CN116164779A - 光电传感器及其控制方法 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供一种光电传感器及其控制方法。所述控制方法包括：在判定周期内，随机确定至少一个投光周期，其中，所述判定周期包括至少一个投光周期，每个投光周期内设置有投光定时和干扰检测定时，所述光电传感器在所述投光定时进行投光，在所述干扰检测定时进行干扰检测；在确定的所述投光周期内，使原始的干扰检测定时延迟第一预设时间或提前第二预设时间，得到调整后的干扰检测定时；以及在所述调整后的干扰检测定时进行干扰检测。由此，能够提高光电传感器的抗干扰能力。

Description

光电传感器及其控制方法

技术领域

本申请实施例涉及光电技术领域，尤其涉及一种光电传感器及其控制方法。

背景技术

光电传感器在受到电磁波干扰时容易发生误检测或误动作等问题。其中，电磁波干扰例如来自于其他光电传感器、自然光、白炽灯、荧光灯、节能灯、变频灯、LED灯等。

例如，在光电传感器与一台或多台其他光电传感器在同一空间内完成预定任务的过程中，该一台或多台其他光电传感器与当前光电传感器的投光频率特征相同或相似的情况下，该其他光电传感器的投光可能会对当前光电传感器造成干扰，导致当前光电传感器出现误动作。为了便于描述，将此类光或此类干扰称为干涉光或干涉干扰。

应该注意，上面对技术背景的介绍只是为了方便对本申请的技术方案进行清楚、完整的说明，并方便本领域技术人员的理解而阐述，不能仅仅因为这些方案在本申请的背景技术部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人员所公知。

发明内容

图11是目前的干涉光规避方式的一示意图。如图11所示，在目前的干涉光规避方式中，光电传感器在投光之后，将当前的受光状态与此次投光之前的若干次受光状态进行比较，例如，与此前的7回受光状态进行比较。在当前的受光状态与之前的若干次受光状态不同、并且当前的受光状态为有检出体的情况下，缩短后续的投光周期，例如，将后续的投光周期缩短为原投光周期的0.8倍。通过缩短投光周期，来调整光电传感器的投光定时，期望将当前的光电传感器的投光定时与其他的光电传感器的投光定时错开，由此，来避免干涉光的干扰。

发明人发现，在目前的干涉光规避方式中，通过缩短投光周期来调整投光定时的方式在某些场景下仍无法可靠地规避干涉光的干扰，并且，通过缩短投光周期来调整投光定时的操作比较复杂，例如，连续地变更光电传感器的投光周期使得光电传感器的响应时间随之变化，导致相关处理都需要进行相应的调整。

为了解决上述技术问题中的至少一个，本申请实施例提供一种光电传感器及其控制方法，能够以简单的方式提高光电传感器进行干扰检测的准确性，从而有助于减少光电传感器因受到外部干扰而发生误动作的可能性。

根据本申请实施例的一个方面，提供一种光电传感器的控制方法，所述方法包括：在判定周期内，随机确定至少一个投光周期，其中，所述判定周期包括至少一个投光周期，每个投光周期内设置有投光定时和干扰检测定时，所述光电传感器在所述投光定时进行投光，在所述干扰检测定时进行干扰检测；在确定的所述投光周期内，使原始的干扰检测定时延迟第一预设时间或提前第二预设时间，得到调整后的干扰检测定时；以及在调整后的干扰检测定时进行干扰检测。

根据本申请实施例的另一个方面，提供一种光电传感器，所述光电传感器包括：确定单元，其在判定周期内，随机确定至少一个投光周期，其中，所述判定周期包括至少一个投光周期，每个投光周期内设置有投光定时和干扰检测定时，所述光电传感器在所述投光定时进行投光，在所述干扰检测定时进行干扰检测；调整单元，其在确定的所述投光周期内，使原始的干扰检测定时延迟第一预设时间或提前第二预设时间，得到调整后的干扰检测定时；以及检测单元，其在调整后的干扰检测定时进行干扰检测。

本申请实施例的有益效果之一在于：通过在判定周期内随机地确定至少一个投光周期，在确定的投光周期内，使原始的干扰检测定时延迟第一预设时间或提前第二预设时间，得到调整后的干扰检测定时，在调整后的干扰检测定时进行干扰检测。由此，能够以简单的方式提高光电传感器进行干扰检测的准确性，从而有助于减少光电传感器因受到外部干扰而发生误动作的可能性。

参照后文的说明和附图，详细公开了本申请实施例的特定实施方式，指明了本申请实施例的原理可以被采用的方式。应该理解，本申请的实施方式在范围上并不因而受到限制。在所附权利要求的精神和条款的范围内，本申请的实施方式包括许多改变、修改和等同。

附图说明

所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本申请的实施方式，并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施方式。在附图中：

图1是本申请实施例的光电传感器的控制方法的一示意图；

图2是本申请实施例的判定周期的一示意图；

图3是本申请实施例的输出结果的一示意图；

图4是本申请实施例的投光周期的一示意图；

图5是本申请实施例的调整干扰检测定时的一示意图；

图6是本申请实施例的调整干扰检测定时的另一示意图；

图7是本申请实施例的光电传感器的控制方法的另一示意图；

图8是本申请实施例的定时调整方式的一示意图；

图9是本申请实施例的光电传感器的结构的一示意图；

图10是本申请实施例的光电传感器的另一示意图；

图11是目前的干涉光规避方式的一示意图。

具体实施方式

参照附图，通过下面的说明书，本申请实施例的前述以及其它特征将变得明显。在说明书和附图中，具体公开了本申请的特定实施方式，其表明了其中可以采用本申请实施例的原则的部分实施方式，应了解的是，本申请不限于所描述的实施方式，相反，本申请实施例包括落入所附权利要求的范围内的全部修改、变型以及等同物。

在本申请实施例中，术语“第一”、“第二”等用于对不同元素从称谓上进行区分，但并不表示这些元素的空间排列或时间顺序等，这些元素不应被这些术语所限制。术语“和/或”包括相关联列出的术语的一种或多个中的任何一个和所有组合。术语“包含”、“包括”、“具有”等是指所陈述的特征、元素、元件或组件的存在，但并不排除存在或添加一个或多个其他特征、元素、元件或组件。

在本申请实施例中，单数形式“一”、“该”等包括复数形式，应广义地理解为“一种”或“一类”而并不是限定为“一个”的含义；此外术语“所述”应理解为既包括单数形式也包括复数形式，除非上下文另外明确指出。此外术语“根据”应理解为“至少部分根据……”，术语“基于”应理解为“至少部分基于……”，除非上下文另外明确指出。

针对一种实施方式描述和/或示出的特征可以以相同或类似的方式在一个或更多个其它实施方式中使用，与其它实施方式中的特征相组合，或替代其它实施方式中的特征。术语“包括/包含”在本文使用时指特征、整件、步骤或组件的存在，但并不排除一个或更多个其它特征、整件、步骤或组件的存在或附加。

第一方面的实施例

本申请实施例提供一种光电传感器的控制方法。图1是本申请实施例的光电传感器的控制方法的一示意图，如图1所示，该方法包括：

步骤101，在判定周期内，随机确定至少一个投光周期，其中，判定周期包括至少一个投光周期，每个投光周期内设置有投光定时和干扰检测定时，光电传感器可以在投光定时进行投光，在干扰检测定时进行干扰检测；

步骤102，在确定的投光周期内，使原始的干扰检测定时延迟第一预设时间或提前第二预设时间，得到调整后的干扰检测定时；以及

步骤103，在调整后的干扰检测定时进行干扰检测。

根据本申请实施例，通过在判定周期内随机确定至少一个投光周期，在确定的投光周期内，使原始的干扰检测定时延迟第一预设时间或提前第二预设时间，得到调整后的干扰检测定时，在调整后的干扰检测定时进行干扰检测。由此，能够以简单的方式提高光电传感器进行干扰检测的准确性，从而有助于减少光电传感器因受到外部干扰而发生误动作的可能性。

值得注意的是，图1仅示意性地对本申请实施例进行了说明，但本申请不限于此。例如可以适当地调整各个步骤之间的执行顺序，此外还可以增加其他的一些步骤或者减少其中的某些步骤。本领域的技术人员可以根据上述内容进行适当地变型，而不仅限于图1的记载。

在一些实施例中，光电传感器可以是各种类型的光电传感器，例如，其可以是反射型光电传感器、槽型光电传感器、对射型光电传感器、反光板型光电开关、扩散反射型光电开关等等。另外，该光电传感器可以用于各种用途，例如，其可以用于检测物体、测量距离、光通信等等。

在一些实施例中，一个判定周期可以包括至少一个投光周期。光电传感器可以在投光周期内发射投光脉冲，并根据在投光周期内接收的光信号来确定光电传感器的输出结果。

图2是本申请实施例的判定周期的一示意图。例如，如图2所示，一个判定周期可以包括8个投光周期，如果在该8个投光周期内，光电传感器接收到连续的8个脉冲，可以认为光电传感器接收到有效信号，光电传感器输出与有效信号对应的输出结果。其中，图2仅示意性地对本申请实施例的判定周期的结构进行了说明，但本申请不限于此，判定周期也可以是其他结构，例如，判定周期包括其他数量的投光周期，或者，在投光周期之外的设置用于其他用途的周期。

图3是本申请实施例的输出结果的一示意图。如图3所示，第一个判定周期包括回数2-9的投光周期，在回数2-8的投光周期内，判定结果均为ON，在回数9的投光周期内，判定结果为OFF，该判定周期的输出不变，维持OFF。第二个判定周期包括回数10-17的投光周期，在回数10-17的投光周期内，判定结果均为ON，该判定周期的输出翻转，由OFF变为ON。但是，本申请不限于此，也可以采用其他方式确定光电传感器的输出结果。

在一些实施例中，每个投光周期内设置有投光定时和干扰检测定时，其中，光电传感器可以在投光定时发射投光脉冲，在干扰检测定时进行干扰检测。

图4是本申请实施例的投光周期的一示意图。如图4所示，在一个投光周期中，可以设置有两个干扰检测定时(第一干扰检测定时①和第二干扰检测定时③)以及一个投光定时②。其中，第一干扰检测定时①可以设置在投光定时②的之前，第二干扰检测定时③可以设置在投光定时②的之后。通过在一个投光定时前后分别设置干扰检测定时，能够增加干扰检测的时机，有助于提高干扰检测的准确性。本申请不限于此，在一个投光周期内，也可以仅设置一个干扰检测定时，例如，仅设置第一干扰检测定时①或第二干扰检测定时③。

在一些实施例中，在步骤101中，在判定周期内，可以随机地确定一个或多个投光周期，在确定的一个或多个投光周期内调整干扰检测定时。通过在判定周期内随机地确定投光周期，能够降低与其他光电传感器发生碰撞的概率，进一步保证干扰检测的可靠性。

在一些实施例中，可以仅选择判定周期中的一个投光周期，由此，能够进一步降低与其他光电传感器发生碰撞的概率，进一步保证干扰检测的可靠性。

在一些实施例中，在步骤101中，可以根据随机数(第一随机数)，随机地确定一个或多个投光周期。例如，在一个判定周期内设置有8个投光周期的情况下，可以随机地生成取值为0-7的第一随机数，根据生成的第一随机数确定在8个投光周期中的哪个投光周期调整干扰检测定时。

在一些实施例中，在步骤101中，可以在当前的判定周期的上一个判定周期内，确定第一随机数。通过在上一个判定周期内生成第一随机数，能够在当前的判定周期开始时，快速地确定当前判定周期内的需要调整干扰检测定时的投光周期。

在一些实施例中，在步骤102中，在确定的投光周期内，可以使原始的干扰检测定时延迟第一预设时间，得到调整后的干扰检测定时。或者，也可以使原始的干扰检测定时提前第二预设时间，得到调整后的干扰检测定时。

在一些实施例中，在一个投光周期内设置有第一干扰检测定时和第二干扰检测定时的情况下，可以使第一干扰检测定时延迟第一预设时间，相应地，使投光定时和第二干扰检测定时也延迟第一预设时间。或者，可以使第二干扰检测定时提前第二预设时间，相应地，使投光定时和第一干扰检测定时也提前第二预设时间。在此情况下，可以保持投光周期的时长不变，仅调整该投光周期内的干扰检测定时和投光定时。由此，能够避免对光电传感器的响应时间造成影响。

在一些实施例中，可以根据随机数(第二随机数)，随机地确定第一预设时间或第二预设时间。通过根据第二随机数随机地确定干扰检测定时的延迟时间或提前时间，能够降低与其他光电传感器发生碰撞的概率，进一步保证干扰检测的可靠性。

在一些实施例中，可以在判定周期的上一个判定周期内，确定第二随机数，根据第二随机数确定第一预设时间或第二预设时间。通过在上一个判定周期内生成第二随机数，能够在当前的判定周期开始时，快速地确定干扰检测定时的调整方案。

在一些实施例中，第一预设时间可以为如下的时间：在第一干扰检测定时延迟第一预设时间后，第一干扰检测定时与按照原始的投光定时进行投光、受光量大于预设受光量的时间区间至少部分重合。通过将第一干扰检测定时调整为与按照原始的投光定时进行投光、受光量大于预设受光量的时间区间至少部分重合，能够保证在第一干扰检测定时可靠地检测到按照原始的投光定时进行投光的其他光电传感器的投光脉冲，从而能够可靠地检测到干涉干扰。

在一些实施例中，该第一预设时间可以进一步为如下的时间：在第一干扰检测定时延迟第一预设时间后，按照原始的投光定时进行投光、受光量达到峰值的时刻落入调整后的第一干扰检测定时内。由此，能够进一步提高在调整后的第一干扰检测定时检测到干涉干扰的概率。

在一些实施例中，第二预设时间为如下的时间：在第二干扰检测定时提前第二预设时间后，第二干扰检测定时与按照原始的投光定时进行投光、受光量大于预设受光量的时间区间至少部分重合。通过将第二干扰检测定时调整为与按照原始的投光定时进行投光、受光量大于预设受光量的时间区间至少部分重合，能够保证在第二干扰检测定时可靠地检测到按照原始的投光定时进行投光的其他光电传感器的投光脉冲，从而能够可靠地检测到干涉干扰。

在一些实施例中，该第二预设时间可以进一步为如下的时间：在第二干扰检测定时提前第二预设时间后，按照原始的投光定时进行投光、受光量达到峰值的时刻落入调整后的第二干扰检测定时内。由此，能够进一步提高在调整后的第二干扰检测定时检测到干涉干扰的概率。

在一些实施例中，预设受光量可以是如下的值：在干扰检测定时检测到的受光量大于该预设受光量时，判定为检测到干扰信号。例如，该预设受光量是最大受光量的1/2，等等。

以下，以一个投光周期内设置有第一干扰检测定时和第二干扰检测定时、将第一干扰检测定时延迟第一预设时间为例，对本申请的调整干扰检测定时的方式进行示例性的说明。

图5是本申请实施例的调整干扰检测定时的一示意图，图6是本申请实施例的调整干扰检测定时的另一示意图。如图5所示，一个投光周期为100微秒，将第一干扰检测定时①和第二干扰检测定时③同时延迟3.5-7.5微秒，并且将投光定时②也延迟3.5-7.5微秒。在此情况下，当前光电传感器的自身的投光受光信号④也相应的延迟。对于按照原来的定时进行投光的其他光电传感器(即，未进行干扰检测定时调整的其他光电传感器)来说，其投光脉冲⑤与当前光电传感器的调整后的第一干扰检测定时①重合。由此，当前光电传感器可以在调整后的第一干扰检测定时检测到其他光电传感器的投光脉冲(即，干涉干扰)。

在一些实施例中，如图5所示，受光信号的幅度或能量大致呈先增加、再减小的变化趋势，在此情况下，可以根据受光信号增加到预设受光量的时间、以及受光信号减小到预设受光量的时间确定第一干扰检测定时能够延迟的时间范围(例如，3.5-7.5微秒)。再根据在上一个判定周期内生成的第二随机数，从该时间范围内确定一个具体的延迟时间(例如，4微秒)。

更具体地，如图6所示，以同一场景中设置有互相干扰的两个传感器(传感器1和传感器2)为例，如图6的(a)所示，传感器1的第一干扰检测定时1-1和传感器2的第一干扰检测定时2-1的时长均为1微秒，传感器1的投光定时1-2和传感器2的投光定时2-2的时长均为2微秒，传感器1的第二干扰检测定时1-3和传感器2的第二干扰检测定时2-3的时长均为1微秒，其中，传感器1的投光定时1-2与第二干扰检测定时1-3之间、传感器2的投光定时2-2与第二干扰检测定时2-3之间均间隔10微秒。在传感器1和传感器2在该投光周期内，按照相同的定时进行干扰检测和投光时，传感器1无法在干扰检测定时检测到传感器2的投光脉冲(即，干涉干扰)。

如图6的(b)所示，将传感器1的第一干扰检测定时1-1、投光定时1-2以及第二干扰检测定时1-3延迟3.5微秒，得到调整后的第一干扰检测定时1-1’、投光定时1-2’以及第二干扰检测定时1-3’。传感器2按照原始的投光定时2-2发射投光脉冲，并且，在传感器2投光后3-4微秒左右，传感器1检测到的受光信号达到最大值。通过将传感器1的第一干扰检测定时1-1调整到第一干扰检测定时1-1’，能够使受光信号达到最大值的时刻落入调整后的第一干扰检测定时1-1’内，从而，传感器1能够在调整后的第一干扰检测定时1-1’内检测到传感器2的投光脉冲(即，干涉干扰)。

图7是本申请实施例的光电传感器的控制方法的另一示意图。如图7所示，该控制方法包括：

步骤701，判断回数是否小于8，在判断为是的情况下，执行步骤702，否则执行步骤706；

步骤702，根据第一随机数，判断当前的投光周期是否要进行定时的调整，在判断为是的情况下，执行步骤703，否则执行步骤704；

步骤703，根据第二随机数，调整干扰检测定时和投光定时，根据调整后的定时进行动作；

步骤704，按照原始的定时进行干扰检测和投光；

步骤705，回数加1；

步骤706，将回数设置为0；

步骤707，生成下一个判定周期的第一随机数和第二随机数。

值得注意的是，图7仅示意性地对本申请实施例进行了说明，但本申请不限于此。例如可以适当地调整各个步骤之间的执行顺序，此外还可以增加其他的一些步骤或者减少其中的某些步骤。本领域的技术人员可以根据上述内容进行适当地变型，而不仅限于图7的记载。

在一些实施例中，如图1所示，该方法还可以包括：

步骤104，根据干扰检测的结果，调整投光定时。

在一些实施例中，步骤104可以包括：

在第一干扰检测定时检测到干扰的情况下，在当前的投光周期内，将投光定时延迟第一时长；在第一干扰检测定时未检测到干扰的情况下，在当前的投光周期内，不改变投光定时。由此，能够避免第一干扰检测定时内检测到干扰对当前的投光周期的受光信号造成影响。

在一些实施例中，该第一时长可以是如下的时长：在第一干扰检测定时内检测到的受光信号的受光量经过该第一时长之后下降到预设受光量之下。例如，在第一干扰检测定时检测到干扰的情况下，可以将当前投光周期内的投光定时延迟10微秒。

在一些实施例中，在当前的投光周期不是调整定时的投光周期的情况下，在第一干扰检测定时(即，原始的第一干扰检测定时)检测到干扰的情况下，投光定时在原始投光定时的基础上延迟第一时长，例如10微秒；在当前的投光周期是调整定时的投光周期的情况下，例如，第一干扰检测定时延迟3.5微秒，在调整后的第一干扰检测定时检测到干扰的情况下，投光定时在调整后投光定时(即，在原始投光定时的基础上延迟3.5微秒)的基础上再延迟第一时长，即，一共延迟13.5微秒。

在一些实施例中，步骤104还可以包括根据干扰检测的结果，调整下一个投光周期的定时，包括调整下一个投光周期的干扰检测定时和投光定时。

例如，步骤104还可以包括：

在第一干扰检测定时检测到干扰、在第二干扰检测定时未检测到干扰的情况下，在下一个投光周期内，投光定时和干扰检测定时均延迟该第一时长，由此，能够避免下一个投光周期的干涉干扰；

在第一干扰检测定时未检测到干扰、在第二干扰检测定时检测到干扰的情况下，在下一个投光周期内，投光定时和干扰检测定时均延迟第二时长，第二时长比第一时长大，通过将第二时长设置的比第一时长大，能够在下一个投光周期内可靠地规避干涉干扰；

在第一干扰检测定时和第二干扰检测定时均检测到干扰的情况下，在下一个投光周期内，投光定时和干扰检测定时均延迟第三时长，第三时长比第二时长大，通过将第三时长设置的比第二时长大，能够在下一个投光周期内可靠地规避干涉干扰。

在一些实施例中，在调整下一个投光周期的投光定时和干扰检测定时时，可以不改变下一个投光周期的时长，例如，仍保持下一个投光周期为100微秒。由此，能够避免对光电传感器的响应时间造成影响。但是，本申请不限于此，也可以将下一个投光周期相应的延长第一时长或第二时长或第三时长。由于仅改变下一个投光周期这一个周期的时长，相较于连续地改变后续投光周期的时长，能够减少对光电传感器的响应时间的影响。

图8是本申请实施例的定时调整方式的一示意图。如图8所示，在投光前检测到干涉干扰、投光后未检测到干涉干扰时，在当前的投光周期内，延迟10微秒投光，在下一个投光周期内，全体动作延迟10微秒。其中，全体动作包括干扰检测定时、投光定时等。其中，当前的投光周期保持100微秒不变，下一个投光周期增长至110微秒。

在投光前未检测到干涉干扰、投光后检测到干涉干扰时，在当前的投光周期内，按照原始的定时进行投光，在下一个投光周期内，全体动作延迟15微秒。其中，当前的投光周期保持100微秒不变，下一个投光周期增长至115微秒。

在投光前检测到干涉干扰、投光后检测到干涉干扰时，在当前的投光周期内，延迟10微秒投光，在下一个投光周期内，全体动作延迟25微秒。其中，当前的投光周期保持100微秒不变，下一个投光周期增长至125微秒。

以上仅对与本申请相关的各步骤或过程进行了说明，但本申请不限于此。光电传感器的控制方法还可以包括其他步骤或者过程，关于这些步骤或者过程的具体内容，可以参考现有技术。

根据上述实施例，通过在判定周期内随机确定至少一个投光周期，在确定的投光周期内，使原始的干扰检测定时延迟第一预设时间或提前第二预设时间，得到调整后的干扰检测定时，在调整后的干扰检测定时进行干扰检测。由此，能够以简单的方式提高光电传感器进行干扰检测的准确性，从而有助于减少光电传感器因受到外部干扰而发生误动作的可能性。

第二方面的实施例

本申请实施例提供一种光电传感器，与第一方面的实施例相同的内容不再赘述。

图9是本申请实施例的光电传感器的结构的一示意图，如图9所示，该光电传感器900可以包括：确定单元901、调整单元902和检测单元903。其中，确定单元901在判定周期内，随机确定至少一个投光周期，其中，所述判定周期包括至少一个投光周期，每个投光周期内设置有投光定时和干扰检测定时，所述光电传感器900在所述投光定时进行投光，在所述干扰检测定时进行干扰检测；调整单元902在确定的所述投光周期内，使原始的干扰检测定时延迟第一预设时间或提前第二预设时间，得到调整后的干扰检测定时；检测单元903在所述调整后的干扰检测定时进行干扰检测。

在一些实施例中，确定单元901在所述判定周期的上一个判定周期内，确定第一随机数，所述第一随机数用于随机地确定所述判定周期内所述投光周期。

在一些实施例中，调整单元902在所述判定周期的上一个判定周期内，确定第二随机数，根据所述第二随机数确定所述第一预设时间或所述第二预设时间。

在一些实施例中，所述干扰检测定时包括位于所述投光定时之前的第一干扰检测定时和/或位于所述投光定时之后的第二干扰检测定时。

在一些实施例中，所述第一预设时间为如下的时间：在所述第一干扰检测定时延迟所述第一预设时间后，所述第一干扰检测定时与按照原始的投光定时进行投光、受光量大于预设受光量的时间区间至少部分重合。

在一些实施例中，所述第二预设时间为如下的时间：在所述第二干扰检测定时提前所述第二预设时间后，所述第二干扰检测定时与按照原始的投光定时进行投光、受光量大于预设受光量的时间区间至少部分重合。

在一些实施例中，所述预设受光量是如下的值：在所述干扰检测定时检测到的受光量大于所述预设受光量时，判定为检测到干扰信号。

在一些实施例中，调整单元902根据干扰检测的结果，调整所述投光定时。

在一些实施例中，调整单元902在所述第一干扰检测定时检测到干扰的情况下，在当前的投光周期内，所述投光定时延迟第一时长；在所述第一干扰检测定时未检测到干扰的情况下，在当前的投光周期内，不改变所述投光定时。

在一些实施例中，调整单元902在所述第一干扰检测定时检测到干扰、在所述第二干扰检测定时未检测到干扰的情况下，在下一个投光周期内，所述投光定时和所述干扰检测定时均延迟所述第一时长；在所述第一干扰检测定时未检测到干扰、在所述第二干扰检测定时检测到干扰的情况下，在下一个投光周期内，所述投光定时和所述干扰检测定时均延迟第二时长，所述第二时长比所述第一时长大；在所述第一干扰检测定时和所述第二干扰检测定时均检测到干扰的情况下，在下一个投光周期内，所述投光定时和所述干扰检测定时均延迟第三时长，所述第三时长比所述第二时长大。

图10是本申请实施例的光电传感器的另一示意图。在一些实施例中，如图10所示，光电传感器1000包括投光部1001、受光部1002、处理器1003和比较器1004，其中，处理器1003通过软件或执行相应的程序来实现确定单元901和调整单元902的功能，比较器1004实现检测单元903的功能。

其中，投光部1001可以包括功率LED、用于幅值调整的电阻以及驱动三极管。受光部1002可以包括光电二极管、I/V取样电阻以及放大电路。但是，本申请不限于此，投光部1001和受光部1002也可以为其他形式。

图10示例性的说明了本申请实施例的光电传感器的硬件构成，但是，其不是对本申请的光电传感器的硬件构成的限制，本申请实施例的光电传感器也可以采用其他硬件结构来实现类似的功能。

以上仅对与本申请相关的各部件进行了说明，但本申请不限于此。光电传感器900、1000还可以包括其他部件，例如，光电传感器1000还可以包括向处理器1003提供时间片的时钟1005等。关于这些部件的具体内容，可以参考相关技术。此外，以上仅以光电传感器900、1000的一些结构为例对本申请实施例进行了示例性说明，但本申请不限于这些结构，还可以对这些结构进行适当的变型，这些变型的实施方式均应包含在本申请实施例的范围之内。

以上各个实施例仅对本申请实施例进行了示例性说明，但本申请不限于此，还可以在以上各个实施例的基础上进行适当的变型。例如，可以单独使用上述各个实施例，也可以将以上各个实施例中的一种或多种结合起来。

根据上述实施例，通过在判定周期内随机确定至少一个投光周期，在确定的投光周期内，使原始的干扰检测定时延迟第一预设时间或提前第二预设时间，得到调整后的干扰检测定时，在调整后的干扰检测定时进行干扰检测。由此，能够以简单的方式提高光电传感器进行干扰检测的准确性，从而有助于减少光电传感器因受到外部干扰而发生误动作的可能性。

本申请以上的装置和方法可以由硬件实现，也可以由硬件结合软件实现。本申请涉及这样的计算机可读程序，当该程序被逻辑部件所执行时，能够使该逻辑部件实现上文所述的装置或构成部件，或使该逻辑部件实现上文所述的各种方法或步骤。本申请还涉及用于存储以上程序的存储介质，如硬盘、磁盘、光盘、DVD、flash存储器等。

结合本申请实施例描述的方法/装置可直接体现为硬件、由处理器执行的软件模块或二者组合。例如，图中所示的功能框图中的一个或多个和/或功能框图的一个或多个组合，既可以对应于计算机程序流程的各个软件模块，亦可以对应于各个硬件模块。这些软件模块，可以分别对应于图中所示的各个步骤。这些硬件模块例如可利用现场可编程门阵列(FPGA)将这些软件模块固化而实现。

软件模块可以位于RAM存储器、闪存、ROM存储器、EPROM存储器、EEPROM存储器、寄存器、硬盘、移动磁盘、CD-ROM或者本领域已知的任何其它形式的存储介质。可以将一种存储介质耦接至处理器，从而使处理器能够从该存储介质读取信息，且可向该存储介质写入信息；或者该存储介质可以是处理器的组成部分。处理器和存储介质可以位于ASIC中。该软件模块可以存储在移动终端的存储器中，也可以存储在可插入移动终端的存储卡中。例如，若设备(如移动终端)采用的是较大容量的MEGA-SIM卡或者大容量的闪存装置，则该软件模块可存储在该MEGA-SIM卡或者大容量的闪存装置中。

针对附图中描述的功能方框中的一个或多个和/或功能方框的一个或多个组合，可以实现为用于执行本申请所描述功能的通用处理器、数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或者其它可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件或者其任意适当组合。针对附图描述的功能方框中的一个或多个和/或功能方框的一个或多个组合，还可以实现为计算设备的组合，例如，DSP和微处理器的组合、多个微处理器、与DSP通信结合的一个或多个微处理器或者任何其它这种配置。

Claims (11)

1.一种光电传感器的控制方法，其特征在于，所述方法包括：

在判定周期内，随机地确定至少一个投光周期，其中，所述判定周期包括至少一个投光周期，每个投光周期内设置有投光定时和干扰检测定时；

在确定的所述投光周期内，使原始的干扰检测定时延迟第一预设时间或提前第二预设时间，得到调整后的干扰检测定时；以及

在调整后的干扰检测定时进行干扰检测。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述至少一个投光周期是根据第一随机数随机地确定的，其中，所述第一随机数是在所述判定周期的上一个判定周期内生成的。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述第一预设时间或所述第二预设时间是根据第二随机数随机地确定的，其中，所述第二随机数是在所述判定周期的上一个判定周期内生成的。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述干扰检测定时包括位于所述投光定时之前的第一干扰检测定时和/或位于所述投光定时之后的第二干扰检测定时。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一预设时间为如下的时间：

在所述第一干扰检测定时延迟所述第一预设时间后，所述第一干扰检测定时与按照原始的投光定时进行投光、受光量大于预设受光量的时间区间至少部分重合。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第二预设时间为如下的时间：

在所述第二干扰检测定时提前所述第二预设时间后，所述第二干扰检测定时与按照原始的投光定时进行投光、受光量大于预设受光量的时间区间至少部分重合。

7.根据权利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述预设受光量是如下的值：

在所述干扰检测定时检测到的受光量大于所述预设受光量时，判定为检测到干扰信号。

8.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据干扰检测的结果，调整所述投光定时。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，根据干扰检测的结果，调整所述投光定时，包括：

在所述第一干扰检测定时检测到干扰的情况下，在当前的投光周期内，将所述投光定时延迟第一时长；

在所述第一干扰检测定时未检测到干扰的情况下，在当前的投光周期内，不改变所述投光定时。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，根据干扰检测的结果，调整所述投光定时，还包括：

在所述第一干扰检测定时检测到干扰、在所述第二干扰检测定时未检测到干扰的情况下，在下一个投光周期内，所述投光定时和所述干扰检测定时均延迟所述第一时长；

在所述第一干扰检测定时未检测到干扰、在所述第二干扰检测定时检测到干扰的情况下，在下一个投光周期内，所述投光定时和所述干扰检测定时均延迟第二时长，所述第二时长比所述第一时长大；

在所述第一干扰检测定时和所述第二干扰检测定时均检测到干扰的情况下，在下一个投光周期内，所述投光定时和所述干扰检测定时均延迟第三时长，所述第三时长比所述第二时长大。

11.一种光电传感器，其特征在于，所述光电传感器包括：

确定单元，其在判定周期内，随机确定至少一个投光周期，其中，所述判定周期包括至少一个投光周期，每个投光周期内设置有投光定时和干扰检测定时，所述光电传感器在所述投光定时进行投光，在所述干扰检测定时进行干扰检测；

调整单元，其在确定的所述投光周期内，使原始的干扰检测定时延迟第一预设时间或提前第二预设时间，得到调整后的干扰检测定时；以及

检测单元，其在调整后的干扰检测定时进行干扰检测。

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