CN115366547B - 补偿溶剂体积确定方法、喷墨打印控制方法及系统 - Google Patents

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CN115366547B CN202110955366.4A CN202110955366A CN115366547B CN 115366547 B CN115366547 B CN 115366547B CN 202110955366 A CN202110955366 A CN 202110955366A CN 115366547 B CN115366547 B CN 115366547B
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Abstract

本发明涉及一种补偿溶剂体积确定方法、补偿溶剂体积确定系统、补偿溶剂体积确定装置、喷墨打印控制方法、喷墨打印控制装置以及计算机可读存储介质。通过对基板上像素单元的溶剂损失率进行计算，然后根据溶剂损失率、像素单元在溶剂打印阶段距离溶剂打印终点的时长确定相应的像素单元的补偿溶剂体积，这样可以计算得到基板上各像素单元在溶剂打印阶段所需要的补偿溶剂体积。进而在喷墨打印过程中，在各像素单元内以得到的补偿溶剂体积进行溶剂打印，这样可以有效提高挥发后像素单元内的溶剂的一致性，提高功能膜层表面平整度。

Description

补偿溶剂体积确定方法、喷墨打印控制方法及系统
技术领域
本发明涉及喷墨打印技术领域，尤其是涉及一种补偿溶剂体积确定方法、补偿溶剂体积确定装置、喷墨打印控制方法、喷墨打印控制系统、喷墨打印装置以及计算机可读存储介质。
背景技术
喷墨打印是制备显示器件的常用方法之一，通过喷墨打印的方式可以在像素单元内注入相应的功能材料来制备诸如空穴注入层、空穴传输层、发光层、电子传输层以及电子注入层等功能膜层。
在喷墨打印过程中，由于存在基板上不同位置像素单元的溶剂挥发量不一致的问题，导致像素单元内溶剂的一致性差，进而导致成膜之后像素单元内的功能膜层的表面平整度不佳，给器件的性能带来不利影响。
发明内容
基于此，有必要提供一种能够有效提高挥发后像素单元内的溶剂的一致性的补偿溶剂体积确定方法、补偿溶剂体积确定装置、喷墨打印控制方法、喷墨打印控制系统、喷墨打印控制装置以及计算机可读存储介质。
为了解决以上技术问题，本发明的技术方案为：
一种补偿溶剂体积确定方法，包括如下步骤：
获取墨水打印阶段某一像素单元内的墨水损失体积△V0，所述墨水打印阶段为基板的墨水打印起点至墨水打印终点的阶段；
获取所述像素单元在溶剂打印阶段距离溶剂打印终点的时长△T；
获取所述像素单元的溶剂损失率u；
根据△V0、△T以及u确定所述像素单元的补偿溶剂体积V。
在其中一个实施例中，根据△V0、△T以及u确定所述像素单元的补偿溶剂体积，其中V＝△V0+u×△T。
在其中一个实施例中，获取所述像素单元在溶剂打印阶段距离溶剂打印终点的时长△T包括如下步骤：
获取溶剂打印阶段自溶剂打印起点到打印至所述像素单元的时间T1；
获取溶剂打印阶段溶剂打印起点到溶剂打印终点的时间Ta；
根据T1和Ta确定△T，其中△T＝Ta-T1。
在其中一个实施例中，根据△V0、△T以及u确定所述像素单元的补偿溶剂体积V之前还包括如下步骤：获取墨水打印阶段的墨水打印时间T0。
在其中一个实施例中，所述像素单元位于外围区域，获取所述像素单元的溶剂损失率u包括如下步骤：根据△V0和T0计算所述像素单元的溶剂损失率u1。
在其中一个实施例中，根据△V0和T0计算所述像素单元的溶剂损失率u1，其中u1＝△V0/T0，此时V＝△V0+u1×△T。
在其中一个实施例中，根据△V0、△T以及u确定所述像素单元的补偿溶剂体积V时还包括如下步骤：
根据△V0、T0以及T1计算所述像素单元的溶剂损失率u2，其中u2＝△V0/(T0+T1)；
获取溶剂打印之后所述基板的干燥时间Tv；
获取修正系数y，其中-10≤y≤10；
根据u1、Ta、T1、u2以及y计算该像素单元的补偿溶剂体积V，此时V＝△V0+u1×△T+(u1-u2)×y×Tv。
在其中一个实施例中，获取修正系数y包括如下步骤：
提供多个不同的预设修正系数；
分别计算该多个不同的修正系数对应的补偿溶剂体积V并分别以该补偿溶剂体积V进行溶剂打印；
比较干燥之后膜层的平整度，取平整度最佳时的V对应的预设修正系数作为修正系数y。
在其中一个实施例中，所述外围区域的各像素单元的预设打印指标相对于最靠近所述基板边缘的像素单元的对应的预设打印指标的变化幅度的绝对值小于或等于预设变化幅度阈值。
在其中一个实施例中，所述预设变化幅度阈值小于或等于5％。
在其中一个实施例中，所述像素单元位于内部区域，获取所述像素单元的溶剂损失率u包括如下步骤：根据△V0、T0以及T1计算所述像素单元的溶剂损失率u3。
在其中一个实施例中，根据△V0、T0以及T1计算所述像素单元的溶剂损失率u3，其中u3＝△V0/(T0+T1)；此时V＝△V0+u3×△T。
在其中一个实施例中，获取墨水打印阶段像素单元内的墨水损失体积△V0包括如下步骤：
确定所述像素单元的墨水需求体积V0；
确定墨水打印之后该像素单元内的实际墨水体积V0'；
根据V0、V0'计算△V0，其中△V0＝V0-V0'。
一种补偿溶剂体积确定系统，包括墨水打印参数获取模块、时间获取模块、溶剂损失率获取模块以及补偿体积确认模块；
所述墨水打印参数获取模块用于获取墨水打印阶段某一像素单元内的墨水损失体积△V0，所述墨水打印阶段为基板的墨水打印起点至墨水打印终点的阶段；
所述时间获取模块用于获取所述像素单元在溶剂打印阶段距离溶剂打印终点的时长△T；
所述溶剂损失率获取模块用于获取所述像素单元的溶剂损失率u；
所述补偿体积确认模块用于根据△V0、△T以及u确定所述像素单元的补偿溶剂体积V。
一种喷墨打印控制方法，包括如下步骤：
根据如上述任一实施例中所述的补偿溶剂体积确定方法确定待打印基板上的像素单元的补偿溶剂体积；
控制在待打印基板上的像素单元内进行墨水打印；
控制在墨水打印之后在像素单元内喷入对应补偿体积的溶剂。
在其中一个实施例中，控制在待打印基板上的像素单元内进行墨水打印之前还包括如下步骤：
在像素单元的像素限定层的预设位置进行UV光照射以用于降低该预设位置的疏水性。
一种喷墨打印控制系统，包括补偿模块和控制模块；
所述补偿模块用于根据如上述任一实施例中所述的补偿溶剂体积确定方法确定待打印基板上的像素单元的补偿溶剂体积；
所述控制模块用于控制在待打印基板上的像素单元内进行墨水打印；
所述控制模块还用于控制在墨水打印之后在像素单元内喷入对应补偿体积的溶剂。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一实施例中所述的补偿溶剂体积确定方法的步骤和/或实现如上述任一实施例中所述的喷墨打印控制方法的步骤。
上述补偿溶剂体积确定方法中，通过对基板上像素单元的溶剂损失率进行计算，然后根据溶剂损失率、像素单元在溶剂打印阶段距离溶剂打印终点的时长确定相应的像素单元的补偿溶剂体积，这样可以计算得到基板上各像素单元在溶剂打印阶段所需要的补偿溶剂体积。进而在喷墨打印过程中，在各像素单元内以得到的补偿溶剂体积进行溶剂打印，这样可以有效提高挥发后像素单元内的溶剂的一致性，提高功能膜层表面平整度。
附图说明
图1为本发明一实施例中补偿溶剂体积确定方法的流程示意图；
图2为本发明一实施例中打印头的结构示意图；
图3为本发明一实施例中像素限定层的预设位置的示意图；
图4为实施例1中基板上像素单元的分布示意图；
图5为实施例2中子像素单元和溶剂示意图。
图中标记说明：
100、打印头；101、喷嘴；102、光学成像部件；103、UV光源；200、溶剂；300、像素单元；301、UV光照射的预设位置；400、红色子像素单元；500、绿色子像素单元；600、蓝色子像素单元；700、基板；701、第一外围区域像素单元；702、第二外围区域像素单元；703、第三外围区域像素单元；704、第四外围区域像素单元；705、内部区域像素单元。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
请参阅图1，本发明一实施例提供了一种补偿溶剂体积确定方法。该确定方法包括如下步骤：
S101：获取墨水打印阶段某一像素单元内的墨水损失体积△V0，墨水打印阶段为基板的墨水打印起点至墨水打印终点的阶段。
S102：获取像素单元在溶剂打印阶段距离溶剂打印终点的时长△T。
S103：获取像素单元的溶剂损失率u；
S104：根据△V0、△T以及u确定所述像素单元的补偿溶剂体积V。
在对基板的喷墨打印过程中，通常会根据基板像素单元的设计以及打印需求等设置打印起点和打印终点。为了获得较佳的打印效果，本发明的打印过程中，先在像素单元内打印墨水，即墨水打印。墨水打印完成之后再在像素单元内打印相应的溶剂，即溶剂打印。通过这样的打印方式对像素单元内的溶剂的一致性具有一定的提高作用。进一步地，在本实施例中，通过对基板上像素单元的溶剂损失率进行计算，然后根据溶剂损失率、像素单元在溶剂打印阶段距离溶剂打印终点的时长确定相应的像素单元的补偿溶剂体积，这样可以计算得到基板上各像素单元在溶剂打印阶段所需要的补偿溶剂体积。进而在喷墨打印过程中，在各像素单元内以得到的补偿溶剂体积进行溶剂打印，这样可以进一步有效提高挥发后像素单元内的溶剂的一致性，提高功能膜层表面平整度。
可以理解的是，在对像素单元进行打印时，溶剂打印阶段使用的溶剂与墨水打印阶段墨水中的溶剂相同。
在一个具体的示例中，根据△V0、△T以及u确定所述像素单元的补偿溶剂体积，其中V＝△V0+u×△T。
在一个具体的示例中，获取像素单元在溶剂打印阶段距离溶剂打印终点的时长△T包括如下步骤：获取溶剂打印阶段自溶剂打印起点到打印至像素单元的时间T1；获取溶剂打印阶段溶剂打印起点到溶剂打印终点的时间Ta；根据T1和Ta确定△T，其中△T＝Ta-T1。
在一个具体的示例中，根据△V0、△T以及u确定所述像素单元的补偿溶剂体积V之前还包括如下步骤：获取墨水打印阶段的墨水打印时间T0。
进一步地，像素单元位于外围区域，获取像素单元的溶剂损失率u包括如下步骤：根据△V0和T0计算像素单元的溶剂损失率u1。
更进一步地，根据△V0和T0计算所述像素单元的溶剂损失率u1，其中u1＝△V0/T0。此时V＝△V0+u1×(Ta-T1)。
更进一步地，根据△V0、△T以及u确定所述像素单元的补偿溶剂体积V时还包括如下步骤：根据△V0、T0以及T1计算像素单元的溶剂损失率u2，其中u2＝△V0/(T0+T1)；获取溶剂打印之后基板的干燥时间Tv；获取修正系数y，其中-10≤y≤10；根据u1、Ta、T1、u2以及y计算该像素单元的补偿溶剂体积V，此时V＝△V0+u1×(Ta-T1)+(u1-u2)×y×Tv。对于外围区域的像素单元引入溶剂打印之后基板的干燥时溶剂的损失补偿(u1-u2)×y×Tv，能够更加准确地反映像素单元的溶剂损失。
再进一步地，获取修正系数y包括如下步骤：提供多个不同的预设修正系数；分别计算该多个不同的修正系数对应的补偿溶剂体积V并分别以该补偿溶剂体积V进行溶剂打印；比较干燥之后膜层的平整度，取平整度最佳时的V对应的预设修正系数作为修正系数y。
在另一个具体的示例中，像素单元位于内部区域，获取像素单元的溶剂损失率u包括如下步骤：根据△V0、T0以及T1计算像素单元的溶剂损失率u3。进一步地，u3＝△V0/(T0+T1)。此时V＝△V0+u3×(Ta-T1)。
可以理解的是，在基板的设计中，像素单元通常是呈阵列式分布，这样会形成靠近基板边缘的外围区域和位于外围区域内侧的内部区域。在溶剂的挥发过程中，外围区域和内部区域具有不同的溶剂氛围，因此外围区域和内部区域的溶剂挥发量有所不同。在本实施例中，在计算像素单元的溶剂损失率时，对外围区域和内部区域分别设置了不同的计算方式来更加准确地匹配溶剂的实际损失情况。
需要说明的是，溶剂打印起点到溶剂打印终点的时间Ta可以在打印系统中直接获取，在实际打印过程中，根据基板设计以及选用的打印系统能够直接获取到溶剂打印起点到溶剂打印终点的时间Ta。
另外，获取自溶剂打印起点到打印至该像素单元的时间T1和获取溶剂打印起点到溶剂打印终点的时间Ta，这两个步骤和可以同时进行，也可以先获取T1再获取Ta，也可以先获取Ta再获取T1。
在一个具体的示例中，作为一个对外围区域和内部区域的划分方法，外围区域的各像素单元的预设打印指标相对于最靠近基板边缘的像素单元的对应的预设打印指标的变化幅度的绝对值小于或等于预设变化幅度阈值。在基板的打印过程中，从基板的边缘到内侧，打印指标呈现一定的趋势。因此可以通过预设打印指标的变化在基板上划分出外围区域与内部区域的分界线。当像素单元的预设打印指标相对于最靠近基板边缘的像素单元的对应的预设打印指标的变化幅度的绝对值小于或等于预设变化幅度阈值时，将该像素单元列为外围区域的像素单元；当变化幅度的绝对值大于预设变化幅度阈值时，将该像素单元列为内部区域的像素单元。这样可以找到外围像素单元和内部像素单元的分界线，在基板上划分出外围区域和内部区域。可以理解的是，预设打印指标的变化幅度＝(外围区域内各像素单元的预设打印指标-最靠近所述基板边缘的像素单元的对应的预设打印指标)/最靠近所述基板边缘的像素单元的对应的预设打印指标。优选地，预设变化幅度阈值小于或等于5％。进一步优选地，预设变化幅度阈值小于或等于3％。
具体地，在选取预设打印指标时，预设打印指标为像素单元的膜层厚度和/或像素单元色值。当预设打印指标为像素单元的膜层厚度时，预设打印指标的变化幅度＝(外围区域内各像素单元的膜层厚度-最靠近所述基板边缘的像素单元的膜层厚度)/最靠近所述基板边缘的像素单元的膜层厚度。当预设打印指标为像素单元色值时，预设打印指标的变化幅度＝(外围区域内各像素单元的色值-最靠近所述基板边缘的像素单元的色值)/最靠近所述基板边缘的像素单元的色值。更具体地，在选取预设打印指标时，可以将干燥后的像素单元内的膜层厚度作为预设打印指标，或者将器件在对应的像素单元的发光色值作为预设打印指标。
可以理解的是，获取墨水打印阶段像素单元内的溶剂损失体积△V0包括如下步骤：确定像素单元的墨水需求体积V0；确定墨水打印之后该像素单元内的实际墨水体积V0'；根据V0、V0'计算△V0，其中△V0＝V0-V0'。优选地，在获取V0和V0'时，可以通过光学成像部件对像素单元进行光学成像，然后根据所成的光学图像计算得到V0和V0'。具体地，确定墨水打印时间T0之后该像素单元内的实际墨水体积V0'。
本发明还有一实施例提供了一种补偿溶剂体积确定系统。该补偿溶剂体积确定系统包括墨水打印参数获取模块、时间获取模块、溶剂损失率获取模块以及补偿体积确定模块。
墨水打印参数获取模块用于获取墨水打印阶段像素单元内的溶剂损失体积△V0，墨水打印阶段为基板的墨水打印起点至墨水打印终点的阶段。
时间获取模块用于获取像素单元在溶剂打印阶段距离溶剂打印终点的时长△T。
溶剂损失率获取模块用于获取像素单元的溶剂损失率u。
补偿体积确认模块用于根据△V0、△T以及u确定像素单元的补偿溶剂体积V。
进一步地，时间获取模块还用于获取溶剂打印阶段自溶剂打印起点到打印至所述像素单元的时间T1，以及还用于获取溶剂打印阶段溶剂打印起点到溶剂打印终点的时间Ta。
补偿体积确认模块用于根据u、Ta以及T1确认该像素单元的补偿溶剂体积V1，其中V1＝△V0+u×(Ta-T1)。
进一步地，墨水打印参数获取模块还用于获取墨水打印阶段墨水打印时间T0。
进一步地，时间获取模块还用于获取溶剂打印之后基板的干燥时间Tv。
具体地，像素单元位于外围区域，补偿体积确认模块用于根据△V0和T0计算像素单元的溶剂损失率u1，其中u1＝△V0/T0。此时V＝△V0+u1×(Ta-T1)。进一步地，补偿体积确认模块用于根据△V0、T0以及T1确认像素单元的溶剂损失率u2，其中u2＝△V0/(T0+T1)；获取溶剂打印之后基板的干燥时间Tv；获取修正系数y，其中-10≤y≤10；根据u1、Ta、T1、u2以及y确认该像素单元的补偿溶剂体积V，此时V＝△V0+u1×(Ta-T1)+(u1-u2)×y×Tv。像素单元位于内部区域，补偿体积确认模块用于根据△V0、T0以及T1确认像素单元的溶剂损失率u3，其中u3＝△V0/(T0+T1)。此时V＝△V0+u3×(Ta-T1)。
在一个具体的示例中，补偿溶剂体积确认系统还包括修正系数获取模块。修正系数获取模块用于获取修正系数y，其中-10≤y≤10。
具体地，修正系数获取模块包括预设修正系数提供子模块、打印控制子模块以及修正系数确定子模块。其中，预设修正系数提供子模块用于提供多个不同的预设修正系数。打印控制子模块用于分别计算该多个不同的修正系数对应的补偿溶剂体积V并分别以该V进行溶剂打印。修正系数确定子模块用于比较干燥之后膜层的平整度，取平整度最佳时的V对应的预设修正系数作为修正系数y。
本发明还有一实施例提供了一种补偿溶剂体积确认装置。该补偿溶剂体积计算装置包括打印头和参数确认控制器。打印头用于对基板打印墨水和溶剂。参数确认控制器用于获取墨水打印阶段某一像素单元内的溶剂损失体积△V0，墨水打印阶段为基板的墨水打印起点至墨水打印终点的阶段。参数确认控制器还用于获取像素单元在溶剂打印阶段距离溶剂打印终点的时长△T。参数确认控制器还用于获取所述像素单元的溶剂损失率u。参数确认控制器还用于根据△V0、△T以及u确定所述像素单元的补偿溶剂体积V。
本发明还有一实施例提供了一种喷墨打印控制方法。该喷墨打印控制方法包括如下步骤：根据上述补偿溶剂体积确定方法确定待打印基板上的像素单元的补偿溶剂体积。控制在待打印基板上的像素单元内进行墨水打印。控制在墨水打印之后在像素单元内喷入对应补偿体积的溶剂。优选地，控制在墨水打印之后立即在像素单元内喷入对应补偿体积的溶剂。
进一步地，控制在待打印基板上的像素单元内进行墨水打印之前还包括如下步骤：在像素单元的像素限定层的预设位置进行UV光照射以用于降低预设位置的疏水性。通过UV光照射可以降低预设位置的疏水性，促使溶剂在该预设位置钉扎，有利于对溶剂的填充位置进行灵活控制。
具体地，请参阅图2，本发明一实施例提供了一种打印头100，该打印头100包括喷嘴101、光学成像部件102以及UV光源103。其中，喷嘴101的喷墨端凸出于光学成像部件102，也凸出于UV光源103。光学成像部件102用于对像素单元成像进而得到像素单元内的墨水或溶剂的体积。UV光源103用于对像素单元的限定层的预设位置进行UV光照射以用于降低预设位置的疏水性。
作为像素单元的限定层的预设位置的一种展示，请参阅图3，在像素单元300的限定层的预设位置301进行UV光照射以用于降低预设位置的疏水性。
本发明还有一实施例提供了一种喷墨打印控制系统。该喷墨打印控制系统包括补偿模块和控制模块。补偿模块用于根据上述补偿溶剂体积确定方法确定待打印基板上的像素单元的补偿溶剂体积。控制模块用于控制在待打印基板上的像素单元内进行墨水打印。控制模块还用于控制在墨水打印之后在像素单元内喷入对应补偿体积的溶剂。
进一步地，喷墨打印控制系统还包括UV光照射模块。UV光照射模块用于在待打印基板上的像素单元内进行墨水打印之前，在像素单元的像素限定层的预设位置进行UV光照射以用于降低所述预设位置的疏水性。
本发明还有一实施例提供了一种喷墨打印装置。该喷墨打印装置包括打印头和打印控制器。打印头用于对基板打印墨水或溶剂。打印控制器用于根据上述补偿溶剂体积确定方法确定待打印基板上的像素单元的补偿溶剂体积。打印控制器还用于控制在待打印基板上的像素单元内进行墨水打印。打印控制器还用于控制在墨水打印之后在像素单元内喷入对应补偿体积的溶剂。
进一步地，打印控制器还用于控制在待打印基板上的像素单元内进行墨水打印之前，在像素单元的像素限定层的预设位置进行UV光照射以用于降低所述预设位置的疏水性。
本发明还有一实施例提供了一种计算机设备，该计算机设备包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现补偿溶剂体积确定方法的步骤和/或实现上述喷墨打印控制方法的步骤。
本发明还有一实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序。计算机程序被处理器执行时实现上述补偿溶剂体积确定方法的步骤和/或实现上述喷墨打印控制方法的步骤。
可以理解的是，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本发明所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以下为具体实施例。
实施例1
本实施例中基板700如图4所示，基板700设置第一外围区域像素单元701、第二外围区域像素单元702、第三外围区域像素单元703、第四外围区域像素单元704以及内部区域像素单元705。打印顺序依次是第一外围区域像素单元701、第二外围区域像素单元702、第三外围区域像素单元703、第四外围区域像素单元704以及内部区域像素单元705。
(1)本实施例中补偿溶剂体积确定方法的步骤为：
S201：获取像素单元的墨水需求体积V0，第一外围区域像素单元701、第二外围区域像素单元702、第三外围区域像素单元703、第四外围区域像素单元704以及内部区域像素单元705对应分别记为V01、V02、V03、V04、V05。
S202：获取墨水打印时间T0之后该像素单元内的实际墨水体积V01'、V02'、V03'、V04'、V05'。
S203：根据V0、V0'计算△V0，其中△V0＝V0-V0'。得到△V01＝V01-V01'、△V02＝V02-V02'、△V03＝V03-V03'、△V04＝V04-V04'、△V05＝V05-V05'。
S204：获取自溶剂打印起点到打印至各像素单元的时间T1，分别记为T11、T12、T13、T14、T15。第一外围区域像素单元701为打印起点，所以T11＝0。获取溶剂打印阶段溶剂打印起点到溶剂打印终点的时间Ta。获取溶剂打印之后基板的干燥时间Tv。
S205：计算像素单元的溶剂损失率，第一外围区域像素单元701、第二外围区域像素单元702、第三外围区域像素单元703、第四外围区域像素单元704的溶剂损失率分别为u11＝△V01/T0、u21＝△V01/(T0+T11)，u12＝△V02/T0、u22＝△V02/(T0+T12)，u13＝△V03/T0、u23＝△V03/(T0+T13)，u14＝△V04/T0、u24＝△V04/(T0+T14)。内部区域像素单元705的溶剂损失率u35＝△V05/(T0+T15)。
S206：计算像素单元的补偿溶剂体积V1，第一外围区域像素单元701、第二外围区域像素单元702、第三外围区域像素单元703、第四外围区域像素单元704的补偿溶剂体积分别是V11＝△V01+u11×(Ta-T11)+(u11-u21)×y×Tv、V12＝△V02+u12×(Ta-T12)+(u12-u22)×y×Tv、V13＝△V03+u13×(Ta-T13)+(u13-u23)×y×Tv、V14＝△V04+u14×(Ta-T14)+(u14-u24)×y×Tv。内部区域像素单元705的溶剂V25＝△V05+u25×(Ta-T15)。
(2)获取修正系数y的步骤为：
S301：提供多个不同的预设修正系数。
S302：分别计算该多个不同的修正系数对应的补偿溶剂体积V11并分别以该V11进行溶剂打印。
S303：比较各V11进行溶剂打印之后的干燥之后膜层的平整度，取干燥之后膜层的平整度最佳时的V11对应的预设修正系数作为修正系数y。
(3)本实施例中喷墨打印控制方法的步骤为：
S401：根据(1)和(2)计算得到V11、V12、V13、V14、V15。
S402：在各像素单元的像素限定层的预设位置进行UV光照射以用于降低预设位置的疏水性。
S403：控制在基板700各像素单元内进行墨水打印。
S404：控制在墨水打印之后立即在各像素单元内喷入对应补偿体积的溶剂。
实施例2
请参阅图5，本实施例对红色子像素单元400、绿色子像素单元500以及蓝色子像素单元600进行补偿溶剂体积计算和喷墨打印。根据器件性能，按溶剂200的量从大到小为：红色子像素单元400、绿色子像素单元500以及蓝色子像素单元600。在打印过程中可以将红色子像素单元400看作实施例1中的第一外围区域像素单元701，将绿色子像素单元500看作实施例1中第二外围区域像素单元702或第三外围区域像素单元703或第四外围区域像素单元704，将蓝色子像素单元600看作实施例1中内部区域像素单元705。补偿溶剂体积计算方法、获取修正系数y的步骤以及喷墨打印控制方法按照实施例1中对应的方法进行。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准，说明书及附图可以用于解释权利要求的内容。

Claims (18)

1.一种补偿溶剂体积确定方法，其特征在于，包括如下步骤：
获取墨水打印阶段某一像素单元内的墨水损失体积△V0，所述墨水打印阶段为基板的墨水打印起点至墨水打印终点的阶段；
获取所述像素单元在溶剂打印阶段距离溶剂打印终点的时长△T；
获取所述像素单元的溶剂损失率u；
根据△V0、△T以及u确定所述像素单元的补偿溶剂体积V；
获取所述像素单元在溶剂打印阶段距离溶剂打印终点的时长△T包括如下步骤：
获取溶剂打印阶段自溶剂打印起点到打印至所述像素单元的时间T1；
获取溶剂打印阶段溶剂打印起点到溶剂打印终点的时间Ta；
根据T1和Ta确定△T，其中△T＝Ta-T1。
2.如权利要求1所述的补偿溶剂体积确定方法，其特征在于，根据△V0、△T以及u确定所述像素单元的补偿溶剂体积，其中V＝△V0+u×△T。
3.如权利要求1所述的补偿溶剂体积确定方法，其特征在于，获取T1和获取Ta同时进行；或者先获取T1再获取Ta；或者先获取Ta再获取T1。
4.如权利要求1所述的补偿溶剂体积确定方法，其特征在于，根据△V0、△T以及u确定所述像素单元的补偿溶剂体积V之前还包括如下步骤：获取墨水打印阶段的墨水打印时间T0。
5.如权利要求4所述的补偿溶剂体积确定方法，其特征在于，所述像素单元位于外围区域，获取所述像素单元的溶剂损失率u包括如下步骤：根据△V0和T0计算所述像素单元的溶剂损失率u1。
6.如权利要求5所述的补偿溶剂体积确定方法，其特征在于，根据△V0和T0计算所述像素单元的溶剂损失率u1，其中u1＝△V0/T0，此时V＝△V0+u1×△T。
7.如权利要求6所述的补偿溶剂体积确定方法，其特征在于，根据△V0、△T以及u确定所述像素单元的补偿溶剂体积V时还包括如下步骤：
根据△V0、T0以及T1计算所述像素单元的溶剂损失率u2，其中u2＝△V0/(T0+T1)；
获取溶剂打印之后所述基板的干燥时间Tv；
获取修正系数y，其中-10≤y≤10；
根据u1、Ta、T1、u2以及y计算该像素单元的补偿溶剂体积V，此时V＝△V0+u1×△T+(u1-u2)×y×Tv。
8.如权利要求7所述的补偿溶剂体积确定方法，其特征在于，获取修正系数y包括如下步骤：
提供多个不同的预设修正系数；
分别计算该多个不同的修正系数对应的补偿溶剂体积V并分别以该补偿溶剂体积V进行溶剂打印；
比较干燥之后膜层的平整度，取平整度最佳时的V对应的预设修正系数作为修正系数y。
9.如权利要求5所述的补偿溶剂体积确定方法，其特征在于，所述外围区域的各像素单元的预设打印指标相对于最靠近所述基板边缘的像素单元的对应的预设打印指标的变化幅度的绝对值小于或等于预设变化幅度阈值。
10.如权利要求9所述的补偿溶剂体积确定方法，其特征在于，所述预设变化幅度阈值小于或等于5％。
11.如权利要求4所述的补偿溶剂体积确定方法，其特征在于，所述像素单元位于内部区域，获取所述像素单元的溶剂损失率u包括如下步骤：根据△V0、T0以及T1计算所述像素单元的溶剂损失率u3。
12.如权利要求11所述的补偿溶剂体积确定方法，其特征在于，根据△V0、T0以及T1计算所述像素单元的溶剂损失率u3，其中u3＝△V0/(T0+T1)；此时V＝△V0+u3×△T。
13.如权利要求1～12中任一项所述的补偿溶剂体积确定方法，其特征在于，获取墨水打印阶段像素单元内的墨水损失体积△V0包括如下步骤：
确定所述像素单元的墨水需求体积V0；
确定墨水打印之后该像素单元内的实际墨水体积V0'；
根据V0、V0'计算△V0，其中△V0＝V0-V0'。
14.一种补偿溶剂体积确定系统，其特征在于，包括墨水打印参数获取模块、时间获取模块、溶剂损失率获取模块以及补偿体积确认模块；
所述墨水打印参数获取模块用于获取墨水打印阶段某一像素单元内的墨水损失体积△V0，所述墨水打印阶段为基板的墨水打印起点至墨水打印终点的阶段；
所述时间获取模块用于获取所述像素单元在溶剂打印阶段距离溶剂打印终点的时长△T；
所述溶剂损失率获取模块用于获取所述像素单元的溶剂损失率u；
所述补偿体积确认模块用于根据△V0、△T以及u确定所述像素单元的补偿溶剂体积V。
15.一种喷墨打印控制方法，其特征在于，包括如下步骤：
根据如权利要求1～13中任一项所述的补偿溶剂体积确定方法确定待打印基板上的像素单元的补偿溶剂体积；
控制在待打印基板上的像素单元内进行墨水打印；
控制在墨水打印之后在像素单元内喷入对应补偿体积的溶剂。
16.如权利要求15所述的喷墨打印控制方法，其特征在于，控制在待打印基板上的像素单元内进行墨水打印之前还包括如下步骤：
在像素单元的像素限定层的预设位置进行UV光照射以用于降低该预设位置的疏水性。
17.一种喷墨打印控制系统，其特征在于，包括补偿模块和控制模块；
所述补偿模块用于根据如权利要求1～13中任一项所述的补偿溶剂体积确定方法确定待打印基板上的像素单元的补偿溶剂体积；
所述控制模块用于控制在待打印基板上的像素单元内进行墨水打印；
所述控制模块还用于控制在墨水打印之后在像素单元内喷入对应补偿体积的溶剂。
18.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1～13中任一项所述的补偿溶剂体积确定方法的步骤和/或实现如权利要求15～16中任一项所述的喷墨打印控制方法的步骤。
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