试部件30转动至测试位置，从而方便及时更换相应的测试部件30以实现连续测试的目的；

其中，所述承载构件20包括滑动连接于多个平衡滑架11底端的承载基座21，所述承载基座21包括卡嵌部211，通过卡扣212卡接于所述卡嵌部211底部的密封部213，可拆卸连接的方式方便人员拆装，为后期的维修提供便利；

在本实施例中，卡嵌部211的侧面开设有环形滑槽，与其对应的平衡滑架11的底部还具有与环形滑槽相适配的平衡滑块，环形滑槽滑动连接于平衡滑块的外壁，此种连接方式使得承载基座21能够在平衡滑架11的底部滑动，以保证承载基座21能够在平衡滑架11内滑动。

所述测试部件30包括：

请参阅图5和图8，六个磁控开关31，环形阵列于所述卡嵌部211的内壁，且每个所述磁控开关31均通过导线电连接有电路层测试板32，电路层测试板32实现电连接后，可以将检测数据发送至检测设备进行检测分析；

请参阅图1和图5，电路层测试板32，嵌设于所述卡嵌部211的内底壁，该电路层测试板32上设有若干测试接点321，用于测试被测驱动IC引脚的电信状态，具体的，在本实施例中，电路层测试板32具体为半导体硅片板；

请参阅图4、图5和图8，接触单元33，所述接触单元33用于接触待测驱动IC，使所述驱动IC引脚与对应的电路层测试板32电连接，从而方便快速对接驱动IC；

请参阅图1、图2、图3和图4，导电环34，嵌设于所述卡嵌部211的中部，该导电环34包括支撑座341，连接于支撑座341外壁的六个支撑杆342，连接于六个支撑杆342端部的环体343，以及固定连接于环体343外壁的六个供电端子344，从而方便通过六个供电端子344进行电连接；

其中，所述支撑座341的中部设置有母信号线40，该母信号线40的内部嵌设有六条子信号线，六个所述供电端子344分别与六条子信号线电性连接，从而方便将数据信号输送至检测设备，六条子信号线构成一条总线，与外界检测设备连接，通过外界的检测设备进行检测分析。

下面结合具体的工作方式对上述方案进行进一步的介绍，详见下文描述：

如图1、图2、图3和图4所示，为了实现连续测试的目的，设置承载构件20，承载构件20完成对检测部件的切换，具体的：所述承载构件20还包括安装于其中一个平衡滑架11内壁的驱动电机22，安装于驱动电机22输出端的驱动齿轮23，啮合于驱动齿轮23外壁的从动齿轮24，所述从动齿轮24固定连接于所述卡嵌部211的顶部，驱动齿轮23带动从动齿轮24实现对承载基座21的调节，具体的，驱动电机22工作带动驱动齿轮23转动，驱动齿轮23啮合从动齿轮24即可实现对承载基座21的驱动。

如图1所示，为了实现便于检修的目的，将承载基座21设置为可拆卸结构，具体的：所述密封部213的上表面固定连接有与卡扣212相适配的插扣，所述密封部213通过卡扣212和插扣与卡嵌部211可拆卸连接，所述密封部213的表面开设有多个供接触单元33伸出的扇形通槽，扇形通道为接触单元33提供活动空间，具体的，使用时，卡扣212和插扣的材质均为塑料，插扣上设置有凸起，卡扣212内具有与凸起相适配的卡槽60，插扣插接在卡扣212内，实现对密封部213的固定。

如图1和图5所示，所述电路层测试板32的一端分别设置有第一触角325和第二触角322，所述第一触角325和第二触角322的上表面分别开设有连接孔323，所述连接孔323的内侧壁螺纹连接有接电螺栓324，接电螺栓324与连接孔323连接，实现电力连接；

具体的，在本实施例中，第一触角325和第二触角322均可插接于卡嵌部211的内壁，当第一触角325和第二触角322分别插接于两个导电线313的底部，使得导电线313与第一触角325和第二触角322相连接，当第一触角325和第二触角322连接后即可实现闭环通电。

如图4、图5、图8和图9，所述磁控开关31包括卡接于所述卡嵌部211内壁的密封管311，所述密封管311的内壁分别固定连接有两个磁性弹片312，两个所述磁性弹片312之间具有重叠部分，且重叠部分之间具有间隙；两个所述磁性弹片312的一端分别连接有导电线313，两个所述导电线313的一端缠绕形成打结扣分别套接于接电螺栓324的外壁，重叠部分相互吸附即可实现电力连接，控制方便，同时断电后相互远离，使用方便。

如图4、图5、图8和图9，在本实施例中，具体的两个磁性弹片312均呈片状，且磁性弹片312的表面缠绕有电磁线圈，当电磁线圈通电时，产生磁场，使得磁性弹片312磁化，当磁性弹片312的磁性大于磁性弹片312的磁力时，两个磁性弹片312相互吸引靠近，使得两个磁性弹片312通电，当磁力小于两个磁性弹片312之间的弹力时，两个磁性弹片312相互远离，实现断电。

如图1、图2、图4、图5、图6和图7，所述接触单元33包括针座331和多个测试探针332，多个测试探针332可拆卸插接于所述针座331的内壁，测试探针332即可实现对驱动IC的电力检测连接，所述测试探针332具有一支撑部3321、一探针部3322和接电部3323，所述支撑部3321位于所述探针部3322的顶部，位于所述接电部3323的顶部，所述接电部3323能够与所述测试接点321电连接，且所述测试接点321的中部以及卡嵌部211的内底壁均开设有供探针部3322贯穿的收纳孔3211，探针部3322反向插接后即可收纳在收纳孔3211内部，一方面避免探针部3322的损坏，另一方面能够有效进行密封，降低灰尘对电力层测试板的损坏；

如图1、图2、图4、图5、图6和图7，在本实施例中，针座331为绝缘材质，用于连接多个测试探针332，使多个测试探针332的针尖悬挂于针座331的下方，同时针座331还用于对多个测试探针332进行支撑，当所述针座331向下运动时，能够驱动多个测试探针332同步向下，当测试探针332接触驱动IC引脚时，针座331能够对测试探针332进行支撑，使得测试探针332的针尖部位接触并抵紧驱动IC的引脚，实现与驱动IC引脚的电连接。

如图1、图2、图4、图5、图6和图7，在本实施例中，测试探针332分成三部分叙述，具体的包括支撑部3321、探针部3322和接电部3323，探针部3322具体类似于针体结构，底部略设置有倒角，该倒角呈平衡过渡，此种设置能够提高针体表面的平滑度，方便插接，支撑部3321用于提供主要支撑，且支撑部3321的直径大于接电部3323和探针部3322，此种设计是为了提高安装后的稳定性，使得支撑部3321稳定插接于针座331的内壁，接电部3323直径略大于探针部3322，此种设置，当测试探针332正向插接时，接电部3323能够与电路层测试板32电连接，且在反向插接时，探针部3322由于直径略小，能够插接在收纳槽内，不影响正常使用，可以实现该测试探针332的自动断电，避免该测试探针332通电影响检测性能，避免误判。

如图6和图7，所述支撑部3321的侧面对称连接有两个涨紧扣50，所述涨紧扣50的中部开设有张力孔51，所述针座331的内壁开设有若干个与涨紧扣50相适配的卡槽60，卡槽60实现对涨紧扣50的卡接固定，所述涨紧扣50的材质为软钢和弹性塑料中的任意一种，所述张力孔51的形状为圆形、菱形和椭圆形中的任意一种，从而方便涨紧扣50压缩张力孔51实现压缩变形，从而方便涨紧扣50插接固定。

请参阅图5、图6、图7和图8，在本实施本图示中，卡槽60的顶部直径大于底部直径，且中部具有一个储存空间，此储存空间类似于三角形，三角形刚好与涨紧扣50形态相互匹配，当涨紧扣50由上至下插接时，涨紧扣50在外力的作用下发生形变，弯曲变形，当涨紧扣50变形后搭接在卡槽60的中部，此时，涨紧扣50失去外力，通过自身的形变力复原，使得涨紧扣50搭接于卡槽60内，当需要取出时，通过外力抬升探针部3322，使得探针部3322抬升将整个测试探针332取出，反向插接时，接电部3323位于针座331的顶部，当针座331内插接测试探针332时实现对针座331的相对密封，可以有效避免外界灰尘进入针座331内，降低灰尘对电路层测试板32导电性能的影响。

以上实施例仅用以说明本发明而并非限制本发明所描述的技术方案，尽管本说明书参照上述的各个实施例对本发明已进行了详细的说明，但本发明不局限于上述具体实施方式，因此任何对本发明进行修改或等同替换；而一切不脱离发明的精神和范围的技术方案及其改进，其均涵盖在本发明的权利要求范围当中。

Claims (9)

1.一种OLED面板驱动IC的连续测试装置，包括安装架（10），其特征在于，所述安装架（10）的底部还固定连接有多个平衡滑架（11），还包括：

承载构件（20），连接于所述平衡滑架（11）的内壁，用于搭载测试部件（30）并且使所述测试部件（30）转动至测试位置；

其中，所述承载构件（20）包括滑动连接于多个平衡滑架（11）底端的承载基座（21），所述承载基座（21）包括卡嵌部（211），通过卡扣（212）卡接于所述卡嵌部（211）底部的密封部（213）；

所述密封部（213）的上表面固定连接有与卡扣（212）相适配的插扣，所述密封部（213）通过卡扣（212）和插扣与卡嵌部（211）可拆卸连接，所述密封部（213）的表面开设有多个供接触单元（33）伸出的扇形通槽；

所述测试部件（30）包括：

六个磁控开关（31），环形阵列于所述卡嵌部（211）的内壁，且每个所述磁控开关（31）均通过导线电连接有电路层测试板（32）；

电路层测试板（32），嵌设于所述卡嵌部（211）的内底壁，该电路层测试板（32）上设有若干测试接点（321），用于测试被测驱动IC引脚的电信状态；

接触单元（33），所述接触单元（33）用于接触待测驱动IC，使所述驱动IC引脚与对应的电路层测试板（32）电连接；

导电环（34），嵌设于所述卡嵌部（211）的中部，该导电环（34）包括支撑座（341），连接于支撑座（341）外壁的六个支撑杆（342），连接于六个支撑杆（342）端部的环体（343），以及固定连接于环体（343）外壁的六个供电端子（344）；

其中，所述支撑座（341）的中部设置有母信号线（40），该母信号线（40）的内部嵌设有六条子信号线，六个所述供电端子（344）分别与六条子信号线电性连接。

2.根据权利要求1所述的一种OLED面板驱动IC的连续测试装置，其特征在于，所述承载构件（20）还包括安装于其中一个平衡滑架（11）内壁的驱动电机（22），安装于驱动电机（22）输出端的驱动齿轮（23），啮合于驱动齿轮（23）外壁的从动齿轮（24），所述从动齿轮（24）固定连接于所述卡嵌部（211）的顶部。

3.根据权利要求1所述的一种OLED面板驱动IC的连续测试装置，其特征在于，所述电路层测试板（32）的一端分别设置有第一触角（325）和第二触角（322），所述第一触角（325）和第二触角（322）的上表面分别开设有连接孔（323），所述连接孔（323）的内侧壁螺纹连接有接电螺栓（324）。

4.根据权利要求3所述的一种OLED面板驱动IC的连续测试装置，其特征在于，所述磁控开关（31）包括卡接于所述卡嵌部（211）内壁的密封管（311），所述密封管（311）的内壁分别固定连接有两个磁性弹片（312），两个所述磁性弹片（312）之间具有重叠部分，且重叠部分之间具有间隙；两个所述磁性弹片（312）的一端分别连接有导电线（313），两个所述导电线（313）的一端缠绕形成打结扣分别套接于接电螺栓（324）的外壁。

5.根据权利要求1所述的一种OLED面板驱动IC的连续测试装置，其特征在于，所述接触单元（33）包括针座（331）和多个测试探针（332），多个测试探针（332）可拆卸插接于所述针座（331）的内壁。

6.根据权利要求5所述的一种OLED面板驱动IC的连续测试装置，其特征在于，所述测试探针（332）具有一支撑部（3321）、一探针部（3322）和接电部（3323），所述支撑部（3321）位于所述探针部（3322）的底部，所述支撑部（3321）位于所述接电部（3323）的顶部。

7.根据权利要求6所述的一种OLED面板驱动IC的连续测试装置，其特征在于，所述接电部（3323）能够与所述测试接点（321）电连接，且所述测试接点（321）的中部以及卡嵌部（211）的内底壁均开设有供探针部（3322）贯穿的收纳孔（3211）。

8.根据权利要求7所述的一种OLED面板驱动IC的连续测试装置，其特征在于，所述支撑部（3321）的侧面对称连接有两个涨紧扣（50），所述涨紧扣（50）的中部开设有张力孔（51），所述针座（331）的内壁开设有若干个与涨紧扣（50）相适配的卡槽（60）。

9.根据权利要求8所述的一种OLED面板驱动IC的连续测试装置，其特征在于，所述涨紧扣（50）的材质为软钢和弹性塑料中的任意一种，所述张力孔（51）的形状为圆形、菱形和椭圆形中的任意一种。