CN115069789A - 轧机中金属板的倾斜和曲率测量 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种用于测量在轧机(100)中处理的金属板(104)的特性的测量装置(106)，包括：检查线圈组，检查线圈组包括发射器线圈(108)和接收器线圈(110)，发射器线圈被配置为向金属板施加时变磁场，接收器线圈被配置为监测从金属板产生的磁场瞬态。金属板的特性能够从磁场瞬态中导出。校正线圈组(116、118、122、124)，用于检测金属板与参考平面的空间偏差，每个校正线圈能够连接至电容器以形成具有谐振频率的相应谐振电路。校正线圈以相应谐振频率谐振。在存在金属板的情况下能够检测到谐振频率的偏移，并且能够从该偏移导出空间偏差。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于测量在轧机(rolling mill)中处理的金属板的特性的测量装置。本发明还涉及一种轧机和一种用于检测在轧机中处理的金属板与参考平面的空间偏差的方法。
背景技术
金属轧制一般涉及通过在两个旋转工作辊之间轧制金属工件来产生厚度减小且厚度均匀的金属工件。
为了确保高产品质量，工件厚度被精确地监测和控制。
传统上使用的脉冲涡流测量技术是基于对由施加至金属板的快速变化磁场所引起的金属板中的涡流的测量。基于所测量的涡流，例如提取金属板的电阻率和厚度。
如果金属板完全平行于传感器，则仅需要两个线圈就可以精确地测量金属板特性。然而，实际上，金属板并不总是与传感器平行，由此，金属板相对于传感器的曲率以及倾斜将影响测量并导致金属板特性的不准确估计。
因此，期望提高轧机中金属板测量的精度。
发明内容
鉴于现有技术的上述和其它缺点，本发明的一个目的在于提供一种至少部分地减轻现有技术缺陷的测量装置。所建议的实施例提供了一种检测在轧机中处理的金属板的诸如曲率和倾斜的空间偏差的改进方式。
根据本发明的第一方面，提供了一种用于测量在轧机中处理的金属板的特性的测量装置。
测量装置包括检查线圈组，检查线圈组包括发射器线圈和接收器线圈，发射器线圈被配置为向金属板施加时变磁场，接收器线圈被配置为检测金属板响应于所施加的时变磁场而产生的磁场瞬态，其中，金属板的至少一个特性能够从磁场瞬态导出。
测量装置包括校正线圈组，用于检测金属板与参考平面的空间偏差，每个校正线圈能够连接至电容器以形成具有谐振频率的相应谐振电路，其中，校正线圈被配置为以相应谐振频率谐振，其中，在存在金属板的情况下能够检测到谐振频率的偏移，其中，空间偏差能够从谐振频率的偏移导出。
本发明至少部分地基于实现通过校正线圈测量空间偏差，校正线圈在其谐振频率处谐振，并且谐振频率在存在金属板的情况下偏移。
频率偏移是包括校正线圈的谐振电路的谐振频率的偏移，其中，该偏移是由放置在校正线圈附近的金属板的电感(inductive)贡献引起的。因此，可以先在没有金属板的情况下测量或估计谐振电路的标称谐振频率，由此频率的偏移是谐振频率与标称谐振频率的偏差。
例如，如果金属板相对于例如由传感器头提供的参考平面或校正线圈平面不平行，则由于金属板的不同电感贡献，两个校正线圈的谐振电路的电感分量互不相同。因此，校正线圈的频率偏移也互不相同，由此可以检测金属板的倾斜。
利用所提出的测量装置，可以避免向检查线圈系统添加附加极和寄生电容。
参考平面可以任意选择，但优选平行于校正线圈平面。由校正线圈产生的磁场的主轴可以垂直于参考平面。
优选地，校正线圈被布置为使与检查线圈的耦合和串扰最小化。这可以以各种可想到的方式实现。一种方式是将校正线圈布置为远离检查线圈。例如，当校正线圈和检查线圈共享共用支撑件时，校正线圈可以被放置在支撑件的边缘或拐角附近，并且检查线圈可以被放置在支撑件的中心附近。此类支撑件可以例如是载体基板，该载体基板可以是平面的。
由检查线圈测量的金属板特性可以是到传感器头的距离、金属板的电阻率和金属板的厚度中的至少一个。
金属板的空间偏差可以是金属板的曲率和金属板的倾斜中的至少一个。曲率可以例如是金属板的局部曲率。
检查线圈通过依赖于金属板涡流的测量技术来操作。发射器线圈产生施加至金属板的时变磁场。作为响应，由于所施加的时变磁场而在金属板中产生涡流。涡流能够由布置在距金属板一定距离处的接收器线圈检测到。通过由工件中的涡流产生的磁场的时间导数，在接收器线圈中引起电压信号。处理电压信号，例如按照数据采集系统中的通常做法放大电压信号，以产生用于确定金属板特性的采集信号。
所施加的时变磁场优选通过中断发射器线圈中的偏置DC电流产生。因此，施加脉冲磁场，并且接收器线圈测量由涡流响应于脉冲(优选地响应于移除磁场时的脉冲的负边缘)而生成的磁场。
确定特性可以通过例如理论模型来执行，或者通过使用将涡流衰减的时间相关性与金属板特性相关联的经验确定模型来执行。存在各种本身已知的基于电感测量(例如磁瞬态测量)从金属板提取这些特性的方法。
有利地，校正线圈的谐振频率可以高于响应于所施加的磁场从金属板测量的磁场瞬态的频率。因此，可以减少由检查线圈和校正线圈执行的测量之间的干扰。校正线圈与相应电容器的谐振频率可以高于来自金属板的测量瞬态中的最大频率。
优选地，包括校正线圈的谐振电路的谐振频率可以是响应于所施加的磁场从金属板测量的磁场瞬态的频率的至少两倍。
进一步地，包括校正线圈的谐振电路的谐振频率可以是响应于所施加的磁场从金属板测量的磁场瞬态的频率的至少三倍。
更进一步地，包括校正线圈的谐振电路的谐振频率可以是响应于所施加的磁场从金属板测量的磁场瞬态的频率的至少四倍。
更进一步地，包括校正线圈的谐振电路的谐振频率可以是响应于所施加的磁场从金属板测量的磁场瞬态的频率的至少五倍。
从金属板测量的磁场瞬态的频率取决于所施加的时变磁场的频率。因此，可以相对于所施加的时变磁场的频率来调节谐振电路，以确保包括校正线圈的谐振电路的谐振频率与磁场瞬态的频率之间的期望关系。
为了进一步减少耦合和串扰，在实施例中，校正线圈可以与发射器线圈和接收器线圈空间分离，并且被布置在发射器线圈和接收器线圈的绕组外部。换句话说，校正线圈被布置在由检查线圈的绕组包围的内部区域的外部。
校正线圈被放置在基本上不与由检查线圈生成和捕获的磁场相交的区域内，因此，检查线圈和校正线圈之间的相互作用被最小化。
在实施例中，校正线圈可以远小于发射器线圈和接收器线圈。因此，可以进一步减少校正线圈和检查线圈之间的耦合和串扰。此外，通过使用更小的校正线圈实现更局部的测量，可以提高空间偏差测量的分辨率。
此外，仅当发射器线圈处于向金属板施加磁场的激励相位时，校正线圈才谐振。这有利地避免了由检查线圈执行的测量与由校正线圈执行的测量之间的干扰。
在实施例中，可以通过将频率偏移彼此进行比较，检测金属板与参考平面的空间偏差。例如，通过比较两个或更多个校正线圈之间的相对移位，能够检测金属板的倾斜。通过分析三个或更多个谐振校正线圈的频率偏移，可以检测金属板的曲率。优选地，在相同的时刻获取频率偏移，以提供金属板的倾斜和/或曲率的瞬时图像。
在实施例中，发射器线圈和接收器线圈可以是平面线圈。平面检查线圈可以共享同一平面。
在实施例中，校正线圈可以是平面线圈。平面校正线圈可以共享同一平面。
平面校正线圈和平面检查线圈可以共享同一平面。
平面线圈提供了一种允许例如印刷电路板上的平面设计且成本有效的测量装置。
在实施例中，测量装置可以包括载体基板，用于支撑检查线圈和载体线圈。载体基板可以是印刷电路板。
在实施例中，测量装置可以连接至控制单元，控制单元被配置为：控制以谐振频率向校正线圈提供电信号，检测存在金属板的情况下谐振频率的偏移，并且基于检测到的偏移导出空间偏差。
根据本发明的第二方面，提供了一种轧机，包括至少两个工作辊以及根据本文所讨论实施例的测量装置，至少两个工作辊被配置为处理在其之间的金属板。
本发明第二方面的进一步效果和特征很大程度上类似于以上结合本发明第一方面描述的那些。
根据本发明的第三方面，提供了一种用于检测在轧机中处理的金属板与参考平面的空间偏差的方法，金属板经受发射器线圈和接收器线圈的测量，发射器线圈和接收器线圈被配置为执行磁场瞬态测量以确定金属板的至少一个特性，该方法包括：使与相应电容器连接的校正线圈组中的每个校正线圈以相应谐振频率谐振，在存在金属板的情况下，针对每个校正线圈检测谐振频率的偏移，由此能够从谐振频率的偏移导出空间偏差。
在实施例中，该方法可以包括仅当发射器线圈没有向金属板施加时变磁场以执行磁场瞬态测量时，使校正线圈谐振。换句话说，校正线圈仅在没有由发射器线圈施加的时变磁场的情况下谐振。因此，当发射器线圈不施加时变磁场并且接收器线圈不测量来自金属板的涡流响应时，校正线圈有利地谐振以在时间窗内执行其校正测量。例如，可以在触发由检查线圈执行的金属板检查测量之前，或者在消除改变的磁场之后，使校正线圈谐振。因此，可以减少或避免由发射器线圈和接收器线圈执行的测量与由校正线圈执行的空间偏差测量之间的干扰。
本发明第三方面的进一步效果和特征很大程度上类似于以上结合本发明第一方面和第二方面描述的那些。
还提供了一种控制单元，控制单元被配置为：以谐振频率控制提供到校正线圈的电信号，校正线圈被布置为用于检测金属板与参考平面的空间偏差，每个校正线圈能够连接至电容器以形成具有谐振频率的相应谐振电路，其中，校正线圈被配置为以相应谐振频率谐振，其中，在存在金属板的情况下能够检测到谐振频率的偏移，其中，空间偏差能够从谐振频率的偏移导出；检测存在金属板的情况下谐振频率的偏移；并且基于检测到的偏移导出空间偏差。
当研究所附权利要求书以及以下说明时，本发明的进一步的特征和优点将变得明显。本领域技术人员将认识到，在不脱离本发明范围的情况下，本发明的不同特征可以组合在一起以便产生不同于下文所说明那些实施例的实施例。
附图说明
现在将参考示出本发明示例实施例的附图更详细地描述本发明的这些及其它方面，其中：
图1概念性地示出根据本发明实施例的在轧机中处理的金属板；
图2概念性地示出根据本发明实施例的测量装置；
图3示意性地示出根据本发明实施例的谐振电路的等效电路；
图4A-4B分别概念性地示出相对于参考平面倾斜的金属板；
图4C-4D分别概念性地示出具有曲率的金属板；并且
图5是根据本发明实施例的方法步骤流程图。
具体实施方式
在本详细说明中，参考具体实施方式来描述本发明的各种实施例。在描述实施例时，为了清楚起见，采用了特定术语。然而，本发明并非旨在限于如此选择的特定术语。尽管讨论了具体的示例性实施例，但应当理解的是，这样做的目的仅仅是为了说明。相关领域的技术人员将认识到，在不脱离本发明范围的情况下，也可以使用其它部件和配置。
图1概念性地示出轧机100，包括适于加工金属板104的成组工作辊102a和102b。当金属板104被馈送至工作辊102a-120b之间时，工作辊102a-120b旋转。如本领域技术人员所理解的，工作辊102a-120b使工件的厚度减小。在图1中，示出金属板104的横截面。
当金属板104在轧机100中被处理时，期望精确地测量移动金属板104的特性。为此，提供了测量装置106。测量装置106包括检查线圈组，检查线圈组包括发射器线圈108和接收器线圈110。发射器线圈108被配置为向金属板104施加时变磁场。接收器线圈110被配置为检测由金属板104中的涡流产生的磁场瞬态，响应于所施加的磁场而产生涡流。金属板的特性能够从磁场瞬态中导出。这些特性可以是与传感器头112的距离、金属板104的电阻率以及金属板104的厚度t。
当金属板104移动时，即在图1中的生产线上从左向右滚动时，并不总是平行于传感器头112。金属板曲率和相对于传感器头的倾斜将影响读数，并导致距离、电阻率和厚度的错误估计。为了解决这一问题，在本示例实施例中，测量装置106包括具有校正线圈116和118的校正线圈组。校正线圈116和118被配置为用于检测金属板104与参考平面的空间偏差。每个校正线圈116、118能够连接至电容器以形成具有谐振频率的相应谐振电路。如参考随后的附图将变得明显的，测量装置106可以包括多于两个校正线圈，诸如三个或更多个校正线圈。图1中仅示出两个校正线圈116、118。
如将进一步讨论的，校正线圈116、118被配置为以相应谐振频率谐振，其中，在存在金属板104的情况下能够检测到谐振频率的偏移，其中，空间偏差能够从谐振频率的偏移导出。优选地，测量装置106包括至少三个校正线圈。
一般地，测量装置106适于通过涡流技术测量金属板的特性。因此，发射器线圈108从例如由控制单元120控制的电流或电压源接收电流，以在金属板104中生成并施加时变磁场，即脉冲磁场。接收器线圈110检测由金属板104中的涡流产生的所得磁场。控制单元120接收指示检测到的磁场的信号，控制单元120可从中导出金属板104的特性。
这里，测量装置106被布置在工作辊102a-120b的下游。然而，测量装置106当然也可以被布置在其它地方，诸如工作辊102a-120b的上游。
控制单元120与测量装置106无线地或硬连线地通信连接，使得控制单元120可以从测量装置106接收数据信号。在一些实施例中，控制单元120被配置为以谐振频率控制提供给校正线圈的电信号，检测存在金属板的情况下的谐振频率的偏移，并且基于检测到的偏移导出空间偏差。
图2概念性地示出根据示例实施例的测量装置106。测量装置106包括发射器线圈108和接收器线圈110，这里，发射器线圈108和接收器线圈110同心地布置在支撑线圈108、110的载体基板126上。此外，校正线圈组116、118、122、124也布置在基板126上。换句话说，在本实施例中，包含载体基板126以用于支撑检查线圈108、110和校正线圈116、118、122、124。此外，载体基板126可以支撑片上电容器(未示出)，该片上电容器与校正线圈116、118、122、124一起形成谐振电路。与校正线圈一起形成谐振电路的电容器可以包含在测量装置106中。
此外，在本实施例中，发射器线圈108和接收器线圈110是平面线圈。此外，校正线圈116、118、122、124是平面线圈。平面线圈一般具有平面内的绕组，从而提供高度为单个或仅几个线层的相对“平坦”的线圈。
优选地，校正线圈被布置为基本上与检查线圈解耦。在图2所示的实施例中，这通过将校正线圈116、118、122、124布置得尽可能远离检查线圈108和110实现。检查线圈108和110被布置在载体基板126的中心，并且校正线圈116、118、122、124被远离地布置到基板的侧面，即靠近基板126的拐角的位置。
此外，校正线圈116、118、122、124与发射器线圈108和接收器线圈110在空间上分离，并且被布置在发射器线圈和接收器线圈的绕组外部。换句话说，校正线圈116、118、122、124不是布置在由发射器线圈108和接收器线圈110的绕组包围的芯的内部。在一些可能的实施方式中，校正线圈116、118、122、124被布置在同一平面中，该平面可以平行于参考平面，或者可以用作参考平面。在该示例实施例中，校正线圈116、118、122、124、发射器线圈108和接收器线圈110被布置在同一平面中。该平面可以平行于从其检测金属板的空间偏差的参考平面。发射器线圈沿垂直于基板126的平面且垂直于参考平面的主轴产生其时变磁场。
应当理解的是，用于将校正线圈与检查线圈解耦的其它布置也是能够设想的。例如，校正线圈可以布置在单独的载体基板上，从而与布置在同一载体基板上相比，允许将校正线圈以更大的自由度布置为远离检查线圈。然而，使用如图2所示的单个载体基板提供了作为易于安装的单个元件提供的集成测量装置。
进一步参考图2，校正线圈116、118、122、124远小于发射器线圈108和接收器线圈110。这里，尺寸是指线圈的外径。
校正线圈的测量原理依赖于测量谐振频率的偏移。图3示意性地示出一个这种谐振电路300的等效电路。
电路300连接至电压/电流源302，用于以其谐振频率驱动电路300，并且电压传感器测量跨电路300上的电压V。源302可以是交流电源。电路300用具有与电感器Lc并联连接的电容C的电容器表示，电感器Lc是校正线圈附近不存在金属板的校正线圈的电感。在这种情况下，谐振频率与
成比例。因此，在操作期间，包括与电容C相连的校正线圈Lc的谐振电路300将以其谐振频率
被驱动。电容器可以以芯片电容器的形式设置在载体基板上，诸如NP0芯片电容器。
校正线圈和/或电容器被设计为使得谐振电路的谐振频率高于响应于所施加的由发送器线圈产生的磁场、从金属板测量的磁场瞬态的频率。谐振电路的谐振频率是响应于所施加的磁场从金属板测量的磁场瞬态的频率的至少两倍。
当校正线圈附近存在金属板时，附加电感Lm(未示出)对电路中的电感有贡献。这是金属板(例如图1所示的金属板104)的电感贡献。如果金属板是完全平面的，即没有曲率并且没有倾斜，则所有校正线圈的电感贡献Lm将是相同的，由此每个校正线圈的频率偏移也将基本上相同。然而，通常的情况是，金属板具有一定的曲率或倾斜，由此电感贡献Lm对于所有校正线圈来说将不相等。总电感的差异导致每个校正线圈的谐振频率的偏移，一般与
成比例，其中，Lc'是来自金属板Lm和校正线圈Lc的组合电感贡献。一般地，Lc'<Lc。
可以通过将谐振频率偏移彼此进行比较，检测金属板与参考平面的空间偏差，如将参考图4A-4D概念性地描述的。
图4A概念性地示出相对于参考平面400倾斜的金属板104的侧视图。这里，在图4A中，为了清楚起见，金属板104被示出为没有曲率。校正线圈116和118被示出为布置在参考平面400中，但也可以布置在其它位置。倾斜金属板104在端部104a处比在另一端部104b处更靠近参考平面400。如果将线圈118的谐振频率偏移与线圈116的谐振频率偏移进行比较，则两者之间的相对偏移(例如线圈116的偏移与线圈118的偏移之间的比率，或偏移之差)提供金属板104的倾斜指示。
图4A示出图2中的线圈116和118的侧视图。注意，如果考虑另一侧视图，例如如图4B所示的替代地呈现示出校正线圈118和124的侧视图，类似描述也是适用的。这里，倾斜金属板104在端部104c处比在另一端部104d处更靠近参考平面400。如果将线圈118的谐振频率偏移与线圈124的谐振频率偏移进行比较，则两者之间的相对偏移提供金属板104的倾斜指示。
图4C概念性地示出具有曲率的金属板104的横截面侧视图。在图4C中概念性地示出三个校正线圈116、118、122位于参考平面400中。为了确定金属板的曲率，确定三个线圈116、122和118中每个线圈的谐振偏移。可以根据这三个谐振偏移计算曲率。例如，每个谐振偏移指示校正线圈位置处的板材与参考平面400之间的相应空间偏差d1、d2、d3。三个空间偏差d1、d2、d3或指示空间偏差的谐振偏移可以用于确定金属板的局部曲率。这类似于确定路径的曲率，其中，需要知道路径的至少三个点以确定曲率。
图4D概念性地示出具有曲率的金属板104的另一横截面侧视图，这里考虑了四个概念性示出的校正线圈116、118、122、124。如上所述，金属板104的曲率可以从校正线圈116、118、122和118中每个线圈的谐振偏移确定。每个谐振偏移指示相应校正线圈位置处的金属板104与参考平面400之间的相应空间偏差d3、d4、d5和d6。四个空间偏差d3、d4、d5和d6或指示空间偏差的谐振偏移可以用于确定金属板的局部曲率。
如上所述，金属板的空间偏差是金属板的曲率和金属板104的倾斜中的至少一个。
可以将分别包括校正线圈的两个或更多个谐振电路之间的谐振频率的相对偏移与将曲率数据和倾斜数据与谐振频率偏移相关联的预存储数据进行比较。例如，查找表可以包括大量谐振频率偏移数据与曲率数据和倾斜数据的对比，使得控制单元可以基于测量的频率偏移，找到匹配的或至少几乎匹配的曲率数据和倾斜数据。
能够设想的获得曲率数据和倾斜数据的另一种方式是利用经验模型，其中，使用大量谐振频率偏移数据和对应的曲率数据和倾斜数据来构建模型。
能够设想的获得曲率数据和倾斜数据的另一种方式是利用机器学习模型，基于现有学习数据谐振频率偏移数据和对应的曲率数据和倾斜数据对该机器学习模型进行教导。
还能够设想利用理论模型获得曲率数据和倾斜数据。
还应当理解的是，曲率和倾斜可以通过上述两种或更多种方式的组合来确定，包括查找表、经验模型、理论模型和机器学习方法。
一旦确定了金属板的曲率和/或倾斜，就可以将其用于以本身已知的方式校正由检查线圈测量的金属板的特性。
图5是根据本发明实施例的方法步骤流程图。该方法用于检测在轧机中处理的金属板与参考平面的空间偏差。金属板经受发射器线圈和接收器线圈的测量，发射器线圈和接收器线圈被配置为执行磁场瞬态测量以确定金属板的至少一个特性。
该方法包括，在步骤S102中，使与相应电容器连接的校正线圈组中的每个校正线圈以相应谐振频率谐振。
该方法还包括步骤S104，在存在金属板的情况下检测每个校正线圈的谐振频率的偏移，由此能够在步骤S106中从谐振频率的偏移导出空间偏差。
优选地，仅当发射器线圈没有向金属板施加时变磁场以执行磁场瞬态测量时，执行使校正线圈谐振的步骤S102。因此，在磁场改变之前或之后，使校正线圈谐振。
控制单元可以包括微处理器、微控制器、可编程数字信号处理器或其它可编程器件。控制单元还可以或替代地包括专用集成电路、可编程门阵列或可编程阵列逻辑、可编程逻辑器件或数字信号处理器。在控制单元包括诸如上述微处理器、微控制器或可编程数字信号处理器的可编程器件的情况下，处理器还可以包括计算机可执行代码，用于控制可编程器件的操作。
本文描述的装置、控制单元或其它模块之间的通信可以是无线的或硬连线的，适合于并且实现特定情况下的适当协议。
虽然已经参照具体的示例性实施例对本发明进行了描述，但对于本领域技术人员来说，许多不同的变化、修改等都将是明显的。
另外，本领域技术人员在实践所要求保护的发明时，通过研究附图、本公开内容和所附权利要求，可以理解和实现所公开实施例的变型。在权利要求中，“包括”一词不排除其它元件或步骤，不定冠词“一”或“一个”不排除多个。某些措施被记载在相互不同的从属权利要求中的事实不指示这些措施的组合不能被用于获得优势。
Claims (15)
1.一种用于测量在轧机(100)中处理的金属板(104)的特性的测量装置(106)，所述测量装置包括：
检查线圈组，所述检查线圈组包括发射器线圈(108)和接收器线圈(110)，所述发射器线圈被配置为向所述金属板施加时变磁场，所述接收器线圈被配置为检测响应于所施加的所述时变磁场而从所述金属板产生的磁场瞬态，其中所述金属板的至少一个特性能够从所述磁场瞬态导出，以及
校正线圈组(116、118、122、124)，用于检测所述金属板与参考平面的空间偏差，每个校正线圈连接至电容器以形成具有谐振频率的相应谐振电路，
其中所述校正线圈被配置为以相应谐振频率谐振，其中在存在所述金属板的情况下能够检测到所述谐振频率的偏移，其中所述空间偏差能够从谐振频率的所述偏移导出。
2.根据权利要求1所述的测量装置，其中所述校正线圈被布置为实质上与所述检查线圈解耦。
3.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置，其中所述谐振电路的谐振频率高于响应于所施加的所述磁场而从所述金属板测量的所述磁场瞬态的频率。
4.根据权利要求3所述的测量装置，其中所述校正线圈的谐振频率是响应于所施加的所述磁场而从所述金属板测量的所述磁场瞬态的频率的至少两倍。
5.根据权利要求1和2中任一项所述的测量装置，其中所述校正线圈与所述发射器线圈和所述接收器线圈在空间上分离，并且所述校正线圈被布置在所述发射器线圈和所述接收器线圈的绕组外部。
6.根据权利要求1和2中任一项所述的测量装置，其中所述校正线圈基本小于所述发射器线圈和所述接收器线圈。
7.根据权利要求1和2中任一项所述的测量装置，其中所述金属板的空间偏差是所述金属板的曲率和所述金属板的倾斜中的至少一个。
8.根据权利要求1和2中任一项所述的测量装置，其中通过将谐振频率偏移彼此进行比较，检测所述金属板与所述参考平面的所述空间偏差。
9.根据权利要求1和2中任一项所述的测量装置，其中所述发射器线圈和所述接收器线圈是平面线圈。
10.根据权利要求1和2中任一项所述的测量装置，其中所述校正线圈是平面线圈。
11.根据权利要求1和2中任一项所述的测量装置，包括载体基板(126)，用于支撑所述检查线圈组以及所述校正线圈组。
12.根据权利要求1和2中任一项所述的测量装置，所述测量装置能够连接至控制单元(120)，所述控制单元被配置为：
以所述谐振频率控制提供到所述校正线圈的电信号，
检测存在所述金属板的情况下所述谐振频率的偏移，以及
基于检测到的所述偏移导出所述空间偏差。
13.一种轧机(100)，包括至少两个工作辊(102a、102b)以及根据权利要求1和2中任一项所述的测量装置，所述至少两个工作辊被配置为加工在其之间的金属板。
14.一种用于检测在轧机中处理的金属板与参考平面的空间偏差的方法，所述金属板经受发射器线圈和接收器线圈的测量，所述发射器线圈和所述接收器线圈被配置为执行磁场瞬态测量以用于确定所述金属板的至少一个特性，所述方法包括：
使与相应电容器连接的校正线圈组中的每个校正线圈以相应谐振频率谐振(S102)，
在存在所述金属板的情况下针对每个校正线圈检测(S104)所述谐振频率的偏移，由此能够从谐振频率的所述偏移导出(S106)所述空间偏差。
15.根据权利要求14所述的方法，包括：仅当所述发射器线圈没有向所述金属板施加时变磁场以用于执行所述磁场瞬态测量时，使所述校正线圈谐振。
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