CN105721253A - Lte fdd自动测试系统及其测试方法 - Google Patents

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丁宝军
孔凡江
姜涵什
薛俊婷
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Abstract

本发明LTE FDD自动测试系统包括有频谱仪、综测仪、信号源、射频切换控制箱、工控计算机和被测件，频谱仪、综测仪、信号源和射频切换控制箱集成在机柜上，频谱仪、综测仪和信号源通过GPIB控制线串联，射频切换控制箱通过USB控制线与工控计算机相连，频谱仪、综测仪和信号源与工控计算机通过GPIB转USB控制线相连，频谱仪、综测仪和信号源输入端口通过射频线缆与射频切换控制箱后面板对应端口相连。本发明可以实现自动对测试进行操作和交互，读取仪表数据，分析对比显示数据，存储结果，生成报告等。对指定的设备环境，实现智能化检测待测件，设计优化检测算法，并行检测，提高效率。

Description

LTE FDD自动测试系统及其测试方法
技术领域
本发明涉及一种LTEFDD自动测试系统及其测试方法。
背景技术
目前现有的LTEFDD移动终端测试子系统客户进行检测需要手动在仪表按键上对仪表的参数进行逐一设置，需要进行大量的循环操作，读取记录结果，和标准参数比对，逐一记录合格与否。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种LTEFDD自动测试系统及其测试方法。
为了解决现有技术存在的问题，本发明采用的技术方案是：
LTEFDD自动测试系统，包括有：频谱仪、综测仪、信号源、射频切换控制箱、工控计算机和被测件，频谱仪、综测仪、信号源和射频切换控制箱集成在机柜上，频谱仪、综测仪和信号源通过GPIB控制线串联，射频切换控制箱通过USB控制线与工控计算机相连，频谱仪、综测仪和信号源与工控计算机通过GPIB转USB控制线相连，频谱仪、综测仪和信号源输入端口通过射频线缆与射频切换控制箱后面板对应端口相连。
所述的频谱分析仪为N9030A信号分析仪。
所述的综合测试仪为CTP3110。
所述的信号发生器为N5182B。
所述的射频切换控制箱包括有射频切换控制箱TH2900F-1和射频切换控制箱TH2900F-2两部分。
所述的射频切换控制箱TH2900F-1与射频切换控制箱TH2900F-2通过射频线缆相连。
所述的射频切换控制箱包括有3dB衰减器、功分器、耦合器、Band1带阻滤波器、Band3带阻滤波器、Band7带阻滤波器、低通滤波器、高通滤波器、电磁开关、单向器、UE终端1与UE终端2，其中：所述的3dB衰减器对输入信号幅度进行衰减，确保输入信号电平不会超出仪表量程，对仪表起到保护作用；
所述的功分器将输入信号分离成两路，一路与综测仪相连，一路经过滤波单元与频谱仪相连；
所述的耦合器将输入信号与干扰信号产生互调产物并将其输入到频谱分析仪进行测试；
所述的Band1带阻滤波器对Band1主峰信号进行大幅度衰减后进入频谱分析仪进行杂散测试；
所述的Band3带阻滤波器对Band3主峰信号进行大幅度衰减后进入频谱分析仪进行杂散测试；
所述的Band7带阻滤波器对Band7主峰信号进行大幅度衰减后进入频谱分析仪进行杂散测试；
所述的低通滤波器对9kHz-1000MHz进行滤波，滤波后进入频谱分析仪进行杂散测试；
所述的高通滤波器对3000MHz-12750MHz进行滤波，滤波后进入频谱分析仪进行杂散测试；
所述的UE终端1与UE终端2为被测件提供射频输入信号。
LTEFDD自动测试系统的测试方法，包括以下步骤：
①创建测试项目；
②填写公共信息和加载校准结果文件；
③创建和导入、导出测试计划；
④修改和配置参数；
⑤初始化仪表；
⑥连接被测设备；
⑦执行测试；
⑧测试完成后点击“测试结果”来查询完成的测试数据和对其中测试项的复测工作；
⑨测试结束；
⑩生成报告。
本发明所具有的优点与效果是：
本发明LTEFDD移动终端测试子系统可以实现自动对测试进行操作和交互，包括基础信息记录，仪表矫正，误差补偿，控制仪表设置参数，读取仪表数据，分析对比显示数据，存储结果，生成报告等。对指定的设备环境，实现智能化检测待测件，设计优化检测算法，并行检测，提高效率。
附图说明
图1为本发明LTEFDD自动测试系统结构原理图；
图2为本发明射频切换控制箱TH2900F-1结构原理图；
图3为本发明射频切换控制箱TH2900F-2结构原理图；
图4为本发明LTEFDD自动测试系统的测试方法流程图。
具体实施方式
如图1所示，本发明LTEFDD自动测试系统，包括有：频谱仪、综测仪、信号源、射频切换控制箱、工控计算机和被测件，频谱仪、综测仪、信号源和射频切换控制箱集成在机柜上，频谱仪、综测仪和信号源通过GPIB控制线串联，射频切换控制箱通过USB控制线与工控计算机相连，频谱仪、综测仪和信号源与工控计算机通过GPIB转USB控制线相连，频谱仪、综测仪和信号源输入端口通过射频线缆与射频切换控制箱后面板对应端口相连。
频谱分析仪主要功能为完成发射互调测试项目中的对互调产物进行测试，并读出测试结果；完成传导杂散发射项目测试，按照标准要求的频段逐段扫描。
信号发生器主要功能为发射互调测试项目提供干扰信号，与被测件发射信号产生互调产物。
综合测试仪主要功能为完成型号核准测试要求的17项测试项目的测试，包括最大发射功率、最大功率回退（MPR）、配置UE发射功率、最小输出功率、发射关功率、通用发射开/关时间模板、绝对功率控制容限、相对功率控制容限、总功率控制容限、频率误差、误差矢量幅度（EVM）、载波泄漏、带内杂散（未分配资源块）、EVM均衡器频谱平坦度、占用带宽、频谱发射模板、邻道泄漏抑制比（ACLR）；
射频切换单元将各仪表的射频输入端口连接到射频切换单元与之对应的输出端口，为被测件的输入信号提供射频路径切换，确保将被测件的射频信号输入到不同仪表，通过工控机发送控制命令切换内部电磁开关实现不同路径切换。
所述的频谱分析仪为N9030A信号分析仪。
所述的综合测试仪为CTP3110。
所述的信号发生器为N5182B。
如图2、3所示，所述的射频切换控制箱包括有射频切换控制箱TH2900F-1和射频切换控制箱TH2900F-2两部分。
所述的射频切换控制箱TH2900F-1与射频切换控制箱TH2900F-2通过射频线缆相连。
所述的射频切换控制箱包括有3dB衰减器、功分器、耦合器、Band1带阻滤波器、Band3带阻滤波器、Band7带阻滤波器、低通滤波器、高通滤波器、电磁开关、单向器、UE终端1与UE终端2，其中：所述的3dB衰减器对输入信号幅度进行衰减，确保输入信号电平不会超出仪表量程，对仪表起到保护作用。
所述的功分器将输入信号分离成两路，一路与综测仪相连，一路经过滤波单元与频谱仪相连，其作用为通过对综测仪的操作来改变输入信号的频率、信号特性，满足发射互调与传导杂散的测试。
所述的耦合器将输入信号与干扰信号产生互调产物并将其输入到频谱分析仪进行测试。
所述的Band1带阻滤波器对Band1（1920MHz-1980MHz）主峰信号进行大幅度衰减后进入频谱分析仪进行杂散测试，其主要作用为提高频谱分析仪的动态范围，提高传导杂散测试的准确性。
所述的Band3带阻滤波器对Band3（1710MHz-1785MHz）主峰信号进行大幅度衰减后进入频谱分析仪进行杂散测试，其主要作用为提高频谱分析仪的动态范围，提高传导杂散测试的准确性。；
所述的Band7带阻滤波器对Band7（2500MHz-2570MHz）主峰信号进行大幅度衰减后进入频谱分析仪进行杂散测试，其主要作用为提高频谱分析仪的动态范围，提高传导杂散测试的准确性。；
所述的低通滤波器对9kHz-1000MHz进行滤波，滤波后进入频谱分析仪进行杂散测试，其主要作用为确保9kHz-1000MHz范围内的频谱纯度，提高传导杂散测试的准确性。；
所述的高通滤波器对3000MHz-12750MHz进行滤波，滤波后进入频谱分析仪进行杂散测试，其主要作用为确保3000MHz-12750MHz范围内的频谱纯度，提高传导杂散测试的准确性。；
所述的电磁开关（图4中的S1，S2，S3）：通过工控机的控制实现不同路径切换。
所述的单向器实现单向通路，其主要作用为防止输入信号通过耦合端进入信号源前端，起保护信号源前端作用。
所述的UE终端1与UE终端2为被测件提供射频输入信号。
如图4所示，本发明LTEFDD自动测试系统的测试方法，包括以下步骤：
启动检测软件：在合法用户（系统管理员和操作员）进行正确登录后，进入LTEFDD数字终端自动检测系统测试软。创建测试项目：填写公共信息和加载校准结果文件。创建和导入、导出测试计划：创建好项目信息后，可以通过点击左侧栏的“测试计划信息”来实现对当前测试项目使用测试计划的设置。创建测试计划：点击新建计划按钮，在弹出测试计划菜单内勾选当前计划包含测试项目后点击保存，完成新建测试计划。导入与导出测试计划：新建或修改后的测试计划点击“导出计划”在指定路径保存为测试计划文件，后续新的测试项目需要相同的测试计划时可以点击“导入计划”按钮直接调用之前导出的测试计划。修改和配置参数（测试信道、带宽、RB数量、调制方式）新建与导入的测试计划，都可通过双击测试计划中显示的测试项来配置当前计划中该测试项相应的测试参数。执行测试规划：点击“开始”按钮。选择测试样机和测试计划。等待注册。开始进行测试。
测试过程：开始测试后会按照至上而下的顺序逐项完成当前测试计划中勾选的测试项；软件“测试输出信息”界面中下部为测试结果显示，会实时逐项输出当前正在测试项目的数据结果。
测试过程当中可以通过上部按钮“暂停”测试或者“停止”测试，暂停的测试可以继续完成，终止的测试则不能马上继续，只有通过重新确认测试计划后重新开始测试来完成剩余的测试；
测试当中会有一些需要测试人员手动操作配合的提示，如“仪表连接失败，请先确认仪表是否连接成功！”等；
测试完毕后会弹出提示对话框，仪表、控制箱均切换到初始状态，测试信号链路中断。
结果查询与复测：测试完成后可以点击左侧信息栏中“测试结果”，来查询完成的测试数据和对其中测试项的复测工作
结果查询：对于测试结果的查看可以按照如图中显示的“样机”，“计划”，“测试项”等不同筛选项来进行
结果复测：测试完成后，对于未通过或有疑问的测试项可通过勾选相应的配置项来选择需要结果复测的测试项，点击“启动复测”开始测试。
生成报告文档：测试完成后点击生成报告按钮，加载报告模板与原始记录报告模板，点击确定，自动将测试数据插入到报告模板中，完成测试数据的导出。

Claims (8)

1.LTEFDD自动测试系统，其特征在于包括有：频谱仪、综测仪、信号源、射频切换控制箱、工控计算机和被测件，频谱仪、综测仪、信号源和射频切换控制箱集成在机柜上，频谱仪、综测仪和信号源通过GPIB控制线串联，射频切换控制箱通过USB控制线与工控计算机相连，频谱仪、综测仪和信号源与工控计算机通过GPIB转USB控制线相连，频谱仪、综测仪和信号源输入端口通过射频线缆与射频切换控制箱后面板对应端口相连。
2.根据权利要求1所述的LTEFDD自动测试系统，其特征在于所述的频谱分析仪为N9030A信号分析仪。
3.根据权利要求1所述的LTEFDD自动测试系统，其特征在于所述的综合测试仪为CTP3110。
4.根据权利要求1所述的LTEFDD自动测试系统，其特征在于所述的信号发生器为N5182B。
5.根据权利要求1所述的LTEFDD自动测试系统，其特征在于所述的射频切换控制箱包括有射频切换控制箱TH2900F-1和射频切换控制箱TH2900F-2两部分。
6.根据权利要求5所述的LTEFDD自动测试系统，其特征在于所述的射频切换控制箱TH2900F-1与射频切换控制箱TH2900F-2通过射频线缆相连。
7.根据权利要求1所述的LTEFDD自动测试系统，其特征在于所述的射频切换控制箱包括有3dB衰减器、功分器、耦合器、Band1带阻滤波器、Band3带阻滤波器、Band7带阻滤波器、低通滤波器、高通滤波器、电磁开关、单向器、UE终端1与UE终端2，其中：所述的3dB衰减器对输入信号幅度进行衰减，确保输入信号电平不会超出仪表量程，对仪表起到保护作用；
所述的功分器将输入信号分离成两路，一路与综测仪相连，一路经过滤波单元与频谱仪相连；
所述的耦合器将输入信号与干扰信号产生互调产物并将其输入到频谱分析仪进行测试；
所述的Band1带阻滤波器对Band1主峰信号进行大幅度衰减后进入频谱分析仪进行杂散测试；
所述的Band3带阻滤波器对Band3主峰信号进行大幅度衰减后进入频谱分析仪进行杂散测试；
所述的Band7带阻滤波器对Band7主峰信号进行大幅度衰减后进入频谱分析仪进行杂散测试；
所述的低通滤波器对9kHz-1000MHz进行滤波，滤波后进入频谱分析仪进行杂散测试；
所述的高通滤波器对3000MHz-12750MHz进行滤波，滤波后进入频谱分析仪进行杂散测试；
所述的UE终端1与UE终端2为被测件提供射频输入信号。
8.LTEFDD自动测试系统的测试方法，其特征在于包括以下步骤：
①创建测试项目；
②填写公共信息和加载校准结果文件；
③创建和导入、导出测试计划；
④修改和配置参数；
⑤初始化仪表；
⑥连接被测设备；
⑦执行测试；
⑧测试完成后点击“测试结果”来查询完成的测试数据和对其中测试项的复测工作；
⑨测试结束；
⑩生成报告。
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