CN115327604A - 一种x射线源测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种X射线源测试装置，涉及到X射线源测试装置技术领域，包括水平放置的底座，所述底座的顶部左端固定安装有定位板，所述底座的顶部右端固定安装有用于遮挡自然光和屏蔽X射线辐射的铅室；固定在铅室内底壁的X射线源，且X射线源与铅室偏心设置；位于X射线源上方的准直铅板，所述准直铅板的中心开始有上下贯通的准直通孔，所述准直铅板的底部开始有内环形槽和外环形槽；本发明利用螺旋叶片的旋转通过凸起带动方形铅板沿导向通孔移动，使方形铅板向导向通孔移动或远离，从而对导向通孔的大小进行调整，从而对扇形X射线束的大小进行调整，从而实现对扇形X射线束的局部进行测试。

Description

一种X射线源测试装置

技术领域

本发明涉及X射线源测试装置技术领域，特别涉及一种X射线源测试装置。

背景技术

目前，X射线源已广泛应用于安全检查、医疗健康、无损检测等领域。X射线源不太方向的均匀性和时间响应特性，对实际使用效果有明显影响。目前的X射线源不同方向的均匀性和时间响应特性测试还比较困难。

因此，发明一种X射线源测试装置来解决上述问题很有必要。

发明内容

本发明的目的在于提供一种X射线源测试装置，以解决上述背景技术中提出的X射线源不同方向的均匀性和时间响应特性测试还比较困难的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种X射线源测试装置，包括水平放置的底座，所述底座的顶部左端固定安装有定位板，所述底座的顶部右端固定安装有用于遮挡自然光和屏蔽X射线辐射的铅室；

固定在铅室内底壁的X射线源，且X射线源与铅室偏心设置；

位于X射线源上方的准直铅板，所述准直铅板的中心开始有上下贯通的准直通孔，所述准直铅板的底部开始有内环形槽和外环形槽，且内环形槽的深度大于外环形槽的深度；

位于准直铅板上方的线阵列探测器，所述线阵列探测器通过高度调节装置与X射线源连接。

用于调整准直通孔大小的遮挡件，所述准直铅板的内部开设有可对遮挡件导向的导向通孔，所述导向通孔与内环形槽和准直通孔连通；

所述内环形槽和外环形槽的内部分别转动安装有用于驱动遮挡件和高度调节装置的第一导动件和第二导动件；

驱动第一导动件和第二导动件转动的驱动件，所述驱动件延伸到铅室的外侧并与定位板连接。

可选的，所述第一导动件包括转动安装在内环形槽内部的第一端面齿轮，所述第一端面齿轮的顶部固定安装有螺旋叶片；

所述第二导动件转动包括转动安装在外环形槽内部的第二端面齿轮，所述第二端面齿轮的顶部固定安装有驱动板，所述驱动板的顶部开始有与高度调节装置啮合的螺旋槽；

所述螺旋叶片的高度大于驱动板的高度。

可选的，所述第一端面齿轮与内环形槽的内壁接触面形成有第一摩擦面，所述第二端面齿轮与外环形槽的内壁接触面形成有第二摩擦面，形成第一端面齿轮旋转时，第一摩擦面的摩擦力小于第二摩擦面的摩擦力与准直铅板旋转受到阻力之和，使第一端面齿轮相对于准直铅板旋转驱动遮挡件移动的结构；形成第二端面齿轮旋转时，第二摩擦面的摩擦力小于第一摩擦面的摩擦力与准直铅板旋转受到阻力之和，使第二端面齿轮相对于准直铅板旋转驱动遮挡件移动的结构高度调节装置调整X射线源高度的结构，形成第一端面齿轮和第二端面齿轮同时被驱动时，第二摩擦面与第一摩擦面的摩擦力之和就会大于准直铅板旋转受到阻力，使准直铅板旋转，调整测试不同位置X射线。

可选的，所述遮挡件包括可滑动的插接在导向通孔内部的方形铅板，所述方形铅板的固定安装有多个与螺旋叶片相适配的凸起，且螺旋叶片内部始终保持最少有一个凸起，形成螺旋叶片在旋转时驱动凸起带动方形铅板在导向通孔的内部移动，对准直通孔的长度进行调节。

可选的，所述高度调节装置包括开设在准直铅板上的凹槽，所述凹槽与外环形槽连通且内部转动安装有第一齿轮和第一摆动杆，所述第一齿轮和第一摆动杆同步旋转，且第一齿轮与驱动板的顶部的螺旋槽啮合，所述第一摆动杆的顶部与线阵列探测器之间铰接有第二摆动杆，形成驱动板在旋转时就会在螺旋槽的驱动下带动第一齿轮旋转，时第一齿轮带动第一摆动杆和第二摆动杆调节夹角大小，从而带动线阵列探测器进行升降。

可选的，所述驱动件包括水平设置的驱动轴筒，所述驱动轴筒延伸到铅室的内部并固定安装有与第二端面齿轮啮合的第二齿轮，所述驱动轴筒的内部转动安装有驱动主轴，所述驱动主轴的两端均延伸到驱动轴筒的外侧，且驱动主轴的右端固定安装有与第一端面齿轮啮合的第三齿轮，驱动主轴左端与定位板连接。

可选的，所述驱动轴筒和驱动主轴的外侧左部分别套接有第一摩擦轮和第二摩擦轮，所述第一摩擦轮和第二摩擦轮的外侧套接有转动套，所述转动套的内表面中部设置为摩擦部位两端设置为光滑部位，形成摩擦部位与第一摩擦轮接触使可以带动驱动轴筒旋转，摩擦部位与第二摩擦轮接触使带动驱动主轴旋转，当摩擦部位与第一摩擦轮和第二摩擦轮同时接触时可以带动驱动轴筒和驱动主轴同步旋转。

可选的，所述驱动轴筒的外侧两端均套接有摩擦支板，位于左端所述摩擦支板固定在底座的顶部，位于右端所述摩擦支板固定在铅室的内底壁，所述摩擦支板被适配为对驱动轴筒支撑并加大驱动轴筒摩擦的结构。

可选的，所述准直铅板的外侧固定安装有架环，所述架环的上下两侧均接触有摩擦限位环，所述摩擦限位环固定在铅室的内部并对准直铅板的旋转造成阻碍。

可选的，所述线阵列探测器的上表面两端均固定安装有导向杆，所述导向杆的外侧套接有导向套，所述导向套的顶部固定安装有转动盘，所述转动盘的外侧可转动的插接在铅室的内定壁。

本发明的技术效果和优点：

1、本发明利用螺旋叶片的旋转通过凸起带动方形铅板沿导向通孔移动，使方形铅板向导向通孔移动或远离，从而对导向通孔的大小进行调整，从而对扇形X射线束的大小进行调整，从而实现对扇形X射线束的局部进行测试；利用第一齿轮与驱动板顶部螺旋槽的配合带动第一摆动杆和第二摆动杆进行调整夹角，通过第一摆动杆和第二摆动杆的摆动调整线阵列探测器的高度，使阵列探测器与准直通孔和X射线源的距离发生变化，从而实现对不同高度扇形X射线束的进行测试；利用第一端面齿轮和第二端面齿轮的同步旋转从而对准直通孔的角度和线阵列探测器同步旋转，从而对不同位置的扇形X射线束进行测试。

2、本发明利用摩擦限位环和架环之间的摩擦打破第一摩擦面与第二摩擦面的平衡，当第一端面齿轮与第二端面齿轮单独被驱动时，第一摩擦面的摩擦力小于第二摩擦面与摩擦限位环和架环之间的摩擦总和或第二摩擦面的摩擦力小于第一摩擦面与摩擦限位环和架环之间的摩擦总，从而实现对方形铅板或线阵列探测器的单独驱动，避免第一端面齿轮和第二端面齿轮在驱动时相互影响；而第一端面齿轮与第二端面齿轮在被同时驱动时，第一摩擦面和第二摩擦面的摩擦力之和就会大于摩擦限位环和架环之间的摩擦，使第一端面齿轮与第二端面齿轮带动准直铅板和线阵列探测器旋转，对扇形X射线束的测试位置进行调整。

3、本发明利用转动套摩擦部位的不同位置从而与第一摩擦轮和第二摩擦轮进行接触，从而使转动套在旋转时单独驱动驱动轴筒或驱动主轴旋转，从而驱动第一端面齿轮或第二端面齿轮旋转；同时转动套移动到第一摩擦轮和第二摩擦轮之间距离的中心出时摩擦部位就会与第一摩擦轮和第二摩擦轮同时接触，从而驱动驱动轴筒或驱动主轴同步旋转，使第一端面齿轮或第二端面齿轮能够同时旋转。

4、本发明利用摩擦支板与驱动轴筒的摩擦力能够避免驱动主轴在旋转时带动驱动轴筒同步旋转；利用驱动主轴与定位板之间的摩擦力能够避免驱动轴筒在旋转时带动驱动主轴旋转。

附图说明

图1为本发明结构主视示意图；

图2为本发明导向套结构示意图；

图3为本发明铅室结构内部示意图；

图4为本发明方形铅板结构连接示意图；

图5为本发明图4中A处结构放大示意图；

图6为本发明第一齿轮结构连接示意图；

图7为本发明图6中B处结构放大示意图；

图8为本发明摩擦面结构示意图。

图中：1、底座；2、定位板；3、铅室；4、X射线源；5、准直铅板；6、准直通孔；7、外环形槽；8、内环形槽；9、线阵列探测器；10、导向通孔；11、第一端面齿轮；12、螺旋叶片；13、第二端面齿轮；14、驱动板；15、第一摩擦面；16、第二摩擦面；17、方形铅板；18、凸起；19、凹槽；20、第一齿轮；21、第一摆动杆；22、第二摆动杆22 ；23、驱动轴筒；24、第二齿轮；25、驱动主轴；26、第三齿轮；27、第一摩擦轮；28、第二摩擦轮；29、转动套；30、架环；31、摩擦限位环；32、导向杆；33、导向套；34、转动盘；35、摩擦支板。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明提供了如图1-8所示的一种X射线源测试装置，包括水平放置的底座1，底座1的顶部左端固定安装有定位板2，底座1的顶部右端固定安装有用于遮挡自然光和屏蔽X射线辐射的铅室3；

固定在铅室3内底壁的X射线源4，且X射线源4与铅室3偏心设置，同时X射线源4也可以与铅室3同心设置；

位于X射线源4上方的准直铅板5，准直铅板5的中心开始有上下贯通的准直通孔6，准直铅板5的底部开始有内环形槽8和外环形槽7，且内环形槽8的深度大于外环形槽7的深度；

位于准直铅板5上方的线阵列探测器9，线阵列探测器9通过高度调节装置与X射线源4连接。

用于调整准直通孔6大小的遮挡件，准直铅板5的内部开设有可对遮挡件导向的导向通孔10，导向通孔10与内环形槽8和准直通孔6连通；

内环形槽8和外环形槽7的内部分别转动安装有用于驱动遮挡件和高度调节装置的第一导动件和第二导动件；

驱动第一导动件和第二导动件转动的驱动件，驱动件延伸到铅室3的外侧并与定位板2连接。

该实施例中，利用铅室3的设置起到了遮挡自然光和防止X射线对操作人员的辐射的作用；利用准直通孔6的设置将X射线源4发射出的锥形X射线束转化为扇形X射线束，以适应线阵列探测器9；利用线阵列探测器9用于接收X射线源4发出的X射线。线阵列探测器9收到的数据，通过网线传输到计算机，通过探测器数据，可以评估X射线源4不同方向的均匀性和时间响应特性；

利用底座1的设置能够保证测试装置放置时的稳定；利用内环形槽8和外环形槽7的设置能够保证第一导动件和第二导动件的安装；利用定位板2的设置能够对驱动件进行支撑，同时增加驱动件个别结构的摩擦。

本发明的一些实施例中，第一导动件包括转动安装在内环形槽8内部的第一端面齿轮11，第一端面齿轮11的顶部固定安装有螺旋叶片12；

第二导动件转动包括转动安装在外环形槽7内部的第二端面齿轮13，第二端面齿轮13的顶部固定安装有驱动板14，驱动板14的顶部开始有与高度调节装置啮合的螺旋槽；

螺旋叶片12的高度大于驱动板14的高度；

第一端面齿轮11与内环形槽8的内壁接触面形成有第一摩擦面15，第二端面齿轮13与外环形槽7的内壁接触面形成有第二摩擦面16，形成第一端面齿轮11旋转时，第一摩擦面15的摩擦力小于第二摩擦面16的摩擦力与准直铅板5旋转受到阻力之和，使第一端面齿轮11相对于准直铅板5旋转驱动遮挡件移动的结构；形成第二端面齿轮13旋转时，第二摩擦面16的摩擦力小于第一摩擦面15的摩擦力与准直铅板5旋转受到阻力之和，使第二端面齿轮13相对于准直铅板5旋转驱动遮挡件移动的结构高度调节装置调整X射线源4高度的结构，形成第一端面齿轮11和第二端面齿轮13同时被驱动时，第二摩擦面16与第一摩擦面15的摩擦力之和就会大于准直铅板5旋转受到阻力，使准直铅板5旋转，调整测试不同位置X射线。

该实施例中，利用第一端面齿轮11和第二端面齿轮13的设置在驱动件的驱动下带动带动螺旋叶片12和驱动板14旋转，使螺旋叶片12和驱动板14能够分别带动遮挡件和高度调节装置进行调节；利用第一摩擦面15和第二摩擦面16的设置能够在第一端面齿轮11和第二端面齿轮13同步旋转时带动准直铅板5旋转调整，同时在第一端面齿轮11和第二端面齿轮13在单独旋转时能够驱动遮挡件和高度调节装置单独旋转；

利用第一端面齿轮11和第二端面齿轮13的同步旋转从而对准直通孔6的角度和线阵列探测器9同步旋转，从而对不同位置的扇形X射线束进行测试。

在本发明的一些实施例中，遮挡件包括可滑动的插接在导向通孔10内部的方形铅板17，方形铅板17的固定安装有多个与螺旋叶片12相适配的凸起18，且螺旋叶片12内部始终保持最少有一个凸起18，形成螺旋叶片12在旋转时驱动凸起18带动方形铅板17在导向通孔10的内部移动，对准直通孔6的长度进行调节。

该实施例中，利用螺旋叶片12的旋转通过凸起18带动方形铅板17沿导向通孔10移动，使方形铅板17向导向通孔10移动或远离，从而对导向通孔10的大小进行调整，从而对扇形X射线束的大小进行调整，从而实现对扇形X射线束的局部进行测试。

在本发明的一些实施例中，高度调节装置包括开设在准直铅板5上的凹槽19，凹槽19与外环形槽7连通且内部转动安装有第一齿轮20和第一摆动杆21，第一齿轮20和第一摆动杆21同步旋转，且第一齿轮20与驱动板14的顶部的螺旋槽啮合，第一摆动杆21的顶部与线阵列探测器9之间铰接有第二摆动杆22，形成驱动板14在旋转时就会在螺旋槽的驱动下带动第一齿轮20旋转，时第一齿轮20带动第一摆动杆21和第二摆动杆22调节夹角大小，从而带动线阵列探测器9进行升降。

该实施例中，利用第一齿轮20与驱动板14顶部螺旋槽的配合带动第一摆动杆21和第二摆动杆22进行调整夹角，通过第一摆动杆21和第二摆动杆22的摆动调整线阵列探测器9的高度，使阵列探测器9与准直通孔6和X射线源4的距离发生变化，从而实现对不同高度扇形X射线束的进行测试；

利用凹槽19的设置能够保证第一齿轮20和第一摆动杆21的正常安装，由于第一齿轮20和第一摆动杆21固定在一起，当驱动板14的顶部的螺旋槽在旋转时就会驱动第一齿轮20转动从而带动第一摆动杆21调整角度。

在本发明的一些实施例中，驱动件包括水平设置的驱动轴筒23，驱动轴筒23延伸到铅室3的内部并固定安装有与第二端面齿轮13啮合的第二齿轮24，驱动轴筒23的内部转动安装有驱动主轴25，驱动主轴25的两端均延伸到驱动轴筒23的外侧，且驱动主轴25的右端固定安装有与第一端面齿轮11啮合的第三齿轮26，驱动主轴25左端与定位板2连接；

驱动轴筒23和驱动主轴25的外侧左部分别套接有第一摩擦轮27和第二摩擦轮28，第一摩擦轮27和第二摩擦轮28的外侧套接有转动套29，转动套29的内表面中部设置为摩擦部位两端设置为光滑部位，形成摩擦部位与第一摩擦轮27接触使可以带动驱动轴筒23旋转，摩擦部位与第二摩擦轮28接触使带动驱动主轴25旋转，当摩擦部位与第一摩擦轮27和第二摩擦轮28同时接触时可以带动驱动轴筒23和驱动主轴25同步旋转；

驱动轴筒23的外侧两端均套接有摩擦支板35，位于左端摩擦支板35固定在底座1的顶部，位于右端摩擦支板35固定在铅室3的内底壁，摩擦支板35被适配为对驱动轴筒23支撑并加大驱动轴筒23摩擦的结构。

该实施例中，用转动套29摩擦部位的不同位置从而与第一摩擦轮27和第二摩擦轮28进行接触，从而使转动套29在旋转时单独驱动驱动轴筒23或驱动主轴25旋转，从而驱动第一端面齿轮11或第二端面齿轮13旋转；同时转动套29移动到第一摩擦轮27和第二摩擦轮28之间距离的中心出时摩擦部位就会与第一摩擦轮27和第二摩擦轮28同时接触，从而驱动驱动轴筒23或驱动主轴25同步旋转，使第一端面齿轮11或第二端面齿轮13能够同时旋转；

利用驱动轴筒23和驱动主轴25的设置在不会相互影响的作用下能够正常带动第二齿轮24和三齿轮26旋转；使第二齿轮24和三齿轮26能够正常驱动第一端面齿轮11或第二端面齿轮13旋转；

由于第一摩擦轮27和第二摩擦轮28分别固定在驱动轴筒23和驱动主轴25的外侧，在转动套29旋转时就会通过第一摩擦轮27或第二摩擦轮28带动驱动轴筒23或驱动主轴25旋转，且转动套29在除了人力的驱动下，还可以通过电机进行驱动，采用电机驱动时，将转动套29外表面设置为圆形，并通过皮带将转动套29于电机连接，启动电机后，电机就会通过皮带带动转动套29旋转；

转动套29光滑部位的直径大于第一摩擦轮27和第二摩擦轮28的直径，且两端开口均螺接有阻挡环，当阻挡环与第一摩擦轮27接触时转动套29就会驱动第二摩擦轮28旋转，挡阻挡环与第二摩擦轮28接触时转动套29就会驱动第一摩擦轮27旋转；

利用摩擦支板35与驱动轴筒23的摩擦力能够避免驱动主轴25在旋转时带动驱动轴筒23同步旋转；利用驱动主轴25与定位板2之间的摩擦力能够避免驱动轴筒23在旋转时带动驱动主轴25旋转。

在本发明的一些实施例中，准直铅板5的外侧固定安装有架环30，架环30的上下两侧均接触有摩擦限位环31，摩擦限位环31固定在铅室3的内部并对准直铅板5的旋转造成阻碍。

该实施例中，利用摩擦限位环31和架环30之间的摩擦打破第一摩擦面15与第二摩擦面16的平衡，当第一端面齿轮11与第二端面齿轮13单独被驱动时，第一摩擦面15的摩擦力小于第二摩擦面16与摩擦限位环31和架环30之间的摩擦总和或第二摩擦面16的摩擦力小于第一摩擦面15与摩擦限位环31和架环30之间的摩擦总，从而实现对方形铅板17或线阵列探测器9的单独驱动，避免第一端面齿轮11和第二端面齿轮13在驱动时相互影响；而第一端面齿轮11与第二端面齿轮13在被同时驱动时，第一摩擦面15和第二摩擦面16的摩擦力之和就会大于摩擦限位环31和架环30之间的摩擦，使第一端面齿轮11与第二端面齿轮13带动准直铅板5和线阵列探测器9旋转，对扇形X射线束的测试位置进行调整。

在本发明的一些实施例中，线阵列探测器9的上表面两端均固定安装有导向杆32，导向杆32的外侧套接有导向套33，导向套33的顶部固定安装有转动盘34，转动盘34的外侧可转动的插接在铅室3的内定壁。

该实施例中，利用导向套33和导向杆32的配合能够使线阵列探测器9在升降使起到导向的作用，同时转动盘34的设置能够在保证导向套33稳定的同时不会对线阵列探测器9的旋转造成影响。

本发明的工作方法：

使用时，启动X射线源4，由X射线源4发射锥形X射线束，当锥形X射线束到达准直铅板5处时，就会被准直铅板5和方形铅板17进行阻挡，部分X射线束通过准直通孔6，且通过准直通孔6的X射线束就会变为扇形X射线束，以适应线阵列探测器9，当扇形X射线束落到线阵列探测器9上时，线阵列探测器9接收到的数据，通过网线传输到计算机，通过探测器数据，可以评估X射线源不同方向的均匀性和时间响应特性；

当需要调整准直通孔6的直径时，将转动套29向左移动，使转动套29的摩擦部位与第二摩擦轮28带动驱动主轴25旋转，当驱动主轴25旋转时就会带动内环形槽8和螺旋叶片12旋转，由于螺旋叶片12为螺旋设置，在旋转时就会推动凸起18移动改变位置，使凸起18带动方形铅板17沿导向通孔10移动到准直通孔6中心线处移动，或远离中心线移动，并对准直通孔6的大小进行调整；

当需要调整线阵列探测器9的高度时，将转动套29向右移动，使转动套29的摩擦部位与第一摩擦轮27带动驱动轴筒23旋转，当驱动轴筒23旋转时就会带动外环形槽7和驱动板14旋转，由于驱动板14上开设有螺旋槽，使驱动板14能够与第一齿轮20向适配啮合，当驱动板14在旋转时，驱动板14与第一齿轮20的啮合点就会发生变化，使第一齿轮20旋转，当第一齿轮20在旋转时就会带动第一摆动杆21旋转并改变与第二摆动杆22之间的夹角度，从而使第一摆动杆21和第二摆动杆22带动线阵列探测器9进行升降；

当需要测试不同位置的X射线时，将转动套29的摩擦部同时与第一摩擦轮27和第二摩擦轮28接触，时第一摩擦轮27和第二摩擦轮28通过驱动主轴25和驱动轴筒23同时带动第二齿轮24和第三齿轮26旋转，由于第二齿轮24与第二端面齿轮13的传动比和第三齿轮26与第一端面齿轮11的传动比相同，也就是说，第一端面齿轮11旋转一周第三齿轮26旋转的圈数与第二端面齿轮13旋转一周第二齿轮24旋转的圈数相同，且第二齿轮24和第三齿轮26的齿轮齿牙数量相同，第二端面齿轮13和第一端面齿轮11的齿轮齿牙数量相同，使第二齿轮24和第三齿轮2在对第二端面齿轮13和第一端面齿轮11同时驱动时不会发生相互影响的现象，当第二端面齿轮13和第一端面齿轮11同时旋转时就会带动准直铅板5和线阵列探测器9同步旋转，从而对X射线的不同位置进行测量。

该文中出现的电器元件均与外界的主控器及220V市电电连接，并且主控器可为计算机等起到控制的常规已知设备。

最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种X射线源测试装置，其特征在于，包括：

水平放置的底座（1），所述底座（1）的顶部左端固定安装有定位板（2），所述底座（1）的顶部右端固定安装有用于遮挡自然光和屏蔽X射线辐射的铅室（3）；

固定在铅室（3）内底壁的X射线源（4），且X射线源（4）与铅室（3）偏心设置；

位于X射线源（4）上方的准直铅板（5），所述准直铅板（5）的中心开始有上下贯通的准直通孔（6），所述准直铅板（5）的底部开始有内环形槽（8）和外环形槽（7），且内环形槽（8）的深度大于外环形槽（7）的深度；

位于准直铅板（5）上方的线阵列探测器（9），所述线阵列探测器（9）通过高度调节装置与X射线源（4）连接；

用于调整准直通孔（6）大小的遮挡件，所述准直铅板（5）的内部开设有可对遮挡件导向的导向通孔（10），所述导向通孔（10）与内环形槽（8）和准直通孔（6）连通；

所述内环形槽（8）和外环形槽（7）的内部分别转动安装有用于驱动遮挡件和高度调节装置的第一导动件和第二导动件；

驱动第一导动件和第二导动件转动的驱动件，所述驱动件延伸到铅室（3）的外侧并与定位板（2）连接。

2.根据权利要求1所述的一种X射线源测试装置，其特征在于：

所述第一导动件包括转动安装在内环形槽（8）内部的第一端面齿轮（11），所述第一端面齿轮（11）的顶部固定安装有螺旋叶片（12）；

所述第二导动件转动包括转动安装在外环形槽（7）内部的第二端面齿轮（13），所述第二端面齿轮（13）的顶部固定安装有驱动板（14），所述驱动板（14）的顶部开始有与高度调节装置啮合的螺旋槽；

所述螺旋叶片（12）的高度大于驱动板（14）的高度。

3.根据权利要求2所述的一种X射线源测试装置，其特征在于：

所述第一端面齿轮（11）与内环形槽（8）的内壁接触面形成有第一摩擦面（15），所述第二端面齿轮（13）与外环形槽（7）的内壁接触面形成有第二摩擦面（16），形成第一端面齿轮（11）旋转时，第一摩擦面（15）的摩擦力小于第二摩擦面（16）的摩擦力与准直铅板（5）旋转受到阻力之和，使第一端面齿轮（11）相对于准直铅板（5）旋转驱动遮挡件移动的结构；形成第二端面齿轮（13）旋转时，第二摩擦面（16）的摩擦力小于第一摩擦面（15）的摩擦力与准直铅板（5）旋转受到阻力之和，使第二端面齿轮（13）相对于准直铅板（5）旋转驱动遮挡件移动的结构高度调节装置调整X射线源（4）高度的结构，形成第一端面齿轮（11）和第二端面齿轮（13）同时被驱动时，第二摩擦面（16）与第一摩擦面（15）的摩擦力之和就会大于准直铅板（5）旋转受到阻力，使准直铅板（5）旋转，调整测试不同位置X射线。

4.根据权利要求1所述的一种X射线源测试装置，其特征在于：

所述遮挡件包括可滑动的插接在导向通孔（10）内部的方形铅板（17），所述方形铅板（17）的固定安装有多个与螺旋叶片（12）相适配的凸起（18），且螺旋叶片（12）内部始终保持最少有一个凸起（18），形成螺旋叶片（12）在旋转时驱动凸起（18）带动方形铅板（17）在导向通孔（10）的内部移动，对准直通孔（6）的长度进行调节。

5.根据权利要求1所述的一种X射线源测试装置，其特征在于：

所述高度调节装置包括开设在准直铅板（5）上的凹槽（19），所述凹槽（19）与外环形槽（7）连通且内部转动安装有第一齿轮（20）和第一摆动杆（21），所述第一齿轮（20）和第一摆动杆（21）同步旋转，且第一齿轮（20）与驱动板（14）的顶部的螺旋槽啮合，所述第一摆动杆（21）的顶部与线阵列探测器（9）之间铰接有第二摆动杆（22），形成驱动板（14）在旋转时就会在螺旋槽的驱动下带动第一齿轮（20）旋转，时第一齿轮（20）带动第一摆动杆（21）和第二摆动杆（22）调节夹角大小，从而带动线阵列探测器（9）进行升降。

6.根据权利要求1所述的一种X射线源测试装置，其特征在于：

所述驱动件包括水平设置的驱动轴筒（23），所述驱动轴筒（23）延伸到铅室（3）的内部并固定安装有与第二端面齿轮（13）啮合的第二齿轮（24），所述驱动轴筒（23）的内部转动安装有驱动主轴（25），所述驱动主轴（25）的两端均延伸到驱动轴筒（23）的外侧，且驱动主轴（25）的右端固定安装有与第一端面齿轮（11）啮合的第三齿轮（26），驱动主轴（25）左端与定位板（2）连接。

7.根据权利要求6所述的一种X射线源测试装置，其特征在于：

所述驱动轴筒（23）和驱动主轴（25）的外侧左部分别套接有第一摩擦轮（27）和第二摩擦轮（28），所述第一摩擦轮（27）和第二摩擦轮（28）的外侧套接有转动套（29），所述转动套（29）的内表面中部设置为摩擦部位两端设置为光滑部位，形成摩擦部位与第一摩擦轮（27）接触使可以带动驱动轴筒（23）旋转，摩擦部位与第二摩擦轮（28）接触使带动驱动主轴（25）旋转，当摩擦部位与第一摩擦轮（27）和第二摩擦轮（28）同时接触时可以带动驱动轴筒（23）和驱动主轴（25）同步旋转。

8.根据权利要求6所述的一种X射线源测试装置，其特征在于：

所述驱动轴筒（23）的外侧两端均套接有摩擦支板（35），位于左端所述摩擦支板（35）固定在底座（1）的顶部，位于右端所述摩擦支板（35）固定在铅室（3）的内底壁，所述摩擦支板（35）被适配为对驱动轴筒（23）支撑并加大驱动轴筒（23）摩擦的结构。

9.根据权利要求1所述的一种X射线源测试装置，其特征在于：

所述准直铅板（5）的外侧固定安装有架环（30），所述架环（30）的上下两侧均接触有摩擦限位环（31），所述摩擦限位环（31）固定在铅室（3）的内部并对准直铅板（5）的旋转造成阻碍。

10.根据权利要求1所述的一种X射线源测试装置，其特征在于：

所述线阵列探测器（9）的上表面两端均固定安装有导向杆（32），所述导向杆（32）的外侧套接有导向套（33），所述导向套（33）的顶部固定安装有转动盘（34），所述转动盘（34）的外侧可转动的插接在铅室（3）的内定壁。

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