CN115901578A - 一种粉体材料形貌的测定方法 - Google Patents

Abstract

本公开是关于一种粉体材料形貌的测定方法，该测定方法应用于微米级的粉体材料，该测定方法包括：制备预设重量的粉体材料作为样品；在样品的表面喷镀预设厚度的铂粉；获取喷镀铂粉后的样品的图像，将图像随机划分为预设数量个子图像，确定每个子图像中每个颗粒的球体畸形度；基于每个子图像中每个颗粒的球体畸形度，确定每个子图像的第一球体畸形率；根据每个子图像的第一球体畸形率计算第二球体畸形率，第二球体畸形率用于表征样品中包含畸形球颗粒的占比。本公开提供的测定方法，是针对微米级的粉体材料的球体畸形率的测定，具有流程简单、适用性高、统计方法简单明确的优点，有利于提高粉体材料的检测准确性及产品品质。

Description

一种粉体材料形貌的测定方法

技术领域

本公开涉及粉体材料的技术领域，其涉及一种粉体材料形貌的测定方法。

背景技术

粉体材料的基本构成单元为颗粒，而粉体材料的诸多性质都由颗粒的大小、形状及分布状态所决定。对于粉体材料而言，在其应用领域最理想的是粉体颗粒形貌是球形粒子，但因工艺生产控制偏离、过程控制不当等原因，绝大多数粉体颗粒都不是球形对称的，且占据一定比例。然而，粉体颗粒的形状影响粉体的流动性、涂料的覆盖能力、树脂的润湿能力等，而且非球形成型材料，对于涂浸、含浸应用效果、预浸料后端制品的性能发挥起到了消极的影响。而现有技术中，对于粉体材料的球体畸形率测定方法仍存在流程不一、适用性差、统计方法不明确等缺陷，无法明确地对粉体材料的球体畸形率进行量化表征，不利于粉体材料研究的技术积累与提升。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种粉体材料形貌的测定方法。

本公开的提供了一种粉体材料形貌的测定方法，所述测定方法应用于微米级的粉体材料，所述测定方法包括：

制备预设重量的粉体材料作为样品，所述粉体材料由多个具有球形外观的颗粒构成；

在所述样品的表面喷镀预设厚度的铂粉；

获取喷镀铂粉后的所述样品的图像，将所述图像随机划分为预设数量个子图像，确定每个所述子图像中每个颗粒的球体畸形度；

基于每个所述子图像中每个颗粒的球体畸形度，确定每个所述子图像的第一球体畸形率，所述第一球体畸形率用于表征所述子图像中包含畸形球颗粒的占比；

根据每个所述子图像的第一球体畸形率计算第二球体畸形率，所述第二球体畸形率用于表征所述样品中包含畸形球颗粒的占比。

根据本公开的一些实施例，所述样品的表面的所述铂粉的厚度范围为5nm至8nm，所述铂粉的纯度大于或等于97％。

根据本公开的一些实施例，基于每个所述子图像中每个颗粒的球体畸形度，确定每个所述子图像的第一球体畸形率，包括：

基于所述子图像中的每个颗粒的球体畸形度确定每个颗粒的形貌类别，所述形貌类别包括畸形球颗粒和非畸形球颗粒；

确定所述子图像中的所述颗粒的形貌类别为畸形球颗粒的数量，计算所述畸形球颗粒的数量与所述子图像中的颗粒的总数量的比值，所述比值为所述子图像的第一球体畸形率。

根据本公开的一些实施例，根据每个所述子图像的第一球体畸形率计算第二球体畸形率，包括：

基于每个所述子图像的第一球体畸形率，采用平均或者加权平均的方法计算所述第二球体畸形率。

根据本公开的一些实施例，确定每个所述子图像中每个颗粒的球体畸形度，包括：

获取每个所述子图像中每个颗粒的形貌特征，所述形貌特征包括所述颗粒的长轴径和短轴径；

根据每个所述颗粒的所述形貌特征计算每个所述颗粒的球体畸形度，所述球体畸形度用于表征所述颗粒的形状偏离于球体的程度。

根据本公开的一些实施例，根据每个所述颗粒的所述形貌特征计算每个所述颗粒的球体畸形度，包括：

所述颗粒的所述短轴径与所述颗粒的长轴径的比值为所述颗粒的球体畸形度。

根据本公开的一些实施例，基于所述子图像中的每个颗粒的球体畸形度确定每个颗粒的形貌类别，包括：

当0.90≤A≤1.00时，所述颗粒的形貌类别为非畸形球颗粒；

当0.00＜A＜0.90时，所述颗粒的形貌类别为畸形球颗粒；其中，A为所述颗粒的球体畸形度。

根据本公开的一些实施例，基于所述子图像中的每个颗粒的球体畸形度确定每个颗粒的形貌类别，还包括：

根据每个所述子图像中每个颗粒的颗粒结构确定畸形球颗粒，所述畸形球颗粒包括以下颗粒结构中的一种或多种：球中球结构、变形球结构、类球形结构，其中，所述类球形结构满足0.00＜A＜0.90的条件。

根据本公开的一些实施例，所述粉体材料的平均粒径尺寸范围为5um-30um。

根据本公开的一些实施例，制备预设重量的粉体材料作为样品，包括：

选取粉体材料，对所述粉体材料进行研磨，将研磨后的所述粉体材料与乙醇混合进行冲洗；

将冲洗后的所述粉体材料放置在预设温度下的真空环境内进行干燥，量取预设重量的干燥后的所述粉体材料作为样品。

本公开实施例所提供的粉体材料形貌的测定方法，是针对微米级的粉体材料的球体畸形率的测定，具有流程简单、适用性高、统计方法简单明确的优点，而且能够明确地对微米级的粉体材料的球体畸形率进行表征，不仅有利于粉体材料研究的技术积累与提升，还有利于提高粉体材料的检测准确性及产品品质。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

构成本公开的一部分的附图用来提供对本公开的进一步理解，本公开的示意性实施例及其说明用于解释本公开，并不构成对本公开的不当限定。在附图中：

图1是根据一示例性实施例示出的一种粉体材料形貌的测定方法的流程图。

图2是根据一示例性实施例示出的一种粉体材料形貌的测定方法中畸形球颗粒为类球形结构的颗粒结构示意图。

图3是根据一示例性实施例示出的一种粉体材料形貌的测定方法中畸形球颗粒为球中球结构的颗粒结构示意图。

图4是根据一示例性实施例示出的一种粉体材料形貌的测定方法中畸形球颗粒为变形球结构的颗粒结构示意图。

具体实施方式

为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例中的附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本公开中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。需要说明的是，在不冲突的情况下，本公开中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

本公开提供的粉体材料形貌的测定方法，针对微米级的粉体材料的球体畸形率的测定，具有流程简单、适用性高、统计方法简单明确的优点，能够明确地对微米级的粉体材料的球体畸形率进行表征，不仅有利于粉体材料研究的技术积累与提升，还有利于提高粉体材料的检测准确性及产品品质。

以下结合附图和具体实施方式对本公开提出的一种粉体材料形貌的测定方法作进一步详细说明。

本公开示例性的实施例中提供了粉体材料形貌的测定方法，该测定方法应用于微米级的粉体材料，以对微米级的粉体材料的形貌进行量化表征，该测定方法可以针对外观为球形或类球形的微米级的粉体增韧材料。图1示出了根据本公开一示例性实施例提供的粉体材料形貌的测定方法的流程图，该测定方法包括：

步骤S100，制备预设重量的粉体材料作为样品，粉体材料由多个具有球形外观的颗粒构成；

步骤S110，在样品的表面喷镀预设厚度的铂粉；

步骤S120，获取喷镀铂粉后的样品的图像，将图像随机划分为预设数量个子图像，确定每个子图像中每个颗粒的球体畸形度；

步骤S130，基于每个子图像中每个颗粒的球体畸形度，确定每个子图像的第一球体畸形率，第一球体畸形率用于表征子图像中包含畸形球颗粒的占比；

步骤S140，根据每个子图像的第一球体畸形率计算第二球体畸形率，第二球体畸形率用于表征样品中包含畸形球颗粒的占比。

其中，粉体材料是由许许多多具有球形外观的颗粒组成的集合体，球形外观的颗粒包括球形态的颗粒以及呈现类球形的颗粒。其中，粉体材料的平均粒径尺寸范围为5um-35um。示例性的，粉体材料可以是微米级的粉体材料，例如粉体增韧材料，粉体增韧材料为具备圆球形外观的粉体增韧剂的复合材料，可以是由不同粒径范围(例如5-25um占比约90％及以上)的球形单体，以一定正态分布比率分布，并以此复合态组成的微米级的粉体材料。其外观呈现可以为白色粉末状，粉体增韧材料可以是以聚醚砜、聚氨酯、聚酰胺、聚酰亚胺、聚碳酸酯等构成成分的热塑性材料为主体材料合成制备而得。该粉体增韧材料可以应用于航空航天领域，例如应用于飞机结构部件、风车叶片、涡轮等需承受拉伸、压缩应力的制造业领域，可以起到增韧作用。具体地，粉体增韧材料与碳纤维、树脂基体协调作用，以提高预浸料在高温高湿环境耐受性、抗压缩强度、碳纤维层间韧性等方面的表现，该种粉体增韧材料在预浸料后端制品中也发挥着应力承受、抗弯曲、耐疲劳、能量转化等方面的作用。

在一些示例性实施例中，在步骤S100中的制备预设重量的粉体材料作为样品，包括：

步骤S101，选取粉体材料，对粉体材料进行研磨，将研磨后的粉体材料与乙醇混合进行冲洗；

步骤S102，将冲洗后的粉体材料放置在预设温度下的真空环境内进行干燥，量取预设重量的干燥后的粉体材料作为样品。

首先，利用称量天平量取适量粉体材料，例如量取5g粉体材料。示例性的，本实施例中的粉体材料例如为粉体增韧材料，组成粉体材料的颗粒的平均粒径例如为10um-20um。将5g粉体材料放入研钵中，经研钵研磨10分钟后，与无水乙醇混合后倒入超声波清洗器，并采用超声波对研磨后的粉体材料进行清洗，以去除残留于粉体材料表面的有机溶剂。

其中，超声波清洗(ultrasonic cleaning)是利用超声波在液体中的空化作用、加速度作用及直进流作用对液体和污物直接、间接的作用，使污物层被分散、乳化、剥离而达到清洗目的。超声清洗属于物理清洗，由于频率高、波长短，因而传播的方向性好、穿透能力强，其本身为绿色清洗。研钵例如为玛瑙研钵。

示例性地，去除粉体表面的有机溶剂的具体过程可以如下：将研磨后的粉体材料先40g乙醇充分混合，并利用超声波清洗30分钟，然后，可以利用抽滤装置进行真空抽滤，接着，再用10g乙醇对粉体材料进行二次冲洗。其中，真空抽滤是利用抽气造成的负压加速滤水的方法。

其中，对作为样品的粉体材料进行二次冲洗时，也可以用适量的70-80℃热水进行冲洗。

在步骤S102中，可以将清洗后的粉体材料放进真空烘箱内，控制真空烤箱内的干燥温度在75℃-85℃的范围内，例如为80℃，以利用真空烤箱对粉体材料进行干燥，其中，干燥时长可以控制在10-13小时的范围内，例如干燥时间为12小时，以对粉体材料进行充分干燥。然后，量取预设重量的干燥后的粉体材料作为样品。由于在粉体材料形貌的测定过程中，测定过程较长，因此，测定时的取样量一般不超过0.1g，例如量取0.05g干燥后的粉体材料作为样品。

通用的涂层材质有金、铂粉等贵金属导电材质，其纯度越高，导电性能越好。在步骤S110中，在干燥后的样品表面喷镀铂粉，铂金的镀膜厚度控制在5nm-8nm。其中，喷涂厚度需结合所应用的SEM设备(扫描电子显微镜，Scanning Electron Microscope，SEM)及拍摄效果确定。一般结合探测精度、清晰度需求，来试验确定。扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。在该实施例中，铂粉厚度在5nm-8nm时，拍摄出来的颗粒形貌较为清晰，能较好的呈现出粉体材料的表面特征。

其中，铂是银白色的金属，化学稳定性很高，在高温和普通酸、碱溶液中均稳定，以便于后续对样品作扫描电镜观察时，使得样品具有良好的导电性，因此，在该步骤中在样品表面喷镀一层导电铂层，从而有利于对样品进行扫描观察、照相和成分分析。

示例性的，在该实施例中的铂例如为纳米铂粉，平均粒径为2um-5nm的范围内均可，纳米铂粉的纯度可以大于或等于97％。示例性的，在样品的表面喷镀铂粉的时间控制在30秒左右，使其镀膜厚度维持在5nm-8nm。

在步骤S120中，需获取喷镀铂粉后的述样品的图像，以对样品进行分析，可以将样品送入电镜样品室并抽真空，再用扫描电子显微镜观察样品的形貌。

示例性的，对样品进行分散以进行制样观测，以根据观测到的静态图像进行统计分析计算出每个颗粒的球体畸形度。具体地，将样品的图像随机划分为预设数量个子图像，例如将样品的图像划分出4个子图像，利用扫描电子显微镜使用5KV的加速电压，对每个子图像分别进行放大，然后对每个子区域的图像进行拍照保存，以获取每个子图像中每个颗粒的形貌特征。

其中，每个子图像中包含颗粒的总数量至少为100个颗粒，例如100个-120个。不同的子图像中所包含的颗粒的总数量可以相同，也可以不同。

在获取到每个子图像中颗粒的形貌特征后，计算每个子图像中每个颗粒的球体畸形度，进而确定每个子图像的第一球体畸形率，也即是确定出每个子图像中包含畸形球颗粒的占比。

在一些示例性实施例中，在步骤S120中，确定每个子图像中每个颗粒的球体畸形度，包括：

步骤S121，获取每个子图像中每个颗粒的形貌特征，形貌特征包括颗粒的长轴径和短轴径；

步骤S121，根据每个颗粒的形貌特征计算每个颗粒的球体畸形度，球体畸形度用于表征颗粒的形状偏离于球体的程度。

由于自然界中的粉体中的颗粒，不可能都为如球体，立方体等简单形状，可以利用三轴径表示比较不规则形状颗粒的大小。如图2所示，R-long代表颗粒的最长长度对应为长轴径，R-short代表颗粒的最短长度对应短轴径，位于最长长度和最短长度之间的长度不做计算，以利用极限法的原则，来最大强度的确定粉体材料是否趋近于类球形或者非球形。其中，该实施例中的颗粒的形貌特征包括颗粒的长轴径R-long和短轴径R-short。单一颗粒的球体畸形度例如用A表示，单一颗粒的球体畸形度计算公式为A＝R-short/R-long，单位为um。其中A为≤1，且包含2位有效数字的小数，以根据每个颗粒的长轴径和短轴径确定出每个颗粒的球体畸形度。其中，颗粒的球体畸形度是表示颗粒的形状偏离于球体的程度，当A越接近1，也即是颗粒的短轴径R-short的长度与长轴径R-long的长度越接近，颗粒的形状则越接近球体。当A越小于越趋近于0时，颗粒的形状则越偏离于球体。

在一些示例性实施例中，在步骤S130中的基于每个子图像中每个颗粒的球体畸形度，确定每个子图像的第一球体畸形率，包括：

步骤S131，基于子图像中的每个颗粒的球体畸形度确定每个颗粒的形貌类别，形貌类别包括畸形球颗粒和非畸形球颗粒。

示例性的，基于子图像中的每个颗粒的球体畸形度确定每个颗粒的形貌类别，包括：

当0.90≤A≤1.00时，颗粒的形貌类别为非畸形球；

当0.00＜A＜0.90时，颗粒的形貌类别为畸形球；其中，A为颗粒的球体畸形度。

步骤S132，确定子图像中的颗粒的形貌类别为畸形球颗粒的数量，计算畸形球颗粒的数量与子图像中的颗粒的总数量的比值，比值为子图像的第一球体畸形率。

在该实施例中，示例性的，例如将样品的图像划分出4个子图像，以计算其中一个子图像的第一球体畸形率为例进行说明。在该实施例中，针对子图像中的每个颗粒的球体畸形度，优先确定每个颗粒是属于畸形球颗粒还是非畸形球颗粒，然后可以统计该子图像中所包含的畸形球颗粒的数量N，然后计算畸形球颗粒的数量与该子图像中的颗粒的总数量的比值，从而确定出该子图像的第一球体畸形率。例如，该子图像中的畸形球颗粒的数量为7，该子图像中的颗粒的总数量为100，则子图像的第一球体畸形率为7/100＝7％。可以根据上述过程，可以依次确定其他子图像的第一球体畸形率。

在步骤S140中，可以根据各个子图像的第一球体畸形率，将各个子图像的第一球体畸形率进行求和，然后除以子图像的个数，以获得第二球体畸形率，从而基于第一球体畸形率采用平均的方法获得第二球体畸形率，其中，第二球体畸形率表示样品中包含畸形球颗粒的占比。示例性的，4个子图像的第一球体畸形率分别记为M1、M2、M3和M4，将第二球体畸形率记为M，则M＝(M1+M2+M3+M4)/4。

在步骤S140中，示例性的，当样品图像被划分的子区域各不相同时，每个子图像在整个样品图像所占的比例也各不相同，因此，还可以基于子图像在样品图像的占比情况，采用加权平均的方法获得样品图像中包含畸形球颗粒的占比情况。例如样品的图像被划分为4个子图像时，M＝(x*M1+y*M2+z*M3+w*M4)/4。其中，M1、M2、M3以及M4分别为4个子图像的第一球体畸形率，x、y、z和w分别为4个子图像分别在整个样品图像中的占比，x、y、z和w的和值为1。

在一些示例性实施例中，基于所述子图像中的每个颗粒的球体畸形度确定每个颗粒的形貌类别，还包括：根据子图像中每个颗粒的颗粒结构确定畸形球颗粒，畸形球颗粒包括以下颗粒结构中的一种或多种：球中球结构、变形球结构、类球形结构，其中，类球形结构满足0.00＜A＜0.90的条件。在该实例中，对子图像中的每个颗粒的形貌类别进行划分时，可以直接根据每个颗粒的颗粒结构对每个颗粒所属的形貌类别进行划分。

示例性的，球中球结构例如为两个及两个以上颗粒包覆、夹杂在一起构成的结构，参照图3中的A区域和B区域，A区域和B区域中示出的即为球中球结构；示例性的，变形球结构包括肉眼可见的非规则球体颗粒结构，例如为“心形”颗粒结构、长条形颗粒结构，参照图4中的C区域，C区域中示出的即为变形球结构；参照图2，类球形结构为颗粒的长轴径和颗粒的短轴径相差较大，但颗粒的球体畸形度仍然符合0.00＜A＜0.90的范围内的颗粒结构。

在该实施例中，畸形球颗粒的数量还包括球中球结构的颗粒数量、变形球结构的颗粒数量以及类球形结构的颗粒数量。因此，确定每个子图像中的颗粒的形貌类别为畸形球颗粒的数量时，可以先分别确定每个子图像中所包含的颗粒中，球中球结构的颗粒数量、变形球结构的颗粒数量以及类球形结构的颗粒数量，以分别求取每个子图像中，球中球结构的颗粒数量、变形球结构的颗粒数量以及类球形结构的颗粒数量的和值，作为相应的子图像中所述包含的畸形球颗粒的数量值。

示例性的，将样品的图像划分出4个子图像，以计算其中一个子图像的第一球体畸形率为例进行说明，例如该子图像包含颗粒的总数量为100，将100个颗粒分别标识为i＝m，(m＝1，2，3...100)，计算并记录每个颗粒的球体畸形度，根据每个颗粒的球体畸形度，确定每个颗粒的形貌类别，其中，球中球结构的颗粒数量为Na、变形球结构的颗粒数量的数量为Nb以及类球形结构的颗粒数量为Nc，非畸形球的数量为Nd，则该子图像的第一球体畸形率为(Na+Nb+Nc)/100。同理，可以确定其他子图像的第一球体畸形率。

示例性的，将选取的4个子图像分别记为AⅠ子图像、AⅡ子图像、AⅢ子图像和AⅣ子图像；每个子图像分别包含100个颗粒，以确定AⅠ子图像的第一球体畸形率M1为了进行说明。将AⅠ子图像选取的100个颗粒分别标识为i＝m，(m＝1，2，3...100)，如表1所示，表1示例性示出了对AⅠ子图像的第一球体畸形率统计表。

其中，Ai分别标识AⅠ子图像包含的100个颗粒的编号，球体类型分类示出了每个颗粒的球体畸形度以及颗粒的形貌类别情况，a用来标识颗粒结构为球中球结构、b用来标识颗粒结构为变形球结构，c用来标识颗粒结构为类球形结构。其中，a、b、和c都是畸形球颗粒。如表1中的数据得出，对AⅠ子图像中的每个颗粒进行归类，其中，属于a类的颗粒数量Na为3个，b类的颗粒数量Nb为2个，c类的颗粒数量Nb为4个，非畸形球颗粒的数量为91。将AⅠ子图像中畸形球颗粒的数量记为N1，则N1＝Na+Nb+Nc＝3+2+4＝9，AⅠ子图像的第一球体畸形率M1＝N1/AⅠ子图像包含的颗粒的总数量＝9/100＝9％。

表1AⅠ子图像的第一球体畸形率统计表

同理，以同样的方式获得AⅡ子图像的第一球体畸形率M2、AⅢ子图像球体畸形率M3以及AⅣ子图像球体畸形率M4。例如M2＝5％、M3＝6％、M4＝8％；根据M1、M2、M3以及M4确定第二球体畸形率M＝(M1+M2+M3+M4)/子图像的数量＝(9％+5％+6％+8％)/4＝7％，从而根据每个子图像的第一球体畸形率计算出样品中所包含的畸形球颗粒的占比情况，以明确地对样品的球体畸形率进行表征，可以有效保证预浸料的涂浸效果，以及涂浸、含浸工艺过程的顺利实施，进而提高预浸料后端制品的性能稳定性。

本公开提供的粉体材料形貌的测定方法，针对微米级的粉体材料的球体畸形率的测定，具有流程简单、适用性高、统计方法简单明确的优点，能够明确地对微米级的粉体材料的球体畸形率进行表征，不仅有利于粉体材料研究的技术积累与提升，还有利于提高粉体材料的检测及质量控制能力。

在本公开中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的物品或者设备中还存在另外的相同要素。

尽管已描述了本公开的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本公开范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本公开进行各种改动和变型而不脱离本公开的精神和范围。这样，倘若本公开的这些修改和变型属于本公开权利要求及其等同技术的范围之内，则本公开的意图也包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种粉体材料形貌的测定方法，其特征在于，所述测定方法应用于微米级的粉体材料，所述测定方法包括：

制备预设重量的粉体材料作为样品，所述粉体材料由多个具有球形外观的颗粒构成；

在所述样品的表面喷镀预设厚度的铂粉；

获取喷镀铂粉后的所述样品的图像，将所述图像随机划分为预设数量个子图像，确定每个所述子图像中每个颗粒的球体畸形度；

基于每个所述子图像中每个颗粒的球体畸形度，确定每个所述子图像的第一球体畸形率，所述第一球体畸形率用于表征所述子图像中包含畸形球颗粒的占比；

根据每个所述子图像的第一球体畸形率计算第二球体畸形率，所述第二球体畸形率用于表征所述样品中包含畸形球颗粒的占比。

2.根据权利要求1所述的粉体材料形貌的测定方法，其特征在于，所述样品的表面的所述铂粉的厚度范围为5nm至8nm，所述铂粉的纯度大于或等于97％。

3.根据权利要求1或2所述的粉体材料形貌的测定方法，其特征在于，基于每个所述子图像中每个颗粒的球体畸形度，确定每个所述子图像的第一球体畸形率，包括：

基于所述子图像中的每个颗粒的球体畸形度确定每个颗粒的形貌类别，所述形貌类别包括畸形球颗粒和非畸形球颗粒；

确定所述子图像中的所述颗粒的形貌类别为畸形球颗粒的数量，计算所述畸形球颗粒的数量与所述子图像中的颗粒的总数量的比值，所述比值为所述子图像的第一球体畸形率。

4.根据权利要求3所述的粉体材料形貌的测定方法，其特征在于，根据每个所述子图像的第一球体畸形率计算第二球体畸形率，包括：

基于每个所述子图像的第一球体畸形率，采用平均或者加权平均的方法计算所述第二球体畸形率。

5.根据权利要求1所述的粉体材料形貌的测定方法，其特征在于，确定每个所述子图像中每个颗粒的球体畸形度，包括：

获取每个所述子图像中每个颗粒的形貌特征，所述形貌特征包括所述颗粒的长轴径和短轴径；

根据每个所述颗粒的所述形貌特征计算每个所述颗粒的球体畸形度，所述球体畸形度用于表征所述颗粒的形状偏离于球体的程度。

6.根据权利要求5所述的粉体材料形貌的测定方法，其特征在于，根据每个所述颗粒的所述形貌特征计算每个所述颗粒的球体畸形度，包括：

所述颗粒的所述短轴径与所述颗粒的长轴径的比值为所述颗粒的球体畸形度。

7.根据权利要求6所述的粉体材料形貌的测定方法，其特征在于，基于所述子图像中的每个颗粒的球体畸形度确定每个颗粒的形貌类别，包括：

当0.90≤A≤1.00时，所述颗粒的形貌类别为非畸形球颗粒；

当0.00＜A＜0.90时，所述颗粒的形貌类别为畸形球颗粒；其中，A为所述颗粒的球体畸形度。

8.根据权利要求7所述的粉体材料形貌的测定方法，其特征在于，基于所述子图像中的每个颗粒的球体畸形度确定每个颗粒的形貌类别，还包括：

根据每个所述子图像中每个颗粒的颗粒结构确定畸形球颗粒，所述畸形球颗粒包括以下颗粒结构中的一种或多种：球中球结构、变形球结构、类球形结构，其中，所述类球形结构满足0.00＜A＜0.90的条件。

9.根据权利要求1所述的粉体材料形貌的测定方法，其特征在于，所述粉体材料的平均粒径尺寸范围为5um-30um。

10.根据权利要求1所述的粉体材料形貌的测定方法，其特征在于，制备预设重量的粉体材料作为样品，包括：

选取粉体材料，对所述粉体材料进行研磨，将研磨后的所述粉体材料与乙醇混合进行冲洗；

将冲洗后的所述粉体材料放置在预设温度下的真空环境内进行干燥，量取预设重量的干燥后的所述粉体材料作为样品。

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