CN114299881B - 像素电路的补偿方法及补偿装置 - Google Patents

Abstract

公开了一种像素电路的补偿方法和补偿装置，所述补偿方法包括：获取像素阵列中各个像素单元当前时刻和前一时刻的驱动电压；根据各个像素单元当前时刻和前一时刻的驱动电压获取各个像素单元的第一补偿系数，所述第一补偿系数为像素单元当前时刻与前一时刻的驱动电压之差的绝对值；当所述第一补偿系数大于第一阈值时，根据所述第一补偿系数和第一增益值产生第一补偿电压，所述第一补偿电压用于补偿相应像素单元当前时刻的驱动电压。本申请的像素电路的补偿方法，通过对当前时刻的像素单元或当前像素行进行电压补偿，降低了显示面板中驱动不足或串扰的情况，提高了显示效果。

Description

像素电路的补偿方法及补偿装置

技术领域

本发明涉及显示技术技术领域，特别涉及一种像素电路的补偿方法及补偿装置。

背景技术

相比于传统的液晶显示面板，有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)显示面板具有反应速度更快、对比度更高。视角更广且功耗更低等优点，并且已越来越多地被应用于高性能显示中。OLED显示面板中的像素电路一般采用矩阵驱动方式，根据每个像素单元中是否引入开关元器件，像素电路的驱动方式分为有源矩阵(ActiveMatrix，AM)驱动和无源矩阵(Passive Matrix，PM)驱动。

AMOLED在驱动像素电路时，每条源极(source)线上都会分时驱动若干个像素单元，由若干条源极线组成了整个屏体的像素驱动电路，如图1a所示。当每次刷新显示内容时，由源极线对各个像素单元进行驱动，并根据内容刷新方向的不同，分时将各个像素单元的驱动电压输送给像素单元。

串扰(crosstalk)就是由于在驱动像素电路时，如果前一行像素行Line(m-1)的驱动电压相较于当前像素行Line(m)的驱动电压变化较大时就会出现串扰现象。如图1b所示，若前一行像素行line(m-1)的驱动电压为255灰阶所对应的一个较低的电压值，与此同时，源极线上的寄生电容也处于较低的值，驱动电路分时驱动到像素行line(m)时，源极线上的电压由255灰阶所对应的一个较低的电压值切换成0灰阶所对应的一个较高的电压值，由于需要先将源极线上的寄生电容充满，所以会造成驱动电压的抖动，使得像素行line(m)像素采样时，像素电压未能达到目标值导致像素亮度发生变化。串扰的是基于行的像素电压驱动不足的现象。进一步地，还包括单个像素单元的驱动不足导致的显示不佳问题。

发明内容

鉴于上述问题，本发明的目的在于提供一种像素电路的补偿方法，通过对像素单元和/或像素行的驱动电压进行检测，超过阈值后产生补偿电压对当前时刻像素单元或当前像素行的驱动电压进行补偿，从而降低亮度不均的现象，提高显示品质。

根据本发明的一方面，提供一种像素电路的补偿方法，所述像素电路包括M行×N列的像素阵列，M、N均为大于0的自然数，所述补偿方法包括：获取像素阵列中各个像素单元当前时刻和前一时刻的驱动电压；根据各个像素单元当前时刻和前一时刻的驱动电压获取各个像素单元的第一补偿系数，所述第一补偿系数为像素单元当前时刻与前一时刻的驱动电压之差的绝对值；当所述第一补偿系数大于第一阈值时，根据所述第一补偿系数和第一增益值产生第一补偿电压，所述第一补偿电压用于补偿相应像素单元当前时刻的驱动电压。

可选地，所述第一补偿系数与第一增益值的乘积为第一补偿电压。

可选地，所述当前像素单元的第一增益值与所述当前像素单元在像素阵列中的物理位置相关。

可选地，所述像素阵列中驱动电压最大的像素单元的第一增益值最小，距离所述驱动电压最大的像素单元的距离最远的像素单元的第一增益值最大。

可选地，获得当前像素单元的第一增益值的方法包括：以像素阵列中驱动电压最大的像素单元为原点，以所述像素单元所在的像素行为x轴，以所述像素单元所在的像素列为y轴建立坐标系；设置像素阵列中距离原点像素单元的距离最远的像素单元的第一增益值；确认当前像素单元在所述坐标系中的物理位置；根据双线性插值法计算当前像素单元的第一增益值。

可选地，根据所述补偿系数和第一增益值产生第一补偿电压的步骤之后，还包括：获取像素阵列中当前像素行和前一像素行中各个像素单元的驱动电压；根据当前像素行和前一像素行中各个像素单元的驱动电压获得当前行像素行的特征值和前一像素行的特征值；当当前像素行的特征值和前一像素行的特征值均大于第二阈值时，获取当前像素行的第二补偿系数，所述第二补偿系数为当前像素行和前一像素行的特征值之差的绝对值；根据当前像素行的第二补偿系数和第二增益值产生第二补偿电压。

可选地，所述第二补偿电压为所述第二补偿系数与所述第二增益值的乘积。

可选地，所述第二增益值为所述像素阵列的测量值。

可选地，根据当前像素行的第二补偿系数和第二增益值产生第二补偿电压的步骤之后，还包括：当第二补偿系数大于第三阈值时，开启使能信号；以及根据所述第二补偿电压获得至少一个第三补偿电压，所述至少一个第三补偿电压用于补偿所述当前像素行之后的至少一行像素行。

可选地，所述第三补偿电压包括多个时，多个第三补偿电压依次衰减。

可选地，当像素行位于补偿行数中，又一次触发新的补偿时，所述第三补偿电压刷新，重新开始计算。

根据本发明的另一方面，提供一种像素电路的补偿装置，用于执行前述所述的补偿方法，包括：检测单元，与源极驱动单元连接，用于获取像素单元和/或像素行的驱动电压；补偿单元，与所述检测单元连接，用于根据像素单元的驱动电压产生第一补偿电压和/或根据像素行的驱动电压产生第二补偿电压，其中，所述第一补偿电压用于补偿当前像素单元的驱动电压，所述第二补偿电压用于补偿当前像素行的驱动电压。

可选地，所述检测单元包括：第一检测模块，用于获取像素单元的驱动电压，；第二检测模块，用于获取像素阵列中第m-1行和第m行像素行中每个像素单元的驱动电压；根据每个像素行中像素单元的驱动电压获得像素行的特征值λ(m-1)和λ(m)，其中，m为大于0且小于等于M的自然数。

可选地，所述补偿单元包括：第一补偿模块，当像素单元在t-1时刻和t时刻的驱动电压之差大于第一阈值时，根据像素单元在t-1时刻和t时刻的驱动电压之差和第一增益值获得第一补偿电压；第二补偿模块，在所述特征值λ(m-1)和λ(m)均大于第二阈值时，根据所述第二补偿系数和第二增益值获得第二补偿电压。

可选地，所述补偿单元还包括：第三补偿模块，在所述第二补偿系数大于第三阈值时，根据所述第二补偿电压获得至少一个第三补偿电压。

本发明提供的像素电路的补偿方法，AMOLED驱动芯片通过统计每个像素行中每个像素单元在t-1时刻与t时刻的电压变化值，当电压变化值超过第一阈值时，认为出现驱动电压不足的现象，计算当前像素单元的第一补偿电压，从而对当前像素单元的驱动电压进行补偿，改善由于驱动电压不足而导致的亮度不均的现象，提高显示品质。

进一步地，AMOLED驱动芯片通过对m-1行和m行像素行中的多个像素单元的驱动电压统计计算每个像素行的驱动电压的特征值，通过比较相邻两行像素行的特征值，当两个特征值均超过第二阈值时，认为当前像素行会发生串扰现象，根据特征值的差值第二补偿系数计算获得第二补偿电压，从而对当前像素行的驱动电压进行补偿，改善因相邻像素行之间的驱动电压变化过大或压降导致的串扰和亮度不均现象，提高显示品质。进一步，在对当前像素行进行补偿时，对当前像素行之后的至少一行像素行也进行相应的补偿，降低因第一补偿电压而导致的显示不佳的问题。

进一步地，本发明提供的像素电路的补偿装置，采用像素电路内部的AMOLED驱动芯片的内部结构和算法，对像素单元和/或像素行进行监测，以及根据监测结果形成第一补偿电压和/或第二补偿电压，对相应像素单元和/或像素行进行电压补偿，从而降低像素电路中的串扰和驱动不足的情况。同时该方法适用于目前市面上绝大部分存在串扰和驱动不足的AMOLED的像素电路，能够有效改善其因串扰和驱动不足导致的亮度不均的情况。

附图说明

通过以下参照附图对本发明实施例的描述，本发明的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：

图1a示出了根据现有技术的像素电路的结构图；

图1b示出了根据现有技术的像素电路的串扰的电压图；

图2示出了根据本发明实施例的像素电路的结构图；

图3示出了根据本发明实施例的补偿电路的结构图；

图4示出了根据本发明第一实施例的像素电路的补偿方法的流程图；

图5示出了根据本发明第一实施例的像素电路的补偿方法的物理位置的计算图；

图6示出了根据本发明第二实施例的像素电路的补偿方法的流程图。

具体实施方式

以下将参照附图更详细地描述本发明。在各个附图中，相同的元件采用类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。此外，可能未示出某些公知的部分。为了简明起见，可以在一幅图中描述经过数个步骤后获得的半导体结构。

应当理解，在描述器件的结构时，当将一层、一个区域称为位于另一层、另一个区域“上面”或“上方”时，可以指直接位于另一层、另一个区域上面，或者在其与另一层、另一个区域之间还包含其它的层或区域。并且，如果将器件翻转，该一层、一个区域将位于另一层、另一区域“下面”或“下方”。

如果为了描述直接位于另一层、另一区域上面的情形，本文将采用“直接在……上面”或“在……上面并与之邻接”的表述方式。

图1a示出了根据现有技术的像素电路的结构图；图1b示出了根据现有技术的像素电路的串扰的电压图。

参考图1a和图1b，像素电路1000至少包括：显示面板1200和AMOLED驱动芯片1100，AMOLED驱动芯片包括栅极驱动单元120和源极驱动单元130。显示面板1200中包括形成M行×N列的呈矩阵排列的多个像素单元220，M、N均为大于0的自然数，栅极驱动单元120和源极驱动单元130分别与像素单元220连接。

像素单元220接收扫描电压和驱动电压(数据电压)以实现显示功能。其中，栅极驱动单元120通过扫描线向M行像素行提供扫描电压，源极驱动单元130通过数据线(源极驱动线)向N列像素列提供驱动电压。驱动电压分时驱动像素阵列，同一时间点亮任一行像素行210，例如源极驱动单元130在前一时刻给m-1行(1≤m≤M)的像素单元220提供驱动电压，在当前时刻给第m行的像素单元提供驱动电压。

当这两行像素行的驱动电压的变化较大时，就会出现串扰(crosstalk)现象。参考图1a和图1b，第m-1行像素行的驱动电压为255灰阶所对应的一个较低的电压值时，源极驱动线上的寄生电容也处于较低的值，当源极驱动单元130分时驱动到第m行像素行时，若驱动电压由255所对应的一个较低的电压值切换成0灰阶所对应的一个较高的电压值时，由于需要先将源极驱动线中的寄生电容充满，所以会造成驱动电压的抖动，如图1b所示，使得对第m行像素行进行采样时，像素电压未能达到目标值而导致像素亮度发生变化，从而出现串扰现象，即串扰是基于像素行的像素电压驱动不足导致的现象。

进一步地，驱动不足还出现在像素阵列中的单个像素单元上，例如一个像素单元在t-1时刻和t时刻接收驱动电压时，由于驱动电压在快速大幅度翻转的过程中，充电速度不够快导致采样时驱动电压无法达到目标值的情况，以及由于每个像素行的源极线长度不同导致压降造成的X方向上的驱动电压不足，以及ELVDD上的压降导致的Y方向上的驱动不足。

本申请的发明人注意到上述问题，提出了一种像素电路的补偿方法及补偿装置。

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。

图2示出了根据本发明实施例的像素电路的结构图；图3示出了根据本发明实施例的补偿电路的结构图。

本发明实施例的像素电路2000相较于现有技术，增加了补偿装置340。补偿装置340位于源极驱动单元130与显示面板1200之间，用于对源极驱动单元130的驱动电压进行补偿，从而提高显示面板的显示效果。

参考图2，补偿装置340采用像素电路中AMOLED驱动芯片1100内部已有的电路结构及其内部算法完成，该实施例中，补偿装置340位于AMOLED驱动芯片中。

在本申请中，驱动电压是针对列的，但是由于采用分时驱动方法，在进行图像显示时，是针对像素行显示的，即驱动电压在同一时刻提供不同像素列中位于同一像素行的像素单元的驱动电压，在下一时刻提供不同像素列中下一像素行中的像素单元的驱动电压。

补偿装置340通过对驱动电压进行检测，并对电压变化过大的像素行210和/或像素单元220对应的驱动电压进行补偿，使得显示面板1200的显示效果提升。

补偿装置340包括与源极驱动单元130连接的检测单元310以及补偿单元320。

其中，源极驱动单元130与多个像素列连接，并为像素列提供分时驱动电压。

检测单元310与源极驱动单元130连接，具体的与源极驱动单元130中的每个像素列驱动电压线连接，包括第一检测模块311和第二检测模块312。检测单元310首先通过第一检测模块311检测每个时刻时不同像素单元的驱动电压，然后第二检测模块312通过像素单元驱动电压获得像素行的特征值，进而检测同一像素行的驱动电压。

其中，在第一检测模块311检测像素单元的驱动电压时，会将不同时刻不同像素单元的驱动电压进行记录，以便对同一像素单元不同时刻的驱动电压进行检测，当检测到同一像素单元在t时刻的驱动电压比t-1时刻的驱动电压的变化程度超过第一阈值时，对t时刻的像素单元进行电压补偿。

此外，第二检测模块312会基于第一检测模块311记录的像素单元的驱动电压，统计计算出每个像素行的驱动电压的特征值，并且对前一行Line(m-1)和当前像素行Line(m)的特征值进行比较，当这两个像素行的特征值均超过第二阈值时，对当前像素行Line(m)的驱动电压进行补偿。

补偿单元320与检测单元310连接，包括第一补偿模块321、第二补偿模块322和第三补偿模块323。

第一补偿模块321具体地与检测单元310中的第一检测模块311连接，当第一检测模块311检测到同一像素单元在t-1时刻和t时刻的第一补偿系数超过第一阈值时，第一补偿模块321根据两个驱动电压的电压差值乘上第一增益值得到第一补偿电压，并将第一补偿电压提供给t时刻的像素单元的驱动电压进行补偿，第一补偿系数为像素单元当前时刻与前一时刻的驱动电压之差的绝对值。第一增益值与像素单元在显示面板1200中的物理位置有关，同时与显示面板1200的驱动电压最大的位置有关，具体的，首先确认当前像素单元的物理位置，按照双线性插值法计算增益值像素单元距离显示面板1200驱动电压最强的位置越远，第一增益值越大。

第二补偿模块322具体地与检测单元310中的第二检测模块312连接，当第二检测模块312检测到相邻两个像素行之间驱动电压的特征值均大于第二阈值时，第二补偿模块322根据两个像素行的特征值获取第二补偿系数，且第二补偿系数乘上第二增益值得到第二补偿电压，并将第二补偿电压提供给当前像素行Line(m)进行补偿，其中，第二补偿系数为当前像素行和前一像素行的特征值之差的绝对值。在获取第二增益值时，不同的显示面板1200对应的第二增益值不同，但是同一批次生产的显示面板的第二增益值相同，即第二增益值是显示面板1200生产后通过测试可以确定的数值。本领域的技术人员可以根据显示面板1200的不同，设置不同的第二增益值。

第三补偿模块323具体地与第二补偿模块322连接，当第二补偿模块322根据两个像素行的特征值获取第二补偿系数时，第三补偿模块323判断第二补偿系数与第三阈值的大小关系。在第二补偿系数大于等于第三阈值时，第三补偿模块323开启使能信号，并根据第二补偿电压产生至少一个第三补偿电压。第三补偿电压的数量可以设置，当多个第三补偿电压的数值逐行衰减，此外，若一像素行本身处于补偿行数中，但是又一次触发新的补偿，则该像素行的第三补偿电压需要重新计算。

在该实施例中，补偿装置340位于源极驱动单元130与显示面板1200之间，因此，可以理解的是，本申请的补偿装置340先对像素单元和/或像素行的驱动电压进行补偿，然后将补偿后的驱动电压给到相应的像素单元和/或像素行。

本申请的像素电路的补偿装置，通过AMOLED驱动芯片内部的算法和结构对像素行和像素单元的驱动电压进行检测，超过阈值的情况下产生对应的驱动电压进行补偿，从而降低显示面板亮度不均的情况，提高显示品质，同时也能够在不改变显示面板工艺的前提下，适用于大部分的AMOLED显示装置。

图4示出了根据本发明第一实施例的像素电路的补偿方法的流程图，图5示出了根据本发明第一实施例的像素电路的补偿方法的物理位置的计算图，具体流程包括：

步骤S01：获取像素阵列中各个像素单元当前时刻和前一时刻的驱动电压。

在像素阵列中，由于显示内容的不同，像素单元的驱动电压会发生变化，本实施例以像素阵列中第m行第n列、t时刻的像素单元为当前像素单元，t-1时刻的像素单元为前一时刻的像素单元进行描述。

在t-1时刻像素单元Line(m，n)的驱动电压与t时刻像素单元Line(m，n)的驱动电压变化过大，或者由于物理位置和电压线的压降，使得像素单元Line(m，n)的驱动电压不足，因此需要对像素单元的驱动电压进行检测，以便能够及时对其提供补偿电压，以提高显示面板的显示效果。

其中，通过检测单元310中的第一检测模块311对每个像素单元的驱动电压进行检测和记录。

步骤S02：根据各个像素单元当前时刻和前一时刻的驱动电压获取各个像素单元的第一补偿系数。

由于本申请中将像素单元作为一个最小的检测单元，因此，仅通过单个像素单元在时间上的第一补偿系数即可判断是否需要补偿。第一检测模块311通过计算获得当前像素单元Line(m，n)第一补偿系数，第一补偿系数为像素单元当前时刻(t时刻)与前一时刻(t-1时刻)的驱动电压之差的绝对值，第一补偿系数用于表示像素单元Line(m，n)在t-1时刻和t时刻的驱动电压的变化程度，当变化程度大时，说明会影响显示效果。

步骤S03：判断第一补偿系数与第一阈值的大小。

将通过像素单元Line(m，n)在t-1时刻和t时刻的驱动电压获得的第一补偿系数与第一阈值进行比较，当第一补偿系数大于第一阈值时，认为像素单元Line(m，n)会在t时刻产生驱动不足的情况，执行步骤S04。

步骤S04：根据第一补偿系数和第一增益值产生第一补偿电压。

第一补偿模块321在第一补偿系数大于第一增益值的情况下，确认像素单元Line(m，n)的物理位置，并按照双线性插值法计算出第一增益值，然后根据第一补偿系数乘上第一增益值获得像素单元Line(m，n)的第一补偿电压，最终像素单元Line(m，n)在t时刻的驱动电压大小为第一补偿电压与补偿之前的驱动电压之和。

在该实施例中，参考图5所示的附图，显示面板1200的像素阵列为M行×N列，以显示面板1200中驱动电压最大的像素单元为坐标原点，然后以原点所在的像素行为x轴，以原点所在的像素列为y轴，在显示面板1200中建立坐标系，则图5中距离原点的像素单元距离最远的像素单元的坐标为(-N/2,M)和(N/2,M)。由于原点为驱动电压最大的位置，因此认为原点处的像素单元的第一增益值为0，距离原点距离最远的像素单元的第一增益值为100，其他的像素单元根据距离原点的距离不同，其第一增益值相应发生变化。其中，原点为驱动电压最大的像素单元，是指在相同的驱动电压下，经由源极线到达像素单元后，压降最小的像素单元。

在该实施例中，像素单元Line(m，n)的第一增益值可以根据当前像素单元在坐标系中的物理位置，按照双线性插值计算出第一增益值，然后根据像素单元的驱动电压的第一补偿系数乘上相应的第一增益值得到像素单元的第一补偿电压。

在其他实施例中，本领域的技术人员也可以根据需要设置不同的最大第一增益值，例如为1或10等。

在该实施例中，通过对像素单元Line(m，n)在t时刻的驱动电压进行补偿，可以提高显示面板的显示效果。

图6示出了根据本发明第二实施例的像素电路的补偿方法的流程图。

步骤S11：获取像素阵列中当前像素行和前一像素行中各个像素单元的驱动电压。

在像素阵列中，由于分时驱动的原因，显示是按像素行进行的，因此，源极驱动单元130同时给N列中同一行的像素单元提供驱动电压。而不同像素行的驱动电压不同，可能存在前一像素行Line(m-1)的驱动电压与当前像素行Line(m)的驱动电压变化过大而导致的串扰，或者由于源极线的压降而导致的显示面板显示效果不佳的情况，因此需要对每个像素行的驱动电压进行检测，以便能够及时对其提供补偿电压，以提高显示面板的显示效果。

其中，通过检测单元310中的第二检测模块312对每个像素行的驱动电压进行检测。

步骤S12：根据当前像素行和前一像素行中各个像素单元的驱动电压获得当前行像素行的特征值和前一像素行的特征值。

在该步骤中，由于每个像素行又包括多个像素单元，每个像素单元之间的驱动电压也可以不同，因此，采用特征值λ来对每个像素行的驱动电压进行表征。

第二检测模块312通过对前一像素行Line(m-1)和当前像素行Line(m)中N个像素单元对应的驱动电压进行计算获得分别获得前一像素行Line(m-1)的特征值λ(m-1)和当前像素行Line(m)的特征值λ(m)。

步骤S13：判断当前像素行的特征值和前一像素行的特征值与第二阈值的大小关系。

在该步骤中，将前一像素行的特征值λ(m-1)和当前像素行的特征值λ(m)分别与第二阈值进行比较，当前一像素行的特征值λ(m-1)和当前像素行的特征值λ(m)均大于第二阈值时，认为当前像素行Line(m)会出现串扰或驱动不足的情况，需要进行电压补偿，执行步骤S14。

第二阈值例如为通过测试计算得出的不影响显示面板的显示效果的一个值，以此作为标准，大于第二阈值即认为会出现驱动不足或串扰。

步骤S14：获取当前像素行的第二补偿系数，并根据当前像素行的第二补偿系数和第二增益值产生第二补偿电压。

在进行电压补偿时，需要根据当前像素行Line(m)与像素行Line(m-1)的第二补偿系数进行计算，以获得合适的第二补偿电压，以免出现补偿不足或补偿过足而导致的显示不加情况。第二补偿系数为当前像素行和前一像素行的特征值之差的绝对值。

其中，第二补偿模块322根据相邻两个像素行的第二补偿系数乘上第二增益值获得当前像素行Line(m)的第二补偿电压，第二增益值为显示面板1200的一个可设的测量值，一般情况下，显示面板生产后，其第二增益值通过测量可以获得。在其他实施例中，第二增益值也可以是由本领域的技术人员根据经验设定的一个值。

进一步，根据第二补偿系数的大小情况，还会对当前像素行Line(m)之后的至少一行像素行Line(m+1)也补偿不同程度的第三补偿电压，以降低由于对当前像素行Line(m)进行电压补偿而导致的其他行发生的串扰或驱动不足情况。

在该实施例中，第三补偿电压的开启或关闭通过使能信号来控制，例如当第二补偿系数大于第三阈值时，打开使能信号，使得补偿单元320针对当前像素行Line(m)之后的至少一行产生相应的第三补偿电压。

进一步地，在对当前像素行Line(m)之后的像素行提供第三补偿电压时，具体的补偿行数可以设定，例如为两行(像素行Line(m+1)和Line(m+2))。此外，在对当前像素行Line(m)之后的像素行提供第三补偿电压时，补偿值会在设定的补偿行数中，逐行衰减，衰减的系数可以设定。

进一步地，如果在补偿行数中，又一次触发新的补偿，则第三补偿电压会刷新，重新开始计算。

本申请的第二实施例的像素电路的补偿方法，通过对像素行进行电压补偿，降低了因相邻像素行之间的驱动电压变化过大而导致的串扰或驱动不足的情况，从而提高了显示面板的显示效果。

此外，第二实施例的针对像素行的补偿方法，可以与第一实施例的针对像素单元的补偿方法同时进行，两者互不干扰，或者第二实施例的针对像素行的补偿方法可以在第一实施例的针对像素单元的补偿方法的前提下进行。

本发明提供的像素电路的补偿方法，AMOLED驱动芯片通过统计每个像素行中每个像素单元在t-1时刻与t时刻的电压变化值，当电压变化值超过第一阈值时，认为出现驱动电压不足的现象，计算当前像素单元的第一补偿电压，从而对当前像素单元的驱动电压进行补偿，改善由于驱动电压不足而导致的亮度不均的现象，提高显示品质。

进一步地，AMOLED驱动芯片通过像素行中的多个像素单元的驱动电压统计计算每个像素行的驱动电压的特征值，通过比较相邻两行像素行的特征值，当两个特征值均超过第二阈值时，认为当前像素行会发生串扰现象，根据特征值的差值计算获得第二补偿电压，从而对当前像素行的驱动电压进行补偿，改善因相邻像素行之间的驱动电压变化过大或压降导致的串扰和亮度不均现象，提高显示品质。进一步，在对当前像素行进行补偿时，对当前像素行之后的至少一行像素行也进行相应的补偿，降低因第一补偿电压而导致的显示不佳的问题。

进一步地，本发明提供的像素电路的补偿装置，采用像素电路内部的AMOLED驱动芯片的内部结构和算法，对像素单元和/或像素行进行监测，以及根据监测结果形成第一补偿电压和/或第二补偿电压，对相应像素单元和/或像素行进行电压补偿，从而降低像素电路中的串扰和驱动不足的情况。同时该方法适用于目前市面上绝大部分存在串扰和驱动不足的AMOLED的像素电路，能够有效改善其因串扰和驱动不足导致的亮度不均的情况。

依照本发明的实施例如上文所述，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (14)

1.一种像素电路的补偿方法，其特征在于，所述像素电路包括M行×N列的像素阵列，M、N均为大于0的自然数，所述补偿方法包括：

获取像素阵列中各个像素单元当前时刻和前一时刻的驱动电压；

根据各个像素单元当前时刻和前一时刻的驱动电压获取各个像素单元的第一补偿系数，所述第一补偿系数为像素单元当前时刻与前一时刻的驱动电压之差的绝对值；

当所述第一补偿系数大于第一阈值时，根据所述第一补偿系数和第一增益值产生第一补偿电压，所述第一补偿电压用于补偿相应像素单元当前时刻的驱动电压，

其中，所述像素阵列中驱动电压最大的像素单元的第一增益值最小，距离所述驱动电压最大的像素单元的距离最远的像素单元的第一增益值最大。

2.根据权利要求1所述的补偿方法，其特征在于，所述第一补偿系数与第一增益值的乘积为第一补偿电压。

3.根据权利要求2所述的补偿方法，其特征在于，当前像素单元的第一增益值与所述当前像素单元在像素阵列中的物理位置相关。

4.根据权利要求1所述的补偿方法，其特征在于，获得当前像素单元的第一增益值的方法包括：

以像素阵列中驱动电压最大的像素单元为原点，以所述像素单元所在的像素行为x轴，以所述像素单元所在的像素列为y轴建立坐标系；

设置像素阵列中距离原点像素单元的距离最远的像素单元的第一增益值；

确认当前像素单元在所述坐标系中的物理位置；

根据双线性插值法计算当前像素单元的第一增益值。

5.根据权利要求1所述的补偿方法，其特征在于，根据所述补偿系数和第一增益值产生第一补偿电压的步骤之后，还包括：

获取像素阵列中当前像素行和前一像素行中各个像素单元的驱动电压；

根据当前像素行和前一像素行中各个像素单元的驱动电压获得当前行像素行的特征值和前一像素行的特征值；

当当前像素行的特征值和前一像素行的特征值均大于第二阈值时，获取当前像素行的第二补偿系数，所述第二补偿系数为当前像素行和前一像素行的特征值之差的绝对值；

根据当前像素行的第二补偿系数和第二增益值产生第二补偿电压。

6.根据权利要求5所述的补偿方法，其特征在于，所述第二补偿电压为所述第二补偿系数与所述第二增益值的乘积。

7.根据权利要求6所述的补偿方法，其特征在于，所述第二增益值为所述像素阵列的测量值。

8.根据权利要求5所述的补偿方法，其特征在于，根据当前像素行的第二补偿系数和第二增益值产生第二补偿电压的步骤之后，还包括：

当第二补偿系数大于第三阈值时，开启使能信号；以及

根据所述第二补偿电压获得至少一个第三补偿电压，所述至少一个第三补偿电压用于补偿所述当前像素行之后的至少一行像素行。

9.根据权利要求8所述的补偿方法，其特征在于，所述第三补偿电压包括多个时，多个第三补偿电压依次衰减。

10.根据权利要求9所述的补偿方法，其特征在于，当像素行位于补偿行数中，又一次触发新的补偿时，所述第三补偿电压刷新，重新开始计算。

11.一种像素电路的补偿装置，用于执行权利要求1-10任一项所述的补偿方法，其特征在于，包括：

检测单元，与源极驱动单元连接，用于获取像素单元和/或像素行的驱动电压；

补偿单元，与所述检测单元连接，用于根据像素单元的驱动电压产生第一补偿电压和/或根据像素行的驱动电压产生第二补偿电压，

其中，所述第一补偿电压用于补偿当前像素单元的驱动电压，所述第二补偿电压用于补偿当前像素行的驱动电压。

12.根据权利要求11所述的补偿装置，其特征在于，所述检测单元包括：

第一检测模块，用于获取像素单元的驱动电压；

第二检测模块，用于获取像素阵列中第m-1行和第m行像素行中每个像素单元的驱动电压；根据每个像素行中像素单元的驱动电压获得像素行的特征值λ(m-1)和λ(m)，其中，m为大于0且小于等于M的自然数。

13.根据权利要求12所述的补偿装置，其特征在于，所述补偿单元包括：

第一补偿模块，当像素单元在t-1时刻和t时刻的驱动电压之差大于第一阈值时，根据像素单元在t-1时刻和t时刻的驱动电压之差和第一增益值获得第一补偿电压；

第二补偿模块，在所述特征值λ(m-1)和λ(m)均大于第二阈值时，根据第二补偿系数和第二增益值获得第二补偿电压。

14.根据权利要求13所述的补偿装置，其特征在于，所述补偿单元还包括：

第三补偿模块，在所述第二补偿系数大于第三阈值时，根据所述第二补偿电压获得至少一个第三补偿电压。

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