CN115639446B

CN115639446B - 一种选择性电容测试装置

Info

Publication number: CN115639446B
Application number: CN202211661590.3A
Authority: CN
Inventors: 曹佶; 王昀; 朱开开
Original assignee: Zhejiang Hangke Instrument Co ltd
Current assignee: Zhejiang Hangke Instrument Co ltd
Priority date: 2022-12-23
Filing date: 2022-12-23
Publication date: 2023-06-02
Anticipated expiration: 2042-12-23
Also published as: CN115639446A

Abstract

本发明公开了一种选择性电容测试装置，包括相互连接的老化箱、信号箱和控制组件，控制组件包括主控机，老化箱包括老化架和设置在老化架上的多个老化板，信号箱包括背板和设置在背板上的选择机构，背板上还设置有第一插槽，第一插槽内设置有第一绝缘板，选择机构与主控机电性连接；第一绝缘板包括连接座和依次覆盖的底层板、中心层板及顶层板，顶层板上设置有多个第一穿孔，中心层板上设置有第二穿孔，底层板上设置有第一开孔，连接座固定在第一开孔内，连接座包括多个第一信号针，第一信号针的一端与老化板信号连接，第一信号针的另一端依次穿过第二穿孔和第一穿孔，选择机构选择性地与第一穿孔电性连接。其可以防止信号针放电烧坏装置。

Description

一种选择性电容测试装置

技术领域

本发明涉及电容测试装置，尤其涉及一种选择性电容测试装置。

背景技术

电容作为电路中必不可少的元件，其品质的决定了电路的好坏，对电容的测试为电容生产的必要工序。

电容的耐压性能是一种很重要的性能，在电容测试中，耐压性能的测试是必须的，然而在耐压测试的高压测试电容时，测试装置的电路中的金属配件，尤其是尖锐的信号针之间往往会因为高压电击穿空气形成尖端放电，导致相关元件烧坏，而使测试装置损坏。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种选择性电容测试装置，其在信号针之间设置多层板，使绝缘电阻增大，而可以防止信号针放电烧坏测试装置。

本发明的目的采用以下技术方案实现：

一种选择性电容测试装置，包括相互连接的老化箱、信号箱和控制组件，所述控制组件包括主控机，所述老化箱包括老化架和设置在所述老化架上的多个老化板：

所述信号箱包括背板和设置在所述背板上的选择机构，所述背板上还设置有第一插槽，所述第一插槽上设置有第一绝缘板，所述选择机构与所述主控机电性连接；

所述第一绝缘板包括连接座和依次覆盖的底层板、中心层板及顶层板，所述顶层板上设置有多个第一穿孔，所述中心层板上设置有与所述第一穿孔相对应的第二穿孔，所述底层板上设置有第一开孔，所述连接座固定在所述第一开孔内，所述连接座包括多个第一信号针，所述第一信号针的一端与所述老化板信号连接，所述第一信号针的另一端依次穿过所述第二穿孔和所述第一穿孔，所述选择机构选择性地与第一信号针穿过所述第一穿孔的一端电性连接。

优选的，所述第一绝缘板还包括次顶层板，所述次顶层板设置在所述中心层板与所述顶层板中间，所述次顶层板上设置有多个与所述第一穿孔相对应的第三穿孔和与所述第一开孔相对应的第二开孔。

优选的，所述第一绝缘板还包括次底层板，所述次底层板设置在所述中心层板与所述底层板中间，所述次底层板上设置有多个与所述第二穿孔相对应的第四穿孔和与所述第一开孔相对应的第三开孔。

优选的，所述顶层板上设置有多个第一固定孔，所述中心层板上设置有与所述第一固定孔相对应的第二固定孔，所述底层板上设置有与所述第二固定孔相对应的第三固定孔，所述次底层板上设置有与第二固定孔相对应的第四固定孔，所述次底层板上设置有与所述第三固定孔相对应的第五固定孔。

优选的，所述第一开孔、所述第二开孔和所述第三开孔均设置在所述第一绝缘板的中部，所述中心层板的中部还设置与所述第二开孔相对应的细孔，所述第一信号针穿过所述第一穿孔的末端设置有焊接片。

优选的，所述第二穿孔、第三穿孔和第四穿孔均分别位于所述细孔、所述第二开孔和第三开孔的两侧，所述连接座包括第一信号座和第二信号座，所述第一信号座和所述第二信号座靠近所述第四穿孔的一端均设置有所述第一信号针，所述第一信号针依次穿过所述第四穿孔、所述第三穿孔、第二穿孔和第一穿孔。

优选的，所述选择机构包括X轴模组、Y轴模组和第一Z轴模组，所述X轴模组与所述背板滑动连接，所述Y轴模组与所述X轴模组垂直滑动连接，所述第一Z轴模组与所述Y轴模组滑动连接，所述第一Z轴模组包括第一探针和用于推动所述第一探针的第一气缸，所述选择机构通过所述第一探针与所述主控机电性连接，所述选择机构通过所述第一探针与所述第一信号针选择性电性点接。

优选的，所述背板上还设置有多个第二插槽，所述第二插槽上设置有第二绝缘板，所述第二绝缘板上设置有多个第二信号针，所述第二信号针与所述老化板电性连接，所述选择机构还包括与所述第二信号针选择性电性连接的第二Z轴模组，所述第二Z轴模组与所述背板滑动连接。

优选的，所述第二Z轴模组包括第二探针和用于推动所述第二探针的第二气缸，所述第二探针与所述主控机电性连接，所述第二Z轴模组通过所述第二探针与所述第二信号针选择性电性点接。

优选的，所述主控机为工控机，所述控制组件包括底柜和与所述工控机电性连接的电源，所述工控机和所述电源均设置在所述底柜内，所述底柜固定在所述老化箱的下端，所述X轴模组、所述Y轴模组和所述第一Z轴模组均与所述电源电性连接。

相比现有技术，本发明的有益效果在于：

本申请公开的选择性电容测试装置，其通过选择机构选择性地与第一信号针穿过所述第一穿孔的一端电性连接，因为第一信号针之间设置有底层板、中心层板和顶层板，加大了信号针之间的绝缘电阻，而可以防止第一信号针之间产生尖端放电烧坏连接座和背板等部件；

另外，由于是选择性的电性连接（加电压）第一信号针，而不会给信号针持续地加电压，可防止第一信号针因电荷累积而产生尖端放电。选择性的电性连接也可以在电容适当的条件（尖峰电压）下，对电容进行瞬时测试。

另外，由于所述底层板上设置有第一开孔，且所述底层板、所述中心层板和所述顶层板之间有缝隙，而利于散热。

附图说明

图1为本发明的选择性电容测试装置的立体结构示意图；

图2为本发明的选择性电容测试装置去掉前门后的平面结构示意图；

图3为本发明的选择性电容测试装置的另一视角的立体结构示意图；

图4为本发明的选择机构和背板的立体结构示意图；

图5为本发明的连接座的立体结构示意图；

图6为本发明的顶层板的平面结构示意图；

图7为本发明的中心层板的平面结构示意图；

图8为本发明的底层板的平面结构示意图；

图9为本发明的次顶层板的平面结构示意图；

图10为本发明的次底层板的平面结构示意图。

图中：100、选择性电容测试装置；10、信号箱；11、选择机构；111、X轴模组；112、Y轴模组；113、第一Z轴模组；114、第二Z轴模组；115、第一滑轴；116、第二滑轴；12、散热孔； 13、背板；131、第一插槽；132、第二插槽；14、连接座；141、第一信号座；142、第一信号针；143、第二信号座；20、控制组件；21、控制箱；211、显示屏；212、按键板；213、键盘盒；22、底柜；221、前门；222、电源；223、工控机；224、后门；30、老化箱；31、老化架；40、第一绝缘板；41、顶层板；411、第一穿孔；412、第一固定孔；42、中心层板；421、第二穿孔；422、细孔；423、第二固定孔；43、底层板；431、第一开孔；432、第三固定孔；44、次顶层板；441、第三穿孔；442、第二开孔；443、第四固定孔；45、次底层板；451、第四穿孔；452、第三开孔；453、第五固定孔。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本发明的具体技术方案、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“横向”、“纵向”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

如图1-图3所示，本申请公开的一种选择性电容测试装置100，包括相互连接的老化箱30、信号箱10和控制组件20，所述控制组件20包括主控机，所述老化箱30包括老化架31和设置在所述老化架31上的多个老化板（未示出）：所述信号箱10包括背板13和设置在所述背板13上的选择机构11，所述背板13上还设置有第一插槽131，所述第一插槽131上设置有第一绝缘板40，所述选择机构11与所述主控机电性连接；

其中，如图6-图8所示所述第一绝缘板40包括连接座14和依次覆盖的底层板43、中心层板42及顶层板41，所述顶层板41上设置有多个第一穿孔411，所述中心层板42上设置有与所述第一穿孔411相对应的第二穿孔421，所述底层板43上设置有第一开孔431，所述连接座14固定在所述第一开孔431内，所述连接座14包括多个第一信号针142，所述第一信号针142的一端与所述老化板信号连接，所述第一信号针142的另一端依次穿过所述第二穿孔421和所述第一穿孔411，所述选择机构11选择性地与所述第一信号针142穿过所述第一穿孔411的一端电性连接。

在上述实施方式中，本申请公开的主控机给所述选择机构11发送测试信号或协助施加相应地电源信号后，当所述选择机构11与所述第一信号针142穿过所述第一穿孔411的末端电性连接（点击）时，所述第一信号针142接收测试信号或相应地电源信号给所述老化板，再对所述老化板上的待测电容进行相应地测试。其通过选择机构11选择性地与第一信号针142穿过所述第一穿孔411的一端电性连接，因为第一信号针142之间设置有底层板43、中心层板42和顶层板41，加大了信号针之间的绝缘电阻，而可以防止因所述第一信号针142充电或电容放电产生的尖端放电烧坏背板13和连接座14等部件；优选地，为了防止所述第一信号针142靠近所述第一穿孔411的末端之间放电，所述第一信号针142的末端与所述第一穿孔411平齐。

另外，所述第一信号针142的末端连接有三极管、电感和MOSS管等放大或开关等器件，再电性连接所述老化板。所述主控机也可以控制所述选择机构11去使相应的一个或几个第一信号针142导通，而生成多种测试信号给所述老化板，而对所述老化板进行测试。

另外，由于是选择性的电性连接（加电压）给所述第一信号针142，而不给信号针持续地加电压，可防止所述第一信号针142因电荷累积而产生尖端放电。选择性的电性连接也可以在电容适当的条件（尖峰电压）下，对被测电容进行瞬时尖峰电压测试。由于所述底层板43上设置有第一开孔431，且所述底层板43、所述中心层板42和所述顶层板41之间有缝隙，而利于散热。所述底层板43可通过所述第一开孔431来安装所述连接座14。所述中心层板42可以把所述顶层板41与所述底层板41隔开，也利于稳固所述连接座14。为了方便所述选择机构11与所述第一信号针142电性连接，所述选择机构11设置在所述顶层板41的正上方。所述第一绝缘板40最优为PCB板。

在一种优选的实施方式中，如图6-图10所示，所述第一绝缘板40还包括次顶层板44和底层板43，所述次顶层板44设置在所述中心层板42与所述顶层板41中间，所述次顶层板44上设置有多个与所述第一穿孔411相对应的第三穿孔441和与所述第一开孔431相对应的第二开孔442。所述次底层板44设置在所述中心层板42与所述底层板43中间，所述次底层板45上设置有多个与所述第二穿孔421相对应的第四穿孔451和与所述第一开孔431相对应的第三开孔452。所述顶层板41上设置有多个第一固定孔412，所述中心层板42上设置有与所述第一固定孔412相对应的第二固定孔423，所述底层板43上设置有与所述第二固定孔423相对应的第三固定孔432，所述次底层板45上设置有与第二固定孔423相对应的第四固定孔443，所述次底层板45上设置有与所述第三固定孔432相对应的第五固定孔453。

在上述实施方式中，所述次顶层板44和所述次底层板45，能增加所述第一绝缘板40的厚度，而增加所述第一信号针142之间的绝缘电阻。所述次顶层板44上的第二开孔442利于散热，所述次底层板45上的第三开孔452可卡接所述连接座14上端，而使所述连接座14更稳固，也利于散热。所述第三穿孔441和所述第四穿孔451也利于所述第一信号针142穿过所述第一绝缘板40和散热。所述第一固定孔412、所述第二固定孔423、所述第三固定孔432、第四固定孔443和第五固定孔453可使所述第一绝缘板40更稳固。

在一种优选的实施方式中，如图6-图10所示，所述第一开孔431、所述第二开孔442和所述第三开孔452均设置在所述第一绝缘板40的中部，所述中心层板42的中部还设置与所述第二开孔442相对应的细孔422。所述第二穿孔421、第三穿孔441和第四穿孔451均分别位于所述细孔422、所述第二开孔442和第三开孔452的两侧。如图5所示，所述连接座14包括第一信号座141和第二信号座143，所述第一信号座141和所述第二信号座143靠近所述第四穿孔451的一端均设置有所述第一信号针142，所述第一信号针142依次穿过所述第四穿孔451、所述第三穿孔441、第二穿孔421和第一穿孔411。

在上述实施方式中，所述第一开孔431、所述第二开孔442和所述第三开孔452均设置在所述第一绝缘板40的中部，而使所述连接座14位于所述第一绝缘板40的中部重心处，而利于所述连接座14上的第一信号针142均衡地穿过所述第四穿孔451、所述第三穿孔441、第二穿孔421和第一穿孔411，从而使所述连接座14和所述第一信号针142更稳固和更美观。所述细孔422可为螺纹孔，所述连接座14的中部可通过所述螺纹孔固定在所述中心层板42上而更稳固，所述细孔422也利于散热。所述第二信号座143使所述连接座14传输更多的信号，也可使所述连接座14的重心更平衡，而不易从所述第一绝缘板40上脱落。为了使所述第一信号针142更稳固、更容易与所述第一探针接触，所述第一信号针142穿过所述第一穿孔411的末端设置有焊接片，该焊接片也可以进一步地防止尖端放电。

在一种优选的实施方式中，如图4所示，所述选择机构11包括X轴模组111、Y轴模组112和第一Z轴模组113，所述X轴模组111与所述背板13滑动连接，所述Y轴模组112与所述X轴模组111垂直滑动连接，所述第一Z轴模组113与所述Y轴模组112滑动连接，所述第一Z轴模组113包括第一探针和用于推动所述第一探针的第一气缸（未示出），所述选择机构11通过所述第一探针与所述主控机电性连接，所述选择机构11通过所述第一探针与所述第一信号针142选择性电性点接。

在上述实施方式中，所述X轴模组111通过所述第一滑轴115在所述背板13上滑动，所述Y轴模组112在所述背板13的上方与X轴成90度的方向滑动，所述第一Z轴模组113上的探针通过所述第一气缸垂直于所述背板13运动，而能使所述第一Z轴模组113上的探针精确地移动到所述背板13上第一绝缘板40的任一处，从而能使所述探针可以点击任一处的所述第一信号针142，使所述第一信号针142接收测试信号或测试电源。

如图4所示，在一种优选的实施方式中，所述背板13上还设置有多个第二插槽132，所述第二插槽132上设置有第二绝缘板（未示出），所述第二绝缘板上设置有多个第二信号针，所述第二信号针与所述老化板电性连接，所述选择机构还包括与所述第二信号针选择性电性连接的第二Z轴模组，所述第二Z轴模组与所述背板滑动连接。所述第二Z轴模组包括第二探针和用于推动所述第二探针的第二气缸，所述第二探针与所述主控机电性连接，所述第二Z轴模组通过所述第二探针与所述第二信号针选择性电性点接。

在上述实施方式中，所述第二绝缘板也可以与所述第一绝缘板40的结构相同，所述第一信号针142可以传输测试信号给所述老化板，所述第二信号针可以给所述老化板提供（高压）电源。所述选择机构11还包括第二滑轴116，所述第二Z轴模组114通过所述第二滑轴116在所述背板13在滑动。为了便于所述第二Z轴模组114滑动，所述第二滑轴116与所述第一滑轴115平行设置，所述第二Z轴模组114的一端与所述Y轴模组固定连接。

如图2所示，在一种优选的实施方式中，所述主控机为工控机223，所述控制组件20包括底柜22和与所述工控机223电性连接的电源222，所述工控机223和所述电源222均设置在所述底柜22内，所述底柜22固定在所述老化箱30的下端，所述X轴模组111、所述Y轴模组112和所述第一Z轴模组113均设置有气缸，所述气缸均与所述电源222电性连接。所述第一探针有多个，所述连接座14的两端均设置有间隔设置的三个第一信号针142。

在上述实施方式中，所述工控机223能生成测试信号传输所述选择机构11上的第一探针，所述第一Z轴模组113控制所述第一探针去点击所述第一信号针142，而使所述老化板得到相对应的测试信号。或者所述工控机223控制所述选择机构11使相应一个或几个第一信号针142导通，而生成对应的测试信号去测试待测电容。所述工控机223能控制所述电源222输出合适的电压或电流给所述第二信号针，再给所述老化板施加合适的电压或电流而对待测电容进行尖峰电压或交直流电流测试。

另外，如图1和图2所示，所述控制箱21上设置有散热孔12、按键板212、显示屏211和键盘盒213，所述键盘盒213里设置有键盘，所述按键板212、所述显示屏211和所述键盘均与所述工控机223电性连接。为了便于维护，所述底柜22的前端设置有前门221，所述底柜22的后端设置有后门224。

综述，本申请通过所述选择机构11选择性地使所述第一信号针142或第二信号针导通，且所述信号针之间设置有绝缘板，能防止信号针充电或电容放电形成尖端放电，而烧坏所述背板13或所述连接座14，且所述第一绝缘板40之间设置有开孔利于安装所述连接座14和散热。

以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中的描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims

1.一种选择性电容测试装置，包括相互连接的老化箱、信号箱和控制组件，所述控制组件包括主控机，所述老化箱包括老化架和设置在所述老化架上的多个老化板，其特征在于：所述信号箱包括背板和设置在所述背板上的选择机构，所述背板上还设置有第一插槽，所述第一插槽上设置有第一绝缘板，所述选择机构与所述主控机电性连接；所述第一绝缘板包括连接座和依次覆盖的底层板、中心层板及顶层板，所述顶层板上设置有多个第一穿孔，所述中心层板上设置有与所述第一穿孔相对应的第二穿孔，所述底层板上设置有第一开孔，所述连接座固定在所述第一开孔内，所述连接座包括多个第一信号针，所述第一信号针的一端与所述老化板信号连接，所述第一信号针的另一端依次穿过所述第二穿孔和所述第一穿孔，所述选择机构选择性地与第一信号针穿过所述第一穿孔的一端电性连接；所述第一绝缘板还包括次顶层板，所述次顶层板设置在所述中心层板与所述顶层板中间，所述次顶层板上设置有多个与所述第一穿孔相对应的第三穿孔和与所述第一开孔相对应的第二开孔；所述第一绝缘板还包括次底层板，所述次底层板设置在所述中心层板与所述底层板中间，所述次底层板上设置有多个与所述第二穿孔相对应的第四穿孔和与所述第一开孔相对应的第三开孔；所述顶层板上设置有多个第一固定孔，所述中心层板上设置有与所述第一固定孔相对应的第二固定孔，所述底层板上设置有与所述第二固定孔相对应的第三固定孔，所述次底层板上设置有与第二固定孔相对应的第四固定孔，所述次底层板上设置有与所述第三固定孔相对应的第五固定孔；所述第一开孔、所述第二开孔和所述第三开孔均设置在所述第一绝缘板的中部，所述中心层板的中部还设置与所述第二开孔相对应的细孔，所述第一信号针穿过所述第一穿孔的末端设置有焊接片；所述第二穿孔、第三穿孔和第四穿孔均分别位于所述细孔、所述第二开孔和第三开孔的两侧，所述连接座包括第一信号座和第二信号座，所述第一信号座和所述第二信号座靠近所述第四穿孔的一端均设置有所述第一信号针，所述第一信号针依次穿过所述第四穿孔、所述第三穿孔、第二穿孔和第一穿孔；所述选择机构包括X轴模组、Y轴模组和第一Z轴模组，所述X轴模组与所述背板滑动连接，所述Y轴模组与所述X轴模组垂直滑动连接，所述第一Z轴模组与所述Y轴模组滑动连接，所述第一Z轴模组包括第一探针和用于推动所述第一探针的第一气缸，所述选择机构通过所述第一探针与所述主控机电性连接，所述选择机构通过所述第一探针与所述第一信号针选择性电性点接。

2.根据权利要求1所述的选择性电容测试装置，其特征在于：所述背板上还设置有多个第二插槽，所述第二插槽上设置有第二绝缘板，所述第二绝缘板上设置有多个第二信号针，所述第二信号针与所述老化板电性连接，所述选择机构还包括与所述第二信号针选择性电性连接的第二Z轴模组，所述第二Z轴模组与所述背板滑动连接。

3.根据权利要求2所述的选择性电容测试装置，其特征在于：所述第二Z轴模组包括第二探针和用于推动所述第二探针的第二气缸，所述第二探针与所述主控机电性连接，所述第二Z轴模组通过所述第二探针与所述第二信号针选择性电性点接。

4.根据权利要求3所述的选择性电容测试装置，其特征在于：所述主控机为工控机，所述控制组件包括底柜和与所述工控机电性连接的电源，所述工控机和所述电源均设置在所述底柜内，所述底柜固定在所述老化箱的下端，所述X轴模组、所述Y轴模组和所述第一Z轴模组均与所述电源电性连接。