CN115327348A - 电路板测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及电路板技术领域,具体公开了电路板测试装置。电路板测试装置包括支撑架、压接机构、插接机构、功能测试机和控制主板,压接机构、插接机构和控制主板均设于支撑架上;支撑架能够放置电路板;压接机构包括探针,压接机构能够将探针压接于电路板的连接片上,插接机构包括第一插座,插接机构能够将第一插座插接于电路板的第二插座上,且功能测试机电连接于探针和第一插座;同时,控制主板上设置有复位按钮。本发明通过工作人员人工确认并按压复位按钮后,才能使得压接机构和插接机构复位,以对电路板是否为不合格品进行防呆,避免在大批量作业时,工作人员对电路板是否为不合格品产生记录错误,以此避免生产出不合格成品。

Description

电路板测试装置
技术领域
本发明涉及电路板技术领域,尤其涉及电路板测试装置。
背景技术
电路板包括硬性线路板、柔性线路板以及软硬结合版,其适用于3C电子产品、汽车及航天等领域。
现有技术的电路板产品在进行功能测试时,需要通过手动把功能测试机上的公座插入电路板上的母座中,再将连接于功能测试机上的夹子夹紧到电路板的连接片上,以此实现功能测试机对电路板的功能测试,但此过程需要人工操作,不但增加了人力成本,而且在长时间的记录过程中,对电路板是否为不良品容易产生记录错误,进而造成了生产不合格成品的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供电路板测试装置,以解决现有技术中电路板的功能测试需要人工操作,不但增加了人力成本,而且在长时间的记录过程中,对电路板是否为不良品容易产生记录错误,进而造成了生产不合格成品的问题。
为达上述目的,本发明采用以下技术方案:
本发明提供的电路板测试装置,用于对电路板的功能进行测试,上述电路板测试装置包括:
支撑架,上述支撑架能够放置上述电路板;
压接机构,上述压接机构设于上述支撑架上;上述压接机构包括探针,上述压接机构能够将上述探针压接于上述电路板的连接片上;
插接机构,上述插接机构设于上述支撑架上;上述插接机构包括第一插座,上述插接机构能够将上述第一插座插接于上述电路板的第二插座上;
功能测试机,上述功能测试机电连接于上述探针和上述第一插座,用于检测上述电路板是否合格;
控制主板,上述控制主板设于上述支撑架上;上述控制主板上设置有复位按钮,上述复位按钮用于在上述电路板为不合格品时,将上述压接机构和上述插接机构进行复位。
作为上述电路板测试装置的一种可选方案,上述控制主板还设置有第一显示件和第二显示件;上述第一显示件用于在上述电路板为合格品时发出信号,以使上述压接机构和上述插接机构进行复位;上述第二显示件用于在上述电路板为不合格品时发出信号,以使上述压接机构和上述插接机构不进行复位。
作为上述电路板测试装置的一种可选方案,上述压接机构还包括支撑板、第一气缸和盖板,上述支撑板设于上述支撑架上,上述第一气缸设于上述支撑板上,上述盖板设于上述第一气缸的驱动端,上述探针设于上述盖板上;上述第一气缸用于驱动上述盖板,以使上述盖板上的上述探针能够压接于上述电路板的上述连接片上。
作为上述电路板测试装置的一种可选方案,上述第一气缸设置有多个,多个上述第一气缸间隔设于上述支撑板上。
作为上述电路板测试装置的一种可选方案,上述插接机构还包括插接组件,上述插接组件包括插接支架、第二气缸和插块;上述插接支架设于上述支撑架上,上述第二气缸设于上述插接支架上,上述插块设于上述第二气缸的驱动端,上述第一插座设于上述插块上;上述第二气缸用于驱动上述插块,以使上述插块上的上述第一插座能够插接于上述第二插座上。
作为上述电路板测试装置的一种可选方案,上述插接机构还包括限位组件,上述限位组件包括第三气缸和压块,上述第三气缸设于上述插接支架上,上述压块设于上述第三气缸的驱动端;上述第三气缸用于驱动上述压块,以使上述压块将上述电路板的上述第二插座抵接限位于上述插接支架上。
作为上述电路板测试装置的一种可选方案,上述压块具有导向部,上述插接支架上设置有导向孔,上述导向部滑动设于上述导向孔内。
作为上述电路板测试装置的一种可选方案,上述探针为弹性探针。
作为上述电路板测试装置的一种可选方案,上述支撑架包括底板和承载板,上述承载板设于上述底板上;上述承载板上开设有安装槽,上述电路板能够嵌设于上述安装槽内。
作为上述电路板测试装置的一种可选方案,上述承载板与上述底板沿竖直方向间隔设置,上述插接机构设于上述承载板上。
本发明的有益效果为:
该电路板测试装置包括支撑架、压接机构、插接机构、功能测试机和控制主板,压接机构、插接机构和控制主板均设于支撑架上。其中,支撑架还能够放置电路板。压接机构包括探针,压接机构能够将探针压接于电路板的连接片上,插接机构包括第一插座,插接机构能够将第一插座插接于电路板的第二插座上,且功能测试机电连接于探针和第一插座,从而功能测试机与电路板之间能够形成回路,用于检测电路板是否合格,以实现电路板测试装置对电路板功能的测试,电路板在放置于支撑架上后,该电路板测试装置对电路板的安装和测试均为自动化操作完成,进而提高了检测效率,减少了人力成本。同时,控制主板上设置有复位按钮,复位按钮用于在电路板为不合格品时,将压接机构和插接机构进行复位,进而不合格的电路板无法直接脱离压接机构和插接机构,需要工作人员人工确认并按压复位按钮后,才能使得压接机构和插接机构复位,以将电路板脱离电路板测试装置,该过程能够对电路板是否为不合格品进行防呆,避免在大批量作业时,工作人员对电路板是否为不合格品产生记录错误,以此避免生产出不合格成品。
附图说明
图1为本发明实施例所提供的电路板测试装置的结构示意图;
图2为图1中A处的局部放大图;
图3为本发明实施例所提供的插接机构的结构示意图;
图4为本发明实施例所提供的电路板的结构示意图。
图中:
1、支撑架;11、底板;12、承载板;2、压接机构;21、探针;22、支撑板;23、第一气缸;24、盖板;3、插接机构;31、第一插座;32、插接组件;321、插接支架;322、第二气缸;323、插块;33、限位组件;331、第三气缸;332、压块;3321、导向部;4、功能测试机;5、控制主板;51、复位按钮;52、第一显示件;53、第二显示件;54、开始按钮;6、电路板;61、连接片;62、第二插座。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”、仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。其中,术语“第一位置”和“第二位置”为两个不同的位置,而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本发明的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。
本实施例提供的电路板测试装置,用于对电路板的功能进行测试。
如图1~图4所示,该电路板测试装置包括支撑架1、压接机构2、插接机构3、功能测试机4和控制主板5,压接机构2、插接机构3和控制主板5均设于支撑架1上。其中,支撑架1还能够放置电路板6。压接机构2包括探针21,压接机构2能够将探针21压接于电路板6的连接片61上,插接机构3包括第一插座31,插接机构3能够将第一插座31插接于电路板6的第二插座62上,且功能测试机4电连接于探针21和第一插座31,从而功能测试机4与电路板6之间能够形成回路,用于检测电路板6是否合格,以实现电路板测试装置对电路板6功能的测试,电路板6在放置于支撑架1上后,该电路板测试装置对电路板6的安装和测试均为自动化操作完成,进而提高了检测效率,减少了人力成本。可选地,探针21为弹性探针,弹性探针抵接于电路板6的连接片61上时能够产生缓冲,以此能够防止损伤电路板6。进一步可选地,连接片61为镍片。
同时,控制主板5上设置有复位按钮51,复位按钮51用于在电路板6为不合格品时,将压接机构2和插接机构3进行复位,进而不合格的电路板6无法直接脱离压接机构2和插接机构3,需要工作人员人工确认并按压复位按钮51后,才能使得压接机构2和插接机构3复位,以将电路板6脱离电路板测试装置,该过程能够对电路板6是否为不合格品进行防呆,避免在大批量作业时,工作人员对电路板6是否为不合格品产生记录错误,以此避免生产不合格产品。具体地,电路板测试装置用于新能源汽车中,电池温度电压采集线功能测试。
进一步地,控制主板5还设置有第一显示件52和第二显示件53,第一显示件52用于在电路板6为合格品时发出信号,以使压接机构2和插接机构3进行复位,第二显示件53用于在电路板6为不合格品时发出信号,以使压接机构2和插接机构3不进行复位,方便工作人员通过第一显示件52和第二显示件53对电路板6是否为合格品进行判断,进而当电路板6为合格品时,压接机构2与插接机构3能够自动进行复位,无需工作人员手动按压复位按钮51,以此实现合格电路板6测试的全程自动化;当电路板6为不合格品时,压接机构2与插接机构3需要工作人员按压复位按钮51进行复位,以此实现不合格电路板6测试的半自动化。可选地,第一显示件52与第二显示件53均为显示灯,以方便通过第一显示灯是否发光以及第二显示灯是否发光,对电路板6是否为合格品进行判断。进一步可选地,控制主板5上还设置有开始按钮54,开始按钮54用于控制电路板测试装置的启动。
进一步地,支撑架1包括底板11和承载板12,承载板12设于底板11上,承载板12上开设有安装槽,电路板6能够嵌设于安装槽内,从而通过安装槽能够对电路板6的位置进行限位,以提高探针21压接于电路板6的连接片61上以及第一插座31插接于第二插座62上时的安装精度。可选地,承载板12与底板11沿竖直方向间隔设置,插接机构3设于承载板12上,从而插接机构3和电路板6均位于承载板12上,以此能够进一步提高第一插座31插接于第二插座62上时的安装精度,且承载板12与底板11之间具有一定的间隔,使得承载板12的周围具有避让空间,以方便插接机构3在承载板12上的安装。
如图1和图2所示,压接机构2还包括支撑板22、第一气缸23和盖板24,支撑板22设于支撑架1上,第一气缸23设于支撑板22上,盖板24设于第一气缸23的驱动端,探针21设于盖板24上,第一气缸23用于驱动盖板24,以使盖板24上的探针21能够压接于电路板6的连接片61上,以此实现探针21与连接片61相连接的自动化。具体地,支撑板22固定连接于底板11上,以此确保支撑板22的稳定性,盖板24位于电路板6的上方,第一气缸23能够驱动盖板24沿竖直方向移动,使得设于盖板24上的探针21与电路板6的连接片61相接触或分离,且盖板24上的探针21设置有多个,多个探针21与多个电路板6的连接片61对应设置,进而实现多个探针21与电路板6上的多个部位进行连接。可选地,第一气缸23设置有多个,多个第一气缸23间隔设于支撑板22上,从而通过多个第一气缸23对盖板24的驱动,能够确保盖板24在移动过程中的稳定性,避免盖板24抖动造成探针21抖动,造成探针21与连接片61的接触不良。
如图1和图3所示,插接机构3还包括插接组件32,插接组件32包括插接支架321、第二气缸322和插块323,插接支架321设于支撑架1上,第二气缸322设于插接支架321上,插块323设于第二气缸322的驱动端,第一插座31设于插块323上,第二气缸322用于驱动插块323,以使插块323上的第一插座31能够插接于第二插座62上,以此实现第一插座31与第二插座62相连接的自动化。具体地,插接支架321位于电路板6具有第二插座62的一侧,第二气缸322能够驱动插块323沿水平方向移动,使得插块323上的第一插座31与电路板6的第二插座62相插接或分离。
进一步地,插接机构3还包括限位组件33,限位组件33包括第三气缸331和压块332,第三气缸331设于插接支架321上,压块332设于第三气缸331的驱动端,第三气缸331用于驱动压块332,以使压块332将电路板6的第二插座62抵接限位于插接支架321上,以此避免第一插座31和第二插座62插接过程中,第二插座62脱离既定位置。具体地,插接支架321上设置有凹槽,第二插座62放置于凹槽内,凹槽用于外形固定第二插座62,使得压块332下降抵接限位第二插座62的过程中,第二插座62不会脱离既定位置,且第二插座62与第一插座31均在插接支架321上安装,因此没有安装误差,进而确保第二插座62的位置精度,使得第一插座31与第二插座62处于同一平面,以使第一插座31能够准确的插接于第二插座62上。可选地,压块332具有导向部3321,插接支架321上设置有导向孔,导向部3321滑动设于导向孔内,进而通过导向部3321在导向孔内的导向移动,能够确保压块332抵接限位第二插座62的位置精度。具体地,第三气缸331驱动压块332沿竖直方向移动,压块332能够沿竖直方向将第二插座62抵接限位于承载板12的安装槽内。
显然,本发明的上述实施例仅仅是为了清楚说明本发明所作的举例,而并非是对本发明的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明权利要求的保护范围之内。

Claims (10)

1.电路板测试装置,用于对电路板(6)的功能进行测试,其特征在于,所述电路板测试装置包括:
支撑架(1),所述支撑架(1)能够放置所述电路板(6);
压接机构(2),所述压接机构(2)设于所述支撑架(1)上;所述压接机构(2)包括探针(21),所述压接机构(2)能够将所述探针(21)压接于所述电路板(6)的连接片(61)上;
插接机构(3),所述插接机构(3)设于所述支撑架(1)上;所述插接机构(3)包括第一插座(31),所述插接机构(3)能够将所述第一插座(31)插接于所述电路板(6)的第二插座(62)上;
功能测试机(4),所述功能测试机(4)电连接于所述探针(21)和所述第一插座(31),用于检测所述电路板(6)是否合格;
控制主板(5),所述控制主板(5)设于所述支撑架(1)上;所述控制主板(5)上设置有复位按钮(51),所述复位按钮(51)用于在所述电路板(6)为不合格品时,将所述压接机构(2)和所述插接机构(3)进行复位。
2.根据权利要求1所述的电路板测试装置,其特征在于,所述控制主板(5)还设置有第一显示件(52)和第二显示件(53);所述第一显示件(52)用于在所述电路板(6)为合格品时发出信号,以使所述压接机构(2)和所述插接机构(3)进行复位;所述第二显示件(53)用于在所述电路板(6)为不合格品时发出信号,以使所述压接机构(2)和所述插接机构(3)不进行复位。
3.根据权利要求1所述的电路板测试装置,其特征在于,所述压接机构(2)还包括支撑板(22)、第一气缸(23)和盖板(24),所述支撑板(22)设于所述支撑架(1)上,所述第一气缸(23)设于所述支撑板(22)上,所述盖板(24)设于所述第一气缸(23)的驱动端,所述探针(21)设于所述盖板(24)上;所述第一气缸(23)用于驱动所述盖板(24),以使所述盖板(24)上的所述探针(21)能够压接于所述电路板(6)的所述连接片(61)上。
4.根据权利要求3所述的电路板测试装置,其特征在于,所述第一气缸(23)设置有多个,多个所述第一气缸(23)间隔设于所述支撑板(22)上。
5.根据权利要求1所述的电路板测试装置,其特征在于,所述插接机构(3)还包括插接组件(32),所述插接组件(32)包括插接支架(321)、第二气缸(322)和插块(323);所述插接支架(321)设于所述支撑架(1)上,所述第二气缸(322)设于所述插接支架(321)上,所述插块(323)设于所述第二气缸(322)的驱动端,所述第一插座(31)设于所述插块(323)上;所述第二气缸(322)用于驱动所述插块(323),以使所述插块(323)上的所述第一插座(31)能够插接于所述第二插座(62)上。
6.根据权利要求5所述的电路板测试装置,其特征在于,所述插接机构(3)还包括限位组件(33),所述限位组件(33)包括第三气缸(331)和压块(332),所述第三气缸(331)设于所述插接支架(321)上,所述压块(332)设于所述第三气缸(331)的驱动端;所述第三气缸(331)用于驱动所述压块(332),以使所述压块(332)将所述电路板(6)的所述第二插座(62)抵接限位于所述插接支架(321)上。
7.根据权利要求6所述的电路板测试装置,其特征在于,所述压块(332)具有导向部(3321),所述插接支架(321)上设置有导向孔,所述导向部(3321)滑动设于所述导向孔内。
8.根据权利要求1所述的电路板测试装置,其特征在于,所述探针(21)为弹性探针。
9.根据权利要求1所述的电路板测试装置,其特征在于,所述支撑架(1)包括底板(11)和承载板(12),所述承载板(12)设于所述底板(11)上;所述承载板(12)上开设有安装槽,所述电路板(6)能够嵌设于所述安装槽内。
10.根据权利要求9所述的电路板测试装置,其特征在于,所述承载板(12)与所述底板(11)沿竖直方向间隔设置,所述插接机构(3)设于所述承载板(12)上。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117590205A (zh) * 2024-01-19 2024-02-23 苏州朗之睿电子科技有限公司 芯片测试器、其制造方法及芯片测试装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN117590205A (zh) * 2024-01-19 2024-02-23 苏州朗之睿电子科技有限公司 芯片测试器、其制造方法及芯片测试装置
CN117590205B (zh) * 2024-01-19 2024-04-05 苏州朗之睿电子科技有限公司 芯片测试器、其制造方法及芯片测试装置

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