CN115524534B - 一种通讯线缆的线损测试方法及系统 - Google Patents

一种通讯线缆的线损测试方法及系统 Download PDF

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Abstract

本发明属于通讯领域中的线缆线损的测试方法，具体涉及一种通讯线缆的线损测试方法及系统，通过收集通讯线缆运行时的基础数据，通过基础数据计算得到线损率，并将线损率通过序列分析得到更加准确的线损率数值，通过线损率与通讯线缆因为运行产生的温度值结合分析，得到线损转化为温度值并对线缆的信息传输的影响的稳定值，并将数据控制在稳定值中，保证线缆的线损率和信息传输效率不会受到较大的影响，也可以保证通讯线缆在运行过程中不会受到太大的影响。

Description

一种通讯线缆的线损测试方法及系统
技术领域
本发明属于通讯领域中的线缆线损的测试方法，具体涉及一种通讯线缆的线损测试方法及系统。
背景技术
通讯线缆的线损指得是线缆在运行过程中的电量损耗，在进行通讯过程中也存在线损，因为电量在输送过程中一部分转化为线缆发热的内能而导致电量运输时造成的损耗，而转化为内能的这部分能量则会让线缆温度提升导致线缆的电阻值升高，而造成线损率升高，传输效率下降，并且在通讯线缆通讯传输过程中因为线缆发热导致线损率升高，同时对信息的传输也会受到影响，并且所述通讯线缆的抗干扰能力也会下降，会造成通讯信息泄露或通讯信息丢失的情况。
在现阶段对通讯线缆出厂前的线损测试仅为瞬时性得对通讯线缆进行线损测试，所得到的的数据仅为瞬时值，缺乏严谨性与准确性，并且测试的结果误差较大，最终效果与测试结果会产生较大的差异。
发明内容
鉴于以上所述现有方法的局限，本发明的目的在于提出一种通讯线缆的线损测试方法，以解决现有技术中所存在的一个或多个技术问题，至少提供一种有益的选择或创造条件。
为了实现上述目的，根据本发明的一方面，提供一种通讯线缆的线损测试方法，所述方法包括以下步骤：
S100：将在通讯状态下的通讯线缆基础数据进行采集；
S200：通过采集一段周期的基础数据并通过计算得到线损率；
S300：采集在一段周期内线缆的温度值；
S400：通过多组通讯线缆的线损率与线缆温度变化构建监测序列；
S500：通过监测序列中的数据进行分析得到线损测试结果。
进一步地，在所述步骤S100中，所述通讯状态下的通讯线缆基础数据包括：通讯状态下线缆电压值，输入的电源电压值，线缆双向电流值，线缆信息传输效率和通讯线缆的电阻值，在一段周期中，每经过1h收集一次所述通讯线缆基础数据，并将所述通讯线缆基础数据储存进入数据库中。
优选地，所述通讯状态下线缆电压值为通过电压钳在通讯线缆通电运行的状态下测出的电压值，为瞬时值，所述线缆双向电流值，将线缆接通三相交流电源后用电流钳在通讯线缆中测出的电流值和电流方向，所述电流值和电流方向为瞬时值，所述线缆信息传输效率则通过在对所述通讯线缆进行模拟通讯处理，并将在单位时间内传输的通讯量即为线缆信息传输效率，例如单位时间为1h，在1h中传输通讯量/1h即为在1h时间内的线缆信息传输效率，所述传输通讯量为通讯传输的信息容量，所述通讯线缆的电阻值即通过欧姆表对通讯状态下的通讯线缆测量得到的电阻值，由于电阻值会随着通讯线缆温度的变化而变化，所述通讯线缆的电阻值为瞬时值。
进一步地，在所述步骤S200中，在一段周期内通过多个不同的时间段的采集点，采 集通讯线缆基础数据，并将采集点的时间顺序构建时间戳并储存在数据库中，通过提取数 据库中的输入的电流值
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE002A
和输出的电流值
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE004A
计算得到输入电量J和输入电量T，J=
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE002AA
×t，T=
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE004AA
×t，t为采集间隔时间，t=1h，所述J和T均为随输入的电流值
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE002AAA
和输出的电流值
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE004AAA
变化的 变量，通过输入电量J与所述输出电量T的比值得到线损率ΔP，ΔP=（1-（T/J））cosφ× 100%，所述cosφ为用于调节初始功率变化的功率因数，所述功率因数为固定常数。
进一步地，在所述步骤S300中，通过温度传感器采集通讯线缆在通讯状态下的温度变化，将采集到的温度变化定义为温度值，采集温度值与采集通讯线缆基础数据周期相同，并将温度值通过与采集通讯线缆基本数据相同的周期与采集间隔进行采集，并且将采集的时刻构建时间戳，并将时间戳与温度值一起储存进入数据库中。
进一步地，在所述步骤S400中，将所述线损率ΔP通过对其采集的时间序列进行排序并构成监测序列MON，所述监测序列MON的元素总量为n，通过时间顺序将所述线损率序列中所有的线损率与前一时刻的线损率进行差值计算，并将得到的差值构建差值序列Dist，并将差值序列Dist通过序列中的元素大小进行划分，当Dist[i]≥0时，将所述元素划分为高线损序列GDist，当Dist[i]＜0时，将所述元素划分为低线损序列LDist，所述Dist[i]为差值序列的第i位元素，将所述高线损序列GDist中的元素进行筛选并计算出线损增势系数，所述线损增势系数ATE的计算方法如下所示：
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE006A
；
所述Max（GDist）即为获取高线损序列GDist中元素的最大值，所述Min（GDist）即 为获取高线损序列GDist中元素的最小值，所述len（GDist）即为获取高线损序列GDist的序 列长度，所述
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE008A
即为获取低线损序列LDist的最大值，所述
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE010A
即为 获取低线损序列LDist的最小值，所述
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE012A
即为获取低线损序列LDist的算数平 均值，所述log（）为底数为2的对数函数，所述ln（）即为自然对数函数，所述线损增势系数 ATE表示对线缆在一周期内的线损随着运行时长的增加而增加的幅度；
（计算线损增势系数ATE的有益效果为：通过周期内多个节点时刻的线损率分析并计算，可以得到通讯线缆随着运行时间的增加而增加的系数，通过所述损增势系数ATE可以计算得到温度值对线损率的影响。）
记
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE014A
为第i个采集节点获取的差值序列Dist中第一个线损率差值，将
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE014AA
通过与所 述低线损序列LDist中的最小值
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE016A
进行比较得到比值
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE014AAA
/
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE016AA
，记
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE018A
为第i个采集节点获取的差值序列Dist中最后一个线损率差值，将所述低线损序列LDist中 的最大值
Figure DEST_PATH_IMAGE020
通过与
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE018AA
进行比较得到比值
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE020A
/
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE018AAA
，将所述比值
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE014AAAA
/
Figure DEST_PATH_IMAGE016AAA
和
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE020AA
/
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE018AAAA
结合低线损序列中的元素通过计算得到线损稳定系数 STA，
Figure DEST_PATH_IMAGE022
，
所述
Figure DEST_PATH_IMAGE024
为低线损序列LDist的最 小值、平均值和最大值这三个值的平均数。
（计算线损稳定系数STA的有益效果为：通过低线损序列LDist中的最小值、平均值和最大值求其平均数，将所述线损低线损状态下的通讯线缆的线损率进行计算得到线损稳定系数STA，通过线损稳定系数STA可以对所述因线损而升高的温度值进行约束，并对高于所述约束条件的通讯线缆进行电阻值的检测。）
进一步地，通过在数据库中提取采集的温度值构建温度值序列Wist，并将温度值序列Wist中时间戳进行无量纲化处理，得到时间段序数，将序列Wist中的元素与时间段序数相对应，在温度值序列Wist中所含元素与所述监测序列MON的元素的数量相同都为n，通过所述线损稳定值计算得到温度稳定值WTA，将所述Wist（i）的取值范围定义在所述线损稳定值WTA区间之内即为稳定温度值，所述温度稳定值WTA的计算如下式所示：
Figure DEST_PATH_IMAGE026
，
所述
Figure DEST_PATH_IMAGE028
为底数为e的指数函数，
Figure DEST_PATH_IMAGE030
为自然对数，所述
Figure DEST_PATH_IMAGE032
为温度值
Figure DEST_PATH_IMAGE034
影响线损增势的因素，所述
Figure DEST_PATH_IMAGE036
则为监测序列
Figure DEST_PATH_IMAGE038
中的线损率的线损增势因素；
定义所述Wist（i）的约束范围为Wist（i）≤WTA，将所述温度值控制在温度稳定值WTA以下，保证通讯线缆的线损率保持在合理范围以内。
（计算温度稳定值WTA的有益效果为：通过所述线损稳定系数STA和所述线损增势系数ATE进行计算得到温度稳定值WTA，所述温度稳定值WTA的主要作用为通讯线缆运行时的温度值的约束条件，通过所述约束条件对通讯线缆的线损率和因为温度值影响的传输效率进行筛选，以保证通讯线缆的线损率不会超过要求的范围以及通讯线缆的线损率不会影响到通讯线缆的传输效率。）
进一步地，通过在通讯线缆的所述温度值Wist（i）进行检测，若温度值过高的通讯线缆，则说明该通讯线缆的阻值过高，通过在数据库中的输入电压值，与输入电流值进行计算得到通电时因温度影响的通讯线缆的电阻值，反复多次对通讯线缆的阻值进行测试，直到确定所述通讯线缆在通讯状态下并未出现温度值超过约束范围的情况，再通过在数据库中搜索所获取的通讯线缆基础数据，对所述通讯线缆进行线损率过高的原因在进行进一步排查，并且通过所述线缆信息传输效率与所述电阻值进行对应，将所述通讯线缆的信息传输效率与电阻值达标后，即对所述通讯线缆测试完成。
一种通讯线缆的线损测试系统，所述系统包括：温度传感器、电流钳、电压钳、欧姆表、处理器和存储器，所述温度传感器、电流钳、电压钳和欧姆表获取的数据可存储在存储器中，通过处理器得到的数据也可存储在存储器中，所述温度传感器和存储器可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时可实现上述方法中的任意一项通讯线缆的线损测试方法中的步骤。
所述系统中各个部分的功能为：
电流钳、电压钳和欧姆表：为获取通讯线缆的电流值、电压值和电阻值的测量仪器，将获取到的数据通过存储器存储在数据库中；
温度传感器：为采集线缆在运行过程中的温度变化，将采集到的温度数据通过存储器存储在数据库中；
处理器：对数据进行处理，将所述电流钳、电压钳、欧姆表和温度传感器中获取和采集的数据在数据库中进行提取，并对所述数据进行处理；
存储器：对数据进行存储，所述存储器中含有数据库，用于存储所述电流钳、电压钳、欧姆表和温度传感器中获取和采集的数据和处理器中处理后的数据，以及可以让处理器在数据库中进行数据提取。
本发明的有益效果：通过将采集的通讯线缆的基础数据，通过基础数据计算得到线损率，并将线损率通过序列分析得到更加准确的线损率数值，并通过线损率与通讯线缆因为运行产生的温度值结合分析，得到线损转化为温度值并对线缆的信息传输的影响的稳定值区间，并将数据控制在稳定值区间中，保证线缆的线损率和信息传输效率不会受到较大的影响。
附图说明
通过对结合附图所示出的实施方式进行详细说明，本发明的上述以及其他特征将更加明显，本发明附图中相同的参考标号表示相同或相似的元素，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，在附图中：
图1为一种通讯线缆的线损测试方法的流程图；
图2为一种通讯线缆的线损测试系统的结构图。
具体实施方式
以下将结合实施例和附图对本发明的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整的描述，以充分地理解本发明的目的、方案和效果。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
在本发明的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
如图1所示为根据本发明的一种通讯线缆的线损测试方法的流程图，下面结合图1来阐述根据本发明的实施方式的一种通讯线缆的线损测试方法。
本发明提出一种通讯线缆的线损测试方法，所述方法具体包括以下步骤：
S100：将在通讯状态下的通讯线缆基础数据进行采集；
S200：通过采集一段周期的基础数据并通过计算得到线损率；
S300：采集在一段周期内线缆的温度值；
S400：通过多组通讯线缆的线损率与线缆温度变化构建监测序列；
S500：通过监测序列中的数据进行分析得到线损测试结果。
进一步地，在所述步骤S100中，所述通讯状态下的通讯线缆基础数据包括：通讯状态下线缆电压值，输入的电源电压值，线缆双向电流值，线缆信息传输效率和通讯线缆的电阻值，在一段周期中，每经过1h收集一次所述通讯线缆基础数据，并将所述通讯线缆基础数据储存进入数据库中。
优选地，所述通讯状态下线缆电压值为通过电压钳在通讯线缆通电运行的状态下测出的电压值，为瞬时值，所述线缆双向电流值，将线缆接通三相交流电源后用电流钳在通讯线缆中测出的电流值和电流方向，所述电流值和电流方向为瞬时值，所述线缆信息传输效率则通过在对所述通讯线缆进行模拟通讯处理，并将在单位时间内传输的通讯量即为线缆信息传输效率，例如单位时间为1h，在1h中传输通讯量/1h即为在1h时间内的线缆信息传输效率，所述传输通讯量为通讯传输的信息容量，所述通讯线缆的电阻值即通过欧姆表对通讯状态下的通讯线缆测量得到的电阻值，由于电阻值会随着通讯线缆温度的变化而变化，所述通讯线缆的电阻值为瞬时值。
进一步地，在所述步骤S200中，在一段周期内通过多个不同的时间段的采集点，采 集通讯线缆基础数据，并将采集点的时间顺序构建时间戳并储存在数据库中，通过提取数 据库中的输入的电流值
Figure DEST_PATH_IMAGE002AAAA
和输出的电流值
Figure DEST_PATH_IMAGE004AAAA
计算得到输入电量J和输入电量T，J=
Figure DEST_PATH_IMAGE002_5A
×t，T=
Figure DEST_PATH_IMAGE004_5A
×t，t为采集间隔时间，t=1h，所述J和T均为随输入的电流值
Figure DEST_PATH_IMAGE002_6A
和输出的电流值
Figure DEST_PATH_IMAGE004_6A
变化的 变量，通过输入电量J与所述输出电量T的比值得到线损率ΔP，ΔP=（1-（T/J））cosφ× 100%，所述cosφ为用于调节初始功率变化的功率因数，所述功率因数为固定常数。
进一步地，在所述步骤S300中，通过温度传感器采集通讯线缆在通讯状态下的温度变化，将采集到的温度变化定义为温度值，采集温度值与采集通讯线缆基础数据周期相同，并将温度值通过与采集通讯线缆基本数据相同的周期与采集间隔进行采集，并且将采集的时刻构建时间戳，并将时间戳与温度值一起储存进入数据库中。
进一步地，在所述步骤S400中，将所述线损率ΔP通过对其采集的时间序列进行排序并构成监测序列MON，所述监测序列MON的元素总量为n，通过时间顺序将所述线损率序列中所有的线损率与前一时刻的线损率进行差值计算，并将得到的差值构建差值序列Dist，并将差值序列Dist通过序列中的元素大小进行划分，当Dist[i]≥0时，将所述元素划分为高线损序列GDist，当Dist[i]＜0时，将所述元素划分为低线损序列LDist，所述Dist[i]为差值序列的第i位元素，将所述高线损序列GDist中的元素进行筛选并计算出线损增势系数，所述线损增势系数ATE的计算方法如下所示：
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE040
；
所述Max（GDist）即为获取高线损序列GDist中元素的最大值，所述Min（GDist）即 为获取高线损序列GDist中元素的最小值，所述len（GDist）即为获取高线损序列GDist的序 列长度，所述
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE042
即为获取低线损序列LDist的最大值，所述
Figure DEST_PATH_IMAGE044
即为 获取低线损序列LDist的最小值，所述
Figure DEST_PATH_IMAGE012AA
即为获取低线损序列LDist的算数平 均值，所述log（）为底数为2的对数函数，所述ln（）即为自然对数函数，所述线损增势系数 ATE表示对线缆在一周期内的线损随着运行时长的增加而增加的幅度；
（计算线损增势系数ATE的有益效果为：通过周期内多个节点时刻的线损率分析并计算，可以得到通讯线缆随着运行时间的增加而增加的系数，通过所述损增势系数ATE可以计算得到温度值对线损率的影响。）
记
Figure DEST_PATH_IMAGE014_5A
为第i个采集节点获取的差值序列Dist中第一个线损率差值，将
Figure DEST_PATH_IMAGE014_6A
通过与所 述低线损序列LDist中的最小值
Figure DEST_PATH_IMAGE016AAAA
进行比较得到比值
Figure DEST_PATH_IMAGE014_7A
/
Figure DEST_PATH_IMAGE016_5A
，记
Figure DEST_PATH_IMAGE018_5A
为第i个采集节点获取的差值序列Dist中最后一个线损率差值，将所述低线损序列LDist中 的最大值
Figure DEST_PATH_IMAGE042A
通过与
Figure DEST_PATH_IMAGE018_6A
进行比较得到比值
Figure DEST_PATH_IMAGE042AA
/
Figure DEST_PATH_IMAGE018_7A
，将所述比值
Figure DEST_PATH_IMAGE014_8A
/
Figure DEST_PATH_IMAGE016_6A
和
Figure DEST_PATH_IMAGE042AAA
/
Figure DEST_PATH_IMAGE018_8A
结合低线损序列中的元素通过计算得到线损稳定系数 STA，
Figure DEST_PATH_IMAGE046
，
所述
Figure DEST_PATH_IMAGE048
为低线损序列LDist的最 小值、平均值和最大值这三个值的平均数。
（计算线损稳定系数STA的有益效果为：通过低线损序列LDist中的最小值、平均值和最大值求其平均数，将所述线损低线损状态下的通讯线缆的线损率进行计算得到线损稳定系数STA，通过线损稳定系数STA可以对所述因线损而升高的温度值进行约束，并对高于所述约束条件的通讯线缆进行电阻值的检测。）
进一步地，通过在数据库中提取采集的温度值构建温度值序列Wist，并将温度值序列Wist中时间戳进行无量纲化处理，得到时间段序数，将序列Wist中的元素与时间段序数相对应，在温度值序列Wist中所含元素与所述监测序列MON的元素的数量相同都为n，通过所述线损稳定值计算得到温度稳定值WTA，将所述Wist（i）的取值范围定义在所述线损稳定值WTA区间之内即为稳定温度值，所述温度稳定值WTA的计算如下式所示：
Figure DEST_PATH_IMAGE050
，
所述
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE028A
为底数为e的指数函数，
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE030A
为自然对数，所述
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE032A
为温度值
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE034A
影响线损增势的因素，所述
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE036A
则为监测序列
Figure 100002_DEST_PATH_IMAGE038A
中的线损率的线损增势因素；
定义所述Wist（i）的约束范围为Wist（i）≤WTA，将所述温度值控制在温度稳定值WTA以下，保证通讯线缆的线损率保持在合理范围以内。
（计算温度稳定值WTA的有益效果为：通过所述线损稳定系数STA和所述线损增势系数ATE进行计算得到温度稳定值WTA，所述温度稳定值WTA的主要作用为通讯线缆运行时的温度值的约束条件，通过所述约束条件对通讯线缆的线损率和因为温度值影响的传输效率进行筛选，以保证通讯线缆的线损率不会超过要求的范围以及通讯线缆的线损率不会影响到通讯线缆的传输效率。）
进一步地，通过在通讯线缆的所述温度值Wist（i）进行检测，若温度值过高的通讯线缆，则说明该通讯线缆的阻值过高，通过在数据库中的输入电压值，与输入电流值进行计算得到通电时因温度影响的通讯线缆的电阻值，反复多次对通讯线缆的阻值进行测试，直到确定所述通讯线缆在通讯状态下并未出现温度值超过约束范围的情况，再通过在数据库中搜索所获取的通讯线缆基础数据，对所述通讯线缆进行线损率过高的原因在进行进一步排查，并且通过所述线缆信息传输效率与所述电阻值进行对应，将所述通讯线缆的信息传输效率与电阻值达标后，即对所述通讯线缆测试完成。
如图2所示的一种通讯线缆的线损测试系统，所述系统包括：温度传感器、电流钳、电压钳、欧姆表、处理器和存储器，所述温度传感器、电流钳、电压钳和欧姆表获取的数据可存储在存储器中，通过处理器得到的数据也可存储在存储器中，所述温度传感器和存储器可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时可实现上述方法中的任意一项通讯线缆的线损测试方法中的步骤。
所述系统中各个部分的功能为：
电流钳、电压钳和欧姆表：为获取通讯线缆的电流值、电压值和电阻值的测量仪器，将获取到的数据通过存储器存储在数据库中；
温度传感器：为采集线缆在运行过程中的温度变化，将采集到的温度数据通过存储器存储在数据库中；
处理器：对数据进行处理，将所述电流钳、电压钳、欧姆表和温度传感器中获取和采集的数据在数据库中进行提取，并对所述数据进行处理；
存储器：对数据进行存储，所述存储器中含有数据库，用于存储所述电流钳、电压钳、欧姆表和温度传感器中获取和采集的数据和处理器中处理后的数据，以及可以让处理器在数据库中进行数据提取。
所述一种通讯线缆的线损测试系统可以运行于桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端数据中心等计算设备中。所述一种通讯线缆的线损测试系统包括，但不仅限于，处理器、存储器。本领域技术人员可以理解，所述例子仅仅是一种通讯线缆的线损测试方法及系统的示例，并不构成对一种通讯线缆的线损测试方法及系统的限定，可以包括比例子更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如所述一种通讯线缆的线损测试系统还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
所称处理器可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器 (Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立元器件门电路或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等，所述处理器是所述一种通讯线缆的线损测试系统的控制中心，利用各种接口和线路连接整个一种通讯线缆的线损测试系统的各个分区域。
所述存储器可用于存储所述计算机程序和/或模块，所述处理器通过运行或执行存储在所述存储器内的计算机程序和/或模块，以及调用存储在存储器内的数据，实现所述一种通讯线缆的线损测试方法及系统的各种功能。所述存储器可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序(比如声音播放功能、图像播放功能等)等；存储数据区可存储根据手机的使用所创建的数据(比如音频数据、电话本等)等。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如硬盘、内存、插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card,SMC)，安全数字(SecureDigital ,SD)卡，闪存卡(Flash Card)、至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。
本发明提供了一种通讯线缆的线损测试方法及系统，通过将采集的通讯线缆的基础数据，通过基础数据计算得到线损率，并将线损率通过序列分析得到更加准确的线损率数值，并通过线损率与通讯线缆因为运行产生的温度值结合分析，得到线损转化为温度值并对线缆的信息传输的影响的稳定值区间，并将数据控制在稳定值区间中，保证线缆的线损率和信息传输效率不会受到较大的影响。
尽管本发明的描述已经相当详尽且特别对几个所述实施例进行了描述，但其并非旨在局限于任何这些细节或实施例或任何特殊实施例，从而有效地涵盖本发明的预定范围。此外，上文以发明人可预见的实施例对本发明进行描述，其目的是为了提供有用的描述，而那些目前尚未预见的对本发明的非实质性改动仍可代表本发明的等效改动。

Claims (3)

1.一种通讯线缆的线损测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
S100：将在通讯状态下的通讯线缆基础数据进行采集；
S200：通过采集一段周期的基础数据并通过计算得到线损率；
S300：采集在一段周期内线缆的温度值；
S400：通过多组通讯线缆的线损率与线缆温度变化构建监测序列；
S500：通过监测序列中的数据进行分析得到线损测试结果；
在所述步骤S200中，在一段周期内通过多个不同的时间段的采集点，采集通讯线缆基础数据，并将采集点的时间顺序构建时间戳并储存在数据库中，通过提取数据库中的输入的电流值
Figure DEST_PATH_IMAGE002A
和输出的电流值
Figure DEST_PATH_IMAGE004A
计算得到输入电量J和输出 电量T，J=
Figure DEST_PATH_IMAGE002AA
×t，T=
Figure DEST_PATH_IMAGE004AA
×t，t为采集间隔时间，t=1h，所述J和T均为随输入的电流值
Figure DEST_PATH_IMAGE002AAA
和输出的电流值
Figure DEST_PATH_IMAGE004AAA
变化的变量，通过输入电量J与所述输出电量T的比值得到线损率ΔP，ΔP=（1-（T/J））cosφ×100%，所述cosφ为用于调节初始功率变化的功率因数，所述功率因数为固定常数；
在所述步骤S300中，通过温度传感器采集通讯线缆在通讯状态下的温度变化，将采集到的温度变化定义为温度值，采集温度值与采集通讯线缆基础数据周期相同，并将温度值通过与采集通讯线缆基本数据相同的周期与采集间隔进行采集，并且将采集的时刻构建时间戳，并将时间戳与温度值一起储存进入数据库中；
在所述步骤S400中，将所述线损率ΔP通过对其采集的时间序列进行排序并构成监测序列MON，所述监测序列MON的元素总量为n，通过时间顺序将所述线损率序列中所有的线损率与前一时刻的线损率进行差值计算，并将得到的差值构建差值序列Dist，并将差值序列Dist通过序列中的元素大小进行划分，当Dist[i]≥0时，将所述元素划分为高线损序列GDist，当Dist[i]＜0时，将所述元素划分为低线损序列LDist，所述Dist[i]为差值序列的第i位元素，将所述高线损序列GDist中的元素进行筛选并计算出线损增势系数，所述线损增势系数ATE的计算方法如下所示：
Figure DEST_PATH_IMAGE006A
；
所述Max（GDist）即为获取高线损序列GDist中元素的最大值，所述Min（GDist）即为获取高线损序列GDist中元素的最小值，所述len（GDist）即为获取高线损序列GDist的序列长度，所述
Figure DEST_PATH_IMAGE008A
即为获取低线损序列LDist的最大值，所述
Figure DEST_PATH_IMAGE010A
即为获取低线损序列LDist的最小值，所述
Figure DEST_PATH_IMAGE012A
即为获取低线损序列LDist的算数平均值，所述log（）为底数为2的对数函数，所述ln（）即为自然对数函数，所述线损增势系数ATE表示对线缆在一周期内的线损随着运行时长的增加而增加的幅度；
记
Figure DEST_PATH_IMAGE014A
为第i个采集节点获取的差值序列Dist中第一个线损率差值，将
Figure DEST_PATH_IMAGE014AA
通过与所述低线损序列LDist中的最小值
Figure DEST_PATH_IMAGE016A
进行比较得到比值
Figure DEST_PATH_IMAGE014AAA
/
Figure DEST_PATH_IMAGE016AA
，记
Figure DEST_PATH_IMAGE018A
为第i个采集节点获取的差值序列Dist中最后一个线损率差值，将所述低线损序列LDist中的最大值
Figure DEST_PATH_IMAGE020A
通过与
Figure DEST_PATH_IMAGE018AA
进行比较得到比值
Figure DEST_PATH_IMAGE020AA
/
Figure DEST_PATH_IMAGE018AAA
，将所述比值
Figure DEST_PATH_IMAGE014AAAA
/
Figure DEST_PATH_IMAGE022A
和
Figure DEST_PATH_IMAGE024A
/
Figure DEST_PATH_IMAGE018AAAA
结合低线损序列中的元素通过计算得到线损稳定系数STA，
Figure DEST_PATH_IMAGE026A
，
所述
Figure DEST_PATH_IMAGE028A
为低线损序列LDist的最小值、平均值和最大值这三个值的平均数；
通过在数据库中提取采集的温度值构建温度值序列Wist，并将温度值序列Wist中时间戳进行无量纲化处理，得到时间段序数，将序列Wist中的元素与时间段序数相对应，在温度值序列Wist中所含元素与所述监测序列MON的元素的数量相同都为n，通过所述线损稳定值计算得到温度稳定值WTA，将所述Wist（i）的取值范围定义在所述线损稳定值区间之内即为稳定温度值，所述温度稳定值WTA的计算如下式所示：
Figure DEST_PATH_IMAGE030A
，
所述
Figure DEST_PATH_IMAGE032A
为底数为e的指数函数，
Figure DEST_PATH_IMAGE034A
为自然对数，所述
Figure DEST_PATH_IMAGE036A
为温度值
Figure DEST_PATH_IMAGE038A
影响线损增势的因素，所述
Figure DEST_PATH_IMAGE040
则为监测序列
Figure DEST_PATH_IMAGE042
中的线损率的线损增势因素；
定义所述Wist（i）的约束范围为Wist（i）≤WTA，将所述温度值控制在温度稳定值WTA以下，保证通讯线缆的线损率保持在合理范围以内；
通过在通讯线缆的所述温度值Wist（i）进行检测，若温度值过高的通讯线缆，则说明该通讯线缆的阻值过高，通过在数据库中的输入电压值，与输入电流值进行计算得到通电时因温度影响的通讯线缆的电阻值，反复多次对通讯线缆的阻值进行测试，直到确定所述通讯线缆在通讯状态下并未出现温度值超过约束范围的情况，再通过在数据库中搜索所获取的通讯线缆基础数据，对所述通讯线缆进行线损率过高的原因在进行进一步排查，并且通过所述线缆信息传输效率与所述电阻值进行对应，将所述通讯线缆的信息传输效率与电阻值达标后，即对所述通讯线缆测试完成。
2.根据权利要求1所述的一种通讯线缆的线损测试方法，其特征在于，在所述步骤S100中，所述通讯状态下的通讯线缆基础数据包括：通讯状态下线缆电压值，输入的电源电压值，线缆双向电流值，线缆信息传输效率和通讯线缆的电阻值，在一段周期中，每经过1h收集一次所述通讯线缆基础数据，并将所述通讯线缆基础数据储存进入数据库中。
3.一种通讯线缆的线损测试系统，其特征在于，所述系统包括：温度传感器、电流钳、电压钳、欧姆表、处理器和存储器，所述温度传感器、电流钳、电压钳和欧姆表获取的数据可存储在存储器中，通过处理器得到的数据也可存储在存储器中，所述温度传感器和存储器可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时可实现权利要求1-2中的任意一项所述的 通讯线缆的线损测试方法中的步骤。
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