CN115493724B - 线束热敏电阻检测方法、装置、电阻检测仪和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及本申请提供一种线束热敏电阻检测方法、装置、电阻检测仪和存储介质，属于电阻检测的技术领域，其中方法包括：获取待测线束中待测热敏电阻的批次；获取与待测热敏电阻同批次的样本热敏电阻的参考数据，所述样本热敏电阻数据均包括多个温度及对应的参考阻值；基于每个所述参考阻值和第一预设比例，确定每个温度下对应的阻值范围；获取至少一个检测温度；获取在每个所述检测温度下所述待测热敏电阻的第一阻值；判断所述第一阻值是否位于所述检测温度下对应的阻值范围内；若是，则确定所述待测线束中的待检测热敏电阻为良品；否则，确定所述待测线束中的待检测热敏电阻为次品。本申请具有提高检测准确性的效果。
Description
技术领域
本申请涉及电阻检测的技术领域，尤其是涉及一种线束热敏电阻检测方法、装置、电阻检测仪和存储介质。
背景技术
在动力电池的线束加工中，需要将热敏电阻集成到线束中，由于成本考虑一般使用NTC热敏电阻。
在检测线束中的热敏电阻时，由于热敏电阻的阻值与温度关系为非线性规律，因此一般以查验标准阻值数据表的方式，对当前检测温度下对应的热敏电阻的阻值来进行品质检测。将热敏电阻的检测阻值与标准数据表中的标准阻值比较，当检测阻值位于标准阻值的允许误差范围内，则被测热敏电阻在检测温度下的阻值正常。
然而，不同批次的热敏电阻在每个温度下对应的阻值会有一定的差异，通过查表方式进行品质检测时，检测结果不准确。
发明内容
为了提高检测准确性，本申请提供一种线束热敏电阻检测方法、装置、电阻检测仪和存储介质。
第一方面，本申请提供一种线束热敏电阻检测方法，采用如下的技术方案：
获取待测线束中待测热敏电阻的批次；
获取与待测热敏电阻同批次的样本热敏电阻的参考数据，所述样本热敏电阻数据均包括多个温度及对应的参考阻值；
基于每个所述参考阻值和第一预设比例，确定每个温度下对应的阻值范围；
获取至少一个检测温度；
获取在每个所述检测温度下所述待测热敏电阻的第一阻值；
判断所述第一阻值是否位于所述检测温度下对应的阻值范围内；若是，则确定所述待测线束中的待检测热敏电阻为良品；
否则，确定所述待测线束中的待检测热敏电阻为次品；通过采用上述技术方案，电阻检测仪获取待测线束中待测热敏电阻的批次，进而获取同批次的样本热敏电阻的参考数据，并根据待测热敏电阻在检测温度下的第一阻值与对应的参考数据比较，若检测到的第一阻值位于检测温度下参考阻值的阻值范围内，则确定待测线束中的待测热敏电阻为良品，否则确定为次品。因此能减小因产品批次不同而导致的检测误差。
进一步地，所述获取与待测热敏电阻同批次的样本热敏电阻的参考数据，包括：
基于所述多个同批次热敏电阻中任一热敏电阻，确定当前热敏电阻在不同温度下的样本阻值；
根据当前热敏电阻在任一温度下的样本阻值，与预存的良品数据表中对应温度下的标准阻值比较，判断所述样本阻值是否位于标准阻值的预设范围内，所述标准阻值的预设范围为所述标准阻值与第二预设比例相乘，所述第一预设比例小于或等于所述第二预设比例；若是，则确定当前温度下当前热敏电阻正常；否则，确定当前温度下当前热敏电阻异常；
确定判断所述当前热敏电阻在不同温度下的样本阻值是否位于标准阻值的预设范围内被确定为正常的次数与判断次数的比值，当所述比值达到预设比值，则将当前热敏电阻确定为良品，并保存所述当前热敏电阻的热敏电阻数据；
当所述比值未达到预设比值，则将当前热敏电阻确定为次品；
基于同一检测温度时，计算各个同批次良品的阻值的平均值得到对应的参考阻值。
通过采用上述技术方案，电阻检测仪检测与待测电阻同一批次的多个热敏电阻的检测数据，得到在不同检测温度下的样本阻值，并将样本阻值与预存良品数据表中的标准值比较，进而确定检测温度下的样本阻值是否正常，并通过多个检测温度下样本阻值的判定，并依据被判定为正常的次数与判断次数的比值，从而挑选出多个良品的同批次热敏电阻，进而得到更为准确的同批次热敏电阻的参考数据。
进一步地，当所述待测线束中待测热敏电阻的所述第一阻值位于所述检测温度下对应的参考阻值的阻值范围内，且所述第一阻值与所述参考阻值的差值、与所述阻值范围的上限和下限的差值的比值达到预设比时，所述方法还包括：
获取不断升高或不断降低的当前检测温度；
分别获取待测线束中的待检测热敏电阻在各个检测温度下对应的第一阻值；
基于所述各个所述检测温度以及对应的第一阻值，生成所述待检测热敏电阻的第一特性曲线；
基于样本热敏电阻的参考数据，生成样本热敏电阻的第二特性曲线；
确定所述第一特性曲线和所述第二特性曲线的相关异常值；
当所述相关异常值达到预设值，则确定所述待测线束中的待检测热敏电阻为次品。
通过采用上述技术方案，当待测热敏电阻的第一阻值符合预设范围的要求，但与参考阻值的差值较大时，电阻检测仪获取待测热敏电阻在多个不同检测温度下的第一阻值，根据多个检测温度下的第一阻值生成第一特性曲线，电阻检测仪生成参考热敏电阻的第二特性曲线，进而判断第一特性曲线和第二特性曲线的相关异常值，根据相关异常值的大小确定待测热敏电阻是否为良品，从而减小只通过一个检测温度下的第一阻值来判断良品的误差。
进一步地，所述确定所述第一特性曲线和所述第二特性曲线的相关异常值，包括：
确定在每个检测温度时，所述第二阻值与所述检测温度下对应的参考阻值的差值；
确定第二个差值与第一个差值之间的关系，所述关系包括小于、大于和等于中任一种；
重复执行循环步骤，直至遍历所有检测温度对应的差值，得到相关异常值。
所述循环步骤包括：
确定第二个差值为当前差值，将下一个差值与当前差值的关系确定为当前关系；
判断当前关系与上一个关系是否一致；若一致，所述相关异常值加零；
否则，判断所述当前差值与下一个差值的符号是否相同，若相同，所述相关异常值加一；
若不相同，则基于当前差值对应的检测温度生成相关常数，将所述相关常数与所述相关异常值相乘，更新所述相关异常值。
通过采用上述技术方案，电阻检测仪确定待测电阻的每个第二阻值与参考阻值的差值，进而得到两相邻差值之间的关系，根据关系来评价第一特性曲线是否为连续的，当第一特性曲线与第二特性曲线的走向趋向相同，则相关异常值为零，当第一特性曲线与第二特性曲线的走向不同，或者有明显的波折，则相关异常值大于零，便于电阻检测仪根据相关异常值的数据评估待测电阻是否为良品。
进一步地，当任一待检测热敏电阻的第一特性曲线和所述第二特性曲线的相关异常值达到预设值时，所述方法还包括：
从大数据中获取与当前热敏电阻同型号的多种批次的对比热敏电阻的第三特性曲线；
将当前热敏电阻的第一特性曲线与各个批次的所述对比热敏电阻的第三特性曲线对比，确定所述第一特性曲线与各个所述第三特性曲线的相关异常值；
筛选出所述相关异常值为零、且所述第三特性曲线位于所述第一特性曲线第二预设范围内、且所述第三特性曲线最接近所述第一特性曲线的一个对比热敏电阻；
获取所述一个对比热敏电阻的批次；
将当前热敏电阻的批次修改为所述一个对比热敏电阻的批次。
通过采用上述技术方案，当待测热敏电阻的第一特性曲线与第二特性曲线的相关异常值达到预设值时，电阻检测仪则从大数据中获取与当前热敏电阻同型号的多个批次的热敏电阻的相关数据，将第一特性曲线与第三特性曲线对比，判断待测热敏电阻是否可被归类为其他批次，若待测热敏电阻与其他批次的电阻特性相似，则待测热敏电阻不一定为次品，可被再次利用。
在另一种可能的实现方式中，所述方法还包括：
每隔预设时间从所述良品中选取任一线束作为抽检样品；
获取各个所述抽检样品在各个检测温度时对应的第一阻值；
确定在每个检测温度时，所述第一阻值与所述检测温度下对应的参考阻值的差值；
判断各个所述差值是否逐渐增大、逐渐减小和相等中任一种；若是，则确定所述抽检样品为良品；
否则，确定所述抽检样品为次品。
通过采用上述技术方案，为了保持监测过程的稳定，电阻检测仪每隔预设时间进行一次抽检，判断待测热敏电阻的阻值是否连续且与参考热敏电阻的阻值相近。
第二方面，本申请提供一种线束热敏电阻检测装置，采用如下的技术方案：
批次获取模块，用于获取待测线束中待测热敏电阻的批次；
参考数据获取模块，用于获取与所述待测热敏电阻同批次的样本热敏电阻的参考数据，所述样本热敏电阻数据均包括多个温度及对应的参考阻值；
阻值范围确定模块，用于基于每个所述参考阻值和第一预设比例，确定每个温度下对应的阻值范围；
检测温度获取模块，用于获取至少一个检测温度；
第一阻值获取模块，用于获取在每个所述检测温度下所述待测热敏电阻的第一阻值；
判断模块，用于判断所述第一阻值是否位于所述检测温度下对应的阻值范围内；
第一确定模块，用于在判断模块判断为是时，确定所述待测线束中的待检测热敏电阻为良品；
第二确定模块，用于在判断模块判断为否时，确定所述待测线束中的待检测热敏电阻为次品。
通过采用上述技术方案，批次获取模块获取待测线束中待测热敏电阻的批次，进而参考数据获取模块获取同批次的样本热敏电阻的参考数据，阻值范围确定模块确定每个温度下对应的阻值范围，判断模块根据待测热敏电阻在检测温度下的第一阻值与对应的参考数据比较，若检测到的第一阻值位于检测温度下参考阻值的阻值范围内，则第一确定模块确定待测线束中的待测热敏电阻为良品，否则第二确定模块确定为次品。因此能减小因产品批次不同而导致的检测误差。
第三方面，本申请提供一种电阻检测仪，采用如下的技术方案：
一种电阻检测仪，包括：
至少一个处理器；
存储器；
至少一个应用程序，其中所述至少一个应用程序被存储在所述存储器中并被配置为由所述至少一个处理器执行，所述至少一个应用程序配置用于：执行如第一方面中任一项所述的一种线束热敏电阻检测方法。
通过采用上述技术方案，处理器加载并执行存储器中存储的应用程序，获取待测线束中待测热敏电阻的批次，进而获取同批次的样本热敏电阻的参考数据，并根据待测热敏电阻在检测温度下的第一阻值与对应的参考数据比较，若检测到的第一阻值位于检测温度下参考阻值的阻值范围内，则确定待测线束中的待测热敏电阻为良品，否则确定为次品。因此能减小因产品批次不同而导致的检测误差。
第四方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，采用如下的技术方案：
一种计算机可读存储介质，存储有能够被处理器加载并执行如第一方面中任一项所述的一种线束热敏电阻检测方法的计算机程序。
通过采用上述技术方案，处理器加载并执行计算机可读存储介质中存储的应用程序，获取待测线束中待测热敏电阻的批次，进而获取同批次的样本热敏电阻的参考数据，并根据待测热敏电阻在检测温度下的第一阻值与对应的参考数据比较，若检测到的第一阻值位于检测温度下参考阻值的阻值范围内，则确定待测线束中的待测热敏电阻为良品，否则确定为次品。因此能减小因产品批次不同而导致的检测误差。
综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：
1.电阻检测仪获取待测线束中待测热敏电阻的批次，进而获取同批次的样本热敏电阻的参考数据，并根据待测热敏电阻在检测温度下的第一阻值与对应的参考数据比较，若检测到的第一阻值位于检测温度下参考阻值的阻值范围内，则确定待测线束中的待测热敏电阻为良品，否则确定为次品。因此能减小因产品批次不同而导致的检测误差；
2. 当待测热敏电阻的第一阻值符合预设范围的要求，但与参考阻值的差值较大时，电阻检测仪根据相关异常值的大小确定待测热敏电阻是否为良品，从而减小只通过一个检测温度下的第一阻值来判断良品的误差。
附图说明
图1是本申请实施例中线束热敏电阻检测方法的流程示意图。
图2 是本申请实施例中线束热敏电阻检测装置的结构框图。
图3是本申请实施例中电阻检测仪的结构框图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
另外，本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，如无特殊说明，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
本申请实施例公开一种线束热敏电阻检测方法。参照图1，由电阻检测仪执行，包括（步骤S101～步骤S108）：
步骤S101：获取待测线束中待测热敏电阻的批次。
具体地，待测线束为动力电池的线束，待测热敏电阻集成在待测线束中。在生产当中，同批次的热敏电阻被集成在同一批线束中，检测人员在开始检测一批线束之前，查看待测热敏电阻的批次，电阻检测仪通过检测人员的输入操作获得待测热敏电阻的批次。
步骤S102：获取与待测热敏电阻同批次的样本热敏电阻的参考数据，样本热敏电阻数据均包括多个温度及对应的参考阻值。
具体地，由于不同批次的热敏电阻的电阻特性有细微区别，为了提高检测精细度，本申请通过同批次的、且为良品的样本热敏电阻的参考数据作为检测对比时的标准。
电阻检测仪首先判断是否保存有同批次的样本热敏电阻的参考数据，若已保存，则电阻检测仪调用相应的同批次的样本热敏电阻的参考数据。
若电阻检测仪未保存，电阻检测仪生成提示信息，提示检测人员录入同批次的样本热敏电阻的参考数据，其中，电阻检测仪获取与待测热敏电阻同批次的样本热敏电阻的参考数据的步骤包括（步骤S1021～步骤S1028）：
步骤S1021：对于多个同批次热敏电阻中任一热敏电阻，确定当前热敏电阻在不同温度下的样本阻值。
具体地，检测人员挑选出多个同批次热敏电阻，并用升温装置使当前热敏电阻升温，温度由低到高逐渐升高，电阻检测仪与升温装置以及当前热敏电阻连接，电阻检测仪保存每一个温度下当前热敏电阻的样本阻值。
步骤S1022：根据当前热敏电阻在任一温度下的样本阻值，与预存的良品数据表中对应温度下的标准阻值比较，判断样本阻值是否位于标准阻值的预设范围内，标准阻值的预设范围为标准阻值与第二预设比例相乘，第一预设比例小于或等于第二预设比例；若是，则执行步骤S1023；否则，执行步骤S1024。
具体地，电阻检测仪预存有良品数据表，良品数据表为热敏电阻的行业标准，良品数据表包括各个温度对应的标准阻值。电阻检测仪根据标准阻值与第二预设比值相乘，可以得到每个标准阻值对应的预设范围，其中，第二预设比值根据实际需要选择，一般选取±5%、±10%或±15%等。
例如，当温度为10℃时，热敏电阻的标准阻值为19.9kΩ，第二预设比值为±15%，则标准阻值在10℃下的预设范围为16.9 kΩ～22.9 kΩ，以此类推，电阻检测仪得到每个温度对应的标准阻值的预设范围。
步骤S1023：确定当前温度下当前热敏电阻正常。
步骤S1024：确定当前温度下当前热敏电阻异常。
具体地，当电阻检测仪确定样本阻值位于标准阻值的预设范围内，则当前温度下当前热敏电阻正常，否则，当前温度下当前热敏电阻异常。
步骤S1025：确定判断当前热敏电阻在不同温度下的样本阻值是否位于标准阻值的预设范围内被确定为正常的次数与判断次数的比值，当比值达到预设比值，则执行步骤S1026；否则，执行步骤S1027。
具体地，电阻检测仪依次检测多个检测温度下的样本阻值，并对每个样本阻值均与对应温度下的标准阻值的预设范围比较，并保存判断结果。
步骤S1026：将当前热敏电阻确定为良品，并保存当前热敏电阻的热敏电阻数据。
步骤S1027：则将当前热敏电阻确定为次品。
具体地，预设比值可以根据具体情况设备，为了保证检测精确性，预设比值可以选取90%以上。比值越大，则对应的热敏电阻更符合良品的要求。
步骤S1028：基于同一检测温度时，计算各个同批次良品的样本阻值的平均值得到对应的参考阻值。
具体地，电阻检测仪得到每个检测温度对应的参考阻值，即保存样本热敏电阻的参考数据。
步骤S103：基于每个参考阻值和第一预设比例，确定每个温度下对应的阻值范围。
具体地，第一预设比例与上文中计算标准阻值对应的预设范围的方法相同，当第一预设比例与第二预设比例相等时，进而电阻检测仪将每个参考阻值和第一预设比例相乘，计算得到每个温度下对应的阻值范围。
在另一种可能的实现方式中，为了提高检测精度，电阻检测仪基于与待测热敏电阻同批次的样本热敏电阻的参考数据，确定第一预设比例，确定第一预设比例小于第二预设比例，具体步骤包括（步骤S11～步骤S14）：
步骤S11：确定每个检测温度下对应的样本阻值的最高值和最低值，删除最高值和最低值中，超出标准阻值的预设范围的样本阻值。
具体地，电阻检测仪将超出最大限值和最小限值的样本阻值删除，保留位于标准阻值的预设范围内的样本阻值，进而计算得到的样本阻值的预设范围位于标准阻值的预设范围内。
步骤S12：计算每个温度下对应的最高值与参考阻值的第一差值、最低值与参考阻值的第二差值。
步骤S13：将每个温度下对应的第一差值和参考阻值相除，计算得到第一比例，基于每个温度下对应的第二差值和参考阻值相除，计算得到第二比例。
步骤S14：确定各个温度下对应的多个第一比例和第二比例中最小的为第一预设比例。
具体地，电阻测试仪选择第一比例和第二比例中最小的值作为第一预设比例，那么根据样本阻值和第一预设比例计算得到的样本阻值的预设范围位于标准阻值的预设范围内，便于筛选出更贴合参考阻值的热敏电阻，提高检测精度。
步骤S104：获取至少一个检测温度。
具体地，电阻检测仪在进行批量检测时，为了提高检测效率，可以只获取在环境温度下待测热敏电阻的阻值，因此电子检测仪可以与设置在同一检测环境中的温度传感器连接，获取至少一个环境温度。
步骤S105：获取在每个检测温度下待测热敏电阻的第一阻值。
具体地，当电阻检测仪获取一个环境温度时，则对应获取一个第一阻值。
步骤S106：判断第一阻值是否位于检测温度下对应的阻值范围内；若是，则执行步骤S107；否则，执行步骤S108。
步骤S107：确定待测线束中的待检测热敏电阻为良品。
步骤S108：确定待测线束中的待检测热敏电阻为次品。
具体地，若第一阻值在检测温度下对应的阻值范围内，则电阻检测仪可以确定待测线束中的待检测热敏电阻为良品。
在另一种可能的实现方式中，为了提高检测精度，当待检测热敏电阻的第一阻值接近阻值范围的上限或下限时，进一步验证待检测热敏电阻是否为良品，即当待测线束中待测热敏电阻的第一阻值位于检测温度下对应的参考阻值的阻值范围内，且第一阻值与参考阻值的差值、与阻值范围的上限和下限的差值的比值达到预设比时，方法还包括（步骤S21～步骤S26）：
其中，第一阻值与参考阻值的差值即为待检测热敏电阻的阻值偏差，而阻值范围的上限和下限的差值即为偏差跨度，当阻值偏差与偏差跨度的比值达到预设比时，则表示待检测热敏电阻的第一阻值接近阻值范围的上限或下限。预设比最大可为0.5，为了提高检测精度，可以减小预设比的大小。
步骤S21：获取不断升高或不断降低的当前检测温度。
具体地，电阻检测仪与升降温装置连接，升降温装置改变检测温度，电阻检测仪通过升降温装置获取当前检测温度的变化情况。其中，升降温装置可以采用油槽/水槽，是本领域常用的升降温装置，常用于检测热敏电阻的油槽方法中。
步骤S22：分别获取待测线束中的待检测热敏电阻在各个检测温度下对应的第一阻值。
具体地，电子设备可以通过升降温装置获取多个呈规律变化的检测温度，进而检测待检测热敏电阻在变化的检测温度对应的多个第一阻值。
步骤S23：基于各个检测温度以及对应的第一阻值，生成待检测热敏电阻的第一特性曲线。
具体地，电阻检测仪以检测温度为横坐标，第一阻值为纵坐标建立坐标系，以此根据多个检测温度以及对应的第一阻值生成第一特性曲线。电阻检测仪可以连接显示器，并将第一特性曲线在显示器上显示，便于检测人员更直观地观察待测热敏电阻的特性。
步骤S24：基于样本热敏电阻的参考数据，生成样本热敏电阻的第二特性曲线。
具体地，电阻检测仪以温度为横坐标，参考阻值为纵坐标建立坐标系，根据多个温度以及对应的参考阻值，生成第二特性曲线，并可以将第二特性曲线与第一特性曲线显示在一个坐标系中，便于检测人员直接观察到两待测热敏电阻的特性。
步骤S25：确定第一特性曲线和第二特性曲线的相关异常值。
步骤S26：当相关异常值的绝对值达到预设值，则确定待测线束中的待检测热敏电阻为次品。
其中，相关异常值可以代表第一特性曲线和第二特性曲线是否相似，若相关异常值达到预设值，则第一特性曲线与第二特性曲线的差异较大，可以确定待检测热敏电阻为次品。
进一步地，电阻检测仪确定第一特性曲线和第二特性曲线的相关异常值，包括（步骤S31～步骤S35）：
步骤S31：确定在每个检测温度时，第一阻值与检测温度下对应的参考阻值的差值。
具体地，当检测温度为10℃时，同批次的热敏电阻的参考阻值为19.5 kΩ，预设比值为±15%，10℃对应的阻值范围为16.6 kΩ～22.4 kΩ。
例如，当检测温度为10℃时，待测热敏电阻的第一阻值为20.2 kΩ，与参考阻值的差值为0.7 kΩ。
同理，电阻检测仪可以获取多个检测温度下对应的差值，如-30℃～30℃范围内，每个检测温度对应的差值。
步骤S32：确定第二个差值与第一个差值之间的关系，关系包括小于、大于和等于中任一种。
例如，第二个差值为2.1，第一个差值为2.0，则第二个差值与第一个差值的关系为小于。
步骤S33：确定相关异常值的初始值。
具体地，由于下文需要对相关异常值进行乘积运算，为了防止乘0而出现计算清零的情况发生，电阻检测仪确定一个初始值。
步骤S34：重复执行循环步骤S35，直至遍历所有检测温度对应的差值，得到相关异常值。
循环步骤S35包括（步骤S351～步骤S356）：
步骤S251：确定第二个差值为当前差值，将下一个差值与当前差值的关系确定为当前关系。
具体地，当前差值为第二个差值时，下一个差值即为第三个差值，第三个差值为2.0，则当前关系为等于。
步骤S352：判断当前关系与上一个关系是否一致；若一致，执行步骤S353；否则，执行步骤S254～步骤S355。
步骤S353：相关异常值加零。
具体地，若当前关系与上一个关系一致时，代表待检测电阻的第一阻值与参考阻值之间的差值，包括不断增大、不断减小和不变三种情况，而待检测电阻的第一阻值随温度变化的规律仍符合热敏电阻的特性，因此将相关异常值加零。
以此类推，若待检测热敏电阻的差值一直呈不断增大、不断减小和不变三种情况之一，则得到的相关异常值为零。
步骤S354：判断当前差值与下一个差值的符号是否相同；若相同，执行步骤S355：相关异常值加一；若不相同，执行步骤S336。
若当前关系与上一个关系不一致，则代表待检测电阻的第一阻值与参考阻值之间的差值不断波动，即反映出第一特性曲线是曲折的，不符合热敏电阻的特性。
进一步地，若当前差值与下一个差值的符号相同，则待检测电阻的第一阻值均大于、小于或等于参考阻值，异常性较小，因此将相关异常值加一。
若当前差值与下一个差值的符号不同，则待检测电阻的第一阻值在参考阻值上下波动，异常性较大。
步骤S356：基于当前差值对应的检测温度生成相关常数，将相关常数与相关异常值相乘，更新相关异常值。
例如，若当前差值为0.3，下一个差值为-0.1，当前差值对应的检测温度为5℃，则电阻检测仪将检测温度的绝对值确定为相关常数5，进而将5与上一步计算得到的相关异常值相乘，得到新的相关异常值，且相关异常值均为正数。
当电阻检测仪显示相关异常值时，可以将计算过程一同显示，也能便于直观查看到异常位置对应的检测温度。
在另一种可能的实现方式中，当任一待检测热敏电阻的第一特性曲线和第二特性曲线的相关值为零或一时，待检测热敏电阻符合热敏电阻的特性，但与参考热敏电阻的特性有较大差异，为了精确检测，上述方法还包括（步骤S41～步骤S45）：
步骤S41：从大数据中获取与当前热敏电阻同型号的多种批次的对比热敏电阻的第三特性曲线。
步骤S42：将当前热敏电阻的第一特性曲线与各个批次的对比热敏电阻的第三特性曲线对比，确定第一特性曲线与各个第三特性曲线的第二相关异常值。
具体地，电阻检测仪将计算第一特性曲线与第三特性曲线的第二相关异常值的方法，与上述电阻检测仪计算第一特性曲线与第二特性曲线的方法相同。
步骤S43：筛选出第二相关异常值为零、且第三特性曲线位于第一特性曲线第二预设范围内、且第三特性曲线最接近第一特性曲线的一个对比热敏电阻。
步骤S44：获取一个对比热敏电阻的批次。
具体地，电阻检测仪通过第三特性曲线上，每个检测温度下对应的对比阻值，以及预设比例，计算得到第三特性曲线的第二预设范围。
电阻检测仪计算同一检测温度下，各个第一阻值与对比阻值的差值的绝对值总和，差值的绝对值总和越小，则对应的第三特性曲线与第一特性曲线最接近，进而得到第三特性曲线对应的对比热敏电阻的批次。
步骤S45：将当前待检测热敏电阻的批次修改为一个对比热敏电阻的批次。
具体地，当前待检测热敏电阻的批次被修改后，可重新判断当前待检测热敏电阻是否为良品。
在另一种可能的实现方式中，为了保持检测的准确性，电阻检测仪在预设时间内进行抽检，上述方法还包括（步骤S51～步骤S55）：
步骤S51：每隔预设时间从良品中选取任一线束作为抽检样品。
步骤S52：获取各个抽检样品在各个检测温度时对应的第一阻值。
具体地，若在检测抽检样品时，电阻检测仪只检测了一个检测温度下对应的第一阻值，则电阻检测仪与升降温装置配合，获取多个检测温度下的第一阻值。
步骤S53：确定在每个检测温度时，第一阻值与检测温度下对应的参考阻值的差值。
步骤S54：判断各个差值是否逐渐增大、逐渐减小和相等中任一种；若是，执行步骤S54：确定抽检样品为良品；否则，执行步骤S55：确定抽检样品为次品。
具体地，电阻检测仪主要根据抽检样品的特性来判断是否为良品，若抽检样品的第一阻值随着检测温度的变化是平缓的，则确定为良品。
为了更好地执行上述方法，本申请实施例还提供一种线束热敏电阻检测装置，参照图2，线束热敏电阻检测装置200包括：
批次获取模块201，用于获取待测线束中待测热敏电阻的批次；
参考数据获取模块202，用于获取与待测热敏电阻同批次的样本热敏电阻的参考数据，样本热敏电阻数据均包括多个温度及对应的参考阻值；
阻值范围确定模块203，用于基于每个参考阻值和第一预设比例，确定每个温度下对应的阻值范围；
检测温度获取模块204，用于获取至少一个检测温度；
第一阻值获取模块205，用于获取在每个检测温度下待测热敏电阻的第一阻值；
判断模块206，用于判断第一阻值是否位于检测温度下对应的阻值范围内；
第一确定模块207，用于在判断模块判断为是时，确定待测线束中的待检测热敏电阻为良品；
第二确定模块208，用于在判断模块判断为否时，确定待测线束中的待检测热敏电阻为次品。
进一步地，参考数据获取模块202在获取与待测热敏电阻同批次的样本热敏电阻的参考数据时，具体用于：
对于多个同批次热敏电阻中任一热敏电阻，确定当前热敏电阻在不同温度下的样本阻值；
根据当前热敏电阻在任一温度下的样本阻值，与预存的良品数据表中对应温度下的标准阻值比较，判断样本阻值是否位于标准阻值的预设范围内，标准阻值的预设范围为标准阻值与第二预设比例相乘，第一预设比例小于或等于第二预设比例；若是，则确定当前温度下当前热敏电阻正常；否则，确定当前温度下当前热敏电阻异常；
确定判断当前热敏电阻在不同温度下的样本阻值是否位于标准阻值的预设范围内被确定为正常的次数与判断次数的比值，当比值达到预设比值，则将当前热敏电阻确定为良品，并保存当前热敏电阻的热敏电阻数据；
当比值未达到预设比值，则将当前热敏电阻确定为次品；
基于同一检测温度时，计算各个同批次良品的样本阻值的平均值得到对应的参考阻值。
在另一种可能的实现方式中，线束热敏电阻检测装置200还包括：第一预设比例确定模块，用于基于与待测热敏电阻同批次的样本热敏电阻的参考数据，确定第一预设比例，第一预设比例小于第二预设比例，第一预设比例确定模块具体用于：
确定每个检测温度下对应的样本阻值的最高值和最低值，删除最高值和最低值中，超出标准阻值的预设范围的样本阻值；
计算每个温度下对应的最高值与参考阻值的第一差值、最低值与参考阻值的第二差值；
基于每个温度下对应的第一差值和参考阻值相除，计算得到第一比例，基于每个温度下对应的第二差值和参考阻值相除，计算得到第二比例；
确定各个温度下对应的多个第一比例和第二比例中最小的为第一预设比例。
在另一种可能的实现方式中，当待测线束中待测热敏电阻的第一阻值位于检测温度下对应的参考阻值的阻值范围内，且第一阻值与参考阻值的差值、与阻值范围的上限和下限的差值的比值达到预设比时，线束热敏电阻检测装置200还包括：
第一获取模块，用于获取不断升高或不断降低的当前检测温度；
第二获取模块，用于分别获取待测线束中的待检测热敏电阻在各个检测温度下对应的第一阻值；
第一特性曲线生成模块，用于基于各个检测温度以及对应的第一阻值，生成待检测热敏电阻的第一特性曲线；
第二特性曲线生成模块，用于基于样本热敏电阻的参考数据，生成样本热敏电阻的第二特性曲线；
相关异常值确定模块，用于确定第一特性曲线和第二特性曲线的相关异常值；
次品确定模块，用于当相关异常值达到预设值，则确定待测线束中的待检测热敏电阻为次品。
进一步地，相关异常值确定模块，具体用于：
确定在每个检测温度时，第一阻值与检测温度下对应的参考阻值的差值；
确定第二个差值与第一个差值之间的关系，关系包括小于、大于和等于中任一种；
确定相关异常值的初始值；
重复执行循环步骤，直至遍历所有检测温度对应的差值，得到相关异常值；
循环步骤：
确定第二个差值为当前差值，将下一个差值与当前差值的关系确定为当前关系；
判断当前关系与上一个关系是否一致；若一致，相关异常值加零；
否则，判断当前差值与下一个差值的符号是否相同，若相同，相关异常值加一；
若不相同，则基于当前差值对应的检测温度生成相关常数，将相关常数与相关异常值相乘，更新相关异常值。
在另一种可能的实现方式中，当任一待检测热敏电阻的第一特性曲线和第二特性曲线的相关异常值为零或一时，线束热敏电阻检测装置200还包括：
从大数据中获取与当前热敏电阻同型号的多种批次的对比热敏电阻的第三特性曲线；
将当前热敏电阻的第一特性曲线与各个批次的对比热敏电阻的第三特性曲线对比，确定第一特性曲线与各个第三特性曲线的第二相关异常值；
筛选出第二相关异常值为零、且第三特性曲线位于第一特性曲线第二预设范围内、且第三特性曲线最接近第一特性曲线的一个对比热敏电阻；
获取一个对比热敏电阻的批次；
将当前待检测热敏电阻的批次修改为一个对比热敏电阻的批次。
在另一种可能的实现方式中，线束热敏电阻检测装置200还包括：
选取模块，用于每隔预设时间从良品中选取任一线束作为抽检样品；
抽检样品第一阻值获取模块，用于获取各个抽检样品在各个检测温度时对应的第一阻值；
差值确定模块，用于确定在每个检测温度时，第一阻值与检测温度下对应的参考阻值的差值；
第二判断模块，用于判断各个差值是否逐渐增大、逐渐减小和相等中任一种；
第三确定模块，用于在第二判断模块判断为是时，确定抽检样品为良品；
第四确定模块，用于在第二判断模块判断为否时，确定抽检样品为次品。
前述实施例中的方法中的各种变化方式和具体实例同样适用于本实施例的线束热敏电阻检测装置，通过前述对线束热敏电阻检测方法的详细描述，本领域技术人员可以清楚的知道本实施例中的线束热敏电阻检测装置的实施方法，所以为了说明书的简洁，在此不再详述。
为了更好地实施以上方法，本申请实施例提供一种电阻检测仪，参照图3，电阻检测仪300包括：处理器301和存储器303。其中，存储器303与处理器301相连，如通过总线302相连。可选地，电阻检测仪300还可以包括收发器304。需要说明的是，实际应用中收发器304不限于一个，该电阻检测仪300的结构并不构成对本申请实施例的限定。
处理器301可以是CPU（Central Processing Unit，中央处理器），通用处理器，DSP（Digital Signal Processor，数据信号处理器），ASIC（Application SpecificIntegrated Circuit，专用集成电路），FPGA（Field Programmable Gate Array，现场可编程门阵列）或者其他可编程逻辑器件、晶体管逻辑器件、硬件部件或者其任意组合。其可以实现或执行结合本申请公开内容所描述的各种示例性的逻辑方框，模块和电路。通信控制板301也可以是实现计算功能的组合，例如包含一个或多个微处理器组合，DSP和微处理器的组合等。
总线302可包括一通路，在上述组件之间传送信息。总线302可以是PCI（Peripheral Component Interconnect，外设部件互连标准）总线或EISA（ExtendedIndustry Standard Architecture，扩展工业标准结构）总线等。总线302可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。
存储器303可以是ROM（Read Only Memory，只读存储器）或可存储静态信息和指令的其他类型的静态存储设备，RAM（Random Access Memory，随机存取存储器）或者可存储信息和指令的其他类型的动态存储设备，也可以是EEPROM（Electrically ErasableProgrammable Read Only Memory，电可擦可编程只读存储器）、CD-ROM（Compact DiscRead Only Memory，只读光盘）或其他光盘存储、光碟存储（包括压缩光碟、激光碟、光碟、数字通用光碟、蓝光光碟等）、磁盘存储介质或者其他磁存储设备、或者能够用于携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何其他介质，但不限于此。
存储器303用于存储执行本申请方案的应用程序代码，并由处理器301来控制执行。处理器301用于执行存储器303中存储的应用程序代码，以实现前述方法实施例所示的内容。
图3示出的电阻检测仪300仅仅是一个示例，不应对本申请实施例的功能和使用范围带来任何限制。
本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述实施例提供的线束热敏电阻检测方法，处理器加载并执行计算机可读存储介质中存储的应用程序，获取待测线束中待测热敏电阻的批次，进而获取同批次的样本热敏电阻的参考数据，并根据待测热敏电阻在检测温度下的第一阻值与对应的参考数据比较，若检测到的第一阻值位于检测温度下参考阻值的阻值范围内，则确定待测线束中的待测热敏电阻为良品，否则确定为次品。因此能减小因产品批次不同而导致的检测误差。
本实施例中，计算机可读存储介质可以是保持和存储由指令执行设备使用的指令的有形设备。计算机可读存储介质可以是但不限于电存储设备、磁存储设备、光存储设备、电磁存储设备、半导体存储设备或者上述的任意组合。具体的，计算机可读存储介质可以是便携式计算机盘、硬盘、U盘、随机存取存储器（RAM）、只读存储器（ROM）、可擦式可编程只读存储器（EPROM或闪存）、讲台随机存取存储器（SRAM）、便携式压缩盘只读存储器（CD-ROM）、数字多功能盘（DVD）、记忆棒、软盘、光盘、磁碟、机械编码设备以及上述任意组合。
本实施例中的计算机程序包含用于执行前述所有的方法的程序代码，程序代码可包括对应执行上述实施例提供的方法步骤对应的指令。计算机程序可从计算机可读存储介质下载到各个计算/处理设备，或者通过网络（例如因特网、局域网、广域网和/或无线网）下载到外部计算机或外部存储设备。计算机程序可完全地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行。
以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。
另外，需要理解的是，诸如第一和第二之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或者操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
Claims (7)
1.一种线束热敏电阻检测方法，其特征在于，包括：
获取待测线束中待测热敏电阻的批次；
获取与所述待测热敏电阻同批次的样本热敏电阻的参考数据，所述样本热敏电阻数据均包括多个温度及对应的参考阻值；
基于每个所述参考阻值和第一预设比例，确定每个温度下对应的阻值范围；
获取至少一个检测温度；
获取在每个所述检测温度下所述待测热敏电阻的第一阻值；
判断所述第一阻值是否位于所述检测温度下对应的阻值范围内；若是，则确定所述待测线束中的待检测热敏电阻为良品；
否则，确定所述待测线束中的待检测热敏电阻为次品；
所述获取与待测热敏电阻同批次的样本热敏电阻的参考数据，包括：
对于所述多个同批次热敏电阻中任一热敏电阻，确定当前热敏电阻在不同温度下的样本阻值；
根据当前热敏电阻在任一温度下的样本阻值，与预存的良品数据表中对应温度下的标准阻值比较，判断所述样本阻值是否位于标准阻值的预设范围内，所述标准阻值的预设范围为所述标准阻值与第二预设比例相乘，所述第一预设比例小于或等于所述第二预设比例；若是，则确定当前温度下当前热敏电阻正常；否则，确定当前温度下当前热敏电阻异常；
确定判断所述当前热敏电阻在不同温度下的样本阻值是否位于标准阻值的预设范围内被确定为正常的次数与判断次数的比值，当所述比值达到预设比值，则将当前热敏电阻确定为良品，并保存所述当前热敏电阻的热敏电阻数据；
当所述比值未达到预设比值，则将当前热敏电阻确定为次品；
基于同一检测温度时，计算各个同批次良品的样本阻值的平均值得到对应的参考阻值；
当所述待测线束中待测热敏电阻的所述第一阻值位于所述检测温度下对应的参考阻值的阻值范围内，且所述第一阻值与所述参考阻值的差值、与所述阻值范围的上限和下限的差值的比值达到预设比时，所述方法还包括：
获取不断升高或不断降低的当前检测温度；
分别获取待测线束中的待检测热敏电阻在各个检测温度下对应的第一阻值；
基于所述各个所述检测温度以及对应的第一阻值，生成所述待检测热敏电阻的第一特性曲线；
基于样本热敏电阻的参考数据，生成样本热敏电阻的第二特性曲线；
确定所述第一特性曲线和所述第二特性曲线的相关异常值；
当所述相关异常值达到预设值，则确定所述待测线束中的待检测热敏电阻为次品；
所述确定所述第一特性曲线和所述第二特性曲线的相关异常值，包括：
确定在每个检测温度时，所述第一阻值与所述检测温度下对应的参考阻值的差值；
确定第二个差值与第一个差值之间的关系，所述关系包括小于、大于和等于中任一种；
确定相关异常值的初始值；
重复执行循环步骤，直至遍历所有检测温度对应的差值，得到相关异常值；
所述循环步骤包括：
确定第二个差值为当前差值，将下一个差值与当前差值的关系确定为当前关系；
判断当前关系与上一个关系是否一致；若一致，所述相关异常值加零；
否则，判断所述当前差值与下一个差值的符号是否相同，若相同，所述相关异常值加一；
若不相同，则基于当前差值对应的检测温度生成相关常数，将所述相关常数与所述相关异常值相乘，更新所述相关异常值。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：基于与所述待测热敏电阻同批次的样本热敏电阻的参考数据，确定第一预设比例，所述第一预设比例小于所述第二预设比例，包括：
确定每个检测温度下对应的样本阻值的最高值和最低值，删除所述最高值和所述最低值中，超出标准阻值的预设范围的样本阻值；
计算每个温度下对应的所述最高值与所述参考阻值的第一差值、所述最低值与所述参考阻值的第二差值；
基于每个温度下对应的所述第一差值和所述参考阻值相除，计算得到第一比例，基于每个温度下对应的所述第二差值和所述参考阻值相除，计算得到第二比例；
确定各个温度下对应的多个所述第一比例和所述第二比例中最小的为第一预设比例。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当任一待检测热敏电阻的第一特性曲线和所述第二特性曲线的相关异常值为零或一时，所述方法还包括：
从大数据中获取与当前热敏电阻同型号的多种批次的对比热敏电阻的第三特性曲线；
将当前热敏电阻的第一特性曲线与各个批次的所述对比热敏电阻的第三特性曲线对比，确定所述第一特性曲线与各个所述第三特性曲线的第二相关异常值；
筛选出所述第二相关异常值为零、且所述第三特性曲线位于所述第一特性曲线第二预设范围内、且所述第三特性曲线最接近所述第一特性曲线的一个对比热敏电阻；
获取所述一个对比热敏电阻的批次；
将当前待检测热敏电阻的批次修改为所述一个对比热敏电阻的批次。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
每隔预设时间从所述良品中选取任一线束作为抽检样品；
获取各个所述抽检样品在各个检测温度时对应的第一阻值；
确定在每个检测温度时，所述第一阻值与所述检测温度下对应的参考阻值的差值；
判断各个所述差值是否逐渐增大、逐渐减小和相等中任一种；若是，则确定所述抽检样品为良品；
否则，确定所述抽检样品为次品。
5.一种线束热敏电阻检测装置，其特征在于，包括：
批次获取模块，用于获取待测线束中待测热敏电阻的批次；
参考数据获取模块，用于获取与所述待测热敏电阻同批次的样本热敏电阻的参考数据，所述样本热敏电阻数据均包括多个温度及对应的参考阻值；
阻值范围确定模块，用于基于每个所述参考阻值和第一预设比例，确定每个温度下对应的阻值范围；
检测温度获取模块，用于获取至少一个检测温度；
第一阻值获取模块，用于获取在每个所述检测温度下所述待测热敏电阻的第一阻值；
判断模块，用于判断所述第一阻值是否位于所述检测温度下对应的阻值范围内；
第一确定模块，用于在判断模块判断为是时，确定所述待测线束中的待检测热敏电阻为良品；
第二确定模块，用于在判断模块判断为否时，确定所述待测线束中的待检测热敏电阻为次品；
所述参考数据获取模块，具体用于：
对于所述多个同批次热敏电阻中任一热敏电阻，确定当前热敏电阻在不同温度下的样本阻值；
根据当前热敏电阻在任一温度下的样本阻值，与预存的良品数据表中对应温度下的标准阻值比较，判断所述样本阻值是否位于标准阻值的预设范围内，所述标准阻值的预设范围为所述标准阻值与第二预设比例相乘，所述第一预设比例小于或等于所述第二预设比例；若是，则确定当前温度下当前热敏电阻正常；否则，确定当前温度下当前热敏电阻异常；
确定判断所述当前热敏电阻在不同温度下的样本阻值是否位于标准阻值的预设范围内被确定为正常的次数与判断次数的比值，当所述比值达到预设比值，则将当前热敏电阻确定为良品，并保存所述当前热敏电阻的热敏电阻数据；
当所述比值未达到预设比值，则将当前热敏电阻确定为次品；
基于同一检测温度时，计算各个同批次良品的样本阻值的平均值得到对应的参考阻值；
当待测线束中待测热敏电阻的第一阻值位于检测温度下对应的参考阻值的阻值范围内，且第一阻值与参考阻值的差值、与阻值范围的上限和下限的差值的比值达到预设比时，还包括：
第一获取模块，用于获取不断升高或不断降低的当前检测温度；
第二获取模块，用于分别获取待测线束中的待检测热敏电阻在各个检测温度下对应的第一阻值；
第一特性曲线生成模块，用于基于所述各个所述检测温度以及对应的第一阻值，生成所述待检测热敏电阻的第一特性曲线；
第二特性曲线生成模块，用于基于样本热敏电阻的参考数据，生成样本热敏电阻的第二特性曲线；
相关异常值确定模块，用于确定所述第一特性曲线和所述第二特性曲线的相关异常值；
次品确定模块，用于当所述相关异常值达到预设值，则确定所述待测线束中的待检测热敏电阻为次品；
所述相关异常值确定模块，具体用于：
确定在每个检测温度时，所述第一阻值与所述检测温度下对应的参考阻值的差值；
确定第二个差值与第一个差值之间的关系，所述关系包括小于、大于和等于中任一种；
确定相关异常值的初始值；
重复执行循环步骤，直至遍历所有检测温度对应的差值，得到相关异常值；
所述循环步骤包括：
确定第二个差值为当前差值，将下一个差值与当前差值的关系确定为当前关系；
判断当前关系与上一个关系是否一致；若一致，所述相关异常值加零；
否则，判断所述当前差值与下一个差值的符号是否相同，若相同，所述相关异常值加一；
若不相同，则基于当前差值对应的检测温度生成相关常数，将所述相关常数与所述相关异常值相乘，更新所述相关异常值。
6.一种电阻检测仪，其特征在于，包括：
至少一个处理器；
存储器；
至少一个应用程序，其中所述至少一个应用程序被存储在所述存储器中并被配置为由所述至少一个处理器执行，所述至少一个应用程序配置用于：执行如权利要求1至4中任一项所述的一种线束热敏电阻检测方法。
7.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有能够被处理器加载并执行如权利要求1至4中任一项所述的一种线束热敏电阻检测方法的计算机程序。
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