CN115437447B - 一种带低温漏电补偿的mos管温度传感器 - Google Patents
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Abstract
本发明属于模拟集成电路领域,涉及集成电路中的温度传感器,具体为一种带低温漏电补偿的MOS管温度传感器。本发明利用亚阈值区工作的MOS管进行感温,减小电路的功耗;并通过设定第一MOS管M1和第二MOS管M2类型一致,且M1的宽长比远大于M2的宽长比,从而保证输出电流的量级,实现低温补偿模块补偿MOS管的低温漏电,提高了低温下的感温线性度,从而拓宽了MOS管温度传感器的感温范围。本发明电路的结构简单,降低了面积,工作温度范围大,有利于集成在芯片的功能模块内部。
Description
技术领域
本发明属于模拟集成电路领域,涉及集成电路中的温度传感器,具体为一种带低温漏电补偿的MOS管温度传感器。
背景技术
温度作为环境变量,对电子元器件的工作状态影响很大,因此,在不同温度下,需要对系统的工作状态进行调整,如调整系统的工作电流、工作频率和电源电压。温度传感器是将温度信号转换为系统可识别的电信号,与芯片外部的温度传感器有所不同,芯片集成的温度传感器可直接获取芯片内部的温度。
传统温度传感器的体积较大,以及它的生产方式决定了不能集成在芯片中。在先进半导体工艺技术的发展下,集成电路温度传感器的性能逐步提升,以其体积小的优势,可集成在芯片内部,从而可以将芯片内部热管理进一步精细化。集成在芯片内部的温度传感器的工作温度范围与芯片设计温度一样,但随着集成电路领域的发展,芯片应用领域更广,工作温度更加宽,这对集成在芯片内部的温度传感器提出更高的要求:感温范围大,面积小,功耗低等。
集成电路温度传感器主要包括:电阻型温度传感器,双极型晶体管温度传感器,MOS管温度传感器。双极型温度传感器通常需要模数转换器和高于1V的电源电压,功耗高。电阻型温度传感器相比双极型温度传感器功耗低,但是需要更大的面积。MOS管温度传感器具有功耗低,面积小和低电源电压的优势,但是MOS管温度传感器在低温下存在漏电问题,这会导致MOS管温度传感器在低温下感温线性度变差。
发明内容
针对上述存在问题或不足,为解决现有集成电路温度传感器在功耗、面积、低温下感温线性度的问题,本发明提供了一种带低温漏电补偿的MOS管温度传感器,在保证功耗低的前提下,提升了其在低温下的感温线性度。
一种带低温漏电补偿的MOS管温度传感器,包括:感温模块、低温补偿模块、电流减法模块和输出模块。
所述感温模块为第一MOS管M1,第一MOS管M1产生与温度相关的电流信号I1。
所述低温补偿模块为第二MOS管M2,第二MOS管M2产生与温度相关的电流信号I2。其中,第一MOS管M1和第二MOS管M2类型一致,且第一MOS管M1的宽长比远大于第二MOS管M2的宽长比,使得电流信号I1和电流信号I2不同。
所述电流减法模块包括第一电流镜和第二电流镜,第一电流镜由第三MOS管M3和第四MOS管M4构成,复制第一MOS管M1产生的电流信号I1;第二电流镜由第五MOS管M5和第六MOS管M6构成,复制第二MOS管M2产生的电流信号I2。通过第一电流镜和第二电流镜2个结构将电流信号I1和电流信号I2相减后,并从第三MOS管M3的漏极输出。
所述感温模块、低温补偿模块和电流减法模块的所有MOS管均工作在亚阈值区。
所述输出模块包括电流频率转换器和频率比值量化器。
电流频率转换器的输入端接第三MOS管M3的漏极,接收M3输出的电流信号,并产生频率信号输出到频率比值量化器;
频率比值量化器的输入端分别接收电流频率转换器输入的频率信号,和外接参考时钟信号输入的频率信号,并计算产生这两个频率信号的比值信号,该比值信号即为整个带低温漏电补偿的MOS管温度传感器的输出信号。
进一步的,若电流减法模块的MOS管的源端和衬底接入地,则MOS管需使用NMOS;若电流减法模块的MOS管的源端和衬底接入电源,则MOS管需使用PMOS。感温模块、低温补偿模块所使用MOS管的种类需与电流减法模块相同。
进一步的,所述第二MOS管M2的宽长比、Finger和版图做进一步调节,使得IM1>>IM2更优,从而保证电流减法模块输出电流信号的量级更优,IM1为M1的漏源电流,IM2为M2的漏源电流。
综上所述,本发明利用亚阈值区工作的MOS管进行感温,减小了电路的功耗;通过调节第二MOS管M2的宽长比、Finger和版图,第一MOS管的宽长比远大于第二MOS的宽长比,从而保证输出电流的量级,进行低温漏电补偿,提高了低温下的感温线性度,从而拓宽了MOS管温度传感器的感温范围;利用MOS管的亚阈值电流产生随温度变化的电流信号,电路的结构简单,降低了面积,工作温度范围大,有利于集成在芯片的功能模块内部。
附图说明
图1为本发明的结构框图。
图2为实施例的部分电路结构示意图。
图3为实施例的输出电流与温度关系的示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明做进一步的详细说明。
本实施例提供的带低温漏电补偿的MOS管温度传感器,包括感温模块、低温补偿模块、电流减法模块和输出模块,共计四个部分。
所述感温模块为第一MOS管M1,M1产生与温度相关的电流信号I1。所述低温补偿模块为第二MOS管M2,M2产生与温度相关的电流信号I2。第二MOS管M2与第一MOS管M1的宽长比。
电流减法模块中的第三MOS管M3、第四MOS管M4、第五MOS管M5和第六MOS管M6均为NMOS管。
感温模块中的第一MOS管M1的漏极连接电源电压,M1的栅极、源极和衬底相连,并连接电流减法模块中的第三MOS管M3的栅极和第四MOS管M4的栅极、漏极。
低温补偿模块中的第二MOS管M2的漏极连接电源电压,M2的栅极、源极和衬底相连,并连接电流减法模块中的第五MOS管M5的栅极和第六MOS管M6的栅极、漏极。
电流减法模块中的第三MOS管M3的源极和衬底、第四MOS管M4的源极和衬底、第五MOS管M5的源极和衬底、第六MOS管M6的源极和衬底均接地。
下面对本发明感温模块、低温补偿模块和电流减法模块中MOS管的工作原理进行分析。
由于感温模块、低温补偿模块和电流减法模块的MOS管均工作在亚阈值区,MOS管的亚阈值电流公式如公式(1):
其中ID是MOS管漏源电流;n=1+CD/COX,CD是沟道下的耗尽层电容,COX是单位面积的栅氧化层电容,n与温度无关;β是与MOS管的宽长比有关的工艺因子,β=μCOXW/L,μ为载流子的迁移率,W/L为MOS管的宽长比;VT为热力学电压;VGS为MOS管的栅极和源极电压差;VTH是MOS管的阈值电压;VDS为MOS管的漏极和源极电压差。
当MOS管的漏源电压差VDS大于3倍的热力学电压VT时,关于VDS的指数项近似为1,因此可忽略不计,排除VDS对亚阈值区电流的影响,更容易实现对电路的调节,公式(1)可作修正,如下公式(2):
温度传感器的感温核心MOS管为感温模块中的第一MOS管M1,该MOS管的连接方式为栅极和源极相连,即MOS栅源电压VGS=0,根据该连接方式,第一MOS管M1的漏源电流如公式(3):
其中IM1为感温模块中的第一MOS管M1的漏源电流,VTHM1为第一MOS管M1的阈值电压,βM1是与第一MOS管M1的宽长比有关的工艺因子;VT为即热电压,k为玻尔兹曼常数,q为电荷量,T为温度。
第一MOS管M1的漏源电流是与温度相关的电流信号,该电流信号与温度的关系如下推导,将IM1做对数运算,如公式(4),从该公式中,可以得到lnIM1与的线性关系(其中2ln(VT)作为误差项),对温度的倒数做偏导数,给出公式(5)。
同理可得,并假设MOS管的n值相等,低温补偿模块中的第二MOS管M2的漏源电流如公式(6):
其中IM2为补偿模块中的第二MOS管M2的漏源电流,VTHM2为第二MOS管M2的阈值电压,βM2是与第二MOS管M2的宽长比有关的工艺因子。
电流减法模块包括第一电流镜和第二电流镜,第一电流镜由第三MOS管M3和第四MOS管M4构成,复制第一MOS管M1产生的电流信号I1;第二电流镜由第五MOS管M5和第六MOS管M6构成,复制第二MOS管M2产生的电流信号I2。通过第一电流镜和第二电流镜将的第一MOS管M1和第二MOS管M2产生的电流信号相减并从第三MOS管M3的漏极输出。
第一MOS管M1、第二MOS管M2和第三MOS管M3的电流信号关系如公式(7),I3为第三MOS管M3的漏极输出电流;由于第一MOS管M1的宽长比远大于第二MOS管M2的宽长比,有IM1>>IM2,I3≈IM1。而lnIM1与成线性关系,因此lnI3与/>也成线性关系,如图3所示。
I3=IM1-IM2 (7)
电流频率转换器接收第三MOS管M3漏极输出的电流信号,并产生频率信号输出到频率比值量化器;频率比值量化器分别接收电流频率转换器输入的频率信号,和外接参考时钟信号输入的频率信号,并产生这两个频率信号的比值信号,该比值信号即为整个带低温漏电补偿的MOS管温度传感器的输出信号。
下面介绍低温补偿模块对感温模块电流的补偿作用,上面仅分析了MOS管漏源电流的感温理论基础。
感温模块的第一MOS管M1和补偿模块的第二MOS管M2的栅极、漏极和衬底相连,并连接电流减法模块;输入电流减法模块的电流不仅只有MOS管的漏源电流,还包括漏极-栅极电流、漏极-衬底电流、深n阱漏电和衬底表面复合电流;在常温下,这些电流与漏源电流相比,相差几个数量级,可忽略不计,但温度低于零下30℃时,漏源电流与漏极-栅极电流、漏极-衬底电流相比,变得不可忽略,因此会恶化低温下的感温线性度。
在低温下,公式(7)可被修正为公式(8),IML1为第一MOS管M1的漏极-栅极电流和漏极-衬底电流,IML2为第二MOS管M2的漏极-栅极电流和漏极-衬底电流;IMP1为第一MOS管M1的衬底表面复合电流,IMP2为第二MOS管M2的衬底表面复合电流;IMS1为第一MOS管M1的深n阱漏电,IMS2二MOS管M2的深n阱漏电。为了提高低温下的感温线性度,需降低误差电流I3-IM1。
I3=IM1+IML1+IMP1+IMs1-IM2-IML2-IMP2+IMS2 (8)
MOS管的漏极-栅极电流、漏极-衬底电流公式与源漏电流不一致,因此需要重新考虑漏极-栅极电流、漏极-衬底电流对温度传感器的影响,MOS管的漏极-栅极电流表达式如公式(9),漏极-衬底电流表达式如公式(10)。
其中IDG为漏极到栅极的电流,IDB为漏极到衬底的电流,Vox为栅氧上的电压降,Ag和Bg是与工艺相关的因子,W是MOS管的栅宽,L是MOS管的栅长,q为电荷量,/>普朗克常数,φox表示隧道电子的势垒高度,m*指硅的导带内电子(或价带内空穴)的有效电荷量;Tox是栅氧厚度。Lside和Lbottom为PN结侧面和底面的长度,ξside和ξbottom指PN结侧面和底面的电场强度,A和B是与工艺相关的物理参数;Vdb是MOS管的漏极-衬底电压;Eg为半导体的禁带宽度。
感温模块中的第一MOS管M1和补偿模块第二MOS管M2是同一种类型的MOS管,这使得电流表达式中工艺因子等参数一致,通过调节第一MOS管M1和第二MOS管M2的宽长比,实现对漏极-栅极电流、漏极-衬底电流的补偿,第一MOS管M1的电流与第二MOS管M2的电流相减,即降低了误差电流IML1-IML2。
感温模块中的第一MOS管M1和补偿模块第二MOS管M2的连接方式是衬底连接源极,而不是衬底接地,该连接方式在绘制集成电路版图时,通常MOS管的版图采用深n阱隔离,该隔离方式可以将NMOS晶体管的衬底与其他NMOS管的衬底隔离;但是该隔离方式会产生深n阱漏电,如上所述,当温度低于-30℃时,该漏电变得不可忽略,会对低温下的线性度产生恶化;补偿模块第二MOS管M2也存在深n阱漏电,通过第一MOS管M1的电流与第二MOS管M2的电流相减,可以将感温模块的深n阱漏电做一定的补偿,即降低了误差电流IMS1-IMS2。
在小于250nm的工艺中,集成电路工艺中使用的隔离方式通常为浅沟槽隔离技术,它是在晶圆衬底上制作晶体管有源区之间的隔离区的一种工艺,能有效保证P型和N型掺杂区能够彻底隔断。浅沟槽隔离技术在P型和N型掺杂区中先将掩模定义的区域刻蚀掉,使之形成一个浅沟槽,然后再往沟槽中填入绝缘的物质材料,目前充当该填充材料的主要是氧化硅,从而达到绝缘的作用。但是,MOS管有源区之间使用浅沟槽隔离,则必然在有源区边缘存在Si-SiO2界面,该界面必然存在一定程度的缺陷,这些缺陷会导致载流子表面复合,表面缺陷提升少数载流子的复合率,从而增加衬底表面复合电流。该复合电流与MOS管的Finger呈正相关,将感温模块中的第一MOS管M1和补偿模块中的第二MOS管M2的Finger设置成一致,通过第一MOS管M1的电流与第二MOS管M2的电流相减,对复合电流作一定的补偿,即降低了误差电流IMP1-IMP2。
通过以上实施例可见,本发明利用亚阈值区工作的MOS管进行感温,减小电路的功耗;并通过设定第一MOS管M1和第二MOS管M2类型一致,且M1的宽长比远大于M2的宽长比,从而保证输出电流的量级,实现低温补偿模块补偿MOS管的低温漏电,提高了低温下的感温线性度,从而拓宽了MOS管温度传感器的感温范围。本发明电路的结构简单,降低了面积,工作温度范围大,有利于集成在芯片的功能模块内部。
Claims (3)
1.一种带低温漏电补偿的MOS管温度传感器,包括:感温模块、低温补偿模块、电流减法模块和输出模块;
所述感温模块为第一MOS管M1,第一MOS管M1产生与温度相关的电流信号I1;
所述低温补偿模块为第二MOS管M2,第二MOS管M2产生与温度相关的电流信号I2;
其中,第一MOS管M1和第二MOS管M2类型一致,且第一MOS管M1的宽长比远大于第二MOS管M2的宽长比;
所述电流减法模块包括第一电流镜和第二电流镜,第一电流镜由第三MOS管M3和第四MOS管M4构成,复制第一MOS管M1产生的电流信号I1;第二电流镜由第五MOS管M5和第六MOS管M6构成,复制第二MOS管M2产生的电流信号I2;通过第一电流镜和第二电流镜2个结构将电流信号I1和电流信号I2相减后,并从第三MOS管M3的漏极输出;
所述感温模块、低温补偿模块和电流减法模块的所有MOS管均工作在亚阈值区;
所述输出模块包括电流频率转换器和频率比值量化器;
电流频率转换器的输入端接第三MOS管M3的漏极,接收第三MOS管M3输出的电流信号,并产生频率信号输出到频率比值量化器;
频率比值量化器的输入端分别接收电流频率转换器输入的频率信号,和外接参考时钟信号输入的频率信号,并计算产生这两个频率信号的比值信号,该比值信号即为整个带低温漏电补偿的MOS管温度传感器的输出信号。
2.如权利要求1所述带低温漏电补偿的MOS管温度传感器,其特征在于:
若所述电流减法模块的MOS管的源端和衬底接入地,则MOS管需使用NMOS;若所述电流减法模块的MOS管的源端和衬底接入电源,则MOS管需使用PMOS;所述感温模块和低温补偿模块所使用MOS管的种类与电流减法模块相同。
3.如权利要求1所述带低温漏电补偿的MOS管温度传感器,其特征在于:
所述第二MOS管M2的宽长比、Finger和版图做进一步调节,使得IM1>>IM2更优,从而保证电流减法模块输出电流信号的量级更优,IM1为M1的漏源电流,IM2为M2的漏源电流。
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Zhang et al. | Leakage Performance of 4H-SiC CMOS Logic Circuits After Gamma Irradiation |
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Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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