CN116298863B - 一种bldc电机生产线快速检验系统及控制方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种BLDC电机生产线快速检验系统及控制方法，包括：自巡触点规模检验探针阵分系统，通过大规模自巡触点检验探针阵对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验；检测探针触压触检驱动分系统，通过集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；触检驱动自动控制分系统，进行自适应逻辑控制编程，实现触检驱动自适应逻辑控制；BLDC电机生产线智能管控分系统，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行生产交互快速检验；并通过全角度影像实景合成管控BLDC电机生产全过程，智能化大批量获取BLDC电机检验结果。
Description
技术领域
本发明涉及电机精密检测自动智能控制技术领域，更具体地说，本发明涉及一种BLDC电机生产线快速检验系统及控制方法。
背景技术
目前，BLDC电机生产线检验多以各部件独立检验为主，检验过程的自适应智能化程度不高，对于大规模快速检验的技术问题尚待提高；主要问题包括：如何对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验、如何驱动大规模检验自巡触点探针阵并获取触检驱动检验控制数据、如何实现触检驱动自适应逻辑控制、如何进行生产交互快速检验及如何快速生成BLDC电机检验参数等问题尚待解决；因此，有必要提出一种BLDC电机生产线快速检验系统及控制方法，以至少部分地解决现有技术中存在的问题。
发明内容
在发明内容部分中引入了一系列简化形式的概念，这将在具体实施方式部分中进一步详细说明；本发明的发明内容部分并不意味着要试图限定出所要求保护的技术方案的关键特征和必要技术特征，更不意味着试图确定所要求保护的技术方案的保护范围。
为至少部分地解决上述问题，本发明提供了一种BLDC电机生产线快速检验系统，包括：
自巡触点规模检验探针阵分系统，通过大规模自巡触点检验探针阵对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验；
检测探针触压触检驱动分系统，通过集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；
触检驱动自动控制分系统，根据触检驱动检验控制数据进行自适应逻辑控制编程，实现触检驱动自适应逻辑控制；
BLDC电机生产线智能管控分系统，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行生产交互快速检验；并通过全角度影像实景合成管控BLDC电机生产全过程，快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果。
优选的，自巡触点规模检验探针阵分系统，包括：
BLDC电机部件触点数据子系统，搜集BLDC电机生产历史过程中部件需检验触点数据，获取BLDC电机过程部件需检验触点数据；
自巡触点探针设置子系统，根据BLDC电机生产部件需检验触点数据，设置大规模自巡触点检验探针阵；大规模自巡触点检验探针阵包括：定子绕线固化引线触点检验探针、转子电性检验触点检验探针、换向焊脚触点检验探针、转轴间隙触点检验探针及整机端子综合检验触点检验探针；
探针自巡触点对接子系统，通过大规模自巡触点检验探针阵中的探针对接BLDC电机生产部件需检验触点，对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验。
优选的，检测探针触压触检驱动分系统，包括：
触点探针排布路径子系统，根据大规模自巡触点检验探针阵的触点探针阵排布，设置触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径；
集散排布快检路径子系统，触点位置探针集散排布按照触点位置集中分散度进行探针集散排布；根据触点位置探针集散排布，通过快速检验最短路径设置触点位置探针移动路径；
探针阵触手驱动子系统，根据触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径，设置集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据。
优选的，触检驱动自动控制分系统，包括：
识别触点基础框架子系统，通过机器视觉识别触点位置，获取机器识别触点位置数据；设置逻辑控制编程基础框架；
自适应逻辑编程子系统，将触检驱动检验控制数据输入逻辑控制编程基础框架，进行自适应逻辑控制编程；
逻辑控制验证子系统，根据机器识别触点位置数据，对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证，实现触检驱动自适应逻辑控制。
优选的，BLDC电机生产线智能管控分系统，包括：
生产线前端数据接口子系统，设置BLDC电机生产线数据接口，接收BLDC电机生产线前端数据；
数据交互快速检验子系统，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行逻辑控制与电机生产线数据交互快速检验；
BLDC电机智能实景管控子系统，设置全角度BLDC电机生产线摄录组，通过全角度摄录影像实景合成管控BLDC电机生产全过程实景，并快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果。
本发明一种BLDC电机生产线快速检验控制方法，包括：
S100，通过大规模自巡触点检验探针阵对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验；
S200，通过集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；
S300，根据触检驱动检验控制数据进行自适应逻辑控制编程，实现触检驱动自适应逻辑控制；
S400，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行生产交互快速检验；并通过全角度影像实景合成管控BLDC电机生产全过程，快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果。
优选的，S100，包括：
S101，搜集BLDC电机生产历史过程中部件需检验触点数据，获取BLDC电机过程部件需检验触点数据；
S102，根据BLDC电机生产部件需检验触点数据，设置大规模自巡触点检验探针阵；大规模自巡触点检验探针阵包括：定子绕线固化引线触点检验探针、转子电性检验触点检验探针、换向焊脚触点检验探针、转轴间隙触点检验探针及整机端子综合检验触点检验探针；
S103，通过大规模自巡触点检验探针阵中的探针对接BLDC电机生产部件需检验触点，对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验。
优选的，S200，包括：
S201，根据大规模自巡触点检验探针阵的触点探针阵排布，设置触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径；
S202，触点位置探针集散排布按照触点位置集中分散度进行探针集散排布；根据触点位置探针集散排布，通过快速检验最短路径设置触点位置探针移动路径；
S203，根据触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径，设置集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据。
优选的，S300，包括：
S301，通过机器视觉识别触点位置，获取机器识别触点位置数据；设置逻辑控制编程基础框架；
S302，将触检驱动检验控制数据输入逻辑控制编程基础框架，进行自适应逻辑控制编程；
S303，根据机器识别触点位置数据，对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证，实现触检驱动自适应逻辑控制。
优选的，S400，包括：
S401，设置BLDC电机生产线数据接口，接收BLDC电机生产线前端数据；
S402，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行逻辑控制与电机生产线数据交互快速检验；
S403，设置全角度BLDC电机生产线摄录组，通过全角度摄录影像实景合成管控BLDC电机生产全过程实景，并快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果。
相比现有技术，本发明至少包括以下有益效果：
本发明提供了一种BLDC电机生产线快速检验系统及控制方法，通过自巡触点规模检验探针阵分系统，通过大规模自巡触点检验探针阵对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验；检测探针触压触检驱动分系统，通过集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；触检驱动自动控制分系统，根据触检驱动检验控制数据进行自适应逻辑控制编程，实现触检驱动自适应逻辑控制；BLDC电机生产线智能管控分系统，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行生产交互快速检验；并通过全角度影像实景合成管控BLDC电机生产全过程，快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果；能够进行BLDC电机生产线多种类型数据交互快速检验，快速生成BLDC电机检验参数及智能化大批量BLDC电机检验；使BLDC电机生产线检验各部件各工序联合交互检验，大幅提高检验过程的自适应智能化程度，能够进行大规模快速检验。
本发明所述的一种BLDC电机生产线快速检验系统及控制方法，本发明的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现，部分还将通过对本发明的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：
图1为本发明所述的一种BLDC电机生产线快速检验系统框架图。
图2为本发明所述的一种BLDC电机生产线快速检验控制方法一个实施例图。
图3为本发明所述的一种BLDC电机生产线快速检验控制方法另一实施例图。
具体实施方式
下面结合附图以及实施例对本发明做进一步的详细说明，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施；如图1-3所示，本发明提供了一种BLDC电机生产线快速检验系统，包括：
自巡触点规模检验探针阵分系统，通过大规模自巡触点检验探针阵对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验；
检测探针触压触检驱动分系统，通过集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；
触检驱动自动控制分系统，根据触检驱动检验控制数据进行自适应逻辑控制编程，实现触检驱动自适应逻辑控制；
BLDC电机生产线智能管控分系统，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行生产交互快速检验；并通过全角度影像实景合成管控BLDC电机生产全过程，快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果。
上述技术方案的工作原理为：本发明提供了一种BLDC电机生产线快速检验系统，包括：自巡触点规模检验探针阵分系统，通过大规模自巡触点检验探针阵对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验；检测探针触压触检驱动分系统，通过集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；触检驱动自动控制分系统，根据触检驱动检验控制数据进行自适应逻辑控制编程，实现触检驱动自适应逻辑控制；BLDC电机生产线智能管控分系统，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行生产交互快速检验；并通过全角度影像实景合成管控BLDC电机生产全过程，快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果。
上述技术方案的有益效果为：本发明提供了一种BLDC电机生产线快速检验系统，包括：自巡触点规模检验探针阵分系统，通过大规模自巡触点检验探针阵对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验；检测探针触压触检驱动分系统，通过集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；触检驱动自动控制分系统，根据触检驱动检验控制数据进行自适应逻辑控制编程，实现触检驱动自适应逻辑控制；BLDC电机生产线智能管控分系统，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行生产交互快速检验；并通过全角度影像实景合成管控BLDC电机生产全过程，快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果；能够进行BLDC电机生产线多种类型数据交互快速检验，快速生成BLDC电机检验参数及智能化大批量BLDC电机检验；使BLDC电机生产线检验各部件各工序联合交互检验，大幅提高检验过程的自适应智能化程度，能够进行大规模快速检验。
在一个实施例中，自巡触点规模检验探针阵分系统，包括：
BLDC电机部件触点数据子系统，搜集BLDC电机生产历史过程中部件需检验触点数据，获取BLDC电机过程部件需检验触点数据；
自巡触点探针设置子系统，根据BLDC电机生产部件需检验触点数据，设置大规模自巡触点检验探针阵；大规模自巡触点检验探针阵包括：定子绕线固化引线触点检验探针、转子电性检验触点检验探针、换向焊脚触点检验探针、转轴间隙触点检验探针及整机端子综合检验触点检验探针；
探针自巡触点对接子系统，通过大规模自巡触点检验探针阵中的探针对接BLDC电机生产部件需检验触点，对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验。
上述技术方案的工作原理为：自巡触点规模检验探针阵分系统，包括：BLDC电机部件触点数据子系统，搜集BLDC电机生产历史过程中部件需检验触点数据，获取BLDC电机过程部件需检验触点数据；自巡触点探针设置子系统，根据BLDC电机生产部件需检验触点数据，设置大规模自巡触点检验探针阵；大规模自巡触点检验探针阵包括：定子绕线固化引线触点检验探针、转子电性检验触点检验探针、换向焊脚触点检验探针、转轴间隙触点检验探针及整机端子综合检验触点检验探针；探针自巡触点对接子系统，通过大规模自巡触点检验探针阵中的探针对接BLDC电机生产部件需检验触点，对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验。
上述技术方案的有益效果为：BLDC电机部件触点数据子系统，搜集BLDC电机生产历史过程中部件需检验触点数据，获取BLDC电机过程部件需检验触点数据；自巡触点探针设置子系统，根据BLDC电机生产部件需检验触点数据，设置大规模自巡触点检验探针阵；大规模自巡触点检验探针阵包括：定子绕线固化引线触点检验探针、转子电性检验触点检验探针、换向焊脚触点检验探针、转轴间隙触点检验探针及整机端子综合检验触点检验探针；探针自巡触点对接子系统，通过大规模自巡触点检验探针阵中的探针对接BLDC电机生产部件需检验触点，对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验；能够对BLDC电机生产部件进行多种复杂类型适应大规模快速检验。
在一个实施例中，检测探针触压触检驱动分系统，包括：
触点探针排布路径子系统，根据大规模自巡触点检验探针阵的触点探针阵排布，设置触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径；
集散排布快检路径子系统，触点位置探针集散排布按照触点位置集中分散度进行探针集散排布；根据触点位置探针集散排布，通过快速检验最短路径设置触点位置探针移动路径；
探针阵触手驱动子系统，根据触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径，设置集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据。
上述技术方案的工作原理为：检测探针触压触检驱动分系统，包括：
触点探针排布路径子系统，根据大规模自巡触点检验探针阵的触点探针阵排布，设置触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径；
集散排布快检路径子系统，触点位置探针集散排布按照触点位置集中分散度进行探针集散排布；根据触点位置探针集散排布，通过快速检验最短路径设置触点位置探针移动路径；
探针阵触手驱动子系统，根据触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径，设置集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；
计算大规模自巡触点检验探针阵探针接触电阻值：
其中，ZCNLF表示大规模自巡触点检验探针阵探针接触电阻值，Rhcl表示正极自巡触点检验探针电阻值，Dcl表示探针触点接触位置x轴向数量，Mcn表示自巡触点检验探针总数量，Ecl表示探针触点接触位置z轴向数量，Fcn表示探针触点接触位置Y轴向数量，Rhdk表示负极自巡触点检验探针电阻值。
上述技术方案的有益效果为：触点探针排布路径子系统，根据大规模自巡触点检验探针阵的触点探针阵排布，设置触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径；集散排布快检路径子系统，触点位置探针集散排布按照触点位置集中分散度进行探针集散排布；根据触点位置探针集散排布，通过快速检验最短路径设置触点位置探针移动路径；探针阵触手驱动子系统，根据触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径，设置集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；
计算大规模自巡触点检验探针阵探针接触电阻值：其中，ZCNLF表示大规模自巡触点检验探针阵探针接触电阻值，Rhcl表示正极自巡触点检验探针电阻值，Dcl表示探针触点接触位置x轴向数量，Mcn表示自巡触点检验探针总数量，Ecl表示探针触点接触位置z轴向数量，Fcn表示探针触点接触位置Y轴向数量，Rhdk表示负极自巡触点检验探针电阻值；通过计算大规模自巡触点检验探针阵探针接触电阻值，可以快速进行BLDC电机检验系统电阻误差补偿及反电动势误差降低、BLDC电机检验霍尔特性电平更准确及BLDC电机检验相位差的检验精度更高。
在一个实施例中，触检驱动自动控制分系统，包括：
识别触点基础框架子系统，通过机器视觉识别触点位置，获取机器识别触点位置数据；设置逻辑控制编程基础框架；
自适应逻辑编程子系统，将触检驱动检验控制数据输入逻辑控制编程基础框架，进行自适应逻辑控制编程；
逻辑控制验证子系统，根据机器识别触点位置数据，对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证，实现触检驱动自适应逻辑控制。
上述技术方案的工作原理为：触检驱动自动控制分系统，包括：识别触点基础框架子系统，通过机器视觉识别触点位置，获取机器识别触点位置数据；设置逻辑控制编程基础框架；自适应逻辑编程子系统，将触检驱动检验控制数据输入逻辑控制编程基础框架，进行自适应逻辑控制编程；逻辑控制验证子系统，根据机器识别触点位置数据，对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证，实现触检驱动自适应逻辑控制；
对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证包括：通过机器视觉识别触点位置，当触点位置识别后，集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，对大批量异型触点进行机器视觉识别触点位置的大规模检验自动探巡；通过霍尔效应探测探针尖端与触点的接触状态，通过双反热电制冷制热调整大规模检验自巡触点探针阵的探针与触点接触精准触压；当探针与触点触压超过标准触压时，采用正向热电制冷通过热传导收缩探针尖端体积；当探针与触点触压未达到标准触压时，采用反向热电制热通过热传导膨胀探针尖端体积；对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证并保持探针与触点触压稳定。
上述技术方案的有益效果为：识别触点基础框架子系统，通过机器视觉识别触点位置，获取机器识别触点位置数据；设置逻辑控制编程基础框架；自适应逻辑编程子系统，将触检驱动检验控制数据输入逻辑控制编程基础框架，进行自适应逻辑控制编程；逻辑控制验证子系统，根据机器识别触点位置数据，对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证，实现触检驱动自适应逻辑控制；
对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证包括：通过机器视觉识别触点位置，当触点位置识别后，集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，对大批量异型触点进行机器视觉识别触点位置的大规模检验自动探巡；通过霍尔效应探测探针尖端与触点的接触状态，通过双反热电制冷制热调整大规模检验自巡触点探针阵的探针与触点接触精准触压；当探针与触点触压超过标准触压时，采用正向热电制冷通过热传导收缩探针尖端体积；当探针与触点触压未达到标准触压时，采用反向热电制热通过热传导膨胀探针尖端体积；对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证并保持探针与触点触压稳定。
在一个实施例中，BLDC电机生产线智能管控分系统，包括：
生产线前端数据接口子系统，设置BLDC电机生产线数据接口，接收BLDC电机生产线前端数据；
数据交互快速检验子系统，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行逻辑控制与电机生产线数据交互快速检验；
BLDC电机智能实景管控子系统，设置全角度BLDC电机生产线摄录组，通过全角度摄录影像实景合成管控BLDC电机生产全过程实景，并快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果。
上述技术方案的工作原理为：BLDC电机生产线智能管控分系统，包括：生产线前端数据接口子系统，设置BLDC电机生产线数据接口，接收BLDC电机生产线前端数据；数据交互快速检验子系统，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行逻辑控制与电机生产线数据交互快速检验；BLDC电机智能实景管控子系统，设置全角度BLDC电机生产线摄录组，通过全角度摄录影像实景合成管控BLDC电机生产全过程实景，并快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果。
上述技术方案的有益效果为：生产线前端数据接口子系统，设置BLDC电机生产线数据接口，接收BLDC电机生产线前端数据；数据交互快速检验子系统，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行逻辑控制与电机生产线数据交互快速检验；BLDC电机智能实景管控子系统，设置全角度BLDC电机生产线摄录组，通过全角度摄录影像实景合成管控BLDC电机生产全过程实景，并快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果；能够进行BLDC电机生产线多种类型数据交互快速检验，快速生成BLDC电机检验参数及智能化大批量BLDC电机检验。
本发明一种BLDC电机生产线快速检验控制方法，包括：
S100，通过大规模自巡触点检验探针阵对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验；
S200，通过集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；
S300，根据触检驱动检验控制数据进行自适应逻辑控制编程，实现触检驱动自适应逻辑控制；
S400，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行生产交互快速检验；并通过全角度影像实景合成管控BLDC电机生产全过程，快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果。
上述技术方案的工作原理为：本发明一种BLDC电机生产线快速检验控制方法，包括：通过大规模自巡触点检验探针阵对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验；通过集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；根据触检驱动检验控制数据进行自适应逻辑控制编程，实现触检驱动自适应逻辑控制；根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行生产交互快速检验；并通过全角度影像实景合成管控BLDC电机生产全过程，快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果。
上述技术方案的有益效果为：本发明一种BLDC电机生产线快速检验控制方法，包括：通过大规模自巡触点检验探针阵对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验；通过集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；根据触检驱动检验控制数据进行自适应逻辑控制编程，实现触检驱动自适应逻辑控制；根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行生产交互快速检验；并通过全角度影像实景合成管控BLDC电机生产全过程，快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果；能够进行BLDC电机生产线多种类型数据交互快速检验，快速生成BLDC电机检验参数及智能化大批量BLDC电机检验。
在一个实施例中，S100，包括：
S101，搜集BLDC电机生产历史过程中部件需检验触点数据，获取BLDC电机过程部件需检验触点数据；
S102，根据BLDC电机生产部件需检验触点数据，设置大规模自巡触点检验探针阵；大规模自巡触点检验探针阵包括：定子绕线固化引线触点检验探针、转子电性检验触点检验探针、换向焊脚触点检验探针、转轴间隙触点检验探针及整机端子综合检验触点检验探针；
S103，通过大规模自巡触点检验探针阵中的探针对接BLDC电机生产部件需检验触点，对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验。
上述技术方案的工作原理为：搜集BLDC电机生产历史过程中部件需检验触点数据，获取BLDC电机过程部件需检验触点数据；根据BLDC电机生产部件需检验触点数据，设置大规模自巡触点检验探针阵；大规模自巡触点检验探针阵包括：定子绕线固化引线触点检验探针、转子电性检验触点检验探针、换向焊脚触点检验探针、转轴间隙触点检验探针及整机端子综合检验触点检验探针；通过大规模自巡触点检验探针阵中的探针对接BLDC电机生产部件需检验触点，对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验。
上述技术方案的有益效果为：搜集BLDC电机生产历史过程中部件需检验触点数据，获取BLDC电机过程部件需检验触点数据；根据BLDC电机生产部件需检验触点数据，设置大规模自巡触点检验探针阵；大规模自巡触点检验探针阵包括：定子绕线固化引线触点检验探针、转子电性检验触点检验探针、换向焊脚触点检验探针、转轴间隙触点检验探针及整机端子综合检验触点检验探针；通过大规模自巡触点检验探针阵中的探针对接BLDC电机生产部件需检验触点，对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验；能够对BLDC电机生产部件进行多种复杂类型适应大规模快速检验。
在一个实施例中，S200，包括：
S201，根据大规模自巡触点检验探针阵的触点探针阵排布，设置触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径；
S202，触点位置探针集散排布按照触点位置集中分散度进行探针集散排布；根据触点位置探针集散排布，通过快速检验最短路径设置触点位置探针移动路径；
S203，根据触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径，设置集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据。
上述技术方案的工作原理为：S200，包括：
S201，根据大规模自巡触点检验探针阵的触点探针阵排布，设置触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径；
S202，触点位置探针集散排布按照触点位置集中分散度进行探针集散排布；根据触点位置探针集散排布，通过快速检验最短路径设置触点位置探针移动路径；
S203，根据触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径，设置集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；
计算大规模自巡触点检验探针阵探针接触电阻值：
其中，ZCNLF表示大规模自巡触点检验探针阵探针接触电阻值，Rhcl表示正极自巡触点检验探针电阻值，Dcl表示探针触点接触位置x轴向数量，Mcn表示自巡触点检验探针总数量，Ecl表示探针触点接触位置z轴向数量，Fcn表示探针触点接触位置Y轴向数量，Rhdk表示负极自巡触点检验探针电阻值。
上述技术方案的有益效果为：根据大规模自巡触点检验探针阵的触点探针阵排布，设置触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径；触点位置探针集散排布按照触点位置集中分散度进行探针集散排布；根据触点位置探针集散排布，通过快速检验最短路径设置触点位置探针移动路径；根据触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径，设置集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；
计算大规模自巡触点检验探针阵探针接触电阻值：其中，ZCNLF表示大规模自巡触点检验探针阵探针接触电阻值，Rhcl表示正极自巡触点检验探针电阻值，Dcl表示探针触点接触位置x轴向数量，Mcn表示自巡触点检验探针总数量，Ecl表示探针触点接触位置z轴向数量，Fcn表示探针触点接触位置Y轴向数量，Rhdk表示负极自巡触点检验探针电阻值；通过计算大规模自巡触点检验探针阵探针接触电阻值，可以快速进行BLDC电机检验系统电阻误差补偿及反电动势误差降低、BLDC电机检验霍尔特性电平更准确及BLDC电机检验相位差的检验精度更高。
在一个实施例中，S300，包括：
S301，通过机器视觉识别触点位置，获取机器识别触点位置数据；设置逻辑控制编程基础框架；
S302，将触检驱动检验控制数据输入逻辑控制编程基础框架，进行自适应逻辑控制编程；
S303，根据机器识别触点位置数据，对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证，实现触检驱动自适应逻辑控制。
上述技术方案的工作原理为：S300，包括：
S301，通过机器视觉识别触点位置，获取机器识别触点位置数据；设置逻辑控制编程基础框架；
S302，将触检驱动检验控制数据输入逻辑控制编程基础框架，进行自适应逻辑控制编程；
S303，根据机器识别触点位置数据，对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证，实现触检驱动自适应逻辑控制；
对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证包括：通过机器视觉识别触点位置，当触点位置识别后，集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，对大批量异型触点进行机器视觉识别触点位置的大规模检验自动探巡；通过霍尔效应探测探针尖端与触点的接触状态，通过双反热电制冷制热调整大规模检验自巡触点探针阵的探针与触点接触精准触压；当探针与触点触压超过标准触压时，采用正向热电制冷通过热传导收缩探针尖端体积；当探针与触点触压未达到标准触压时，采用反向热电制热通过热传导膨胀探针尖端体积；对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证并保持探针与触点触压稳定。
上述技术方案的有益效果为：通过机器视觉识别触点位置，获取机器识别触点位置数据；设置逻辑控制编程基础框架；将触检驱动检验控制数据输入逻辑控制编程基础框架，进行自适应逻辑控制编程；根据机器识别触点位置数据，对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证，实现触检驱动自适应逻辑控制；
对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证包括：通过机器视觉识别触点位置，当触点位置识别后，集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，对大批量异型触点进行机器视觉识别触点位置的大规模检验自动探巡；通过霍尔效应探测探针尖端与触点的接触状态，通过双反热电制冷制热调整大规模检验自巡触点探针阵的探针与触点接触精准触压；当探针与触点触压超过标准触压时，采用正向热电制冷通过热传导收缩探针尖端体积；当探针与触点触压未达到标准触压时，采用反向热电制热通过热传导膨胀探针尖端体积；对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证并保持探针与触点触压稳定。
在一个实施例中，S400，包括：
S401，设置BLDC电机生产线数据接口，接收BLDC电机生产线前端数据；
S402，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行逻辑控制与电机生产线数据交互快速检验；
S403，设置全角度BLDC电机生产线摄录组，通过全角度摄录影像实景合成管控BLDC电机生产全过程实景，并快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果。
上述技术方案的工作原理为：设置BLDC电机生产线数据接口，接收BLDC电机生产线前端数据；根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行逻辑控制与电机生产线数据交互快速检验；设置全角度BLDC电机生产线摄录组，通过全角度摄录影像实景合成管控BLDC电机生产全过程实景，并快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果。
上述技术方案的有益效果为：设置BLDC电机生产线数据接口，接收BLDC电机生产线前端数据；根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行逻辑控制与电机生产线数据交互快速检验；设置全角度BLDC电机生产线摄录组，通过全角度摄录影像实景合成管控BLDC电机生产全过程实景，并快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果；能够进行BLDC电机生产线多种类型数据交互快速检验，快速生成BLDC电机检验参数及智能化大批量BLDC电机检验。
尽管本发明的实施方案已公开如上，但其并不仅仅限于说明书和实施方式中所列运用，它完全可以被适用于各种适合本发明的领域，对于熟悉本领域的人员而言，可容易地实现另外的修改，因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下，本发明并不限于特定的细节与这里示出与描述的图例。
Claims (2)
1.一种BLDC电机生产线快速检验系统，其特征在于，包括：
自巡触点规模检验探针阵分系统，通过大规模自巡触点检验探针阵对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验；
检测探针触压触检驱动分系统，通过集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；
触检驱动自动控制分系统，根据触检驱动检验控制数据进行自适应逻辑控制编程，实现触检驱动自适应逻辑控制；
BLDC电机生产线智能管控分系统，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行生产交互快速检验；并通过全角度影像实景合成管控BLDC电机生产全过程，快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果；
触检驱动自动控制分系统，包括：
识别触点基础框架子系统，通过机器视觉识别触点位置，获取机器识别触点位置数据；
设置逻辑控制编程基础框架；
自适应逻辑编程子系统，将触检驱动检验控制数据输入逻辑控制编程基础框架，进行自适应逻辑控制编程；
逻辑控制验证子系统，根据机器识别触点位置数据，对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证，实现触检驱动自适应逻辑控制；
对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证包括：通过机器视觉识别触点位置，当触点位置识别后，集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，对大批量异型触点进行机器视觉识别触点位置的大规模检验自动探巡；通过霍尔效应探测探针尖端与触点的接触状态，通过双反热电制冷制热调整大规模检验自巡触点探针阵的探针与触点接触精准触压；当探针与触点触压超过标准触压时，采用正向热电制冷通过热传导收缩探针尖端体积；当探针与触点触压未达到标准触压时，采用反向热电制热通过热传导膨胀探针尖端体积；对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证并保持探针与触点触压稳定；
检测探针触压触检驱动分系统，包括：
触点探针排布路径子系统，根据大规模自巡触点检验探针阵的触点探针阵排布，设置触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径；
集散排布快检路径子系统，触点位置探针集散排布按照触点位置集中分散度进行探针集散排布；根据触点位置探针集散排布，通过快速检验最短路径设置触点位置探针移动路径；
探针阵触手驱动子系统，根据触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径，设置集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；
计算大规模自巡触点检验探针阵探针接触电阻值：
其中，ZCNLF表示大规模自巡触点检验探针阵探针接触电阻值，Rhcl表示正极自巡触点检验探针电阻值，Dcl表示探针触点接触位置x轴向数量，Mcn表示自巡触点检验探针总数量，Ecl表示探针触点接触位置z轴向数量，Fcn表示探针触点接触位置Y轴向数量，Rhdk表示负极自巡触点检验探针电阻值；
通过计算大规模自巡触点检验探针阵探针接触电阻值，可以快速进行BLDC电机检验系统电阻误差补偿及反电动势误差降低、BLDC电机检验霍尔特性电平更准确及BLDC电机检验相位差的检验精度更高；
BLDC电机生产线智能管控分系统，包括：
生产线前端数据接口子系统，设置BLDC电机生产线数据接口，接收BLDC电机生产线前端数据；
数据交互快速检验子系统，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行逻辑控制与电机生产线数据交互快速检验；
BLDC电机智能实景管控子系统，设置全角度BLDC电机生产线摄录组，通过全角度摄录影像实景合成管控BLDC电机生产全过程实景，并快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果；
自巡触点规模检验探针阵分系统，包括：
BLDC电机部件触点数据子系统，搜集BLDC电机生产历史过程中部件需检验触点数据，获取BLDC电机过程部件需检验触点数据；
自巡触点探针设置子系统，根据BLDC电机生产部件需检验触点数据，设置大规模自巡触点检验探针阵；大规模自巡触点检验探针阵包括：定子绕线固化引线触点检验探针、转子电性检验触点检验探针、换向焊脚触点检验探针、转轴间隙触点检验探针及整机端子综合检验触点检验探针；
探针自巡触点对接子系统，通过大规模自巡触点检验探针阵中的探针对接BLDC电机生产部件需检验触点，对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验。
2.一种BLDC电机生产线快速检验控制方法，其特征在于，包括：
S100，通过大规模自巡触点检验探针阵对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验；
S200，通过集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；
S300，根据触检驱动检验控制数据进行自适应逻辑控制编程，实现触检驱动自适应逻辑控制；
S400，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行生产交互快速检验；并通过全角度影像实景合成管控BLDC电机生产全过程，快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果；
S300，包括：
S301，通过机器视觉识别触点位置，获取机器识别触点位置数据；设置逻辑控制编程基础框架；
S302，将触检驱动检验控制数据输入逻辑控制编程基础框架，进行自适应逻辑控制编程；
S303，根据机器识别触点位置数据，对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证，实现触检驱动自适应逻辑控制；
对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证包括：通过机器视觉识别触点位置，当触点位置识别后，集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，对大批量异型触点进行机器视觉识别触点位置的大规模检验自动探巡；通过霍尔效应探测探针尖端与触点的接触状态，通过双反热电制冷制热调整大规模检验自巡触点探针阵的探针与触点接触精准触压；当探针与触点触压超过标准触压时，采用正向热电制冷通过热传导收缩探针尖端体积；当探针与触点触压未达到标准触压时，采用反向热电制热通过热传导膨胀探针尖端体积；对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证并保持探针与触点触压稳定；
S200，包括：
S201，根据大规模自巡触点检验探针阵的触点探针阵排布，设置触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径；
S202，触点位置探针集散排布按照触点位置集中分散度进行探针集散排布；根据触点位置探针集散排布，通过快速检验最短路径设置触点位置探针移动路径；
S203，根据触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径，设置集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；
计算大规模自巡触点检验探针阵探针接触电阻值：
其中，ZCNLF表示大规模自巡触点检验探针阵探针接触电阻值，Rhcl表示正极自巡触点检验探针电阻值，Dcl表示探针触点接触位置x轴向数量，Mcn表示自巡触点检验探针总数量，Ecl表示探针触点接触位置z轴向数量，Fcn表示探针触点接触位置Y轴向数量，Rhdk表示负极自巡触点检验探针电阻值；
通过计算大规模自巡触点检验探针阵探针接触电阻值，可以快速进行BLDC电机检验系统电阻误差补偿及反电动势误差降低、BLDC电机检验霍尔特性电平更准确及BLDC电机检验相位差的检验精度更高；
S400，包括：
S401，设置BLDC电机生产线数据接口，接收BLDC电机生产线前端数据；
S402，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行逻辑控制与电机生产线数据交互快速检验；
S403，设置全角度BLDC电机生产线摄录组，通过全角度摄录影像实景合成管控BLDC电机生产全过程实景，并快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果；
S100，包括：
S101，搜集BLDC电机生产历史过程中部件需检验触点数据，获取BLDC电机过程部件需检验触点数据；
S102，根据BLDC电机生产部件需检验触点数据，设置大规模自巡触点检验探针阵；大规模自巡触点检验探针阵包括：定子绕线固化引线触点检验探针、转子电性检验触点检验探针、换向焊脚触点检验探针、转轴间隙触点检验探针及整机端子综合检验触点检验探针；
S103，通过大规模自巡触点检验探针阵中的探针对接BLDC电机生产部件需检验触点，对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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