JP7303120B2 - ディスプレイパネル用の光学補償方法及び光学補償装置 - Google Patents

Description

本願は、２０１８年２月２７日に提出した中国特許出願第２０１８１０１６１０８３．０号の優先権を主張し、上記中国特許出願に開示されている全内容が引用により本願に組み込まれる。

本開示の実施例は、ディスプレイパネル用の光学補償方法及び光学補償装置に関する。

液晶ディスプレイ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ、ＬＣＤ）に比べて、有機発光ダイオード（Ｏｒｇａｎｉｃ Ｌｉｇｈｔ－Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ、ＯＬＥＤ）表示装置は、高コントラスト、超軽量・薄型化、可撓性などの多数の利点を有するため、高性能表示への応用が進められている。従来、輝度均一性及び残像は、ＯＬＥＤにとって２つの主な課題である。ＯＬＥＤの輝度均一性及び残像に係る技術的問題を解決するために、プロセスを改善することの以外、補償技術も考えられる。

本開示の少なくとも１つの実施例は、ディスプレイパネル用の光学補償方法及び光学補償装置を提供する。

本開示の少なくとも１つの実施例は、ディスプレイパネル用の光学補償方法を提供し、前記ディスプレイパネルは、本体領域と、前記本体領域の周辺に位置するエッジ領域とを備え、前記光学補償方法は、前記エッジ領域における補償すべき画素ブロックを選択することと、前記本体領域における少なくとも１つの画素ブロックの画素補償パラメータを取得して、前記補償すべき画素ブロックの画素補償パラメータとすることと、を含む。

たとえば、前記本体領域における少なくとも１つの画素ブロックの画素補償パラメータを取得して、前記補償すべき画素ブロックの画素補償パラメータとすることは、前記本体領域における補償すべき第２画素ブロックに最も近い第１画素ブロックの画素補償パラメータを取得して、前記第２画素ブロックの画素補償パラメータとすることを含む。

たとえば、前記ディスプレイパネルに位置する画素ブロックは、行方向及び列方向に配列されており、前記本体領域における少なくとも１つの画素ブロックの画素補償パラメータを取得して、前記補償すべき画素ブロックの画素補償パラメータとすることは、前記第２画素ブロックと第１画素ブロックとの、行揃え又は列揃えを含む揃え方式を決定することと、前記揃え方式によって、前記第２画素ブロックの画素補償パラメータを、前記第２画素ブロックと同一行又は同一列にある複数の補償すべき第３画素ブロックの画素補償パラメータとすることと、をさらに含む。

たとえば、前記本体領域における少なくとも１つの画素ブロックの画素補償パラメータを取得して、前記補償すべき画素ブロックの画素補償パラメータとすることの前に、前記エッジ領域内には前記本体領域における前記第１画素ブロックに対して行揃え及び列揃えとなっていない補償すべき第４画素ブロックが存在するか否かを判断することと、前記エッジ領域内には前記第４画素ブロックが存在する場合、前記第４画素ブロックが位置する領域を前記エッジ領域のコーナー領域とすることと、をさらに含む。

たとえば、前記コーナー領域に最も近い前記第１画素ブロックの画素補償パラメータを、該コーナー領域における前記第４画素ブロックの画素補償パラメータとし、同一の前記コーナー領域に位置する前記第４画素ブロックの画素補償パラメータは、いずれも同じである。

たとえば、ディスプレイパネルの前記本体領域における少なくとも１つの画素ブロックの画素補償パラメータを取得することは、前記ディスプレイパネルが表示した画面データを収集することと、前記画面データの色／輝度の分布に基づいて、前記本体領域における少なくとも１つの画素ブロックとテスト画面における少なくとも１つの画素ブロックの色／輝度の差を識別することと、前記本体領域における少なくとも１つの画素ブロックとテスト画面における少なくとも１つの画素ブロックとの色／輝度の差によって、補償アルゴリズムで前記本体領域における少なくとも１つの画素ブロックの画素補償パラメータを取得することと、を含む。

たとえば、前記画素補償パラメータは、前記本体領域における少なくとも１つの画素ブロックに基づいて算出されるオフセット及びゲインを含む。

たとえば、前記ディスプレイパネルが表示した画面データを収集することは、カメラによる撮影により前記ディスプレイパネルが表示した画面データを取得することを含む。

たとえば、前記補償アルゴリズムは、光学補償アルゴリズムを含む。

たとえば、前記ディスプレイパネルが表示した画面データを収集したことの後、前記画面データの色／輝度の分布に基づいて、前記ディスプレイパネルにおける画素ブロックとテスト画面における画素ブロックの色／輝度の差を識別し、前記色／輝度の差の大きさによって前記ディスプレイパネルを前記エッジ領域と前記本体領域とに区画することを含み、前記エッジ領域の前記色／輝度の差は、前記本体領域の前記色／輝度の差より大きい。

たとえば、光学補償方法は、前記ディスプレイパネルの本体領域における画素ブロックの画素補償パラメータ及び前記エッジ領域における補償すべき画素ブロックの調整された画素補償パラメータを読み取ることと、前記本体領域の画素補償パラメータ及び前記エッジ領域の調整された画素補償パラメータを前記ディスプレイパネルに入力して、前記ディスプレイパネルに用いられる表示操作を補償することと、をさらに含む。

たとえば、前記ディスプレイパネルの本体領域及びエッジ領域を選択することは、前記ディスプレイパネルの輝度のテスト結果を取得し、前記テスト結果に基づいて前記ディスプレイパネルを低輝度の前記エッジ領域と高輝度の前記本体領域とに区画し、又は、前記ディスプレイパネルを、少なくとも１つのエッジ領域と少なくとも１つの本体領域とを含む複数の領域に予め区画することを含む。

たとえば、前記ディスプレイパネルは、前記本体領域に位置する平面部分及び前記エッジ領域に位置する曲面部分を有する曲面スクリーンを含む。

たとえば、前記画素ブロックは、Ｎ＊Ｍ個の画素を含み、Ｎが１－１０の整数であり、Ｍが１－１０の整数である。

本開示の少なくとも１つの実施例は、プロセッサ、及び、前記プロセッサによりロードされて上記ディスプレイパネル用の光学補償方法を実行することに適したコンピュータプログラム命令を記憶するように構成されるメモリを備える光学補償装置を提供する。

たとえば、光学補償装置は、前記ディスプレイパネルが表示した画面を撮影し、前記画面を前記プロセッサに送信して、前記ディスプレイパネルの前記本体領域における画素ブロックの画素補償パラメータを取得するように構成されるカメラをさらに備える。

以下、本開示の実施形態の技術案をさらに明確にするように、実施形態の図面を簡単に説明する。なお、下記の実施形態は、本開示の実施形態の一部であり、本開示を制限するものではない。
本開示の実施例によるＯＬＥＤ画素回路の模式図である。 本開示の実施例による外部光学補償システムの模式図である。 本開示の実施例による光学補償装置の模式図である。 本開示の実施例による光学補償装置の模式図である。 本開示の実施例によるディスプレイパネル用の光学補償方法の模式的なフローチャートである。 本開示の実施例によるディスプレイパネルが区画される複数の領域の模式図である。 本開示の実施例によるディスプレイパネルにおける画素ブロックの模式図である。 本開示の実施例によるディスプレイパネルにおける画素ブロックの模式図である。 本開示の一実施例においてコーナー領域を判断する論理図である。 本開示の実施例によるディスプレイパネルにおける画素ブロックの模式図である。 本開示の一実施例によるディスプレイパネルの平面構造模式図である。 図９Ａに示したディスプレイパネルの断面構造模式図である。

当業者が本開示の技術案をよく理解できるように、以下、本開示の実施例における図面を参照しながら、本開示の実施例に記載の技術案を明瞭で且つ完全に説明するが、明らかなように、説明された実施例は、本開示の実施例の一部に過ぎず、すべての実施例ではない。本開示の実施例に基づいて、当業者が創造的な労働をしない前提で得られる全ての他の実施例は、いずれも本開示の特許範囲に属する。

なお、本開示の明細書、請求項及び上記図面における「第１」、「第２」などの用語は、類似した対象を区別するためのものであり、特定の順番又は順番の前後を示すためのものではない。このような数字は、ここで説明される本開示の実施例がここで図示又は説明する以外の順番で実施できるように、適宜交換されて使用されてもよいことは、理解されるべきである。また、「含む」、「有する」の用語やこれらの任意の変形は、排他的に含むことではないと意図し、たとえば、一連のステップ又はユニットを含むプロセス、方法、システム、製品又は装置は、挙げられているステップ又はユニットに制限されることではない、明記されていない又はこれらプロセス、方法、製品又は装置に固有のほかのステップ又はユニットを含んでもよい。

一般に、電界発光ディスプレイパネルは、アクティブマトリックス発光ダイオード（ＡＭＯＬＥＤ）ディスプレイパネル、アクティブマトリックス量子ドット発光ダイオード（ＡＭＯＬＥＤ）ディスプレイパネル、パッシブマトリクス有機発光ダイオード（ＰＭＯＬＥＤ）ディスプレイパネル及びパッシブマトリクス量子ドット発光ダイオード（ＰＭＱＬＥＤ）ディスプレイパネルを含む。電界発光ディスプレイパネルは、さまざまな分野に幅広く適用できる。電界発光ディスプレイパネルは、たとえば、ビジネスの分野で、ＰＯＳ機器、ＡＴＭ機、コピー機やゲーム機などに適用でき、通信分野で、携帯電話、移動ネットワーク端末などに適用でき、コンピュータ分野で、ＰＤＡ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ Ｄｉｇｉｔａｌ Ａｓｓｉｓｔａｎｔ、パームトップパソコン）、ビジネス用ＰＣ（ｐｅｒｓｏｎａｌ ｃｏｍｐｕｔｅｒ、パソコン）や家庭用ＰＣ、ノートパソコンなどに適用でき、一般消費者に向ける電子製品分野で、音響機器、デジタルカメラ、携帯式ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｉｄｅｏ Ｄｉｓｃ、高密度デジタルビデオディスク）などに適用でき、工業的用途の分野で、計器やメータなどに適用でき、交通分野で、ＧＰＳ（Ｇｌｏｂａｌ Ｐｏｓｉｔｉｏｎｉｎｇ Ｓｙｓｔｅｍ、全地球測位システム）、飛行機計器などに適用できる。

たとえば、ＡＭＯＬＥＤ用の一般的なＯＬＥＤ画素回路は、図１に示すように、２つの薄膜トランジスタ１０１及び１つのコンデンサを備え、この画素回路は、２Ｔ１Ｃ画素回路と呼ばれてもよい。中小型ＯＬＥＤディスプレイパネルでは、移動率が高く、占める面積が小さくて、高ＰＰＩ（Ｐｉｘｅｌｓ Ｐｅｒ Ｉｎｃｈ、１インチあたりの画素数）により適用されている低温多結晶シリコン薄膜トランジスタ（ＬＴＰ－Ｓｉ ＴＦＴ）が使用される場合が多く、大型ＯＬＥＤディスプレイパネルでは、均一性に優れ、プロセスが一般的なアモルファスシリコン薄膜トランジスタ（ａ－Ｓｉ ＴＦＴ）と互換性を有し、生産ラインを用いた生産により適用されている酸化物薄膜トランジスタが使用される場合が多い。

中小型ディスプレイパネルに使用されているＯＬＥＤ画素回路では、ＴＦＴを形成する多結晶シリコン活性層の結晶化プロセスには制限があるため、低温多結晶シリコン薄膜トランジスタは、位置によって、電気的パラメータ、たとえば閾値電圧、移動率などにムラがある場合が多くて、ＯＬＥＤディスプレイパネルの電流の差及び輝度の差が生じて、人の目により視認される（すなわち、ｍｕｒａ現象）。大型ディスプレイパネルに使用されているＯＬＥＤ画素回路では、酸化物薄膜トランジスタのプロセスには均一性が良好であるものの、長期間の加圧及び高温に晒されると、酸化物薄膜トランジスタの閾値電圧にドリフトが発生する。表示画面が異なると、パネルの各部分でのＴＦＴの閾値のドリフト量が異なり、その結果、表示輝度の差が生じる。このような差が前に表示された画像に繋がるため、一般的に残影の現象、すなわち、いわゆる残像として見られる。

現在の製造プロセスによれば、低温多結晶シリコン薄膜トランジスタにも酸化物薄膜トランジスタにも、均一性又は安定性の問題が存在し、且つＯＬＥＤ自体の輝度も点灯時間の増加に伴って劣化する。このような問題はプロセスにより完全に解決させることが困難であるため、さまざまな補償技術が必要である。

従来、ＯＬＥＤディスプレイパネルに生じた輝度ムラ及び残像の技術的問題は、内部補償技術又は外部補償技術によって解決できる。この内部補償技術とは、画素の内部でＴＦＴから構成される補償子回路によって補償する方法である。この外部補償技術とは、外部の駆動回路又は機器によって画素の電気的又は光学特性を検知した後、補償を行う方法である。

本願の発明者らは、研究したところ、外部の駆動回路又は機器によって画素の光学特性を検知して補償を行う電界発光ディスプレイパネル用の光学補償方法を見出した。たとえば、該光学補償方法では、カメラで電界発光ディスプレイパネルを撮影し、撮影した画像からこの電界発光ディスプレイパネルにおける各画素の光学特性を取得して、カメラにより検知された電界発光ディスプレイスクリーンにおける各画素の光学特性に基づいて光学補償を行う。しかし、この光学補償方法によれば、電界発光ディスプレイパネルの構造が平坦ではない場合、たとえばディスプレイパネルが曲面ディスプレイパネルである場合、光学補償された曲面ディスプレイパネルには、エッジの輝度がエッジ以外のものより高いという現象が生じる。

本開示の少なくとも１つの実施例は、光学補償された上記電界発光ディスプレイパネルにおいてエッジ部分の輝度がエッジ以外の部分のものより高いという問題を解決できる光学補償システムを提供する。この光学補償システムは、図２に示されている。なお、図２に示したハードウェア環境及び構造は、例示的なものに過ぎず、制限するためではなく、必要に応じて、ハードウェア環境は、ほかのユニット及び構造を備えてもよく、たとえば画像処理インテグレータなどをさらに備えてもよい。

たとえば、この光学補償システムは、図２に示した外部光学補償システムの模式図のように、ディスプレイパネル２０１及び光学補償装置２０２を備える。この光学補償装置２０２は、互いに有線又は無線方式で信号接続されるカメラ２０２１、データ処理ユニット２０２２及び制御ユニット２０２３を備える。

本開示の実施例では、ＡＭＯＬＥＤディスプレイパネルを例にして説明する。ＡＭＯＬＥＤディスプレイパネルは、画素配列のほか、データ復号回路、タイミングコントローラ（Ｔｃｏｎ）、グリッド駆動回路、データ駆動回路、記憶装置（たとえばフラッシュメモリなど）などを備え得る。データ復号回路は、表示の入力信号を受信して復号することで表示のデータ信号を得る。タイミングコントローラは、タイミング信号を出力してグリッド駆動回路、データ駆動回路などが同期して作動するように制御し、且つ、表示のデータ信号に対してガンマ処理を行い、処理された表示のデータ信号をデータ駆動回路に入力して表示操作を実行させることができる。たとえば、タイミングコントローラは、表示のデータ信号に対してガンマ処理を行うすると共に補償処理を行うことができ、たとえば、記憶装置から予め格納された画素補償パラメータを読み出し、この画素補償パラメータに基づいて表示のデータ信号をさらに処理して補償された表示のデータ信号を得て、ガンマ処理及び補償処理が終了した後に、表示のデータ信号をデータ駆動回路に出力して表示操作を実行させる。若しくは、ディスプレイパネルは、タイミングコントローラの制御により表示のデータ信号に対してガンマ処理及び補償処理などを行うようなガンマ処理回路を独立して備えてもよい。

一実施例では、光学補償装置２０２は、図３Ａに示すように、プロセッサ３０１及びメモリ３０２を備える。メモリ３０２は、プロセッサ３０１によりロードされてディスプレイパネル用の光学補償方法を実行させ（後述する）、図２における各機能モジュール（たとえば、データ処理ユニット２０２２及び制御ユニット２０２３）の機能を実現することに適したコンピュータプログラム命令を記憶するように構成される。プロセッサ３０１は、適用てきるさまざまなプロセッサ、たとえば中央プロセッサ、マイクロプロセッサ、組み込みプロセッサなどの形態によって実現可能であり、Ｘ８６、ＡＲＭなどの構造を使用できる。メモリ３０２は、適用できるさまざまな記憶装置、たとえば磁気記憶装置、半導体記憶装置、光記憶装置などを含むがこれらに制限されていない不揮発性記憶装置であってもよく、また、単一の記憶装置、記憶装置アレイ又は分散型記憶装置として配置してもよく、本開示の実施例ではそれについて制限しない。

たとえば、一実施例では、光学補償装置２０２は、図３Ｂに示すように、プロセッサ３０１、メモリ３０２及びカメラ３０３を備える。ここで、プロセッサ３０１及びメモリ３０２は、図３Ａに示したプロセッサ３０１及びメモリ３０２の構造及び機能と同じであり、説明は省略する。カメラ３０３は、ディスプレイパネルが表示した画面を撮影し、撮影した画面をプロセッサに送信してディスプレイパネルにおける複数の画素の表示パラメータを取得するように構成される。

たとえば、図２に示すように、光学補償装置２０２のデータ処理ユニット２０２２は、テスト画像を制御ユニット２０２３に送信し、制御ユニット２０２３は、このテスト画像を画素補償パラメータを取得するように処理して、取得された画素補償パラメータをディスプレイパネル２０１の記憶装置に入力し、格納させる。これにより、ディスプレイパネルが作動するときにディスプレイパネル２０１を駆動して画像を表示させる。上記のように制御ユニットが画素補償パラメータを取得することは、ディスプレイパネルにおけるすべての画素の画素補償パラメータを取得して、後続するディスプレイパネルが画像を表示するときに読み取りできるように記憶装置に格納させることを含む。又は、制御ユニットは、ディスプレイパネルの輝度のムラをリアルタイムに補償することのため、ディスプレイパネルにおける一部の画素の画素補償パラメータを取得する。カメラ２０２１は、所定のグレースケールでのテストされるディスプレイパネル２０１における各画素の輝度の情報を撮影により取得する。データ処理ユニット２０２２は、処理して各画素の実測輝度とグレースケールとの応答曲線を取得し、理想な輝度とグレースケールとの応答曲線に基づいてグレースケールを調整することにより輝度を変える方法、たとえば多項式で補償後のグレースケールと入力のグレースケールとに対して曲線フィッティングを行う方法によって、補償用の多項式係数を得て、この補償用の多項式係数を制御ユニット２０２３の制御によりディスプレイパネル２０１の記憶装置に書き込む。ディスプレイパネル２０１が正常に動作するとき、ディスプレイパネル２０１における制御ユニット（たとえばタイミングコントローラ）は、前記記憶装置から画素補償用の多項式係数を読み取って、処理することで画素のそれぞれに対してグレースケールごとの補正後のグレースケールを得るため、各画素の輝度均一性をリアルタイムに補償して、ディスプレイパネル２０１の輝度均一性を改善することができる。同様に、ＯＬＥＤディスプレイパネルにおける各画素の色を補償して均一させることもできる。

以下、輝度に対して補償することを例にして説明するが、本開示の実施例は、それに制限されない。

なお、カメラ２０２１は、ＣＣＤ（電荷結合デバイス）カメラやＣＭＯＳ（相補型金属酸化物半導体）カメラを含むが、これらに制限されない。ここでのカメラ２０２１は、たとえば高解像度・高精度のＣＣＤカメラである。

しかしながら、上記光学補償方法には、特にディスプレイパネル２０１の構造が平坦ではない場合、カメラ２０２１で画素ごとの正確な輝度を取得することが困難である。たとえば、ディスプレイパネル２０１は、より狭い額縁が実現できる２つの側辺又は４つの側辺が円弧状を有する曲面ディスプレイパネルであってもよい。この曲面ディスプレイパネル２０１をテストするときに、カメラ２０２１がディスプレイパネル２０１における曲面を有するエッジ部分での画素の正確な輝度を正確に取得できないため、曲面を有するエッジ部分の画素において、撮影により得られた輝度値がディスプレイパネル２０１での該部分の実際輝度値より小さく、その結果、光学補償されたディスプレイパネル２０１には、エッジ部分の輝度がエッジ以外の部分のものより高いという現象が生じる。

本開示の少なくとも１つの実施例は、図４に示すようなディスプレイパネル用の光学補償方法のフローチャートを提供した。たとえば、この方法は、上記のように光学補償された曲面ディスプレイパネルに発生した、ディスプレイパネルのエッジの輝度がエッジ以外のものより高いという問題を少なくとも解決できるように、光学補償装置２０２に適用し、プロセッサ３０１によりロードされて実行されてもよい。なお、図面のフローチャートに示されるステップは、たとえば、１組のコンピュータ実行可能命令を含むコンピュータシステムにおいて実行でき、且つ、フローチャートには論理的順番が示されているが、場合によって、これと異なる順番に従って示される又は説明されるステップを実行してもよい。図４に示すように、この方法は、
エッジ領域における補償すべき画素ブロックを選択するステップＳ４０１と、
本体領域における少なくとも１つの画素ブロックの画素補償パラメータを取得して、補償すべき画素ブロックの画素補償パラメータとするステップＳ４０２と、を含み得る。

上記画素ブロックは、少なくとも１つの画素を含み、すなわち、画素ブロックは、Ｎ＊Ｍ個の画素を含み、Ｎが１～１０の整数であり、Ｍが１～１０の整数である。

図５に示すように、ディスプレイパネルにおける画素ブロックＰは、行方向及び列方向に配列される。

たとえば、ディスプレイパネルの複数の画素ブロックの画素補償パラメータを取得するステップは、ＯＬＥＤディスプレイパネルは光学補償装置の制御ユニットから送信されたテスト画像（たとえば、均一なグレースケール画像）を受信し、該ＯＬＥＤディスプレイパネルが該テスト画像の画面を表示しているときにカメラで該ＯＬＥＤディスプレイパネルが表示した画面を撮影し、撮影された表示画面の画像をデータ処理ユニットに送信し、処理及び分析をして、ディスプレイパネルの対応する画素の表示パラメータ（たとえば色／輝度など）を取得することにより、ディスプレイパネルの画素ブロックのそれぞれの画素補償パラメータを取得することを含み得る。

たとえば、ディスプレイパネルが表示したテスト画像の画面データを収集し、画面データの色／輝度の分布に基づいて、ディスプレイパネルの各画素ブロックとターゲットテスト画面の各画素ブロックとの色／輝度の差を識別し、ディスプレイパネルの各画素ブロックとターゲットテスト画面の各画素ブロックとの色／輝度の差の大きさによってディスプレイパネルを本体領域とエッジ領域とに区画し、エッジ領域の色／輝度の差が本体領域の色／輝度の差より大きい。次に、本体領域の画素ブロックとターゲットテスト画面の画素ブロックとの色／輝度の差に基づいて、補償アルゴリズムで本体領域の画素ブロックの画素補償パラメータを取得する。

図２における光学補償装置２０２を参照しながら、光学補償を行う。たとえば、高解像度・高精度のＣＣＤカメラ２０２１でディスプレイパネル２０１が表示したテスト画像の画面データを収集して、ＣＣＤカメラ２０２１は画面データを撮影した後に撮影された画面データをデータ処理ユニット２０２２に送信する。データ処理ユニット２０２２は、収集された画面データに基づいて、ディスプレイパネルの各画素ブロックの色／輝度の分布の特徴を分析し、関連アルゴリズムによりディスプレイパネルの各画素ブロックとターゲットテスト画面の各画素ブロックとの色／輝度の差（すなわちｍｕｒａ）を識別し、該関連方法は、光学測定法を含むが、それに制限されない。次に、ディスプレイパネルの各画素ブロックのｍｕｒａデータ及び対応する光学補償アルゴリズムに基づいて、ディスプレイパネルの各画素ブロックの画素補償パラメータ、すなわちオフセット（ｏｆｆｓｅｔ）及びゲイン（ｇａｉｎ）を算出する。該光学補償アルゴリズムは、Ｄｅｍｕｒａ補償アルゴリズムを含むが、それに制限されない。

エッジ領域における補償すべき画素ブロックを選択した後、光学補償装置２０２により取得された本体領域の画素ブロックの画素補償パラメータを該補償すべき画素ブロックの画素補償パラメータとする。

本実施例は、それに制限されず、本体領域の画素の画素補償パラメータを取得すると同時に、エッジ領域の補償すべき画素ブロックの画素補償パラメータも取得し、次に補償すべき画素ブロックの画素補償パラメータを本体領域の画素の画素補償パラメータと一致するように調整する。

図５に示した例では、ディスプレイパネル２０１は、エッジ領域５０１、エッジ領域５０２、エッジ領域５０３、エッジ領域５０４、エッジ領域５０５、エッジ領域５０６、エッジ領域５０７、エッジ領域５０８、及び複数のエッジ領域内に位置する本体領域５０９を備える。

ここで、ディスプレイパネルのエッジ領域を選択することは、下記２種の方式で実現されることができる。

方式１：ディスプレイパネルが表示した画面データの輝度テスト結果を取得し、この輝度テスト結果に基づいてディスプレイパネルを低輝度のエッジ領域と高輝度の本体領域とに区画して、区画されたエッジ領域と本体領域とに基づいてディスプレイパネルのエッジ領域を選択する。

方式２：ディスプレイパネルを図５に示すように少なくとも１つのエッジ領域と少なくとも１つの本体領域とを含む複数の領域に予め区画し、これに基づいてディスプレイパネルのエッジ領域を直接選択する。

たとえば、側辺から内部へのｎ行又はｍ列の画素をエッジ領域として選択し、ただし、ｎ及びｍは、１より大きい整数、たとえば５～１５であるが、この値は、経験に応じて選択し又はディスプレイパネルの設計パラメータに応じて選択できる。

エッジ領域の補償すべき画素ブロックを選択した後、取得した本体領域の複数の画素ブロックの画素補償パラメータから、本体領域のうち前記補償すべき画素ブロックに最も近い画素ブロックの画素補償パラメータを抽出して、補償すべき画素ブロックの画素補償パラメータとする。

上記方式によれば、曲面ディスプレイパネル（すなわち可撓性スクリーン）のエッジ領域の補償パラメータを独立して制御することで、光学補償された曲面ディスプレイパネルには、曲面ディスプレイパネルのエッジ領域の輝度と本体領域の輝度を均一化させ、且つ残像をさらに低減できる。

また、本開示の一実施例では、本体領域における少なくとも１つの画素ブロックの画素補償パラメータを取得して補償すべき画素ブロックの画素補償パラメータとすることは、本体領域のうち、補償すべき第２画素ブロックに最も近い第１画素ブロックの画素補償パラメータを取得して第２画素ブロックの画素補償パラメータとすることを含む。

たとえば、図６に示すように、本体領域５０９は、画素ブロックＰ２及び画素ブロックＰ４を含み、すなわち、第１画素ブロックであり、エッジ領域５０２は、画素ブロックＰ１を含み、エッジ領域５０８は、画素ブロックＰ３を含み、すなわち、第２画素ブロックである。画素ブロックＰ１と画素ブロックＰ２とは、列方向（すなわち図６に示したＹ方向）において隣接し、画素ブロックＰ３と画素ブロックＰ４とは、行方向（すなわち図６に示したＸ方向）において隣接する。本開示の実施例では、既に取得された本体領域５０９の画素ブロックＰ２及び画素ブロックＰ４の画素補償パラメータを取得でき、さらに、エッジ領域５０２の画素ブロックＰ１の画素補償パラメータとそれに隣接する本体領域５０９の画素ブロックＰ２の画素補償パラメータとが一致し、エッジ領域５０８の画素ブロックＰ３の画素補償パラメータとそれに隣接する本体領域５０９の画素ブロックＰ４の画素補償パラメータとが一致するように、画素ブロックＰ２の画素補償パラメータをエッジ領域５０２の画素ブロックＰ１の画素補償パラメータとし、画素ブロックＰ４の画素補償パラメータをエッジ領域５０８の画素ブロックＰ３の画素補償パラメータとすることができる。ここで画素パラメータが一致することは、エッジ領域に隣接する本体領域における画素ブロックの画素補償パラメータに等しいようにエッジ領域における画素ブロックの画素補償パラメータを調整し、つまり、それらのオフセット及びゲインはいずれも等しいことを意味する。

別の例では、本体領域における少なくとも１つの画素ブロックの画素補償パラメータを取得して補償すべき画素ブロックの画素補償パラメータとすることは、第２画素ブロックと第１画素ブロックとの、行揃え又は列揃えを含む揃え方式を決定することと、揃え方式によって、第２画素ブロックの画素補償パラメータを、第２画素ブロックと同一行又は同一列にある複数の補償すべき第３画素ブロックの画素補償パラメータとすることと、をさらに含む。

たとえば、図７に示すように、画素ブロックＰ１とそれに隣接する画素ブロックＰ２は、列において揃え（すなわち、列方向であるＹ方向にいて互いに揃えている）、画素ブロックＰ３とそれに隣接する画素ブロックＰ４は、行において揃えている（すなわち、行方向であるＸ方向において互いに揃えている）。エッジ領域５０２の画素ブロックＰ５（第３画素ブロック）は、画素ブロックＰ１と同一列にある場合、画素ブロックＰ１の画素補償パラメータを画素ブロックＰ５の画素補償パラメータとすることにより、画素ブロックＰ５の画素補償パラメータと画素ブロックＰ２の画素補償パラメータとが一致する。エッジ領域５０８の画素ブロックＰ６（第３画素ブロック）は、画素ブロックＰ３と同一行にある場合、画素ブロックＰ３の画素補償パラメータを画素ブロックＰ６の画素補償パラメータとすることにより、画素ブロックＰ６の画素補償パラメータと画素ブロックＰ４の画素補償パラメータとが一致する。

図８Ａは、本開示の一実施例においてコーナー領域を判断する論理図である。図８Ａに示すように、本体領域における少なくとも１つの画素ブロックの画素補償パラメータを取得して補償すべき画素ブロックの画素補償パラメータとすることの前に、
エッジ領域には本体領域の第１画素ブロックに対して行揃え及び列揃えとなっていない補償すべき第４画素ブロックが存在するか否かを判断するステップＳ４１１と、
エッジ領域には第４画素ブロックが存在する場合、第４画素ブロックが位置する領域をエッジ領域のコーナー領域とするステップＳ４１２と、をさらに含む。

たとえば、上記エッジ領域は、エッジ領域５０１、エッジ領域５０３、エッジ領域５０５及びエッジ領域５０７を含み、同一のコーナー領域（上記４個のコーナー領域のうちの１つ）にある第４画素ブロックの画素補償パラメータは、いずれも等しく、且つこのコーナー領域に最も近い第１画素ブロックの画素補償パラメータに等しい。

たとえば、第４画素ブロックに重み付けをしてもよく、重み付けに基づいてエッジ領域における第４画素ブロックの補償パラメータを調整する。

たとえば、エッジ領域における第４画素ブロックに重み付けをすることは、第４画素ブロックからの距離が最も小さいである行揃え又は列揃えの（第２画素ブロック）第３画素ブロックに対して、第４画素ブロックのそれぞれについて重み付けの座標系を作成することと、重み付けの座標系に基づいて、エッジ領域における第４画素ブロックに重み付けをすることとを含む。

なお、第４画素ブロックは、複数のコーナー領域内、たとえばエッジ領域５０１、エッジ領域５０３、エッジ領域５０５及びエッジ領域５０７に位置してもよい。つまり、エッジ領域５０１、エッジ領域５０３、エッジ領域５０５及びエッジ領域５０７におけるすべての画素ブロックは、いずれも本体領域５０９の画素ブロックと行方向及び列方向に揃えていない。

たとえば、コーナー領域５０３において図８Ｂに示した重み付けの座標系を作成し、対応した重み付けの座標系に基づいて第４画素ブロックのそれぞれに重み付けをし、次に第４画素ブロックの画素補償パラメータを調整する。

たとえば、図８Ｂに示すように、エッジ領域に位置する第２画素ブロックＰ１１と本体領域に位置する第１画素ブロックＰ８がＹ方向において揃えているため、第１画素ブロックＰ８の画素補償パラメータを第２画素ブロックＰ１１の画素補償パラメータとする。同様に、第１画素ブロックＰ８の画素補償パラメータを第２画素ブロックＰ１０の画素補償パラメータとする。エッジ領域に位置する第３画素ブロックＰ１２と第２画素ブロックＰ１１がＹ方向において揃えているため、第３画素ブロックＰ１２の画素補償パラメータを第２画素ブロックＰ１１の画素補償パラメータに等しく調整し、すなわち、第２画素ブロックＰ１１の画素補償パラメータを第３画素ブロックＰ１２の画素補償パラメータとする。同様に、第３画素ブロックＰ９の画素補償パラメータを第２画素ブロックＰ１０の画素補償パラメータに等しく調整する。それによって、第２画素ブロックＰ１１、第２画素ブロックＰ１０、第３画素ブロックＰ１２及び第３画素ブロックＰ９の画素補償パラメータは、いずれも第１画素ブロックＰ８の画素補償パラメータに等しい。

たとえば、図８Ｂに示すように、仮に第３画素ブロックＰ１２の調整後の画素補償パラメータ：ｏｆｆｓｅｔ／ｇａｉｎ値がそれぞれ、２４／２０であり、画素Ｐ９の調整後の画素補償パラメータ：ｏｆｆｓｅｔ／ｇａｉｎ値がそれぞれ２４／２０であると想定する。図８Ｂに示した重み付けの座標系が得られ、ただし、この重み付けの座標系の座標軸に対応する重み付けが順に規則的に変化している。たとえば、第４画素ブロックＰ１３の位置に基づいて第４画素ブロックＰ１３の位置座標を取得し、この位置座標は、それに割り当てられる重み付けに対応する。たとえば、第４画素ブロックＰ１３が、列においてそれと揃えている第３画素ブロックＰ１９からは２つの画素ブロックだけの距離を有し、行においてそれと揃えている第３画素ブロックＰ１２からは４つの画素ブロックだけの距離を有すると、行方向に割り当てられる重み付けは４であり、列方向に割り当てられる重み付けは２である。従って、第４画素ブロックＰ１３に割り当てられた重み付けが（ｕ、ｖ）＝（４、２）であり、それによって、この第４画素ブロックＰ１３のｏｆｆｓｅｔ／ｇａｉｎ値は、それぞれＯｆｆｓｅｔ＝［（２４×４）＋（２４×２）］／（２＋４）＝２４、Ｇａｉｎ＝［（２０×４）＋（２０×２）］／（２＋４）＝２０である。従って、第４画素ブロックＰ１３の調整された画素補償パラメータ：ｏｆｆｓｅｔ／ｇａｉｎ値は、それぞれ２４／２０である。この画素補償パラメータが第３画素ブロックＰ９（Ｐ１２）の画素補償パラメータに等しいため、第４画素ブロックＰ１３の画素補償パラメータは、第１画素ブロックＰ８の画素補償パラメータに等しい。同様に、ほかのコーナー領域５０１、５０５及び５０７についても、同じ結論が得られ得る。

たとえば、エッジ領域の画素補償パラメータを調整した後に、ディスプレイパネルの本体領域における画素ブロックの画素補償パラメータ及びエッジ領域における補償すべき画素ブロックの調整された画素補償パラメータを読み取ることと、本体領域の画素補償パラメータ及びエッジ領域の調整された画素補償パラメータをディスプレイパネルに入力してディスプレイパネルに用いられる表示操作を補償することと、をさらに含む。すなわち、取得された本体領域の画素補償パラメータ及びエッジ領域の調整された画素補償パラメータをディスプレイパネルの記憶装置に格納してディスプレイパネルが表示操作を行うときに読み取れることができ、表示操作に使用しようとする表示データを補償し、補償された表示データが表示操作に用いられる。

たとえば、ディスプレイパネルの画素ブロックのそれぞれのｏｆｆｓｅｔ及びｇａｉｎ値を取得してから光学補償装置の制御ユニットにより計算し、Ｄｅｍｕｒａ補償アルゴリズム、たとえばｑ＝ａｓ＋ｂにより光学補償計算を行い、ここで、ｑは、光学補償出力であり、ｓは、入力であり、ａは、ｇａｉｎの値であり、ｂは、ｏｆｆｓｅｔの値である。

なお、画素補償パラメータは、オフセット（ｏｆｆｓｅｔ）移動率及びゲイン（ｇａｉｎ）を含むが、これらに制限されない。

たとえば、本開示の実施例におけるディスプレイパネルは、可撓性スクリーン（湾曲可能なディスプレイパネル、可撓性ディスプレイパネルとも呼ばれる）であり、たとえば、この可撓性スクリーンは、必要に応じて折り曲げ、折畳みが可能であり、さまざまな外形に変化できる。このディスプレイパネルは、プラスチック基板を用いて薄膜パッケージ技術によってディスプレイパネルの背面に保護膜を張り付けたものであってもよく、それにより、ディスプレイパネルが湾曲可能で壊れにくくなる。可撓性ディスプレイパネルは、極薄にしてプラスチック又は金属箔などの可撓性材に取り付けるようにしてもよい。

たとえば、図９Ａは、本開示の実施例によるディスプレイパネルの平面構造模式図であり、図９Ｂは、図９Ａに示したディスプレイパネルの断面構造模式図である。図９Ａ及び図９Ｂに示すように、ディスプレイパネルは、本体領域に位置する平面部分５００及びエッジ領域に位置する曲面部分６００を有する曲面スクリーンを含む。つまり、平面部分５００は、本体領域を覆い、曲面部分６００は、エッジ領域を覆っている。前記曲面部分は、ディスプレイパネルの側辺に位置してもよく、その湾曲方向がディスプレイパネルのベース基板側に向いており、すなわち、曲面部分は、図９Ｂに示したＺ方向とは反対側の方向に沿って曲げられる。

上記形態によれば、ディスプレイパネルの曲面スクリーンに含まれる曲面部分、すなわちエッジ領域の補償パラメータを個別に制御することができ、それにより、エッジ領域を光学補償したディスプレイパネル全体の輝度均一性を高め、且つ残像をさらに低減できる。

なお、本開示は、上記システム、方法及び表示装置の実施例について、説明の便宜上、一連の動作又はモジュールの組み合わせとして説明したが、当業者にとって明らかなように、説明された動作の順番又はモジュールの接続に制限されていない。それは、本開示により、その一部のステップを別の順番で又は同時に行わせ、またその一部のモジュールを別の接続方式で接続させるようにしてもよいからである。

また、明細書に説明された実施例は、当業者にとって明らかなように、いずれも実施例の１つに過ぎず、上記実施例の番号は、説明のためのものに過ぎず、関連した動作及びモジュールは、必ずしも本開示に必要なものではない。

本開示の上記実施例では、各実施例には一部の内容を重点として説明したが、ある実施例に対して詳述しない部分は、ほかの実施例を参照すればよい。

なお、本開示に記載のいくつかの実施例では、説明された技術の内容は、ほかの形態によっても実現できると理解できる。ここで、以上説明された装置の実施例は、例示的なものに過ぎず、たとえば、前記ユニットの区画は、ロジック機能に応じた区画であり、実際に実施するときには、ほかの区画方式としてもよく、たとえば、複数のユニット又は要素は、結合したり別のシステムに集積させたりすることができ、或いは、一部の特徴は、無視したり実行しなかったりすることができる。また、示されている又は検討されている相互結合、直接結合又は通信可能な接続は、インタフェース、ユニット又はモジュールによる間接的な結合、又は通信可能な接続であってもよく、電気的接続又はほかの形態であってもよい。

前記分離部材として説明されたユニットは、物理的に分離してもよく、物理的に分離しなくてもよく、ユニットとして示された部材は、物理的なユニットであってもよく、物理的なユニットでなくてもよく、すなわち、１つの位置に設置されてもよく、複数のネットワークユニットに分散されてもよい。必要に応じてその一部又は全部のユニットによって本実施例の形態の目的を達成できる。

また、本開示の各実施例における機能ユニットは、１つの処理ユニットに集積させてもよく、個別に物理的に存在してもよく、２つ以上のユニットが一つのユニットに集積させてもよい。上記集積ユニットは、ハードウェアの形態で実現されてもよいし、ソフトウェア機能ユニットの形態で実現されてもよい。

前記集積ユニットは、ソフトウェア機能ユニットの形態で実現されて独立した製品として販売又は使用される場合、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体に記憶できる。このような知見に基づいて、本開示の技術案は、本質的には、又は従来技術に貢献する部分又は当該技術案の全部又は一部がソフトウェア製品の形態で実現でき、このコンピュータソフトウェア製品は、記憶媒体に記憶されて、コンピュータ機器（パソコン、サーバ又はネットワーク機器など）に本開示の各実施例の前記方法のすべて又は一部のステップを実行させる複数の命令を含む。上記記憶媒体は、揮発性記憶媒体又は不揮発性記憶媒体、たとえば、Ｕディスク、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ、Ｒｅａｄ－Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ、Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、モバイルディスク、磁気ディスク又は光ディスクなど、プログラムコードを記憶可能な様々な媒体を含む。

以上は、本開示の好適実施形態に過ぎず、当業者であれば、本開示の原理から逸脱せずに、さまざまな改良や修飾を行うことができ、このような改良や修飾は、本開示の保護範囲とみなすべきである。

Claims (15)

1. 本体領域と、前記本体領域の周辺に位置するエッジ領域とを備えるディスプレイパネルための光学補償方法であって、
   前記エッジ領域における補償すべき画素ブロックを選択することと、
   前記本体領域における少なくとも１つの画素ブロックの画素補償パラメータを取得して、前記補償すべき画素ブロックの画素補償パラメータとすることと、
   前記本体領域は第１画素ブロックを含み、前記エッジ領域は補償すべき第２画素ブロックを含み、前記第１画素ブロックは、前記本体領域において前記第２画素ブロックに最も近い画素ブロックであり、
   前記本体領域における少なくとも１つの画素ブロックの画素補償パラメータを取得して、前記補償すべき画素ブロックの画素補償パラメータとすることは、
   前記第１画素ブロックの画素補償パラメータを取得して、前記第２画素ブロックの画素補償パラメータとすること、を含む、光学補償方法。
2. 前記ディスプレイパネルに位置する画素ブロックは、行方向及び列方向に配列されており、前記本体領域内において少なくとも１つの画素ブロックの画素補償パラメータを取得して、前記補償すべき画素ブロックの画素補償パラメータとすることは、
   前記第２画素ブロックと前記第１画素ブロックとの、行揃え又は列揃えを含む揃え方式を決定することと、
   前記揃え方式によって、前記第２画素ブロックの画素補償パラメータを、前記第２画素ブロックと同一行又は同一列にある複数の補償すべき第３画素ブロックの画素補償パラメータとすることと、をさらに含む、請求項１に記載の光学補償方法。
3. 前記本体領域における少なくとも１つの画素ブロックの画素補償パラメータを取得して、前記補償すべき画素ブロックの画素補償パラメータとすることの前に、
   前記エッジ領域には前記本体領域における前記第１画素ブロックに対して行揃え及び列揃えとなっていない補償すべき第４画素ブロックが存在するか否かを判断することと、
   前記エッジ領域には前記第４画素ブロックが存在する場合、前記第４画素ブロックが位置する領域を前記エッジ領域のコーナー領域とすることと、をさらに含む、請求項２に記載の光学補償方法。
4. 前記コーナー領域に最も近い前記第１画素ブロックの画素補償パラメータを該コーナー領域における前記第４画素ブロックの画素補償パラメータとし、同一の前記コーナー領域に位置する前記第４画素ブロックの画素補償パラメータは、いずれも同じである、請求項３に記載の光学補償方法。
5. ディスプレイパネルの前記本体領域における少なくとも１つの画素ブロックの画素補償パラメータを取得することは、
   前記ディスプレイパネルが表示した画面データを収集することと、
   前記画面データの色／輝度の分布に基づいて、前記本体領域における少なくとも１つの画素ブロックとテスト画面における少なくとも１つの画素ブロックとの色／輝度の差を識別することと、
   前記本体領域における少なくとも１つの画素ブロックとテスト画面における少なくとも１つの画素ブロックとの色／輝度の差によって、補償アルゴリズムで前記本体領域における少なくとも１つの画素ブロックの画素補償パラメータを取得することと、を含む、請求項１～４のいずれか１項に記載の光学補償方法。
6. 前記画素補償パラメータは、前記本体領域における少なくとも１つの画素ブロックに基づいて算出されたオフセット及びゲインを含む、請求項５に記載の光学補償方法。
7. 前記ディスプレイパネルが表示した画面データを収集することは、
   カメラによる撮影により前記ディスプレイパネルが表示した画面データを取得することを含む、請求項５又は６に記載の光学補償方法。
8. 前記補償アルゴリズムは、光学補償アルゴリズムを含む、請求項５～７のいずれか１項に記載の光学補償方法。
9. 前記ディスプレイパネルが表示した画面データを収集したことの後、
   前記画面データの色／輝度の分布に基づいて、前記ディスプレイパネルにおける画素ブロックとテスト画面における画素ブロックとの色／輝度の差を識別し、前記色／輝度の差の大きさによって前記ディスプレイパネルを前記エッジ領域と前記本体領域とに区画することを含み、
   前記エッジ領域の前記色／輝度の差は、前記本体領域の前記色／輝度の差より大きい、請求項５～８のいずれか１項に記載の光学補償方法。
10. 前記ディスプレイパネルの本体領域における画素ブロックの画素補償パラメータ及び前記エッジ領域における補償すべき画素ブロックの調整された画素補償パラメータを読み取ることと、
    前記本体領域の画素補償パラメータ及び前記エッジ領域の調整された画素補償パラメータを前記ディスプレイパネルに入力して、前記ディスプレイパネルに用いられる表示操作を補償することと、をさらに含む、請求項１～９のいずれか１項に記載の光学補償方法。
11. 前記ディスプレイパネルの本体領域及びエッジ領域を選択することは、
    前記ディスプレイパネルの輝度のテスト結果を取得し、前記テスト結果に基づいて前記ディスプレイパネルを低輝度の前記エッジ領域と高輝度の前記本体領域とに区画し、又は 前記ディスプレイパネルを、少なくとも１つのエッジ領域と少なくとも１つの本体領域とを含む複数の領域に予め区画することを含む、請求項１～８のいずれか１項に記載の光学補償方法。
12. 前記ディスプレイパネルは、前記本体領域に位置する平面部分及び前記エッジ領域に位置する曲面部分を有する曲面スクリーンを含む、請求項１～１１のいずれか１項に記載の光学補償方法。
13. 前記画素ブロックは、Ｎ＊Ｍ個の画素を含み、Ｎが１～１０の整数であり、Ｍが１～１０の整数である、請求項１～１２のいずれか１項に記載の光学補償方法。
14. 光学補償装置であって、
    プロセッサ、及び
    前記プロセッサによりロードされて請求項１～１３のいずれか１項に記載のディスプレイパネル用の光学補償方法を実行することに適したコンピュータプログラム命令を記憶するように構成されるメモリを備える、光学補償装置。
15. 前記ディスプレイパネルが表示した画面を撮影し、前記画面を前記プロセッサに送信して、前記ディスプレイパネルの前記本体領域における画素ブロックの画素補償パラメータを取得するように構成されるカメラをさらに備える、請求項１４に記載の光学補償装置。

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