CN116148643B - 眼图分析方法 - Google Patents

Abstract

本公开是关于一种眼图分析方法，涉及信号处理技术领域，可以应用于对芯片的眼图进行分析的场景。该方法包括：确定待测试芯片对应的测试信号，测试信号包括测试电压信号与测试延迟信号；获取待测试芯片对应的多个眼图，基于多个测试电压值，对各眼图分别进行第一测试处理，得到眼图对应的第一边沿眼宽阈值；基于多个测试延迟值，对各眼图分别进行第二测试处理，得到眼图对应的第二边沿眼宽阈值；根据第一边沿眼宽阈值与第二边沿眼宽阈值，确定待测试芯片的边沿眼宽阈值。

Description

眼图分析方法

技术领域

本公开涉及信号处理技术领域，具体而言，涉及一种眼图分析方法。

背景技术

眼图是指利用实验的方法估计和改善（通过调整）传输系统性能时在示波器上观察到的一种图形。在第五代低功耗内存标准（Low Power Double Data Rate 5，LPDDR5）联合电子设备工程委员会（Joint Electron Device Engineering Council，JEDEC）标准中对眼图给出了三个JEDEC标准，包括：眼高（vDIVW）、中心眼宽（tDIVW1）以及上下边沿眼宽（tDIVW2），在实际生产过程中，实际测试的眼图大于JEDEC标准就认为是符合JEDEC标准的。

在实际使用中，通常还可以将眼睛的面积统计出来，因此，判断眼睛优劣的常用标准有三个：眼宽、眼高以及眼的面积，通过对比三个数据的差异来判断眼图的优劣。然而上述判断方式无法对眼图进行定量评价分析。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种眼图分析方法，进而至少在一定程度上克服相关的眼图评价方案无法对眼图进行定量分析的问题。

本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本发明的实践而习得。

根据本公开的第一方面，提供一种眼图分析方法，包括：确定待测试芯片对应的测试信号，所述测试信号包括测试电压信号与测试延迟信号，所述测试电压信号对应多个测试电压值，所述测试延迟信号对应多个测试延迟值；获取所述待测试芯片对应的多个眼图，基于所述多个测试电压值，对各所述眼图分别进行第一测试处理，得到所述眼图对应的第一测试结果，所述第一测试结果包括第一测试眼宽值与第一眼图误码率之间的关联曲线；基于所述多个测试延迟值，对各所述眼图分别进行第二测试处理，得到所述眼图对应的第二测试结果，所述第二测试结果包括第二测试眼宽值与第二眼图误码率之间的关联曲线；根据所述第一测试结果与所述第二测试结果，确定所述待测试芯片的边沿眼宽阈值。

在本公开的一种示例性实施方案中，所述基于所述多个测试电压值，对各所述眼图分别进行第一测试处理，得到所述眼图对应的第一测试结果，包括：获取所述待测试芯片对应的多个测试电压值，以及所述眼图对应的眼图模板；基于各所述测试电压值上下移动所述眼图模板，得到所述眼图模板在所述眼图中的第一更新模板坐标；基于多个所述第一更新模板坐标，对所述待测试芯片进行所述第一测试处理，得到所述第一测试结果。

在本公开的一种示例性实施方案中，所述基于各所述测试电压值上下移动所述眼图模板，得到所述眼图模板在所述眼图中的第一更新模板坐标，包括：获取所述眼图模板对应的当前模板坐标；确定所述眼图模板在当前时刻的测试电压值下的第一移动距离；根据所述第一移动距离与所述当前模板坐标，确定所述第一更新模板坐标。

在本公开的一种示例性实施方案中，所述基于多个所述第一更新模板坐标，对所述待测试芯片进行所述第一测试处理，得到所述第一测试结果，包括：确定在各所述第一更新模板坐标下所述眼图对应的所述第一测试眼宽值，所述第一测试眼宽值基于所述第一更新模板坐标与所述眼图的眼图坐标确定；基于各所述第一测试眼宽值，分别对所述待测试芯片进行芯片测试处理，得到所述待测试芯片对应的第一眼图误码率；基于各所述第一测试眼宽值与所述第一眼图误码率，生成所述第一测试结果。

在本公开的一种示例性实施方案中，所述基于所述多个测试延迟值，对各所述眼图分别进行第二测试处理，得到所述眼图对应的第二测试结果，包括：获取所述待测试芯片对应的多个测试延迟值，以及所述眼图对应的眼图模板；基于各所述测试延迟值左右移动所述眼图模板，得到所述眼图模板在所述眼图中的第二更新模板坐标；基于多个所述第二更新模板坐标，对所述待测试芯片进行所述第二测试处理，得到所述第二测试结果。

在本公开的一种示例性实施方案中，所述基于各所述测试延迟值左右移动所述眼图模板，得到所述眼图模板在所述眼图中的第二更新模板坐标，包括：获取所述眼图模板对应的当前模板坐标；确定所述眼图模板在当前时刻的测试延迟值下的第二移动距离；根据所述第二移动距离与所述当前模板坐标，确定所述第二更新模板坐标。

在本公开的一种示例性实施方案中，所述基于多个所述第二更新模板坐标，对所述待测试芯片进行所述第二测试处理，得到所述第二测试结果，包括：确定在各所述第二更新模板坐标下所述眼图对应的所述第二测试眼宽值，所述第二测试眼宽值基于所述第二更新模板坐标与所述眼图的眼图坐标确定；基于各所述第二测试眼宽值，分别对所述待测试芯片进行芯片测试处理，得到所述待测试芯片对应的第二眼图误码率；基于各所述第二测试眼宽值与所述第二眼图误码率，生成所述第二测试结果。

在本公开的一种示例性实施方案中，所述根据所述第一测试结果与所述第二测试结果，确定所述待测试芯片的边沿眼宽阈值，包括：根据所述第一测试结果确定第一边沿眼宽阈值；根据所述第二测试结果确定第二边沿眼宽阈值；根据所述第一边沿眼宽阈值与所述第二边沿眼宽阈值，确定所述边沿眼宽阈值。

在本公开的一种示例性实施方案中，所述根据所述第一测试结果确定所述第一边沿眼宽阈值，包括：从所述第一测试结果中确定至少一第一初始眼宽值，每个所述第一初始眼宽值对应的第一眼图误码率均为零；将所述第一初始眼宽值中的最小值，作为所述第一边沿眼宽阈值。

在本公开的一种示例性实施方案中，所述根据所述第二测试结果确定所述第二边沿眼宽阈值，包括：从所述第二测试结果中确定至少一第二初始眼宽值，每个所述第二初始眼宽值对应的第二眼图误码率均为零；将所述第二初始眼宽值中的最小值，作为所述第二边沿眼宽阈值。

本公开提供的技术方案可以包括以下有益效果：

本公开的示例性实施例中的眼图分析方法，一方面，采用不同的测试电压值与测试延迟值分别对眼图进行测试，可以得到在不同的控制信号值下边沿眼宽值与眼图误码率之间的关联曲线，关联曲线反映了不同粒度下眼图误码率的变化情况。另一方面，关联曲线是由测试过程中得到的定量数据确定的，根据得到的关联曲线可以确定出边沿眼宽阈值，从而基于定量数据对眼图进行质量分析。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1示意性示出了眼图的眼高、中心眼宽以及下边沿眼宽等参数的示意图。

图2示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的眼图分析方法的流程图。

图3示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的通过调整测试电压信号进行眼图测试的流程图。

图4示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的通过调整测试电压值进行眼图测试的示意图。

图5示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的第一测试眼宽值与第一眼图误码率的关联关系图。

图6示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的通过调整测试延迟信号进行眼图测试的流程图。

图7示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的通过调整测试延迟值进行眼图测试的示意图。

图8示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的眼图分析装置的方框图。

图9示意性示出了根据本公开一示例性实施例的电子设备的框图。

图10示意性示出了根据本公开一示例性实施例的计算机可读存储介质的示意图。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施例；相反，提供这些实施例使得本公开将全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。

此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本公开的实施例的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本公开的技术方案而没有所述特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构、方法、装置、实现、材料或者操作以避免模糊本公开的各方面。

附图中所示的方框图仅仅是功能实体，不一定必须与物理上独立的实体相对应。即，可以采用软件形式来实现这些功能实体，或在一个或多个软件硬化的模块中实现这些功能实体或功能实体的一部分，或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。

对于眼图分析方案中，一些相关方案通过分析眼图的眼宽、眼高和眼的面积，三者之间的差异来判断不同眼图之间的优劣。参考图1，图1示意性示出了眼图的眼高、中心眼宽以及下边沿眼宽等参数的示意图。根据上述参数可以计算出眼睛的面积，进而基于眼图的眼宽、眼高和眼的面积等参数进行眼图分析。

然而上述分析方案，无法确认某个特别差的比特位是否会发生失效（fail）的情况，仅能看出其和JEDEC标准的差距以及和其他bit的差异；另外，上述方案无法对所有bit的整体水平给出个定量的评价，例如整个眼图在某一平台是否会出现fail的情况，或者fail的几率有多大，只能做个定性的分析。进一步，大多数厂商对眼图分析都没有一个明确的标准，即使有也只是对仿真（simulation）给出一个仿真标准，都是没有实际测试的数据作为判断的依据。

基于此，在本示例实施例中，首先提供了一种眼图分析方法，可以利用服务器来实现本公开的眼图分析方法，也可以利用终端设备来实现本公开所述的方法，其中，本公开中描述的终端可以包括诸如手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、个人数字助理（PersonalDigital Assistant，PDA）等移动终端，以及诸如台式计算机等固定终端。图2示意性示出了根据本公开的一些实施例的眼图分析方法流程的示意图。参考图2，该眼图分析方法可以包括以下步骤：

步骤S210，确定待测试芯片对应的测试信号，测试信号包括测试电压信号与测试延迟信号，测试电压信号对应多个测试电压值，测试延迟信号对应多个测试延迟值。

根据本公开的一些示例性实施例，待测试芯片可以是等待进行眼图测试的芯片。测试信号可以是对待测试芯片进行眼图测试所采用的信号。测试电压信号可以是对待测试芯片进行眼图测试的内部电压的控制信号，用来决定数据线（Data Queue，DQ）上的信号是0还是1，测试电压信号可以控制眼图模板在眼图中上下移动。测试电压信号可以记为DQvref。测试延迟信号可以是眼图中用于表示数字信号的传播时延的信号，如延迟时间。测试延迟信号可以控制眼图模板在眼图中左右移动。测试电压值可以是在测试过程中测试电压信号所有可能的数值。测试延迟值可以是在测试过程中测试延迟信号所有可能的数值。

半导体存储器在经过开机自启动等初始化处理操作后，将作为待测试芯片进行后续的眼图测试分析。在获取到待测试芯片后，可以确定待测试芯片对应的测试信号，测试信号可以作用于待测试芯片的眼图测试分析过程中。对于待测试芯片的测试信号而言，测试电压信号可以控制生成多个测试电压值；同样的，测试延迟信号也可以控制生成多个测试延迟值。在不同测试电压值与测试延迟值的作用下，对待测试芯片进行眼图测试，判断待测试芯片的眼图在信号采集过程中是否出现误码的情况。

步骤S220，获取待测试芯片对应的多个眼图，基于多个测试电压值，对各眼图分别进行第一测试处理，得到眼图对应的第一测试结果，第一测试结果包括第一测试眼宽值与第一眼图误码率之间的关联曲线。

根据本公开的一些示例性实施例，待测试芯片对应的多个眼图可以是待测试芯片在不同颗粒下或者同一颗粒不同维度下对应的眼图，例如，不同维度可以包括通道维度（ch）、字节维度（byte）以及比特维度（bit）等等。第一测试眼宽值可以是在不同测试电压值的控制下眼图模板在眼图中上下移动确定出的边沿眼宽值。第一测试眼宽值可以根据眼图模板的中心坐标距离眼图边缘坐标之间的距离确定。第一眼图误码率可以是在多个不同测试电压值的作用下，基于待测试芯片的眼图在信号采集过程中对应的误码率。

在确定出待测试芯片后，可以绘制并获取待测试芯片对应的眼图，针对获取到的每个眼图，基于不同的测试电压值，控制眼图模板在眼图中上下移动，眼图模板移动至不同位置，将产生不同的第一测试眼宽值。根据确定出的不同第一测试眼宽值，对待测试芯片进行芯片测试，判断在此第一测试眼宽值下，待测试芯片的眼图是否产生错误，进而确定出第一测试眼宽值与第一眼图误码率之间的关联曲线。

步骤S230，基于多个测试延迟值，对各眼图分别进行第二测试处理，得到眼图对应的第二测试结果，第二测试结果包括第二测试眼宽值与第二眼图误码率之间的关联曲线。

根据本公开的一些示例性实施例，第二测试眼宽值可以是在不同测试延迟值的控制下眼图模板在眼图中左右移动确定出的边沿眼宽值。第二眼图误码率可以是多个不同测试延迟值的作用下，基于待测试芯片的眼图在信号采集过程中对应的误码率。

针对获取到的每个眼图，基于不同的测试延迟值，控制眼图模板在眼图中左右移动，眼图模板移动至不同位置，将产生不同的第二测试眼宽值。根据确定出的不同第二测试眼宽值，对待测试芯片进行芯片测试，判断在此第二测试眼宽值下，待测试芯片的眼图是否产生错误，进而确定出第二测试眼宽值与第二眼图误码率之间的关联曲线。

步骤S240，根据第一测试结果与第二测试结果，确定待测试芯片的边沿眼宽阈值。

根据本公开的一些示例性实施例，眼图误码率可以是指在不同的测试信号的作用下对待测试芯片进行测试，基于眼图进行信号采集所对应的误码率。边沿眼宽阈值可以是眼图模板的中心点坐标距离眼图边缘坐标之间坐标距离最小值的二倍数值。

分别在测试电压信号和测试延迟信号的控制下，对待测试芯片的眼图进行测试，得到第一测试眼宽值与第一眼图误码率之间的关联曲线与第二测试眼宽值与第二眼图误码率之间的关联曲线后，可以分别根据第一测试眼宽值与第一眼图误码率之间的关联曲线确定出第一边沿眼宽阈值，根据第二测试眼宽值与第二眼图误码率之间的关联曲线确定第二边沿眼宽阈值。

由于第一边沿眼宽阈值与第二边沿眼宽阈值分别代表在不同测试电压值与不同测试延迟值作用下，使得待测试芯片的眼图误码率为零的边沿眼宽阈值。为了使在不同信号值的作用下，眼图误码率均为零，因此，可以从确定出的第一边沿眼宽阈值与第二边沿眼宽阈值中，选择两者中的较大值作为待测试芯片的边沿眼宽阈值，以使确定出的边沿眼宽阈值，是确保待测试芯片的眼图误码率为零的最小值。当边沿眼宽值大于边沿眼宽阈值，芯片的眼图误码率均为零。

根据本示例实施例中的眼图分析方法，一方面，采用不同的测试电压值与测试延迟值分别对眼图进行测试，可以得到在不同的控制信号值下边沿眼宽值与眼图误码率之间的关联曲线，关联曲线反映了不同粒度下眼图误码率的变化情况。另一方面，关联曲线是由测试过程中得到的定量数据确定的，根据得到的关联曲线可以确定出边沿眼宽阈值，从而基于定量数据对眼图进行质量分析。

下面，将对本示例实施例中的眼图分析方法进行进一步的说明。

在本公开的一种示例性实施方案中，获取待测试芯片；响应于待测试芯片的开机自启动指令，将待测试芯片接入至测试装置，测试装置包括信号接入端和结果输出端，信号接入端用于接收测试信号，结果输出端用于输出测试结果。

其中，开机自启动指令可以是将待测试芯片连接至测试装置，以使芯片完成自启动操作的控制指令。测试装置可以是对待测试芯片进行芯片测试的装置。信号接入端可以是向芯片中导入测试信号的输入端。结果输出端可以是输出眼图具体状态的输出端。

在获取到待测试芯片后，响应于待测试芯片的开机自启动指令，可以将待测试芯片接入至测试装置中，以对待测试芯片进行开机自启动处理，以实现对待测试芯片的时序调整和提高信号完整性的处理过程。

由于测试装置包括信号接入端和结果输出端，将待测试芯片接入至测试装置，可以将测试过程中使用的测试信号通过信号接入端作用于待测试芯片，另外，可以通过结果输出端输出待测试芯片眼图的具体状态以及其他相关信息。

对于半导体存储器而言，如动态随机存取存储器（Dynamic Random AccessMemory，DRAM），在对其进行眼图测试之前，可以先对DRAM进行开机自启动处理（training），以使待测试芯片处于待测试状态，进行后续的眼图测试分析流程。

在本公开的一种示例性实施方案中，继续参考图2，对于步骤S220，获取待测试芯片对应的多个眼图，包括：通过信号接入端向待测试芯片发送芯片输入信号；在芯片输入信号作用于待测试芯片的情况下，绘制待测试芯片对应的多个眼图。

其中，芯片输入信号可以是用于绘制待测试芯片的眼图的控制信号。

将待测试芯片接入至测试装置后，还可以通过信号接入端向待测试芯片发送芯片输入信号，用于绘制待测试芯片对应的眼图。在芯片输入信号作用于待测试芯片的情况下，一系列数字信号在示波器上累积将显示出对应的图形，将显示出的图形作为待测试芯片的眼图，通过眼图可以观察出数字信号整体的特征，从而估计待测试芯片的优劣程度，因而眼图分析是待测试芯片高速互连系统信号完整性分析的核心。

在本公开的一种示例性实施方案中，继续参考图2，对于步骤S220，基于多个测试电压值，对各眼图分别进行第一测试处理，得到眼图对应的第一测试结果，包括：获取待测试芯片对应的多个测试电压值，以及眼图对应的眼图模板；基于各测试电压值上下移动眼图模板，得到眼图模板在眼图中的第一更新模板坐标；基于多个第一更新模板坐标，对待测试芯片进行第一测试处理，得到第一测试结果。

其中，第一测试处理可以是在测试电压信号的作用下，对待测试芯片的眼图进行测试的处理过程。第一测试结果可以不同测试电压值下眼图对应的不同第一测试眼宽值与各自对应的第一眼图误码率之间的关联曲线。眼图模板可以是基于眼高、中心眼宽和上下边沿眼宽等参数生成的遮罩模板，眼图模板反映了协议规定的最小眼高和眼宽。第一更新模板坐标可以是在调整不同电压信号值的情况下，眼图模板在眼图中所处的位置坐标。测试电压值可以控制眼图模板在眼图中上下移动。

参考图3，图3示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的通过调整测试电压信号进行眼图测试的流程图。在步骤S301中，对待测试芯片进行开机自启动处理。在步骤S302中，绘制出该待测试芯片对应的所有眼图。例如，待测试芯片在不同粒度，如ch粒度、byte粒度与bit粒度下的眼图。在步骤S303中，确定待测试芯片对应的所有测试电压值。例如，测试电压信号可以对应多个不同的测试电压值，因此，在将测试电压信号作用于待测试芯片后，可以将确定出的所有即将用于测试分析的测试电压值，即多个DQ vref的数值。

在确定出所有测试电压值后，可以通过调整当前作用于待测试芯片的测试电压值，基于当前的测试电压值对待测试芯片进行眼图测试。通过不断调整测试电压值的大小，相当于眼图模板在眼图中的位置坐标也在同步发生变化。参考图4，图4示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的通过调整测试电压值进行眼图测试的示意图。例如，增大或减小测试电压值的大小，相当于上移或下移眼图模板在眼图中的位置，因此，可以得到多个第一更新模板坐标。在得到眼图模板在眼图中的多个第一更新模板坐标后，可以基于得到的多个第一更新模板坐标，对待测试芯片进行第一测试处理，得到第一测试眼宽值与第一眼图误码率之间的关联曲线。

由于第一测试眼宽值与第一眼图误码率之间的关联曲线包含不同测试眼宽值下眼图误码率的具体数值，实现了在不同测试电压值下对眼图的定量分析。

在本公开的一种示例性实施方案中，基于各测试电压值上下移动眼图模板，得到眼图模板在眼图中的第一更新模板坐标，包括：获取眼图模板对应的当前模板坐标；确定眼图模板在当前时刻的测试电压值下的第一移动距离；根据第一移动距离与当前模板坐标，确定第一更新模板坐标。

其中，当前模板坐标可以是眼图模板位置发生变化之前在眼图中的位置坐标。第一移动距离可以是眼图模板在当前测试电压值的作用下，在眼图中移动的距离坐标。第一更新模板坐标可以是在眼图模板在产生第一移动距离后对应的位置坐标。

在获取到眼图后，可以获取眼图对应的眼图坐标，即眼图上每一个点的位置坐标。例如，眼图模板对应的当前模板坐标可以包括当前时刻下眼图模板中每个点的位置坐标。继续参考图4，例如，眼图模板的中心点的位置坐标为（135.2，111.2），根据眼图模板的眼高尺寸，可以得到眼图模板上边沿中心点与下边沿中心点的位置坐标。如果测试电压值发生变化后，在当前测试电压值的作用下，眼图模板在眼图中将进行上下移动，即产生第一移动距离。根据产生的第一移动距离与当前模板坐标，可以确定出眼图模板在当前时刻的测试电压值下的模板坐标，作为第一更新模板坐标。通过上述步骤，可以确定出眼图模板在眼图中的具体位置坐标，作为确定第一测试眼宽值的数据基础。

在本公开的一种示例性实施方案中，基于多个第一更新模板坐标，对待测试芯片进行第一测试处理，得到第一测试结果，包括：确定在各第一更新模板坐标下眼图对应的第一测试眼宽值，第一测试眼宽值基于第一更新模板坐标与眼图的眼图坐标确定；基于各第一测试眼宽值，分别对待测试芯片进行芯片测试处理，得到待测试芯片对应的第一眼图误码率；基于各第一测试眼宽值与第一眼图误码率，生成第一测试结果。

其中，第一测试眼宽值可以是在上下移动眼图模板的过程中，眼图模板的中心点坐标距离眼图边缘坐标的最小值的二倍数值。眼图坐标可以是待测试芯片的眼图对应的所有位置点的坐标。第一眼图误码率可以是在不同测试电压值的作用下，待测试芯片的眼图进行信号采集对应的误码率。

继续参考图3，在步骤S304中，计算第一测试眼宽值。在测试电压信号作用于眼图的初始状态下，可以计算眼图对应的第一测试眼宽值。在步骤S305中，调整测试电压值。通过调整测试电压值，在不同的测试电压值下，将同步调整眼图模板在眼图中的位置，即得到第一更新模板坐标，此时眼图的上下边沿眼宽等参数的具体数值也将发生变化，即对应生成不同的第一测试眼宽值。此时，可以在步骤S306中，在第一测试眼宽值下，对待测试芯片进行眼图测试。判断第一测试眼宽值是否有效可以通过下述步骤进行：在步骤S307中，对待测试芯片进行芯片测试（DDR test），在步骤S308中，计算待测试芯片在此第一测试眼宽值下的眼图误码率。

另外，在调整测试电压值的过程中，可以判断当前的测试电压值是否达到最大，在步骤S309中，如果当前的测试电压值达到最大值，则结束在测试电压信号作用下，对待测试芯片的测试分析过程。在步骤S310中，绘制第一关联曲线。第一关联曲线可以是在测试电压信号的控制下，不同测试电压值对应的第一测试眼宽值与第一眼图误码率之间数值对应关系的曲线。通过上述步骤，可以得到在不同测试电压值下，眼图质量的测量结果（即眼图误码率），即实现基于测试电压值的眼图定量分析。

另外，对于眼图中每一点的位置坐标，均可以获取眼图的步骤中得到，例如，如图4所示，眼图坐标中最右侧点的位置坐标为（209.4，117.4）。在得到当前时刻下的眼图模板的模板坐标后，由于获取到了眼图坐标，因此，可以根据眼图模板移动后的第一更新模板坐标与眼图坐标，可以确定出第一测试眼宽值，第一测试眼宽值的数值的一半可以是眼图模板上边沿的中心点距离同一水平线上的眼图边缘坐标之间的距离。例如图4中示出了眼图模板产生第一移动距离之后，确定出的第一测试眼宽值的一半。根据上述确定方式即可得到第一测试眼宽值，分析在不同第一测试眼宽值下，待测试芯片对应的第一眼图误码率，从而实现在测试电压信号下对眼图的定量分析。

继续参考图3，在结束测试后，在步骤S310中，可以绘制第一测试眼宽值与第一眼图误码率之间的第一关联曲线。参考表1，表1示出了第一测试眼宽值与第一眼图误码率的具体数值。

得到表1后，以第一眼图误码率为纵坐标，第一测试眼宽值为横坐标，绘制两者对应的第一关联曲线，作为第一测试结果。参考图5，图5示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的第一测试眼宽值与第一眼图误码率的关联关系图。图5中的关联曲线可以是对表1中的数据进行连线处理后得到的。

在本公开的一种示例性实施方案中，继续参考图2，对于步骤S230，基于多个测试延迟值，对各眼图分别进行第二测试处理，得到眼图对应的第二边沿眼宽阈值，包括：获取待测试芯片对应的多个测试延迟值，以及眼图对应的眼图模板；基于各测试延迟值左右移动眼图模板，得到眼图模板在眼图中的第二更新模板坐标；基于多个第二更新模板坐标，对待测试芯片进行第二测试处理，得到第二测试结果。

其中，第二测试处理可以是在测试延迟信号的作用下，对待测试芯片的眼图进行测试的处理过程。第二测试结果可以不同测试延迟值下眼图对应的不同第二测试眼宽值与各自对应的第二眼图误码率之间的关联曲线。第二更新模板坐标可以是在调整不同延迟信号值的情况下，眼图模板在产生第二移动距离后在眼图中所处的位置坐标。测试延迟值可以控制眼图模板在眼图中左右移动。

参考图6，图6示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的通过调整测试延迟信号进行眼图测试的流程图。与对待测试芯片进行第一测试处理相同，在对待测试芯片进行第二测试处理时，是基于已经完成开机自启动处理步骤的待测试芯片进行的。在步骤S601中，对待测试芯片进行开机自启动处理。在步骤S602中，绘制出该待测试芯片对应的所有眼图。在步骤S603中，确定待测试芯片对应的所有测试延迟值。例如，测试延迟信号可以对应多个不同的测试延迟值，因此，在将测试延迟信号作用于待测试芯片后，可以将确定出的所有即将用于测试分析的测试延迟值，即多个DQ delay的数值。

在确定出所有测试延迟值后，可以通过调整当前作用于待测试芯片的测试延迟值，基于当前的测试延迟值对待测试芯片进行眼图测试。通过不断调整测试延迟信号值的大小，相当于眼图模板在眼图中的位置也在同步发生变化，即得到不同的第二更新模板坐标。

参考图7，图7示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的通过调整测试延迟值进行眼图测试的示意图。例如，增大或减小测试延迟值的大小，相当于左移或右移眼图模板在眼图中的位置，即得到第二更新模板坐标。在得到眼图模板在眼图中的多个第二更新模板坐标后，可以基于得到的多个第二更新模板坐标置，对待测试芯片进行第二测试处理，得到第二测试眼宽值与第二眼图误码率之间的关联曲线。

由于第二测试眼宽值与第二眼图误码率之间的关联曲线包含不同测试眼宽值下眼图误码率的具体数值，实现了在不同测试延迟值下对眼图的定量分析。

在本公开的一种示例性实施方案中，基于各测试延迟值左右移动眼图模板，得到眼图模板在眼图中的第二更新模板坐标，包括：获取眼图模板对应的当前模板坐标；确定眼图模板在当前时刻的测试延迟值下的第二移动距离；根据第二移动距离与当前模板坐标，确定第二更新模板坐标。

其中，第二移动距离可以是眼图模板在当前测试延迟值的作用下，在眼图中移动的距离坐标。第二更新模板坐标在眼图模板产生第二移动距离后对应的位置坐标。

眼图模板对应的当前模板坐标可以包括当前时刻下眼图模板中每个点的位置坐标。与在测试电压信号下第一更新模板坐标的确定方式相同，继续参考图4，例如，眼图模板的中心点的位置坐标为（135.2，111.2），根据眼图模板的眼高尺寸，可以得到眼图模板上边沿中心点与下边沿中心点的位置坐标。如果测试电压值发生变化后，在当前测试电压值的作用下，眼图模板在眼图中将进行左右移动，即产生第二移动距离。根据产生的第二移动距离与当前模板坐标，可以确定出眼图模板在当前时刻的测试延迟值作用下的模板坐标，即第二更新模板坐标。通过上述步骤，可以确定出不同测试延迟值下眼图模板在眼图中的具体位置坐标，作为确定第二测试眼宽值的数据基础。

在本公开的一种示例性实施方案中，基于多个第二眼图模板位置，对待测试芯片进行第二测试处理，得到第二测试结果，包括：确定在各第二更新模板坐标下眼图对应的第二测试眼宽值，第二测试眼宽值基于第二更新模板坐标与眼图的眼图坐标确定；基于各第二测试眼宽值，分别对待测试芯片进行芯片测试处理，得到待测试芯片对应的第二眼图误码率；基于各第二测试眼宽值与第二眼图误码率，生成第二测试结果。

其中，第二测试眼宽值可以是在左右移动眼图模板的过程中，眼图模板的中心点坐标距离眼图边缘坐标的最小值的二倍数值。第二眼图误码率可以是在不同测试延迟值的作用下，待测试芯片的眼图对应的误码率。

继续参考图6，在步骤S604中，计算第二测试眼宽值。在测试延迟信号作用于眼图模板时，可以计算眼图对应的第二测试眼宽值。第二测试眼宽值的数值的一半可以是眼图模板上边沿的中心点距离在同一水平线上的眼图边缘坐标之间的距离。例如图7中示出了眼图模板产生第二移动距离之后，确定出的第二测试眼宽值的一半。在步骤S605中，调整测试延迟值。通过调整测试延迟值，在不同的测试延迟值下，将同步调整眼图模板在眼图中的位置，即得到第二更新模板坐标，此时眼图的上下边沿眼宽等参数的具体数值也将发生变化，即对应生成不同的第二测试眼宽值。此时，可以在步骤S606中，在第二测试眼宽值下，对待测试芯片进行眼图测试。

判断第二眼图参数值是否有效可以通过下述步骤进行：在步骤S607中，对待测试芯片进行芯片测试（DDR test），在步骤S608中，计算待测试芯片在此第二测试眼宽值下的眼图误码率。

另外，在调整测试延迟值的过程中，可以判断当前的测试延迟值是否达到最大，在步骤S609中，如果当前的测试延迟值达到最大值，则结束在测试延迟信号作用下，对待测试芯片的测试分析过程。在步骤S610中，绘制第二关联曲线。第二关联曲线可以是在测试延迟信号的控制下，不同测试延迟值对应的第二测试眼宽值与第二眼图误码率之间数值对应关系的曲线。通过上述步骤，可以得到在不同测试延迟值下，眼图质量的测量结果，即实现基于测试延迟值的眼图定量分析。

在本公开的一种示例性实施方案中，继续参考图2，对于步骤S240，根据第一测试结果与第二测试结果，确定待测试芯片的边沿眼宽阈值，包括：根据第一测试结果确定第一边沿眼宽阈值；根据第二测试结果确定第二边沿眼宽阈值；根据第一边沿眼宽阈值与第二边沿眼宽阈值，确定边沿眼宽阈值。

其中，第一边沿眼宽阈值可以是采用不同测试电压值控制眼图模板在眼图中上下移动并进行眼图测试，得到的确保待测试芯片的眼图误码率为零的最小边沿眼宽值。第二边沿眼宽阈值可以是采用不同测试延迟值控制眼图模板在眼图中左右移动并进行眼图测试，得到的确保待测试芯片的眼图误码率为零的最小边沿眼宽值。

继续参考图5，第一测试结果中包括第一测试眼宽值与第一眼图误码率之间的第一关联关系，第二测试结果中包括第二测试眼宽值与第二眼图误码率之间的第二关联关系。因此，可以分别根据第一测试结果确定第一边沿眼宽阈值，根据第二测试结果确定第二边沿眼宽阈值，确定出可以确保眼图误码率为零的最小边沿眼宽值。在得到第一边沿眼宽阈值与第二边沿眼宽阈值后，将两者中的较大值作为边沿眼宽阈值，得到可以使眼图误码率为零的边沿眼宽阈值，使得待测试芯片的眼图保持零误码率，确保待测试芯片的有效性。

在本公开的一种示例性实施方案中，根据第一测试结果确定第一边沿眼宽阈值，包括：从第一测试结果中确定至少一第一初始眼宽值，每个第一初始眼宽值对应的第一眼图误码率均为零；将第一初始眼宽值中的最小值，作为第一边沿眼宽阈值。

其中，第一初始眼宽值可以是使第一眼图误码率为零的第一测试眼宽值。第一边沿眼宽阈值可以是确保眼图误码率为零的最小边沿眼宽值。

继续参考图5，从图5中可以看出，在不同第一测试眼宽值下，第一眼图误码率的具体数值，随着第一测试眼宽值的增大，第一眼图误码率呈现下降趋势。例如，当第一测试眼宽值为25、30、35、40、45时，对应的眼图误码率均为0，因此，可以将这些第一测试眼宽值作为第一初始眼宽值。

在得到上述第一初始眼宽值后，可以将第一初始眼宽值中的最小值，作为第一边沿眼宽阈值，当上下边沿眼宽值大于或等于第一边沿眼宽阈值时，可以确保眼图的眼图误码率均为零。通过上述处理步骤，可以确定出在测试电压信号下使眼图始终为合格状态（pass）的上下边沿眼宽阈值。

在本公开的一种示例性实施方案中，根据第二测试结果确定第二边沿眼宽阈值，包括：从第二测试结果中确定至少一第二初始眼宽值，每个第二初始眼宽值对应的第二眼图误码率均为零；将第二初始眼宽值中的最小值，作为第二边沿眼宽阈值。

其中，第二初始眼宽值可以是使第二眼图误码率为零的第二测试眼宽值。第二边沿眼宽阈值可以是确保眼图误码率为零的最小边沿眼宽值。

与确定第一边沿眼宽阈值相同，在得到第二初始眼宽值后，可以将第二初始眼宽值中的最小值，作为第二边沿眼宽阈值，当上下边沿眼宽值大于或等于第二边沿眼宽阈值时，可以确保眼图的眼图误码率均为零。通过上述处理步骤，可以确定出在测试延迟信号下使眼图始终为合格状态（pass）的上下边沿眼宽阈值。

需要说明的是，本公开所使用的术语“第一”、“第二”等，仅是为了区分不同的眼图参数值、不同的关联曲线以及不同的眼图分析结果，并不应对本公开造成任何限制。

综上所述，本公开的眼图分析方法，确定待测试芯片对应的测试信号，测试信号包括测试电压信号与测试延迟信号，测试电压信号对应多个测试电压值，测试延迟信号对应多个测试延迟值；获取待测试芯片对应的多个眼图，基于多个测试电压值，对各眼图分别进行第一测试处理，得到眼图对应的第一测试结果，第一测试结果包括第一测试眼宽值与第一眼图误码率之间的关联曲线；基于多个测试延迟值，对各眼图分别进行第二测试处理，得到眼图对应的第二测试结果，第二测试结果包括第二测试眼宽值与第二眼图误码率之间的关联曲线；根据第一测试结果与第二测试结果，确定待测试芯片的边沿眼宽阈值。一方面，采用不同的测试电压值与测试延迟值分别对眼图进行测试，可以得到在不同的控制信号值下边沿眼宽值与眼图误码率之间的关联曲线，关联曲线反映了不同粒度下眼图误码率的变化情况。另一方面，关联曲线是由测试过程中得到的定量数据确定的，根据得到的关联曲线可以确定出边沿眼宽阈值，从而基于定量数据对眼图进行质量分析。又一方面，通过上述方式，可以对同一颗粒下不同维度的眼图进行定量评价，确定出上述眼图之间的差异。

需要说明的是，尽管在附图中以特定顺序描述了本发明中方法的各个步骤，但是，这并非要求或者暗示必须按照该特定顺序来执行这些步骤，或是必须执行全部所示的步骤才能实现期望的结果。附加的或备选的，可以省略某些步骤，将多个步骤合并为一个步骤执行，以及/或者将一个步骤分解为多个步骤执行等。

此外，在本示例实施例中，还提供了一种眼图分析装置。参考图8，该眼图分析装置800可以包括：信号确定模块810，第一测试模块820，第二测试模块830以及阈值确定模块840。

具体的，信号确定模块810，用于确定待测试芯片对应的测试信号，测试信号包括测试电压信号与测试延迟信号，测试电压信号对应多个测试电压值，测试延迟信号对应多个测试延迟值；第一测试模块820，用于获取待测试芯片对应的多个眼图，基于多个测试电压值，对各眼图分别进行第一测试处理，得到眼图对应的第一测试结果，第一测试结果包括第一测试眼宽值与第一眼图误码率之间的关联曲线；第二测试模块830，用于基于多个测试延迟值，对各眼图分别进行第二测试处理，得到眼图对应的第二测试结果，第二测试结果包括第二测试眼宽值与第二眼图误码率之间的关联曲线；阈值确定模块840，用于根据第一测试结果与第二测试结果，确定待测试芯片的边沿眼宽阈值。

在本公开的一种示例性实施方案中，眼图分析装置800包括芯片初始化模块，用于：获取待测试芯片；响应于待测试芯片的开机自启动指令，将待测试芯片接入至测试装置，测试装置包括信号接入端和结果输出端，信号接入端用于接收测试信号，结果输出端用于输出测试结果。

在本公开的一种示例性实施方案中，第一测试模块820包括眼图获取单元，用于：通过信号接入端向待测试芯片发送芯片输入信号；在芯片输入信号作用于待测试芯片的情况下，绘制待测试芯片对应的多个眼图。

在本公开的一种示例性实施方案中，第一测试模块820包括第一测试单元，用于：获取待测试芯片对应的多个测试电压值，以及眼图对应的眼图模板；基于各测试电压值上下移动眼图模板，得到眼图模板在眼图中的第一更新模板坐标；基于多个第一更新模板坐标，对待测试芯片进行第一测试处理，得到第一测试结果。

在本公开的一种示例性实施方案中，第一测试单元包括第一坐标确定子单元，用于：获取眼图模板对应的当前模板坐标；确定眼图模板在当前时刻的测试电压值下的第一移动距离；根据第一移动距离与当前模板坐标，确定第一更新模板坐标。

在本公开的一种示例性实施方案中，第一测试单元包括第一测试子单元，用于：确定在各第一更新模板坐标下眼图对应的第一测试眼宽值，第一测试眼宽值基于第一更新模板坐标与眼图的眼图坐标确定；基于各第一测试眼宽值，分别对待测试芯片进行芯片测试处理，得到待测试芯片对应的第一眼图误码率；基于各第一测试眼宽值与第一眼图误码率，生成第一测试结果。

在本公开的一种示例性实施方案中，第二测试模块830包括第二测试单元，用于：获取待测试芯片对应的多个测试延迟值，以及眼图对应的眼图模板；基于各测试延迟值左右移动眼图模板，得到眼图模板在眼图中的第二更新模板坐标；基于多个第二更新模板坐标，对待测试芯片进行第二测试处理，得到第二测试结果。

在本公开的一种示例性实施方案中，第二测试单元包括第二坐标确定子单元，用于：获取眼图模板对应的当前模板坐标；确定眼图模板在当前时刻的测试延迟值下的第二移动距离；根据第二移动距离与当前模板坐标，确定第二更新模板坐标。

在本公开的一种示例性实施方案中，第二测试单元包括第二测试子单元，用于：确定在各第二更新模板坐标下眼图对应的第二测试眼宽值，第二测试眼宽值基于第二更新模板坐标与眼图的眼图坐标确定；基于各第二测试眼宽值，分别对待测试芯片进行芯片测试处理，得到待测试芯片对应的第二眼图误码率；基于各第二测试眼宽值与第二眼图误码率，生成第二测试结果。

在本公开的一种示例性实施方案中，阈值确定模块840包括阈值确定单元，用于：根据第一测试结果确定第一边沿眼宽阈值；根据第二测试结果确定第二边沿眼宽阈值；根据第一边沿眼宽阈值与第二边沿眼宽阈值，确定边沿眼宽阈值。

在本公开的一种示例性实施方案中，阈值确定单元包括第一阈值确定子单元，用于：从第一测试结果中确定至少一第一初始眼宽值，每个第一初始眼宽值对应的第一眼图误码率均为零；将第一初始眼宽值中的最小值，作为第一边沿眼宽阈值。

在本公开的一种示例性实施方案中，阈值确定单元包括第二阈值确定子单元，用于：从第二测试结果中确定至少一第二初始眼宽值，每个第二初始眼宽值对应的第二眼图误码率均为零；将第二初始眼宽值中的最小值，作为第二边沿眼宽阈值。

上述中各眼图分析装置的虚拟模块的具体细节已经在对应的眼图分析方法中进行了详细的描述，因此此处不再赘述。

应当注意，尽管在上文详细描述中提及了眼图分析装置的若干模块或者单元，但是这种划分并非强制性的。实际上，根据本公开的实施方式，上文描述的两个或更多模块或者单元的特征和功能可以在一个模块或者单元中具体化。反之，上文描述的一个模块或者单元的特征和功能可以进一步划分为由多个模块或者单元来具体化。

此外，在本公开的示例性实施例中，还提供了一种能够实现上述方法的电子设备。

所属技术领域的技术人员能够理解，本发明的各个方面可以实现为系统、方法或程序产品。因此，本发明的各个方面可以具体实现为以下形式，即：完全的硬件实施例、完全的软件实施例（包括固件、微代码等），或硬件和软件方面结合的实施例，这里可以统称为“电路”、“模块”或“系统”。

下面参考图9来描述根据本公开的这种实施例的电子设备900。图9显示的电子设备900仅仅是一个示例，不应对本公开实施例的功能和使用范围带来任何限制。

如图9所示，电子设备900以通用计算设备的形式表现。电子设备900的组件可以包括但不限于：上述至少一个处理单元910、上述至少一个存储单元920、连接不同系统组件（包括存储单元920和处理单元910）的总线930、显示单元940。

其中，所述存储单元存储有程序代码，所述程序代码可以被所述处理单元910执行，使得所述处理单元910执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本公开各种示例性实施例的步骤。

存储单元920可以包括易失性存储单元形式的可读介质，例如随机存取存储单元（RAM）921和/或高速缓存存储单元922，还可以进一步包括只读存储单元（ROM）923。

存储单元920可以包括具有一组（至少一个）程序模块925的程序/实用工具924，这样的程序模块925包括但不限于：操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。

总线930可以表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储单元总线或者存储单元控制器、外围总线、图形加速端口、处理单元或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。

电子设备900也可以与一个或多个外部设备970（例如键盘、指向设备、蓝牙设备等）通信，还可与一个或者多个使得用户能与该电子设备900交互的设备通信，和/或与使得该电子设备900能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备（例如路由器、调制解调器等等）通信。这种通信可以通过输入/输出（I/O）接口950进行。并且，电子设备900还可以通过网络适配器960与一个或者多个网络（例如局域网（LAN），广域网（WAN）和/或公共网络，例如因特网）通信。如图所示，网络适配器960通过总线930与电子设备900的其它模块通信。应当明白，尽管图中未示出，可以结合电子设备900使用其它硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。

通过以上的实施例的描述，本领域的技术人员易于理解，这里描述的示例实施例可以通过软件实现，也可以通过软件结合必要的硬件的方式来实现。因此，根据本公开实施例的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质（可以是CD-ROM，U盘，移动硬盘等）中或网络上，包括若干指令以使得一台计算设备（可以是个人计算机、服务器、终端装置、或者网络设备等）执行根据本公开实施例的方法。

在本公开的示例性实施例中，还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有能够实现本说明书上述方法的程序产品。在一些可能的实施例中，本发明的各个方面还可以实现为一种程序产品的形式，其包括程序代码，当所述程序产品在终端设备上运行时，所述程序代码用于使所述终端设备执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本发明各种示例性实施例的步骤。

参考图10所示，描述了根据本发明的实施例的用于实现上述方法的程序产品1000，其可以采用便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)并包括程序代码，并可以在终端设备，例如个人电脑上运行。然而，本发明的程序产品不限于此，在本文件中，可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。

所述程序产品可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以为但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子（非穷举的列表）包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器（RAM）、只读存储器（ROM）、可擦式可编程只读存储器（EPROM或闪存）、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。

计算机可读信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了可读程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。可读信号介质还可以是可读存储介质以外的任何可读介质，该可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。

可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于无线、有线、光缆、RF等等，或者上述的任意合适的组合。

可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本发明操作的程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、C++等，还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。在涉及远程计算设备的情形中，远程计算设备可以通过任意种类的网络，包括局域网（LAN）或广域网（WAN），连接到用户计算设备，或者，可以连接到外部计算设备（例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接）。

此外，上述附图仅是根据本发明示例性实施例的方法所包括的处理的示意性说明，而不是限制目的。易于理解，上述附图所示的处理并不表明或限制这些处理的时间顺序。另外，也易于理解，这些处理可以是例如在多个模块中同步或异步执行的。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其他实施例。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限。

Claims (9)

1.一种眼图分析方法，其特征在于，包括：

确定待测试芯片对应的测试信号，所述测试信号包括测试电压信号与测试延迟信号，所述测试电压信号对应多个测试电压值，所述测试延迟信号对应多个测试延迟值；

获取所述待测试芯片对应的多个眼图，基于所述多个测试电压值，对各所述眼图分别进行第一测试处理，得到所述眼图对应的第一测试结果，所述第一测试结果包括第一测试眼宽值与第一眼图误码率之间的关联曲线，所述第一测试结果基于多个所述第一测试眼宽值以及各所述第一测试眼宽值下所述待测试芯片对应的所述第一眼图误码率生成，所述第一测试眼宽值基于所述眼图的眼图坐标以及在所述多个测试电压值下眼图模板在所述眼图中的多个第一更新模板坐标确定；

基于所述多个测试延迟值，对各所述眼图分别进行第二测试处理，得到所述眼图对应的第二测试结果，所述第二测试结果包括第二测试眼宽值与第二眼图误码率之间的关联曲线，所述第二测试结果基于多个所述第二测试眼宽值以及各所述第二测试眼宽值下所述待测试芯片对应的所述第二眼图误码率生成，所述第二测试眼宽值基于所述眼图坐标以及在所述多个测试延迟值下所述眼图模板在所述眼图中的多个第二更新模板坐标确定；

根据所述第一测试结果与所述第二测试结果，确定所述待测试芯片的边沿眼宽阈值；

所述根据所述第一测试结果与所述第二测试结果，确定所述待测试芯片的边沿眼宽阈值，包括：

根据所述第一测试结果确定第一边沿眼宽阈值，所述第一边沿眼宽阈值是采用所述多个测试电压值控制所述眼图模板在所述眼图中上下移动并进行眼图测试，得到的确保所述第一眼图误码率为零的最小边沿眼宽值；

根据所述第二测试结果确定第二边沿眼宽阈值，所述第二边沿眼宽阈值是采用所述多个测试延迟值控制所述眼图模板在所述眼图中左右移动并进行眼图测试，得到的确保所述第二眼图误码率为零的最小边沿眼宽值；

根据所述第一边沿眼宽阈值与所述第二边沿眼宽阈值，确定所述边沿眼宽阈值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述多个测试电压值，对各所述眼图分别进行第一测试处理，得到所述眼图对应的第一测试结果，包括：

获取所述待测试芯片对应的多个测试电压值，以及所述眼图对应的眼图模板；

基于各所述测试电压值上下移动所述眼图模板，得到所述眼图模板在所述眼图中的第一更新模板坐标；

基于多个所述第一更新模板坐标，对所述待测试芯片进行所述第一测试处理，得到所述第一测试结果。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于各所述测试电压值上下移动所述眼图模板，得到所述眼图模板在所述眼图中的第一更新模板坐标，包括：

获取所述眼图模板对应的当前模板坐标；

确定所述眼图模板在当前时刻的测试电压值下的第一移动距离；

根据所述第一移动距离与所述当前模板坐标，确定所述第一更新模板坐标。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于多个所述第一更新模板坐标，对所述待测试芯片进行所述第一测试处理，得到所述第一测试结果，包括：

确定在各所述第一更新模板坐标下所述眼图对应的所述第一测试眼宽值，所述第一测试眼宽值基于所述第一更新模板坐标与所述眼图的眼图坐标确定；

基于各所述第一测试眼宽值，分别对所述待测试芯片进行芯片测试处理，得到所述待测试芯片对应的第一眼图误码率；

基于各所述第一测试眼宽值与所述第一眼图误码率，生成所述第一测试结果。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述多个测试延迟值，对各所述眼图分别进行第二测试处理，得到所述眼图对应的第二测试结果，包括：

获取所述待测试芯片对应的多个测试延迟值，以及所述眼图对应的眼图模板；

基于各所述测试延迟值左右移动所述眼图模板，得到所述眼图模板在所述眼图中的第二更新模板坐标；

基于多个所述第二更新模板坐标，对所述待测试芯片进行所述第二测试处理，得到所述第二测试结果。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于各所述测试延迟值左右移动所述眼图模板，得到所述眼图模板在所述眼图中的第二更新模板坐标，包括：

获取所述眼图模板对应的当前模板坐标；

确定所述眼图模板在当前时刻的测试延迟值下的第二移动距离；

根据所述第二移动距离与所述当前模板坐标，确定所述第二更新模板坐标。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于多个所述第二更新模板坐标，对所述待测试芯片进行所述第二测试处理，得到所述第二测试结果，包括：

确定在各所述第二更新模板坐标下所述眼图对应的所述第二测试眼宽值，所述第二测试眼宽值基于所述第二更新模板坐标与所述眼图的眼图坐标确定；

基于各所述第二测试眼宽值，分别对所述待测试芯片进行芯片测试处理，得到所述待测试芯片对应的第二眼图误码率；

基于各所述第二测试眼宽值与所述第二眼图误码率，生成所述第二测试结果。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一测试结果确定第一边沿眼宽阈值，包括：

从所述第一测试结果中确定至少一第一初始眼宽值，每个所述第一初始眼宽值对应的第一眼图误码率均为零；

将所述第一初始眼宽值中的最小值，作为所述第一边沿眼宽阈值。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二测试结果确定第二边沿眼宽阈值，包括：

从所述第二测试结果中确定至少一第二初始眼宽值，每个所述第二初始眼宽值对应的第二眼图误码率均为零；

将所述第二初始眼宽值中的最小值，作为所述第二边沿眼宽阈值。