CN115682949A - 一种玻璃面板磨边宽度的测量装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种玻璃面板磨边宽度的测量装置及方法，利用同轴光源照射传送装置上的玻璃面板，由于半反射镜位于传送装置的下方，因此同轴光源照射时能够得到玻璃面板未磨边部分的第一反射区域，玻璃面板磨边部分的第二反射区域以及半反射镜的第三反射区域，且第二反射区域位于第一反射区域与第三反射区域之间。由此可见，相机拍摄后可以明显区分玻璃面板表面、磨边表面和背景，从而可以测量磨边尺寸，演算得出磨边宽度。以此方式，实现用一个光源检测磨边宽度，降低检测成本和测量过程中的调整难度，提高测量的稳定性。

Description

一种玻璃面板磨边宽度的测量装置及方法

技术领域

本发明涉及玻璃面板测量技术领域，特别涉及一种玻璃面板磨边宽度的测量装置及方法。

背景技术

机器视觉对于微观方面的视觉检查，能够实现人工检查所无法完成的检查和效率。目前有许多产品是玻璃材质，包括液晶面板、晶圆、光学产品等。为提高产品强度和安全性，多数场合需对玻璃边缘进行磨边处理。一般磨边的尺寸控制在0.2mm左右，可以提高产品的可靠性、控制精度、提高强度及抗冲击能力。玻璃具有穿透、折射和反射，对于磨边的检测多数采用组合光源，即正面光与背面光组合使用，可满足大尺寸产品的微观磨边检测。

但是由于线阵相机需要移动采图，组合光源的体积较为庞大，移动时笨重，使用不灵活；在空间受限的场合无法安装使用；控制复杂、造成成本高。并且正面光源与背面光源会相互干扰，组合光线都会进入检测相机，调整程序复杂，调试难度大。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种玻璃面板磨边宽度的测量装置及方法，能够降低测量过程中的调整难度，并提高测量的稳定性。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：

一种玻璃面板磨边宽度的测量装置，包括传送装置、线阵相机和测量装置；

所述测量装置包括同轴光源和半反射镜；

所述同轴光源位于所述传送装置的上方，所述线阵相机位于所述同轴光源的上方，所述半反射镜位于所述传送装置的下方。

为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：

一种玻璃面板磨边宽度的测量方法，应用于上述一种玻璃面板磨边宽度的测量装置，包括步骤：

将所述同轴光源照射在所述传送装置上的玻璃面板边缘，得到玻璃面板未磨边部分的第一反射区域，玻璃面板磨边部分的第二反射区域以及半反射镜的第三反射区域，所述第二反射区域位于所述第一反射区域与所述第三反射区域之间；

使用所述线阵相机拍摄被所述同轴光源照射的玻璃面板边缘，并根据拍摄图片中的第二反射区域计算玻璃面板磨边宽度。

本发明的有益效果在于：利用同轴光源照射传送装置上的玻璃面板，由于半反射镜位于传送装置的下方，因此同轴光源照射时能够得到玻璃面板未磨边部分的第一反射区域，玻璃面板磨边部分的第二反射区域以及半反射镜的第三反射区域，且第二反射区域位于第一反射区域与第三反射区域之间。由此可见，相机拍摄后可以明显区分玻璃面板表面、磨边表面和背景，从而可以测量磨边尺寸，演算得出磨边宽度。以此方式，实现用一个光源检测磨边宽度，降低检测成本和测量过程中的调整难度，提高测量的稳定性。

附图说明

图1为本发明实施例的一种玻璃面板磨边宽度的测量装置的示意图；

图2为本发明实施例的一种玻璃面板磨边宽度的测量方法的流程图；

图3为本发明实施例的一种玻璃面板磨边宽度的测量方法的原理图；

图4为本发明实施例的磨边宽度测量原理图；

图5为本发明实施例的线阵相机拍摄图；

图6为本发明实施例的玻璃面板崩边、破损示意图；

标号说明：

1、线阵相机；2、同轴光源；3、玻璃面板；4、半反射镜。

具体实施方式

为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。

请参照图1，本发明实施例提供了一种玻璃面板磨边宽度的测量装置，包括传送装置、线阵相机和测量装置；

所述测量装置包括同轴光源和半反射镜；

所述同轴光源位于所述传送装置的上方，所述线阵相机位于所述同轴光源的上方，所述半反射镜位于所述传送装置的下方。

从上述描述可知，本发明的有益效果在于：利用同轴光源照射传送装置上的玻璃面板，由于半反射镜位于传送装置的下方，因此同轴光源照射时能够得到玻璃面板未磨边部分的第一反射区域，玻璃面板磨边部分的第二反射区域以及半反射镜的第三反射区域，且第二反射区域位于第一反射区域与第三反射区域之间。由此可见，相机拍摄后可以明显区分玻璃面板表面、磨边表面和背景，从而可以测量磨边尺寸，演算得出磨边宽度。以此方式，实现用一个光源检测磨边宽度，降低检测成本和测量过程中的调整难度，提高测量的稳定性。

进一步地，所述线阵相机的轴向以及所述同轴光源的照射方向均与所述传送装置垂直，所述半反射镜与所述传送装置平行。

由上述描述可知，线阵相机的轴向以及同轴光源的照射方向均与传送装置垂直，且半反射镜与线阵相机的轴向垂直，能够确保测量精度。

进一步地，所述线阵相机和所述同轴光源可移动设置。

由上述描述可知，能够根据玻璃面板的宽度，调整线阵相机和同轴光源的位置，由于使用一个光源即可进行测量，因此调整过程简单方便，能够进一步提高测量过程中的调整效率。

请参照图2，本发明另一实施例提供了一种玻璃面板磨边宽度的测量方法，包括步骤：

将所述同轴光源照射在所述传送装置上的玻璃面板边缘，得到玻璃面板未磨边部分的第一反射区域，玻璃面板磨边部分的第二反射区域以及半反射镜的第三反射区域，所述第二反射区域位于所述第一反射区域与所述第三反射区域之间；

使用所述线阵相机拍摄被所述同轴光源照射的玻璃面板边缘，并根据拍摄图片中的第二反射区域计算玻璃面板磨边宽度。

从上述描述可知，利用同轴光源照射传送装置上的玻璃面板，由于半反射镜位于传送装置的下方，因此同轴光源照射时能够得到玻璃面板未磨边部分的第一反射区域，玻璃面板磨边部分的第二反射区域以及半反射镜的第三反射区域，且第二反射区域位于第一反射区域与第三反射区域之间。由此可见，相机拍摄后可以明显区分玻璃面板表面、磨边表面和背景，从而可以测量磨边尺寸，演算得出磨边宽度。以此方式，实现用一个光源检测磨边宽度，降低检测成本和测量过程中的调整难度，提高测量的稳定性。

进一步地，所述根据拍摄图片中的第二反射区域计算玻璃面板磨边宽度包括：

根据第二反射区域的宽度和预设的磨边角度，计算玻璃面板的磨边宽度。

由上述描述可知，根据拍摄图片中的第二反射区域的宽度和预设的磨边角度计算玻璃面板的磨边宽度，能够快速进行磨边宽度的测量。

进一步地，所述根据拍摄图片中的第二反射区域计算玻璃面板磨边宽度之后包括：

根据连续计算的磨边宽度，判断所述玻璃面板的磨边是否存在不良状况。

由上述描述可知，对于连续计算到的玻璃面板磨边宽度，能够根据边缘磨边的数值变化情况，判定玻璃面板是否存在破损、断裂、崩边等不良状况。

进一步地，还包括：

根据传送装置上玻璃面板的宽，调整玻璃面板两侧边缘上方的线阵相机和同轴光源的位置。

由上述描述可知，能够根据玻璃面板的宽度，调整线阵相机和同轴光源的位置，由于使用一个光源即可进行测量，因此调整过程简单方便，能够进一步提高测量过程中的调整效率。

本发明上述的一种玻璃面板磨边宽度的测量装置及方法，适用于在对玻璃面板的磨边宽度进行测量时，降低测量过程中的调整难度，并提高测量的稳定性，以下通过具体的实施方式进行说明：

实施例一

请参照图1，一种玻璃面板磨边宽度的测量装置，包括传送装置、线阵相机1和测量装置；

测量装置包括同轴光源2和半反射镜4；

同轴光源2位于传送装置的上方，线阵相机1位于同轴光源2的上方，半反射镜4位于传送装置的下方。

在一些实施例中，线阵相机1的轴向以及同轴光源2的照射方向均与传送装置垂直，半反射镜4与传送装置平行。

在一些实施例中，线阵相机1和同轴光源2可移动设置。

实施例二

请参照图2，一种玻璃面板磨边宽度的测量方法，包括步骤：

S1、在传送装置的上方安装线阵相机1和同轴光源2，在传送装置的下方安装半反射镜4。

其中，所述线阵相机1的轴向以及所述同轴光源2的照射方向均与所述传送装置垂直，所述半反射镜4与所述传送装置平行。

具体的，请参照图3，在玻璃面板3上安装线阵相机1和同轴线光源，在玻璃面板3背部安装半反射镜4。调整半反射镜4的角度，使其与线阵相机1的轴向垂直，以确保测量的精度。

其中，根据传送装置上玻璃面板3的宽，调整玻璃面板3两侧边缘上方的线阵相机1和同轴光源2的位置。

具体的，本实施例中，包含两组线阵相机1和同轴光源2，根据玻璃面板3的宽度进行线阵相机1和同轴光源2位置的调整，保证相机能够拍摄到玻璃面板3的边缘以及玻璃面板3底部的半反射镜4。

S2、将所述同轴光源2照射在所述传送装置上的玻璃面板3边缘，得到玻璃面板3未磨边部分的第一反射区域，玻璃面板3磨边部分的第二反射区域以及半反射镜4的第三反射区域，所述第二反射区域位于所述第一反射区域与所述第三反射区域之间。

具体的，本实施例中，半反射镜4的反射率为20％，能够反射正面一部分同轴光线，即第三反射区域，作为背景图案，因反射光的正面光同源，所以控制特征保持一致，控制简单。磨边的位置反射角度较大，不会进入相机，而呈现暗色，即第二反射区域。产品磨边的位置直接反射回相机，即第一反射区域，反射光加大了磨边边界的亮度差，可以方便得出实际的磨边边界。

S3、使用所述线阵相机1拍摄被所述同轴光源2照射的玻璃面板3边缘，并根据拍摄图片中的第二反射区域计算玻璃面板3磨边宽度。

S31、根据第二反射区域的宽度和预设的磨边角度，计算玻璃面板3的磨边宽度。

具体的，请参照图4和图5，扫描玻璃面板3获取图像，视觉分离出第二反射区域，并根据第二反射区域的宽度和预设磨边角度计算得到磨边宽度。

S32、根据连续计算的磨边宽度，判断所述玻璃面板3的磨边是否存在不良状况。

具体的，请参照图6，根据连续计算的磨边宽度，能够判断出玻璃面板3的磨边是否存在着崩边和破损的情况。

因此，本实施例利用同轴光照射磨边平面，不反射光到视觉相机；同轴光照射产品，大部分反射光；半反射镜4只反射一部分光。成像后可以明显区分产品表面、磨边表面和背景，从而可以测量磨边尺寸，演算得出磨边宽度。并可以根据边缘磨边的不规则，判定产品破损、断裂、崩边等不良状况。从而实现一个正面光源检测磨边宽度，避免多个光源干扰，调整简单方便，检测稳定；在空间受限的场合也可以方便使用，能够降低制造成成本，提高调整效率。

综上所述，本发明提供的一种玻璃面板磨边宽度的测量装置及方法，利用同轴光源照射传送装置上的玻璃面板，由于半反射镜位于传送装置的下方，因此同轴光源照射时能够得到玻璃面板未磨边部分的第一反射区域，玻璃面板磨边部分的第二反射区域以及半反射镜的第三反射区域，且第二反射区域位于第一反射区域与第三反射区域之间。由此可见，相机拍摄后可以明显区分玻璃面板表面、磨边表面和背景，从而可以测量磨边尺寸，演算得出磨边宽度。实现一个正面光源检测磨边宽度，避免多个光源干扰，调整简单方便，检测稳定，在空间受限的场合也可以方便使用。以此方式，实现用一个光源检测磨边宽度，降低检测成本和测量过程中的调整难度，提高测量的稳定性。

以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (7)

1.一种玻璃面板磨边宽度的测量装置，其特征在于，包括传送装置、线阵相机和测量装置；

所述测量装置包括同轴光源和半反射镜；

所述同轴光源位于所述传送装置的上方，所述线阵相机位于所述同轴光源的上方，所述半反射镜位于所述传送装置的下方。

2.根据权利要求1所述的一种玻璃面板磨边宽度的测量装置，其特征在于，所述线阵相机的轴向以及所述同轴光源的照射方向均与所述传送装置垂直，所述半反射镜与所述传送装置平行。

3.根据权利要求1所述的一种玻璃面板磨边宽度的测量装置，其特征在于，所述线阵相机和所述同轴光源可移动设置。

4.一种玻璃面板磨边宽度的测量方法，应用于权利要求1至3任一所述的一种玻璃面板磨边宽度的测量装置，其特征在于，包括步骤：

将所述同轴光源照射在所述传送装置上的玻璃面板边缘，得到玻璃面板未磨边部分的第一反射区域，玻璃面板磨边部分的第二反射区域以及半反射镜的第三反射区域，所述第二反射区域位于所述第一反射区域与所述第三反射区域之间；

使用所述线阵相机拍摄被所述同轴光源照射的玻璃面板边缘，并根据拍摄图片中的第二反射区域计算玻璃面板磨边宽度。

5.根据权利要求4所述的一种玻璃面板磨边宽度的测量方法，其特征在于，所述根据拍摄图片中的第二反射区域计算玻璃面板磨边宽度包括：

根据第二反射区域的宽度和预设的磨边角度，计算玻璃面板的磨边宽度。

6.根据权利要求4所述的一种玻璃面板磨边宽度的测量方法，其特征在于，所述根据拍摄图片中的第二反射区域计算玻璃面板磨边宽度之后包括：

根据连续计算的磨边宽度，判断所述玻璃面板的磨边是否存在不良状况。

7.根据权利要求4所述的一种玻璃面板磨边宽度的测量方法，其特征在于，还包括：

根据传送装置上玻璃面板的宽，调整玻璃面板两侧边缘上方的线阵相机和同轴光源的位置。

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