CN115146577A - 集成电路版图图形的点对齐方法、系统、介质及电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种集成电路版图图形的点对齐方法、系统、介质及电子设备。点对齐方法包括：确定集成电路版图中待对齐的对象图形，其中，对象图形为多边形；确定对象图形上的待对齐顶点以及待对齐顶点中预设顶点对应的对齐点，其中，待对齐顶点的数量少于对象图形的顶点总数；计算预设顶点与对齐点的偏移向量，并按照偏移向量移动每一待对齐顶点，得到目标图形。通过上述方式，本发明能够实现图形部分顶点的自动对齐，极大提高版图设计效率。

Description

集成电路版图图形的点对齐方法、系统、介质及电子设备

技术领域

本发明涉及集成电路设计技术领域，特别是涉及一种集成电路版图图形的点对齐方法、系统、介质及电子设备。

背景技术

在集成电路版图设计制图中，设计人员需要构建出很多基础的多边形图形,再对这些图形进行拼接、合并、对齐等操作，以构造出元器件图形。自动对齐功能是现有的版图设计软件中一个常见的功能，设计人员通常会使用自动对齐功能来实现图形的对齐操作。自动对齐功能是指设计人员选中一个图形的顶点以及该图形需要对齐的对齐点，该图形整体移动，直至所选顶点与对齐点重合。

在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术存在以下问题：现有的图形自动对齐方案仅能够实现图形的整体移动，但在很多设计中，常常只需要将图形的部分顶点对齐，图形的其他顶点位置保持不变。所以开发人员只能手动拖动图形的顶点到其对应的对齐点，或者手动修改相应顶点的坐标，该过程枯燥繁琐、费时费力，容易出错，导致版图设计效率低下。

发明内容

本发明的目的是提供一种集成电路版图图形的点对齐方法、系统、介质及电子设备，以解决现有技术无法实现图形部分顶点的自动对齐的问题，能够实现图形部分顶点的自动对齐，极大提高版图设计效率。

为解决上述技术问题，本发明提供一种集成电路版图图形的点对齐方法，包括：

确定集成电路版图中待对齐的对象图形，其中，所述对象图形为多边形；

确定所述对象图形上的待对齐顶点以及所述待对齐顶点中预设顶点对应的对齐点，其中，所述待对齐顶点的数量少于所述对象图形的顶点总数；

计算所述预设顶点与所述对齐点的偏移向量，并按照所述偏移向量移动每一所述待对齐顶点，得到目标图形。

优选的，所述点对齐方法还包括：

根据所述目标图形构建与所述对象图形的每一边线斜率相同的变形图形，其中，所述目标图形的所有顶点均位于所述变形图形上。

优选的，所述对象图形为待对齐的椭圆图形的外切矩形，所述确定集成电路版图中待对齐的对象图形的步骤之前，还包括：确定集成电路版图中待对齐的椭圆图形；

所述点对齐方法还包括；

以所述变形图形相邻的两条边为长轴和短轴、所述变形图形的中心点为圆心重新生成内切椭圆图形。

优选的，所述构建与所述对象图形的每一边线斜率相同的变形图形的步骤包括：

计算所述对象图形上每一边线的初始斜率；

在所述目标图形的每一顶点构建两条经过顶点且斜率与所述对象图形对应的顶点所在的两条边线的初始斜率相同的边线；

将每一构建的边线相交后所构成的最大图形确定为变形图形。

优选的，所述待对齐顶点为多个时，所述预设顶点为第一个待对齐顶点。

为解决上述技术问题，本发明还提供一种集成电路版图图形的点对齐系统，包括：

图形确定模块，用于确定集成电路版图中待对齐的对象图形，其中，所述对象图形为多边形；

位置确定模块，用于确定所述对象图形上的待对齐顶点以及所述待对齐顶点中预设顶点对应的对齐点，其中，所述待对齐顶点的数量少于所述对象图形的顶点总数；

图形移动模块，用于计算所述预设顶点与所述对齐点的偏移向量，并按照所述偏移向量移动每一所述待对齐顶点，得到目标图形。

优选的，所述点对齐系统还包括：

图形构建模块，用于根据所述目标图形构建与所述对象图形的每一边线斜率相同的变形图形，其中，所述目标图形的所有顶点均位于所述变形图形上。

优选的，所述对象图形为待对齐的椭圆图形的外切矩形，所述图形确定模块还用于在确定集成电路版图中待对齐的对象图形之前，确定集成电路版图中待对齐的椭圆图形；

所述点对齐系统还包括：

图形生成模块，用于以所述变形图形相邻的两条边为长轴和短轴、所述变形图形的中心点为圆心重新生成内切椭圆图形。

优选的，所述图形构建模块包括：

斜率计算单元，用于计算所述对象图形上每一边线的初始斜率；

边线构建单元，用于在所述目标图形的每一顶点构建两条经过顶点且斜率与所述对象图形对应的顶点所在的两条边线的初始斜率相同的边线；

图形确定单元，用于将每一构建的边线相交后所构成的最大图形确定为变形图形。

优选的，所述待对齐顶点为多个时，所述预设顶点为第一个待对齐顶点。

为解决上述技术问题，本发明还提供一种存储介质，所述存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被设置为运行时执行前述任一项所述的集成电路版图图形的点对齐方法。

为解决上述技术问题，本发明还提供一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行前述任一项所述的集成电路版图图形的点对齐方法。

区别于现有技术的情况，本发明提供的集成电路版图图形的点对齐方法通过确定集成电路版图中待对齐的对象图形，确定对象图形上的待对齐顶点以及待对齐顶点中预设顶点对应的对齐点，最后计算预设顶点与对齐点的偏移向量，并按照偏移向量移动每一待对齐顶点，得到目标图形，其中，对象图形为多边形，由于待对齐顶点的数量少于对象图形的顶点总数，在图形对齐过程中，仅对象图形的待对齐顶点移动，而不是对象图形的所有顶点移动，从而能够实现图形部分顶点的自动对齐，极大提高版图设计效率，可以大大降低设计人员的劳动强度和时间成本。

本发明提供的集成电路版图图形的点对齐系统、存储介质及电子设备，与集成电路版图图形的点对齐方法属于同一发明构思，因此具有相同的有益效果，在此不再赘述。

附图说明

图1为本发明第一实施例提供的集成电路版图图形的点对齐方法的流程示意图。

图2a为三角图形对齐前的示意图。

图2b为三角图形对齐后的示意图。

图2c为在对齐后的三角图形的每个顶点构建边线后的示意图。

图2d为在图2c上确定的变形图形的示意图。

图3a为矩形图形对齐前的示意图。

图3b为矩形图形对齐后的示意图。

图3c为在对齐后的矩形图形的每个顶点构建边线后的示意图。

图3d为在图3c上确定的变形图形的示意图。

图4a为六边图形对齐前的示意图。

图4b为六边图形对齐后的示意图。

图4c为在对齐后的六边图形的每个顶点构建边线后的示意图。。

图4d为在图4c上确定的变形图形的示意图。

图5为图1所示的流程中步骤S4的具体流程示意图。

图6为本发明第二实施例提供的集成电路版图图形的点对齐方法的流程示意图。

图7a为椭圆图形的外切矩形对齐前的示意图。

图7b为外切矩形对齐后的示意图。

图7c为在对齐后的外切矩形的每个顶点构建边线后的示意图。

图7d为在图7c上确定的变形图形的示意图。

图7e为在变形图形内生成的内切椭圆图形的示意图。

图8为本发明第三实施例提供的集成电路版图图形的点对齐系统的原理框图。

图9为图8所示的图形构建模块的原理框图。

具体实施方式

下面将结合示意图对本发明的具体实施方式进行更详细的描述。根据下列描述和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或者位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

请参考图1，本发明第一实施例提供了一种集成电路版图图形的点对齐方法，该点对齐方法包括：

S1：确定集成电路版图中待对齐的对象图形，其中，对象图形为多边形。

其中，对象图形是需要对齐的图形。对象图形可以响应于用户的操作来确定。例如用户对集成电路版图上的图形进行选中操作，将用户选中的图形确定为对象图形。在一个实际应用中，用户通过交互设备，例如显示屏、鼠标、键盘、触摸屏等对集成电路版图进行图形的选中，用户可以选择图形上的任意一点或者某条边线，该点或边线所在的图形就被整体选中。

S2：确定对象图形上的待对齐顶点以及待对齐顶点中预设顶点对应的对齐点，其中，待对齐顶点的数量少于对象图形的顶点总数。

其中，待对齐顶点和对齐点也可以响应于用户的操作来确定。由于对象图形为多边形，存在多个顶点，在对象图形确定后，用户通过选中操作依次选择顶点，所选择的顶点就确定为待对齐顶点。在本实施例中，待对齐顶点为多个时，预设顶点为第一个待对齐顶点。由于用户选择对象图形的顶点有先后顺序，第一个待对齐顶点就是第一个选择的顶点。对齐点可以是对象图形内部或者外部的任意点。

S3：计算预设顶点与对齐点的偏移向量，并按照偏移向量移动每一待对齐顶点，得到目标图形。

其中，偏移向量是具有大小和方向的量，其大小为预设顶点到对齐点的线段长度，其方向为预设顶点指向对齐点的方向。计算偏移向量之后，每个待对齐顶点均按照偏移向量移动，从而预设顶点会与对齐点重合，实现图形的点对齐，其他待对齐顶点与预设顶点的位置关系保持不变。最终得到的目标图形为对象图形对齐后的图形。

通过上述方式，本实施例的集成电路版图图形的点对齐方法实现了图形部分顶点的自动对齐，在对齐过程中，只有图形的待对齐顶点会同步移动，移动后这些待对齐顶点的位置关系保持不变，而图形的其他顶点的位置保持不变，设计人员只需要选择对象图形、对象图形上的待对齐顶点以及对齐点即可完成图形对齐，可以极大提高版图设计效率，大大降低设计人员的劳动强度和时间成本。

图2a为三角图形对齐前的示意图，图2b为三角图形对齐后的示意图。图3a为矩形图形对齐前的示意图，图3b为矩形图形对齐后的示意图。图4a为六边图形对齐前的示意图，图4b为六边图形对齐后的示意图。下面将结合图2a、图2b、图3a、图3b、图4a和图4b对本实施例的集成电路版图图形的点对齐方法进行说明。

如图2a所示，对象图形为三角图形，对象图形有三个顶点A1、A2、A3，确定对象图形上的待对齐顶点为A1、A2，待对齐顶点A1为预设顶点，预设顶点A1对应的对齐点为A4。预设顶点A1与对齐点A4的偏移向量为a。如图2b所示，按照偏移向量移动对象图形的待对齐顶点A1、A2后，得到目标图形，目标图形也是三角图形，待对齐顶点A1移动后变为顶点A1'，待对齐顶点A2移动后变为顶点A2'，目标图形的顶点A3仍然为对象图形的顶点A3。

如图3a所示，对象图形为矩形图形，对象图形有四个顶点B1、B2、B3、B4，确定对象图形上的待对齐顶点为B1、B2，待对齐顶点B1为预设顶点，预设顶点B1对应的对齐点为B5。预设顶点B1与对齐点B5的偏移向量为b。如图3b所示，按照偏移向量移动对象图形的待对齐顶点B1、B2后，得到目标图形，目标图形变为了平行四边图形，待对齐顶点B1移动后变为顶点B1'，待对齐顶点B2移动后变为顶点B2'，目标图形的顶点B3仍然为对象图形的顶点B3，目标图形的顶点B4仍然为对象图形的顶点B4。

如图4a所示，对象图形为六边图形，对象图形有六个顶点C1、C2、C3、C4、C5、C6，确定对象图形上的待对齐顶点为C1、C3，待对齐顶点C1为预设顶点，预设顶点C1对应的对齐点为C7。预设顶点C1与对齐点C7的偏移向量为c。如图4b所示，按照偏移向量移动对象图形的待对齐顶点C1、C3后，得到目标图形，目标图形变为了凹六边图形，待对齐顶点C1移动后变为顶点C1'，目标图形的顶点C2仍然为对象图形的顶点C2，待对齐顶点C3移动后变为顶点C3'，目标图形的顶点C4仍然为对象图形的顶点C4，目标图形的顶点C5仍然为对象图形的顶点C5，目标图形的顶点C6仍然为对象图形的顶点C6。

考虑到在一些应用场景中，需求对齐后的图形与对齐前的图形的每一边线的斜率保持一致，因此，在本实施例中，点对齐方法还包括步骤：

S4：根据目标图形构建与对象图形的每一边线斜率相同的变形图形，其中，目标图形的所有顶点均位于变形图形上。

其中，由于目标图形的所有顶点均位于变形图形上，而变形图形的每一边线的斜率与对象图形的每一边线斜率相同，所以变形图形是对象图形缩小或者放大后的图形。

本申请的另一些实施例中，请参考图5，根据目标图形构建与对象图形的每一边线斜率相同的变形图形的步骤，即步骤S4包括：

S41：计算对象图形上每一边线的初始斜率。

其中，在计算初始斜率时，可以先获取对象图形的每个顶点在参考坐标系中的坐标，根据每相邻两个顶点的坐标可以计算得到每一边线的斜率，该斜率即为初始斜率。

S42：在目标图形的每一顶点构建两条经过顶点且斜率与对象图形对应的顶点所在的两条边线的初始斜率相同的边线。

其中，目标图形的每一顶点与对象图形的每一顶点具有对应关系，目标图形的顶点分为两部分，一部分顶点就是与对象图形上未移动的顶点，另一部分顶点则是对象图形的待对齐顶点移动后形成的顶点。在构建边线时，目标图形的每一顶点都会构建两条边线，这两条边线与对象图形上对应的顶点所在的两条边线的初始斜率是相同的。

如图2c所示，目标图形的三个顶点分别为A1'、A2'、A3，在每个顶点构建的边线以虚线表示。在顶点A1'构建的两条边线的斜率与图2a中对应的顶点A1所在的两条边线的初始斜率相同，在顶点A2'构建的两条边线的斜率与图2a中对应的顶点A2所在的两条边线的初始斜率相同，在顶点A3构建的两条边线的斜率与图2a中对应的顶点A3所在的两条边线的初始斜率相同。

如图3c所示，目标图形的四个顶点分别为B1'、B2'、B3、B4，在每个顶点构建的边线以虚线表示。在顶点B1'构建的两条边线的斜率与图3a中对应的顶点B1所在的两条边线的初始斜率相同，在顶点B2'构建的两条边线的斜率与图3a中对应的顶点B2所在的两条边线的初始斜率相同，在顶点B3构建的两条边线的斜率与图3a中对应的顶点B3所在的两条边线的初始斜率相同，在顶点B4构建的两条边线的斜率与图3a中对应的顶点B4所在的两条边线的初始斜率相同。

如图4c所示，目标图形的六个顶点分别为C1'、C2、C3'、C4、C5、C6，在每个顶点构建的边线以虚线表示。在顶点C1'构建的两条边线的斜率与图4a中对应的顶点C1所在的两条边线的初始斜率相同，在顶点C2构建的两条边线的斜率与图4a中对应的顶点C2所在的两条边线的初始斜率相同，在顶点C3'构建的两条边线的斜率与图4a中对应的顶点C3所在的两条边线的初始斜率相同，在顶点C4构建的两条边线的斜率与图4a中对应的顶点C4所在的两条边线的初始斜率相同，在顶点C5构建的两条边线的斜率与图4a中对应的顶点C5所在的两条边线的初始斜率相同，在顶点C6构建的两条边线的斜率与图4a中对应的顶点C6所在的两条边线的初始斜率相同。

S43：将每一构建的边线相交后所构成的最大图形确定为变形图形，

其中，每一边线与其他边线都会相交，这些边线相交后所构成的图形有多多，其中最大的图形会被确定为变形图形。

如图2d所示，在三个顶点A1'、A2'、A3构建的边线相交后所构成的最大图形是图2c中最大的三角图形，该图形即为变形图形，变形图形的每一边线与对象图形的对应边线的斜率相同。

如图3d所示，在四个顶点B1'、B2'、B3、B4构建的边线相交后所构成的最大图形是图3c中最大的矩形图形，该图形即为变形图形，变形图形的每一边线与对象图形的对应边线的斜率相同。

如图4d所示，在六个顶点C1'、C2、C3'、C4、C5、C6构建的边线相交后所构成的最大图形是图4c中最大的六边图形，该图形即为变形图形，变形图形的每一边线与对象图形的对应边线的斜率相同。

请参考图6，本发明第二实施例提供了一种集成电路版图图形的点对齐方法，本实施例的方法包括第一实施例的全部技术特征，并且在第一实施例的基础上，对象图形为待对齐的椭圆图形的外切矩形，确定集成电路版图中待对齐的对象图形的步骤之前，点对齐方法还包括：

S1A：确定集成电路版图中待对齐的椭圆图形。

其中，椭圆图形可以响应于用户的操作来确定。例如用户对集成电路版图上的图形进行选中操作，将用户选中的椭圆图形确定为待对齐的图形。

本实施例的点对齐方法还包括；

S5：以变形图形相邻的两条边为长轴和短轴、变形图形的中心点为圆心重新生成内切椭圆图形。

其中，由于集成电路版图中存在一些椭圆图形，当需要将这些椭圆图形进行点对齐时，需要先确定集成电路版图中待对齐的椭圆图形，再将待对齐的椭圆图形的外切矩形确定为对象图形。最后在构建出变形图形后，以变形图形相邻的两条边为长轴和短轴、变形图形的中心点为圆心重新生成内切椭圆图形。由此可实现椭圆图形的点对齐。

如图7a所示，对象图形为椭圆图形的外切矩形，外切矩形有四个顶点D1、D2、D3、D4，确定对象图形上的待对齐顶点为D1、D2，待对齐顶点D1为预设顶点，预设顶点D1对应的对齐点为D5。预设顶点D1与对齐点D5的偏移向量为d。如图7b所示，按照偏移向量移动对象图形的待对齐顶点D1、D2后，得到目标图形，目标图形变为了平行四边图形，待对齐顶点D1移动后变为顶点D1'，待对齐顶点D2移动后变为顶点D2'，目标图形的顶点D3仍然为对象图形的顶点D3，目标图形的顶点D4仍然为对象图形的顶点D4。如图7c所示，目标图形的四个顶点分别为D1'、D2'、D3、D4，在每个顶点构建的边线以虚线表示。在顶点D1'构建的两条边线的斜率与图7a中对应的顶点D1所在的两条边线的初始斜率相同，在顶点D2'构建的两条边线的斜率与图7a中对应的顶点D2所在的两条边线的初始斜率相同，在顶点D3构建的两条边线的斜率与图7a中对应的顶点D3所在的两条边线的初始斜率相同，在顶点D4构建的两条边线的斜率与图7a中对应的顶点D4所在的两条边线的初始斜率相同。如图7d所示，在四个顶点D1'、D2'、D3、D4构建的边线相交后所构成的最大图形是最大的矩形图形，即图中粗实线所描绘的图形，该图形即为变形图形，变形图形的每一边线与对象图形的对应边线的斜率相同。如图7e所示，变形图形内生成了内切椭圆图形，该内切椭圆图形即为待对齐的椭圆图形点对齐后的图形。需要注意的是，由于待对齐的椭圆图形为圆形，所以对象图形为正方形，变形图形也为正方形，变形图形的内切椭圆图形也为圆形。

请参考图8，本发明第三实施例提供了一种集成电路版图图形的点对齐系统，该系统包括：

图形确定模块1，用于确定集成电路版图中待对齐的对象图形，其中，对象图形为多边形。其中，对象图形是需要对齐的图形。对象图形可以响应于用户的操作来确定。例如用户对集成电路版图上的图形进行选中操作，将用户选中的图形确定为对象图形。在一个实际应用中，用户通过交互设备，例如显示屏、鼠标、键盘、触摸屏等对集成电路版图进行图形的选中，用户可以选择图形上的任意一点或者某条边线，该点或边线所在的图形就被整体选中。

位置确定模块2，用于确定对象图形上的待对齐顶点以及待对齐顶点中预设顶点对应的对齐点，其中，待对齐顶点的数量少于对象图形的顶点总数。其中，待对齐顶点和对齐点也可以响应于用户的操作来确定。由于对象图形为多边形，存在多个顶点，在对象图形确定后，用户通过选中操作依次选择顶点，所选择的顶点就确定为待对齐顶点。在本实施例中，待对齐顶点为多个时，预设顶点为第一个待对齐顶点。由于用户选择对象图形的顶点有先后顺序，第一个待对齐顶点就是第一个选择的顶点。对齐点可以是对象图形内部或者外部的任意点。

图形移动模块3，用于计算预设顶点与对齐点的偏移向量，并按照偏移向量移动每一所述待对齐顶点，得到目标图形。其中，偏移向量是具有大小和方向的量，其大小为预设顶点到对齐点的线段长度，其方向为预设顶点指向对齐点的方向。计算偏移向量之后，每个待对齐顶点均按照偏移向量移动，从而预设顶点会与对齐点重合，实现图形的点对齐，其他待对齐顶点与预设顶点的位置关系保持不变。最终得到的目标图形为对象图形对齐后的图形。

通过上述方式，本实施例的集成电路版图图形的点对齐系统实现了图形部分顶点的自动对齐，在对齐过程中，只有图形的待对齐顶点会同步移动，移动后这些待对齐顶点的位置关系保持不变，而图形的其他顶点的位置保持不变，设计人员只需要选择对象图形、对象图形上的待对齐顶点以及对齐点即可完成图形对齐，可以极大提高版图设计效率，大大降低设计人员的劳动强度和时间成本。

考虑到在一些应用场景中，需求对齐后的图形与对齐前的图形的每一边线的斜率保持一致，因此，在本实施例中，点对齐系统还包括：

图形构建模块4，用于根据目标图形构建与对象图形的每一边线斜率相同的变形图形，其中，目标图形的所有顶点均位于变形图形上。其中，由于目标图形的所有顶点均位于变形图形上，而变形图形的每一边线的斜率与对象图形的每一边线斜率相同，所以变形图形是对象图形缩小或者放大后的图形。

本申请的另一些实施例中，参考图9，图形构建模块4包括：

斜率计算单元41，用于计算所述对象图形上每一边线的初始斜率。其中，在计算初始斜率时，可以先获取对象图形的每个顶点在参考坐标系中的坐标，根据每相邻两个顶点的坐标可以计算得到每一边线的斜率，该斜率即为初始斜率。

边线构建单元42，用于在目标图形的每一顶点构建两条经过顶点且斜率与对象图形对应的顶点所在的两条边线的初始斜率相同的边线。其中，目标图形的每一顶点与对象图形的每一顶点具有对应关系，对象图形存在不是待对齐顶点的顶点，这些顶点也是目标图形的顶点，目标图形的其他顶点则与对象图形的待对齐顶点一一对应。在构建边线时，目标图形的每一顶点都会构建两条边线，这两条边线与对象图形上对应的顶点所在的两条边线的初始斜率是相同的。

图形确定单元43，用于将每一构建的边线相交后所构成的最大图形确定为变形图形。其中，每一边线与其他边线都会相交，这些边线相交后所构成的图形有多多，其中最大的图形会被确定为变形图形。

进一步的，在本实施例中，对象图形为待对齐的椭圆图形的外切矩形，图形确定模块1还用于在确定集成电路版图中待对齐的对象图形之前，确定集成电路版图中待对齐的椭圆图形；

点对齐系统还包括：

图形生成模块5，用于以变形图形相邻的两条边为长轴和短轴、变形图形的中心点为圆心重新生成内切椭圆图形。

其中，由于集成电路版图中存在一些椭圆图形，当需要将这些椭圆图形进行点对齐时，需要先确定集成电路版图中待对齐的椭圆图形，再将待对齐的椭圆图形的外切矩形确定为对象图形。最后在构建出变形图形后，以变形图形相邻的两条边为长轴和短轴、变形图形的中心点为圆心重新生成内切椭圆图形。由此可实现椭圆图形的点对齐。

本发明还提供一种存储介质，存储介质中存储有计算机程序，计算机程序被设置为运行时执行第一实施例或第二实施例的集成电路版图图形的点对齐方法。

具体的，在本实施例中，上述存储介质可以包括但不限于：U盘、只读存储器(Read-Only Memory，简称为ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，简称为RAM)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储计算机程序的介质。

本发明还提供一种电子设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，处理器被设置为运行计算机程序以执行第一实施例或第二实施例的集成电路版图图形的点对齐方法。

具体的，存储器和处理器可以通过数据总线连接。此外，上述电子设备还可以包括传输设备以及输入输出设备，其中，该传输设备和上述处理器连接，该输入输出设备和上述处理器连接。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”或“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例中以合适的方式结合。此外，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例进行接合和组合。

上述仅为本发明的优选实施例而已，并不对本发明起到任何限制作用。任何所属技术领域的技术人员，在不脱离本发明的技术方案的范围内，对本发明揭露的技术方案和技术内容做任何形式的等同替换或修改等变动，均属未脱离本发明的技术方案的内容，仍属于本发明的保护范围之内。

Claims (12)

1.一种集成电路版图图形的点对齐方法，其特征在于，包括：

确定集成电路版图中待对齐的对象图形，其中，所述对象图形为多边形；

确定所述对象图形上的待对齐顶点以及所述待对齐顶点中预设顶点对应的对齐点，其中，所述待对齐顶点的数量少于所述对象图形的顶点总数；

计算所述预设顶点与所述对齐点的偏移向量，并按照所述偏移向量移动每一所述待对齐顶点，得到目标图形。

2.根据权利要求1所述的点对齐方法，其特征在于，所述点对齐方法还包括：

根据所述目标图形构建与所述对象图形的每一边线斜率相同的变形图形，其中，所述目标图形的所有顶点均位于所述变形图形上。

3.根据权利要求2所述的点对齐方法，其特征在于，所述对象图形为待对齐的椭圆图形的外切矩形，所述确定集成电路版图中待对齐的对象图形的步骤之前，还包括：确定集成电路版图中待对齐的椭圆图形；

所述点对齐方法还包括；

以所述变形图形相邻的两条边为长轴和短轴、所述变形图形的中心点为圆心重新生成内切椭圆图形。

4.根据权利要求2或3所述的点对齐方法，其特征在于，所述根据所述目标图形构建与所述对象图形的每一边线斜率相同的变形图形的步骤包括：

计算所述对象图形每一边线的初始斜率；

在所述目标图形的每一顶点构建两条经过顶点且斜率与所述对象图形对应的顶点所在的两条边线的初始斜率相同的边线；

将每一构建的边线相交后所构成的最大图形确定为变形图形。

5.根据权利要求1所述的点对齐方法，其特征在于，所述待对齐顶点为多个时，所述预设顶点为第一个待对齐顶点。

6.一种集成电路版图图形的点对齐系统，其特征在于，包括：

图形确定模块，用于确定集成电路版图中待对齐的对象图形，其中，所述对象图形为多边形；

位置确定模块，用于确定所述对象图形上的待对齐顶点以及所述待对齐顶点中预设顶点对应的对齐点，其中，所述待对齐顶点的数量少于所述对象图形的顶点总数；

图形移动模块，用于计算所述预设顶点与所述对齐点的偏移向量，并按照所述偏移向量移动每一所述待对齐顶点，得到目标图形。

7.根据权利要求6所述的点对齐系统，其特征在于，所述点对齐系统还包括：

图形构建模块，用于根据所述目标图形构建与所述对象图形的每一边线斜率相同的变形图形，其中，所述目标图形的所有顶点均位于所述变形图形上。

8.根据权利要求7所述的点对齐系统，其特征在于，所述对象图形为待对齐的椭圆图形的外切矩形，所述图形确定模块还用于在确定集成电路版图中待对齐的对象图形之前，确定集成电路版图中待对齐的椭圆图形；

所述点对齐系统还包括：

图形生成模块，用于以所述变形图形相邻的两条边为长轴和短轴、所述变形图形的中心点为圆心重新生成内切椭圆图形。

9.根据权利要求7或8所述的点对齐系统，其特征在于，所述图形构建模块包括：

斜率计算单元，用于计算所述对象图形上每一边线的初始斜率；

边线构建单元，用于在所述目标图形的每一顶点构建两条经过顶点且斜率与所述对象图形对应的顶点所在的两条边线的初始斜率相同的边线；

图形确定单元，用于将每一构建的边线相交后所构成的最大图形确定为变形图形。

10.根据权利要求6所述的点对齐系统，其特征在于，所述待对齐顶点为多个时，所述预设顶点为第一个待对齐顶点。

11.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被设置为运行时执行权利要求1至5任一项所述的集成电路版图图形的点对齐方法。

12.一种电子设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行权利要求1至5任一项所述的集成电路版图图形的点对齐方法。

Images