CN107888304A - 用于ce法规射频测试的装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种用于CE法规射频测试的装置，包括至少四个被测设备接口、信号源接口、无线访问接入点AP接口、频谱仪接口、综测仪接口、通用串行总线USB接口以及分别用于测试不同CE法规射频测试项目的至少六条射频链路。该装置通过同轴开关在多个接口之间搭建多条射频链路，并通过各同轴开关上不同端子的连接状态控制多条射频链路之间的切换调用，从而实现不同测试项目下在不同的信号路径间的切换，使得上述用于CE法规射频测试的装置能够适用于不同测试环境，并且，该装置无需在进行不同测试项目时手动搭建不同的链路，从而避免手动搭建链路带来的测试误差，从而提高CE法规射频测试的准确度和测试效率。

Description

用于CE法规射频测试的装置

技术领域

本发明涉及射频电路技术领域，特别是涉及一种用于CE法规射频测试的装置。

背景技术

终端射频自动测试系统是指采用计算机控制，自动完成建立通话、链路切换、信号测量、数据计算处理并输出测试结果的自动化测试系统，主要应用于无线终端射频指标测试及集成测试系统搭建(包括国内外相关测试标准的射频指标测试及自动测试系统塔建)。

现有技术的射频切换单元主要由国外少数厂家生产，生产周期长，而且受限程度大，价格昂贵，很难灵活的应用于不同的测试环境。现阶段的蓝牙/WIFI CE法规测试主要使用先进的测试仪表，但是在对射频终端设备进行测试过程中，针对不同的测试项目，需要搭载相应的射频链路以满足测试要求，同时在完成一项射频测试过程中需要多条射频链路搭载。如果进行手动搭载测试链路，则会引入测量误差，影响测试结果的准确性。此外，现阶段终端切换单元功能单一，无法完成CE法规中所有测试项目的测试指标。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的用于CE法规射频测试的装置。

依据本发明的一个方面，提供了一种用于CE法规射频测试的装置，包括至少四个被测设备接口、信号源接口、无线访问接入点AP接口、频谱仪接口、综测仪接口、通用串行总线USB接口以及分别用于测试不同CE法规射频测试项目的至少六条射频链路；各被测设备接口分别连接一个第一同轴开关，其中：

各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、第二同轴开关、第三同轴开关、第四同轴开关、第六同轴开关、第一功分器连接至所述综测仪接口，形成第一射频链路；

各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述第四同轴开关、所述第六同轴开关、第七同轴开关连接至所述频谱仪接口，形成第二射频链路，所述第一功分器的一个输出端口与所述第七同轴开关的一个端子连接；

各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、与各第一同轴开关分别连接的功率探头、USB集线器连接至所述USB接口，形成第三射频链路；

各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、第二功分器、第五同轴开关、检波模块、采集模块、所述USB集线器连接至所述USB接口，形成第四射频链路；

各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、耦合器连接至所述信号源接口，形成第五射频链路；

各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述耦合器连接至所述AP接口，形成第六射频链路；

其中，所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述第四同轴开关、所述第六同轴开关和所述第七同轴开关为单刀多掷开关，所述第一同轴开关、所述第六同轴开关和所述第七同轴开关各包括至少三个端子，所述第二同轴开关包括至少五个端子，所述第三同轴开关和所述第四同轴开关各包括至少两个端子，所述第五同轴开关为双刀双掷开关，所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述第四同轴开关、所述第五同轴开关所述第六同轴开关和/或所述第七同轴开关上各端子的连接状态控制其所在的各射频链路连通或断开。

可选地，所述第一同轴开关上的至少三个端子分别与所述功率探头、所述第二同轴开关、所述第二功分器连接；所述第二同轴开关上的至少五个端子中，有至少四个端子分别与各第一同轴开关连接，另一个端子与所述第五同轴开关连接。

可选地，所述第四同轴开关和所述第六同轴开关间还连接有第一固定衰减器。

可选地，所述耦合器和所述AP接口间还连接有第一衰减部件。

可选地，所述第一衰减部件包括至少一个第二固定衰减器、第八同轴开关和第九同轴开关；其中：

所述第八同轴开关和所述第九同轴开关各包括至少两个端子，所述第二固定衰减器的两端分别连接在所述第八同轴开关和所述第九同轴开关的一个端子上，所述第八同轴开关上的另一个端子和所述第九同轴开关上的另一个端子连接，所述第八同轴开关和所述第九同轴开关上各端子的连接状态控制所述第一衰减部件中是否使用所述第二固定衰减器。

可选地，当所述AP接口包括至少两个时，所述第一衰减部件和所述AP接口间还连接有第三功分器，所述第三功分器的各输出端分别连接各AP接口。

可选地，所述第一衰减部件和所述第三功分器间还连接有可调衰减器。

可选地，当所述信号源接口至少包括第一信号源接口和第二信号源接口时，所述耦合器和所述信号源接口间还连接有第四功分器，所述第四功分器的一个输出端通过第十同轴开关连接至所述第一信号源接口，所述第十同轴开关为双刀双掷开关，所述第十同轴开关上的一个端子通过第五功分器连接至所述第七同轴开关，所述第五功分器的一个输出端与所述第十同轴开关连接，另一个输出端与所述第六同轴开关连接，所述第十同轴开关上各端子的连接状态控制所述第一信号源接口所在射频链路的连通或断开，所述第四功分器的另一个输出端与所述第二信号源接口连接。

可选地，所述第四功分器和所述第十同轴开关间还连接有第二衰减部件。

可选地，所述第五同轴开关和所述检波模块间还连接有第三固定衰减器。

可选地，所述被测设备接口和所述频谱仪接口为K型接口，所述综测仪接口、所述AP接口和所述信号源接口为SMA型接口。

采用本发明实施例的装置，通过同轴开关在被测设备接口、信号源接口、无线访问接入点AP接口、频谱仪接口、综测仪接口和通用串行总线USB接口之间搭建多条射频链路，并通过各同轴开关上不同端子的连接状态控制多条射频链路之间的切换调用，从而实现不同测试项目下在不同的信号路径间的切换，使得上述用于CE法规射频测试的装置能够适用于不同测试环境，并且，该装置无需在进行不同测试项目时手动搭建不同的链路，从而避免手动搭建链路带来的测试误差，从而提高CE法规射频测试的准确度和测试效率。

进一步地，本发明实施例中，通过在上述装置中连接衰减器，避免了过大的信号(例如过热射频功率、直流瞬时、静电放电等)所导致的仪表过载甚至烧坏仪表的情况，从而使该装置在实现适用于不同测试环境的前提下，能够保证测试过程中各仪表的安全性以及测试的稳定性。

进一步地，本发明实施例中，通过在上述装置中连接多个衰减器，使得该装置能够根据不同的测试项目和测试环境灵活选择所需用的衰减器，从而更好地保护各仪表的安全性，且更大限度地提高测试的稳定性。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

根据下文结合附图对本发明具体实施例的详细描述，本领域技术人员将会更加明了本发明的上述以及其他目的、优点和特征。

附图说明

通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：

图1是根据本发明一个实施例的用于CE法规射频测试的装置的示意性框图；

图2是根据本发明一个实施例的用于CE法规射频测试的装置中第一衰减部件的示意性框图；

图3是根据本发明一个实施例的用于CE法规射频测试的装置的示意性框图；

图4是根据本发明一个实施例的用于CE法规射频测试的装置的电路图。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。

图1是根据本发明一个实施例用于CE法规射频测试的装置100的示意性框图。如图1所示，用于CE法规射频测试的装置100一般性地可包括至少四个被测设备接口101、信号源接口102、无线访问接入点AP接口103、频谱仪接口104、综测仪接口105、通用串行总线USB接口106以及分别用于测试不同CE法规射频测试项目的至少六条射频链路；各被测设备接口101分别连接一个第一同轴开关，其中：

各被测设备接口101依次通过第一同轴开关107、第二同轴开关108、第三同轴开关109、第四同轴开关110、第六同轴开关111、第一功分器112连接至综测仪接口105，形成第一射频链路；

各被测设备接口101依次通过第一同轴开关107、第二同轴开关108、第三同轴开关109、第四同轴开关110、第六同轴开关111、第七同轴开关113连接至频谱仪接口104，形成第二射频链路，第一功分器112的一个输出端口与第七同轴开关113的一个端子连接；

各被测设备接口101依次通过第一同轴开关107、与各第一同轴开关107分别连接的功率探头114、USB集线器115连接至USB接口106，形成第三射频链路；

各被测设备接口101依次通过第一同轴开关107、第二功分器116、第五同轴开关117、检波模块118、采集模块119、USB集线器115连接至USB接口106，形成第四射频链路；

各被测设备接口101依次通过第一同轴开关107、第二同轴开关108、第三同轴开关109、耦合器120连接至信号源接口102，形成第五射频链路；

各被测设备接口依次通过第一同轴开关107、第二同轴开关108、第三同轴开关109、耦合器120连接至AP接口103，形成第六射频链路；

其中，第一同轴开关107、第二同轴开关108、第三同轴开关109、第四同轴开关110、第六同轴开关111和第七同轴开关113为单刀多掷开关，第一同轴开关107、第六同轴开关111和第七同轴开关113各包括至少三个端子，第二同轴开关108包括至少五个端子，第三同轴开关109和第四同轴开关110各包括至少两个端子，第五同轴开关117为双刀双掷开关，第一同轴开关107、第二同轴开关108、第三同轴开关109、第四同轴开关110、第五同轴开关117、第六同轴开关111和/或第七同轴开关113上各端子的连接状态控制其所在的各射频链路连通或断开。

在装置100中，第一同轴开关107上的至少三个端子分别与功率探头114、第二同轴开关108、第二功分器116连接；第二同轴开关108上的至少五个端子中，有至少四个端子分别与各第一同轴开关107连接，另一个端子与第五同轴开关117连接。

上述用于CE法规射频测试的装置100可适用于蓝牙/WIFI(WIreless-Fidelity，无线保真)终端的CE法规射频测试，其中，第一射频链路用于在综测仪中对蓝牙/WIFI信号进行补偿，可用于测试蓝牙/WIFI信号的占用带宽、频率间隔、延迟时间、调频序列等项目；第二射频链路用于在频谱仪中对蓝牙/WIFI信号进行补偿，可用于测试蓝牙/WIFI信号的占用带宽、最小频率占用、频率间隔、延迟时间、调频序列等项目；第三射频链路用于在计算射频输出功率时对蓝牙/WIFI信号进行补偿，主要用于测试射频输出功率等项目；第四射频链路用于在计算射频输出功率时对蓝牙/WIFI信号进行补偿，主要用于测试自适应等项目，调用第四射频链路时，需闭合第五同轴开关117；第五射频链路用于在信号源中对矢量信号源发出的AWGN信号、DFS雷达信号或者CW信号进行补偿，可用于测试自适应或DFS等项目；第六射频链路用于DFS测试中主设备和从设备之间的连接，在调用第六射频链路时需闭合第二同轴开关108上与第五同轴开关117连接的端子。

此外，上述各射频链路中，还可同时调用两条或两条以上射频链路，从而测试更多项目。例如，同时接通被测设备接口101至USB接口106的射频链路以及被测设备接口101至频谱仪接口104的射频链路，即可用于在频谱仪和计算功率时对被测设备发出的信号进行补偿，可用于测试带内杂散、带外杂散、接收杂散、接收阻塞、占空比、调频序列、调频间隔和功率谱密度等项目。

采用本发明实施例的装置，通过同轴开关在被测设备接口、信号源接口、无线访问接入点AP接口、频谱仪接口、综测仪接口和通用串行总线USB接口之间搭建多条射频链路，并通过各同轴开关上不同端子的连接状态控制多条射频链路之间的切换调用，从而实现不同测试项目下在不同的信号路径间的切换，使得上述用于CE法规射频测试的装置能够适用于不同测试环境，并且，该装置无需在进行不同测试项目时手动搭建不同的链路，从而避免手动搭建链路带来的测试误差，从而提高CE法规射频测试的准确度和测试效率。

在一个实施例中，第四同轴开关110和第六同轴开关111间还连接有第一固定衰减器。

该实施中，通过第一固定衰减器对其所在链路上的信号进行衰减处理，能够避免过大的信号所导致的频谱仪或综测仪被烧坏的情况，从而保护测试过程中仪表(频谱仪和/或综测仪)的安全性及测试的稳定性。

在一个实施例中，耦合器120和AP接口103间还连接有第一衰减部件121。

其中，第一衰减部件121可以是固定衰减器，也可以是可调衰减器，还可以是由多个固定衰减器及开关组成的部件。图2示出了一具体实施例中第一衰减部件121的结构框图。如图2所示，第一衰减部件121包括至少一个第二固定衰减器1211、第八同轴开关1212和第九同轴开关1213；其中：第八同轴开关1212和第九同轴开关1213各包括至少两个端子，第二固定衰减器1211的两端分别连接在第八同轴开关1212和第九同轴开关1213的一个端子上，第八同轴开关1212上的另一个端子和第九同轴开关1213上的另一个端子连接，第八同轴开关1212和第九同轴开关1213上各端子的连接状态控制第一衰减部件121中是否使用第二固定衰减器1211。

由图2可看出，当第八同轴开关1212和第九同轴开关1213同时接通各自由上至下的第一个端子时，第一衰减部件121所在射频链路使用第二固定衰减器1211对信号进行衰减处理，当第八同轴开关1212和第九同轴开关1213同时接通各自由上至下的第二个端子时，第一衰减部件121所在射频链路未通过第一衰减部件121对信号进行衰减处理。

此外，第一衰减部件121中所包括的第二固定衰减器1211还可以有多个，各第二固定衰减器1211具有各自不同的衰减值，此时，第八同轴开关1212和第九同轴开关1213各包含多个端子，每个端子分别连接各第二固定衰减器1211的一端。这样，用户即可根据不同测试环境灵活选择当前射频链路所需要的衰减值，进而通过第八同轴开关1212和第九同轴开关1213上各端子的连接状态选择调用对应的第二固定衰减器1211。

该实施例中，通过连接可调衰减器或通过多个开关控制固定衰减器的选择使用，使得该装置能够根据不同的测试项目和测试环境灵活选择所需用的衰减器，从而更好地保护各仪表的安全性，且更大限度地提高测试的稳定性。

在一个实施例中，当AP接口103包括至少两个时，第一衰减部件121和AP接口103间还连接有第三功分器122，第三功分器122的各输出端分别连接各AP接口103。

该实施例中，第三功分器122的输出端的个数与AP接口103的个数相匹配。即，第三功分器122的各输出端分别连接一个AP接口103。

在一个实施例中，第一衰减部件121和第三功分器122间还连接有可调衰减器。

在一个实施例中，如图3所示，当信号源接口102至少包括第一信号源接口1021和第二信号源接口1022时，耦合器120和信号源接口102间还连接有第四功分器123，第四功分器123的一个输出端通过第十同轴开关124连接至第一信号源接口1021，第十同轴开关124为双刀双掷开关，第十同轴开关124上的一个端子通过第五功分器125连接至第七同轴开关113，第五功分器125的一个输出端与第十同轴开关124连接，另一个输出端与第六同轴开关111连接，第十同轴开关124上各端子的连接状态控制第一信号源接口1021所在射频链路的连通或断开，第四功分器123的另一个输出端与第二信号源接口1022连接。需要说明的是，图3所示出的仅为上述装置100的部分结构，即仅包含耦合器120和信号源接口102之间的连接关系，并不代表图中所示部件未与其它部件连接。

该实施例中，第五射频链路被分为两条子射频链路，其中，第一信号源接口1021所在射频链路用于在信号源中对矢量信号源发出的AWGN信号或DFS雷达信号进行补偿，可用于测试自适应、DFS等项目；第二信号源接口1022所在射频链路用于在信号源中对矢量信号源发出的CW信号进行补偿，可用于测试自适应等项目。

在一个实施例中，第四功分器123和第十同轴开关124间还连接有第二衰减部件。

其中，第二衰减部件可以是固定衰减器，也可以是可调衰减器，还可以是由多个固定衰减器及开关组成的部件。当第二衰减部件由多个固定衰减器及开关组成时，多个固定衰减器和开关间的连接关系与图2所示类似，在此不再赘述。

在一个实施例中，第五同轴开关117和检波模块118间还连接有第三固定衰减器。

在一个实施例中，被测设备接口101和频谱仪接口104为K型接口，综测仪接口105、AP接口103和信号源接口102为SMA型接口。

图4是根据本发明一个实施例的用于CE法规射频测试的装置的电路图。在本实施例中，该用于CE法规射频测试的装置设置在一个标准5U机箱中，该装置包括四个被测设备接口、两个AP接口、两个信号源接口、一个综测仪接口、一个频谱仪接口和一个USB接口，各被测设备接口分别连接一个单刀三掷开关，如图中所示的K3-1、K3-2、K3-3及K3-4，在每一条射频链路中，选择性地闭合K3-1、K3-2、K3-3及K3-4中的一个或多个开关，即可分别对闭合的开关所对应的被测设备接口连接的设备进行测试。电源VDC OUT用于对整个装置进行供电。USB HUB为USB集线器，K2-1、K2-2、K2-3、K2-4、K2-5、K2-6为单刀双掷开关，K3-5、K3-6为单刀三掷开关，K6-1为单刀六掷开关，D2-1、D2-2为双刀双掷开关，PD1、PD2、PD3、PD4、PD5、PD7、PD8为一分二功分器，PD6为一分四功分器，ATT1为衰减值为3dB的固定衰减器，ATT2、ATT4、ATT5分别为衰减值为20dB的固定衰减器，ATT3为可调衰减器，ATT6为衰减值为6dB的固定衰减器。接入被测天线1-4的被测设备接口和接入频谱仪的频谱仪接口为K型接口，接入综测仪的综测仪接口、接入AP天线1-2的AP接口和接入信号源1-2的信号源接口为SMA型接口。

以下具体说明如何通过各同轴开关上各端子的连接状态控制各射频链路的连通或断开。

当需调用第一射频链路时，可将K3-1、K3-2、K3-3和/或K3-4的由上至下的第一个端子连通、K6-1连通、K2-1由上至下的第一个端子连通、K2-2的由上至下的第一个端子连通、K3-5的由上至下的第一个端子连通，同时其他开关的各端子均断开，此时可测试蓝牙/WIFI信号的占用带宽、频率间隔、延迟时间、调频序列等项目。

当需调用第二射频链路时，可将K3-1、K3-2、K3-3和/或K3-4的由上至下的第一个端子连通、K6-1连通、K2-1由上至下的第一个端子连通、K2-2的由上至下的第一个端子连通、K3-5的由上至下的第二个端子连通、K3-6的由上至下的第二个端子连通，同时其他开关的各端子均断开，此时可测试蓝牙/WIFI信号的占用带宽、最小频率占用、频率间隔、延迟时间、调频序列等项目。

当需调用第三射频链路时，可将K3-1、K3-2、K3-3和/或K3-4的由上至下的第三个端子连通，同时其他开关的各端子均断开，此时可测试射频输出功率等项目。

当需调用第四射频链路时，可将K3-1、K3-2、K3-3和/或K3-4的由上至下的第二个端子连通、D2-1连通，同时其他开关的各端子均断开，此时可测试自适应等项目。

当需调用第五射频链路时，可将K3-1、K3-2、K3-3和/或K3-4的由上至下的第一个端子连通、K6-1连通、K2-1由上至下的第二个端子连通，同时其他开关的各端子均断开；或者，可将K3-1、K3-2、K3-3和/或K3-4的由上至下的第一个端子连通、K6-1连通、K2-1由上至下的第二个端子连通、K2-5和K2-6连通，同时其他开关的各端子均断开，此时可测试自适应或DFS等项目。

当需调用第六射频链路时，可将K3-1、K3-2、K3-3和/或K3-4的由上至下的第一个端子连通、K6-1连通、K2-1由上至下的第二个端子连通、K2-3和K2-4连通，同时其他开关的各端子均断开，此时可用于DFS测试中主设备和从设备之间的连接。

综上可知，本实施例通过多个同轴开关在被测设备接口、信号源接口、AP接口、频谱仪接口、综测仪接口和USB接口之间搭建多条射频链路，并通过各同轴开关上不同端子的连接状态控制多条射频链路之间的切换调用，从而实现不同测试项目下在不同的信号路径间的切换，使得上述用于CE法规射频测试的装置能够适用于不同测试环境，并且，该装置无需在进行不同测试项目时手动搭建不同的链路，从而避免手动搭建链路带来的测试误差，从而提高CE法规射频测试的准确度和测试效率。

在此处所提供的说明书中，说明了大量具体细节。然而，能够理解，本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中，并未详细示出公知的方法、结构和技术，以便不模糊对本说明书的理解。

类似地，应当理解，为了精简本公开并帮助理解各个发明方面中的一个或多个，在上面对本发明的示例性实施例的描述中，本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而，并不应将该公开的方法解释成反映如下意图：即所要求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说，如下面的权利要求书所反映的那样，发明方面在于少于前面公开的单个实施例的所有特征。因此，遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式，其中每个权利要求本身都作为本发明的单独实施例。

本领域那些技术人员可以理解，可以对实施例中的设备中的模块进行自适应性地改变并且把它们设置在与该实施例不同的一个或多个设备中。可以把实施例中的模块或单元或组件组合成一个模块或单元或组件，以及此外可以把它们分成多个子模块或子单元或子组件。除了这样的特征和/或过程或者单元中的至少一些是相互排斥之外，可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述，本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。

此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如，在权利要求书中，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。

本发明的各个部件实施例可以以硬件实现，或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现，或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解，可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(DSP)来实现根据本发明实施例的用于CE法规射频测试的装置中的一些或者全部部件的一些或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的设备或者装置程序(例如，计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储在计算机可读介质上，或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到，或者在载体信号上提供，或者以任何其他形式提供。

应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制，并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的元件。本发明可以借助于包括有若干不同元件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。

至此，本领域技术人员应认识到，虽然本文已详尽示出和描述了本发明的多个示例性实施例，但是，在不脱离本发明精神和范围的情况下，仍可根据本发明公开的内容直接确定或推导出符合本发明原理的许多其他变型或修改。因此，本发明的范围应被理解和认定为覆盖了所有这些其他变型或修改。

Claims (11)

1.一种用于CE法规射频测试的装置，包括至少四个被测设备接口、信号源接口、无线访问接入点AP接口、频谱仪接口、综测仪接口、通用串行总线USB接口以及分别用于测试不同CE法规射频测试项目的至少六条射频链路；各被测设备接口分别连接一个第一同轴开关，其中：

各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、第二同轴开关、第三同轴开关、第四同轴开关、第六同轴开关、第一功分器连接至所述综测仪接口，形成第一射频链路；

各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述第四同轴开关、所述第六同轴开关、第七同轴开关连接至所述频谱仪接口，形成第二射频链路，所述第一功分器的一个输出端口与所述第七同轴开关的一个端子连接；

各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、与各第一同轴开关分别连接的功率探头、USB集线器连接至所述USB接口，形成第三射频链路；

各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、第二功分器、第五同轴开关、检波模块、采集模块、所述USB集线器连接至所述USB接口，形成第四射频链路；

各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、耦合器连接至所述信号源接口，形成第五射频链路；

各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述耦合器连接至所述AP接口，形成第六射频链路；

其中，所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述第四同轴开关、所述第六同轴开关和所述第七同轴开关为单刀多掷开关，所述第一同轴开关、所述第六同轴开关和所述第七同轴开关各包括至少三个端子，所述第二同轴开关包括至少五个端子，所述第三同轴开关和所述第四同轴开关各包括至少两个端子，所述第五同轴开关为双刀双掷开关，所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述第四同轴开关、所述第五同轴开关所述第六同轴开关和/或所述第七同轴开关上各端子的连接状态控制其所在的各射频链路连通或断开。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第一同轴开关上的至少三个端子分别与所述功率探头、所述第二同轴开关、所述第二功分器连接；所述第二同轴开关上的至少五个端子中，有至少四个端子分别与各第一同轴开关连接，另一个端子与所述第五同轴开关连接。

3.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第四同轴开关和所述第六同轴开关间还连接有第一固定衰减器。

4.根据权利要求1所述的装置，其中，所述耦合器和所述AP接口间还连接有第一衰减部件。

5.根据权利要求4所述的装置，其中，所述第一衰减部件包括至少一个第二固定衰减器、第八同轴开关和第九同轴开关；其中：

所述第八同轴开关和所述第九同轴开关各包括至少两个端子，所述第二固定衰减器的两端分别连接在所述第八同轴开关和所述第九同轴开关的一个端子上，所述第八同轴开关上的另一个端子和所述第九同轴开关上的另一个端子连接，所述第八同轴开关和所述第九同轴开关上各端子的连接状态控制所述第一衰减部件中是否使用所述第二固定衰减器。

6.根据权利要求4或5所述的装置，其中，当所述AP接口包括至少两个时，所述第一衰减部件和所述AP接口间还连接有第三功分器，所述第三功分器的各输出端分别连接各AP接口。

7.根据权利要求6所述的装置，其中，所述第一衰减部件和所述第三功分器间还连接有可调衰减器。

8.根据权利要求1所述的装置，其中，当所述信号源接口至少包括第一信号源接口和第二信号源接口时，所述耦合器和所述信号源接口间还连接有第四功分器，所述第四功分器的一个输出端通过第十同轴开关连接至所述第一信号源接口，所述第十同轴开关为双刀双掷开关，所述第十同轴开关上的一个端子通过第五功分器连接至所述第七同轴开关，所述第五功分器的一个输出端与所述第十同轴开关连接，另一个输出端与所述第六同轴开关连接，所述第十同轴开关上各端子的连接状态控制所述第一信号源接口所在射频链路的连通或断开，所述第四功分器的另一个输出端与所述第二信号源接口连接。

9.根据权利要求8所述的装置，其中，所述第四功分器和所述第十同轴开关间还连接有第二衰减部件。

10.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第五同轴开关和所述检波模块间还连接有第三固定衰减器。

11.根据权利要求1所述的装置，其中，所述被测设备接口和所述频谱仪接口为K型接口，所述综测仪接口、所述AP接口和所述信号源接口为SMA型接口。