CN115130420A - 集成电路版图图形的线对齐方法、系统、介质及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种集成电路版图图形的线对齐方法、系统、介质及电子设备。线对齐方法包括:确定集成电路版图中的对象图形、对象图形上待对齐的对象边线以及对象边线对应的对齐边线,其中,对象图形为多边形,对齐边线与所述对象边线平行;查找与对象边线在对象边线上预设路径点相交的垂线与对齐边线或其延长线的交点;计算预设路径点与交点的偏移向量,并按照偏移向量移动所述对象边线,得到目标图形。在图形对齐过程中,仅对象边线移动,除对象边线的两个端点以外,对象图形的其他顶点的位置保持不变,从而能够实现图形单条边线的自动对齐,极大提高版图设计效率,可以大大降低设计人员的劳动强度和时间成本。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路设计技术领域,特别是涉及一种集成电路版图图形的线对齐方法、系统、介质及电子设备。
背景技术
在集成电路版图设计制图中,设计人员需要构建出很多基础的多边形图形,再对这些图形进行拼接、合并、对齐等操作,以构造出元器件的轮廓。自动对齐功能是现有的版图设计软件中一个常见的功能,设计人员通常会使用自动对齐功能来实现图形的对齐操作。自动对齐功能是指设计人员选中一个图形的目标边线以及与目标边线的对齐边线,该图形整体移动,直至目标边线与对齐边线或其延长线重合。
在实现本发明的过程中,发明人发现现有技术存在以下问题:现有的图形自动对齐方案仅能够实现图形的整体移动,但在很多设计中,常常只需要将图形的目标边线对齐到对齐边线,图形的其他顶点的位置保持不变。所以开发人员只能手动拖动图形的目标边线到对齐边线,或者手动修改目标边线的两个端点的坐标,该过程枯燥繁琐、费时费力,容易出错,导致版图设计效率低下。
发明内容
本发明的目的是提供一种集成电路版图图形的线对齐方法、系统、介质及电子设备,以解决现有技术无法实现图形的单条边线自动对齐的问题,能够实现图形单条边线的自动对齐,极大提高版图设计效率。
为解决上述技术问题,本发明提供一种集成电路版图图形的线对齐方法,包括:
确定集成电路版图中的对象图形、所述对象图形上待对齐的对象边线以及所述对象边线对应的对齐边线,其中,所述对象图形为多边形,所述对齐边线与所述对象边线平行;
查找与所述对象边线在所述对象边线上预设路径点相交的垂线与所述对齐边线或其延长线的交点;
计算所述预设路径点与所述交点的偏移向量,并按照所述偏移向量移动所述对象边线,得到目标图形。
优选的,所述线对齐方法还包括:
计算所述对象边线移动前与所述对象边线相连的两条边线的第一斜率,以及所述对象边线移动后与所述对象边线相连的两条边线的第二斜率;
检测与所述对象边线相连的两条边线的所述第二斜率与所述第一斜率是否相同;
如果不同,则在所述对齐边线或其延长线上移动所述对象边线的两个端点,使得与所述对象边线相连的两条边线的所述第二斜率与所述第一斜率相同。
优选的,所述对象图形为待对齐的椭圆图形的外切矩形,所述确定集成电路版图中的对象图形和所述对象图形上待对齐的两个相邻顶点的步骤之前,还包括:确定集成电路版图中待对齐的椭圆图形;
所述线对齐方法还包括;
如果相同,则以所述目标图形相邻的两条边为长轴和短轴、所述目标图形的中心点为圆心重新生成内切椭圆图形。
优选的,所述确定所述对象图形上待对齐的对象边线的步骤包括:
确定所述对象图形上待对齐的两个相邻顶点;
将所述两个相邻顶点之间的边线确定为对象边线。
优选的,所述预设路径点为所述两个相邻顶点中的第一个顶点。
为解决上述技术问题,本发明还提供一种集成电路版图图形的线对齐系统,包括:
图形确定模块,用于确定集成电路版图中的对象图形、所述对象图形上待对齐的对象边线以及所述对象边线对应的对齐边线,其中,所述对象图形为多边形,所述对齐边线与所述对象边线平行;
交点查找模块,用于查找与所述对象边线在所述对象边线上预设路径点相交的垂线与所述对齐边线或其延长线的交点;
图形对齐模块,用于计算所述预设路径点与所述交点的偏移向量,并按照所述偏移向量移动所述对象边线,得到目标图形。
优选的,所述线对齐系统还包括:
斜率计算模块,用于计算所述对象边线移动前与所述对象边线相连的两条边线的第一斜率,以及所述对象边线移动后与所述对象边线相连的两条边线的第二斜率;
斜率检测模块,用于检测与所述对象边线相连的两条边线的所述第二斜率与所述第一斜率是否相同;
边线调节模块,用于在所述对齐边线或其延长线上移动所述对象边线的两个端点,使得与所述对象边线相连的两条边线的所述第二斜率与所述第一斜率相同。
优选的,所述对象图形为待对齐的椭圆图形的外切矩形,所述图形确定模块还用于在确定集成电路版图中的对象图形和所述对象图形上待对齐的两个相邻顶点之前,确定集成电路版图中待对齐的椭圆图形;
所述线对齐系统还包括:
图形生成模块,用于在所述斜率检测模块检测到相同时,以所述目标图形相邻的两条边为长轴和短轴、所述目标图形的中心点为圆心重新生成内切椭圆图形。
为解决上述技术问题,本发明还提供一种存储介质,所述存储介质中存储有计算机程序,所述计算机程序被设置为运行时执行前述任一项所述的集成电路版图图形的线对齐方法。
为解决上述技术问题,本发明还提供一种电子设备,包括存储器和处理器,所述存储器中存储有计算机程序,所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行前述任一项所述的集成电路版图图形的线对齐方法。
区别于现有技术的情况,本发明提供的集成电路版图图形的线对齐方法通过确定集成电路版图中的对象图形、对象图形上待对齐的对象边线以及对象边线对应的对齐边线,查找与对象边线在对象边线上预设路径点相交的垂线与对齐边线或其延长线的交点,计算预设路径点与交点的偏移向量,最后按照偏移向量移动所述对象边线,得到目标图形,在图形对齐过程中,仅对象边线移动,除对象边线的两个端点以外,对象图形的其他顶点的位置保持不变,从而能够实现图形单条边线的自动对齐,极大提高版图设计效率,可以大大降低设计人员的劳动强度和时间成本。
本发明提供的集成电路版图图形的线对齐系统、存储介质及电子设备,与集成电路版图图形的线对齐方法属于同一发明构思,因此具有相同的有益效果,在此不再赘述。
附图说明
图1为本发明第一实施例提供的集成电路版图图形的线对齐方法的流程示意图。
图2为图1所示的流程中对象边线的确定流程示意图。
图3a为三角图形对齐前的示意图。
图3b为三角图形对齐后的示意图。
图3c为图3b中对象边线的两个端点移动后的示意图。
图4a为矩形图形对齐前的示意图。
图4b为矩形图形对齐后的示意图。
图4c为图4b中对象边线的两个端点移动后的示意图。
图5a为六边图形对齐前的示意图。
图5b为六边图形对齐后的示意图。
图5c为图5b中对象边线的两个端点移动后的示意图。
图6为本发明第二实施例提供的集成电路版图图形的线对齐方法的流程示意图。
图7为本发明第三实施例提供的集成电路版图图形的线对齐方法的流程示意图。
图8a为椭圆图形的外切矩形对齐前的示意图。
图8b为椭圆图形的外切矩形对齐后的示意图。
图8c为在图8b中的目标图形内生成的内切椭圆图形的示意图。
图9为本发明第四实施例提供的集成电路版图图形的线对齐系统的原理框图。
具体实施方式
下面将结合示意图对本发明的具体实施方式进行更详细的描述。根据下列描述和权利要求书,本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是,附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例,仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或者位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中,“多个”的含义是至少两个,例如两个,三个等,除非另有明确具体的限定。
请参考图1,本发明第一实施例提供了一种集成电路版图图形的线对齐方法,包括以下步骤:
S1:确定集成电路版图中的对象图形、对象图形上待对齐的对象边线以及对象边线对应的对齐边线,其中,对象图形为多边形,对齐边线与对象边线平行。
其中,对象图形可以响应于用户的操作来确定。例如用户对集成电路版图上的图形进行选中操作,将用户选中的图形确定为对象图形。在一个实际应用中,用户通过交互设备,例如显示屏、鼠标、键盘、触摸屏等对集成电路版图进行图形的选中。同样的,对象图形上待对齐的对象边线也可以响应于用户的操作来确定。对齐边线是对象边线需要对齐的线,对齐边线可以是对象图形内部或者外部的任意线条。
S2:查找与对象边线在对象边线上预设路径点相交的垂线与对齐边线或其延长线的交点。
其中,由于对齐边线与对象边线平行,那么对象边线的垂线必然与对齐边线或者其延长线相交。从而可以查找到交点。
S3:计算预设路径点与交点的偏移向量,并按照偏移向量移动对象边线,得到目标图形。
其中,偏移向量是具有大小和方向的量,其大小为预设路径点到交点的线段长度,其方向为预设路径点指向交点的方向。计算偏移向量之后,对象边线上的每个路径点均按照偏移向量移动,也就是说,对象边线按照偏移向量整体平移,从而预设路径点会与交点重合,实现图形的线对齐。最终得到的目标图形为对象图形对齐后的图形。
在本实施例中,请参考图2,确定对象图形上待对齐的对象边线的步骤包括:
S21:确定对象图形上待对齐的两个相邻顶点。
S22:将两个相邻顶点之间的边线确定为对象边线。
其中,对象图形是多边形,因此存在多个顶点。在对象图形确定后,用户通过选中操作依次选择两个相邻顶点,从而将选中的顶点确定为待对齐的两个相邻顶点。在本实施例中,预设路径点为两个相邻顶点中的第一个顶点。由于用户选择对象图形的顶点有先后顺序,两个相邻顶点中的第一个顶点就是第一个被选中的顶点。
通过上述方式,本实施例的集成电路版图图形的线对齐方法实现了图形单条边线的自动对齐,在对齐过程中,只有图形的一条边线会移动,除这条边线两端的顶点以外,图形的其他顶点的位置保持不变,设计人员只需要选择对象图形、对象边线以及对齐边线即可完成图形对齐,可以极大提高版图设计效率,大大降低设计人员的劳动强度和时间成本。
图3a为三角图形对齐前的示意图,图3b为三角图形对齐后的示意图。图4a为矩形图形对齐前的示意图,图4b为矩形图形对齐后的示意图。图5a为六边图形对齐前的示意图,图5b为六边图形对齐后的示意图。下面将结合图3a、图3b、图4a、图4b、图5a和图5b对本实施例的集成电路版图图形的线对齐方法进行说明。
如图3a所示,对象图形为三角图形,对象图形有三条边线A1、A2、A3,对象图形上的待对齐的对象边线为边线A1,对齐边线为边线A4,对象边线的预设路径点为边线A1的端点a1,与对象边线A1在端点a1相交的垂线与对齐边线A4的延长线的交点为a2,预设路径点a1与交点a2的偏移向量为S1,图中虚线为对齐边线A4的延长线。如图3b所示,按照偏移向量移动对象边线A1后,得到目标图形,目标图形也是三角图形,此时预设路径点a1与交点a2重合。
如图4a所示,对象图形为四边形图形,对象图形有四条边线B1、B2、B3、B4,对象图形上的待对齐的对象边线为边线B1,对齐边线为边线B5。对象边线的预设路径点为边线B1的端点b1,与对象边线B1在端点b1相交的垂线与对齐边线B5的延长线的交点为b2,预设路径点b1与交点b2的偏移向量为S2,图中虚线为对齐边线B5的延长线。如图4b所示,按照偏移向量移动对象边线B1后,得到目标图形,目标图形也是四边形图形,此时预设路径点b1与交点b2重合。
如图5a所示,对象图形为五边形图形,对象图形有五条边线C1、C2、C3、C4、C5,对象图形上的待对齐的对象边线为边线C1,对齐边线为边线C6。对象边线的预设路径点为边线C1的端点c1,与对象边线C1在端点c1相交的垂线与对齐边线C5的延长线的交点为c2,预设路径点c1与交点c2的偏移向量为S3,图中虚线为对齐边线C6的延长线。如图5b所示,按照偏移向量移动对象边线C1后,得到目标图形,目标图形也是五边形图形,此时预设路径点c1与交点c2重合。
请参考图6,本发明第二实施例提供了一种集成电路版图图形的线对齐方法,本实施例的方法包括第一实施例的全部技术特征,并且在第一实施例的基础上,线对齐方法还包括:
S4:计算对象边线移动前与对象边线相连的两条边线的第一斜率,以及对象边线移动后与对象边线相连的两条边线的第二斜率。
其中,在计算斜率时,可以先获取对象图形的每个顶点在参考坐标系中的坐标,根据顶点的坐标可以计算得到对象边线移动前与对象边线相连的两条边线的斜率,该斜率即为第一斜率,以及计算得到对象边线移动后与对象边线相连的两条边线的斜率,该斜率即为第二斜率。
需要注意的是,如果斜率不存在,此时边线与坐标系中的Y轴平行,可以将边线的斜率设置为预设值或以预设符号代替。
S5:检测与对象边线相连的两条边线的第二斜率与第一斜率是否相同。
S6:如果不同,则在对齐边线或其延长线上移动对象边线的两个端点,使得与对象边线相连的两条边线的第二斜率与第一斜率相同。
其中,在对齐边线或其延长线上移动对象边线的两个端点过程中,与对象边线相连的两条边线的另一端点的位置不变,所以与对象边线相连的两条边线的第二斜率会实时发生变化,当第二斜率与第一斜率相同时,对象边线的两个端点停止移动。在本实施例中,与对象边线相连的两条边线的第二斜率与第一斜率相同时,无需做任何处理。
图3c为图3b中对象边线的两个端点移动后的示意图,图4c为图4b中对象边线的两个端点移动后的示意图,图5c为图5b中对象边线的两个端点移动后的示意图。下面将结合图3c、图4c和图5c对本实施例的集成电路版图图形的线对齐方法进行说明。
如图3c所示,对象边线A1的两个端点移动后,对象边线A1的长度变大,对象边线A1与对齐边线A4部分重合,与对象边线A1相连的两条边线A2、A3的第二斜率与图3a中边线A2、A3的第一斜率相同。
如图4c所示,对象边线B1的两个端点移动后,对象边线B1的长度变小,与对象边线B1相连的两条边线B2、B4的第二斜率与图4a中边线B2、B4的第一斜率相同。
如图5c所示,对象边线C1的两个端点移动后,对象边线C1的长度变小,且边线C2与边线C5交叉,与对象边线C1相连的两条边线C2、C5的第二斜率与图5a中边线C2、C5的第一斜率相同。
请参考图7,本发明第三实施例提供了一种集成电路版图图形的线对齐方法,本实施例的方法包括第二实施例的全部技术特征,并且在第二实施例的基础上,对象图形为待对齐的椭圆图形的外切矩形,确定集成电路版图中的对象图形和所述对象图形上待对齐的两个相邻顶点的步骤,即步骤S1之前,还包括:S1A:确定集成电路版图中待对齐的椭圆图形。其中,椭圆图形可以响应于用户的操作来确定。例如用户对集成电路版图上的图形进行选中操作,将用户选中的椭圆图形确定为待对齐的图形。
线对齐方法还包括;
S7:如果相同,则以目标图形相邻的两条边为长轴和短轴、目标图形的中心点为圆心重新生成内切椭圆图形。
其中,由于集成电路版图中存在一些椭圆图形,当需要将这些椭圆图形进行线对齐时,需要先确定集成电路版图中待对齐的椭圆图形,再将待对齐的椭圆图形的外切矩形确定为对象图形,对象图形进行对齐后得到目标图形。最后以目标图形相邻的两条边为长轴和短轴、目标图形的中心点为圆心重新生成内切椭圆图形。由此可实现椭圆图形的线对齐。
如图8a所示,对象图形为图形O1的外切矩形,需要说明的是,椭圆形的长轴和短轴相等时,就构成圆形,因此,圆形时椭圆形的一种。外切矩形有四条边线D1、D2、D3、D4,对象图形上的待对齐的对象边线为边线D1,对齐边线为边线D5。对象边线的预设路径点为边线D1的端点d1,与对象边线D1在端点d1相交的垂线与对齐边线D5的延长线的交点为d2,预设路径点d1与交点d2的偏移向量为S4,图中虚线为对齐边线D5的延长线。如图8b所示,按照偏移向量移动对象边线D1后,得到目标图形,目标图形变为了长方形图形,此时预设路径点d1与交点d2重合。如图8c所示,与对象边线D1相连的边线D2、D4的第二斜率与图8a中边线D2、D4的第一斜率相同,进而在目标图形内生成了内切椭圆图形O2,该内切椭圆图形O2即为待对齐的图形O1对齐后的图形。
请参考图9,本发明第四实施例提供了一种集成电路版图图形的线对齐系统,包括:
图形确定模块1,用于确定集成电路版图中的对象图形、对象图形上待对齐的对象边线以及对象边线对应的对齐边线,其中,对象图形为多边形,对齐边线与对象边线平行。其中,对象图形可以响应于用户的操作来确定。例如用户对集成电路版图上的图形进行选中操作,将用户选中的图形确定为对象图形。在一个实际应用中,用户通过交互设备,例如显示屏、鼠标、键盘、触摸屏等对集成电路版图进行图形的选中。同样的,对象图形上待对齐的对象边线也可以响应于用户的操作来确定。对齐边线是对象边线需要对齐的线,对齐边线可以是对象图形内部或者外部的任意线条。
交点查找模块2,用于查找与对象边线在对象边线上预设路径点相交的垂线与对齐边线或其延长线的交点。其中,由于对齐边线与对象边线平行,那么对象边线的垂线必然与对齐边线或者其延长线相交。从而可以查找到交点。
图形对齐模块3,用于计算预设路径点与交点的偏移向量,并按照偏移向量移动对象边线,得到目标图形。其中,偏移向量是具有大小和方向的量,其大小为预设路径点到交点的线段长度,其方向为预设路径点指向交点的方向。计算偏移向量之后,对象边线上的每个路径点均按照偏移向量移动,也就是说,对象边线按照偏移向量整体平移,从而预设路径点会与交点重合,实现图形的线对齐。最终得到的目标图形为对象图形对齐后的图形。
在本实施例中,图形确定模块1在确定对象图形上待对齐的对象边线时,可以先确定对象图形上待对齐的两个相邻顶点,再将两个相邻顶点之间的边线确定为对象边线。其中,对象图形是多边形,因此存在多个顶点。在对象图形确定后,用户通过选中操作依次选择两个相邻顶点,从而将选中的顶点确定为待对齐的两个相邻顶点。在本实施例中,预设路径点为两个相邻顶点中的第一个顶点。由于用户选择对象图形的顶点有先后顺序,两个相邻顶点中的第一个顶点就是第一个被选中的顶点。
通过上述方式,本实施例的集成电路版图图形的线对齐系统实现了图形单条边线的自动对齐,在对齐过程中,只有图形的一条边线会移动,除这条边线两端的顶点以外,图形的其他顶点的位置保持不变,设计人员只需要选择对象图形、对象边线以及对齐边线即可完成图形对齐,可以极大提高版图设计效率,大大降低设计人员的劳动强度和时间成本。
进一步的,在本实施例中,线对齐系统还包括:
斜率计算模块4,用于计算对象边线移动前与对象边线相连的两条边线的第一斜率,以及对象边线移动后与对象边线相连的两条边线的第二斜率。其中,在计算斜率时,可以先获取对象图形的每个顶点在参考坐标系中的坐标,根据顶点的坐标可以计算得到对象边线移动前与对象边线相连的两条边线的斜率,该斜率即为第一斜率,以及计算得到对象边线移动后与对象边线相连的两条边线的斜率,该斜率即为第二斜率。
需要注意的是,如果斜率不存在,此时边线与坐标系中的Y轴平行,可以将边线的斜率设置为预设值或以预设符号代替。
斜率检测模块5,用于检测与对象边线相连的两条边线的第二斜率与第一斜率是否相同,
边线调节模块6,用于在对齐边线或其延长线上移动对象边线的两个端点,使得与对象边线相连的两条边线的第二斜率与第一斜率相同。其中,在对齐边线或其延长线上移动对象边线的两个端点过程中,与对象边线相连的两条边线的另一端点的位置不变,所以与对象边线相连的两条边线的第二斜率会实时发生变化,当第二斜率与第一斜率相同时,对象边线的两个端点停止移动。在本实施例中,与对象边线相连的两条边线的第二斜率与第一斜率相同时,无需做任何处理。
在本申请其他一些实施例中,对象图形为待对齐的椭圆图形的外切矩形,图形确定模块1还用于在确定集成电路版图中的对象图形和所述对象图形上待对齐的两个相邻顶点之前,确定集成电路版图中待对齐的椭圆图形。其中,椭圆图形可以响应于用户的操作来确定。例如用户对集成电路版图上的图形进行选中操作,将用户选中的椭圆图形确定为待对齐的图形
线对齐系统还包括:
图形生成模块7,用于在斜率检测模块检测到相同时,以目标图形相邻的两条边为长轴和短轴、目标图形的中心点为圆心重新生成内切椭圆图形。其中,由于集成电路版图中存在一些椭圆图形,当需要将这些椭圆图形进行线对齐时,需要先确定集成电路版图中待对齐的椭圆图形,再将待对齐的椭圆图形的外切矩形确定为对象图形,对象图形进行对齐后得到目标图形。最后以目标图形相邻的两条边为长轴和短轴、目标图形的中心点为圆心重新生成内切椭圆图形。由此可实现椭圆图形的线对齐。
本发明还提供一种存储介质,存储介质中存储有计算机程序,计算机程序被设置为运行时执行第一实施例、第二实施例或第三实施例的集成电路版图图形的线对齐方法。
具体的,在本实施例中,上述存储介质可以包括但不限于:U盘、只读存储器(Read-Only Memory,简称为ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory,简称为RAM)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储计算机程序的介质。
本发明还提供一种电子设备,包括存储器和处理器,存储器中存储有计算机程序,处理器被设置为运行计算机程序以执行第一实施例、第二实施例或第三实施例的集成电路版图图形的线对齐方法。
具体的,存储器和处理器可以通过数据总线连接。此外,上述电子设备还可以包括传输设备以及输入输出设备,其中,该传输设备和上述处理器连接,该输入输出设备和上述处理器连接。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”或“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例中以合适的方式结合。此外,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例进行接合和组合。
上述仅为本发明的优选实施例而已,并不对本发明起到任何限制作用。任何所属技术领域的技术人员,在不脱离本发明的技术方案的范围内,对本发明揭露的技术方案和技术内容做任何形式的等同替换或修改等变动,均属未脱离本发明的技术方案的内容,仍属于本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种集成电路版图图形的线对齐方法,其特征在于,包括:
确定集成电路版图中的对象图形、所述对象图形上待对齐的对象边线以及所述对象边线对应的对齐边线,其中,所述对象图形为多边形,所述对齐边线与所述对象边线平行;
查找与所述对象边线在所述对象边线上预设路径点相交的垂线与所述对齐边线或其延长线的交点;
计算所述预设路径点与所述交点的偏移向量,并按照所述偏移向量移动所述对象边线,得到目标图形。
2.根据权利要求1所述的线对齐方法,其特征在于,所述线对齐方法还包括:
计算所述对象边线移动前与所述对象边线相连的两条边线的第一斜率,以及所述对象边线移动后与所述对象边线相连的两条边线的第二斜率;
检测与所述对象边线相连的两条边线的所述第二斜率与所述第一斜率是否相同;
如果不同,则在所述对齐边线或其延长线上移动所述对象边线的两个端点,使得与所述对象边线相连的两条边线的所述第二斜率与所述第一斜率相同。
3.根据权利要求2所述的线对齐方法,其特征在于,所述对象图形为待对齐的椭圆图形的外切矩形,所述确定集成电路版图中的对象图形和所述对象图形上待对齐的两个相邻顶点的步骤之前,还包括:确定集成电路版图中待对齐的椭圆图形;
所述线对齐方法还包括;
如果相同,则以所述目标图形相邻的两条边为长轴和短轴、所述目标图形的中心点为圆心重新生成内切椭圆图形。
4.根据权利要求1所述的线对齐方法,其特征在于,所述确定所述对象图形上待对齐的对象边线的步骤包括:
确定所述对象图形上待对齐的两个相邻顶点;
将所述两个相邻顶点之间的边线确定为对象边线。
5.根据权利要求4所述的线对齐方法,其特征在于,所述预设路径点为所述两个相邻顶点中的第一个顶点。
6.一种集成电路版图图形的线对齐系统,其特征在于,包括:
图形确定模块,用于确定集成电路版图中的对象图形、所述对象图形上待对齐的对象边线以及所述对象边线对应的对齐边线,其中,所述对象图形为多边形,所述对齐边线与所述对象边线平行;
交点查找模块,用于查找与所述对象边线在所述对象边线上预设路径点相交的垂线与所述对齐边线或其延长线的交点;
图形对齐模块,用于计算所述预设路径点与所述交点的偏移向量,并按照所述偏移向量移动所述对象边线,得到目标图形。
7.根据权利要求6所述的线对齐系统,其特征在于,所述线对齐系统还包括:
斜率计算模块,用于计算所述对象边线移动前与所述对象边线相连的两条边线的第一斜率,以及所述对象边线移动后与所述对象边线相连的两条边线的第二斜率;
斜率检测模块,用于检测与所述对象边线相连的两条边线的所述第二斜率与所述第一斜率是否相同;
边线调节模块,用于在所述对齐边线或其延长线上移动所述对象边线的两个端点,使得与所述对象边线相连的两条边线的所述第二斜率与所述第一斜率相同。
8.根据权利要求7所述的线对齐系统,其特征在于,所述对象图形为待对齐的椭圆图形的外切矩形,所述图形确定模块还用于在确定集成电路版图中的对象图形和所述对象图形上待对齐的两个相邻顶点之前,确定集成电路版图中待对齐的椭圆图形;
所述线对齐系统还包括:
图形生成模块,用于在所述斜率检测模块检测到相同时,以所述目标图形相邻的两条边为长轴和短轴、所述目标图形的中心点为圆心重新生成内切椭圆图形。
9.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质中存储有计算机程序,所述计算机程序被设置为运行时执行权利要求1至5任一项所述的集成电路版图图形的线对齐方法。
10.一种电子设备,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器中存储有计算机程序,所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行权利要求1至5任一项所述的集成电路版图图形的线对齐方法。
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Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4903214A (en) * | 1986-12-26 | 1990-02-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for wiring semiconductor integrated circuit device |
CN102063698A (zh) * | 2009-11-17 | 2011-05-18 | 新奥特(北京)视频技术有限公司 | 一种图形图像处理中对象斜对齐的方法和装置 |
CN102622456A (zh) * | 2011-01-28 | 2012-08-01 | 北京华大九天软件有限公司 | 集成电路版图验证图形拓扑命令并发计算方法 |
CN103838492A (zh) * | 2012-11-26 | 2014-06-04 | 北京华大九天软件有限公司 | 一种集成电路版图图形对齐方法 |
US20200104449A1 (en) * | 2018-09-27 | 2020-04-02 | International Business Machines Corporation | Self-aligned double patterning-aware routing in chip manufacturing |
CN111651958A (zh) * | 2020-05-22 | 2020-09-11 | 深圳华大九天科技有限公司 | 一种集成电路版图中遵循布线格点的交互式布线方法 |
CN114816192A (zh) * | 2022-04-28 | 2022-07-29 | 卓望数码技术(深圳)有限公司 | 图形拖拽自动吸附对齐方法、装置、计算机设备及介质 |
-
2022
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4903214A (en) * | 1986-12-26 | 1990-02-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for wiring semiconductor integrated circuit device |
CN102063698A (zh) * | 2009-11-17 | 2011-05-18 | 新奥特(北京)视频技术有限公司 | 一种图形图像处理中对象斜对齐的方法和装置 |
CN102622456A (zh) * | 2011-01-28 | 2012-08-01 | 北京华大九天软件有限公司 | 集成电路版图验证图形拓扑命令并发计算方法 |
CN103838492A (zh) * | 2012-11-26 | 2014-06-04 | 北京华大九天软件有限公司 | 一种集成电路版图图形对齐方法 |
US20200104449A1 (en) * | 2018-09-27 | 2020-04-02 | International Business Machines Corporation | Self-aligned double patterning-aware routing in chip manufacturing |
CN111651958A (zh) * | 2020-05-22 | 2020-09-11 | 深圳华大九天科技有限公司 | 一种集成电路版图中遵循布线格点的交互式布线方法 |
CN114816192A (zh) * | 2022-04-28 | 2022-07-29 | 卓望数码技术(深圳)有限公司 | 图形拖拽自动吸附对齐方法、装置、计算机设备及介质 |
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