CN114942536A - 液晶显示组件及电子设备 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种液晶显示组件及电子设备。液晶显示组件包括：液晶面板，具有位于第一区域的第一侦测点位，及位于第二区域的第二侦测点位；电阻检测单元，用于检测第一侦测点位的电阻值以得到第一电阻，还用于检测第二侦测点的电阻值以得到第二电阻，并计算差值以得到电阻差值；及色温补偿单元，电连接电阻检测单元，用于接收电阻差值，并根据电阻差值判断第一区域中对应第一侦测点位的区域是否发生mura，并在对应第一侦测点位的区域发生mura时根据电阻差值进行色温补偿。本申请提供了一种液晶显示组件，能够通过对液晶面板的第一侦测点位进行电阻检测判断mura的产生，以及通过色温补偿减弱甚至消除mura，以提高液晶面板的质量。

Description

液晶显示组件及电子设备

技术领域

本申请涉及显示设备技术领域，具体涉及一种液晶显示组件及电子设备。

背景技术

液晶面板容易因为在生产量产时的工艺波动，如阵列膜厚，RGB膜厚，PI膜厚及柱状隔垫物（PS）高度等因素，而产生重力mura，从而使得液晶面板质量不良。

发明内容

第一方面，本申请实施方式提供了一种液晶显示组件，包括液晶面板，所述液晶面板具有第一区域及第二区域，所述第一区域位于所述液晶面板的顶部或底部中的至少一者，所述第二区域相较于所述第一区域邻近所述液晶面板的中心，所述液晶面板具有位于所述第一区域的第一侦测点位，以及位于所述第二区域的第二侦测点位，所述液晶显示组件还包括：

电阻检测单元，所述电阻检测单元用于检测所述第一侦测点位的电阻值以得到第一电阻，所述电阻检测单元还用于检测所述第二侦测点的电阻值以得到第二电阻，并计算所述第二电阻与所述第一电阻的差值，以得到电阻差值；

以及色温补偿单元，所述色温补偿单元电连接所述电阻检测单元，用于接收所述电阻差值，并根据所述电阻差值判断所述第一区域中对应所述第一侦测点位的区域是否发生mura，并在对应所述第一侦测点位的区域发生mura时根据所述电阻差值对所述第一侦测点位对应的区域中的像素进行色温补偿。

其中，所述液晶面板具有位于所述第一区域的多个第一侦测点位，及位于所述第二区域的一个第二侦测点位；

所述电阻检测单元用于按照第一预设顺序检测所述多个第一侦测点位的电阻值，以得到多个第一电阻，所述电阻检测单元还用于计算所述第二电阻与每个所述第一电阻之间的差值，以得到多个电阻差值；

所述色温补偿单元用于接收所述多个电阻差值，并根据所述多个电阻差值判断第一区域中对应每个第一侦测点位的区域是否发生mura，并根据所述多个电阻差值对发生mura的区域中的像素进行色温补偿。

其中，所述第一区域包括多个子区域，每个所述子区域包括一个或多个第一侦测点位，所述第二区域包括多个第二侦测点位，一个第二侦测点位对应一个子区域设置；

所述电阻检测单元，用于按照第二预设顺序检测所述多个第一侦测点位电阻值，以得到多个第一电阻；

所述电阻检测单元，用于按照第三预设顺序检测所述多个第二侦测点位的电阻值，以得到多个第二电阻，并计算每个第二电阻与对应的所述子区域中的第一子电阻之间的差值，以得到多个子电阻差值；

所述色温补偿单元用于接收所述多个子电阻差值，并根据所述多个子电阻差值判断第一区域中对应每个第一侦测点位的区域是否发生mura，并根据所述多个子电阻差值对发生mura区域中的像素进行色温补偿。

其中，所述一个第二侦测点位与距离所述一个第二侦测点位对应的所述一个子区域之间的距离小于所述一个第二侦测点位与其他子区域之间的距离。

其中，所述电阻检测单元包括：

时序设置子单元，所述时序设置子单元用于设置检测所述多个第一侦测点位的电阻值的顺序，当所述第二区域包括多个第二侦测点位时，所述时序设置子单元还用于设置检测所述第二侦测点位的电阻值的顺序；

电阻检测子单元，所述电阻检测子单元电连接所述时序设置子单元，用于按照所述时序设置子单元设置的检测顺序检测所述多个第一侦测点位的电阻值，并在所述第二区域包括多个第二侦测点位时，按照所述时序设置子单元设置的检测顺序检测所述多个第二侦测点位的电阻值；

以及计算子单元，所述计算子单元电连接所述电阻检测子单元，用于接收所述第一电阻与所述第二电阻，并计算所述第一电阻与所述第二电阻的差值，以得到电阻差值。

其中，所述液晶显示组件还包括：

检测单元，用于在所述色温补偿单元对所述第一区域中发生mura的区域进行色温补偿后，对所述第一区域中被补偿的区域进行色温检测，并根据色温检测结果判断所述被补偿的区域的色温补偿是否符合第一预设标准。

其中，液晶显示组件还包括：

存储单元，存储有符合第二预设标准的多个色温补偿数值以及与每个色温补偿数值对应的电阻差值；

色温补偿单元，用于将当前的所述电阻差值与所述存储单元中的电阻差值进行比较，并在当前的电阻差值与存储单元中的电阻差值匹配时，利用存储单元中与当前电阻差值匹配的电阻差值对应的色温补偿数值对所述第一侦测点位对应的区域中的像素进行色温补偿。

其中，所述色温补偿单元用于对以所述第一侦测点位为中心的区域中所有的像素进行色温补偿，且补偿数值相同。

其中，所述像素包括蓝色子像素、绿色子像素及红色子像素，所述色温补偿单元根据所述电阻差值对所述第一侦测点位对应的区域中的像素进行色温补偿，包括如下中的任意一者：

提高对应第一侦测点位且发生mura的区域中蓝色子像素的亮度，且保持所述对应第一侦测点位且发生mura的区域中绿色子像素及红色子像素亮度不变；

降低对应第一侦测点位且发生mura的区域中绿色子像素及红色子像素的亮度，且保持所述对应第一侦测点位且发生mura的区域中蓝色子像素的亮度不变；

提高对应第一侦测点位且发生mura的区域中蓝色子像素的亮度，且降低所述对应第一侦测点位且发生mura的区域中绿色子像素及红色子像素的亮度。

本申请实施方式提供了一种液晶显示组件，所述液晶显示组件包括液晶面板、电阻检测单元以及色温补偿单元，所述液晶面板具有第一区域及第二区域，所述电阻检测单元用于检测位于所述第一区域的所述第一侦测点位的电阻值以得到所述第一电阻，以及检测位于所述第二区域的所述第二侦测点位的电阻值以得到所述第二电阻，并计算所述第二电阻与所述第一电阻的差值以得到所述电阻差值，所述色温补偿单元接收所述电阻差值，并根据所述电阻差值判断所述第一侦测点位对应的区域是否发生mura，并在对应所述第一侦测点位的区域发生mura时根据所述电阻差值对所述第一侦测点位对应的区域中的像素进行色温补偿，从而减弱甚至消除所述液晶面板在对应所述第一侦测点位的区域由于mura而产生的色彩，使得对应所述第一侦测点位的区域恢复正常显示，进而提高了所述液晶面板的质量。因此，本申请提供了一种液晶显示组件，能够通过对所述液晶面板的第一侦测点位进行电阻检测判断mura的产生，以及通过色温补偿减弱甚至消除mura，以提高所述液晶面板的质量。

第二方面，本申请实施方式还提供了一种电子设备，所述电子设备包括如第一方面所述的液晶显示组件。

本申请实施方式还提供了一种电子设备，所述电子设备通过所述电阻检测单元以及所述色温补偿单元对所述液晶面板的第一区域中的第一侦测点位进行检测，并在所述第一区域中的第一侦测点位发生mura时对所述第一侦测点位对应的区域进行色温补偿，从而提高所述液晶面板的显示质量，进而提高了所述电子设备的显示质量。此外，还可以通过定期检测以实现对所述电子设备的定期保养。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为液晶面板的A类重力mura的示意图；

图2为液晶面板的B类重力mura的示意图；

图3为本申请一实施方式提供的液晶显示组件的结构示意图；

图4为图3实施方式提供的液晶显示组件中液晶面板在第一实施方式中的结构示意图；

图5为图3实施方式提供的液晶显示组件中液晶面板在第二实施方式中的结构示意图；

图6为图3实施方式提供的液晶显示组件中液晶面板在第三实施方式中的结构示意图；

图7为图3实施方式提供的液晶显示组件中液晶面板在第四实施方式中的结构示意图；

图8为图3实施方式提供的液晶显示组件中液晶面板在第五实施方式中的结构示意图；

图9为图3实施方式提供的液晶显示组件中液晶面板在第六实施方式中的结构示意图；

图10为图3实施方式提供的液晶显示组件中电阻检测单元的结构示意图；

图11为本申请另一实施方式提供的液晶显示组件的结构示意图；

图12为本申请又一实施方式提供的液晶显示组件的结构示意图；

图13为本申请一实施方式提供的电子设备的结构示意图。

附图标号：电子设备1；液晶显示组件10；液晶面板11；第一区域111；第一侦测点位1111；子区域1112；第二区域112；第二侦测点位1121；顶部113；底部114；电阻检测单元12；时序设置子单元121；电阻检测子单元122；计算子单元123；色温补偿单元13；检测单元14；存储单元15；电路板16。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。

在本文中提及“实施例”或“实施方式”意味着，结合实施例或实施方式描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

请参照图1及图2，图1为液晶面板的A类重力mura的示意图；图2为液晶面板的B类重力mura的示意图。通常重力mura时因为液晶面板11长期放置的时候液晶在重力的作用下向下流动堆积，重力mura出现的位置和所述液晶面板11的放置方式具有强的相关性。所述液晶显示组件10包括连接于所述液晶面板11一侧的电路板16（Printed Circuit Board，PCB）。目前常见的液晶面板11放置方式有两种，一种为电路板16朝下放置，称为A类放置，另一种为电路板16朝上放置，称为B类放置。其中，A类放置时，重力mura通常出现在所述液晶面板11靠近所述电路板16一侧的第一区域111，称为A类重力mura。B类放置时，重力mura通常出现在所述液晶面板11背离所述电路板16一侧的第一区域111，称为B类重力mura。

需要说明的是，在本申请中，以所述液晶面板11未连接电路板进行示意性说明，将A类重力mura及B类重力mura统一为在所述液晶面板11的端部区域附近发生重力mura进行示意性说明。

本申请提供了一种液晶显示组件。液晶面板11广泛应用于各种电子设备，例如手机、电脑或者电视等。请参照图3及图4，图3为本申请一实施方式提供的液晶显示组件的结构示意图；图4为图3实施方式提供的液晶显示组件中液晶面板在第一实施方式中的结构示意图。在本实施方式中，所述液晶显示组件10包括液晶面板11、电阻检测单元12以及色温补偿单元13。所述液晶面板11具有第一区域111及第二区域112。所述第一区域111位于所述液晶面板11的顶部113或底部114中的至少一者。所述第二区域112相较于所述第一区域111邻近所述液晶面板11的中心。所述液晶面板11具有位于所述第一区域111的第一侦测点位1111，以及位于所述第二区域112的第二侦测点位1121。所述电阻检测单元12用于检测所述第一侦测点位1111的电阻值以得到第一电阻，所述电阻检测单元12还用于检测所述第二侦测点的电阻值以得到第二电阻，并计算所述第二电阻与所述第一电阻的差值，以得到电阻差值。所述色温补偿单元13电连接所述电阻检测单元12，用于接收所述电阻差值，并根据所述电阻差值判断所述第一区域111中对应所述第一侦测点位1111的区域是否发生mura，并在对应所述第一侦测点位1111的区域发生mura时根据所述电阻差值对所述第一侦测点位1111对应的区域中的像素进行色温补偿。

所述液晶面板11具有第一区域111及第二区域112，所述第一区域111位于所述液晶面板11的顶部113或底部114中至少一者。在本实施方式中，以所述第一区域111的数目为1个，且所述第一区域111仅位于所述液晶面板11的底部114为例进行示意。可以理解地，在其他实施方式中，所述第一区域111可以仅位于所述液晶面板11的顶部113。或者，在其它实施方式中，所述第一区域111的数量为2个，且其中一个第一区域111位于液晶面板11的顶部113，另外一个第一区域111位于所述底部114。通常，所述液晶面板11在生产过程中由于量产时难以避免的工艺波动，例如阵列膜厚，RGB膜厚，PI膜厚及柱状隔垫物（PS）高度等因素，而产生部分生产不良，使得所述液晶面板11在放置一段时间后容易在所述第一区域111产生重力mura。其中，需要说明的是重力mura是指液晶面板11在通电时在底部114出现显示不均的现象。由于所述液晶面板11在实际安装应用到电子设备1之前，存在未限定所述液晶面板11在电子设备1使用时相对的顶部113与底部114的可能，或者电子设备1可上下翻转使用，因此，重力mura可能出现在所述液晶面板11的底部114和顶部113中至少一者。

在一种实施方式中，单个所述第一区域111在所述顶部113指向所述底部114的方向上的尺寸，与所述液晶面板11在所述顶部113指向所述底部114的方向上的尺寸之比为1/6~1/3。在其他实施方式中，对单个所述第一区域111在所述顶部113指向所述底部114的方向上的尺寸，与所述液晶面板11在所述顶部113指向所述底部114的方向上的尺寸之比不做限定。

具体地，单个所述第一区域111在所述顶部113指向所述底部114的方向上的尺寸，与所述液晶面板11在所述顶部113指向所述底部114的方向上的尺寸之比可以为但不仅限于为1/6，或1/5，或1/4，或1/3；当然，单个所述第一区域111在所述顶部113指向所述底部114的方向上的尺寸，与所述液晶面板11在所述顶部113指向所述底部114的方向上的尺寸之比也可以为其他数值，只要满足单个所述第一区域111在所述顶部113指向所述底部114的方向上的尺寸，与所述液晶面板11在所述顶部113指向所述底部114的方向上的尺寸之比位于1/6~1/3范围即可。

当单个所述第一区域111在所述顶部113指向所述底部114的方向上的尺寸，与所述液晶面板11在所述顶部113指向所述底部114的方向上的尺寸小于1/6时，可能会存在对所述液晶面板11发生mura的区域存在漏检的可能；当单个所述第一区域111在所述顶部113指向所述底部114的方向上的尺寸，与所述液晶面板11在所述顶部113指向所述底部114的方向上的尺寸大于1/3时，会存在对所述液晶面板11不会发生重力mura的区域或者发生重力mura的概率小的区域进行检测的情况，从而增加了检测的时间，进而浪费了人力及物力，且提高了检测成本。因此，本申请实施方式中单个所述第一区域111在所述顶部113指向所述底部114的方向上的尺寸，与所述液晶面板11在所述顶部113指向所述底部114的方向上的尺寸之比为1/6~1/3，可在对所述液晶面板11进行重力mura检测的时，提高人力及物力的利用效率，降低检测成本，且避免对所述液晶面板11可能发生重力mura的区域的漏检。

在所述第一区域111发生重力mura时，所述第一区域111会在发生mura处产生微小玻璃变形，在形变处所述液晶面板11的导电层被拉伸，导致横截面减小，从而使得电阻增大。所述导电层的材质可以为但不仅限于为氧化铟锡（Indium Tin Oxide，ITO）或纳米银等。所述导电层可以为但不仅限于为所述液晶面板11中的扫描线（Gate line）或者数据线（Data line）或公共电极线等。

在本实施方式中，所述第一区域111具有第一侦测点位1111，所述电阻检测单元12可通过电连接所述第一侦测点位1111进行电阻检测以得到第一电阻。所述第二区域112具有第二侦测点位1121，所述电阻检测单元12可通过电连接所述第二侦测点位1121进行电阻检测以得到第二电阻。因此，所述电阻检测单元12能够计算出所述第二电阻与所述第一电阻的差值，以得到电阻差值。其中，所述电阻检测单元12为点位分析芯片，具有电阻检测及计算等功能。在其他实施方式中，所述电阻检测单元12也可以为其他芯片或电路，只要具有电阻检测及计算功能即可。

在一实施方式中，在所述第一区域111的公共电极或者释放静电处（CF玻璃表面或者TFT玻璃表面）预留线路，以便于所述电阻检测单元12电连接至所述第一侦测点位1111。相应地，在所述第二区域112的公共电极或者释放静电处（CF玻璃表面或者TFT玻璃表面）预留线路，以便于所述电阻检测单元12电连接至所述第二侦测点位1121。通过预留线路的方式进行电阻检测，在检测时无需对所述液晶面板11进行拆卸，能够直接通过电连接所述预留线路进行电阻检测，提高了检测速度及效率，且能够避免对所述液晶面板11造成损伤。

其中，所述第二侦测点位1121与所述第一侦测点位1111的距离越近，在相同程度的mura发生时，所述电阻差值的越明显，因此，所述第二侦测点位1121尽可能靠近所述第一侦测点位1111设置，然而，所述第二侦测点位1121需要设置于不会发生mura或者发生mura概率小的第二区域112，以防止所述第二电阻值受到mura的影响，从而影响通过所述电阻差值对mura是否发生的判断。具体地，所述第二侦测点位1121与所述第一区域111的距离可以但不限于为1~10个像素。

所述色温补偿单元13电连接所述电阻检测单元12，以接收所述电阻差值，并根据所述电阻差值判断所述第一区域111中对应所述第一侦测点位1111的区域是否发生mura。其中，所述色温补偿单元13为时序控制芯片（Tcon IC），具有计算和色温补偿功能。在其它实施方式中，所述色温补偿单元13也可以为其他芯片或电路，只要具有计算和色温补偿功能即可。

其中，当所述电阻差值大于预设电阻值时，所述色温补偿单元13可判断出所述第一区域111中对应所述第一侦测点位1111的区域发生了mura，反之，则判断所述第一区域111中对应所述第一侦测点位1111的区域未发生mura。举例而言，所述预设电阻值可以但不限于为0.1Ω、0.2Ω或者0.5Ω等。当所述第一侦测点位1111的区域发生mura时，所述色温补偿单元13根据所述电阻差值对所述第一侦测点位1111对应的区域中的像素进行色温补偿，以使得所述第一侦测点位1111发生mura的区域显示恢复正常。

需要说明的是，所述第一侦测点位1111对应的区域可以但不限于为整个所述第一区域111、所述第一侦测点位1111所处的一行像素区域或者以所述第一侦测点位1111为中心的矩形区域或圆形区域等。

具体地，所述液晶显示组件10可以但不限于应用于以下场景。

在所述液晶面板11生产完成下生产线之前，通过所述电阻检测单元12对所述液晶面板11的所述第一侦测点位1111进行电阻检测以得到所述第一电阻，对所述第二侦测点位1121进行电阻检测以得到所述第二电阻，并计算所述第二电阻与所述第一电阻的差值以得到电阻差值。所述色温补偿单元13接收所述电阻差值，并判断所述电阻差值是否大于所述预设电阻值，从而判断所述第一区域111中对应所述第一侦测点位1111的区域是否发生mura。如果发生了mura，则利用所述色温补偿单元13对对应所述第一侦测点位1111发生mura的区域中的像素进行色温补偿，使得对应所述第一侦测点位1111发生mura的区域显示恢复正常，以提高所述液晶面板11的生产质量，从而提高工厂良率。

在所述液晶面板11完成运输交货至客户时，通过所述电阻检测单元12对所述液晶面板11的所述第一侦测点位1111进行电阻检测以得到所述第一电阻，对所述第二侦测点位1121进行电阻检测以得到所述第二电阻，并计算所述第二电阻与所述第一电阻的差值以得到电阻差值。所述色温补偿单元13接收所述电阻差值，并判断所述电阻差值是否大于所述预设电阻值，从而判断所述第一区域111中对应所述第一侦测点位1111的区域是否发生mura。如果发生了mura，则利用所述色温补偿单元13对对应所述第一侦测点位1111发生mura的区域中的像素进行色温补偿，使得对应所述第一侦测点位1111发生mura的区域显示恢复正常，以提高所述液晶面板11的交货质量，从而减少客户抱怨及客户的退换货，进而减小损失。

在所述液晶面板11使用寿命期限内，定期或不定期通过所述电阻检测单元12对所述液晶面板11的所述第一侦测点位1111进行电阻检测以得到所述第一电阻，对所述第二侦测点位1121进行电阻检测以得到所述第二电阻，并计算所述第二电阻与所述第一电阻的差值以得到电阻差值。所述色温补偿单元13接收所述电阻差值，并判断所述电阻差值是否大于所述预设电阻值，从而判断所述第一区域111中对应所述第一侦测点位1111的区域是否发生mura。如果发生了mura，则利用所述色温补偿单元13对对应所述第一侦测点位1111发生mura的区域中的像素进行色温补偿，使得对应所述第一侦测点位1111发生mura的区域显示恢复正常，以提高所述液晶面板11的使用体验，从而减少客户的退换货。

需要说明的是，以上场景仅为示意性说明，并未对本申请提供的液晶显示组件10的应用范围进行限定。

综上所述，本申请提供了一种液晶显示组件10，所述液晶显示组件10包括液晶面板11、电阻检测单元12以及色温补偿单元13，所述液晶面板11具有第一区域111及第二区域112，所述电阻检测单元12用于检测位于所述第一区域111的所述第一侦测点位1111的电阻值以得到所述第一电阻，以及检测位于所述第二区域112的所述第二侦测点位1121的电阻值以得到所述第二电阻，并计算所述第二电阻与所述第一电阻的差值以得到所述电阻差值，所述色温补偿单元13接收所述电阻差值，并根据所述电阻差值判断所述第一侦测点位1111对应的区域是否发生mura，并在对应所述第一侦测点位1111的区域发生mura时根据所述电阻差值对所述第一侦测点位1111对应的区域中的像素进行色温补偿，从而减弱甚至消除所述液晶面板11在对应所述第一侦测点位1111的区域由于mura而产生的色彩，使得对应所述第一侦测点位1111的区域恢复正常显示，进而提高了所述液晶面板11的质量。因此，本申请提供了一种液晶显示组件10，能够通过对所述液晶面板11的第一侦测点位1111进行电阻检测判断mura的产生，以及通过色温补偿减弱甚至消除mura，以提高所述液晶面板11的质量。

请参照图5及图6，图5为图3实施方式提供的液晶显示组件中液晶面板在第二实施方式中的结构示意图；图6为图3实施方式提供的液晶显示组件中液晶面板在第三实施方式中的结构示意图。在本实施方式中，所述液晶面板11具有位于所述第一区域111的多个第一侦测点位1111，及位于所述第二区域112的一个第二侦测点位1121。所述电阻检测单元12用于按照第一预设顺序检测所述多个第一侦测点位1111的电阻值，以得到多个第一电阻，所述电阻检测单元12还用于计算所述第二电阻与每个所述第一电阻之间的差值，以得到多个电阻差值。所述色温补偿单元13用于接收所述多个电阻差值，并根据所述多个电阻差值判断第一区域111中对应每个第一侦测点位1111的区域是否发生mura，并根据所述多个电阻差值对发生mura的区域中的像素进行色温补偿。

在本实施方式中，所述第一区域111中具有多个第一侦测点位1111，通过设置所述多个第一侦测点位1111可以对所述第一区域111中更多的区域进行侦测，适用于所述液晶面板11尺寸较大的情况。根据所述液晶面板11的尺寸大小，可设置不同数量的第一侦测点位1111。通常情况下，所述液晶面板11的尺寸越大，所述第一侦测点位1111的数量越多，以使得对于所述第一区域111中是否发生mura侦测得更全面。此外，所述液晶面板11尺寸不变时，也可通过增加所述第一侦测点位1111的数量，以使得对应每个所述第一侦测点位1111的区域相对更小，从而使得对于所述第一区域111中是否发生mura侦测得更加细致。此外，所述第一侦测点位1111的具体数量，要以实际效果和成本考量为准，所述第一侦测点位1111增多，伴随的成本会有一定的上升（IC越贵），且当所述第一侦测点位1111的数量到一定之后画质改善的效果就不会有明显的变化了。

举例而言，在一实施方式中（请参见图5），在所述第一区域111中设置一排所述第一侦测点位1111，可以但不限于用于所述液晶面板11的尺寸较小的情形，以减小检测成本。在另一实施方式中（请参见图6），在所述第一区域111中设置多排所述第一侦测点位1111，可以但不限于用于所述液晶面板11的尺寸较大的情形，以对所述液晶面板11的检测更加全面。需要说明的是，图5及图6中所述第一侦测点位1111的数量仅为示意性说明，并未对所述第一侦测点位1111的数量进行限定。

其中，由于所述第一区域111中具有所述多个第一侦测点位1111，通过所述电阻检测单元12在所述多个第一侦测点位1111会检测出多个第一电阻。所述多个第一电阻中部分第一电阻存在电阻值相等的可能，即，存在部分电阻差值相等的可能。因此，对于部分所述电阻差值相等，所述色温补偿单元13难以区分所述电阻差值对应于哪一个所述第一侦测点位1111对应的区域。在本实施方式中，所述电阻检测单元12按照所述第一预设顺序检测所述多个第一侦测点位1111的电阻值，以得到所述多个第一电阻，从而使得所述电阻检测单元12计算所述第二电阻与每个所述第一电阻之间的差值得到的多个电阻差值具有时序性，进而使得所述色温补偿单元13能够通过所述第一预设顺序判断每一个所述电阻差值对应的所述第一侦测点位1111。其中，所述电阻检测单元12为点位分析芯片，具有电阻检测、时序设置及计算等功能。在其他实施方式中，所述电阻检测单元12也可以为其他芯片或电路，只要具有电阻检测、时序设置及计算功能即可。

具体地，建立坐标系（以图6为例进行示意），所述第一侦测点位1111的横坐标为Xm，纵坐标为Yn，坐标（Xm，Yn）的对应第二侦测点位1121处的第二电阻为Ri，坐标（Xm，Yn）的对应的第一电阻为Ri’，其中m、n及i均为大于0的自然数。（Xm，Yn）Ri表示在坐标（Xm，Yn）处的所述第一侦测点位1111对应的所述第二侦测点位1121处的第二电阻为Ri。（Xm，Yn）Ri’表示在坐标（Xm，Yn）处的所述第一侦测点位1111的第一电阻为Ri’。在坐标（Xm，Yn）处的电阻差值则表示为（Xm，Yn）△Ri=（Ri’-Ri）。所述第一预设顺序为所述电阻检测单元12检测所述第一侦测点位1111的电阻的顺序，所述第一预设顺序可以但不限于为先选定m=1的坐标对应的部分所述第一侦测点位1111，按照坐标中n由小到大的顺序对所述m=1的坐标对应的部分所述第一侦测点位1111进行电阻检测，然后选定m=2的坐标对应的部分所述第一侦测点位1111，按照坐标中n由小到大的顺序对所述m=2的坐标对应的部分所述第一侦测点位1111进行电阻检测，以此类推直至检测完所有的所述第一侦测点位1111；或者，先选定n=1的坐标对应的部分所述第一侦测点位1111，按照坐标中m由小到大的顺序对所述n=1的坐标对应的部分所述第一侦测点位1111进行电阻检测，然后选定n=2的坐标对应的部分所述第一侦测点位1111，按照坐标中m由小到大的顺序对所述n=2的坐标对应的部分所述第一侦测点位1111进行电阻检测，以此类推直至检测完所有的所述第一侦测点位1111的电阻值；或者，按照m和n的任意取值规律对所述多个第一侦测点位1111进行电阻检测，只要使得对所述多个第一侦测点位1111进行电阻检测的顺序可使得所述色温补偿单元13能够区分不同的所述第一侦测点位1111对应的电阻变化即可。

举例而言，以所述第一侦测点位1111的数量为12进行示意性说明，其中，12个所述第一侦测点位1111以3行×4列的方式分布在所述第一区域111。在所述液晶面板11未出现重力mura时，对于每个第一侦测点位1111都会有一个标准电阻值，即对应的所述第二侦测点位1121处的第二电阻。由于，在本实施方式中只具有一个所述第二侦测点位1121，因此，对于每一个所述第一侦测点位1111的基准电阻值均相同。所述电阻检测单元12通过所述第一预设顺序将所述第二电阻Ri记录到对应的坐标中，具体为（Xm，Yn）Ri=（R1，R2，R3，R4，R5，R6，R7，R8，R9，R10，R11，R12）。此外，所述电阻检测单元12按照所述第一预设顺序对12个所述第一侦测点位1111处的电阻值进行检测，以得到12个第一电阻Ri’，并将12个所述第一电阻记录到对应的坐标中，具体为（Xm，Yn）Ri’=（R1’，R2’，R3’，R4’，R5’，R6’，R7’，R8’，R9’，R10’，R11’，R12’），则所述电阻差值表示为（Xm，Yn）△Ri=（Ri’-Ri）。所述色温补偿单元13根据每个所述第一侦测点位1111处的电阻差值判断对应坐标处的区域是否发生mura，并对发生mura的区域根据对应的电阻差值进行色温补偿。

需要说明的是，本实施方式并未对所述第一侦测点位1111的数量及分布方式进行限定。

因此，所述电阻检测单元12按照所述第一预设顺序检测所述多个第一侦测点位1111的电阻值，能够避免所述色温补偿单元13混淆所述多个第一侦测点位1111对应的电阻变化，从而提高了所述色温补偿单元13对所述第一区域111中发生mura区域进行补偿的质量。

请参照图7、图8及图9，图7为图3实施方式提供的液晶显示组件中液晶面板在第四实施方式中的结构示意图；图8为图3实施方式提供的液晶显示组件中液晶面板在第五实施方式中的结构示意图；图9为图3实施方式提供的液晶显示组件中液晶面板在第六实施方式中的结构示意图。在本实施方式中，所述第一区域111包括多个子区域1112，每个所述子区域1112包括一个或多个第一侦测点位1111，所述第二区域112包括多个第二侦测点位1121，一个第二侦测点位1121对应一个子区域1112设置。所述电阻检测单元12，用于按照第二预设顺序检测所述多个第一侦测点位1111电阻值，以得到多个第一电阻。所述电阻检测单元12，用于按照第三预设顺序检测所述多个第二侦测点位1121的电阻值，以得到多个第二电阻，并计算每个第二电阻与对应的所述子区域1112中的第一子电阻之间的差值，以得到多个子电阻差值。所述色温补偿单元13用于接收所述多个子电阻差值，并根据所述多个子电阻差值判断第一区域111中对应每个第一侦测点位1111的区域是否发生mura，并根据所述多个子电阻差值对发生mura区域中的像素进行色温补偿。

通过在所述第一区域111设置多个子区域1112，并在所述第二区域112设置多个第二侦测点位1121，使得一个所述第二侦测点位1121对应一个所述子区域1112，使得对于所述第一区域111中是否发生mura的检测更加细分化。

根据所述液晶面板11的尺寸大小及类型，可设置不同数量的子区域1112及第一侦测点位1111。具体地，当所述液晶面板11的尺寸较大时，在所述第一区域111中距离较远的两个第一侦测点位1111的电阻变化存在变化规律差别较大的可能，通过在所述第一区域111设置多个子区域1112，并在所述第二区域112设置多个第二侦测点位1121，使得一个所述第二侦测点位1121对应一个所述子区域1112，能够使得所述第一区域111中不同的子区域1112中的所述第一侦测点位1111具有各自进行参照的所述第二侦测点位1121，从而使得对于所述第一区域111中是否发生mura的检测更加全面。

此外，对于所述液晶面板11的尺寸不大时，通过在所述第一区域111设置多个子区域1112，并在所述第二区域112设置多个第二侦测点位1121，使得一个所述第二侦测点位1121对应一个所述子区域1112，能够使得所述第一区域111中不同的子区域1112中的所述第一侦测点位1111具有各自进行参照的所述第二侦测点位1121，从而提高对所述第一区域111中每个所述第一侦测点位1111的电阻变化的检测精度。此外，所述第一侦测点位1111的具体数量，要以实际效果和成本考量为准，所述第一侦测点位1111增多，伴随的成本会有一定的上升（IC越贵），且当所述第一侦测点位1111的数量到一定之后画质改善的效果就不会有明显的变化了。

此外，当所述液晶面板11的放置方式固定时，所述第一区域111仅需要设置于所述底部114。当所述液晶面板11的放置方式可旋转放置时，所述第一区域111同时设于所述底部114及顶部113，以更好地检测出所述液晶面板11发生mura的区域并进行色温补偿。

依据所述液晶面板11的实际大小、实际应用需求以及工厂工艺的波动程度的大小，可以选择设置一个所述第一区域111，或者设置两个所述第一区域111，或者设置两个所述第一区域111且在每个所述第一区域111中设置多行所述第一侦测点位1111，以更好的监控各位置的形变量，准确的对各个位置的显示颜色进行修正。举例而言，在一实施方式中（请参见图7），所述第一区域111仅设于所述底部114，所述第一侦测点位1111在所述第一区域111中分布为一排。在另一实施方式中（请参照图8），所述第一区域111的数量为两个，且一个所述第一区域111设于所述顶部113，另一个所述第一区域111设于所述底部114，且所述第一侦测点位1111在每一个所述第一区域111中分布为一排。在又一实施方式中（请参照图9），所述第一区域111的数量为两个，且一个所述第一区域111设于所述顶部113，另一个所述第一区域111设于所述底部114，且所述第一侦测点位1111在每一个所述第一区域111中分布为多排。不限于此，在其它实施方式中，所述第一侦测点位1111每个所述第一区域111中的排数可任意设置，具体根据实际应用决定。需要说明的是，图7、图8及图9中所述子区域1112的数量及分布、第一侦测点位1111的数量及分布方式、所述第二侦测点位1121的数量及分布仅为示意，并未对所述子区域1112的数量及分布、第一侦测点位1111的数量及分布方式、所述第二侦测点位1121的数量及分布进行限定。

其中，由于所述第一区域111中具有所述多个第一侦测点位1111，通过所述电阻检测单元12在所述多个第一侦测点位1111会检测出多个第一电阻。所述多个第一电阻中部分第一电阻存在电阻值相等的可能，使得所述电阻检测单元12难以区分每个所述第一电阻对应于哪一个所述第一侦测点位1111对应的区域。

此外，所述第二区域112中具有所述多个第二侦测点位1121，通过所述电阻检测单元12在所述多个第二侦测点位1121会检测出多个第二电阻。所述多个第二电阻中部分第二电阻存在电阻值相等的可能，使得所述电阻检测单元12难以区分每个所述第二电阻对应于哪一个所述第二侦测点位1121，以及每个所述第二侦测点位1121对应的所述子区域1112。

在本实施方式中，所述电阻检测单元12按照所述第二预设顺序检测所述多个第一侦测点位1111的电阻值，以得到所述多个第一电阻，并按照所述第三预设顺序检测所述多个第二侦测电阻的电阻值，以得到所述多个第二电阻，其中，所述第三预设顺序与所述第二预设顺序中检测所述多个子区域1112的顺序相对应，从而使得所述电阻检测单元12计算每个所述第二电阻与每个所述第一电阻之间的差值得到的多个电阻差值具有时序性，进而使得所述色温补偿单元13能够通过所述第二预设顺序以及所述第三预设顺序判断每一个所述电阻差值对应的所述第一侦测点位1111。其中，所述电阻检测单元12为点位分析芯片，具有电阻检测、时序设置及计算等功能。在其他实施方式中，所述电阻检测单元12也可以为其他芯片或电路，只要具有电阻检测、时序设置及计算功能即可。

具体地，建立坐标系（请参见图9），所述第一侦测点位1111的横坐标为Xm，纵坐标为Yn，坐标（Xm，Yn）的对应第二侦测点位1121处的第二电阻为Ri，坐标（Xm，Yn）的对应的第一电阻为Ri’，其中m、n及i均为大于0的自然数。（Xm，Yn）Ri表示在坐标（Xm，Yn）处的所述第一侦测点位1111对应的所述第二侦测点位1121处的第二电阻为Ri。（Xm，Yn）Ri’表示在坐标（Xm，Yn）处的所述第一侦测点位1111的第一电阻为Ri’。在坐标（Xm，Yn）处的电阻差值则表示为（Xm，Yn）△Ri=（Ri’-Ri）。所述第二预设顺序为所述电阻检测单元12检测所述第一侦测点位1111的电阻的顺序，所述第二预设顺序可以但不限于为先选定m=1的坐标对应的部分所述第一侦测点位1111，按照坐标中n由小到大的顺序对所述m=1的坐标对应的部分所述第一侦测点位1111进行电阻检测，然后选定m=2的坐标对应的部分所述第一侦测点位1111，按照坐标中n由小到大的顺序对所述m=2的坐标对应的部分所述第一侦测点位1111进行电阻检测，以此类推直至检测完所有的所述第一侦测点位1111；或者，先选定n=1的坐标对应的部分所述第一侦测点位1111，按照坐标中m由小到大的顺序对所述n=1的坐标对应的部分所述第一侦测点位1111进行电阻检测，然后选定n=2的坐标对应的部分所述第一侦测点位1111，按照坐标中m由小到大的顺序对所述n=2的坐标对应的部分所述第一侦测点位1111进行电阻检测，以此类推直至检测完所有的所述第一侦测点位1111的电阻值；或者，按照m和n的任意取值规律对所述多个第一侦测点位1111进行电阻检测，只要使得对所述多个第一侦测点位1111进行电阻检测的顺序具有可识别性即可。此外，所述第三预设顺序与所述第二预设顺序中检测所述第一侦测点位1111对应的所述子区域1112的顺序相对应。

举例而言，以所述第一区域111包括4个子区域1112，所述第一侦测点位1111的数量为20个，所述第二侦测点位1121的数量为4个进行示意性说明。其中，2个所述子区域1112位于所述顶部113，另外2个所述子区域1112位于所述底部114。每个所述子区域1112具有5个所述第一侦测点位1111，并对应具有一个用于参照的所述第二侦测点位1121。在所述液晶面板11未出现重力mura时，对于每个第一侦测点位1111都会有一个标准电阻值，即对应的所述第二侦测点位1121处的第二电阻。所述电阻检测单元12通过所述第三预设顺序对4个所述第二侦测点位1121处的电阻值进行检测，以得到4个第二电阻Ri，并将4个第二电阻Ri记录到对应的坐标中，具体为（Xm，Yn）Ri=（R1，R2，R3，R4，R5，R6，R7，R8，R9，R10，R11，R12，R13，R14，R15，R16，R17，R18，R19，R20）。此外，所述电阻检测单元12通过所述第二预设顺序对20个所述第一侦测点位1111处的电阻值进行检测，以得到20个第一电阻Ri’，并将20个所述第一电阻Ri’记录到对应的坐标中，具体为（Xm，Yn）Ri=（R1’，R2’，R3’，R4’，R5’，R6’，R7’，R8’，R9’，R10’，R11’，R12’，R13’，R14’，R15’，R16’，R17’，R18’，R19’，R20’）。则所述电阻差值表示为（Xm，Yn）△Ri=（Ri’-Ri）。所述色温补偿单元13根据每个所述第一侦测点位1111处的电阻差值判断对应坐标处的区域是否发生mura，并对发生mura的区域根据对应的电阻差值进行色温补偿。其中，所述第三预设顺序与所述第二预设顺序中检测所述第一侦测点位1111对应的所述子区域1112的顺序相对应。

需要说明的是，本实施方式并未对所述子区域的数量及划分方式、所述第一侦测点位1111的数量及分布方式进行限定。

因此，所述电阻检测单元12按照所述第二预设顺序检测所述多个第一侦测点位1111的电阻值，并按照所述第三预设顺序检测所述多个第二侦测点位1121的电阻值，能够避免所述色温补偿单元13混淆所述多个第一侦测点位1111对应的电阻变化，从而提高了所述色温补偿单元13对所述第一区域111中发生mura区域进行补偿的质量。

请再次参照图9，在本实施方式中，所述一个第二侦测点位1121与距离所述一个第二侦测点位1121对应的所述一个子区域1112之间的距离小于所述一个第二侦测点位1121与其他子区域1112之间的距离。

所述第二侦测点位1121与所述第一侦测点位1111的距离越近，在相同程度的mura发生时，所述电阻差值的越明显，因此，所述第二侦测点位1121尽可能靠近所述第一侦测点位1111设置。因此，对于每个所述第二侦测点位1121，相较于其它子区域1112更靠近对应的所述子区域1112设置，能够使得对于每个所述子区域1112中的第一侦测点位1111的电阻变化更容易被检测到。

具体地，以图9中所述子区域1112的数量为4个进行示意性说明，所述第一区域111具有子区域1112A、子区域1112B、子区域1112C以及子区域1112D，所述多个第二侦测点位1121分别为第二侦测点位1121a、第二侦测点位1121b、第二侦测点位1121c以及第二侦测点位1121d。其中，所述第二侦测点位1121a对应所述子区域1112A设置，作为所述子区域1112A中的第一侦测点位1111的基准点位，且所述第二侦测点位1121a与所述子区域1112A的距离小于所述第二侦测点位1121a与所述子区域1112B、所述子区域1112C以及所述子区域1112D的距离。所述第二侦测点位1121b对应所述子区域1112B设置，作为所述子区域1112B中的第一侦测点位1111的基准点位，且所述第二侦测点位1121b与所述子区域1112B的距离小于所述第二侦测点位1121b与所述子区域1112A、所述子区域1112C以及所述子区域1112D的距离。所述第二侦测点位1121c对应所述子区域1112C设置，作为所述子区域1112C中的第一侦测点位1111的基准点位，且所述第二侦测点位1121c与所述子区域1112C的距离小于所述第二侦测点位1121c与所述子区域1112A、所述子区域1112B以及所述子区域1112D的距离。所述第二侦测点位1121d对应所述子区域1112D设置，作为所述子区域1112D中的第一侦测点位1111的基准点位，且所述第二侦测点位1121d与所述子区域1112D的距离小于所述第二侦测点位1121d与所述子区域1112A、所述子区域1112B以及所述子区域1112C的距离。

请参照图10，图10为图3实施方式提供的液晶显示组件中电阻检测单元的结构示意图。在本实施方式中，所述电阻检测单元12包括时序设置子单元121、电阻检测子单元122以及计算子单元123。所述时序设置子单元121用于设置检测所述多个第一侦测点位1111的电阻值的顺序，当所述第二区域112包括多个第二侦测点位1121时，所述时序设置子单元121还用于设置检测所述第二侦测点位1121的电阻值的顺序。所述电阻检测子单元122电连接所述时序设置子单元121，用于按照所述时序设置子单元121设置的检测顺序检测所述多个第一侦测点位1111的电阻值，并在所述第二区域112包括多个第二侦测点位1121时，按照所述时序设置子单元121设置的检测顺序检测所述多个第二侦测点位1121的电阻值。所述计算子单元123电连接所述电阻检测子单元122，用于接收所述第一电阻与所述第二电阻，并计算所述第一电阻与所述第二电阻的差值，以得到电阻差值。

在本实施方式中，所述时序设置子单元121可用于设置检测所述多个第一侦测点位1111的所述第一预设顺序。所述电阻检测子单元122按照所述第一预设顺序检测所述多个第一侦测点位1111的电阻值以得到所述多个第一电阻。所述计算子单元123接收所述多个第一电阻以及所述第二电阻，并计算所述第二电阻与每个所述第一电阻的差值以得到多个电阻差值。

此外，当所述第二区域112包括多个第二侦测点位1121，所述第一区域111包括多个子区域1112时，所述时序设置子单元121可用于设置检测所述多个第一侦测点位1111的所述第二预设顺序，以及用于设置检测所述多个第二侦测点位1121的所述第三预设顺序。所述电阻检测子单元122按照所述第二预设顺序检测所述多个第一侦测点位1111的电阻值以得到所述多个第一电阻，并按照所述第三预设顺序检测所述多个第二侦测点位1121的电阻值以得到所述多个第二电阻。所述计算子单元123接收所述多个第一电阻以及所述多个第二电阻，并计算每个所述第二电阻与对应的所述第一电阻的差值以得到多个电阻差值。

因此，所述电阻检测单元12中的所述时序设置子单元121能够通过设置检测顺序，以使得所述电阻检测子单元122按照所述时序设置子单元121设置的检测顺序进行电阻检测，从而使得所述计算子单元123计算出的电阻差值能够通过所述时序设置子单元121设置的检测顺序与对应的所述第一侦测点位1111进行匹配，进而使得所述色温补偿单元13能够通过所述时序设置子单元121设置的检测顺序对所述第一侦测点位1111进行色温补偿。

请参照图11，图11为本申请另一实施方式提供的液晶显示组件的结构示意图。在本实施方式中，所述液晶显示组件10还包括检测单元14，用于在所述色温补偿单元13对所述第一区域111中发生mura的区域进行色温补偿后，对所述第一区域111中被补偿的区域进行色温检测，并根据色温检测结果判断所述被补偿的区域的色温补偿是否符合第一预设标准。

在本实施方式中，当所述色温补偿单元13根据所述电阻差值判断出所述第一区域111中对应所述第一侦测点位1111的区域发生了mura，并对对应所述第一侦测点位1111的区域进行了色温补偿后，所述检测单元14用于对对应所述第一侦测点位1111的区域进行色温检测，以判断对对应所述第一侦测点位1111的区域的色温补偿是否符合第一预设标准。如若对对应所述第一侦测点位1111的区域的色温补偿不符合第一预设标准，则所述色温补偿单元13对对应所述第一侦测点位1111的区域进行进一步色温补偿，直至符合所述第一预设标准。因此，所述检测单元14能够通过对所述第一区域111中被补偿的区域进行色温检测，以确保所述第一区域111中被补偿的区域最终能够符合所述第一预设标准，从而保障了所述液晶面板11的质量。其中，所述第一预设标准可以但不限于为红光、蓝光以及绿光之间的光强差小于10%、小于5%或者小于1%等。所述检测单元14可以但不限于为光谱仪或者分光测色仪等。

请参照图12，图12为本申请又一实施方式提供的液晶显示组件的结构示意图。在本实施方式中，所述液晶显示组件10还包括存储单元15，存储有符合第二预设标准的多个色温补偿数值以及与每个色温补偿数值对应的电阻差值。色温补偿单元13，用于将当前的所述电阻差值与所述存储单元15中的电阻差值进行比较，并在当前的电阻差值与存储单元15中的电阻差值匹配时，利用存储单元15中与当前电阻差值匹配的电阻差值对应的色温补偿数值对所述第一侦测点位1111对应的区域中的像素进行色温补偿。

在本实施方式中，所述存储单元15存储有符合所述第二预设标准的多个色温补偿数值以及与每个所述色温补偿数值对应的电阻差值。其中，所述第二预设标准可以但不限于为红光、蓝光以及绿光之间的光强差小于10%、小于5%或者小于1%等。

所述色温补偿单元13从所述电阻检测单元12接收电阻差值后，将从所述电阻检测单元12接收的电阻差值与所述存储单元15中的电阻差值进行比较，当从所述电阻检测单元12接收的电阻差值与所述存储单元15中的电阻差值匹配时，所述色温补偿单元13利用所述存储单元15中与从所述电阻检测单元12接收的电阻差值匹配的电阻差值对应的色温补偿数值对所述第一侦测点位1111对应的区域中的像素进行色温补偿，从而使得所述第一侦测点位1111对应的区域在色温补偿之后能够符合所述第二预设标准，进而提高了所述液晶面板11的质量，且提高了色温补偿的效率。其中，从所述电阻检测单元12接收的电阻差值与所述存储单元15中的电阻差值匹配是指从所述电阻检测单元12接收的电阻差值与所述存储单元15中的电阻差值相差小于10%、小于5%或者小于1%等。

请再次参照图3及图4，在本实施方式中，所述色温补偿单元13用于对以所述第一侦测点位1111为中心的区域中所有的像素进行色温补偿，且补偿数值相同。

在本实施方式中，以所述第一侦测点位1111为中心的区域可以但不限于为矩形区域或者圆形区域等。例如以所述第一侦测点位1111为中心的1×5个像素区域、2×7个像素区域或者9×9个像素区域等。

通过所述色温补偿单元13对以所述第一侦测点位1111为中心的区域中所有的像素采用相同的补偿数值进行色温补偿，能够提高对以所述第一侦测点位1111为中心的区域中所有的像素进行色温补偿的效率。

此外，在其它实施方式中，还可以根据以所述第一侦测点位1111中心的区域中各个像素发生mura的程度进行相对于的色温补偿，以使得对以所述第一侦测点位1111中心的区域的色温补偿效果更佳。

接下来对所述第一侦测点位1111对应的区域中的像素进行色温补偿的具体实施方式进行描述。

所述像素包括蓝色子像素、绿色子像素及红色子像素。所述色温补偿单元13根据所述电阻差值对所述第一侦测点位1111对应的区域中的像素进行色温补偿，包括如下中的任意一者。

在一实施方式中，通过所述色温补偿单元13提高对应第一侦测点位1111且发生mura的区域中蓝色子像素的亮度，且保持所述对应第一侦测点位1111且发生mura的区域中绿色子像素及红色子像素亮度不变。具体地，所述对应第一侦测点位1111且发生mura的区域进行补偿的补偿数值为△Colour=（X,Y）△R*（Tcon ACC （△B）），其中，（Xm,Yn）△R表示所述第一侦测点位1111对应的所述电阻差值，（Tcon ACC （△B））表示通过所述色温补偿单元13提高所述对应第一侦测点位1111且发生mura的区域中蓝色子像素的亮度。

在另一实施方式中，通过所述色温补偿单元13降低对应第一侦测点位1111且发生mura的区域中绿色子像素及红色子像素的亮度，且保持所述对应第一侦测点位1111且发生mura的区域中蓝色子像素的亮度不变。具体地，所述对应第一侦测点位1111且发生mura的区域进行补偿的补偿数值为△Colour=（X,Y）△R*（Tcon ACC （△R+△G）），其中，（Xm,Yn）△R表示所述第一侦测点位1111对应的所述电阻差值，（Tcon ACC （△R+△G））表示通过所述色温补偿单元13降低所述对应第一侦测点位1111且发生mura的区域中绿色子像素及红色子像素的亮度。

在又一实施方式中，通过所述色温补偿单元13提高对应第一侦测点位1111且发生mura的区域中蓝色子像素的亮度，且降低所述对应第一侦测点位1111且发生mura的区域中绿色子像素及红色子像素的亮度。具体地，所述对应第一侦测点位1111且发生mura的区域进行补偿的补偿数值为△Colour=（X,Y）△R*（Tcon ACC （△R+△G+△B）），其中，（Xm,Yn）△R表示所述第一侦测点位1111对应的所述电阻差值，（Tcon ACC （△R+△G+△B））表示通过所述色温补偿单元13降低所述对应第一侦测点位1111且发生mura的区域中绿色子像素及红色子像素的亮度，且提高所述对应第一侦测点位1111且发生mura的区域中蓝色子像素的亮度。

其中，需要说明的是，绿色光线对亮度的影响大于红色光线以及蓝色光线对亮度的影响，因此，尽量采用保持所述对应第一侦测点位1111且发生mura的区域中绿色子像素及红色子像素亮度不变，通过所述色温补偿单元13提高对应第一侦测点位1111且发生mura的区域中蓝色子像素的亮度，以完成对所述第一侦测点位1111对应的区域中的像素进行色温补偿。

此外，如若所述第一侦测点位1111对应的区域的亮度明显大于所述液晶面板11中其它区域的亮度，则可采用通过所述色温补偿单元13降低所述第一侦测点位1111对应的区域中绿色子像素的亮度，以使得所述第一侦测点位1111对应的区域的亮度与所述液晶面板11中其它区域的亮度相当。

此外，如若对应所述第一侦测点位1111且发生mura的区域在色温补偿之后的亮度明显比所述液晶面板11中其它区域暗，则可通过所述色温补偿单元13降低所述液晶面板11中其它区域中绿色子像素的亮度，以使得所述液晶面板11的整体亮度均匀。

请参照图13，图13为本申请一实施方式提供的电子设备的结构示意图。在本实施方式中，所述电子设备1包括如上述实施方式中任意一实施方式所述的液晶显示组件10。

在本实施方式中，所述电子设备1可以但不限于为手机、电脑或者电视等。所述电子设备1通过所述液晶显示组件10中的液晶面板11进行显示。

在所述电子设备1正常使用时，所述电阻检测单元12以及所述色温补偿单元13不工作，仅由所述液晶面板11进行工作。当所述电子设备1需要进行检修时，所述电阻检测单元12以及所述色温补偿单元13则会进行工作，并对所述液晶面板11的第一区域111中的第一侦测点位1111进行检测，并在所述第一区域111中的第一侦测点位1111发生mura时对所述第一侦测点位1111对应的区域进行色温补偿，从而提高所述液晶面板11的显示质量，进而提高了所述电子设备1的显示质量。此外，还可以通过定期检测以实现对所述电子设备1的定期保养。

尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本申请的限制，本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型，这些改进和润饰也视为本申请的保护范围。

Claims (10)

1.一种液晶显示组件，包括液晶面板，其特征在于，所述液晶面板具有第一区域及第二区域，所述第一区域位于所述液晶面板的顶部或底部中的至少一者，所述第二区域相较于所述第一区域邻近所述液晶面板的中心，所述液晶面板具有位于所述第一区域的第一侦测点位，以及位于所述第二区域的第二侦测点位，所述液晶显示组件还包括：

电阻检测单元，所述电阻检测单元用于检测所述第一侦测点位的电阻值以得到第一电阻，所述电阻检测单元还用于检测所述第二侦测点的电阻值以得到第二电阻，并计算所述第二电阻与所述第一电阻的差值，以得到电阻差值；以及

色温补偿单元，所述色温补偿单元电连接所述电阻检测单元，用于接收所述电阻差值，并根据所述电阻差值判断所述第一区域中对应所述第一侦测点位的区域是否发生mura，并在对应所述第一侦测点位的区域发生mura时根据所述电阻差值对所述第一侦测点位对应的区域中的像素进行色温补偿。

2.如权利要求1所述的液晶显示组件，其特征在于，所述液晶面板具有位于所述第一区域的多个第一侦测点位，及位于所述第二区域的一个第二侦测点位；

所述电阻检测单元用于按照第一预设顺序检测所述多个第一侦测点位的电阻值，以得到多个第一电阻，所述电阻检测单元还用于计算所述第二电阻与每个所述第一电阻之间的差值，以得到多个电阻差值；

所述色温补偿单元用于接收所述多个电阻差值，并根据所述多个电阻差值判断第一区域中对应每个第一侦测点位的区域是否发生mura，并根据所述多个电阻差值对发生mura的区域中的像素进行色温补偿。

3.如权利要求1所述的液晶显示组件，其特征在于，所述第一区域包括多个子区域，每个所述子区域包括一个或多个第一侦测点位，所述第二区域包括多个第二侦测点位，一个第二侦测点位对应一个子区域设置；

所述电阻检测单元，用于按照第二预设顺序检测所述多个第一侦测点位电阻值，以得到多个第一电阻；

所述电阻检测单元，用于按照第三预设顺序检测所述多个第二侦测点位的电阻值，以得到多个第二电阻，并计算每个第二电阻与对应的所述子区域中的第一子电阻之间的差值，以得到多个子电阻差值；

所述色温补偿单元用于接收所述多个子电阻差值，并根据所述多个子电阻差值判断第一区域中对应每个第一侦测点位的区域是否发生mura，并根据所述多个子电阻差值对发生mura区域中的像素进行色温补偿。

4.如权利要求3所述的液晶显示组件，其特征在于，所述一个第二侦测点位与距离所述一个第二侦测点位对应的所述一个子区域之间的距离小于所述一个第二侦测点位与其他子区域之间的距离。

5.如权利要求2或3所述的液晶显示组件，其特征在于，所述电阻检测单元包括：

时序设置子单元，所述时序设置子单元用于设置检测所述多个第一侦测点位的电阻值的顺序，当所述第二区域包括多个第二侦测点位时，所述时序设置子单元还用于设置检测所述第二侦测点位的电阻值的顺序；

电阻检测子单元，所述电阻检测子单元电连接所述时序设置子单元，用于按照所述时序设置子单元设置的检测顺序检测所述多个第一侦测点位的电阻值，并在所述第二区域包括多个第二侦测点位时，按照所述时序设置子单元设置的检测顺序检测所述多个第二侦测点位的电阻值；以及

计算子单元，所述计算子单元电连接所述电阻检测子单元，用于接收所述第一电阻与所述第二电阻，并计算所述第一电阻与所述第二电阻的差值，以得到电阻差值。

6.如权利要求1所述的液晶显示组件，其特征在于，所述液晶显示组件还包括：

检测单元，用于在所述色温补偿单元对所述第一区域中发生mura的区域进行色温补偿后，对所述第一区域中被补偿的区域进行色温检测，并根据色温检测结果判断所述被补偿的区域的色温补偿是否符合第一预设标准。

7.如权利要求1所述的液晶显示组件，其特征在于，液晶显示组件还包括：

存储单元，存储有符合第二预设标准的多个色温补偿数值以及与每个色温补偿数值对应的电阻差值；

色温补偿单元，用于将当前的所述电阻差值与所述存储单元中的电阻差值进行比较，并在当前的电阻差值与存储单元中的电阻差值匹配时，利用存储单元中与当前电阻差值匹配的电阻差值对应的色温补偿数值对所述第一侦测点位对应的区域中的像素进行色温补偿。

8.如权利要求1所述的液晶显示组件，其特征在于，所述色温补偿单元用于对以所述第一侦测点位为中心的区域中所有的像素进行色温补偿，且补偿数值相同。

9.如权利要求1所述的液晶显示组件，其特征在于，所述像素包括蓝色子像素、绿色子像素及红色子像素，所述色温补偿单元根据所述电阻差值对所述第一侦测点位对应的区域中的像素进行色温补偿，包括如下中的任意一者：

提高对应第一侦测点位且发生mura的区域中蓝色子像素的亮度，且保持所述对应第一侦测点位且发生mura的区域中绿色子像素及红色子像素亮度不变；

降低对应第一侦测点位且发生mura的区域中绿色子像素及红色子像素的亮度，且保持所述对应第一侦测点位且发生mura的区域中蓝色子像素的亮度不变；

提高对应第一侦测点位且发生mura的区域中蓝色子像素的亮度，且降低所述对应第一侦测点位且发生mura的区域中绿色子像素及红色子像素的亮度。

10.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括如权利要求1-9任意一项所述的液晶显示组件。

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