CN115792471B - 电子变压器测试方法、装置、计算机设备和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及变压器技术领域，特别涉及一种电子变压器测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：计算出每一个被标识的待测电子变压器各自的铜线损耗，得到多个第一铜线损耗值；从多个第一铜线损耗值中筛选出在预设第一范围内的铜线损耗值，得到多个第二铜线损耗值；计算出每一个第二铜线损耗值对应被标识的待测电子变压器的磁芯损耗，得到多个第一磁芯损耗值；从多个第一磁芯损耗值中筛选出在预设第二范围内的磁芯损耗值，得到多个第二磁芯损耗值；将每一个第二磁芯损耗值对应被标识的待测电子变压器判定为测试合格。解决现有电子变压器测试是采用灯光或者声音电路，不能很好地把控电子变压器质量的问题。
Description
技术领域
本发明涉及变压器技术领域，特别涉及一种电子变压器测试方法、装置、计算机设备和存储介质。
背景技术
电子变压器，具有将市电的交变电压转变为直流后再通过半导体开关器件以及电子元件和高频变压器绕组构成一种高频交流电压输出的电子装置，也是在电子学理论中所讲述的一种交直交逆变电路。 简单来说，它主要是由高频变压器磁芯（铁芯）与两个或两个以上的线圈组成，它们互不改变位置，从一个或两个以上的电回路中，通过交流电力借助电磁感应作用，转变成交流电压及电流。而在高频变压器的输出端，对一个或两个以上的用电回路，供给不同电压等级的高频交流或直流电。一般在组装完电子变压器之后，将电子变压器连入预设的灯光或者声音电路，判断电子变压器是否为合格品，但是这样的测试方式比较粗糙，不能很好地把控电子变压器的质量。
发明内容
针对现有技术不足，本发明提出一种电子变压器检测方法、装置、计算机设备和存储介质，旨在解决现有电子变压器测试是采用灯光或者声音电路，不能很好地把控电子变压器质量的问题。
本发明提出的技术方案是：
一种电子变压器测试方法，所述方法包括：
将多个相同规格的待测电子变压器并联接入测试电路；
对并联电路上每一支路的待测电子变压器进行逐一检测损耗，得到多个第一检测损耗值，其中，在对某一支路的待测电子变压器进行检测损耗时，该支路为通路，其它支路为断路；
从多个第一检测损耗值中提取数值相同且数量最多的检测损耗值，得到多个第二检测损耗值；
将多个第二检测损耗值对应的待测电子变压器替换成基准电子变压器，其中，被替换的待测电子变压器标记上与在同一支路的基准电子变压器相同的标识；
对多个基准电子变压器所在的支路进行逐一检测损耗，得到多个第三检测损耗值，其中，在对某一支路的基准电子变压器进行检测损耗时，该支路为通路，其它支路为断路；
判断多个第三检测损耗值是否均为相同数值；
若是，获取所述基准电子变压器的额定损耗值，并根据所述额定损耗值、所述第二检测损耗值和所述第三检测损耗值，计算出被标识的待测电子变压器自身损耗，得到目标损耗值；
获取在每一个被标识的待测电子变压器检测损耗时所述测试电路输出的电流，以及获取每一个被标识的待测电子变压器的铜线电阻；
根据所述电流和所述电阻，计算出每一个被标识的待测电子变压器各自的铜线损耗，得到多个第一铜线损耗值；
从多个第一铜线损耗值中筛选出在预设第一范围内的铜线损耗值，得到多个第二铜线损耗值；
根据多个第二铜线损耗值和每一个第二铜线损耗值对应目标损耗值，计算出每一个第二铜线损耗值对应被标识的待测电子变压器的磁芯损耗，得到多个第一磁芯损耗值；
从多个第一磁芯损耗值中筛选出在预设第二范围内的磁芯损耗值，得到多个第二磁芯损耗值；
将每一个第二磁芯损耗值对应被标识的待测电子变压器判定为测试合格。
进一步地，在从多个第一检测损耗值中提取数值相同且数量最多的检测损耗值，得到多个第二检测损耗值的步骤之后，包括：
从多个第一检测损耗值中获取未被提取的检测损耗值，得到多个不良的检测损耗值；
将多个不良的检测损耗值对应的待测电子变压器判定为测试不合格。
进一步地，在判断多个第三检测损耗值是否均为相同数值的步骤之后，包括：
若否，则判定所述测试电路存在问题，停止测试。
进一步地，在从多个第一铜线损耗值中筛选出在预设第一范围内的铜线损耗值，得到多个第二铜线损耗值的步骤中，包括：
获取预设第一范围；
从多个第一铜线损耗值中判断是否存在预设第一范围内的铜线损耗值；
若是，则筛选出相应的第一铜线损耗值，得到多个第二铜线损耗值。
进一步地，在从多个第一铜线损耗值中判断是否存在预设第一范围内的铜线损耗值的步骤之后，包括：
若否，则将多个第一铜线损耗值对应被标识的待测电子变压器判定为测试不合格。
进一步地，在筛选出相应的第一铜线损耗值，得到多个第二铜线损耗值的步骤之后，包括：
识别出未筛选的第一铜线损耗值，得到多个不良的第一铜线损耗值；
将多个不良的检测损耗值对应被标识的待测电子变压器判定为测试不合格。
进一步地，在从多个第一磁芯损耗值中筛选出在预设第二范围内的磁芯损耗值，得到多个第二磁芯损耗值的步骤中，包括：
获取预设第二范围；
从多个第一磁芯损耗值中判断是否存在预设第二范围内的磁芯损耗值；
若是，则筛选出相应的第一磁芯损耗值，得到多个第二磁芯损耗值。
本发明还提供一种电子变压器测试装置，所述装置包括：
第一接入模块，用于将多个相同规格的待测电子变压器并联接入测试电路；
第一检测模块，用于对并联电路上每一支路的待测电子变压器进行逐一检测损耗，得到多个第一检测损耗值，其中，在对某一支路的待测电子变压器进行检测损耗时，该支路为通路，其它支路为断路；
第一提取模块，用于从多个第一检测损耗值中提取数值相同且数量最多的检测损耗值，得到多个第二检测损耗值；
第一替换模块，用于将多个第二检测损耗值对应的待测电子变压器替换成基准电子变压器，其中，被替换的待测电子变压器标记上与在同一支路的基准电子变压器相同的标识；
第二检测模块，用于对多个基准电子变压器所在的支路进行逐一检测损耗，得到多个第三检测损耗值，其中，在对某一支路的基准电子变压器进行检测损耗时，该支路为通路，其它支路为断路；
第一判断模块，用于判断多个第三检测损耗值是否均为相同数值；
第一处理模块，用于若是，获取所述基准电子变压器的额定损耗值，并根据所述额定损耗值、所述第二检测损耗值和所述第三检测损耗值，计算出被标识的待测电子变压器自身损耗，得到目标损耗值；
第一获取模块，用于获取在每一个被标识的待测电子变压器检测损耗时所述测试电路输出的电流，以及获取每一个被标识的待测电子变压器的铜线电阻；
第一计算模块，用于根据所述电流和所述电阻，计算出每一个被标识的待测电子变压器各自的铜线损耗，得到多个第一铜线损耗值；
第一筛选模块，用于从多个第一铜线损耗值中筛选出在预设第一范围内的铜线损耗值，得到多个第二铜线损耗值；
第二计算模块，用于根据多个第二铜线损耗值和每一个第二铜线损耗值对应目标损耗值，计算出每一个第二铜线损耗值对应被标识的待测电子变压器的磁芯损耗，得到多个第一磁芯损耗值；
第二筛选模块，用于从多个第一磁芯损耗值中筛选出在预设第二范围内的磁芯损耗值，得到多个第二磁芯损耗值；
第一判定模块，用于将每一个第二磁芯损耗值对应被标识的待测电子变压器判定为测试合格。
本发明还提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一项所述的方法的步骤。
本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一项所述的方法的步骤。
根据上述的技术方案，本发明有益效果：先对待测电子变压器检测损耗，会筛掉一些不合格的电子变压器，再验证测试电路是否会存在问题，如果测试电路是正常的，则对初步合格的电子变压器进一步进行测试，通过计算被标识的待测电子变压器各自的铜线损耗，又会筛掉一些不合格的电子变压器，再通过计算被标识的待测电子变压器的磁芯损耗，又会筛掉一些不合格的电子变压器，最后得到的待测电子变压器为测试合格，即是合格的电子变压器，通过多层的测试，这样得到的电子变压器质量会很好，解决现有电子变压器测试是采用灯光或者声音电路，不能很好地把控电子变压器质量的问题。
附图说明
图1是应用本发明实施例提供的电子变压器测试方法的流程图；
图2是应用本发明实施例提供的电子变压器测试装置的功能模块图；
图3是应用本发明实施例提供的计算机设备的结构示意框图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
如图1所示，本发明实施例提出一种电子变压器测试方法，所述方法包括：
步骤S101、将多个相同规格的待测电子变压器并联接入测试电路。
测试电路包括电源和负载，电源和负载电连接。
具体地，电源可以是高频交流开关电源。
步骤S102、对并联电路上每一支路的待测电子变压器进行逐一检测损耗，得到多个第一检测损耗值，其中，在对某一支路的待测电子变压器进行检测损耗时，该支路为通路，其它支路为断路。
对并联电路上每个支路从上到下进行测试，在对第一个支路的待测电子变压器进行检测损耗时，其它支路上的电子开关打开，即是断路，第一个支路的电子开关闭合，即是通路，得到第一个支路上的第一检测损耗值。然后再对第二个支路的待测电子变压器进行检测损耗，同理，第二个支路的电子开关闭合，其它支路上的电子开关打开，直到最后一个支路上的待测电子变压器检测损耗完毕。
步骤S103、从多个第一检测损耗值中提取数值相同且数量最多的检测损耗值，得到多个第二检测损耗值。
多个第一检测损耗值会存在不同的数值，将多个不同的数值进行分组，将相同的数值分为一组，然后，再计算每一组相同数值的数量，选择数量最多的一组作为第二检测损耗值。
具体地，识别出多个第二检测损耗值的数量，得到第一数量，将第一数量与预设数量进行比较，如果第一数量大于或者等于预设数量，则执行下一个步骤，如果第一数量小于预设数量，则判定全部待测电子变压器为检测不合格。
步骤S104、将多个第二检测损耗值对应的待测电子变压器替换成基准电子变压器，其中，被替换的待测电子变压器标记上与在同一支路的基准电子变压器相同的标识。
将多个第二检测损耗值对应的待测电子变压器进行拆除，并相应地，在多个第二检测损耗值对应的支路上重新安装上基准电子变压器，并对同一支路上基准电子变压器和被替换的待测电子变压器标记相同的标识，以及不同支路上基准电子变压器和被替换的待测电子变压器的标识不相同。
步骤S105、对多个基准电子变压器所在的支路进行逐一检测损耗，得到多个第三检测损耗值，其中，在对某一支路的基准电子变压器进行检测损耗时，该支路为通路，其它支路为断路。
在这次检测损耗中，仅对替换后基准电子变压器所在的支路进行检测，检测方式与之前的损耗检测试方式相同。
步骤S106、判断多个第三检测损耗值是否均为相同数值。
对多个第三检测损耗值是否为相同数值进行判断，如果多个第三检测损耗值是存在不相同的数值，那么测试电路会存在问题，如果多个第三检测损耗值均是相同的数值，那么测试电路是正常的。
步骤S107、若是，获取所述基准电子变压器的额定损耗值，并根据所述额定损耗值、所述第二检测损耗值和所述第三检测损耗值，计算出被标识的待测电子变压器自身损耗，得到目标损耗值。
基准电子变压器都是具有额定损耗值，先根据第三检测损耗值和额定损耗值计算出测试电路的损耗值，再根据测试电路的损耗值和第二检测损耗值计算出被标识的待测电子变压器自身损耗。
步骤S108、获取在每一个被标识的待测电子变压器检测损耗时所述测试电路输出的电流，以及获取每一个被标识的待测电子变压器的铜线电阻。
待测电子变压器的铜线电阻可以通过现有的检测方式获得，也可以根据铜线的规格和长度等计算获得。
步骤S109、根据所述电流和所述电阻，计算出每一个被标识的待测电子变压器各自的铜线损耗，得到多个第一铜线损耗值。
铜线损耗可以根据焦耳定律（Q=I2R）计算得到。
步骤S110、从多个第一铜线损耗值中筛选出在预设第一范围内的铜线损耗值，得到多个第二铜线损耗值。
从多个第一铜线损耗值中选择出在预设第一范围内的数值，将符合在预设第一范围内的数值重新定义为第二铜线损耗值。
步骤S111、根据多个第二铜线损耗值和每一个第二铜线损耗值对应目标损耗值，计算出每一个第二铜线损耗值对应被标识的待测电子变压器的磁芯损耗，得到多个第一磁芯损耗值。
电子变压器的自身损耗包括铜线损耗和磁芯损耗，根据第二铜线损耗值和对应的目标损耗值，计算出对应的磁芯损耗，从而得到第一磁芯损耗值。
步骤S112、从多个第一磁芯损耗值中筛选出在预设第二范围内的磁芯损耗值，得到多个第二磁芯损耗值。
从多个第一磁芯损耗值中选择出在预设第二范围内的数值，将符合在预设第二范围内的数值重新定义为第二磁芯损耗值。
步骤S113、将每一个第二磁芯损耗值对应被标识的待测电子变压器判定为测试合格。
通过多层的检测都合格的待测电子变压器，才能被认为是测试合格，也就是合格品。
先对待测电子变压器检测损耗，会筛掉一些不合格的电子变压器，再验证测试电路是否会存在问题，如果测试电路是正常的，则对初步合格的电子变压器进一步进行测试，通过计算被标识的待测电子变压器各自的铜线损耗，又会筛掉一些不合格的电子变压器，再通过计算被标识的待测电子变压器的磁芯损耗，又会筛掉一些不合格的电子变压器，最后得到的待测电子变压器为测试合格，即是合格的电子变压器，通过多层的测试，这样得到的电子变压器质量会很好，解决现有电子变压器测试是采用灯光或者声音电路，不能很好地把控电子变压器质量的问题。
在本实施例中，在步骤S103之后，包括：
从多个第一检测损耗值中获取未被提取的检测损耗值，得到多个不良的检测损耗值；
将多个不良的检测损耗值对应的待测电子变压器判定为测试不合格。
除了被提取的第一检测损耗值，其它的第一检测损耗值会被认为是不合格的数值，相应的待测电子变压器就会被认为是不合格品。
在本实施例中，在步骤S106之后，包括：
若否，则判定所述测试电路存在问题，停止测试。
如果测试电路是正常的，那么多个第三检测损耗值均为相同数值，如果测试电路是存在问题的，那么多个第三检测损耗值会存在不相同的数值。
在本实施例中，在步骤S110中，包括：
获取预设第一范围；
从多个第一铜线损耗值中判断是否存在预设第一范围内的铜线损耗值；
若是，则筛选出相应的第一铜线损耗值，得到多个第二铜线损耗值。
预设第一范围是用户自行设置的，预设第一范围在合理的铜线损耗值内设置的范围越小，这样得到的待测电子变压器的质量越高。
在本实施例中，在从多个第一铜线损耗值中判断是否存在预设第一范围内的铜线损耗值的步骤之后，包括：
若否，则将多个第一铜线损耗值对应被标识的待测电子变压器判定为测试不合格。
如果没有筛选出在预设第一范围内的铜线损耗值，那么多个第一铜线损耗值均为不合格的数值，相应的被标识的待测电子变压器是不合格品。
在本实施例中，在筛选出相应的第一铜线损耗值，得到多个第二铜线损耗值的步骤之后，包括：
识别出未筛选的第一铜线损耗值，得到多个不良的第一铜线损耗值；
将多个不良的检测损耗值对应被标识的待测电子变压器判定为测试不合格。
未筛选的第一铜线损耗值是不合格的数据，对应被标识的待测电子变压器是不合格品。
在本实施例中，在从多个第一磁芯损耗值中筛选出在预设第二范围内的磁芯损耗值，得到多个第二磁芯损耗值的步骤中，包括：
获取预设第二范围；
从多个第一磁芯损耗值中判断是否存在预设第二范围内的磁芯损耗值；
若是，则筛选出相应的第一磁芯损耗值，得到多个第二磁芯损耗值。
预设第二范围是用户自行设置的，预设第二范围在合理的磁芯损耗值内设置的范围越小，这样得到的待测电子变压器的质量越高。
如图2所示，本发明实施例提出一种电子变压器测试装置1，所述装置1包括第一接入模块11、第一检测模块12、第一提取模块13、第一替换模块14、第二检测模块15、第一判断模块16、第一处理模块17、第一获取模块18、第一计算模块19、第一筛选模块20、第二计算模块21、第二筛选模块22和第一判定模块23。
第一接入模块11，用于将多个相同规格的待测电子变压器并联接入测试电路。
测试电路包括电源和负载，电源和负载电连接。
具体地，电源可以是高频交流开关电源。
第一检测模块12，用于对并联电路上每一支路的待测电子变压器进行逐一检测损耗，得到多个第一检测损耗值，其中，在对某一支路的待测电子变压器进行检测损耗时，该支路为通路，其它支路为断路。
对并联电路上每个支路从上到下进行测试，在对第一个支路的待测电子变压器进行检测损耗时，其它支路上的电子开关打开，即是断路，第一个支路的电子开关闭合，即是通路，得到第一个支路上的第一检测损耗值。然后再对第二个支路的待测电子变压器进行检测损耗，同理，第二个支路的电子开关闭合，其它支路上的电子开关打开，直到最后一个支路上的待测电子变压器检测损耗完毕。
第一提取模块13，用于从多个第一检测损耗值中提取数值相同且数量最多的检测损耗值，得到多个第二检测损耗值。
多个第一检测损耗值会存在不同的数值，将多个不同的数值进行分组，将相同的数值分为一组，然后，再计算每一组相同数值的数量，选择数量最多的一组作为第二检测损耗值。
具体地，识别出多个第二检测损耗值的数量，得到第一数量，将第一数量与预设数量进行比较，如果第一数量大于或者等于预设数量，则执行下一个步骤，如果第一数量小于预设数量，则判定全部待测电子变压器为检测不合格。
第一替换模块14，用于将多个第二检测损耗值对应的待测电子变压器替换成基准电子变压器，其中，被替换的待测电子变压器标记上与在同一支路的基准电子变压器相同的标识。
将多个第二检测损耗值对应的待测电子变压器进行拆除，并相应地，在多个第二检测损耗值对应的支路上重新安装上基准电子变压器，并对同一支路上基准电子变压器和被替换的待测电子变压器标记相同的标识，以及不同支路上基准电子变压器和被替换的待测电子变压器的标识不相同。
第二检测模块15，用于对多个基准电子变压器所在的支路进行逐一检测损耗，得到多个第三检测损耗值，其中，在对某一支路的基准电子变压器进行检测损耗时，该支路为通路，其它支路为断路。
在这次检测损耗中，仅对替换后基准电子变压器所在的支路进行检测，检测方式与之前的损耗检测试方式相同。
第一判断模块16，用于判断多个第三检测损耗值是否均为相同数值。
对多个第三检测损耗值是否为相同数值进行判断，如果多个第三检测损耗值是存在不相同的数值，那么测试电路会存在问题，如果多个第三检测损耗值均是相同的数值，那么测试电路是正常的。
第一处理模块17，用于若是，获取所述基准电子变压器的额定损耗值，并根据所述额定损耗值、所述第二检测损耗值和所述第三检测损耗值，计算出被标识的待测电子变压器自身损耗，得到目标损耗值。
基准电子变压器都是具有额定损耗值，先根据第三检测损耗值和额定损耗值计算出测试电路的损耗值，再根据测试电路的损耗值和第二检测损耗值计算出被标识的待测电子变压器自身损耗。
第一获取模块18，用于获取在每一个被标识的待测电子变压器检测损耗时所述测试电路输出的电流，以及获取每一个被标识的待测电子变压器的铜线电阻。
待测电子变压器的铜线电阻可以通过现有的检测方式获得，也可以根据铜线的规格和长度等计算获得。
第一计算模块19，用于根据所述电流和所述电阻，计算出每一个被标识的待测电子变压器各自的铜线损耗，得到多个第一铜线损耗值。
铜线损耗可以根据焦耳定律（Q=I2R）计算得到。
第一筛选模块20，用于从多个第一铜线损耗值中筛选出在预设第一范围内的铜线损耗值，得到多个第二铜线损耗值。
从多个第一铜线损耗值中选择出在预设第一范围内的数值，将符合在预设第一范围内的数值重新定义为第二铜线损耗值。
第二计算模块21，用于根据多个第二铜线损耗值和每一个第二铜线损耗值对应目标损耗值，计算出每一个第二铜线损耗值对应被标识的待测电子变压器的磁芯损耗，得到多个第一磁芯损耗值。
电子变压器的自身损耗包括铜线损耗和磁芯损耗，根据第二铜线损耗值和对应的目标损耗值，计算出对应的磁芯损耗，从而得到第一磁芯损耗值。
第二筛选模块22，用于从多个第一磁芯损耗值中筛选出在预设第二范围内的磁芯损耗值，得到多个第二磁芯损耗值。
从多个第一磁芯损耗值中选择出在预设第二范围内的数值，将符合在预设第二范围内的数值重新定义为第二磁芯损耗值。
第一判定模块23，用于将每一个第二磁芯损耗值对应被标识的待测电子变压器判定为测试合格。
通过多层的检测都合格的待测电子变压器，才能被认为是测试合格，也就是合格品。
先对待测电子变压器检测损耗，会筛掉一些不合格的电子变压器，再验证测试电路是否会存在问题，如果测试电路是正常的，则对初步合格的电子变压器进一步进行测试，通过计算被标识的待测电子变压器各自的铜线损耗，又会筛掉一些不合格的电子变压器，再通过计算被标识的待测电子变压器的磁芯损耗，又会筛掉一些不合格的电子变压器，最后得到的待测电子变压器为测试合格，即是合格的电子变压器，通过多层的测试，这样得到的电子变压器质量会很好，解决现有电子变压器测试是采用灯光或者声音电路，不能很好地把控电子变压器质量的问题。
在本实施例中，装置1包括：
第一子检测模块，用于从多个第一检测损耗值中获取未被提取的检测损耗值，得到多个不良的检测损耗值；
第一子判断模块，用于将多个不良的检测损耗值对应的待测电子变压器判定为测试不合格。
除了被提取的第一检测损耗值，其它的第一检测损耗值会被认为是不合格的数值，相应的待测电子变压器就会被认为是不合格品。
在本实施例中，装置1包括：
第一子停止模块，用于若否，则判定所述测试电路存在问题，停止测试。
如果测试电路是正常的，那么多个第三检测损耗值均为相同数值，如果测试电路是存在问题的，那么多个第三检测损耗值会存在不相同的数值。
在本实施例中，第一筛选模块20包括：
第一子获取模块，用于获取预设第一范围；
第二子判断模块，用于从多个第一铜线损耗值中判断是否存在预设第一范围内的铜线损耗值；
第一子筛选模块，用于若是，则筛选出相应的第一铜线损耗值，得到多个第二铜线损耗值。
预设第一范围是用户自行设置的，预设第一范围在合理的铜线损耗值内设置的范围越小，这样得到的待测电子变压器的质量越高。
在本实施例中，装置1包括：
第三子判断模块，用于若否，则将多个第一铜线损耗值对应被标识的待测电子变压器判定为测试不合格。
如果没有筛选出在预设第一范围内的铜线损耗值，那么多个第一铜线损耗值均为不合格的数值，相应的被标识的待测电子变压器是不合格品。
在本实施例中，装置1包括：
第一子识别模块，用于识别出未筛选的第一铜线损耗值，得到多个不良的第一铜线损耗值；
第四子判断模块，用于将多个不良的检测损耗值对应被标识的待测电子变压器判定为测试不合格。
未筛选的第一铜线损耗值是不合格的数据，对应被标识的待测电子变压器是不合格品。
在本实施例中，第二筛选模块22包括：
第二子获取模块，用于获取预设第二范围；
第五子判断模块，用于从多个第一磁芯损耗值中判断是否存在预设第二范围内的磁芯损耗值；
第二子筛选模块，用于若是，则筛选出相应的第一磁芯损耗值，得到多个第二磁芯损耗值。
预设第二范围是用户自行设置的，预设第二范围在合理的磁芯损耗值内设置的范围越小，这样得到的待测电子变压器的质量越高。
如图3所示，本发明实施例中还提供一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构可以如图3所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口和数据库。其中，该计算机设计的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储电子变压器测试方法的模型等数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种电子变压器测试方法。
上述处理器执行上述电子变压器测试方法的步骤：将多个相同规格的待测电子变压器并联接入测试电路；
对并联电路上每一支路的待测电子变压器进行逐一检测损耗，得到多个第一检测损耗值，其中，在对某一支路的待测电子变压器进行检测损耗时，该支路为通路，其它支路为断路；
从多个第一检测损耗值中提取数值相同且数量最多的检测损耗值，得到多个第二检测损耗值；
将多个第二检测损耗值对应的待测电子变压器替换成基准电子变压器，其中，被替换的待测电子变压器标记上与在同一支路的基准电子变压器相同的标识；
对多个基准电子变压器所在的支路进行逐一检测损耗，得到多个第三检测损耗值，其中，在对某一支路的基准电子变压器进行检测损耗时，该支路为通路，其它支路为断路；
判断多个第三检测损耗值是否均为相同数值；
若是，获取所述基准电子变压器的额定损耗值，并根据所述额定损耗值、所述第二检测损耗值和所述第三检测损耗值，计算出被标识的待测电子变压器自身损耗，得到目标损耗值；
获取在每一个被标识的待测电子变压器检测损耗时所述测试电路输出的电流，以及获取每一个被标识的待测电子变压器的铜线电阻；
根据所述电流和所述电阻，计算出每一个被标识的待测电子变压器各自的铜线损耗，得到多个第一铜线损耗值；
从多个第一铜线损耗值中筛选出在预设第一范围内的铜线损耗值，得到多个第二铜线损耗值；
根据多个第二铜线损耗值和每一个第二铜线损耗值对应目标损耗值，计算出每一个第二铜线损耗值对应被标识的待测电子变压器的磁芯损耗，得到多个第一磁芯损耗值；
从多个第一磁芯损耗值中筛选出在预设第二范围内的磁芯损耗值，得到多个第二磁芯损耗值；
将每一个第二磁芯损耗值对应被标识的待测电子变压器判定为测试合格。
本领域技术人员可以理解，图3中示出的结构，仅仅是与本发明方案相关的部分结构的框图，并不构成对本发明方案所应用于其上的计算机设备的限定。
本发明实施例的计算机设备，先对待测电子变压器检测损耗，会筛掉一些不合格的电子变压器，再验证测试电路是否会存在问题，如果测试电路是正常的，则对初步合格的电子变压器进一步进行测试，通过计算被标识的待测电子变压器各自的铜线损耗，又会筛掉一些不合格的电子变压器，再通过计算被标识的待测电子变压器的磁芯损耗，又会筛掉一些不合格的电子变压器，最后得到的待测电子变压器为测试合格，即是合格的电子变压器，通过多层的测试，这样得到的电子变压器质量会很好，解决现有电子变压器测试是采用灯光或者声音电路，不能很好地把控电子变压器质量的问题。
本发明一实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现一种电子变压器测试方法，具体为：将多个相同规格的待测电子变压器并联接入测试电路；
对并联电路上每一支路的待测电子变压器进行逐一检测损耗，得到多个第一检测损耗值，其中，在对某一支路的待测电子变压器进行检测损耗时，该支路为通路，其它支路为断路；
从多个第一检测损耗值中提取数值相同且数量最多的检测损耗值，得到多个第二检测损耗值；
将多个第二检测损耗值对应的待测电子变压器替换成基准电子变压器，其中，被替换的待测电子变压器标记上与在同一支路的基准电子变压器相同的标识；
对多个基准电子变压器所在的支路进行逐一检测损耗，得到多个第三检测损耗值，其中，在对某一支路的基准电子变压器进行检测损耗时，该支路为通路，其它支路为断路；
判断多个第三检测损耗值是否均为相同数值；
若是，获取所述基准电子变压器的额定损耗值，并根据所述额定损耗值、所述第二检测损耗值和所述第三检测损耗值，计算出被标识的待测电子变压器自身损耗，得到目标损耗值；
获取在每一个被标识的待测电子变压器检测损耗时所述测试电路输出的电流，以及获取每一个被标识的待测电子变压器的铜线电阻；
根据所述电流和所述电阻，计算出每一个被标识的待测电子变压器各自的铜线损耗，得到多个第一铜线损耗值；
从多个第一铜线损耗值中筛选出在预设第一范围内的铜线损耗值，得到多个第二铜线损耗值；
根据多个第二铜线损耗值和每一个第二铜线损耗值对应目标损耗值，计算出每一个第二铜线损耗值对应被标识的待测电子变压器的磁芯损耗，得到多个第一磁芯损耗值；
从多个第一磁芯损耗值中筛选出在预设第二范围内的磁芯损耗值，得到多个第二磁芯损耗值；
将每一个第二磁芯损耗值对应被标识的待测电子变压器判定为测试合格。
本发明实施例的存储介质，先对待测电子变压器检测损耗，会筛掉一些不合格的电子变压器，再验证测试电路是否会存在问题，如果测试电路是正常的，则对初步合格的电子变压器进一步进行测试，通过计算被标识的待测电子变压器各自的铜线损耗，又会筛掉一些不合格的电子变压器，再通过计算被标识的待测电子变压器的磁芯损耗，又会筛掉一些不合格的电子变压器，最后得到的待测电子变压器为测试合格，即是合格的电子变压器，通过多层的测试，这样得到的电子变压器质量会很好，解决现有电子变压器测试是采用灯光或者声音电路，不能很好地把控电子变压器质量的问题。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本发明所提供的和实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可以包括只读存储器（ROM）、可编程ROM（PROM）、电可编程ROM（EPROM）、电可擦除可编程ROM（EEPROM）或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器（RAM）或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM（SRAM）、动态RAM（DRAM）、同步DRAM（SDRAM）、双速据率SDRAM（SSRSDRAM）、增强型SDRAM（ESDRAM）、同步链路（Synchlink）DRAM（SLDRAM）、存储器总线（Rambus）直接RAM（RDRAM）、直接存储器总线动态RAM（DRDRAM）、以及存储器总线动态RAM（RDRAM）等。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包括在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种电子变压器测试方法，其特征在于，所述方法包括：
将多个相同规格的待测电子变压器并联接入测试电路；
对并联电路上每一支路的待测电子变压器进行逐一检测损耗，得到多个第一检测损耗值，其中，在对某一支路的待测电子变压器进行检测损耗时，该支路为通路，其它支路为断路；
从多个第一检测损耗值中提取数值相同且数量最多的检测损耗值，得到多个第二检测损耗值；
将多个第二检测损耗值对应的待测电子变压器替换成基准电子变压器，其中，被替换的待测电子变压器标记上与在同一支路的基准电子变压器相同的标识；
对多个基准电子变压器所在的支路进行逐一检测损耗，得到多个第三检测损耗值，其中，在对某一支路的基准电子变压器进行检测损耗时，该支路为通路，其它支路为断路；
判断多个第三检测损耗值是否均为相同数值；
若是，获取所述基准电子变压器的额定损耗值，并根据所述额定损耗值、所述第二检测损耗值和所述第三检测损耗值，计算出被标识的待测电子变压器自身损耗，得到目标损耗值；
获取在每一个被标识的待测电子变压器检测损耗时所述测试电路输出的电流，以及获取每一个被标识的待测电子变压器的铜线电阻；
根据所述电流和所述电阻，计算出每一个被标识的待测电子变压器各自的铜线损耗，得到多个第一铜线损耗值；
从多个第一铜线损耗值中筛选出在预设第一范围内的铜线损耗值，得到多个第二铜线损耗值；
根据多个第二铜线损耗值和每一个第二铜线损耗值对应目标损耗值，计算出每一个第二铜线损耗值对应被标识的待测电子变压器的磁芯损耗，得到多个第一磁芯损耗值；
从多个第一磁芯损耗值中筛选出在预设第二范围内的磁芯损耗值，得到多个第二磁芯损耗值；
将每一个第二磁芯损耗值对应被标识的待测电子变压器判定为测试合格。
2.根据权利要求1所述的电子变压器测试方法，其特征在于，在从多个第一检测损耗值中提取数值相同且数量最多的检测损耗值，得到多个第二检测损耗值的步骤之后，包括：
从多个第一检测损耗值中获取未被提取的检测损耗值，得到多个不良的检测损耗值；
将多个不良的检测损耗值对应的待测电子变压器判定为测试不合格。
3.根据权利要求1所述的电子变压器测试方法，其特征在于，在判断多个第三检测损耗值是否均为相同数值的步骤之后，包括：
若否，则判定所述测试电路存在问题，停止测试。
4.根据权利要求1所述的电子变压器测试方法，其特征在于，在从多个第一铜线损耗值中筛选出在预设第一范围内的铜线损耗值，得到多个第二铜线损耗值的步骤中，包括：
获取预设第一范围；
从多个第一铜线损耗值中判断是否存在预设第一范围内的铜线损耗值；
若是，则筛选出相应的第一铜线损耗值，得到多个第二铜线损耗值。
5.根据权利要求4所述的电子变压器测试方法，其特征在于，在从多个第一铜线损耗值中判断是否存在预设第一范围内的铜线损耗值的步骤之后，包括：
若否，则将多个第一铜线损耗值对应被标识的待测电子变压器判定为测试不合格。
6.根据权利要求4所述的电子变压器测试方法，其特征在于，在筛选出相应的第一铜线损耗值，得到多个第二铜线损耗值的步骤之后，包括：
识别出未筛选的第一铜线损耗值，得到多个不良的第一铜线损耗值；
将多个不良的检测损耗值对应被标识的待测电子变压器判定为测试不合格。
7.根据权利要求1所述的电子变压器测试方法，其特征在于，在从多个第一磁芯损耗值中筛选出在预设第二范围内的磁芯损耗值，得到多个第二磁芯损耗值的步骤中，包括：
获取预设第二范围；
从多个第一磁芯损耗值中判断是否存在预设第二范围内的磁芯损耗值；
若是，则筛选出相应的第一磁芯损耗值，得到多个第二磁芯损耗值。
8.一种电子变压器测试装置，其特征在于，所述装置包括：
第一接入模块，用于将多个相同规格的待测电子变压器并联接入测试电路；
第一检测模块，用于对并联电路上每一支路的待测电子变压器进行逐一检测损耗，得到多个第一检测损耗值，其中，在对某一支路的待测电子变压器进行检测损耗时，该支路为通路，其它支路为断路；
第一提取模块，用于从多个第一检测损耗值中提取数值相同且数量最多的检测损耗值，得到多个第二检测损耗值；
第一替换模块，用于将多个第二检测损耗值对应的待测电子变压器替换成基准电子变压器，其中，被替换的待测电子变压器标记上与在同一支路的基准电子变压器相同的标识；
第二检测模块，用于对多个基准电子变压器所在的支路进行逐一检测损耗，得到多个第三检测损耗值，其中，在对某一支路的基准电子变压器进行检测损耗时，该支路为通路，其它支路为断路；
第一判断模块，用于判断多个第三检测损耗值是否均为相同数值；
第一处理模块，用于若是，获取所述基准电子变压器的额定损耗值，并根据所述额定损耗值、所述第二检测损耗值和所述第三检测损耗值，计算出被标识的待测电子变压器自身损耗，得到目标损耗值；
第一获取模块，用于获取在每一个被标识的待测电子变压器检测损耗时所述测试电路输出的电流，以及获取每一个被标识的待测电子变压器的铜线电阻；
第一计算模块，用于根据所述电流和所述电阻，计算出每一个被标识的待测电子变压器各自的铜线损耗，得到多个第一铜线损耗值；
第一筛选模块，用于从多个第一铜线损耗值中筛选出在预设第一范围内的铜线损耗值，得到多个第二铜线损耗值；
第二计算模块，用于根据多个第二铜线损耗值和每一个第二铜线损耗值对应目标损耗值，计算出每一个第二铜线损耗值对应被标识的待测电子变压器的磁芯损耗，得到多个第一磁芯损耗值；
第二筛选模块，用于从多个第一磁芯损耗值中筛选出在预设第二范围内的磁芯损耗值，得到多个第二磁芯损耗值；
第一判定模块，用于将每一个第二磁芯损耗值对应被标识的待测电子变压器判定为测试合格。
9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。
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