CN116047255A - 一种基于pxi的功率放大器的调制信号测试系统 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统，基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统包括PXI测试组件、第一供电电源、待检测功率放大器组件以及前置放大器；第一供电电源、待检测功率放大器组件以及前置放大器均与PXI测试组件相连，前置放大器与待检测功率放大器组件相连，PXI测试组件包括PXI控制器、矢量收发模块、第二供电电源以及万用表；矢量收发模块、第二供电电源以及万用表均与PXI控制器相连，第二供电电源与所述待检测功率放大器组件相连。本申请实现了能够检测功率放大器的各个参数，提升了对功率放大器检测的准确性，在降低了成本的同时，提高了对功率放大器的检测普适性。

Description

一种基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统

技术领域

本申请涉及半导体测试技术领域，尤其是涉及一种基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统。

背景技术

基站中的功率放大器的种类和数量有很多，但是基站信号链路中的末级基站的输入输出功率都是比较高的，现在主流的材料是氮化镓(GaN)，由于这类功率放大器的输出功率高。这会对检测或应用仪表带来很多问题，一方面，需要推动功率放大器产生更高的激励功率，另一方面，功率放大器输出的功率又高于仪表承受的最大的电平，此外在高功率场景下，功率器件容易发热，因此，传统技术中温升对于功率放大器的测试性能影响极大，且传统的台式仪器搭建的测试系统无法在这么短的时间内完成对功率放大器的所有测试，且台式仪器的测试系统无法实现仪器之间精准的互相触发，导致部分仪表虽然支持外部触发，但是触发信号通过线缆的传递会带来一定的延迟，诸如脉冲大电流的瞬态性能难以准确观察捕捉，因此，测试的准确性较低，且完成不同的参数测试需要不同的台式仪器的测试系统，导致测试成本很高，且单一的台式仪器的测试系统无妨使用不同的测试项目，普适性较低。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统，实现了能够检测功率放大器的各个参数，提升了对功率放大器检测的准确性，在降低了成本的同时，提高了对功率放大器的检测普适性。

本申请实施例提供了一种基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统，所述方法包括：

所述基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统包括PXI测试组件、第一供电电源、待检测功率放大器组件以及前置放大器；所述第一供电电源、所述待检测功率放大器组件以及所述前置放大器均与所述PXI测试组件相连，所述前置放大器与所述待检测功率放大器组件相连；

所述PXI测试组件包括PXI控制器、矢量收发模块、第二供电电源以及万用表；所述矢量收发模块、第二供电电源以及所述万用表均与所述PXI控制器相连，所述第二供电电源与所述待检测功率放大器组件相连；

所述矢量收发模块，用于发送所述待检测功率放大器组件对应的伺服功率信号至所述待检测功率放大器组件，并接收所述检测功率放大器组件发动的输出功率信号，以及将所述输出功率信号发送至所述PXI控制器，以便为所述待检测功率放大器组件提供伺服功率信号的测试输入和待测件输出功率信号的测试；

所述PXI控制器，用于为PXI测试组件进行资源管理，并为测试程序的运行提供操作环境，以及通过所述测试程序，对所述输出功率信号进行射频分析，以便完成对所述待检测功率放大器中各个参数的检测。

进一步的，所述矢量收发模块包括信号发生器、信号接收器以及可编程阵列逻辑单元，所述信号发生器通过所述可编程阵列逻辑单元与所述信号接收器相连；

所述信号发生器，用于发送初始输入功率信号至所述可编程阵列逻辑单元；

所述可编程阵列逻辑单元，用于根据预设功率检测条件和预设伺服算法，将所述初始输入功率信号伺服到待检测功率放大器组件对应的伺服功率，并发送伺服功率信号至所述信号接收器；

所述信号接收器，用于将所述伺服功率信号发送至待检测功率放大器组件，并接收所述检测功率放大器组件发出的输出功率信号。

进一步的，所述矢量收发模块还包括模拟数字转换器，所述模拟数字转换器与可编程阵列逻辑单元相连。

进一步的，所述模拟数字转换器将初始输入功率信号有模拟型号转化为数字信号，以及根据转换器位数，确定对初始输入功率信号伺服调整的范围。

进一步的，所述功率放大器的调制信号测试系统还包括第一功率衰减器，所述第一功率衰减器的输入引脚与待检测功率放大器组件相连，所述待检测功率放大器组件的输出引脚与信号接收器相连。

进一步的，所述第一功率衰减器，用于针对待检测功率放大器组件发出的输出功率信号进行衰减处理，以便PXI测试组件对待检测功率放大器组件进行参数检测。

进一步的，所述功率放大器的调制信号测试系统还包括耦合器和功率计，所述耦合器的第一引脚与待检测功率放大器组件相连，所述耦合器的第二引脚与前置放大器相连，所述耦合器的第三引脚与所述功率计的输入端相连，所述功率计的输出端与PXI测试组件相连。

进一步的，所述耦合器，用于对经由前置放大器处理后的伺服功率信号进行耦合，并发送至功率计；

所述功率计，用于将耦合后的伺服功率信号发送至PXI测试组件。

进一步的，所述功率放大器的调制信号测试系统还包括第二功率衰减器，所述第二功率衰减器的第一引脚与耦合器的第三引脚相连，所述第二功率衰减器的第二引脚与功率计的输入端相连。

进一步的，所述第二功率衰减器，用于针对耦合器耦合的经由前置放大器处理后的伺服功率信号进行衰减处，以便PXI测试组件对所述伺服功率信号进行检测。

本申请实施例提供的基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统，与现有技术中的功率放大器检测设备相比，本申请提供的实施例实现了能够检测功率放大器的各个参数，提升了对功率放大器检测的准确性，在降低了成本的同时，提高了对功率放大器的检测普适性。

为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1示出了本申请实施例所提供的一种基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统的结构图之一；

图2示出了本申请实施例所提供的一种基于PXI的功率放大器中待检测功率放大器组件的原理图；

图3示出了本申请实施例所提供的一种基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统的结构图之二；

图4示出了本申请实施例所提供的一种基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统的结构图之三；

图5示出了本申请实施例所提供的一种基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统的结构图之四。

图中：

10-基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统；100-PXI测试组件；110-PXI控制器；120-矢量收发模块；121-信号发生器；122-可编程阵列逻辑单元；123-信号接收器；124-模拟数字转换器；130-第二供电电源；140-万用表；200-第一供电电源；300-待检测功率放大器组件；400-前置放大器；500-第一功率衰减器；600-耦合器；700-功率计；800-第二功率衰减器。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的每个其他实施例，都属于本申请保护的范围。

首先，对本申请可适用的应用场景进行介绍。本申请可应用于半导体测试技术领域。

经研究发现，基站中的功率放大器的种类和数量有很多，但是基站信号链路中的末级基站的输入输出功率都是比较高的，现在主流的材料是氮化镓(GaN)，由于这类功率放大器的输出功率高。这会对检测或应用仪表带来很多问题，一方面，需要推动功率放大器产生更高的激励功率，另一方面，功率放大器输出的功率又高于仪表承受的最大的电平，此外在高功率场景下，功率器件容易发热，因此，传统技术中温升对于功率放大器的测试性能影响极大，且传统的台式仪器搭建的测试系统无法在这么短的时间内完成对功率放大器的所有测试，且台式仪器的测试系统无法实现仪器之间精准的互相触发，导致部分仪表虽然支持外部触发，但是触发信号通过线缆的传递会带来一定的延迟，诸如脉冲大电流的瞬态性能难以准确观察捕捉，因此，测试的准确性较低，且完成不同的参数测试需要不同的台式仪器的测试系统，导致测试成本很高，且单一的台式仪器的测试系统无妨使用不同的测试项目，普适性较低。

且现有技术中，基站中功率放大器的射频性能指标主要包括：S参数、输出功率、增益、效率、线性度、互调以及噪声系数，且大功率测试的输入功率可能大于30dBm，脉冲激励一般在100us左右，且测试效率对于稳定性要求较高，因此需要源表同时具备大电流和高精度的性能。

其中，源表即指一种可作为四象限的电压源或电流源提供精确的电压或电流，同时可同步测量电流值或电压值的测量仪表。

且现有技术中，部分仪表虽然支持外部触发，但是触发信号通过线缆的传递会带来一定的延迟，诸如脉冲大电流的瞬态性能难以准确观察捕捉，且现有技术中，台式仪器的测试系统实现完整的测试项覆盖，需要搭多套测试平台，这通常只能用于实验室开发验证阶段，不易支持多工位测试，且不同的台式仪器的测试系统统一的框架管，对测试结果的处理缺乏统一的格式和存储准则。

基于此，本申请实施例提供了一种基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统，实现了能够检测功率放大器的各个参数，提升了对功率放大器检测的准确性，在降低了成本的同时，提高了对功率放大器的检测普适性。

请参阅图1，图1为本申请实施例所提供的一种基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统的结构图之一。如图1中所示，本申请实施例提供的PXI的功率放大器的调制信号测试系统，包括PXI测试组件100、第一供电电源200、待检测功率放大器组件300以及前置放大器400；所述第一供电电源200、所述待检测功率放大器组件300以及所述前置放大器400均与所述PXI测试组件100相连，所述前置放大器400与所述待检测功率放大器组件300相连。

上述中，本申请提供的实施例中的第一供电电源200选用的型号为ITECHIT6502D。

本申请提供的实施例中的待前置放大器400选用的型号为MiCable BroadbandHigh Power Amplifier MPAR-005060P44。

这里，PXI(PCI Extensions for Instrumentation)是以PCI总线为架构的仪器，是一个开放的标准架构，PXI的平台不仅具有类似VXI的开放架构与坚固的机构外型，更由于其设计了一连串适合仪器开发所用的同步信号，而使得PXI更适合测试、测量与自动化控制。

其中，本申请提供的实施例是将PXI测试组件100封装在机箱的PXI背板上的，且PXI背板可以实现共享功率信号，而无需外部布线，极大的提高了对功率放大器各项参数的测量精度。

其中，PXI还引入Peer-to-Peer的通讯方式，使得基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统10中的不同模块之间可以不经过PXI控制器110直接进行数据传输，这里，NI已将这一技术运用了，如可以通过PXI测试组件100中的矢量收发模块120直接进行信号收发，这样就提升了数据传输和处理能力。

所述PXI测试组件100包括PXI控制器110、矢量收发模块120、第二供电电源130以及万用表140；所述矢量收发模块120、第二供电电源130以及所述万用表140均与所述PXI控制器110相连，所述第二供电电源130与所述待检测功率放大器组件300相连。

其中，矢量收发模块120中带有可编程阵列逻辑单元122，且可编程阵列逻辑单元122中加载有预设的预设伺服算法。

所述矢量收发模块120，用于发送所述待检测功率放大器组件300对应的伺服功率信号至所述待检测功率放大器组件300，并接收所述检测功率放大器组件发动的输出功率信号，以及将所述输出功率信号发送至所述PXI控制器110，以便为所述待检测功率放大器组件300提供伺服功率信号的测试输入和待测件输出功率信号的测试。

这样，本申请提供的实施例中的矢量收发模块120的型号选用NI PXIe-5646R，65MHz to 6GHz,BandWidth，200M，SampleRate250 MS/s。

所述PXI控制器110，用于为PXI测试组件100进行资源管理，并为测试程序的运行提供操作环境，以及通过所述测试程序，对所述输出功率信号进行射频分析，以便完成对所述待检测功率放大器中各个参数的检测。

上述中，待检测功率放大器中各个参数和各个测试结果为测试程序的配置和产物。

这样，本申请提供的实施例中的PXI控制器110的型号选用NI PXIe-8135。

本申请提供的实施例中封装PXI测试组件100的机箱的型号选用NI PXIe-1088。

这里，本申请提供的实施例中的待检测功率放大器组件300包括待检测功率放大器和外围的射频功率放大电路，如图2中所示的一种基于PXI的功率放大器中待检测功率放大器组件300的原理图，所述外围的射频功率放大电路是由2个功放组成：一个主功放(MainAmplifier)，一个辅助功放(Peak Amplifier)，主功放工作在AB类，辅助功放工作在B类或C类。两个功放不是轮流工作，而是主功放一直工作，辅助功放到设定的峰值才工作，功放后面的四分之一波长线是阻抗变换，目的是在辅助功放工作时，起到将主功放的视在阻抗减小的作用，保证辅助功放工作的时候和后面的电路组成的有源负载阻抗变低，这样主功放输出电流就变大。

由于主功放后面有了四分之一波长线，为了使两个功放的输出相同，在辅助功放前面也需要四分之一波长线，用以平衡两路的相位。

然后，本申请提供的图2中的外围的射频功率放大电路是用3dB的电桥将伺服功率信号分为两路(两路信号幅度相等，相位相差90度)输入到功放的两个管子，其中Peak管相位滞后90度，最后两路信号汇合进入隔离器再输出(两路信号汇合之前为使相位一致，经过Peak管的这一路需要再绕四分之一波长的微带线)，最后在经由一个隔离器，其中，所述隔离器用于防止自激，避免打坏芯片，同时电桥输出端的驻波比性能较好，可以保证输入端的匹配性能。

上述中，由于本申请提供的实施例采用PXI测试组件100的点对点式传输技术，能在较短的时间内完成一次对初始输入功率的伺服，大大提高了工程产能。

且本申请提供的实施例，相比于现有技术中的台式仪器测试系统的通过GPIB、USB、LAN、Serial Port或者LX等的信号传输方式，不会受限于总线，即本申请提供的实施例通过PXI背板来传递触发信号，延迟基本在皮秒级，这种用数字沿来触发的方式比软件触发更加精准。

上述中，Gbps也称通用接口总线。

本申请提供的实施例中的第二供电电源130的型号选用NI PXIe-4144，且第二供电电源130用于给待检测功率放大器组件300的门极电压引脚供电。

本申请提供的实施例中的万用表140的型号选用NI PXIe-4080，且万用表140用于检测待检测功率放大器组件300漏极引脚出的电流。

本申请实施例提供的基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统10，与现有技术中的功率放大器检测设备相比，本申请提供的实施例通过PXI测试组件100，实现了能够检测功率放大器的各个参数，且PXI测试组件100中各个组件的信号触发时间较短，进而提升了对功率放大器检测的准确性，且本申请的实施例无需多种台式仪器进行组装，进而在降低了成本的同时，提高了对功率放大器的检测普适性。

请参阅图3，图3为本申请一实施例提供的一种基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统的结构图之二。如图3中所示，本申请实施例提供的基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统10包括：

PXI测试组件100、第一供电电源200、待检测功率放大器组件300以及前置放大器400；所述第一供电电源200、所述待检测功率放大器组件300以及所述前置放大器400均与所述PXI测试组件100相连，所述前置放大器400与所述待检测功率放大器组件300相连。

所述PXI测试组件100包括PXI控制器110、矢量收发模块120、第二供电电源130以及万用表140；所述矢量收发模块120、第二供电电源130以及所述万用表140均与所述PXI控制器110相连，所述第二供电电源130与所述待检测功率放大器组件300相连。

所述矢量收发模块120，用于发送所述待检测功率放大器组件300对应的伺服功率信号至所述待检测功率放大器组件300，并接收所述检测功率放大器组件发动的输出功率信号，以及将所述输出功率信号发送至所述PXI控制器110，以便为所述待检测功率放大器组件300提供伺服功率信号的测试输入和待测件输出功率信号的测试。

所述PXI控制器110，用于为PXI测试组件100进行资源管理，并为测试程序的运行提供操作环境，以及通过所述测试程序，对所述输出功率信号进行射频分析，以便完成对所述待检测功率放大器中各个参数的检测。

所述矢量收发模块120包括信号发生器121、信号接收器123以及可编程阵列逻辑单元122，所述信号发生器121通过所述可编程阵列逻辑单元122与所述信号接收器123相连。

上述中，所述信号发生器121可以绕过PXI控制器110通过可编程阵列逻辑单元122与信号接收器123直接进行通信。

这里，可编程阵列逻辑单元122内部包括预设伺服算法，其中，预设伺服算法的类型和选择可以根据不同的应用场景进行自定义的选择，例如，本申请提供的实施例中预设伺服算法可以选用Servo算法。

所述信号发生器121，用于发送初始输入功率信号至所述可编程阵列逻辑单元122。

这里，信号发生器121发送初始输入功率信号通过半编程阵列逻辑器中的数字增益来进行自动调整，调整的动态范围受限于模拟数字转换器124的位数。

所述可编程阵列逻辑单元122，用于根据预设功率检测条件和预设伺服算法，将所述初始输入功率信号伺服到待检测功率放大器组件300对应的伺服功率，并发送伺服功率信号至所述信号接收器123。

上述中，可编程阵列逻辑单元122可控制信号发生器121的DigitalGain模块来调节信号发生器121的初始输入功率信号。

这里，预设伺服算法的类型和选择可以根据不同的应用场景进行自定义的选择，例如，本申请提供的实施例中预设伺服算法可以选用Servo算法，且本申请提供的实施例中的伺服算法可编程，且功率伺服次数、时间以及功率大小都在可编程阵列逻辑单元122中记录下来，并在伺服过程完成后，可以通过基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统10开放的AP接口，取出存储的过程数据。

所述信号接收器123，用于将所述伺服功率信号发送至待检测功率放大器组件300，并接收所述检测功率放大器组件发出的输出功率信号。

这里，功率伺服过程中，伺服功率信号通过可编程阵列逻辑单元122在信号接收器123和信号发生器121之间传递，不经过上位机，减少了上位机和控制器的性能消耗。

进一步的，所述矢量收发模块120还包括模拟数字转换器124，所述模拟数字转换器124与可编程阵列逻辑单元122相连。

进一步的，所述模拟数字转换器124将初始输入功率信号有模拟型号转化为数字信号，以及根据转换器位数，确定对初始输入功率信号伺服调整的范围。

这里，本申请提供的实施例中的模拟数字转换器124的位数为14bit。

本申请实施例提供的基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统10，与现有技术中的功率放大器检测设备相比，本申请提供的实施例通过PXI测试组件100，实现了能够检测功率放大器的各个参数，且PXI测试组件100中各个组件的信号触发时间较短，进而提升了对功率放大器检测的准确性，且本申请的实施例无需多种台式仪器进行组装，进而在降低了成本的同时，提高了对功率放大器的检测普适性。

请参阅图4，图4为本申请一实施例提供的一种基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统的结构图之三。如图4中所示，本申请实施例提供的基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统10包括：

PXI测试组件100、第一供电电源200、待检测功率放大器组件300以及前置放大器400；所述第一供电电源200、所述待检测功率放大器组件300以及所述前置放大器400均与所述PXI测试组件100相连，所述前置放大器400与所述待检测功率放大器组件300相连。

所述PXI测试组件100包括PXI控制器110、矢量收发模块120、第二供电电源130以及万用表140；所述矢量收发模块120、第二供电电源130以及所述万用表140均与所述PXI控制器110相连，所述第二供电电源130与所述待检测功率放大器组件300相连。

所述矢量收发模块120，用于发送所述待检测功率放大器组件300对应的伺服功率信号至所述待检测功率放大器组件300，并接收所述检测功率放大器组件发动的输出功率信号，以及将所述输出功率信号发送至所述PXI控制器110，以便为所述待检测功率放大器组件300提供伺服功率信号的测试输入和待测件输出功率信号的测试。

所述PXI控制器110，用于为PXI测试组件100进行资源管理，并为测试程序的运行提供操作环境，以及通过所述测试程序，对所述输出功率信号进行射频分析，以便完成对所述待检测功率放大器中各个参数的检测。

所述矢量收发模块120包括信号发生器121、信号接收器123以及可编程阵列逻辑单元122，所述信号发生器121通过所述可编程阵列逻辑单元122与所述信号接收器123相连。

所述信号发生器121，用于发送初始输入功率信号至所述可编程阵列逻辑单元122。

所述可编程阵列逻辑单元122，用于根据预设功率检测条件和预设伺服算法，将所述初始输入功率信号伺服到待检测功率放大器组件300对应的伺服功率，并发送伺服功率信号至所述信号接收器123。

所述信号接收器123，用于将所述伺服功率信号发送至待检测功率放大器组件300，并接收所述检测功率放大器组件发出的输出功率信号。

所述矢量收发模块120还包括模拟数字转换器124，所述模拟数字转换器124与可编程阵列逻辑单元122相连。

所述模拟数字转换器124将初始输入功率信号有模拟型号转化为数字信号，以及根据转换器位数，确定对初始输入功率信号伺服调整的范围。

进一步的，所述功率放大器的调制信号测试系统还包括第一功率衰减器500，所述第一功率衰减器500的输入引脚与待检测功率放大器组件300相连，所述待检测功率放大器组件300的输出引脚与信号接收器123相连。

这里，第一功率衰减器500的型号可以选用40dB，且第一功率衰减器500使用的型号和大小可以根据不同的应用场景和不同的需求进行自定义选择。

所述第一功率衰减器500，用于针对待检测功率放大器组件300发出的输出功率信号进行衰减处理，以便PXI测试组件100对待检测功率放大器组件300进行参数检测。

这里，由于待检测功率放大器组件300发出的输出功率信号过高，可能会超过PXI测试组件100中信号接收器123的阈值量程，造成PXI测试组件100中信号接收器123的损坏，因此，需要在待检测功率放大器组件300和PXI测试组件100中信号接收器123之间安装一个40dB的第一功率衰减器500。

本申请实施例提供的基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统10，与现有技术中的功率放大器检测设备相比，本申请提供的实施例通过PXI测试组件100，实现了能够检测功率放大器的各个参数，且PXI测试组件100中各个组件的信号触发时间较短，进而提升了对功率放大器检测的准确性，且本申请的实施例无需多种台式仪器进行组装，进而在降低了成本的同时，提高了对功率放大器的检测普适性。

请参阅图5，图5为本申请一实施例提供的一种基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统的结构图之四。如图5中所示，本申请实施例提供的基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统10包括：

PXI测试组件100、第一供电电源200、待检测功率放大器组件300以及前置放大器400；所述第一供电电源200、所述待检测功率放大器组件300以及所述前置放大器400均与所述PXI测试组件100相连，所述前置放大器400与所述待检测功率放大器组件300相连。

所述PXI测试组件100包括PXI控制器110、矢量收发模块120、第二供电电源130以及万用表140；所述矢量收发模块120、第二供电电源130以及所述万用表140均与所述PXI控制器110相连，所述第二供电电源130与所述待检测功率放大器组件300相连。

所述矢量收发模块120，用于发送所述待检测功率放大器组件300对应的伺服功率信号至所述待检测功率放大器组件300，并接收所述检测功率放大器组件发动的输出功率信号，以及将所述输出功率信号发送至所述PXI控制器110，以便为所述待检测功率放大器组件300提供伺服功率信号的测试输入和待测件输出功率信号的测试。

所述PXI控制器110，用于为PXI测试组件100进行资源管理，并为测试程序的运行提供操作环境，以及通过所述测试程序，对所述输出功率信号进行射频分析，以便完成对所述待检测功率放大器中各个参数的检测。

所述矢量收发模块120包括信号发生器121、信号接收器123以及可编程阵列逻辑单元122，所述信号发生器121通过所述可编程阵列逻辑单元122与所述信号接收器123相连。

所述信号发生器121，用于发送初始输入功率信号至所述可编程阵列逻辑单元122。

所述可编程阵列逻辑单元122，用于根据预设功率检测条件和预设伺服算法，将所述初始输入功率信号伺服到待检测功率放大器组件300对应的伺服功率，并发送伺服功率信号至所述信号接收器123。

所述信号接收器123，用于将所述伺服功率信号发送至待检测功率放大器组件300，并接收所述检测功率放大器组件发出的输出功率信号。

所述矢量收发模块120还包括模拟数字转换器124，所述模拟数字转换器124与可编程阵列逻辑单元122相连。

所述模拟数字转换器124将初始输入功率信号有模拟型号转化为数字信号，以及根据转换器位数，确定对初始输入功率信号伺服调整的范围。

所述功率放大器的调制信号测试系统还包括第一功率衰减器500，所述第一功率衰减器500的输入引脚与待检测功率放大器组件300相连，所述待检测功率放大器组件300的输出引脚与信号接收器123相连。

所述第一功率衰减器500，用于针对待检测功率放大器组件300发出的输出功率信号进行衰减处理，以便PXI测试组件100对待检测功率放大器组件300进行参数检测。

进一步的，所述功率放大器的调制信号测试系统还包括耦合器600和功率计700，所述耦合器600的第一引脚与待检测功率放大器组件300相连，所述耦合器600的第二引脚与前置放大器400相连，所述耦合器600的第三引脚与所述功率计700的输入端相连，所述功率计700的输出端与PXI测试组件100相连。

所述耦合器600，用于对经由前置放大器400处理后的伺服功率信号进行耦合，并发送至功率计700。

这里，耦合器600对经由前置放大器400处理后的伺服功率进行耦合，并发送至功率计700，用于测试待检测功率放大器组件300各个参数，本申请提供的实施例中，伺服功率可以包括但不限制于计算待检测功率放大器组件300的增益。

上述中，本申请提供的实施例中的耦合器600可以选用10dB规格的耦合器600。

所述功率计700，用于将耦合后的伺服功率信号发送至PXI测试组件100。

上述中，PXI测试组件100中包括与功率计700向适配的USB接口，且该USB接口的型号为NI USB-5684。

这里，本申请提供的实施例中的PXI测试组件100中具有可扩展的各个类型的适应接口，使得PXI测试组件100所在的PXI背板能具有更多元化的功能，使得自动化测试可以更加高效和低代码量，本申请提供的实施例所建立的基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统10的可扩展性与ATE机台不相上下，且测试成本低于ATE。

所述功率放大器的调制信号测试系统还包括第二功率衰减器800，所述第二功率衰减器800的第一引脚与耦合器600的第三引脚相连，所述第二功率衰减器800的第二引脚与功率计700的输入端相连。

所述第二功率衰减器800，用于针对耦合器600耦合的经由前置放大器400处理后的伺服功率信号进行衰减处理，以便PXI测试组件100对所述伺服功率信号进行检测。

这里，第二功率衰减器800的型号可以选用20dB，且第二功率衰减器800使用的型号和大小可以根据不同的应用场景和不同的需求进行自定义选择。

这里，本申请提供的实施例提供的基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统10时集成在VisualStudio上的集成开发环境，且在该集成开发环境中，可以配置丰富的插件同时满足实验室调试测试和实际应用场景下的ATE测试。

例如，本申请提供的实施例主要帆布限制于开发了4个插件集，包括：仪表仪器管理插件集(InstrumentPanel)、调试套件插件集(DebugSuite)、寄存器控制面板插件集(RegisterControlPanel)以及流量插件集(Flow)。

其中，DebugSuite:用来编写测试IP和调试，支持Debug模式\Sweep模式\CornerSweep模式(绘制shmoo图)。

RegisterControlPanel:用于DUT Control，支持单bit调试和寄存器组调试，且同时支持多种通信协议。

Flow用于控制测试程序执行流，并支持多种操作码(operation code)。

InstrumentPanel用于定义待检测功率放大器组件300和测试资源，并建立映射关系。

下面通过以下步骤(Step)建立基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统10的运行环境：

Step1、PXI系统将PXI测试组件100中的所有器件均插入机箱中。

Step2、基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统10按照图4的连接完成setup。

Step3、使用PPXI控制器110自带Windows 10操作系统并且已经安装NI MAX(NIMeasurement&Automation Explore)，确保如下驱动是已经安装的，如没有，可以在NIPackage Manager中进行搜索和安装。

Step4、驱动软件安装完成后请继续安装测试开发环境OneTest：请确保安装之前已经安装ViusalStudio 2022，软件安装完成后需要license激活。

Step5、OneTest安装成功之后可以打开项目工程文件文件->打开->打开Onetest项目。

Step6、打开项目之后点击View->TestFlow就可以进入自动化模式运行当前的运行环境。

本申请实施例提供的基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统10，与现有技术中的功率放大器检测设备相比，本申请提供的实施例通过PXI测试组件100，实现了能够检测功率放大器的各个参数，且PXI测试组件100中各个组件的信号触发时间较短，进而提升了对功率放大器检测的准确性，且本申请的实施例无需多种台式仪器进行组装，进而在降低了成本的同时，提高了对功率放大器的检测普适性。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的装置和单元的具体工作过程，可以参考前述系统实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统和装置，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。

所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个处理器可执行的非易失的计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

最后应说明的是：以上所述实施例，仅为本申请的具体实施方式，用以说明本申请的技术方案，而非对其限制，本申请的保护范围并不局限于此，尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改、变化或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请实施例技术方案的精神和范围，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统，其特征在于，所述基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统包括PXI测试组件、第一供电电源、待检测功率放大器组件以及前置放大器；所述第一供电电源、所述待检测功率放大器组件以及所述前置放大器均与所述PXI测试组件相连，所述前置放大器与所述待检测功率放大器组件相连；

所述PXI测试组件包括PXI控制器、矢量收发模块、第二供电电源以及万用表；所述矢量收发模块、第二供电电源以及所述万用表均与所述PXI控制器相连，所述第二供电电源与所述待检测功率放大器组件相连；

所述矢量收发模块，用于发送所述待检测功率放大器组件对应的伺服功率信号至所述待检测功率放大器组件，并接收所述检测功率放大器组件发动的输出功率信号，以及将所述输出功率信号发送至所述PXI控制器，以便为所述待检测功率放大器组件提供伺服功率信号的测试输入和待测件输出功率信号的测试；

所述PXI控制器，用于为PXI测试组件进行资源管理，并为测试程序的运行提供操作环境，以及通过所述测试程序，对所述输出功率信号进行射频分析，以便完成对所述待检测功率放大器中各个参数的检测。

2.根据权利要求1所述的基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统，其特征在于，所述矢量收发模块包括信号发生器、信号接收器以及可编程阵列逻辑单元，所述信号发生器通过所述可编程阵列逻辑单元与所述信号接收器相连；

所述信号发生器，用于发送初始输入功率信号至所述可编程阵列逻辑单元；

所述可编程阵列逻辑单元，用于根据预设功率检测条件和预设伺服算法，将所述初始输入功率信号伺服到待检测功率放大器组件对应的伺服功率，并发送伺服功率信号至所述信号接收器；

所述信号接收器，用于将所述伺服功率信号发送至待检测功率放大器组件，并接收所述检测功率放大器组件发出的输出功率信号。

3.根据权利要求2所述的基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统，其特征在于，所述矢量收发模块还包括模拟数字转换器，所述模拟数字转换器与可编程阵列逻辑单元相连。

4.根据权利要求3所述的基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统，其特征在于，所述模拟数字转换器将初始输入功率信号有模拟型号转化为数字信号，以及根据转换器位数，确定对初始输入功率信号伺服调整的范围。

5.根据权利要求2所述的基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统，其特征在于，所述功率放大器的调制信号测试系统还包括第一功率衰减器，所述第一功率衰减器的输入引脚与待检测功率放大器组件相连，所述待检测功率放大器组件的输出引脚与信号接收器相连。

6.根据权利要求5所述的基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统，其特征在于，所述第一功率衰减器，用于针对待检测功率放大器组件发出的输出功率信号进行衰减处理，以便PXI测试组件对待检测功率放大器组件进行参数检测。

7.根据权利要求1所述的基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统，其特征在于，所述功率放大器的调制信号测试系统还包括耦合器和功率计，所述耦合器的第一引脚与待检测功率放大器组件相连，所述耦合器的第二引脚与前置放大器相连，所述耦合器的第三引脚与所述功率计的输入端相连，所述功率计的输出端与PXI测试组件相连。

8.根据权利要求7所述的基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统，其特征在于，所述耦合器，用于对经由前置放大器处理后的伺服功率信号进行耦合，并发送至功率计；

所述功率计，用于将耦合后的伺服功率信号发送至PXI测试组件。

9.根据权利要求7所述的基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统，其特征在于，所述功率放大器的调制信号测试系统还包括第二功率衰减器，所述第二功率衰减器的第一引脚与耦合器的第三引脚相连，所述第二功率衰减器的第二引脚与功率计的输入端相连。

10.根据权利要求9所述的基于PXI的功率放大器的调制信号测试系统，其特征在于，所述第二功率衰减器，用于针对耦合器耦合的经由前置放大器处理后的伺服功率信号进行衰减处理，以便PXI测试组件对所述伺服功率信号进行检测。

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