CN116184172A - 一种电路板的射频测试方法及其射频测试设备、计算机系统与计算机可读存储介质 - Google Patents

一种电路板的射频测试方法及其射频测试设备、计算机系统与计算机可读存储介质 Download PDF

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Abstract

本申请公开一种电路板的射频测试方法，还公开应用该射频测试方法的射频测试设备、计算机系统与计算机可读存储介质。射频测试设备包括一个转盘，转盘的顶面设有第一检测座和第二检测座，转盘上方设有一个可升降的屏蔽箱，第一检测座和第二检测座可通过转盘旋转而轮流位于屏蔽箱正下方、被屏蔽箱罩住，从而轮流进行射频测试。该射频测试方法中，检测到待测电路板放置到轮空的检测座后，控制轮空的该检测座对待测电路板上电，从而能利用检测间隙，提高检测效率。

Description

一种电路板的射频测试方法及其射频测试设备、计算机系统 与计算机可读存储介质
技术领域
本申请属于电路板测试技术领域，具体涉及一种电路板的射频测试方法，还涉及应用该方法的射频测试设备、计算机系统与计算机可读存储介质。
背景技术
电路板产品如果设有射频组件，为保证质量，需要进行射频功能测试。业内常用的射频测试方法，是人工将待检测电路板依次放置到屏蔽箱内射频测试仪器上进行检测。为提高电路板产品生产效率，必须开发自动化的射频测试方法。
发明内容
本申请要解决的技术问题是，如何改进电路板的射频测试方法和射频测试设备，提高检测效率。
本申请第一方面，公开一种电路板的射频测试方法，以下简称射频测试方法。
该射频测试方法用于电路板的射频测试设备，该射频测试设备包括一个转盘，转盘的顶面设有第一检测座和第二检测座，转盘上方设有一个可升降的屏蔽箱，第一检测座和第二检测座可通过转盘旋转而轮流位于屏蔽箱正下方，该方法包括以下步骤：
S10，将第一电路板放在第一检测座上，检测第一电路板就位，生成电路板就位信号；
S20，获取电路板就位信号；
S30，控制第一检测座对第一电路板上电；
S40，检测屏蔽箱位置，如果屏蔽箱为升起状态，控制转盘旋转将第一检测座正对屏蔽箱，检测第一检测座就位，生成第一检测座就位信号；
S50，获取第一检测座就位信号，控制屏蔽箱下降而罩住第一检测座；
S60，对第一电路板进行射频测试，测试结束后：控制屏蔽箱升起，控制第一检测座对第一电路板断电；
S70，将第二电路板放在第二检测座上，执行S10～S60中其余对应的操作，在获取第二检测座就位信号后将第一电路板从第一检测座取下。
该射频测试方法中，检测到待测电路板放置到轮空的检测座后，控制轮空的该检测座对待测电路板上电，从而能利用检测间隙，提高检测效率。
在本申请的一些实施例中可以选择：
在S20步骤中，还控制第一检测座而将第一电路板夹紧；
在S70步骤中，将第一电路板取下之前，控制第一检测座将第一电路板放开。
本申请的第二方面，公开一种电路板的射频测试设备，以下简称射频测试设备。
该射频测试设备包括一个转盘，转盘的顶面设有第一检测座和第二检测座，转盘上方设有一个可升降的屏蔽箱，第一检测座和第二检测座：分别用于承载待测电路板，可通过转盘旋转而轮流位于屏蔽箱正下方、被屏蔽箱罩住，从而轮流进行射频测试。
采用上述结构，转盘上的通过旋转换位而轮流让承载的待测电路板进行射频测试，可以提高检测效率。
在本申请的一些实施例中可以选择，在射频测试过程中，第一检测座和第二检测座能够将待测电路板夹紧固定。
在本申请的一些实施例中可以选择，第二检测座与第一检测座的结构一致，第一检测座包括：
电路板承托台，位于第一检测座顶面，设有供电连接器和按压感应器，按压感应器接触待测电路板后生成电路板就位信号；以及
电路板夹具，设置在电路板承托台侧边上方，用于将待测电路板夹紧在电路板承托台之上。
在本申请的一些实施例中可以选择，所述第一检测座还包括电路板承托台升降组件，该电路板承托台升降组件：设置在所述电路板承托台底部，用于所述驱动电路板承托台升降，配合所述电路板夹具而将待测电路板夹紧。
采用上述结构，使待测电路板安装稳固，可以防止旋转离心力引起待测电路板电接触不良和电连接器损害，提高检测过程的安全可靠性。
本申请的第三方面，公开一种计算机系统。
该计算机系统包括：
通讯接口，用于连接本申请第二方面所述的射频测试设备；
存储器，存有指令程序；以及
执行器，可以调入和执行所述指令程序，能够根据所述指令程序控制所述射频测试设备完成本申请第一方面所述的射频测试方法。
本申请的第四方面，公开一种计算机可读存储介质。
该计算机可读存储介质存有指令程序，该指令程序可以调入一个计算机系统，该计算机系统能够：执行所述指令程序，根据所述指令程序控制本申请第二方面所述的射频测试设备完成本申请第一方面所述的射频测试方法。
实施本申请的技术方案，可获得以下有益效果：
本申请公开一种电路板的射频测试方法，还公开应用该射频测试方法的射频测试设备、计算机系统与计算机可读存储介质。射频测试设备包括一个转盘，转盘的顶面设有第一检测座和第二检测座，转盘上方设有一个可升降的屏蔽箱，第一检测座和第二检测座可通过转盘旋转而轮流位于屏蔽箱正下方、被屏蔽箱罩住，从而轮流进行射频测试。该射频测试方法中，检测到待测电路板放置到轮空的检测座后，控制轮空的该检测座对待测电路板上电，从而能利用检测间隙，提高检测效率。
附图说明
后面的附图应结合具体实施方式部分使用。附图中：
图1是实施例一的左视示意图，图中：第一安装座轮空、其电路板夹具打开，第一安装座正在测试、其电路板夹具夹紧；
图2是实施例一中底座顶面的俯视示意图，图中未绘出屏蔽箱、屏蔽箱安装架和电路板夹具；
图3是实施例一中两个检测座的使用状态俯视示意图，图中：未绘出屏蔽箱安装架，未绘出第二检测座的电路板夹具；
图4是图3中第一检测座的正视示意图。
具体实施方式
为充分说明本申请，下面结合附图介绍实施例。请注意本说明书中：
“一个实施例”、“一些实施例”和“其他实施例”，用于区分具体的、相互不同的实施例，不泛指全部实施例；
“示意图”不符合实际比例关系，仅用于说明下述实施例的技术特征，从示意图观测的其他特征不一定是下述实施例的技术特征；
“中心、内、外、远、近、长、宽、上、下、前、后、左、右、顶、底”等指示的方位或位置，是基于附图观察角度，不可理解为装置或部件朝向特定方位、以特定方位构造或操作；
除非特别说明，“第一、第二、第三”等序列词，用于区分有同样基本功能与常用名的多个部件时，没有顺序含义。
实施例一
公开一种电路板的射频测试设备，以下简称射频测试设备。
该射频测试设备包括一个底座10和一个转盘20。
请参阅图1和图2，底座10是一个箱体，它的底面四角设置支脚11，它的后面板可打开或拆卸。底座10的内部设有旋转驱动部件、电源部件、电气控制部件(PLC或其他单片机)、气动控制部件、联网通讯部件和测试控制部件。底座10的前面板上安装有控制箱12。控制箱12的一个表面设置为控制面板121，控制面板121上嵌设按键或其他人工操作控制部件。以上结构，是机电设备常规设计，在此无需赘述。
底座10的顶面后端，设有一个屏蔽箱安装架13。屏蔽箱安装架13上设有一对屏蔽箱导轨14和一个屏蔽箱升降气缸(附图未绘出)。
转盘20：是一块长方形板，可旋转地水平设置在底座10的顶面上。转盘20的底面中心、设有沿法向延伸的转盘枢轴21。转盘枢轴21与底座10内部的旋转驱动部件传动连接。
转盘20顶面设有第一检测座31和第二检测座32，转盘20上方设有一个可升降的屏蔽箱40。具体地，屏蔽箱40为长方体形，一个侧面设置为开口，并且开口朝下。
屏蔽箱40由上述屏蔽箱升降气缸驱动、沿屏蔽箱导轨14上下升降。该结构为机械设备常规设计，在此无需赘述。
第一检测座31和第二检测座32：分别用于承载待测电路板(下述第一电路板81和第二电路板82)，可通过转盘10旋转而轮流位于屏蔽箱40正下方、被屏蔽箱40罩住，从而轮流进行射频测试。测试完毕，上述电气控制部件可以通过气动控制部件、屏蔽箱升降气缸将屏蔽箱40升起。屏蔽箱40的升起状态，在图1中标记为40’。
在上述射频测试过程中，第一检测座31和第二检测座32能够将待测电路板夹紧固定。在图1中，第一检测座31轮空、暂时没有承载待测电路板，它的电路板夹具314为打开状态；承载第二电路板82的第二检测座31正在测试，第二检测座31的电路板夹具将电路板82夹紧。
第二检测座32与第一检测座31的结构一致，二者相对转盘20的顶面中心相互对称地固定设置。
采用上述结构，第一检测座31和第二检测座32，可以通过转盘20旋转而轮流位于屏蔽箱40正下方、被屏蔽箱40罩住，轮流进行射频测试。从而提高了测试过程的自动化程度，提高了测试效率。
第一检测座31包括一个电路板承托台311、一个电路板承座312，一对夹具驱动气缸313、一对电路板夹具314，以及一个承托台升降组件315。
电路板承托台311为长方形板，可拆卸地设置在电路板承座312的顶面上，具体构造根据具体测试对象而确定。不同的电路板承托台311，具有一致的幅面尺寸。
电路板承托台311设有供电连接器3121和按压感应器3122。供电连接器3121用于为待测电路板供电。按压感应器3122接触待测电路板后生成电路板就位信号。采用上述结构，检测到待测电路板放置到轮空的第一检测座31后，控制第一检测座31对待测电路板上电，从而能利用检测间隙，提高检测效率。
两个电路板夹具314的顶端：对称地设置在电路板承托台311的相对侧边上方，用于将待测电路板夹紧在电路板承托台311之上。
请参阅图1、图3和图4，电路板承座312的主体为长方体形，它的底面设置为承托台底板3111。承托台底板3111与电路板承托台311的幅面，规格一致、完全重叠。电路板承座312的左右侧板间距小于承托台底板3111的左右宽度。
一对夹具驱动气缸313，分别设置在电路板承座312的左右侧板之外、承托台底板3111上。夹具驱动气缸313的活塞杆末端，朝向上方，垂直设有一个齿条连杆3131。齿条连杆3131的两端分别设有一个齿条3132。
电路板夹具314包括一对夹具齿轮3141、一个夹具框架3142和一对夹具头3143。
夹具框架3142包括一个顶部横杆3142a。顶部横杆3142a的两端平行设置朝向一致的一对夹具竖杆3142b。顶部横杆3142a与一对夹具竖杆3142b组成一个“门”字形框架。
两个夹具头3143为条形，朝向一致、相互间隔地设置在顶部横杆3142a的中部，并且垂直于顶部横杆3142a和夹具竖杆3142b所在平面(上述门字形框架)。
夹具头3143的头部用于接触待测电路板，尾部套设在顶部横杆3142a上，从而夹具头3143的安装位置可以调节。夹具头3143包括可拆卸连接的头部与尾部，从而头部可以更换。夹具头3143的头部与尾部，可相对滑动调整、改变夹具头3143的总长度，从而适应不同规格的测试电路板。
两个夹具竖杆3142b的末端设置一对底部连杆3142c。底部连杆3142c与夹具头3143的朝向一致，也垂直于顶部横杆3142a和夹具竖杆3142b所在平面(上述门字形框架)。
一对夹具齿轮3141，分别通过自身的齿轮轴枢接在电路板承座312的左右侧板上，分别与一个齿条3132相互啮合。夹具齿轮3141的外侧面，固定连接底部连杆3142c的末端。
采用上述结构，第一检测座31的两个夹具驱动气缸313同步动作，可以同步控制两个电路板夹具314将待测电路板(图3和图4中的电路板81)夹紧。
电路板承托台升降组件315：设置在电路板承托台311底部，用于驱动电路板承托台311升降，配合电路板夹具314而将待测电路板夹紧。
具体地，电路板承托台升降组件315包括升降气缸。电路板承托台311的升降，与电路板夹具314的放开和夹紧，均为气动驱动。采用上述结构，电路板夹具314和电路板承托台升降组件315，能够相互配合，将待测电路板夹紧在电路板承托台311上，从而待测电路板安装稳固，防止旋转离心力引起的电接触不良和电连接器损害，提高检测过程的安全可靠性。
实施例二
公开一种电路板的射频测试方法，以下简称射频测试方法。
该射频测试方法，用于实施例一的射频测试设备，包括以下步骤：
S10，将第一电路板81放在第一检测座31上，检测第一电路81板就位，生成电路板就位信号；
S20，获取电路板就位信号，控制第一检测座31而将第一电路板81夹紧；
S30，控制第一检测座81对第一电路板81上电；
S40，检测屏蔽箱位置，如果屏蔽箱为升起状态，控制转盘旋转将第一检测座正对屏蔽箱，检测第一检测座就位，生成第一检测座就位信号；
S50，获取第一检测座就位信号，控制屏蔽箱下降而罩住第一检测座；
S60，对第一电路板进行射频测试，测试结束后：控制屏蔽箱升起，控制第一检测座对第一电路板断电；
S70，将第二电路板放在第二检测座上，执行S10～S60中其余对应的操作，在获取第二检测座就位信号后：控制第一检测座将第一电路板放开，将第一电路板从第一检测座取下。
在步骤S20中，控制第一检测座31的电路板承托台升降组件315，驱动电路板承托台311升降，从而配合电路板夹具314而将第一电路板夹紧。
在步骤S40中，第一检测座就位信号是通过光电编码器、反射式红外传感器、霍尔微动开关或按压微动开关获取，电路板就位信号是通过反射式红外传感器、霍尔微动开关、按压微动开关获取。以上传感器或感应器的选择和具体装配，属于机电设备常规设计。
该射频测试方法中：(1)第一检测座31和第二检测座32通过转盘20旋转而轮流位于屏蔽箱40正下方、被屏蔽箱40罩住，轮流进行射频测试；(2)检测到待测电路板放置到轮空的检测座后，控制轮空的该检测座对待测电路板上电，从而能利用检测间隙，提高检测效率；(3)电路板夹具314和电路板承托台升降组件315，相互配合将待测电路板夹紧在电路板承托台311上，从而待测电路板安装稳固，防止旋转离心力引起的电接触不良和电连接器损害，提高检测过程的安全可靠性。
实施例三
公开一种计算机系统。
该计算机系统包括通讯接口、存储器和执行器。该计算机系统可以是嵌入式系统、桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等数字电子设备。本领域技术人员可以理解，上述计算机系统可包括和连接更多的部件或外围设备，例如：读卡器、键盘、鼠标、摄像头、打印机、显示器、扬声器、指示灯等输入输出设备。
通讯接口，用于连接实施例一的射频测试设备。该通讯接口属于或用于连接无线网卡、有线网卡，用于连接到路由器、中继器和总线等网络设备。
存储器，存有指令程序。存储器包括硬磁盘、内存(DRAM)、智能存储卡(SmartMedia Card，SMC)，安全数字(Secure Digital，SD)卡，闪存卡(Flash Card)或其他类型的非易失性固态存储器件。存储器可以设置程序存储区和数据存储区。程序存储区存储操作系统和应用程序(例如声音播放程序、图像播放程序)。数据存储区可存储通过输入设备创建的和执行器创建的数据(字符、图像、音频、视频)。
执行器，可以调入和执行上述指令程序，能够根据所述指令程序控制实施例一的射频测试设备完成实施例二的射频测试方法。执行器可以是CPU(中央处理单元)，DSP(数字信号处理器)等通用处理器，或者ASIC(专用集成电路)、FPGA(现场可编程门阵列)，以及其他可编程逻辑器件。
实施例四
公开一种计算机可读存储介质。
该计算机可读介质是硬磁盘、软磁盘、光盘、智能存储卡(SMC)，安全数字(SD)卡，闪存卡(Flash Card)，或者只读存储器(ROM)等。
该计算机可读介质存有指令程序。该指令程序可以调入一个计算机系统，该计算机系统能够执行上述指令程序，即根据上述指令程序、控制实施例一的射频测试设备、完成实施例二的射频测试方法。
实施例二可以以软件功能单元或独立软件的形式销售与使用。该软件(单元)存储在计算机可读取存储介质中，作为或者属于一个计算机程序。上述计算机程序的形式是源代码、对象代码、可执行文件或中间件。
以上所有实施例，旨在介绍本申请的技术构思及特点，使本领域技术人员了解和实施本申请的技术方案，但不构成对本申请保护范围的任何限制。对上述实施例的简单改动或等效变换，均在本申请保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电路板的射频测试方法，用于电路板的射频测试设备，其特征是，该射频测试设备包括一个转盘，转盘的顶面设有第一检测座和第二检测座，转盘上方设有一个可升降的屏蔽箱，第一检测座和第二检测座可通过转盘旋转而轮流位于屏蔽箱正下方，该方法包括以下步骤：
S10，将第一电路板放在第一检测座上，检测第一电路板就位，生成电路板就位信号；
S20，获取电路板就位信号；
S30，控制第一检测座对第一电路板上电；
S40，检测屏蔽箱位置，如果屏蔽箱为升起状态，控制转盘旋转将第一检测座正对屏蔽箱，检测第一检测座就位，生成第一检测座就位信号；
S50，获取第一检测座就位信号，控制屏蔽箱下降而罩住第一检测座；
S60，对第一电路板进行射频测试，测试结束后：控制屏蔽箱升起，控制第一检测座对第一电路板断电；
S70，将第二电路板放在第二检测座上，执行S10～S60中其余对应的操作，在获取第二检测座就位信号后将第一电路板从第一检测座取下。
2.根据权利要求1所述的射频测试方法，其特征是，
在S20步骤中，还控制第一检测座而将第一电路板夹紧；
在S70步骤中，将第一电路板取下之前，控制第一检测座将第一电路板放开。
3.根据权利要求2所述的射频测试方法，其特征是，第二检测座与第一检测座的结构一致，第一检测座包括：
电路板承托台，位于第一检测座顶面，设有供电连接器和按压感应器，供电连接器用于对第一电路板供电，按压感应器接触第一电路板后生成第一电路板就位信号；以及
电路板夹具，设置在电路板承托台的侧边，用于将第一电路板夹紧在电路板承托台之上。
4.根据权利要求3所述的射频测试方法，其特征是，所述第一检测座还包括电路板承托台升降组件，该电路板承托台升降组件：设置在电路板承托台底部，用于驱动电路板承托台升降，配合电路板夹具而将第一电路板夹紧。
5.一种电路板的射频测试设备，其特征是，包括一个转盘，转盘的顶面设有第一检测座和第二检测座，转盘上方设有一个可升降的屏蔽箱，第一检测座和第二检测座：分别用于承载待测电路板，可通过转盘旋转而轮流位于屏蔽箱正下方、被屏蔽箱罩住，从而轮流进行射频测试。
6.根据权利要求5所述的射频测试设备，其特征是，在射频测试过程中，第一检测座和第二检测座能够将待测电路板夹紧固定。
7.根据权利要求6所述的射频测试设备，其特征是，第二检测座与第一检测座的结构一致，第一检测座包括：
电路板承托台，位于第一检测座顶面，设有供电连接器和按压感应器，按压感应器接触待测电路板后生成电路板就位信号；以及
电路板夹具，设置在电路板承托台侧边上方，用于将待测电路板夹紧在电路板承托台之上。
8.根据权利要求7所述的射频测试设备，其特征是，所述第一检测座还包括电路板承托台升降组件，该电路板承托台升降组件：设置在所述电路板承托台底部，用于驱动所述电路板承托台升降，配合所述电路板夹具而将待测电路板夹紧。
9.一种计算机系统，其特征是，包括：
通讯接口，用于连接权利要求5所述的射频测试设备；
存储器，存有指令程序；以及
执行器，可以调入和执行所述指令程序，能够根据所述指令程序控制所述射频测试设备完成权利要求1所述的射频测试方法。
10.一种计算机可读存储介质，存有指令程序，其特征是，该指令程序可以调入一个计算机系统，该计算机系统能够：执行所述指令程序，根据所述指令程序控制权利要求5所述的射频测试设备完成权利要求1所述的射频测试方法。
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