CN114994431A - 一种上电时序的测试方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本公开提供了一种上电时序的测试方法、装置、电子设备及存储介质，包括获取示波器输出的的水平波形、两个测试点的测试波形以及差分波形；每个波形的起始点和长度相同；为每个波形构建包含子波形数量相等的子波形集合；子波形集合中的子波形按照由长到短的顺序进行编号，确定满足如下条件的测试点：按照子波形由长到短的顺序，将测试波形中与水平波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定第一编号；将该测试波形中与差分波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定第二编号；若第二编号小于第一编号，则确定该测试波形对应的测试点满足条件；确定满足条件的测试点先上电，另一个测试点后上电。

Description

一种上电时序的测试方法、装置、电子设备及存储介质

技术领域

本公开涉及计算机技术领域，尤其涉及一种上电时序的测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

电子信号的上电时序测试，通常为通过示波器的探棒对测试点进行点测，抓取波形数据，通过对两个测试点波形数据的比较获取两个测试点的信号上电顺序。

现有的示波器探棒点测通过人工实现，如使用两根单端探棒，分别对两个测试点进行点测，以获取两个测试点信号的上电顺序。若使用机械臂代替人工点测，则最少需要两根机械臂，若想把机械臂前端做到像人手一样360°无死角的点测，需要在机械臂的前端安装治具，治具上需要安装用来驱动的电机，定位的摄像头等设备，导致治具的体积很大，空间占用大，在测试点均配备一个机械臂和一根探棒，使用时容易发生相邻的两个机械臂相互干扰的情况。

发明内容

本公开提供一种上电时序测试方法、装置、电子设备及存储介质，以至少解决现有技术中存在的以上技术问题。

本公开一方面提供一种上电时序的测试方法，包括：

获取示波器输出的多个波形，包括：水平波形、两个测试点的测试波形以及所述两个测试点之间的差分波形；其中，每个波形的起始点相同，每个波形的长度相同；

为每个波形构建子波形集合，每个子波形集合包含的子波形数量相等；所述子波形集合中的多个子波形按照由长到短的顺序进行编号，每个子波形集合中编号相同的子波形的长度相同；

确定所述两个测试点中满足如下条件的测试点：按照子波形由长到短的顺序，依次将测试波形中与水平波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第一编号；并按照子波形由长到短的顺序，将该测试波形中与差分波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第二编号；若第二编号小于第一编号，则确定该测试波形对应的测试点满足条件；

确定满足条件的测试点先上电，另一个测试点后上电。

在一可实施方式中，所述获取示波器输出的多个波形，包括：

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接所述两个测试点中的第一测试点，负极连接地线，以使所述示波器采集第一测试点的测试波形；

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接地线，负极连接所述两个测试点中的第二测试点，以使所述示波器采集第二测试点的测试波形；

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正负极分别与所述第一测试点和所述第二测试点连接，以使所述示波器采集所述第一测试点与所述第二测试点之间的差分波形；

控制机械臂将探棒的正极和负极不与任何测试点和地线连接，以使所述示波器采集水平波形；

获取示波器输出的所述第一测试点的测试波形、所述第二测试迪安的测试波形、所述差分波形和所述水平波形。

在一可实施方式中，所述为每个波形构建子波形集合，包括：

将每个波形按照固定数值均分为多个特征点，从波形的终止点开始，从波形中依次去掉相应数量且连续的特征点后得到对应的子波形，后一次比前一次去掉的特征点的数量加1，第一次去掉的特征点的数量为0。

在一可实施方式中，该方法还包括：

确定不存在满足所述条件的测试点时，确定所述两个测试点同时上电。

在一可实施方式中，其特征在于，若未获取到所述两个测试点之间的差分波形，该方法还包括：

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接所述第二测试点，负极连接地线，以使所述示波器采集第二测试点的另一测试波形；

将第二测试点的另一测试波形与第一测试点的测试波形进行匹配，若匹配，则确定第一测试点和第二测试点同时上电；

若不匹配，则确定波形获取异常。

在一可实施方式中，所述波形触发方式包括上升沿触发和下降沿触发。

本公开另一方面提供一种上电时序的测试装置，包括：

获取模块，用于获取示波器输出的多个波形，包括：水平波形、两个测试点的测试波形以及所述两个测试点之间的差分波形；其中，每个波形的起始点相同，每个波形的长度相同；

处理模块，用于为每个波形构建子波形集合，每个子波形集合包含的子波形数量相等；所述子波形集合中的多个子波形按照由长到短的顺序进行编号，每个子波形集合中编号相同的子波形的长度相同；

匹配模块，用于确定所述两个测试点中满足如下条件的测试点：按照子波形由长到短的顺序，依次将测试波形中与水平波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第一编号；并按照子波形由长到短的顺序，将该测试波形中与差分波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第二编号；若第二编号小于第一编号，则确定该测试波形对应的测试点满足条件；

分析模块，用于确定满足条件的测试点先上电，另一个测试点后上电。

在一可实施方式中，所述获取模块，还用于响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接所述两个测试点中的第一测试点，负极连接地线，以使所述示波器采集第一测试点的测试波形；

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接地线，负极连接所述两个测试点中的第二测试点，以使所述示波器采集第二测试点的测试波形；

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正负极分别与所述第一测试点和所述第二测试点连接，以使所述示波器采集所述第一测试点与所述第二测试点之间的差分波形；

控制机械臂将探棒的正极和负极不与任何测试点和地线连接，以使所述示波器采集水平波形；

获取示波器输出的所述第一测试点的测试波形、所述第二测试点的测试波形、所述差分波形和所述水平波形。

本公开再一方面提供一种电子设备，包括：存储器和处理器，所述存储器存储由所述处理器可执行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述上电时序的测试方法。

本公开还一方面提供一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被读取并执行时，实现上述上电时序的测试方法。

基于上述方案，本公开提供一种上电时序的测试方法，通过一根探棒获取水平波形、两个测试点的波形以及两个测试点之间的差分波形，并对各波形进行解析，设定各波形的子波形集合，构建波形匹配的条件，通过假设任一测试点先上电，另一测试点后上电的方式，根据该条件进行子波形的匹配，若该测试点先上电，匹配的子波形为第一编号，则由于另一测试点预设为后上电，匹配的子波形对应的第二编号必然小于第一编号，由此可验证前述假设成立，因此确定该测试点满足先上电的条件，而另一测试点后上电，故通过该满足该条件，可确定两个测试点的上电时序，探棒获取波形时空间占用小，无空间干扰。

附图说明

图1所示为本公开一实施例提供的上电时序的测试方法的流程示意图；

图2所示为本公开另一实施例提供的上电时序的测试方法的框架图；

图3所示为本公开一实施例提供的第一测试点的测试波形示意图；

图4所示为本公开一实施例提供的水平波形示意图；

图5所示为本公开一实施例提供的第二测试点的测试波形示意图；

图6所示为本公开另一实施例提供的上升沿触发方式下的差分波形示意图；

图7所示为本公开另一实施例提供的第二测试点的另一测试波形示意图；

图8所示为本公开另一实施例提供的未获取到差分波形时的波形整合示意图；

图9所示为本公开另一实施例提供的第一测试点先上电的波形整合示意图；

图10所示为本公开另一实施例提供的第二测试点先上电的波形整合示意图；

图11所示为本公开一实施例提供的上电时序的测试的部分装置示意图。

具体实施方式

为使本公开的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本公开实施例中的附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本公开一部分实施例，而非全部实施例。基于本公开中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。

为了节约空间，使用一根机械臂控制探棒来获取相邻待测试点的上电时序。设置主控机构、机械臂和探棒，机械臂用于固定探棒，一根机械臂同时只能固定一根探棒，机械臂通过主控机构信号控制，执行如下的测试方法。

如图1所示，本公开一实施例提供了一种上电时序的测试方法，包括：

101，获取示波器输出的多个波形，包括：水平波形、两个测试点的测试波形以及所述两个测试点之间的差分波形；其中，每个波形的起始点相同，每个波形的长度相同。

在上电时序的测试中，通常使用示波器获取波形，令波形通过示波器屏幕显示。

在一示例中，获取两个测试点的测试波形包括，使用探棒先测试第一测试点，获取第一测试点通过示波器输出的测试波形，再使用该探棒测试第二测试点，获取第二测试点通过示波器输出的测试波形。

在一示例中，使用上述探棒一端连接第一测试点，另一端连接第二测试点以同时测试第一测试点和第二测试点，可得到第一测试点和第二测试点两个测试波形的差即差分波形，获取通过示波器输出的差分波形。获取水平波形、两个测试点的测试波形和差分波形不分先后顺序。

在一示例中，为了上述波形在示波器的屏幕上有更好的显示效果，将示波器屏幕设置合适的x轴(水平轴)刻度和y轴(竖直轴)刻度，以使波形无论是上行还是下行，都能在示波器的屏幕中完整的呈现，其中，令y轴上电压位于0mV的位置设置在示波器屏幕所能呈现的y轴的中间，使得波形上行时为正，波形下行时为负。

因此，示波器输出的波形触发方式包括上升沿触发和下降沿触发。上升沿触发包括将触发位置设置在接近于0的上行位置，以便于上行的波形尽快触发，下降沿触发包括将触发位置设置在接近于0的下行位置，以便于下行的波形尽快触发。

需要强调的是，每个波形的起始点相同，例如，以向主板供电为起始点，或者以向主板供电为基准，在特定时长的时延后为起始点，只要每个波形的起始点相同即可。打个比方，获取第一测试点的测试波形时，将探棒连接第一测试点，向主板供电时开始获取测试波形；获取第二测试点的测试波形时，将探棒连接第二测试点，也应在向主板供电时开始获取测试波形。再例如，获取第一测试点的测试波形时，将探棒连接第一测试点，向测主板供电，待n秒后开始获取试波形；获取第二测试点的测试波形时，将探棒连接第二测试点，向主板供电，待m秒后开始获取测试波形，则m和n数值理应相同。

在一示例中，获取示波器输出的多个波形，包括：

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接两个测试点中的第一测试点，负极连接地线，以使示波器采集第一测试点的测试波形；

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接地线，负极连接两个测试点中的第二测试点，以使示波器采集第二测试点的测试波形；

控制机械臂将探棒的正极和负极不与任何测试点和地线连接，以使所述示波器采集水平波形；其中水平波形的获取可以响应于示波器输出的波形触发方式，也可以不用响应，即可获取水平波形；

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正负极分别与第一测试点和所述第二测试点连接，以使示波器采第一测试点与所述第二测试点之间的差分波形；

应该理解的是，以上波形的获取，可由同一机械臂控制一根探棒进行，无需更换探棒。

若未获取到两个测试点之间的差分波形，存在两个测试点的测试波形同时上电或存在异常的可能，为了进一步验证，可再次获取第二测试点的测试波形，包括：响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接第二测试点，负极连接地线，以使示波器采集第二测试点的另一测试波形；

将第二测试点的另一测试波形与第一测试点的测试波形进行匹配，若匹配，则确定第一测试点和第二测试点同时上电；

若不匹配，则说明第一测试点既未同时上电，又没有差分波形，因此可确定波形获取异常，需要停止操作，重新检查和获取。

如此，可获取示波器输出的第一测试点的测试波形、所第二测试迪安的测试波形、差分波形和水平波形。探棒在第一测试点连接其正极，负极连地线，在第二测试点连接负极，正极连地线，再通过正极连接第一测试点同时负极连接第二测试点，能够获得第一测试点的测试波形和第二测试点的测试波形之间的、反应上电特征情况的特征曲线，即差分波形。

102，为每个波形构建子波形集合，每个子波形集合包含的子波形数量相等；所述子波形集合中的多个子波形按照由长到短的顺序进行编号，每个子波形集合中编号相同的子波形的长度相同。

在一示例中，为每个波形构建子波形集合，包括：将每个波形按照固定数值均分为多个特征点，从波形的终止点开始，从波形中依次去掉相应数量且连续的特征点后得到对应的子波形，后一次比前一次去掉的特征点的数量加1，第一次去掉的特征点的数量为0。

通过构建子波形集合，将波形按照固定数值均分，根据实际情况调整均分的数量，终止点开始依次构建对应的子波形，得到多个将波形特征分解更为详细的子波形，放大特征细节，且每个子波形具有唯一的编号，便于快速定位。

在一示例中，每个波形的起始点为从向主板供电开始，呈现在示波器屏幕上为从示波器的标签通道开始划分，即对应于完整的示波器屏幕所显示的波形可以划分为标签通道部分和波形部分，标签部分还可单独作为一个特征点，每个波形的特征点长度相同。

因此，在一示例中，波形部分按照固定数值均分为多个特征点，假设波形部分的特征点的数量为n，则按照子波形由长到短的顺序，编号为1的子波形的特征点有n个，编号为2的子波形的特征点有n-1个，…，编号为n的子波形的特征点有1个。

在一示例中，若在波形部分加上单独作为一个特征点的标签通道部分共同构建子波形集合，假设波形部分的特征点的数量为n，则按照子波形由长到短的顺序，编号为1的子波形的特征点有n+1个，编号为2的子波形的特征点有n个，…，编号为n的子波形的特征点有2个，标签通道部分不作为单独的子波形，子波形的数量仍然为n个。

103，确定所述两个测试点中满足如下条件的测试点：按照子波形由长到短的顺序，依次将测试波形中与水平波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第一编号；并按照子波形由长到短的顺序，将该测试波形中与差分波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第二编号；若第二编号小于第一编号，则确定该测试波形对应的测试点满足条件。

在一示例中，假设第一测试点先上电，可按照子波形由长到短的顺序，依次将第一测试点的测试波形与水平波形中编号相同的子波形进行匹配，直至得到匹配的两个子波形的第一编号为C；再将第一测试点的测试波形与差分波形中编号相同的子波形进行匹配，直至得到匹配的两个子波形的编号为F，若F小于C，则能够验证第二测试点的确后于第一测试点上电。

在一示例中，假设第二测试点先上电，按照子波形由长到短的顺序，依次将第二测试点的测试波形与水平波形中编号相同的子波形进行匹配，直至得到匹配的两个子波形的第一编号为D；再将第二测试点的测试波形与差分波形中编号相同的子波形进行匹配，直至得到匹配的两个子波形的编号为H，若H小于D，则能够验证第一测试点的确后于第二测试点上电。

104，确定满足条件的测试点先上电，另一个测试点后上电。

假设第一测试点先上电，根据步骤103验证F确实小于C，则第一测试点满足步骤103的条件，因此第一测试点先上电，第二测试点后上电；

假设第二测试点先上电，根据步骤103验证H确实小于D，则第二测试点满足步骤103的条件，因此第二测试点先上电，第一测试点后上电。

在一示例中，假设第一测试点先上电，根据步骤103验证F大于C，则第一测试点未先上电；再假设第二测试点先上电，根据步骤103验证H大于D，则第二测试点也未先上电；因此，若确定不存在满足条件的测试点时，可确定两个测试点同时上电。应该理解的是，假设第一测试点先上电还是假设第二测试点先上电，不分先后顺序。

在一示例中，若确定不存在满足条件的测试点时，按照子波形由长到短的顺序，依次将差分波形中与水平波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第三编号K。

在一示例中，还需确定第一测试点和第二测试点的上电节点，根据上电节点，将第一测试点的测试波形、第二测试点的测试波形以及水平波形进行图像整合。

因此，当第一测试点先上电，第二测试点后上电时，第一测试点的上电节点为其对应的第一编号C计算的位置，即编号第n-C+2的子波形对应于第一测试点的上电节点的波形，编号第n-F+2的子波形对应于第二测试点的上电节点的波形；

当第二测试点先上电，第一测试点后上电时，第二测试点的上电节点为其对应的第一编号D计算的位置，即编号第n-D+2的子波形对应于第二测试点的上电节点的波形，编号第n-H+2的子波形对应于第一测试点的上电节点的波形；

当第一测试点和第二测试点同时上电，编号第n-K+2的子波形对应于第一测试点和第二测试点同时上电节点的波形。

在一示例中，该方法还包括按照如下公式，计算第一测试点的测试波形与第二测试点的测试波形上电时序差：

T＝|I-J|*a*b/n

T为时序差，I为先上电的测试点对应的第一编号，J为先上电的测试点对应的第二编号，a为水平轴的刻度时间，b为示波器x轴的刻度数量，n为子波形的数量。

因此，若确定不存在满足上述步骤103所述条件的测试点时，说明两个测试点没有先后的上电顺序，同时经过步骤101中的判断，不存在波形获取异常，可确定两个测试点同时上电。

在一示例中，如图2所示，本公开还提供了一种用上述方法执行的具体实施例，包括：

如图3所示，响应于示波器输出的上升沿触发，控制机械臂将探棒的正极连接两个测试点中的第一测试点，负极连接地线，以使示波器采集第一测试点的测试波形；

如图4所示，控制机械臂将探棒的正极和负极不与任何测试点和地线连接，以使示波器采集水平波形；

如图5所示，响应于示波器输出的下降沿触发，控制机械臂将探棒的正极连接地线，负极连接两个测试点中的第二测试点，以使示波器采集第二测试点的测试波形；

如图6所示，响应于示波器输出的上升沿触发，控制机械臂将探棒的正负极分别与第一测试点和第二测试点连接，以使示波器采集所述第一测试点与第二测试点之间的差分波形；若未采集到差分波形，则响应于示波器输出的下降沿触发，以使示波器采集所述第一测试点与第二测试点之间的差分波形；

若仍未采集到差分波形，如图7所示，则响应于示波器输出的上升沿触发，控制机械臂将探棒的正极连接第二测试点，负极连接地线，以使示波器采集第二测试点的另一测试波形；

将第二测试点的另一测试波形与第一测试点的测试波形进行匹配，若匹配，则确定第一测试点和第二测试点同时上电，如图8所示，可将第一测试点的测试波形和第二测试点的另一测试波形与水平波形整合在同一示波器屏幕范围内显示。

若不匹配，则确定波形获取异常，需要停止操作，重新检查和获取。

为每个波形构建子波形集合，将每个波形均分为100等分，形成100个特征点，从波形的终止点开始，每次去掉1个特征点，第一次去掉的特征点的数量为0，最后一次去掉的特征点的数量为99，可得到100个子波形，再确定波形的标签通道部分作为一个独立的特征点，每个子波形集合包含的子波形数量仍然均为100，子波形按照由长到短的顺序进行编号，将标签通道部分加上100个特征点得到的子波形编号为1，将标签通道部分加上99个特征点得到的子波形编号为2，…，将标签通道部分加上1个特征点得到的子波形编号为100。

依次将第一测试点的测试波形中与水平波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第一编号C，第一测试点的上电节点为其对应的第一编号C计算的位置，即编号第100-C+2的子波形对应于第一测试点的上电节点的波形；并按照子波形由长到短的顺序，将第一测试点的测试波形中与差分波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第二编号F；其中，F小于C，第二测试点的上电节点对应于编号第100-F+2的子波形。此时，确定第一测试点先上电，第二测试点后上电，计算第一测试点的测试波形与第二测试点的测试波形上电时序差时：

T1＝|C-F|*a*b/100

T1为时序差，C为先上电的测试点对应的第一编号，F为先上电的测试点对应的第二编号，a为水平轴的刻度时间，b为示波器x轴的刻度数量，100为子波形的数量。

如图9所示，按照第一测试点的测试波形对应的上电节点、第二测试点的测试波形对应的上电节点以及差分波形，整合在同一示波器屏幕范围内显示。

若F等于C-1时，仍然未得到匹配的两个子波形，则第一测试点未比第二测试点先上电。

依次将第二测试点的测试波形中与水平波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第一编号D，第二测试点的上电节点为其对应的第一编号D计算的位置，即编号第100-D+2的子波形对应于第二测试点的上电节点的波形；并按照子波形由长到短的顺序，将第二测试点的测试波形中与差分波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第二编号H；其中，H小于D，第一测试点的上电节点对应于编号第100-H+2的子波形。此时，确定第二测试点先上电，第一测试点后上电，计算第二测试点的测试波形与第一测试点的测试波形上电时序差时：

T2＝|D-H|*a*b/100

T2为时序差，D为先上电的测试点对应的第一编号，H为先上电的测试点对应的第二编号，a为水平轴的刻度时间，b为示波器x轴的刻度数量，100为子波形的数量。

如图10所示，按照第二测试点的测试波形对应的上电节点、第一测试点的测试波形对应的上电节点以及差分波形，整合在同一示波器屏幕范围内显示。

若H等于D-1时，仍然未得到匹配的两个子波形，则第二测试点未比第一测试点先上电。因此，在第一测试点和第二测试点均不满足上述条件，即均未比对方先上电时，按照子波形由长到短的顺序，依次将差分波形中与水平波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第三编号K，确定第一测试点和第二测试点同时上电，编号第100-K+2的子波形对应于第一测试点和第二测试点的同时上电节点的波形。

本公开一实施例还提供了一种上电时序的测试系统，所述测试系统包括主控机构、机械臂和差分探棒，机械臂用于固定差分探棒，一根机械臂同时固定一根差分探棒，其中，机械臂通过主控机构信号控制。

本公开一实施例还提供了一种上电时序的测试装置，所述测试装置应用于主控机构，如图11所示，该装置包括：

获取模块10，用于获取示波器输出的多个波形，包括：水平波形、两个测试点的测试波形以及所述两个测试点之间的差分波形；其中，每个波形的起始点相同，每个波形的长度相同；

处理模块20，用于为每个波形构建子波形集合，每个子波形集合包含的子波形数量相等；所述子波形集合中的多个子波形按照由长到短的顺序进行编号，每个子波形集合中编号相同的子波形的长度相同；

匹配模块30，用于确定所述两个测试点中满足如下条件的测试点：按照子波形由长到短的顺序，依次将测试波形中与水平波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第一编号；并按照子波形由长到短的顺序，将该测试波形中与差分波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第二编号；若第二编号小于第一编号，则确定该测试波形对应的测试点满足条件；

分析模块40，用于确定满足条件的测试点先上电，另一个测试点后上电。

所述获取模块10，还用于响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接所述两个测试点中的第一测试点，负极连接地线，以使所述示波器采集第一测试点的测试波形；

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接地线，负极连接所述两个测试点中的第二测试点，以使所述示波器采集第二测试点的测试波形；

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正负极分别与所述第一测试点和所述第二测试点连接，以使所述示波器采集所述第一测试点与所述第二测试点之间的差分波形；

所述获取模块10，还用于控制机械臂将探棒的正极和负极不与任何测试点和地线连接，以使所述示波器采集水平波形；

获取示波器输出的所述第一测试点的测试波形、所述第二测试点的测试波形、所述差分波形和所述水平波形。

所述波形触发方式包括上升沿触发和下降沿触发。

所述处理模块20，还用于将每个波形按照固定数值均分为多个特征点，从波形的终止点开始，从波形中依次去掉相应数量且连续的特征点后得到对应的子波形，后一次比前一次去掉的特征点的数量加1，第一次去掉的特征点的数量为0。

所述分析模块40，还用于确定不存在满足所述条件的测试点时，确定所述两个测试点同时上电。

所述获取模块10，还用于响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接所述第二测试点，负极连接地线，以使所述示波器采集第二测试点的另一测试波形。

所述匹配模块30，还用于将第二测试点的另一测试波形与第一测试点的测试波形进行匹配，若匹配，则确定第一测试点和第二测试点同时上电；

若不匹配，则确定波形获取异常。

本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序用于执行本发明所述的上电时序的测试方法。

本发明还一方面提供一种电子设备，包括：

处理器；

用于存储所述处理器可执行指令的存储器；

所述处理器，用于从所述存储器中读取所述可执行指令，并执行所述指令以实现本发明所述的上电时序的测试方法。

除了上述方法和装置以外，本申请的实施例还可以是计算机程序产品，其包括计算机程序指令，所述计算机程序指令在被处理器运行时使得所述处理器执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本申请各种实施例的方法中的步骤。

所述计算机程序产品可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本申请实施例操作的程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言，诸如Java、C++等，还包括常规的过程式程序设计语言，诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。

此外，本申请的实施例还可以是计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令在被处理器运行时使得所述处理器执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本申请各种实施例的方法中的步骤。

所述计算机可读存储介质可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以包括但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。

以上结合具体实施例描述了本申请的基本原理，但是，需要指出的是，在本申请中提及的优点、优势、效果等仅是示例而非限制，不能认为这些优点、优势、效果等是本申请的各个实施例必须具备的。另外，上述公开的具体细节仅是为了示例的作用和便于理解的作用，而非限制，上述细节并不限制本申请为必须采用上述具体的细节来实现。

本申请中涉及的器件、装置、设备、系统的方框图仅作为例示性的例子并且不意图要求或暗示必须按照方框图示出的方式进行连接、布置、配置。如本领域技术人员将认识到的，可以按任意方式连接、布置、配置这些器件、装置、设备、系统。诸如“包括”、“包含”、“具有”等等的词语是开放性词汇，指“包括但不限于”，且可与其互换使用。这里所使用的词汇“或”和“和”指词汇“和/或”，且可与其互换使用，除非上下文明确指示不是如此。这里所使用的词汇“诸如”指词组“如但不限于”，且可与其互换使用。

还需要指出的是，在本申请的装置、设备和方法中，各部件或各步骤是可以分解和/或重新组合的。这些分解和/或重新组合应视为本申请的等效方案。

提供所公开的方面的以上描述以使本领域的任何技术人员能够做出或者使用本申请。对这些方面的各种修改对于本领域技术人员而言是非常显而易见的，并且在此定义的一般原理可以应用于其他方面而不脱离本申请的范围。因此，本申请不意图被限制到在此示出的方面，而是按照与在此公开的原理和新颖的特征一致的最宽范围。

为了例示和描述的目的已经给出了以上描述。此外，此描述不意图将本申请的实施例限制到在此公开的形式。尽管以上已经讨论了多个示例方面和实施例，但是本领域技术人员将认识到其某些变型、修改、改变、添加和子组合。

Claims (10)

1.一种上电时序的测试方法，其特征在于，包括：

获取示波器输出的多个波形，包括：水平波形、两个测试点的测试波形以及所述两个测试点之间的差分波形；其中，每个波形的起始点相同，每个波形的长度相同；

为每个波形构建子波形集合，每个子波形集合包含的子波形数量相等；所述子波形集合中的多个子波形按照由长到短的顺序进行编号，每个子波形集合中编号相同的子波形的长度相同；

确定所述两个测试点中满足如下条件的测试点：按照子波形由长到短的顺序，依次将测试波形中与水平波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第一编号；并按照子波形由长到短的顺序，将该测试波形中与差分波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第二编号；若第二编号小于第一编号，则确定该测试波形对应的测试点满足条件；

确定满足条件的测试点先上电，另一个测试点后上电。

2.根据权利要求1所述上电时序的测试方法，其特征在于，所述获取示波器输出的多个波形，包括：

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接所述两个测试点中的第一测试点，负极连接地线，以使所述示波器采集第一测试点的测试波形；

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接地线，负极连接所述两个测试点中的第二测试点，以使所述示波器采集第二测试点的测试波形；

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正负极分别与所述第一测试点和所述第二测试点连接，以使所述示波器采集所述第一测试点与所述第二测试点之间的差分波形；

控制机械臂将探棒的正极和负极不与任何测试点和地线连接，以使所述示波器采集水平波形；

获取示波器输出的所述第一测试点的测试波形、所述第二测试点的测试波形、所述差分波形和所述水平波形。

3.根据权利要求1所述的上电时序的测试方法，其特征在于，所述为每个波形构建子波形集合，包括：

将每个波形按照固定数值均分为多个特征点，从波形的终止点开始，从波形中依次去掉相应数量且连续的特征点后得到对应的子波形，后一次比前一次去掉的特征点的数量加1，第一次去掉的特征点的数量为0。

4.根据权利要求1所述的上电时序的测试方法，其特征在于，该方法还包括：

确定不存在满足所述条件的测试点时，确定所述两个测试点同时上电。

5.根据权利要求2至4任一项所述的上电时序的测试方法，其特征在于，若未获取到所述两个测试点之间的差分波形，该方法还包括：

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接所述第二测试点，负极连接地线，以使所述示波器采集第二测试点的另一测试波形；

将第二测试点的另一测试波形与第一测试点的测试波形进行匹配，若匹配，则确定第一测试点和第二测试点同时上电；

若不匹配，则确定波形获取异常。

6.根据权利要求5所述的上电时序的测试方法，其特征在于，所述波形触发方式包括上升沿触发和下降沿触发。

7.一种上电时序的测试装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取示波器输出的多个波形，包括：水平波形、两个测试点的测试波形以及所述两个测试点之间的差分波形；其中，每个波形的起始点相同，每个波形的长度相同；

处理模块，用于为每个波形构建子波形集合，每个子波形集合包含的子波形数量相等；所述子波形集合中的多个子波形按照由长到短的顺序进行编号，每个子波形集合中编号相同的子波形的长度相同；

匹配模块，用于确定所述两个测试点中满足如下条件的测试点：按照子波形由长到短的顺序，依次将测试波形中与水平波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第一编号；并按照子波形由长到短的顺序，将该测试波形中与差分波形中编号相同的子波形进行比较，直至得到匹配的两个子波形，确定对应的第二编号；若第二编号小于第一编号，则确定该测试波形对应的测试点满足条件；

分析模块，用于确定满足条件的测试点先上电，另一个测试点后上电。

8.根据权利要求7所述的上电时序的测试装置，其特征在于：所述获取模块，还用于响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接所述两个测试点中的第一测试点，负极连接地线，以使所述示波器采集第一测试点的测试波形；

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接地线，负极连接所述两个测试点中的第二测试点，以使所述示波器采集第二测试点的测试波形；

响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正负极分别与所述第一测试点和所述第二测试点连接，以使所述示波器采集所述第一测试点与所述第二测试点之间的差分波形；

控制机械臂将探棒的正极和负极不与任何测试点和地线连接，以使所述示波器采集水平波形；

获取示波器输出的所述第一测试点的测试波形、所述第二测试点的测试波形、所述差分波形和所述水平波形。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器和处理器，所述存储器存储由所述处理器可执行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述权利要求1-7任一项所述的上电时序的测试方法。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被读取并执行时，实现上述权利要求1-7任一项所述的上电时序的测试方法。

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