CN115097294B - 具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置，包括底座，所述底座的台面上安装有导电托板，所述底座的台面通过立板安装顶板，所述顶板位于底座的台面上方，所述顶板上安装有控制器和电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的伸缩端安装有接线板，所述接线板上安装有两根导电柱，所述顶板上安装有电源箱，所述电源箱与接线板通过连接线相连接，当进行芯片耐电极值检测时，将芯片放在导电托板上，通过控制器控制电动伸缩杆运行，使电动伸缩杆带动接线板上的导电柱下移与芯片上的引脚相接触，与此同时，控制器控制电源箱启动，从而使电源箱为导电柱供电，进行能实现自动化芯片耐电极值检测，能避免检测误差产生的同时提高检测效率。

Description

具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置

技术领域

本发明涉及芯片耐电极值的检测装置技术领域，具体为具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置。

背景技术

半导体芯片是在半导体片材上进行浸蚀，布线，制成的能实现某种功能的半导体器件；不只是硅芯片，常见的还包括砷化镓，锗等半导体材料,半导体芯片在生产后，需要工人对生产后的半导体芯片进行平整度测试及电特性的测试，以便于半导体芯片的后续使用，目前在对特定的半导体芯片进行平整度测试时，需要工人通过卡尺进行测量与评定，当平整度测试完成后将半导体芯片移送至电特性测试工作台。

现有的芯片耐电极值的检测装置多是通过工作人员手持检测装置对芯片进行检测，通过将检测装置的正、负接线柱与芯片的引脚相接触形成闭环电路，从而实现芯片耐电极值的检测，但人工操作劳动强度大，使得在手动将检测装置的正、负接线柱与芯片的引脚相接触时，会因为手抖造成检测时间延长，降低检测效率。

发明内容

本发明的目的在于提供具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置，该具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置包括底座，所述底座的台面上安装有导电托板，所述底座的台面通过立板安装顶板，所述立板上设置有漏电保护组件，所述顶板位于底座的台面上方，所述顶板上安装有控制器和电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的伸缩端安装有接线板，所述接线板上安装有两根导电柱，所述顶板上安装有电源箱，所述电源箱与接线板通过连接线相连接，当进行芯片耐电极值检测时，将芯片放在导电托板上，通过控制器控制电动伸缩杆运行，使电动伸缩杆带动接线板上的导电柱下移与芯片上的引脚相接触，与此同时，控制器控制电源箱启动，从而使电源箱为导电柱供电，进行能实现自动化芯片耐电极值检测，能避免检测误差产生的同时提高检测效率。

作为优选技术方案，所述漏电保护组件包括开槽、第一固定杆、第一电磁块、第一滑孔、导电杆、第一支撑弹簧、第一推杆、第一移动板、移动杆、按压块；

所述立板上开设有开槽，所述开槽内固定安装有第一固定杆，所述第一固定杆上滑动安装有两个第一电磁块，所述第一电磁块上开设有第一滑孔，所述第一固定杆贯穿第一滑孔，两个所述第一电磁块通过第一支撑弹簧相连接，且第一电磁块远离开槽的一侧安装有导电杆，两个所述第一电磁块通过第一推杆与第一移动板相连接，所述第一推杆的两端与第一电磁块和第一移动板铰接，两根第一推杆呈“八”字状，所述第一移动板上安装有移动杆，所述移动杆远离第一移动板的端部安装有按压块，所述按压块位于电源箱的开关处下方，且按压块与电源箱的开关处于同一中心轴线上，当芯片在检测过程中发生漏电时，通过导电杆能够将电流对第一电磁块进行供电，两个第一电磁块通电后在磁力作用下相吸，从而压缩第一支撑弹簧进行相向移动，与此同时，两个第一电磁块在相向移动过程中能够通过第一推杆顶升第一移动板，第一移动板在上移过程中能够带动移动杆上移，从而使移动杆带动按压块上移，让按压块对电源箱的开关进行按压，使电源箱进行自动断电，从而可以实现漏电保护。

作为优选技术方案，当导电柱与导电托板上的芯片相接触时，第一电磁块通过导电杆与导电托板相接触，两个所述第一电磁块通电后分别为“一正一负”，当芯片在检测过程中发生漏电时，两个第一电磁块经过导电杆实现通电，两个第一电磁块能分别形成正极磁场和负极磁场，此时在异性磁场相吸的作用下，能实现两个第一电磁块相向运动。

作为优选技术方案，所述底座上设置有第一气动组件，所述第一气动组件上设置有第二气动组件，所述第一气动组件为第二气动组件实现运行驱动。

作为优选技术方案，所述第一气动组件包括活塞缸、挤压气囊、挤压板、传动杆、第一输气管、工作腔、第二固定杆、第二移动板、增压气囊、第二输气管；

所述底座的台面上安装有活塞缸，所述活塞缸内安装有挤压气囊和挤压板，所述挤压板位于挤压气囊的上方，所述活塞缸的顶部开设有通孔，所述挤压板与接线板通过传动杆相连接，所述传动杆贯穿通孔，所述活塞缸靠近导电托板的一侧底部开设有第一连接孔，所述挤压气囊与导电托板通过第一输气管相连接，所述第一输气管贯穿第一连接孔，所述底座内设有工作腔，所述工作腔内安装有第二固定杆，所述第二固定杆上滑动安装有第二移动板，所述第二移动板上开设有第二滑孔，所述第二固定杆贯穿第二滑孔，所述第二移动板与工作腔的顶部通过第二支撑弹簧相连接，所述第二移动板与工作腔的底部通过增压气囊相连接，所述工作腔的顶部与底座的台面通过开孔相接通，所述增压气囊与导电托板通过第二输气管相连接，所述第二移动板通过卸料组件安装导电托板，所述导电托板上设置有第二气动组件，当电动伸缩杆控制导电柱下移时，接线板能够通过传动杆带动活塞缸内的挤压板压缩挤压气囊，挤压气囊内的气流通过第一输气管和第二输气管进入到增压气囊内，随着气流的大量涌入到增压气囊内，通过增压气囊能够带动第二移动板压缩第二支撑弹簧，从而通过卸料组件带动导电托板上的芯片上移，能够利用增压气囊对第二移动板的挤压，能使芯片上的引脚与接线板上的导电柱紧密接触，可以加强对芯片的检测效果，并且导电托板在上移与导电柱相接触时，有利于控制导电托板托升芯片移动至收集框的上方，有利于对漏电芯片的收集提供收集条件。

作为优选技术方案，所述第二气动组件包括气腔、第一气孔、第二气孔、吸气孔、单向气阀；

所述导电托板内设有气腔，所述气腔靠近活塞缸的一侧开设有第一气孔，所述第一气孔与第一输气管相连接，所述气腔远离活塞缸的一侧开设有第二气孔，所述第二气孔与第二输气管相连接，所述导电托板的顶部开设有多个吸气孔，所述吸气孔位于气腔的端口上安装有单向气阀，通过单向气阀能够避免气流从吸气孔逸出，实现吸气孔只进行吸气，当挤压气囊内的气流通过第一输气管和第一气孔可以进入到气腔内，再从气腔经过第二气孔和第二输气管可以进入到增压气囊内，随着气流持续高速流动可以实现文丘里原理，使得吸气孔能够产生吸力，进而能让吸气孔吸附导电托板上的芯片，实现在移动过程中对芯片的固定，可以避免芯片在上移过程中偏移，保障芯片引脚与导电柱的接触不会受到影响。

作为优选技术方案，所述第一输气管、气腔和第二输气管形成气流通道，便于气流在导电托板的气腔内高速流动，利用文丘里现象实现对芯片的固定。

作为优选技术方案，所述卸料组件包括第二电磁块、支撑杆、第三固定杆、磁块、第三滑孔、滑槽、滑块、第一连接杆、第二连接杆、第二推杆；

所述底座的台面上安装有收集框，所述导电托板的底部安装有第二电磁块，所述第二移动板与导电托板通过支撑杆相连接，所述第二移动板靠近第二电磁块的一侧固定安装有第三固定杆，所述第三固定杆的上端固定安装有限位块，所述第三固定杆上滑动安装有磁块，所述磁块上开设有第三滑孔，所述第三固定杆贯穿第三滑孔，所述磁块的重量远大于第二移动板和芯片的重量，所述第二移动板上开设有滑槽，所述滑槽内滑动嵌合有滑块，所述滑块上安装有第一连接杆，靠近所述收集框的支撑杆的底部与所述滑块连接第一连接杆的一侧相连接，所述磁块上安装有第二连接杆，所述第一连接杆与第二连接杆通过第二推杆相连接，所述第二推杆的两端均开设有转孔，所述第一连接杆与第二连接杆均贯穿转孔，当芯片在检测过程中漏电时，通过导电托板的导电作用能够对第二电磁块进行通电，第二电磁块通电时可以在磁力作用下吸附磁块在第三固定杆上上移，磁块在上移过程中可以通过第二推杆拉动滑块在滑槽内进行横向移动，此时，滑块在进行横向移动时，能够导致靠近收集框侧的支撑杆发生倾斜，从而可以时导电托板向着收集框方向倾斜，有利于将检测不合格的芯片从导电托板上滑落，便于实现自动对不合格产品的收集。

作为优选技术方案，所述支撑杆的端部与导电托板、滑块和第二移动板均为铰接，能够让滑块带动支撑杆移动时，避免支撑杆与导电托板和滑块发生互锁。

作为优选技术方案，所述滑块的底部开设有滚槽，所述滚槽内滚动嵌合有滚珠，所述滚珠与滑槽的槽底为点接触，通过滚珠的滚动作用能够减弱滑块在滑槽内的移动摩擦力，有利于滑块的顺畅移动。

与现有技术相比，本发明所达到的有益效果是：

当进行芯片耐电极值检测时，将芯片放在导电托板上，通过控制器控制电动伸缩杆运行，使电动伸缩杆带动接线板上的导电柱下移与芯片上的引脚相接触，与此同时，控制器控制电源箱启动，从而使电源箱为导电柱供电，进行能实现自动化芯片耐电极值检测，能避免检测误差产生的同时提高检测效率。

当芯片在检测过程中发生漏电时，通过导电杆能够将电流对第一电磁块进行供电，两个第一电磁块通电后在磁力作用下相吸，从而压缩第一支撑弹簧进行相向移动，与此同时，两个第一电磁块在相向移动过程中能够通过第一推杆顶升第一移动板，第一移动板在上移过程中能够带动移动杆上移，从而使移动杆带动按压块上移，让按压块对电源箱的开关进行按压，使电源箱进行自动断电，从而可以实现漏电保护。

当电动伸缩杆控制导电柱下移时，接线板能够通过传动杆带动活塞缸内的挤压板压缩挤压气囊，挤压气囊内的气流通过第一输气管和第二输气管进入到增压气囊内，随着气流的大量涌入到增压气囊内，通过增压气囊能够带动第二移动板压缩第二支撑弹簧，从而通过卸料组件带动导电托板上的芯片上移，能够利用增压气囊对第二移动板的挤压，能使芯片上的引脚与接线板上的导电柱紧密接触，可以加强对芯片的检测效果，并且导电托板在上移与导电柱相接触时，有利于控制导电托板托升芯片移动至收集框的上方，有利于对漏电芯片的收集提供收集条件。

当挤压气囊内的气流通过第一输气管和第一气孔可以进入到气腔内，再从气腔经过第二气孔和第二输气管可以进入到增压气囊内，随着气流持续高速流动可以实现文丘里原理，使得吸气孔能够产生吸力，进而能让吸气孔吸附导电托板上的芯片，实现在移动过程中对芯片的固定，可以避免芯片在上移过程中偏移，保障芯片引脚与导电柱的接触不会受到影响。

当芯片在检测过程中漏电时，通过导电托板的导电作用能够对第二电磁块进行通电，第二电磁块通电时可以在磁力作用下吸附磁块在第三固定杆上上移，磁块在上移过程中可以通过第二推杆拉动滑块在滑槽内进行横向移动，此时，滑块在进行横向移动时，能够导致靠近收集框侧的支撑杆发生倾斜，从而可以时导电托板向着收集框方向倾斜，有利于将检测不合格的芯片从导电托板上滑落，便于实现自动对不合格产品的收集。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1是本发明的立体结构示意图；

图2是图1的右视结构示意图；

图3是本发明的第一剖切结构示意图；

图4是本发明的第二剖切结构示意图；

图5是本发明的第三剖切结构示意图；

图6是图4的a处放大结构示意图；

图7是图5的b处放大结构示意图；

图8是图5的c处放大结构示意图。

图中：1、底座；2、导电托板；3、立板；4、顶板；5、控制器；6、电动伸缩杆；7、接线板；8、导电柱；9、电源箱；10、连接线；

11、漏电保护组件；1101、开槽；1102、第一固定杆；1103、第一电磁块；1104、第一滑孔；1105、导电杆；1106、第一支撑弹簧；1107、第一推杆；1108、第一移动板；1109、移动杆；1110、按压块；

12、第一气动组件；1201、活塞缸；1202、挤压气囊；1203、挤压板；1204、传动杆；1205、通孔；1206、第一连接孔；1207、第一输气管；1208、工作腔；1209、第二固定杆；1210、第二移动板；1211、第二滑孔；1212、第二支撑弹簧；1213、增压气囊；1214、第二输气管；1215、开孔；

13、第二气动组件；1301、气腔；1302、第一气孔；1303、第二气孔；1304、吸气孔；1305、单向气阀；

14、卸料组件；1401、收集框；1402、第二电磁块；1403、支撑杆；1404、第三固定杆；1405、限位块；1406、磁块；1407、第三滑孔；1408、滑槽；1409、滑块；1411、第一连接杆；1412、第二连接杆；1413、第二推杆；1414、滚槽；1415、滚珠。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例：如图1-图8所示，本发明提供如下技术方案：具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置，该具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置包括底座1，所述底座1的台面上安装有导电托板2，所述底座1的台面通过立板3安装顶板4，所述立板3上设置有漏电保护组件11，所述顶板4位于底座1的台面上方，所述顶板4上安装有控制器5和电动伸缩杆6，所述电动伸缩杆6的伸缩端安装有接线板7，所述接线板7上安装有两根导电柱8，所述顶板4上安装有电源箱9，所述电源箱9与接线板7通过连接线10相连接，当进行芯片耐电极值检测时，将芯片放在导电托板2上，通过控制器5控制电动伸缩杆6运行，使电动伸缩杆6带动接线板7上的导电柱8下移与芯片上的引脚相接触，与此同时，控制器5控制电源箱9启动，从而使电源箱9为导电柱8供电，进行能实现自动化芯片耐电极值检测，能避免检测误差产生的同时提高检测效率。

如图1-图5和图8所示，所述漏电保护组件11包括开槽1101、第一固定杆1102、第一电磁块1103、第一滑孔1104、导电杆1105、第一支撑弹簧1106、第一推杆1107、第一移动板1108、移动杆1109、按压块1110；

所述立板3上开设有开槽1101，所述开槽1101内固定安装有第一固定杆1102，所述第一固定杆1102上滑动安装有两个第一电磁块1103，所述第一电磁块1103上开设有第一滑孔1104，所述第一固定杆1102贯穿第一滑孔1104，两个所述第一电磁块1103通过第一支撑弹簧1106相连接，且第一电磁块1103远离开槽1101的一侧安装有导电杆1105，两个所述第一电磁块1103通过第一推杆1107与第一移动板1108相连接，所述第一推杆1107的两端与第一电磁块1103和第一移动板1108铰接，两根第一推杆1107呈“八”字状，所述第一移动板1108上安装有移动杆1109，所述移动杆1109远离第一移动板1108的端部安装有按压块1110，所述按压块1110位于电源箱9的开关处下方，且按压块1110与电源箱9的开关处于同一中心轴线上，当芯片在检测过程中发生漏电时，通过导电杆1105能够将电流对第一电磁块1103进行供电，两个第一电磁块1103通电后在磁力作用下相吸，从而压缩第一支撑弹簧1106进行相向移动，与此同时，两个第一电磁块1103在相向移动过程中能够通过第一推杆1107顶升第一移动板1108，第一移动板1108在上移过程中能够带动移动杆1109上移，从而使移动杆1109带动按压块1110上移，让按压块1110对电源箱9的开关进行按压，使电源箱9进行自动断电，从而可以实现漏电保护。

当导电柱8与导电托板2上的芯片相接触时，第一电磁块1103通过导电杆1105与导电托板2相接触，两个所述第一电磁块1103通电后分别为“一正一负” ，当芯片在检测过程中发生漏电时，两个第一电磁块1103经过导电杆1105实现通电，两个第一电磁块1103能分别形成正极磁场和负极磁场，此时在异性磁场相吸的作用下，能实现两个第一电磁块1103相向运动。

所述底座1上设置有第一气动组件12，所述第一气动组件12上设置有第二气动组件13，所述第一气动组件12为第二气动组件13实现运行驱动。

如图1-图6和图8所示，所述第一气动组件12包括活塞缸1201、挤压气囊1202、挤压板1203、传动杆1204、第一输气管1207、工作腔1208、第二固定杆1209、第二移动板1210、增压气囊1213、第二输气管1214；

所述底座1的台面上安装有活塞缸1201，所述活塞缸1201内安装有挤压气囊1202和挤压板1203，所述挤压板1203位于挤压气囊1202的上方，所述活塞缸1201的顶部开设有通孔1205，所述挤压板1203与接线板7通过传动杆1204相连接，所述传动杆1204贯穿通孔1205，所述活塞缸1201靠近导电托板2的一侧底部开设有第一连接孔1206，所述挤压气囊1202与导电托板2通过第一输气管1207相连接，所述第一输气管1207贯穿第一连接孔1206，所述底座1内设有工作腔1208，所述工作腔1208内安装有第二固定杆1209，所述第二固定杆1209上滑动安装有第二移动板1210，所述第二移动板1210上开设有第二滑孔1211，所述第二固定杆1209贯穿第二滑孔1211，所述第二移动板1210与工作腔1208的顶部通过第二支撑弹簧1212相连接，所述第二移动板1210与工作腔1208的底部通过增压气囊1213相连接，所述工作腔1208的顶部与底座1的台面通过开孔1215相接通，所述增压气囊1213与导电托板2通过第二输气管1214相连接，所述第二移动板1210通过卸料组件14安装导电托板2，所述导电托板2上设置有第二气动组件13，当电动伸缩杆6控制导电柱8下移时，接线板7能够通过传动杆1204带动活塞缸1201内的挤压板1203压缩挤压气囊1202，挤压气囊1202内的气流通过第一输气管1207和第二输气管1214进入到增压气囊1213内，随着气流的大量涌入到增压气囊1213内，通过增压气囊1213能够带动第二移动板1210压缩第二支撑弹簧1212，从而通过卸料组件14带动导电托板2上的芯片上移，能够利用增压气囊1213对第二移动板1210的挤压，能使芯片上的引脚与接线板7上的导电柱8紧密接触，可以加强对芯片的检测效果，并且导电托板2在上移与导电柱8相接触时，有利于控制导电托板2托升芯片移动至收集框1401的上方，有利于对漏电芯片的收集提供收集条件。

如图1-图5和图7所示，所述第二气动组件13包括气腔1301、第一气孔1302、第二气孔1303、吸气孔1304、单向气阀1305；

所述导电托板2内设有气腔1301，所述气腔1301靠近活塞缸1201的一侧开设有第一气孔1302，所述第一气孔1302与第一输气管1207相连接，所述气腔1301远离活塞缸1201的一侧开设有第二气孔1303，所述第二气孔1303与第二输气管1214相连接，所述导电托板2的顶部开设有多个吸气孔1304，所述吸气孔1304位于气腔1301的端口上安装有单向气阀1305，通过单向气阀1305能够避免气流从吸气孔1304逸出，实现吸气孔1304只进行吸气，当挤压气囊1202内的气流通过第一输气管1207和第一气孔1302可以进入到气腔1301内，再从气腔1301经过第二气孔1303和第二输气管1214可以进入到增压气囊1213内，随着气流持续高速流动可以实现文丘里原理，使得吸气孔1304能够产生吸力，进而能让吸气孔1304吸附导电托板2上的芯片，实现在移动过程中对芯片的固定，可以避免芯片在上移过程中偏移，保障芯片引脚与导电柱8的接触不会受到影响。

所述第一输气管1207、气腔1301和第二输气管1214形成气流通道，便于气流在导电托板2的气腔1301内高速流动，利用文丘里现象实现对芯片的固定。

如图1-图6所示，所述卸料组件14包括第二电磁块1402、支撑杆1403、第三固定杆1404、磁块1406、第三滑孔1407、滑槽1408、滑块1409、第一连接杆1411、第二连接杆1412、第二推杆1413；

所述底座1的台面上安装有收集框1401，所述导电托板2的底部安装有第二电磁块1402，所述第二移动板1210与导电托板2通过支撑杆1403相连接，所述第二移动板1210靠近第二电磁块1402的一侧固定安装有第三固定杆1404，所述第三固定杆1404的上端固定安装有限位块1405，所述第三固定杆1404上滑动安装有磁块1406，所述磁块1406上开设有第三滑孔1407，所述第三固定杆1404贯穿第三滑孔1407，所述磁块1406的重量远大于第二移动板1210和芯片的重量，所述第二移动板1210上开设有滑槽1408，所述滑槽1408内滑动嵌合有滑块1409，所述滑块1409上安装有第一连接杆1411，靠近所述收集框1401的支撑杆1403的底部与所述滑块1409连接第一连接杆1411的一侧相连接，所述磁块1406上安装有第二连接杆1412，所述第一连接杆1411与第二连接杆1412通过第二推杆1413相连接，所述第二推杆1413的两端均开设有转孔，所述第一连接杆1411与第二连接杆1412均贯穿转孔，当芯片在检测过程中漏电时，通过导电托板2的导电作用能够对第二电磁块1402进行通电，第二电磁块1402通电时可以在磁力作用下吸附磁块1406在第三固定杆1404上上移，磁块1406在上移过程中可以通过第二推杆1413拉动滑块1409在滑槽1408内进行横向移动，此时，滑块1409在进行横向移动时，能够导致靠近收集框1401侧的支撑杆1403发生倾斜，从而可以时导电托板2向着收集框1401方向倾斜，有利于将检测不合格的芯片从导电托板2上滑落，便于实现自动对不合格产品的收集。

所述支撑杆1403的端部与导电托板2、滑块1409和第二移动板1210均为铰接，能够让滑块1409带动支撑杆1403移动时，避免支撑杆1403与导电托板2和滑块1409发生互锁。

所述滑块1409的底部开设有滚槽1414，所述滚槽1414内滚动嵌合有滚珠1415，所述滚珠1415与滑槽1408的槽底为点接触，通过滚珠1415的滚动作用能够减弱滑块1409在滑槽1408内的移动摩擦力，有利于滑块1409的顺畅移动。

本发明的工作原理：

当进行芯片耐电极值检测时，将芯片放在导电托板2上，通过控制器5控制电动伸缩杆6运行，使电动伸缩杆6带动接线板7上的导电柱8下移与芯片上的引脚相接触，与此同时，控制器5控制电源箱9启动，从而使电源箱9为导电柱8供电，进行能实现自动化芯片耐电极值检测，能避免检测误差产生的同时提高检测效率。

当芯片在检测过程中发生漏电时，通过导电杆1105能够将电流对第一电磁块1103进行供电，两个第一电磁块1103通电后在磁力作用下相吸，从而压缩第一支撑弹簧1106进行相向移动，与此同时，两个第一电磁块1103在相向移动过程中能够通过第一推杆1107顶升第一移动板1108，第一移动板1108在上移过程中能够带动移动杆1109上移，从而使移动杆1109带动按压块1110上移，让按压块1110对电源箱9的开关进行按压，使电源箱9进行自动断电，从而可以实现漏电保护。

当电动伸缩杆6控制导电柱8下移时，接线板7能够通过传动杆1204带动活塞缸1201内的挤压板1203压缩挤压气囊1202，挤压气囊1202内的气流通过第一输气管1207和第二输气管1214进入到增压气囊1213内，随着气流的大量涌入到增压气囊1213内，通过增压气囊1213能够带动第二移动板1210压缩第二支撑弹簧1212，从而通过卸料组件14带动导电托板2上的芯片上移，能够利用增压气囊1213对第二移动板1210的挤压，能使芯片上的引脚与接线板7上的导电柱8紧密接触，可以加强对芯片的检测效果，并且导电托板2在上移与导电柱8相接触时，有利于控制导电托板2托升芯片移动至收集框1401的上方，有利于对漏电芯片的收集提供收集条件。

当挤压气囊1202内的气流通过第一输气管1207和第一气孔1302可以进入到气腔1301内，再从气腔1301经过第二气孔1303和第二输气管1214可以进入到增压气囊1213内，随着气流持续高速流动可以实现文丘里原理，使得吸气孔1304能够产生吸力，进而能让吸气孔1304吸附导电托板2上的芯片，实现在移动过程中对芯片的固定，可以避免芯片在上移过程中偏移，保障芯片引脚与导电柱8的接触不会受到影响。

当芯片在检测过程中漏电时，通过导电托板2的导电作用能够对第二电磁块1402进行通电，第二电磁块1402通电时可以在磁力作用下吸附磁块1406在第三固定杆1404上上移，磁块1406在上移过程中可以通过第二推杆1413拉动滑块1409在滑槽1408内进行横向移动，此时，滑块1409在进行横向移动时，能够导致靠近收集框1401侧的支撑杆1403发生倾斜，从而可以时导电托板2向着收集框1401方向倾斜，有利于将检测不合格的芯片从导电托板2上滑落，便于实现自动对不合格产品的收集。

对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

Claims (8)

1.具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置，其特征在于：该具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置包括底座（1），所述底座（1）的台面上安装有导电托板（2），所述底座（1）的台面通过立板（3）安装顶板（4），所述立板（3）上设置有漏电保护组件（11），所述顶板（4）位于底座（1）的台面上方，所述顶板（4）上安装有控制器（5）和电动伸缩杆（6），所述电动伸缩杆（6）的伸缩端安装有接线板（7），所述接线板（7）上安装有两根导电柱（8），所述顶板（4）上安装有电源箱（9），所述电源箱（9）与接线板（7）通过连接线（10）相连接，所述底座（1）上设置有第一气动组件（12），所述第一气动组件（12）上设置有第二气动组件（13），所述第一气动组件（12）为第二气动组件（13）实现运行驱动；

所述第一气动组件（12）包括活塞缸（1201）、挤压气囊（1202）、挤压板（1203）、传动杆（1204）、第一输气管（1207）、工作腔（1208）、第二固定杆（1209）、第二移动板（1210）、增压气囊（1213）、第二输气管（1214），所述底座（1）的台面上安装有活塞缸（1201），所述活塞缸（1201）内安装有挤压气囊（1202）和挤压板（1203），所述挤压板（1203）位于挤压气囊（1202）的上方，所述活塞缸（1201）的顶部开设有通孔（1205），所述挤压板（1203）与接线板（7）通过传动杆（1204）相连接，所述传动杆（1204）贯穿通孔（1205），所述活塞缸（1201）靠近导电托板（2）的一侧底部开设有第一连接孔（1206），所述挤压气囊（1202）与导电托板（2）通过第一输气管（1207）相连接，所述第一输气管（1207）贯穿第一连接孔（1206），所述底座（1）内设有工作腔（1208），所述工作腔（1208）内安装有第二固定杆（1209），所述第二固定杆（1209）上滑动安装有第二移动板（1210），所述第二移动板（1210）上开设有第二滑孔（1211），所述第二固定杆（1209）贯穿第二滑孔（1211），所述第二移动板（1210）与工作腔（1208）的顶部通过第二支撑弹簧（1212）相连接，所述第二移动板（1210）与工作腔（1208）的底部通过增压气囊（1213）相连接，所述工作腔（1208）的顶部与底座（1）的台面通过开孔（1215）相接通，所述增压气囊（1213）与导电托板（2）通过第二输气管（1214）相连接，所述第二移动板（1210）通过卸料组件（14）安装导电托板（2），所述导电托板（2）上设置有第二气动组件（13）。

2.根据权利要求1所述的具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置，其特征在于：所述漏电保护组件（11）包括开槽（1101）、第一固定杆（1102）、第一电磁块（1103）、第一滑孔（1104）、导电杆（1105）、第一支撑弹簧（1106）、第一推杆（1107）、第一移动板（1108）、移动杆（1109）、按压块（1110）；

所述立板（3）上开设有开槽（1101），所述开槽（1101）内固定安装有第一固定杆（1102），所述第一固定杆（1102）上滑动安装有两个第一电磁块（1103），所述第一电磁块（1103）上开设有第一滑孔（1104），所述第一固定杆（1102）贯穿第一滑孔（1104），两个所述第一电磁块（1103）通过第一支撑弹簧（1106）相连接，且第一电磁块（1103）远离开槽（1101）的一侧安装有导电杆（1105），两个所述第一电磁块（1103）通过第一推杆（1107）与第一移动板（1108）相连接，所述第一移动板（1108）上安装有移动杆（1109），所述移动杆（1109）远离第一移动板（1108）的端部安装有按压块（1110），所述按压块（1110）位于电源箱（9）的开关处下方，且按压块（1110）与电源箱（9）的开关处于同一中心轴线上。

3.根据权利要求2所述的具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置，其特征在于：当导电柱（8）与导电托板（2）上的芯片相接触时，第一电磁块（1103）通过导电杆（1105）与导电托板（2）相接触，两个所述第一电磁块（1103）通电后分别为“一正一负”。

4.根据权利要求3所述的具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置，其特征在于：所述第二气动组件（13）包括气腔（1301）、第一气孔（1302）、第二气孔（1303）、吸气孔（1304）、单向气阀（1305）；

所述导电托板（2）内设有气腔（1301），所述气腔（1301）靠近活塞缸（1201）的一侧开设有第一气孔（1302），所述第一气孔（1302）与第一输气管（1207）相连接，所述气腔（1301）远离活塞缸（1201）的一侧开设有第二气孔（1303），所述第二气孔（1303）与第二输气管（1214）相连接，所述导电托板（2）的顶部开设有多个吸气孔（1304），所述吸气孔（1304）位于气腔（1301）的端口上安装有单向气阀（1305）。

5.根据权利要求4所述的具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置，其特征在于：所述第一输气管（1207）、气腔（1301）和第二输气管（1214）形成气流通道。

6.根据权利要求5所述的具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置，其特征在于：所述卸料组件（14）包括第二电磁块（1402）、支撑杆（1403）、第三固定杆（1404）、磁块（1406）、第三滑孔（1407）、滑槽（1408）、滑块（1409）、第一连接杆（1411）、第二连接杆（1412）、第二推杆（1413）；

所述底座（1）的台面上安装有收集框（1401），所述导电托板（2）的底部安装有第二电磁块（1402），所述第二移动板（1210）与导电托板（2）通过支撑杆（1403）相连接，所述第二移动板（1210）靠近第二电磁块（1402）的一侧固定安装有第三固定杆（1404），所述第三固定杆（1404）的上端固定安装有限位块（1405），所述第三固定杆（1404）上滑动安装有磁块（1406），所述磁块（1406）上开设有第三滑孔（1407），所述第三固定杆（1404）贯穿第三滑孔（1407），所述第二移动板（1210）上开设有滑槽（1408），所述滑槽（1408）内滑动嵌合有滑块（1409），所述滑块（1409）上安装有第一连接杆（1411），靠近所述收集框（1401）的支撑杆（1403）的底部与所述滑块（1409）连接第一连接杆（1411）的一侧相连接，所述磁块（1406）上安装有第二连接杆（1412），所述第一连接杆（1411）与第二连接杆（1412）通过第二推杆（1413）相连接，所述第二推杆（1413）的两端均开设有转孔，所述第一连接杆（1411）与第二连接杆（1412）均贯穿转孔。

7.根据权利要求6所述的具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置，其特征在于：所述支撑杆（1403）的端部与导电托板（2）、滑块（1409）和第二移动板（1210）均为铰接。

8.根据权利要求6所述的具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置，其特征在于：所述滑块（1409）的底部开设有滚槽（1414），所述滚槽（1414）内滚动嵌合有滚珠（1415），所述滚珠（1415）与滑槽（1408）的槽底为点接触。

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