CN115166570A - 自动测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种自动测试装置，包括测试机构、取料及翻转机构和安装机构，所述测试机构包括主传送带、治具回流结构以及多个老化治具，所述主传送带具有进料位和出料位，所述治具回流结构具有进料端和出料端，所述治具回流结构的进料端级联所述主传送带的出料位，所述治具回流结构的出料端级联所述主传送带的进料位，多个所述老化治具与所述主传送带传动连接，每一所述老化治具设有多个测试位；所述取料及翻转机构用于转移待测适配器，并根据所述测试位对所述待测适配器进行角度翻转处理；所述安装机构用于将所述待测适配器一对一地插接至所述测试位。用于解决通过人工将待测电源适配器插接至老化治具时容易发生位置偏移，测试效率低的问题。

Description

自动测试装置

技术领域

本发明涉及电源测试设备技术领域，具体涉及一种自动测试装置。

背景技术

一般地，对电源适配器等电子产品进行老化测试时，需要人工将产品逐一地装入老化治具后再通过传送带传送至预测试工位，以对产品进行性能测试。整个测试流程的执行对人工依赖性较大，不仅需要通过人工将待测适配器逐一地插接至老化治具的测试位以完成AC端的插接，在插接至测试位的同时还需要将带线产品DC端插入每一老化治具，因带线产品组装困难，容易出现挂线，且通过人工将电源适配器插接至老化治具的过程中容易发生位置偏移，测试效率低。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种自动测试装置，用于解决通过人工将待测电源适配器插接至老化治具的过程中容易发生位置偏移，测试效率低的问题。

为实现上述目的，本发明提供了一种自动测试装置，包括：

测试机构，所述测试机构包括主传送带、治具回流结构以及多个老化治具，所述主传送带具有进料位和出料位，所述治具回流结构具有进料端和出料端，所述治具回流结构的进料端级联所述主传送带的出料位，所述治具回流结构的出料端级联所述主传送带的进料位，多个所述老化治具与所述主传送带传动连接，每一所述老化治具设有多个测试位；

取料及翻转机构，用于转移待测适配器，并根据所述测试位对所述待测适配器进行角度翻转处理；

安装机构，用于将所述待测适配器一对一地插接至所述测试位。

在一实施例中，所述治具回流结构还包括：

多个检测组件，每一所述检测组件均沿所述主传送带的传送方向设置，用于检测所述老化治具的位置；

多个第一阻挡结构，多个所述第一阻挡结构沿所述主传送带的传送方向间隔设置，用于在检测到所述老化治具时阻挡所述老化治具。

在一实施例中，所述主传送带还设有第一阻挡开关，所述第一阻挡开关有多个，多个所述第一阻挡结构分为多个阻挡组，每一所述阻挡组包括至少一个第一阻挡结构，多个所述阻挡开关与多个阻挡组一对一地连接，每一所述阻挡开关用于控制对应连接的所述阻挡组的工作，以放行所述老化治具。

在一实施例中，所述主传送带还设有多个第二阻挡结构，每一所述第二阻挡结构设于任意相邻的两个第一阻挡结构之间。

在一实施例中，所述治具回流结构包括回流传送带、第一升降组件和第二升降组件，所述回流传送带与所述主传送带的传送方向相反，所述主传送带的进料位级联所述第一升降组件，所述主传送带的出料位级联所述第二升降组件，所述回流传送带具有进料位和出料位，所述回流传送带的进料位级联所述第二升降组件，所述回流传送带的出料位级联所述第一升降组件。

在一实施例中，所述自动测试装置还包括中转机构，所述中转机构安装于所述取料及翻转机构与所述安装机构之间，所述中转机构包括传动组件和中转工位，所述传动组件沿其传送方向具有相对的起始位置和待测位置，所述起始位置邻接所述取料及翻转机构，所述待测位置邻接所述安装机构，所述中转工位设于所述传动组件的传送路径上，用于在所述取料及翻转机构与所述安装机构之间来回移动。

在一实施例中，所述中转机构还包括第一移动导轨和安装架，所述第一移动导轨有两个，两个所述第一移动导轨间隔设于所述中转机构顶部，所述安装机构设于所述安装架，所述安装架架设于两个所述第一移动导轨之间，用于供所述安装机构在所述中转机构与所述测试机构之间进行来回移动。

在一实施例中，所述中转机构还包括：

扫描组件，所述扫描组件设于所述起始位置和所述待测位置之间，用于对所述中转机构上的待测适配器进行扫码处理，以判断所述待测适配器是否为扫码不良品；

回收机构，所述回收机构对位所述扫描组件设于所述传动组件的侧边；

第二移动导轨，所述第二移动导轨设于所述安装架，所述安装机构滑动连接于所述第二移动导轨；

当所述待测适配器是扫码不良品时，所述安装机构用于将所述待测适配器转移至所述回收机构；

当所述待测适配器不是扫码不良品时，所述安装机构用于将所述待测适配器一对一地插接至所述测试位。

在一实施例中，所述取料及翻转机构包括：

升降机械臂，用于抓取并转移所述待测适配器，所述升降机械臂在转移所述待测适配器的过程中朝第一方向对所述待测适配器进行第一次翻转处理；

转换机械臂，所述转换机械臂设于所述升降机械臂的上方，用于转移完成所述第一次翻转处理的待测适配器，所述转换机械臂在转移所述待测适配器的过程中朝第二方向对所述待测适配器进行第二次翻转处理。

在一实施例中，所述取料及翻转机构还包括第三移动导轨，所述转换机械臂滑动连接于所述第三移动导轨，用于将所述待测适配器传送至所述中转机构。

与现有技术相比本发明具有以下有益效果：

1、设置取料及翻转机构，由取料及翻转组件将上一工序传送的待测适配器取出，并根据老化治具的测试位，在测试之前提前对所述待测适配器进行角度翻转处理，使待测适配器在传送至测试位时能够对位测试位，避免出现待测适配器位置偏移的情况，有效提高测试质量及稳定性；

2、为提高测试效率，每一老化治具设有多个测试位，以同时对各待测适配器进行性能测试，由老化治具的测试位的插孔夹紧插接的待测适配器，以完成对待测适配器的AC端的插接，避免需要通过人工同时完成AC端、DC端的插接，简化加工工序，减少对人工的依赖及加工失误。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明的自动测试装置的一实施例的结构示意图；

图2为本发明的自动测试装置的一实施例的部分结构示意图；

图3为本发明的自动测试装置的另一实施例的部分结构示意图；

图中：100、取料及翻转机构；101、升降机械臂；1011、第一升降机械臂；1012、第二升降机械臂；102、转换机械臂；103、第三移动导轨；200、安装机构；201、升降组件；301、主传送带；3011、进料位；3012、出料位；302、治具回流结构；3021、回流传送带；3022、第一升降组件；303、老化治具；3031、测试位；3041、第一阻挡结构；3042、第二阻挡结构；3043、检测组件；4011、起始位置；4012、待测位置；402、中转工位；403、第一移动导轨；404、安装架；4041、第二移动导轨；4051、扫描工位；406、回收机构；500、安装支架。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，若本发明实施例中所有方向性指示仅用于解释在某一特定姿态下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

若在本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性，或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。若在本发明中涉及“A和/或B”的描述，则表示包含方案A或方案B，或者包含方案A和方案B。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

本发明提供了一种自动测试装置，参照图1至3，所述自动测试装置包括取料及翻转机构100、安装机构200和测试机构。

所述测试机构包括主传送带301、治具回流结构302以及多个老化治具303，所述主传送带301具有进料位3011和出料位3012，所述治具回流结构302具有进料端和出料端，所述治具回流结构302的进料端级联所述主传送带301的出料位3012，所述治具回流结构302的出料端级联所述主传送带301的进料位3011，多个所述老化治具303与所述主传送带301传动连接，每一所述老化治具303设有多个测试位3031。

所述取料及翻转机构100用于转移待测适配器，并根据所述测试位3031对所述待测适配器进行角度翻转处理。

所述安装机构200用于将所述待测适配器一对一地插接至所述测试位3031。

在一示例中，可将所述安装机构200设于所述主传送带301的进料为的上方，用于将所述待测适配器一对一地插接至进入所述主传送带301的老化治具303。

需要说明的是，此处的老化治具可设置测试电路，将所述待测适配器插接至老化治具对应的测试位3031，使各待测适配器与对应测试位3031的测试电路连接，根据实际使用，可在所述主传送带301的出料位3012设置测试工位，并在测试工位设置背板，背板设有电路，每一老化治具303均设有连接端子，由主传送带301的进料位传送至出料位3012的老化治具303通过连接端子与背板电路连接，并根据电路导通与否判断对应的待测适配器是否为良品，进而完成对待测适配器的性能测试，通过性能测试以进一步把控电源适配器的产品质量。

设置取料及翻转机构100，由取料及翻转机构100将上一工序传送的待测适配器取出，并根据老化治具303的测试位3031在测试之前对所述待测适配器进行角度翻转处理，使待测适配器在传送至测试位3031时能够对位测试位3031，避免出现待测适配器位置偏移的情况，有效提高测试质量及稳定性。

为提高测试效率，每一老化治具303设有多个测试位3031，以同时对各待测适配器进行性能测试，由老化治具303的测试位3031的插孔夹紧插接的待测适配器，以完成对待测适配器的AC端的插接，避免需要通过人工同时完成AC端、DC端的插接，简化加工工序，减少对人工的依赖及加工失误。

可选地，于本发明所述的自动测试装置中，可沿所述主传送带301设置人工工位，用于将带线产品DC端插入测试位。

在一实施例中，所述治具回流结构302还包括多个检测组件3043和多个第一阻挡结构3041。

每一所述检测组件3043均沿所述主传送带301的传送方向设置，用于检测所述老化治具303的位置。

多个所述第一阻挡结构3041沿所述主传送带301的传送方向间隔设置，用于在检测到所述老化治具303时阻挡所述老化治具303。

可以理解的是，多个所述检测组件3043一对一地对应多个第一阻挡结构3041，通过所述检测组件3043检测老化治具303的位置，所述阻挡结构可采用气缸或与气缸连接，在检测到老化治具303靠近时，所述阻挡结构自动升起以阻挡对应的老化治具303的通行，以便人工插入带线产品DC端。其中，所述检测组件3043可采用摄像装置、位置传感器等以检测主传送带上是否有老化治具靠近。

在一实施例中，所述主传送带301还设有第一阻挡开关，所述第一阻挡开关有多个，多个所述第一阻挡结构3041分为多个阻挡组，每一所述阻挡组包括至少一个第一阻挡结构3041，多个所述阻挡开关与多个阻挡组一对一地连接，每一所述阻挡开关用于控制对应连接的所述阻挡组的工作，以放行所述老化治具303。在完成人工插线后，由人工按下对应的阻挡开关，所述阻挡结构下降，以放行对应的老化治具303。

在一示例中，以一阻挡组阻挡一老化治具，根据实际，可沿所述主传送带间隔设置多个所述阻挡组，以对应阻挡多个老化治具。

可选地，此处可将所述主传送带设置成导轨结构，所述老化治具置于所述导轨结构且沿导轨结构移动，所述主传送带可包括一个或多个导轨结构，第一阻挡开关固定设置且不随主传送带移动。在所述主传送带只有一个导轨结构时，可将第一阻挡开关设于导轨结构侧边或靠近导轨结构设置，以实现对老化治具的阻挡；在所述导轨结构有多个时，所述老化治具设于多个导轨结构之间以跟随移动，所述第一阻挡开关设于多个所述导轨结构之间以实现对老化治具的阻挡。

在一实施例中，为防止老化治具303回流，设置所述主传送带301还设有多个第二阻挡结构3042，每一所述第二阻挡结构3042设于任意相邻的两个第一阻挡结构3041之间。

本发明所示的自动测试装置，虽然可通过所述第一阻挡结构3041限制对应的老化治具303的移动，但因主传送带301自始处于输送运作状态的，所述第一阻挡结构3041只是限定了老化治具303的前行却不能限定老化治具303在前行受阻后因反弹等原因导致的后退，设置所述第二阻挡结构3042，可防止对应的老化治具303回流。

可选地，可设置所述第二阻挡结构3042有多个，多个所述第二阻挡结构3042分为多组，每一组包括至少一个第二阻挡结构3042。进一步地，可设置控制开关，所述控制开关设有多个，根据实际需要，可选地，多个所述控制开关与多组第二阻挡结构3042一对一地连接，每一所述控制开关用于控制对应连接的每一组第二阻挡结构3042的工作，以防止老化治具303回流，通过控制开关的设置，控制所述第二阻挡结构3042的工作。

所述第二阻挡结构的具体实施方式与所述第一阻挡结构类同，在此不再赘述。

在一实施例中，所述治具回流结构302包括回流传送带3021、第一升降组件3022和第二升降组件(图未示出)，所述回流传送带3021与所述主传送带301的传送方向相反，所述主传送带301的进料位3011级联所述第一升降组件3022，所述主传送带301的出料位3012级联所述第二升降组件，所述回流传送带3021具有进料位和出料位，所述回流传送带3021的进料位级联所述第二升降组件，所述回流传送带3021的出料位级联所述第一升降组件3022。

以第二升降组件与所述主传送带301连接的位置作为治具回流结构302的进料端，以第一升降组件3022与所述主传送带301连接的位置作为治具回流结构302的出料端，设置治具回流结构302，老化治具303由主传送带301的进料位3011传送至出料位3012，并在主传送带301的出料位3012完成对待测适配器的性能测试，在完成测试后，可将适配器取离老化治具303，老化治具303再通过所述治具回流结构302回流至所述主传送带301。

当然，根据实际使用，若所述老化治具303双面均设有测试位3031，不排除在所述第一升降结构的连接端和/或第二升降结构的连接端设置翻转结构，使老化治具303在进入治具回流结构302后完成翻转并重新上传至主传送带301，以将待测适配器一对一地插接至另一面的测试位3031。

可选地，所述第一阻挡开关、第二阻挡开关可同样地设于所述回流传送带3021，所述第一阻挡开关、第二阻挡开关设于所述回流传送带的具体实施方式与上述的设于主传动带的实施方式类同，在此不再赘述。

在一实施例中，所述自动测试装置还包括中转机构，所述中转机构安装于所述取料及翻转机构100与所述安装机构200之间，所述中转机构包括传动组件和中转工位402，所述传动组件沿其传送方向具有相对的起始位置4011和待测位置4012，所述起始位置4011邻接所述取料及翻转机构100，所述待测位置4012邻接所述安装机构200，所述中转工位402设于所述传动组件的传送路径上，用于在所述取料及翻转机构100与所述安装机构200之间来回移动。

可以理解的是，所述中转工位402与所述传动组件传动连接，以带动所述中转工位402在所述起始位置4011和待测位置4012之间来回移动，用于将所述待测适配器传送至安装机构200，以对所述待测适配器进行测试。在一示例中，所述传动组件采用气缸等传动装置。

在一实施例中，所述中转机构还包括第一移动导轨403和安装架404，所述第一移动导轨403有两个，两个所述第一移动导轨403间隔设于所述中转机构顶部，所述安装机构200设于所述安装架404，所述安装架404架设于两个所述第一移动导轨403之间，用于供所述安装机构200在所述中转机构与所述测试机构之间进行来回移动。

可选地，可将两个所述第一移动导轨403设于所述中转机构的两侧，所述安装机构200可采用安装机械臂，用于夹取待测适配器，并将待测适配器一对一地插接至对应的测试位3031。

进一步地，设置所述安装机构200可升降地设于所述安装架404，在一示例中，所述主传送带301设于所述中转机构下方，在此示例的基础上，所述安装机械臂还设有升降组件201，安装机械臂的夹爪设于升降组件201，使安装机械臂在中转机构和测试机构之间来回移动，所述安装机械臂的夹爪在升降组件201的带动下靠近和/或远离所述主传送带301的老化治具303。

可选地，所述待测适配器设有条码，条码以粘贴或镭雕等形式设于每一待测适配器。

在一实施例中，所述中转机构还包括扫描组件、回收机构406和第二移动导轨4041。

所述扫描组件设于所述起始位置4011和所述待测位置4012之间，用于对所述中转机构上的待测适配器进行扫码处理，以判断所述待测适配器是否为扫码不良品。

所述回收机构406对位所述扫描组件设于所述传动组件的侧边。

所述第二移动导轨4041设于所述安装架404，所述安装机构200滑动连接于所述第二移动导轨4041。

当所述待测适配器是扫码不良品时，所述安装机构200用于将所述待测适配器转移至所述回收机构406；

当所述待测适配器不是扫码不良品时，所述安装机构200用于将所述待测适配器一对一地插接至所述测试位3031。

可选地，可在中转机构的传动组件设置扫描工位4051，扫描工位4051设于所述起始位置4011和所述待测位置4012之间且靠近待测位置4012设置，将所述扫描组件设于扫描工位4051或将扫描组件靠近中转机构的传动组件设置，使所述扫描组件可以对进入扫描工位4051的待测适配器进行扫描处理。通过扫描组件扫描每一待测适配器的条码，以对待测适配器进行初筛，筛选掉扫码不良品，以减轻后续性能测试的工作量。通过回收机构406回收扫码不良品，避免扫码不良品混入其他待测适配器中，导致重复加工。具体可设置所述扫码组件与所述自动测试装置的控制电路连接，扫码组件将检测信号传送至控制电路，当所述待测适配器是扫码不良品时，控制电路控制所述安装机构200将所述待测适配器转移至所述回收机构；当所述待测适配器不是扫码不良品时，控制电路控制所述安装机构200将所述待测适配器一对一地插接至所述测试位3031。

可选地，所述中转机构可设置一个或多个中转工位402，对应所述中转工位402的数量，设置一个或多个传送组件以分别传送各中转工位，同样地，可对应设置一个或多个扫描组件以扫描所述中转机构上的一个或多个待测适配器，以一夹爪对应抓取一适配器，所述安装机械臂可设置一个或多个夹爪。

在一实施例中，所述取料及翻转机构100包括升降机械臂101和转换机械臂102。

所述升降机械臂101用于抓取并转移所述待测适配器，所述升降机械臂101在转移所述待测适配器的过程中朝第一方向对所述待测适配器进行第一次翻转处理；

所述转换机械臂102设于所述升降机械臂101的上方，用于转移完成所述第一次翻转处理的待测适配器，所述转换机械臂102在转移所述待测适配器的过程中朝第二方向对所述待测适配器进行第二次翻转处理。

可选地，所述升降机械臂101用于抓取并转移从上一工序流入的待测适配器，并根据待测适配器的角度及测试位的角度差异对待测适配器进行翻转处理，使所述待测适配器在传送至测试机构时能够直接插接至测试位3031而无须再进行角度调整。

需要说明的是，此处可根据实际实施过程中的翻转方向定义所述的第一方向和第二方向，所述第一方向包括但不限于逆时针或顺时针旋转180°以完成垂直翻转、以朝向或背离所述主传送带301的方向旋转180°以完成水平翻转；所述第二方向亦然。在一示例中，若从上一工序流入的待测适配器的AC端朝上，则可通过升降机械臂101对所述待测适配器进行第一次翻转处理，由转换机械臂102进行第二次翻转处理。具体可先对待测适配器进行垂直翻转再进行水平翻转；反之亦然。具体地，所述升降机械臂101在转换所述待测适配器的过程中朝第一方向对所述待测适配器进行第一次翻转处理，使所述待测适配器完成垂直翻转，所述转换机械臂102在转换所述待测适配器的过程中朝第二方向对所述待测适配器进行第二次翻转处理，使所述待测适配器完成水平翻转；反之亦然。可选地，所述升降机械臂101的夹爪平行于所述主传动带所在的平面，所述转换机械臂102的夹爪垂直于所述主传送带301所在的平面，为便于调整翻转，可设置通过所述升降机械臂101带动所述待测适配器逆时针或顺时针旋转180°，所述转换机械臂102带动所述待测适配器以朝向或背离所述主传送带301的方向旋转180°。

可选地，根据实际使用，不排除设置一个或两个升降机械臂101，在设置一个升降机械臂101时，由所述升降机械臂101带动所述待测适配器逆时针或顺时针旋转180°以完成垂直翻转；在设置两个升降机械臂101时，所述升降机械臂101包括第一升降机械臂1011和第二升降机械臂1012，由所述第一升降机械臂1011带动所述待测适配器逆时针或顺时针旋转90°，第二升降机械臂1012带动所述待测适配器继续朝同一方向旋转90°，以共同完成垂直翻转。当然，也不排除在设有两个升降机械臂时，由第一升降机械臂1011带动所述待测适配器逆时针或顺时针旋转180°以完成垂直翻转，第二升降机械臂1012仅作为传送作用将所述待测适配器传动至转换机械臂102下方。

可选地，以一夹爪对应抓取一适配器，所述第一升降机械臂1011可设置一个或多个夹爪，所述第二升降机械臂1012、转换机械臂102均对应设置一个或多个夹爪。

可选地，所述升降机械臂101、转换机械臂102悬设于一传送带上方，完成第一次翻转处理的待测适配器可通过该传送带传送至所述转换机械臂102下方。

在一实施例中，所述取料及翻转机构100还包括第三移动导轨103，所述转换机械臂102滑动连接于所述第三移动导轨103，用于将所述待测适配器传送至所述中转机构。

在一示例中，所述第三转移导轨朝向所述中转机构设置。可选地，根据实际使用，可在所述取料及翻转机构设置另一传送导轨，该传送导轨垂直于中转机构传送组件的传送方向，所述中转机构可设置多个中转工位，所述第三转移导轨与该传送导轨传动连接，以带动所述转换支架将待测适配器夹取至多个中转工位。

可选地，本发明所述的自动测试装置可装配至一安装支架500，并根据实际使用在所述安装支架500底部装配滚轮。为避免互相干涉影响运作，本发明所述的自动测试装置的各结构组成可提前进行对位设置，并预设运行时间、运行速度、运行路径及运行步骤，使各结构组成按照预设的执行流程运作。

本发明所示的自动测试装置的具体实施过程如下：

待测适配器流入，根据所述测试位3031的角度，所述升降机械臂101抓取并转移所述待测适配器，在转换所述待测适配器的过程中朝第一方向对所述待测适配器进行第一次翻转处理；再由所述转换机械臂102转移待测适配器，所述转换机械臂102在转换所述待测适配器的过程中朝第二方向对所述待测适配器进行第二次翻转处理，并将完成翻转处理的所述待测适配器传送至所述中转机构的中转工位402。

中转工位402在传送组件的带动下，由传送组件的起始位置4011传送至待测位置4012，在此传送过程中，通过扫码组件对传送组件上待测适配器进行扫码处理，以判断所述待测适配器是否为扫码不良品。若是扫码不良品，则通过安装机构200转移至回收机构；若不是扫码不良品，则通过安装机构200一对一地插接至老化治具303的测试位3031，老化治具303由主传送带301的进料位3011传送至出料位3012的过程中，通过人工完成插线，完成插线的待测适配器再通过主传送带传送至出料位3012进行预测试，并在完成预测试后从主传送带301的出料位3012进入老化柜。

以上所述仅为本发明的可选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种自动测试装置，其特征在于，包括：

测试机构，所述测试机构包括主传送带、治具回流结构以及多个老化治具，所述主传送带具有进料位和出料位，所述治具回流结构具有进料端和出料端，所述治具回流结构的进料端级联所述主传送带的出料位，所述治具回流结构的出料端级联所述主传送带的进料位，多个所述老化治具与所述主传送带传动连接，每一所述老化治具设有多个测试位；

取料及翻转机构，用于转移待测适配器，并根据所述测试位对所述待测适配器进行角度翻转处理；

安装机构，用于将所述待测适配器一对一地插接至所述测试位。

2.根据权利要求1所述的自动测试装置，其特征在于，所述治具回流结构还包括：

多个检测组件，每一所述检测组件均沿所述主传送带的传送方向设置，用于检测所述老化治具的位置；

多个第一阻挡结构，多个所述第一阻挡结构沿所述主传送带的传送方向间隔设置，用于在检测到所述老化治具时阻挡所述老化治具。

3.根据权利要求2所述的自动测试装置，其特征在于，所述主传送带还设有第一阻挡开关，所述第一阻挡开关有多个，多个所述第一阻挡结构分为多个阻挡组，每一所述阻挡组包括至少一个第一阻挡结构，多个所述阻挡开关与多个阻挡组一对一地连接，每一所述阻挡开关用于控制对应连接的所述阻挡组的工作，以放行所述老化治具。

4.根据权利要求2所述的自动测试装置，其特征在于，所述主传送带还设有多个第二阻挡结构，每一所述第二阻挡结构设于任意相邻的两个第一阻挡结构之间。

5.根据权利要求1所述的自动测试装置，其特征在于，所述治具回流结构包括回流传送带、第一升降组件和第二升降组件，所述回流传送带与所述主传送带的传送方向相反，所述主传送带的进料位级联所述第一升降组件，所述主传送带的出料位级联所述第二升降组件，所述回流传送带具有进料位和出料位，所述回流传送带的进料位级联所述第二升降组件，所述回流传送带的出料位级联所述第一升降组件。

6.根据权利要求1-5中任意一项所述的自动测试装置，其特征在于，所述自动测试装置还包括中转机构，所述中转机构安装于所述取料及翻转机构与所述安装机构之间，所述中转机构包括传动组件和中转工位，所述传动组件沿其传送方向具有相对的起始位置和待测位置，所述起始位置邻接所述取料及翻转机构，所述待测位置邻接所述安装机构，所述中转工位设于所述传动组件的传送路径上，用于在所述取料及翻转机构与所述安装机构之间来回移动。

7.根据权利要求6所述的自动测试装置，其特征在于，所述中转机构还包括第一移动导轨和安装架，所述第一移动导轨有两个，两个所述第一移动导轨间隔设于所述中转机构顶部，所述安装机构设于所述安装架，所述安装架架设于两个所述第一移动导轨之间，用于供所述安装机构在所述中转机构与所述测试机构之间进行来回移动。

8.根据权利要求7所述的自动测试装置，其特征在于，所述中转机构还包括：

扫描组件，所述扫描组件设于所述起始位置和所述待测位置之间，用于对所述中转机构上的待测适配器进行扫码处理，以判断所述待测适配器是否为扫码不良品；

回收机构，所述回收机构对位所述扫描组件设于所述传动组件的侧边；

第二移动导轨，所述第二移动导轨设于所述安装架，所述安装机构滑动连接于所述第二移动导轨；

当所述待测适配器是扫码不良品时，所述安装机构用于将所述待测适配器转移至所述回收机构；

当所述待测适配器不是扫码不良品时，所述安装机构用于将所述待测适配器一对一地插接至所述测试位。

9.根据权利要求6所述的自动测试装置，其特征在于，所述取料及翻转机构包括：

升降机械臂，用于抓取并转移所述待测适配器，所述升降机械臂在转移所述待测适配器的过程中朝第一方向对所述待测适配器进行第一次翻转处理；

转换机械臂，所述转换机械臂设于所述升降机械臂的上方，用于转移完成所述第一次翻转处理的待测适配器，所述转换机械臂在转移所述待测适配器的过程中朝第二方向对所述待测适配器进行第二次翻转处理。

10.根据权利要求9所述的自动测试装置，其特征在于，所述取料及翻转机构还包括第三移动导轨，所述转换机械臂滑动连接于所述第三移动导轨，用于将所述待测适配器传送至所述中转机构。

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