CN110609243B - 一种cpu电源效率的测试方法、系统及相关组件 - Google Patents

一种cpu电源效率的测试方法、系统及相关组件 Download PDF

Info

Publication number
CN110609243B
CN110609243B CN201910839085.5A CN201910839085A CN110609243B CN 110609243 B CN110609243 B CN 110609243B CN 201910839085 A CN201910839085 A CN 201910839085A CN 110609243 B CN110609243 B CN 110609243B
Authority
CN
China
Prior art keywords
load
program
pvccin
pull
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201910839085.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110609243A (zh
Inventor
齐雪宝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Guangdong Inspur Smart Computing Technology Co Ltd
Original Assignee
Guangdong Inspur Big Data Research Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Guangdong Inspur Big Data Research Co Ltd filed Critical Guangdong Inspur Big Data Research Co Ltd
Priority to CN201910839085.5A priority Critical patent/CN110609243B/zh
Publication of CN110609243A publication Critical patent/CN110609243A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110609243B publication Critical patent/CN110609243B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/40Testing power supplies
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2273Test methods

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

本申请公开了一种CPU电源效率的测试方法、系统、装置及可读存储介质,包括:将Vin测试点连接于主板的PVCCIN的输入电容处,将Vout测试点连接于PVCCIN的输出电感处,将精密电阻的拉载线焊接到PVCCIN的输入电感处;按照测试报告设置DC_Load.py程序中的拉载电流值;运行DC_Load.py程序以进行电流拉载,并进行数据采集。由于本申请中Vin测试点位于PVCCIN的输入电容处,Vout测试点位于PVCCIN的输出电感处,因此能够更为准确地测出输入电压Vin和输出电压Vout,解决了现有技术中的误差,同时又使用了DC_Load.py程序进行自动拉载,保证了测试速度。

Description

一种CPU电源效率的测试方法、系统及相关组件
技术领域
本发明涉及服务器硬件测试领域,特别涉及一种CPU电源效率的测试方法、系统及相关组件。
背景技术
在服务器主板电源测试时,需要对电源进行效率测试,尤其是对CPU的PVCCIN电源进行要求严格的测试。目前针对CPU的PVCCIN电源的效率测试,有两种方法:
一是在purley平台上,常规使用GEN4_VR_test_tool手动操作拉载,输入端串联入精密电阻,数据采集仪或万用表采集输入电压Vin、输入电流Iin、输出电压Vout。这种方法为手动拉载,每次采集间隔通常在10s以上,操作耗时。
二是在whitley平台上,通过Intel官方提供的GEN5_VR_test_tool、GEN2_Efficiency_pod、DC_LOAD.PY程序进行测试:
GEN2_Efficiency_pod串联进入电源输入端,用于检测输入电压Vin和输入电流Iin,将该信息发送给GEN5_VR_test_tool,GEN5_VR_test_tool用于对电源输出端进行拉载与测量,拉载电流之Iout,输出电流值Vout。DC_LOAD.PY程序控制GEN5_VR_test_tool自动操作拉载,并输出测试数据,解决了上一方法中操作测试耗时的问题。
但第二种方法中GEN2_Efficiency_pod用线缆焊接的方式串入主板电路,对输入电压的检测在线缆的GEN2_Efficiency_pod侧,造成测量的Vin偏高;而Vout的测量点在GEN5_VR_test_tool的测试插针上,造成了测量的Vout偏低。
因此,如何提供一种解决上述技术问题的方案是目前本领域技术人员需要解决的问题。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提供一种CPU电源效率的测试方法、系统及相关组件,以便快速准确地进行测试。其具体方案如下:
一种CPU电源效率的测试方法,包括:
将Vin测试点连接于主板的PVCCIN的输入电容处,将Vout测试点连接于所述PVCCIN的输出电感处,将精密电阻的拉载线焊接到所述PVCCIN的输入电感处;
按照测试报告设置DC_Load.py程序中的拉载电流值;
运行所述DC_Load.py程序以进行电流拉载,并进行数据采集。
优选的,所述按照测试报告设置DC_Load.py程序中的拉载电流值的过程,还包括:
设置所述DC_Load.py程序中所述拉载电流值的保持时间和停歇时间。
优选的,所述设置所述DC_Load.py程序中所述拉载电流值的保持时间和停歇时间的过程,具体包括:
设置所述DC_Load.py程序中每个所述拉载电流值的保持时间和停歇时间。
优选的,所述进行数据采集的过程,具体包括:
按照采集频率进行数据采集;
所述采集频率是根据所述保持时间和停歇时间确定的频率。
优选的,每个所述拉载电流值的保持时间和停歇时间分别为2.25s和0.5s。
优选的,所述按照测试报告设置DC_Load.py程序中的拉载电流值的过程,具体包括:
按照测试报告,以数组方式设置DC_Load.py程序中的拉载电流值。
相应的,本发明还公开了一种CPU电源效率的测试系统,包括:
接线模块,用于将Vin测试点连接于主板的PVCCIN的输入电容处,将Vout测试点连接于所述PVCCIN的输出电感处,将精密电阻的拉载线焊接到所述PVCCIN的输入电感处;
设置模块,用于按照测试报告设置DC_Load.py程序中的拉载电流值;
动作模块,用于运行所述DC_Load.py程序以进行电流拉载,并进行数据采集。
优选的,所述设置模块还用于:
设置所述DC_Load.py程序中所述拉载电流值的保持时间和停歇时间。
相应的,本发明还公开了一种CPU电源效率的测试装置,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如上文任一项所述CPU电源效率的测试方法的步骤。
相应的,本发明还公开了一种可读存储介质,所述可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上文任一项所述CPU电源效率的测试方法的步骤。
本发明公开了一种CPU电源效率的测试方法,包括:将Vin测试点连接于主板的PVCCIN的输入电容处,将Vout测试点连接于所述PVCCIN的输出电感处,将精密电阻的拉载线焊接到所述PVCCIN的输入电感处;按照测试报告设置DC_Load.py程序中的拉载电流值;运行所述DC_Load.py程序以进行电流拉载,并进行数据采集。由于本发明中Vin测试点位于PVCCIN的输入电容处,Vout测试点位于PVCCIN的输出电感处,因此能够更为准确地测出输入电压Vin和输出电压Vout,解决了现有技术中的误差,同时又使用了DC_Load.py程序进行自动拉载,保证了测试速度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例中一种CPU电源效率的测试方法的步骤流程图;
图2为本发明实施例中测试平台的结构连线框图;
图3为本发明实施例中DC_Load.py程序的具体流程图;
图4为本发明实施例中一种CPU电源效率的测试系统的结构分布图;
图5为本发明实施例中一种CPU电源效率的测试装置的结构分布图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
现有技术中,基于Purley平台的电源测试方法需要手动拉载,操作十分耗时;基于whitley平台的电源测试方法由于测试点的接线位置较远,导致测试结果不够准确。而本发明中Vin测试点位于PVCCIN的输入电容处,Vout测试点位于PVCCIN的输出电感处,因此能够更为准确地测出输入电压Vin和输出电压Vout,解决了现有技术中的误差,同时又使用了DC_Load.py程序进行自动拉载,保证了测试速度。
本发明实施例公开了一种CPU电源效率的测试方法,参见图1所示,包括:
S1:将Vin测试点连接于主板的PVCCIN的输入电容处,将Vout测试点连接于所述PVCCIN的输出电感处,将精密电阻的拉载线焊接到所述PVCCIN的输入电感处;
参见图2所示的测试平台框图,其中具体展示了相关的电路接线,除了上述接线外,GEN5_VR_test_tool需安装在CPU连接器位置,电脑端通过数据线与数据采集仪、GEN5_VR_test_tool连接,电脑端需要打开GEN5_VR_test_tool的操作软件PDX和数据采集仪的操作软件benchlink data logger。
图2中精密电阻的阻值选择为1mΩ,所示V1为精密电阻的两个测试点之间的压差,计算可得到Iin=V1/1mΩ;图中所示V2为输入电容两端的电压,也即输入电压Vin,图中所述V3为输出电感对GND的电压,也即输出电压Vout。
S2:按照测试报告设置DC_Load.py程序中的拉载电流值;
可以理解的是,这里在设置拉载电流值时,优先以数组方式,具体为一维数组方式设置DC_Load.py程序中的拉载电流值,当然也可以使用现有技术常用的等步长递增,但是数组方式比等步长递增方式更为灵活,能够更好地完成测试报告的要求。
进一步的,步骤S2还包括:
设置所述DC_Load.py程序中所述拉载电流值的保持时间和停歇时间。
可以理解的是,之所以要增加停歇时间,是因为如果PVCCIN的电源电路与GEN5_VR_test_tool在测试过程中始终处在拉载状态,容易导致电路过热。而在测试过程中设置恰当的停歇时间,留出了为电路散热的时间,避免电路在测试过程中发生过热及其他故障。
具体的,每个拉载电流值对应一个保持时间,而停歇时间可以是一个拉载电流值在保持时间后设置的,也可以是多个拉载电流值后设置的量;
方便起见,可以设置所述DC_Load.py程序中每个所述拉载电流值的保持时间和停歇时间。
具体的,本实施例中可以设定每个所述拉载电流值的保持时间和停歇时间分别为2.25s和0.5s,需要了解的是,通常保持时间和停歇时间没有严格的数值要求和选择,根据实际情况和电路参数确定即可,此处仅为举例,停歇时间和保持时间还可以为其他数值。
具体的,在DC_Load.py程序中,按照测试报告上的数值设置拉载电流;在for循环内部,两次拉载之间增加一段空载停歇;for循环结束后,增加关闭拉载的代码。参见图3所示,图3为本实施例中DC_Load.py程序的具体流程图。
S3:运行所述DC_Load.py程序以进行电流拉载,并进行数据采集。
进一步的,所述进行数据采集的过程,具体包括:
按照采集频率进行数据采集;
所述采集频率是根据所述保持时间和停歇时间确定的频率。
可以理解的是,采集频率对应的周期一定小于一次拉载周期,例如上文中所述每个拉载电流值的保持时间和停歇时间分别为2.25s和0.5s,这里一次拉载周期约为2.75s,此时的采集频率可确定为2s左右,保证每次拉载的状态都可以被采集到。
按照本实施例中的方法,运行DC_Load.py程序,并启动数据采集仪开始自动采集数据,通常21组拉载电流值,用时不到2分钟即可完成一次数据测量。
本发明实施例公开了一种CPU电源效率的测试方法,包括:将Vin测试点连接于主板的PVCCIN的输入电容处,将Vout测试点连接于所述PVCCIN的输出电感处,将精密电阻的拉载线焊接到所述PVCCIN的输入电感处;按照测试报告设置DC_Load.py程序中的拉载电流值;运行所述DC_Load.py程序以进行电流拉载,并进行数据采集。由于本发明实施例中Vin测试点位于PVCCIN的输入电容处,Vout测试点位于PVCCIN的输出电感处,因此能够更为准确地测出输入电压Vin和输出电压Vout,解决了现有技术中的误差,同时又使用了DC_Load.py程序进行自动拉载,保证了测试速度。
相应的,本发明实施例还公开了一种CPU电源效率的测试系统,参见图4所示,包括:
接线模块01,用于将Vin测试点连接于主板的PVCCIN的输入电容处,将Vout测试点连接于所述PVCCIN的输出电感处,将精密电阻的拉载线焊接到所述PVCCIN的输入电感处;
设置模块02,用于按照测试报告设置DC_Load.py程序中的拉载电流值;
动作模块03,用于运行所述DC_Load.py程序以进行电流拉载,并进行数据采集。
由于本发明实施例中Vin测试点位于PVCCIN的输入电容处,Vout测试点位于PVCCIN的输出电感处,因此能够更为准确地测出输入电压Vin和输出电压Vout,解决了现有技术中的误差,同时又使用了DC_Load.py程序进行自动拉载,保证了测试速度。
在一些具体的实施例中,所述设置模块02还用于:
设置所述DC_Load.py程序中所述拉载电流值的保持时间和停歇时间。
在一些具体的实施例中,所述设置模块02具体用于:
设置所述DC_Load.py程序中每个所述拉载电流值的保持时间和停歇时间。
在一些具体的实施例中,所述动作模块03具体用于:
按照采集频率进行数据采集;
所述采集频率是根据所述保持时间和停歇时间确定的频率。
在一些具体的实施例中,每个所述拉载电流值的保持时间和停歇时间分别为2.25s和0.5s。
在一些具体的实施例中,所述设置模块02具体用于:
按照测试报告,以数组方式设置DC_Load.py程序中的拉载电流值。
相应的,本发明还公开了一种CPU电源效率的测试装置,参见图5所示,包括处理器11和存储器12;其中,所述处理11执行所述存储器12中保存的计算机程序时实现以下步骤:
将Vin测试点连接于主板的PVCCIN的输入电容处,将Vout测试点连接于所述PVCCIN的输出电感处,将精密电阻的拉载线焊接到所述PVCCIN的输入电感处;
按照测试报告设置DC_Load.py程序中的拉载电流值;
运行所述DC_Load.py程序以进行电流拉载,并进行数据采集。
由于本发明实施例中Vin测试点位于PVCCIN的输入电容处,Vout测试点位于PVCCIN的输出电感处,因此能够更为准确地测出输入电压Vin和输出电压Vout,解决了现有技术中的误差,同时又使用了DC_Load.py程序进行自动拉载,保证了测试速度。
在一些具体的实施例中,所述处理器11执行所述存储器12中保存的计算机子程序时,具体还可以实现以下步骤:
设置所述DC_Load.py程序中所述拉载电流值的保持时间和停歇时间。
在一些具体的实施例中,所述处理器11执行所述存储器12中保存的计算机子程序时,具体可以实现以下步骤:
设置所述DC_Load.py程序中每个所述拉载电流值的保持时间和停歇时间。
在一些具体的实施例中,所述处理器11执行所述存储器12中保存的计算机子程序时,具体可以实现以下步骤:
按照采集频率进行数据采集;
所述采集频率是根据所述保持时间和停歇时间确定的频率。
在一些具体的实施例中,每个所述拉载电流值的保持时间和停歇时间分别为2.25s和0.5s。
在一些具体的实施例中,所述处理器11执行所述存储器12中保存的计算机子程序时,具体可以实现以下步骤:
按照测试报告,以数组方式设置DC_Load.py程序中的拉载电流值。
进一步的,本实施例中的CPU电源效率的测试装置,还可以包括:
输入接口13,用于获取外界导入的计算机程序,并将获取到的计算机程序保存至所述存储器12中,还可以用于获取外界终端设备传输的各种指令和参数,并传输至处理器11中,以便处理器11利用上述各种指令和参数展开相应的处理。本实施例中,所述输入接口13具体可以包括但不限于USB接口、串行接口、语音输入接口、指纹输入接口、硬盘读取接口等。
输出接口14,用于将处理器11产生的各种数据输出至与其相连的终端设备,以便于与输出接口14相连的其他终端设备能够获取到处理器11产生的各种数据。本实施例中,所述输出接口14具体可以包括但不限于USB接口、串行接口等。
通讯单元15,用于在CPU电源效率的测试装置和外部服务器之间建立远程通讯连接,以便于CPU电源效率的测试装置能够将镜像文件挂载到外部服务器中。本实施例中,通讯单元15具体可以包括但不限于基于无线通讯技术或有线通讯技术的远程通讯单元。
键盘16,用于获取用户通过实时敲击键帽而输入的各种参数数据或指令。
显示器17,用于CPU电源效率的测试过程的相关信息进行实时显示,以便于用户及时地了解当前CPU电源效率的测试情况。
鼠标18,可以用于协助用户输入数据并简化用户的操作。
进一步的,本申请实施例还公开了一种计算机可读存储介质,这里所说的计算机可读存储介质包括随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动硬盘、CD-ROM或技术领域内所公知的任意其他形式的存储介质。计算机可读存储介质中存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:
将Vin测试点连接于主板的PVCCIN的输入电容处,将Vout测试点连接于所述PVCCIN的输出电感处,将精密电阻的拉载线焊接到所述PVCCIN的输入电感处;
按照测试报告设置DC_Load.py程序中的拉载电流值;
运行所述DC_Load.py程序以进行电流拉载,并进行数据采集。
由于本发明实施例中Vin测试点位于PVCCIN的输入电容处,Vout测试点位于PVCCIN的输出电感处,因此能够更为准确地测出输入电压Vin和输出电压Vout,解决了现有技术中的误差,同时又使用了DC_Load.py程序进行自动拉载,保证了测试速度。
在一些具体的实施例中,所述计算机可读存储介质中存储的计算机子程序被处理器执行时,具体还可以实现以下步骤:
设置所述DC_Load.py程序中所述拉载电流值的保持时间和停歇时间。
在一些具体的实施例中,所述计算机可读存储介质中存储的计算机子程序被处理器执行时,具体可以实现以下步骤:设置所述DC_Load.py程序中每个所述拉载电流值的保持时间和停歇时间。
在一些具体的实施例中,所述计算机可读存储介质中存储的计算机子程序被处理器执行时,具体可以实现以下步骤:
按照采集频率进行数据采集;
所述采集频率是根据所述保持时间和停歇时间确定的频率。
在一些具体的实施例中,每个所述拉载电流值的保持时间和停歇时间分别为2.25s和0.5s。
在一些具体的实施例中,所述计算机可读存储介质中存储的计算机子程序被处理器执行时,具体可以实现以下步骤:
按照测试报告,以数组方式设置DC_Load.py程序中的拉载电流值。
最后,还需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上对本发明所提供的一种CPU电源效率的测试方法、系统及相关组件进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种CPU电源效率的测试方法,其特征在于,包括:
将Vin测试点连接于主板的PVCCIN的输入电容处,将Vout测试点连接于所述PVCCIN的输出电感处,将精密电阻的拉载线焊接到所述PVCCIN的输入电感处;
按照测试报告设置DC_Load.py程序中的拉载电流值;
运行所述DC_Load.py程序以进行电流拉载,并进行数据采集。
2.根据权利要求1所述测试方法,其特征在于,所述按照测试报告设置DC_Load.py程序中的拉载电流值的过程,还包括:
设置所述DC_Load.py程序中所述拉载电流值的保持时间和停歇时间。
3.根据权利要求2所述测试方法,其特征在于,所述设置所述DC_Load.py程序中所述拉载电流值的保持时间和停歇时间的过程,具体包括:
设置所述DC_Load.py程序中每个所述拉载电流值的保持时间和停歇时间。
4.根据权利要求2所述测试方法,其特征在于,所述进行数据采集的过程,具体包括:
按照采集频率进行数据采集;
所述采集频率是根据所述保持时间和停歇时间确定的频率。
5.根据权利要求4所述测试方法,其特征在于,每个所述拉载电流值的保持时间和停歇时间分别为2.25s和0.5s。
6.根据权利要求1至5任一项所述测试方法,其特征在于,所述按照测试报告设置DC_Load.py程序中的拉载电流值的过程,具体包括:
按照测试报告,以数组方式设置DC_Load.py程序中的拉载电流值。
7.一种CPU电源效率的测试系统,其特征在于,包括:
接线模块,用于将Vin测试点连接于主板的PVCCIN的输入电容处,将Vout测试点连接于所述PVCCIN的输出电感处,将精密电阻的拉载线焊接到所述PVCCIN的输入电感处;
设置模块,用于按照测试报告设置DC_Load.py程序中的拉载电流值;
动作模块,用于运行所述DC_Load.py程序以进行电流拉载,并进行数据采集。
8.根据权利要求7所述测试系统,其特征在于,所述设置模块还用于:
设置所述DC_Load.py程序中所述拉载电流值的保持时间和停歇时间。
9.一种CPU电源效率的测试装置,其特征在于,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任一项所述CPU电源效率的测试方法的步骤。
10.一种可读存储介质,其特征在于,所述可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述CPU电源效率的测试方法的步骤。
CN201910839085.5A 2019-09-05 2019-09-05 一种cpu电源效率的测试方法、系统及相关组件 Active CN110609243B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910839085.5A CN110609243B (zh) 2019-09-05 2019-09-05 一种cpu电源效率的测试方法、系统及相关组件

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910839085.5A CN110609243B (zh) 2019-09-05 2019-09-05 一种cpu电源效率的测试方法、系统及相关组件

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110609243A CN110609243A (zh) 2019-12-24
CN110609243B true CN110609243B (zh) 2021-11-19

Family

ID=68892444

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910839085.5A Active CN110609243B (zh) 2019-09-05 2019-09-05 一种cpu电源效率的测试方法、系统及相关组件

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110609243B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111983499B (zh) * 2020-08-09 2022-07-15 苏州浪潮智能科技有限公司 开关电源的测试方法和系统

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE202012103506U1 (de) * 2012-09-14 2012-10-12 Zippy Technology Corp. Modul zum Ermitteln des Betriebszustands eines Netzteils
CN202522687U (zh) * 2012-03-22 2012-11-07 广州三晶电气有限公司 一种变频器电源板的检测装置
CN103376421A (zh) * 2012-04-13 2013-10-30 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 电源效率测量装置
CN104931828A (zh) * 2015-06-15 2015-09-23 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种cpu rv转换效率的测试系统及方法
CN105204999A (zh) * 2015-10-08 2015-12-30 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种实现CPU VR Static LL测试自动化测试的方法
CN105451922A (zh) * 2013-10-21 2016-03-30 松下知识产权经营株式会社 电源控制装置
CN106353696A (zh) * 2016-11-02 2017-01-25 郑州云海信息技术有限公司 一种开关电源效率测试系统和方法
CN107505581A (zh) * 2017-09-22 2017-12-22 江苏兆能电子有限公司 一种开关电源效率自动测试系统
CN107782982A (zh) * 2017-09-30 2018-03-09 郑州云海信息技术有限公司 一种自动测试多相电流均衡的方法及系统
CN108414916A (zh) * 2018-01-31 2018-08-17 南京航空航天大学 一种Buck变换器多元件健康监测方法及系统

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101833028B (zh) * 2010-05-11 2012-08-01 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种便于测量电源输出电压的装置
WO2012059983A1 (ja) * 2010-11-02 2012-05-10 三菱電機株式会社 電源装置およびプログラマブルコントローラ
CN105824385B (zh) * 2015-01-04 2020-02-21 台达电子工业股份有限公司 测试方法及系统
CN105242219B (zh) * 2015-09-24 2018-07-06 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种自动量测直流电压转换效率的方法
CN105676148A (zh) * 2016-04-25 2016-06-15 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种提高开关电源自动化测试效率的装置和编程方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN202522687U (zh) * 2012-03-22 2012-11-07 广州三晶电气有限公司 一种变频器电源板的检测装置
CN103376421A (zh) * 2012-04-13 2013-10-30 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 电源效率测量装置
DE202012103506U1 (de) * 2012-09-14 2012-10-12 Zippy Technology Corp. Modul zum Ermitteln des Betriebszustands eines Netzteils
CN105451922A (zh) * 2013-10-21 2016-03-30 松下知识产权经营株式会社 电源控制装置
CN104931828A (zh) * 2015-06-15 2015-09-23 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种cpu rv转换效率的测试系统及方法
CN105204999A (zh) * 2015-10-08 2015-12-30 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种实现CPU VR Static LL测试自动化测试的方法
CN106353696A (zh) * 2016-11-02 2017-01-25 郑州云海信息技术有限公司 一种开关电源效率测试系统和方法
CN107505581A (zh) * 2017-09-22 2017-12-22 江苏兆能电子有限公司 一种开关电源效率自动测试系统
CN107782982A (zh) * 2017-09-30 2018-03-09 郑州云海信息技术有限公司 一种自动测试多相电流均衡的方法及系统
CN108414916A (zh) * 2018-01-31 2018-08-17 南京航空航天大学 一种Buck变换器多元件健康监测方法及系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN110609243A (zh) 2019-12-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102749604B (zh) 测试设备自动校准仪、校准系统及校准方法
CN103698686B (zh) 一种信号测试方法及设备
WO2016074429A1 (zh) 测试方法、控制器及测试系统
CN112964952B (zh) 一种服务器测试系统
CN111856243B (zh) 一种自动化电流测量精度测试系统及方法
CN202794491U (zh) 测试设备自动校准仪及校准系统
CN111880076B (zh) 一种信号测试点检测方法、系统及相关组件
CN112526319B (zh) 芯片测试方法、装置、处理器芯片及服务器
TW201043980A (en) System and method for testing a printed circuit board
CN110609243B (zh) 一种cpu电源效率的测试方法、系统及相关组件
CN114124694A (zh) 物联网设备的配置方法、配置装置、电子设备及介质
CN102486493A (zh) 电子设备能耗检测系统
CN109324282A (zh) 一种用于pcba板的频谱测试方法及测试系统
CN114442591B (zh) I/o卡件通道精度的测试方法、系统及介质
CN115825797A (zh) 一种供电性能测试方法及相关组件
CN113704099A (zh) 一种用于航天器电源系统评测的测试脚本生成方法及设备
CN110967615B (zh) 电路板故障诊断装置及诊断方法
CN111351994B (zh) 针对无线充电装置实现自动测试的系统及相应的方法
CN109061434B (zh) 板级电路退化测试方法
CN114019267B (zh) 一种过流保护测试方法、装置、设备及可读存储介质
CN113741672B (zh) 一种主板电源漏电检测方法、系统及相关组件
CN114333975B (zh) 一种自动测试方法、装置、系统及电子设备
CN114442019A (zh) 一种测试工具的测试校正方法、装置及电子设备
CN220252133U (zh) 集成化测试装置
CN117169688A (zh) 板级芯片的测试方法和装置、存储介质及电子装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant